JP2010032334A - 成形品の外観検査方法およびその装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】検査領域生成部16は、検査対象である物品Gの濃淡画像について指定した着目領域から検査領域を生成する。方向値画像生成部14は、検査領域に含まれる画素の濃度勾配に対応付けた方向値を各画素の画素値とする方向値画像を生成する。着目画素抽出部17は、方向値画像のうち物品の成形むらに相当する特定の方向値を持つ画素を着目画素として抽出する。演算部18は、検査領域において方向値を持つすべての画素の画素数に対する着目画素の画素数の割合を算出する。判定部19は、演算過程において求めた割合を欠けに対する範囲として規定した数値範囲と比較し前記割合が当該数値範囲を逸脱しているときには成形むらであると判定する。
【選択図】図1
Description
微分絶対値=(ΔH2+ΔV2)1/2
微分方向値=tan−1(ΔV/ΔH)+π/2
ΔH=(P4+P5+P6)−(P2+P1+P8)
ΔV=(P2+P3+P4)−(P6+P7+P8)
微分方向値は、0〜2πの間の任意の値を取り得るから、微分方向値をそのまま用いると処理が複雑になる。そこで、45度の角度区間ごとに右回りに増加する1〜8の整数値を対応付け、この整数値を方向値として用いる。図3に示す画素P0を着目画素とすれば、微分方向値が−22.5〜22.5度の範囲であるときに方向値を1とし、微分方向値が22.5〜67.5度の範囲であるときに方向値を2とするのである。簡略化して言えば、画素P0から画素P1に向かう微分方向値を持つときに方向値が1、画素P0から画素P2に向かう微分方向値を持つときに方向値が2になる。ここに、画素P0から他の画素に向かう向きは、明領域を右手として画素P0から輪郭線に沿って進む向きを意味する。なお、着目画素の周囲の濃度変化が小さい場合には、当該画素には方向値を与えない。つまり、方向値を求めるために微分絶対値を求め、微分絶対値が規定した閾値以下である画素については方向値を与えない。
2 撮像部
3 モニタ装置
4 入力装置
11 画像取込部
12 画像記憶部
13 着目領域指定部
14 方向値画像生成部
15 輪郭線追跡部
16 検査領域生成部
17 着目画素抽出部
18 演算部
19 判定部
21 撮像装置
22 照明装置
23 ハーフミラー
31 2値画像生成部
G 物品
Claims (7)
- 検査対象としての成形品である物品の濃淡画像について指定した着目領域から検査領域を生成する検査領域生成過程と、検査領域に含まれる画素の濃度勾配に対応付けた方向値を各画素の画素値とする方向値画像を生成する方向値画像生成過程と、方向値画像のうち物品の成形むらに相当する特定の方向値を持つ画素を着目画素として抽出する着目画素抽出過程と、検査領域において方向値を持つすべての画素の画素数に対する着目画素の画素数の割合を算出する演算過程と、演算過程において求めた割合を欠けに対する範囲として規定した数値範囲と比較し前記割合が当該数値範囲を逸脱しているときに物品に成形むらが存在すると判定する判定過程とを有することを特徴とする成形品の外観検査方法。
- 前記検査領域生成過程は、前記物品の輪郭線を含む予備検査領域を生成する第1過程と、予備検査領域に含まれる画素を2値化することにより抽出される特徴点の連結領域を囲む検査領域を生成する第2過程とを有することを特徴とする請求項1記載の成形品の外観検査方法。
- 前記検査領域は、前記連結領域に外接する矩形領域であることを特徴とする請求項2記載の成形品の外観検査方法。
- 前記検査領域は、前記連結領域の外周縁に沿って外周縁の外側に設定された境界線に囲まれる領域であることを特徴とする請求項2記載の成形品の外観検査方法。
- 前記物品は平面視において多角形状であって、前記着目画素抽出過程では、前記検査領域が前記物品の輪郭線のうちのコーナ部分を含む場合には、当該コーナ部分を挟む直線部分の方向値を物品の成形むらに相当する特定の方向値として用い、前記検査領域が前記物品の輪郭線のうち直線部分のみを含む場合には、前記直線部分の方向値を物品の成形むらに相当する特定の方向値として用いることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の成形品の外観検査方法。
- 前記判定過程では、前記方向値画像において各方向値を持つ画素数の分布に偏りがなく、各方向値を持つ画素数の総和が規定数未満である場合に、成形むらと判断することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の成形品の外観検査方法。
- 検査対象としての成形品である物品の濃淡画像を撮像する撮像部と、検査対象である物品の濃淡画像について指定した着目領域から検査領域を生成する検査領域生成部と、 検査領域に含まれる画素の濃度勾配に対応付けた方向値を各画素の画素値とする方向値画像を生成する方向値画像生成部と、方向値画像のうち物品の成形むらに相当する特定の方向値を持つ画素を着目画素として抽出する着目画素抽出部と、検査領域において方向値を持つすべての画素の画素数に対する着目画素の画素数の割合を算出する演算部と、演算部において求めた割合を欠けに対する範囲として規定した数値範囲と比較し前記割合が当該数値範囲を逸脱しているときに物品に成形むらが存在すると判定する判定部とを有することを特徴とする成形品の外観検査装置。
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Families Citing this family (1)
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---|---|---|---|---|
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Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02242382A (ja) * | 1989-03-15 | 1990-09-26 | Matsushita Electric Works Ltd | 欠陥検査方法 |
JPH0554107A (ja) * | 1991-08-27 | 1993-03-05 | Matsushita Electric Works Ltd | 外観検査による溶接状態判定方法 |
JPH06174659A (ja) * | 1992-12-08 | 1994-06-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像処理による傷検査方法 |
JPH0894541A (ja) * | 1994-09-21 | 1996-04-12 | Nachi Fujikoshi Corp | 検査対象物の角部の欠け検出方法 |
JP2000132684A (ja) * | 1998-10-23 | 2000-05-12 | Matsushita Electric Works Ltd | 外観検査方法 |
JP2000339462A (ja) * | 1999-05-26 | 2000-12-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 |
JP2003083911A (ja) * | 2001-09-07 | 2003-03-19 | Hitachi Kokusai Electric Inc | マクロ検査装置 |
JP2005241304A (ja) * | 2004-02-24 | 2005-09-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 外観検査方法 |
JP2007057441A (ja) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 微細回路検査方法 |
JP2007147407A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Matsushita Electric Works Ltd | 外観検査方法 |
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2008
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Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02242382A (ja) * | 1989-03-15 | 1990-09-26 | Matsushita Electric Works Ltd | 欠陥検査方法 |
JPH0554107A (ja) * | 1991-08-27 | 1993-03-05 | Matsushita Electric Works Ltd | 外観検査による溶接状態判定方法 |
JPH06174659A (ja) * | 1992-12-08 | 1994-06-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像処理による傷検査方法 |
JPH0894541A (ja) * | 1994-09-21 | 1996-04-12 | Nachi Fujikoshi Corp | 検査対象物の角部の欠け検出方法 |
JP2000132684A (ja) * | 1998-10-23 | 2000-05-12 | Matsushita Electric Works Ltd | 外観検査方法 |
JP2000339462A (ja) * | 1999-05-26 | 2000-12-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 |
JP2003083911A (ja) * | 2001-09-07 | 2003-03-19 | Hitachi Kokusai Electric Inc | マクロ検査装置 |
JP2005241304A (ja) * | 2004-02-24 | 2005-09-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 外観検査方法 |
JP2007057441A (ja) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 微細回路検査方法 |
JP2007147407A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-06-14 | Matsushita Electric Works Ltd | 外観検査方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112669296A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-04-16 | 江苏南高智能装备创新中心有限公司 | 基于大数据的数控冲床模具的缺陷检测方法、装置及设备 |
CN112669296B (zh) * | 2020-12-31 | 2023-09-26 | 江苏南高智能装备创新中心有限公司 | 基于大数据的数控冲床模具的缺陷检测方法、装置及设备 |
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