JP2010032273A - 活線検出装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】波長帯と伝送方向との少なくとも一方の異なる複数の光が伝搬される光線路に関して複数の光それぞれについて容易に且つ安定して活線検出が可能な活線検出装置を提供する。
【解決手段】2本の光ファイバ1,1の一端部同士を接続するときに両光ファイバ1,1の光軸方向に直交する断面の屈折率分布を上記光軸方向の他の部位とは異ならせることにより形成され上流側の光ファイバ1のコア11内を伝搬してきた光の一部を下流側の光ファイバ1のクラッド12へ漏光させる漏光発生部3と、波長帯の異なる2つの光を各別に検出可能な2つの受光素子チップ5,5とを備える。各受光素子チップ5,5は、漏光発生部3から漏れる光に対して透明な透明接着層4を介して下流側の光ファイバ1のクラッド12の外周面に接着されている。
【選択図】 図1

Description

本発明は、2本の光ファイバの一端部同士を接続して形成した光線路が活線状態(光線路を光が正常に伝送されている状態)にあるか否かを検出する活線検出装置に関するものである。
従来から、光ファイバ通信技術の分野において、局内、ビル内、宅内などに設置される光成端箱などに収納され光通信用の光ファイバにより形成される光線路が活線状態か否かを検出する活線検出装置として、光ファイバを屈曲させる必要のない活線検出装置が提案されており(例えば、特許文献1参照)、この種の活線検出装置は、光ファイバを屈曲させることなく、光線路が活線状態にあるか否かを検出することができるので、光ファイバを屈曲させることによる光ファイバの折損や、一時的な伝送損失の増加による伝送エラーの発生などの問題がないという特徴がある。
ここにおいて、上記特許文献1には、上述の活線検出装置として、図6に示すように、2本の光ファイバ1’,1’を接続して形成した光線路A’における2本の光ファイバ1’,1’の一端部同士の融着部2’を保護するとともに融着部2’から漏れる光を漏洩させる融着補強スリーブ42’と、融着補強スリーブ42’を収納するとともに各光ファイバ1’,1’が導出されるケース40’と、ケース40’の開口部に嵌入され融着部2’から融着補強スリーブ42’を通して漏れた光を検出する受光素子(図示せず)を有する光検出部50’とを備えたものが提案されている。
特開2007−85934号公報(段落〔0089〕−〔0096〕、および図4)
ところで、2本の光ファイバ1’,1’の一端部同士を融着する場合には、当該2本の光ファイバ1’,1’の光軸の軸ずれ、角度ずれなどに起因した接続損失が最小となるように融着するのが普通であり、上述の融着部2’での接続損失は波長1310nmで0.2dB程度となっている。
しかしながら、光通信では光ファイバを伝搬する光のパワー(以下、光パワーと称する)の範囲が広く、光パワーが小さい場合には−20dBm程度の場合もあり、融着部2’から漏れる漏光の光パワーが小さくなることや、融着補強スリーブ42’外に設置される上記受光素子と融着部2’との距離が離れているため上記受光素子での受光効率が低く、上記受光素子の受光面に到達する光量も少なくなるので、S/N比が小さくなり、活線検出が困難となってしまうことがあった。
また、光通信に使われる光は単一の波長の光とは限らず、複数の波長の光が1本の光ファイバ内を伝送されることもあり、上述の光線路A’において、波長帯の異なる複数の光、例えば波長が850nmの光と波長が1310nmの光とが伝送される場合には、上記受光素子として波長850nmの光に受光感度を有するSiフォトダイオードを用いた光検出部50’と、上記受光素子として波長1310nmの光に受光感度を有するInGaAsフォトダイオードを用いた光検出部50’とを別々に用意しておき、これらの光検出部50’,50’を取り替えて使用する必要があり、活線検出の作業に手間がかかるとともにコストが高くなってしまう。
また、光通信の形態が双方向通信の場合には、少なくとも伝送方向の異なる複数の光が1本の光ファイバ内を伝送されることもあり、上述の光線路A’において、例えば、伝送方向が異なり波長が同じ2つの光が伝送される場合には、2つの光それぞれに関して独立して活線検出を行うことができなかった。
本発明は上記事由に鑑みて為されたものであり、その目的は、波長帯と伝送方向との少なくとも一方の異なる複数の光が伝搬される光線路に関して複数の光それぞれについて容易に且つ安定して活線検出が可能な活線検出装置を提供することにある。
請求項1の発明は、2本の光ファイバの一端部同士を接続して形成する光線路が活線状態にあるか否かを検出する活線検出装置であって、2本の光ファイバの前記一端部同士を接続するときに当該2本の光ファイバの光軸方向に直交する断面の屈折率分布を前記光軸方向の他の部位とは異ならせることにより形成され光の伝送方向における上流側の光ファイバのコア内を伝搬してきた光の一部を下流側の光ファイバのクラッドへ漏光させる漏光発生部と、波長帯と伝送方向との少なくとも一方の異なる複数の光を各別に検出可能な複数の受光素子チップとを備え、各受光素子チップは、漏光発生部から漏れる光に対して透明な接着剤からなる透明接着層を介して前記下流側の光ファイバのクラッドの外周面に接着されてなることを特徴とする。
この発明によれば、2本の光ファイバの前記一端部同士を接続するときに当該2本の光ファイバの光軸方向に直交する断面の屈折率分布を前記光軸方向の他の部位とは異ならせることにより形成され光の伝送方向における上流側の光ファイバのコア内を伝搬してきた光の一部を下流側の光ファイバのクラッドへ漏光させる漏光発生部を備えているので、2本の光ファイバの前記一端部同士を接続損失が最小となるように融着したものに比べて、漏れる光の絶対光量を増やすことができ、また、波長帯と伝送方向との少なくとも一方の異なる複数の光を各別に検出可能な複数の受光素子チップを備えているので、波長帯と伝送方向との少なくとも一方の異なる複数の光が伝搬される光線路に関して複数の光それぞれについて容易に活線検出が可能であり、しかも、漏光発生部から漏れた光を検出可能な複数の受光素子チップそれぞれが、漏光発生部から漏れる光に対して透明な接着剤からなる透明接着層を介して前記下流側の光ファイバのクラッドの外周面に接着されているので、各受光素子チップとクラッドの外周面との距離を短くでき、しかも、各受光素子チップと前記下流側の光ファイバのクラッドの外周面との間に空気が介在する場合に比べて、空気よりも大きい屈折率を有する透明接着層にクラッドから多くの漏れ光が入射して、漏れ光の各受光素子チップへの到達効率が向上するから、光線路を伝搬する複数の光それぞれについて安定した活線検出が可能となる。
請求項2の発明は、請求項1の発明において、前記複数の受光素子チップは、漏光発生部からの距離が同じになるように配置されてなることを特徴とする。
この発明によれば、各受光素子チップそれぞれへの漏れ光の到達効率を略同じにすることができる。
請求項3の発明は、請求項1の発明において、前記複数の受光素子チップは、検出感度が低い受光素子チップほど漏光発生部に近い側に配置されてなることを特徴とする。
この発明によれば、各受光素子チップの検出感度の差を小さくすることができ、各光それぞれについてより確実に活線検出を行うことができる。
請求項4の発明は、請求項2または請求項3の発明において、前記光線路が双方向通信用の光線路であり、前記複数の受光素子チップは、前記光軸方向において漏光発生部を挟んで両側に配置されてなることを特徴とする。
この発明によれば、各受光素子チップそれぞれにおける検出対象の光とは伝送方向が逆の光が各受光素子チップに到達するのを防止することができる。
請求項1の発明は、2本の光ファイバの一端部同士を接続損失が最小となるように融着したものに比べて、コアから漏れる光の絶対光量を増やすことができ、しかも、受光素子チップと光ファイバのクラッドの外周面との間に空気が介在する場合に比べて、漏れ光の受光素子チップへの到達効率が向上するから、波長帯と伝送方向との少なくとも一方の異なる複数の光が伝搬される光線路に関して複数の光それぞれについて容易に且つ安定して活線検出が可能となるという効果がある。
(実施形態1)
本実施形態の活線検出装置は、図1に示すように、2本の光ファイバ1,1の一端部同士を接続して形成する光線路Aが活線状態にあるか否かを検出する活線検出装置であって、2本の光ファイバ1,1の上記一端部同士を接続するときに両光ファイバ1,1の光軸方向に直交する断面の屈折率分布を上記光軸方向の他の部位とは異ならせることにより形成され一方の光ファイバ1(図示例では、右側の光ファイバ1)のコア11内を伝搬してきた光の一部を他方の光ファイバ1(図示例では、左側の光ファイバ)のクラッド12へ漏光させる漏光発生部3と、波長帯の異なる複数(ここでは、2つ)の光を各別に検出可能な複数の受光素子チップ5,5とを備え、各受光素子チップ5,5が、漏光発生部3から漏れる光に対して透明な接着剤からなる透明接着層4を介して上記他方の光ファイバ1のクラッド12の外周面(つまり、コア11とクラッド12とで構成される素線10の外周面)に接着されている。なお、本実施形態では、2本の光ファイバ1,1の上記一端部同士を融着することで接続してあり、当該2本の光ファイバ1,1の上記一端部同士の融着部2に漏光発生部3が形成されている。また、図1中の矢印は光線の進行方向を示しており、実線の矢印と一点鎖線の矢印とは互いに波長の異なる光線の進行方向を示している。また、本実施形態では、上記一方の光ファイバ1が光の伝送方向の上流側の光ファイバ1を構成し、上記他方の光ファイバ1が光の伝送方向の下流側の光ファイバ1を構成している。
また、本実施形態の活線検出装置は、各受光素子チップ5,5それぞれの出力電流を各別にオペアンプを用いた電流−電圧変換回路により電圧信号に変換し、上記各電流−電圧変換回路それぞれから出力される電圧信号に基づいて光線路Aが活線状態(光線路Aを各光が正常に伝送されている状態)にあるか否かをマイクロコンピュータにより判別して判別結果をディスプレイに表示させたり、あるいは、抵抗器、コンデンサ、増幅回路を内蔵したICなどを用いた判別回路による判別結果を発光ダイオードなどの表示手段に表示させるようになっている。なお、上記マイクロコンピュータや上記判別回路は、各光それぞれに関して正常に伝送されているか否かを判別し、上記ディスプレイや上記表示手段に各光それぞれに関しての判別結果を表示させることができるようになっている。
各光ファイバ1としては、各種の光ファイバの中で伝搬損失、伝送帯域幅および機械的強度などの耐環境性などに優れている石英ガラスファイバを用いている。ここで、本実施形態の光ファイバ1として用いる石英ガラスファイバとしては、シングルモードファイバを採用しているが、シングルモードファイバに限らず、ステップインデックス型(SI型)マルチモードファイバや、グレーデッドインデックス型(GI型)マルチモードファイバ、その他の特殊ファイバなど漏光発生部3を形成可能なファイバを採用してもよい。なお、各光ファイバ1としては、石英ガラスファイバに限らず、多成分ガラスファイバやプラスチックファイバなどを用いてもよい。
また、各光ファイバ1は、上記一端部側において被覆13が除去され素線10の外周面(つまり、クラッド12の外周面)が露出しており、受光素子チップ5は、受光面が上記他方の光ファイバ1のクラッド12側となる形で透明接着層4を介して上記他方の光ファイバ1のクラッド12の外周面に接着されている。ここで、各光ファイバ1において素線10の外周面が露出した部分の長さは10mm程度であり、受光素子チップ5は、上記他方の光ファイバ1の光軸方向において漏光発生部3からそれぞれ規定長さ(例えば、2〜5mm程度)だけ離れて配置されている。
光ファイバ1を伝搬する光としては、波長帯の異なる2つの光、具体的には、波長が1310nmの光と波長が850nmの光とを想定しており、透明接着層4は、これらの波長の光に対して透明な接着剤であるエポキシ系樹脂やアクリル系樹脂などにより形成すればよい。なお、透明接着層4は、必ずしもクラッド12よりも屈折率が高い材料で形成する必要はなく、空気とクラッド12との中間の屈折率を有する材料で形成してもよい。
また、各受光素子チップ5,5としては、それぞれ結晶材料の異なるフォトダイオードチップを用いている。ここで、本実施形態では、光ファイバ1を伝搬する光(つまり、光通信用の光)として波長が1310nmの光と波長が850nmの光とを想定しているので、受光素子チップ5として1.3μm帯波長領域で受光感度の高いInGaAsフォトダイオードチップを採用し、受光素子チップ5として0.8μm帯波長領域で受光感度の高いSiフォトダイオードチップを採用している。なお、Siフォトダイオードは、1μm帯の光に対して受光感度がなく、InGaAsフォトダイオードは1.3μm波長帯、1.5μm波長帯の光に対して受光感度があり、0.8μm波長帯の光に対して受光感度がかなり小さい(0.8μm波長帯の光に対するInGaAsフォトダイオードの受光感度はSiフォトダイオードの受光感度の半分以下である)。
ここで、上述の光線路Aの屈折率分布について図2を参照しながら説明する。なお、図2(b)〜(d)は上記光軸方向に直交する方向をx方向(横方向)としたときの上記光軸方向に直交する断面の屈折率分布を示している。
図2は、各光ファイバ1,1がシングルモードファイバの場合の屈折率分布の説明図であり、同図(a)が上記光軸方向に沿った概略断面図、(b)が(a)のC−C’断面(上記他方の光ファイバ11のC−C’断面)における屈折率分布図、(c)が(a)の融着部2における屈折率分布図、(d)が(a)のB−B’断面(上記一方の光ファイバ11のB−B’断面)における屈折率分布図である。ここで、図2(b),(d)は両光ファイバ1,1を融着する際に溶融されない部位であって両光ファイバ1,1本来の階段状の屈折率分布を有している。これに対して、図2(c)は中心から離れるにつれて屈折率が徐々に小さくなっていき且つ屈折率がコア11の屈折率nよりも低くクラッド12の屈折率nよりも高い領域の径が両光ファイバ1,1本来のコア径よりも大きくなる屈折率分布を有している。なお、各光ファイバ1,1がSI型マルチモードファイバの場合の屈折率分布も図2と同様である。
また、各光ファイバ1,1がGI型マルチモードファイバの場合を例示した図3(a)での屈折率分布は図3(b)〜(d)のようになる。ここで、図3(b),(d)は両光ファイバ1,1を融着する際に溶融されない部位であって両光ファイバ1,1本来の屈折率が中心から外に向かって2乗分布をもって徐々に小さくなっている屈折率分布を有している。これに対して、図3(c)は屈折率がコア11の中心の屈折率nよりも低くクラッド12の屈折率nよりも高い領域の径が両光ファイバ1,1本来のコア径よりも大きくなる屈折率分布を有している。
また、漏光発生部3は、図2に示すように、2本の光ファイバ1,1の上記一端部同士を接続するときに両光ファイバ1,1の上記光軸方向に直交する断面において当該2本の光ファイバ1,1それぞれの上記他の部位におけるクラッド12の屈折率nよりも屈折率が高く且つ上記他の部位におけるコア11の屈折率nよりも屈折率が低い中間屈折率領域11aを有するように融着することで形成されている。ここにおいて、2本の光ファイバ1,1の上記一端部同士を融着する際には、両光ファイバ1,1の上記一端部側の端面を突き合わせ、アーク放電などによって加熱溶融させてから冷却することにより2本の光ファイバ1,1を接続しているので、加熱溶融させたときにコア11およびクラッド12が短時間ではあるが固相から液相に相変化して混じり合いコア11とクラッド12との中間的な屈折率を有する領域ができるから、融着する際の条件(温度、時間など)を、接続損失が最小となるような条件から適宜変更することにより、所望の中間屈折率領域11aを積極的に形成すればよい。
ところで、漏光発生部3で発生した漏れ光のうちクラッド12と空気との境界でも入射補角が全反射臨界補角よりも大きな光線はクラッド12からも漏れて外部に出てしまうが、全反射臨界補角よりも小さな光線はクラッド12と空気との境界で全反射する。ここで、本実施形態のように両光ファイバ1,1として石英ガラスファイバを用いている場合には、クラッド12と空気との屈折率差が大きいので、漏光発生部3で発生した漏れ光についてはクラッド12と空気との境界で全反射される割合が高く、漏光発生部3で発生した漏れ光の多くは全反射を繰り返しながら素線10内を伝搬するが、クラッド12と透明接着層4,4との屈折率差はクラッド12と空気との屈折率差よりも小さいので、クラッド12と透明接着層4,4との界面で全反射される光の割合が少なく、クラッド12と透明接着層4,4との界面を通過して受光素子チップ5,5の受光面に到達する。図1には漏光発生部3で発生した漏れ光のうち波長が1310nmの光の光線P1の進行経路を上述の一点鎖線の矢印で例示し、波長が850nmの光の光線P2の進行経路を上述の実線の矢印で例示してある。
以上説明した本実施形態の活線検出装置では、2本の光ファイバ1,1の上記一端部同士を接続するときに上記光軸方向に直交する断面の屈折率分布を上記光軸方向の他の部位とは異ならせる(要するに、光線路Aの途中で屈折率分布を局所的に異ならせる)ことにより形成され光の伝送方向における上流側の光ファイバ1のコア11内を伝搬してきた光の一部を下流側の光ファイバ1のクラッド12へ漏光させる漏光発生部3を備えているので、図6に示した従来例のように2本の光ファイバ1’,1’の上記一端部同士を接続損失が最小となるように融着したものに比べて、漏れる光の絶対光量を増やすことができ、また、波長帯の異なる複数の光を各別に検出可能な複数の受光素子チップ5,5を備えているので、波長帯の異なる複数の光が伝搬される光線路Aに関して複数の光それぞれについて容易に活線検出が可能であり、しかも、漏光発生部3から漏れた光を検出可能な複数の受光素子チップ5,5それぞれが、漏光発生部3から漏れる光に対して透明な接着剤からなる透明接着層4,4を介して上記下流側の光ファイバ1のクラッド12の外周面に接着されているので、図6に示した従来例のように融着補強スリーブ42’などが介在する場合に比べて各受光素子チップ5,5とクラッド12の外周面との距離を短くでき、しかも、各受光素子チップ5,5と上記下流側の光ファイバ1のクラッド12の外周面との間に空気が介在する場合に比べて、空気よりも大きい屈折率を有する透明接着層4,4にクラッド12から多くの漏れ光が入射して、漏れ光の各受光素子チップ5,5への到達効率が向上するから、光線路Aを伝搬する複数の光それぞれの光パワーの大小によらず独立して安定した活線検出が可能となる。要するに、光線路Aを伝搬する光の光パワーが大きいときは勿論、光パワーが小さい場合であっても安定して活線検出が可能となる。
また、本実施形態の活線検出装置では、漏光発生部3が、上述のように、2本の光ファイバ1,1の上記一端部同士を接続するときに両光ファイバ1,1の上記光軸方向に直交する断面において当該2本の光ファイバ1,1それぞれの上記他の部位におけるクラッド12,12の屈折率よりも屈折率が高く且つ上記他の部位におけるコア11,11の屈折率よりも屈折率が低い中間屈折率領域11aを有するように融着することで形成されており、光の伝搬方向で局所的な屈折率分布の変化が存在し、融着部2を光が通過する際に光強度分布も変化し、一部の光を漏光発生部3から漏れ光としてコア11からクラッド12に漏れさせることができるので、両光ファイバ1,1の上記一端部同士を融着する際に中間屈折率領域11aの屈折率分布を制御することにより、活線検出に必要な漏れ光を得ることができる。要するに、本実施形態の活線検出装置では、漏光発生用の別部材を追加することなく、2本の光ファイバ1,1の上記一端部同士を接続するときに上記光軸方向に直交する断面において当該2本の光ファイバ1,1それぞれの上記他の部位におけるクラッド12,12の屈折率よりも屈折率が高く且つ上記他の部位におけるコア11,11の屈折率よりも屈折率が低い中間屈折率領域11aが形成されるように融着することで漏光発生部3を形成することができる。
ところで、各受光素子チップ5,5の検出感度は、(1)受光素子チップ5,5の検出対象波長に対する受光感度、(2)漏光発生部3での各検出対象波長の漏れ光の光量、(3)各受光素子チップ5,5への検出対象波長の漏れ光の到達効率、(4)各受光素子チップ5,5の受光面の面積、の4つの要素(1)〜(4)で総合的に決まる値である。
ここで、本実施形態の活線検出装置では、各受光素子チップ5,5の検出対象波長が異なり結晶材料が異なるので、(1),(4)が異なる値となる。また、漏光発生部3での各検出対象波長の漏れ光の光量(2)は大差ないので、(1),(4)それぞれについての比較で差がある場合には、(3)の到達効率を調整することで各受光素子チップ5,5の検出感度を略同じ値に揃えることが可能となる。
ここにおいて、本実施形態の活線検出装置では、複数の受光素子チップ5,5の配置に関して、検出感度が低い受光素子チップ5ほど漏光発生部3に近い側に配置されているので、各受光素子チップ5,5の検出感度の差を小さくすることができ(各受光素子チップ5,5の検出感度を略同じ値に揃えることができ)、各光それぞれについてより確実に活線検出を行うことができる。
(実施形態2)
本実施形態の活線検出装置の基本構成は実施形態1と略同じであって、図4に示すように、複数の受光素子チップ5,5が、漏光発生部3からの距離(実施形態1で説明した規定長さ)が同じになるように配置されている点が相違する。ここで、受光素子チップ51と受光素子チップ5とは上記下流側の光ファイバ1を挟んで対向配置されている。なお、実施形態1と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
ところで、実施形態1の活線検出装置では、複数の受光素子チップ5,5が上記下流側の光ファイバ1の上記光軸方向に沿って配置されているので、複数の受光素子チップ5,5のうち、より下流側に配置されている受光素子チップ5で検出すべき検出対象波長の光の一部がより上流側に配置されている受光素子チップ5に入射してしまい、下流側の受光素子チップ5に到達する検出対象波長の漏れ光が減少して受光素子チップ5への漏れ光の到達効率が低下し、出力電流が低下する傾向にある。
これに対して、本実施形態の活線検出装置では、複数の受光素子チップ5,5が、漏光発生部3からの距離が同じになるように配置されているので、各受光素子チップ5,5それぞれへの漏れ光の到達効率を略同じにすることができる。なお、図4では、受光素子チップ5に検出対象波長の光の光線P1だけでなく受光素子チップ5の検出対象波長の光線P2も入射しているが、このように受光素子チップ5に到達する光線経路を通る光線P2は、元々、受光素子チップ5には到達しない光線P2であり、受光素子チップ5への漏れ光の到達効率の減少につながるものではない。
なお、受光素子チップ5,5と漏光発生部3との距離が近すぎると、漏光発生部3から漏れる光の光強度分布が受光素子チップ5,5の出力電流にそのまま影響し、受光素子チップ5,5の出力電流がばらつくことが考えられるので、漏光発生部3で発生した光が少なくとも1回は全反射して受光素子チップ5,5に到達するように上記規定長さを設定することで光強度分布が平均化され、受光素子チップ5,5の出力電流がばらつくのを抑制することができ、受光素子チップ5,5の安定した出力を得ることが可能となる。
(実施形態3)
本実施形態の活線検出装置の基本構成は実施形態1と略同じであって、光線路Aが双方向通信用の光線路であり、図5に示すように、複数の受光素子チップ5,5,5,5が、上記光軸方向において漏光発生部3を挟んで両側に配置されている点が相違する。なお、実施形態1と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
本実施形態では、図5の右側の光ファイバ1を上流側、左側の光ファイバ1を下流側として伝搬され互いに波長帯の異なる複数(ここでは、2つ)の光と、同図の左側の光ファイバ1を上流側、右側の光ファイバ1を下流側として伝搬され互いに波長帯の異なる複数(ここでは、2つ)の光とがあり、前者の複数の光の光線経路を実線の矢印でまとめて例示し、後者の複数の光の光線経路を破線の矢印でまとめて例示してある。
しかして、本実施形態の活線検出装置によれば、複数の受光素子チップ5,5,5,5が、上記光軸方向において漏光発生部3を挟んで両側に配置されているので、各受光素子チップ5,5、5,5それぞれにおける検出対象の光とは伝送方向が逆の光が各受光素子チップ5,5、5,5に到達するのを防止することができる。なお、図5における左側の光ファイバ1のクラッド12の外周面に透明接着層4,4を介して接着された受光素子チップ5,5と、右側の光ファイバ1のクラッド12の外周面に透明接着層4,4を介して接着された受光素子チップ5,5とは、融着部2を含む断面に対して対称な配置となっていることが望ましい。また、本実施形態では、光線路Aが双方向に複数の光が伝送される形態となっているが、両方向で同じ数の光が伝送される必要はなく、また、両方向とも1つの波長帯の光のみが伝送される形態でもよい。
ところで、上記各実施形態における漏光発生部3の形成方法は実施形態1で説明した形成方法に限らず、例えば、2本の光ファイバ1,1の上記一端部同士を融着する前に上記各一端部それぞれを各別に溶融させて上記各一端部の屈折率分布を上記他の部位とは異ならせてから(光ファイバ1,1本来の屈折率分布とは異ならせてから)、2本の光ファイバ1,1の上記一端部同士を融着して融着部2を形成することで漏光発生部3を形成するようにしてもよいし、2本の光ファイバ1,1の上記一端部同士を当該2本の光ファイバ1,1とはコア径の異なる漏光発生用の光ファイバを挟んで接続することにより漏光発生部3を形成するようにしてもよいし、2本の光ファイバ1,1の上記一端部同士を当該2本の光ファイバ1,1とコア径が同じで当該2本の光ファイバ1,1のコア11とは屈折率が異なる漏光発生用の光ファイバを挟んで接続することにより漏光発生部3を形成するようにしてもよいし、2本の光ファイバ1,1の上記一端部同士を当該2本の光ファイバ1,1のクラッド12,12と同じ材料(石英ガラス)からなり屈折率が一様なファイバを挟んで接続することにより漏光発生部3を形成するようにしてもよい。
実施形態1の活線検出装置の要部概略断面図である。 同上を示し、(a)は光軸方向に沿った概略断面図、(b)は(a)のC−C’断面における屈折率分布図、(c)は(a)の融着部における屈折率分布図、(d)は(a)のB−B’断面における屈折率分布図である。 同上の他の構成例を示し、(a)は光軸方向に沿った概略断面図、(b)は(a)のC−C’断面における屈折率分布図、(c)は(a)の融着部における屈折率分布図、(d)は(a)のB−B’断面における屈折率分布図である。 実施形態2の活線検出装置の要部概略断面図である。 実施形態3の活線検出装置の要部概略断面図である。 従来例の活線検出装置の概略構成図である。
符号の説明
1 光ファイバ
2 融着部
3 漏光発生部
4 透明接着層
,5 受光素子チップ
10 素線
11 コア
12 クラッド
13 被覆
A 光線路

Claims (4)

  1. 2本の光ファイバの一端部同士を接続して形成する光線路が活線状態にあるか否かを検出する活線検出装置であって、2本の光ファイバの前記一端部同士を接続するときに当該2本の光ファイバの光軸方向に直交する断面の屈折率分布を前記光軸方向の他の部位とは異ならせることにより形成され光の伝送方向における上流側の光ファイバのコア内を伝搬してきた光の一部を下流側の光ファイバのクラッドへ漏光させる漏光発生部と、波長帯と伝送方向との少なくとも一方の異なる複数の光を各別に検出可能な複数の受光素子チップとを備え、各受光素子チップは、漏光発生部から漏れる光に対して透明な接着剤からなる透明接着層を介して前記下流側の光ファイバのクラッドの外周面に接着されてなることを特徴とする活線検出装置。
  2. 前記複数の受光素子チップは、漏光発生部からの距離が同じになるように配置されてなることを特徴とする請求項1記載の活線検出装置。
  3. 前記複数の受光素子チップは、検出感度が低い受光素子チップほど漏光発生部に近い側に配置されてなることを特徴とする請求項1記載の活線検出装置。
  4. 前記光線路が双方向通信用の光線路であり、前記複数の受光素子チップは、前記光軸方向において漏光発生部を挟んで両側に配置されてなることを特徴とする請求項2または請求項3記載の活線検出装置。
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