JP2010032260A - 光学系歪補正方法および光学系歪補正装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光学系歪補正方法は、採取された画像上の点D(Xd,Yd)から真の投影座標U(Xu,Yu)への対応関係を、Xd,Ydの2変数多項式としてそれぞれ設定するステップと、その2変数多項式の次数をNとすると、(N+1)(N+2)以上の個数であって予め位置座標(Xui,Yui)(但しi=1,・・・N)が既知のマーク群を有する基準対象物を撮像するステップと、その撮像された基準画像内における前記マーク群の座標(Xdi,Ydi)および位置座標(Xui,Yui)に基づいて、変分法によって2変数多項式の係数を決定するステップとを含む。
【選択図】図1
Description
また、例えば非特許文献3においては、格子状のテスト画像を撮像し、補正前の画像座標(xd,yd)から(x,y)の対応関係が、次の(式5)に示す関係にて規定されるとしている。
さらに、同様の方法として、非特許文献4には、レンズの焦点距離をfx,fy、画像の中心点をcx,cy、径方向および接線方向のパラメータをそれぞれk1,k2,p1,p2、また、x2=xd 2+yd 2,xd=(j−cx)/fx,yd=(i−cy)/fy、さらに、i,jを水平、垂直方向の画素番号とすると、補正前の画像上の座標(xd,yd)およびこれに対応する補正後の(Xu,Yu)の関係は、次の(式6)が成り立つため、前記のパラメータk1,k2,p1,p2を適切な値に調整すればよいとしている。
そこで、本発明は、このような問題点に着目してなされたものであって、試行錯誤的なパラメータ調整に依存せずに光学歪みを補正し得る光学系歪補正方法および光学系歪補正装置を提供することを目的としている。
図1は、対象物(被検体)を、光学歪みをもつ光学系を有する画像採取手段を用いて撮像した場合の光学歪み補正の効果を概念的に表したものである。なお、同図において紙面上方の図は、基準パターン上の真のマークの配列のイメージを示し、また、紙面下方の図は、光学歪みをうけた画像上のマークの配列のイメージを示している。
本発明の基本的な考え方は、まず、光学系を有する画像採取手段を用いて対象物の画像を採取する。そして、その採取された画像上で得られる、あるマークの座標D(Xd,Yd)とそのマークの真の投影座標U(Xu,Yu)との対応関係を、Xd,YdのN次の2変数多項式からなる次の光学歪補正式(式1)によって与える。
変分法による光学歪補正式の決定の一例としては、Fx、Fyによる歪補正の二乗誤差(次の(式2))が最小となるように、各パラメータによる偏微分係数の停留条件を求める。
また、基準パターン上のマーク群の個数Mについては、本質的には連立一次方程式の解法に帰着することから、光学歪補正式の次数Nに応じて定まる多項式係数{a},{b}の総数が(N+1)(N+2)であることを考慮して、これ以上の個数をマーク群の個数Mとするのが好適であり、より大となる個数がより好適である。
図2は、本発明の実施例の一例を示す構成図であり、同図において、符号1は基準パターン、2は結像光学系、3は撮像手段、4は画像演算手段、5は記憶手段であり、この画像演算手段4および記憶手段5によって光学系歪補正装置が構成されている。
詳しくは、基準パターン1は、背景に対して十分なコントラストを持ったドット(小さな円上の点)を縦横に等間隔に並べたものや、縦横の線を等間隔に並べた格子状のパターンなどが市販、または公知なパターンとして製作されているものを用いればよい。この基準パターン1上のドット、格子の交点などが基準マークとなる。これら基準となるマークの分布は予め知れている。
撮像手段3は、前記結像光学系2とによって画像採取手段を構成しており、結像光学系2によって撮像素子上で光学的に結像された像を電気的な強度信号に変換するものである。この撮像手段3は、撮像素子としてCCD、CMOS等を2次元上に配列したエリアセンサカメラとして市販されているものを利用する等して適宜構成して使用すればよい。また、前記CCD、CMOS等の撮像素子を1次元に配列したラインセンサカメラと前記結像光学系2の間に回転鏡を挿入するか、一次元撮像素子を素子と直交方向に移動させるなどして2次元画像を得るようにしてもよい。
なおまた、近年では、上記画像演算手段4と記録手段5は、画像採取手段とのインターフェイスボードを有するパソコン、ワークステーション、ボードコンピュータなどのコンピュータとそのアプリケーションソフトウエア、外部記憶装置で実現するのが好適である。
図3は、本実施例によって撮像した格子の基準パターンの画像(生画像)の一部である。基準マークは格子の交点であるので、この交点の中心座標を算出すればよい。一例として、以下の1)〜3)にその手順を示す。
1)まず、平滑フィルタを用いて基準パターンの生画像を平滑し、これを平滑画像とする。ここで、この平滑フィルタは、光学系の平均的な倍率と格子の線の太さから予め知れる交点の縦・横の画素数に相当するマスク長を有するものである。図3の画像(生画像)に対して平滑フィルタを作用させた例を図4に示す。
3)次に、図5に示す差分画像によって輝度が高い領域が交差した点を順に識別する。上記差分画像に対しこの識別手順によって識別した交点を小さな四角形で囲ったものが図6である。その輝度と画素の2次元重心を同様に順に算出し、その算出された2次元重心を基準マークの中心座標(Xdi,Ydi)とする。
同図からわかるように、本実施例の光学系では、最大0.15mm程度を上限として一様なばらつきで光学歪みが存在していたが、本実施例の補正によって、0.001mm以下に補正されている。これにより、本実施例の効果が確認できた。
2 結像光学系
3 撮像手段
4 画像演算手段
5 記憶手段
Claims (2)
- 光学系を有する画像採取手段を用いて対象物の画像を採取し、その採取された画像に基づいて当該対象物の寸法等の諸元情報を計測する画像検査装置を用いるときに、前記光学系の歪みを補正する方法であって、
前記採取された画像上の点D(Xd,Yd)から真の投影座標U(Xu,Yu)への対応関係を、Xd,Ydの2変数多項式としてそれぞれ設定するステップと、前記2変数多項式の次数をNとすると、(N+1)(N+2)以上の個数であって予め位置座標(Xui,Yui)(但しi=1,・・・N)が既知のマーク群を有する基準対象物を撮像するステップと、その撮像された基準画像内における前記マーク群の座標(Xdi,Ydi)および前記位置座標(Xui,Yui)に基づいて、変分法によって前記2変数多項式の係数を決定するステップとを含むことを特徴とする光学系歪補正方法。 - 光学系を有する画像採取手段を用いて対象物の画像を採取し、その採取された画像に基づいて当該対象物の寸法等の諸元情報を計測する画像検査装置に用いられ、前記光学系の歪みを補正する光学系歪補正装置であって、
撮像視野に分布しそれぞれの位置座標が既知であるM個のマーク群を有する基準パターンを用いて、M≧(N+1)(N+2)となるようなN次の2変数多項式Fx,Fyによって画像上の点D(Xd,Yd)から真の投影座標U(Xu,Yu)への対応関係を変分法によって算出する多項式係数決定手段を備えていることを特徴とする光学系歪補正装置。
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Cited By (8)
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---|---|---|---|---|
CN102202226A (zh) * | 2010-03-23 | 2011-09-28 | 夏普株式会社 | 校准装置、缺陷检测装置、缺陷修复装置、校准方法 |
JP2012190987A (ja) * | 2011-03-10 | 2012-10-04 | Toshiba Mach Co Ltd | ワーク切削ラインの表示方法 |
JP2013011513A (ja) * | 2011-06-29 | 2013-01-17 | Kobe Steel Ltd | 走行体の停止位置検出方法、及び走行体の停止位置検出装置 |
KR101281454B1 (ko) | 2010-10-13 | 2013-07-03 | 주식회사 고영테크놀러지 | 측정장치 및 이의 보정방법 |
JP2015012355A (ja) * | 2013-06-27 | 2015-01-19 | Jfeスチール株式会社 | 移動式ラインカメラの光学系画像補正方法 |
US10861149B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-12-08 | Fanuc Corporation | Inspection system and method for correcting image for inspection |
CN112109374A (zh) * | 2020-08-26 | 2020-12-22 | 合肥工业大学 | 一种基于计算机视觉系统定位及控制折弯模具装卸的方法 |
CN112697403A (zh) * | 2020-12-16 | 2021-04-23 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种超高精度空间望远镜光学畸变在轨标定方法 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6576664B2 (ja) | 2015-03-31 | 2019-09-18 | 株式会社ミツトヨ | エッジ検出偏り補正値計算方法、エッジ検出偏り補正方法、及びプログラム |
WO2017110071A1 (ja) * | 2015-12-25 | 2017-06-29 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 寸法測定装置、宅配ボックス装置、寸法測定方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0843056A (ja) * | 1993-09-06 | 1996-02-16 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 移動物体特徴取得方法及びその装置 |
JPH0879622A (ja) * | 1994-05-27 | 1996-03-22 | Warp Ltd | 広角画像における歪み解除の方法および装置 |
JPH11121343A (ja) * | 1997-10-21 | 1999-04-30 | Oki Electric Ind Co Ltd | 縮小投影露光装置の収差係数測定方法 |
JPH11275391A (ja) * | 1998-03-20 | 1999-10-08 | Kyocera Corp | ディストーション補正を選択できるディジタル撮像装置 |
JP2000339297A (ja) * | 1999-05-25 | 2000-12-08 | Tadahiko Kawai | 固体力学諸問題の解析における領域分割方法および固体力学諸問題の離散化解析方法 |
WO2005010818A1 (ja) * | 2003-07-28 | 2005-02-03 | Olympus Corporation | 画像処理装置、画像処理方法及び歪補正方法 |
JP2005351644A (ja) * | 2004-06-08 | 2005-12-22 | Toshiba Corp | プラント保全方法 |
-
2008
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0843056A (ja) * | 1993-09-06 | 1996-02-16 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 移動物体特徴取得方法及びその装置 |
JPH0879622A (ja) * | 1994-05-27 | 1996-03-22 | Warp Ltd | 広角画像における歪み解除の方法および装置 |
JPH11121343A (ja) * | 1997-10-21 | 1999-04-30 | Oki Electric Ind Co Ltd | 縮小投影露光装置の収差係数測定方法 |
JPH11275391A (ja) * | 1998-03-20 | 1999-10-08 | Kyocera Corp | ディストーション補正を選択できるディジタル撮像装置 |
JP2000339297A (ja) * | 1999-05-25 | 2000-12-08 | Tadahiko Kawai | 固体力学諸問題の解析における領域分割方法および固体力学諸問題の離散化解析方法 |
WO2005010818A1 (ja) * | 2003-07-28 | 2005-02-03 | Olympus Corporation | 画像処理装置、画像処理方法及び歪補正方法 |
JP2005351644A (ja) * | 2004-06-08 | 2005-12-22 | Toshiba Corp | プラント保全方法 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102202226A (zh) * | 2010-03-23 | 2011-09-28 | 夏普株式会社 | 校准装置、缺陷检测装置、缺陷修复装置、校准方法 |
KR101281454B1 (ko) | 2010-10-13 | 2013-07-03 | 주식회사 고영테크놀러지 | 측정장치 및 이의 보정방법 |
JP2012190987A (ja) * | 2011-03-10 | 2012-10-04 | Toshiba Mach Co Ltd | ワーク切削ラインの表示方法 |
JP2013011513A (ja) * | 2011-06-29 | 2013-01-17 | Kobe Steel Ltd | 走行体の停止位置検出方法、及び走行体の停止位置検出装置 |
JP2015012355A (ja) * | 2013-06-27 | 2015-01-19 | Jfeスチール株式会社 | 移動式ラインカメラの光学系画像補正方法 |
US10861149B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-12-08 | Fanuc Corporation | Inspection system and method for correcting image for inspection |
CN112109374A (zh) * | 2020-08-26 | 2020-12-22 | 合肥工业大学 | 一种基于计算机视觉系统定位及控制折弯模具装卸的方法 |
CN112697403A (zh) * | 2020-12-16 | 2021-04-23 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种超高精度空间望远镜光学畸变在轨标定方法 |
CN112697403B (zh) * | 2020-12-16 | 2023-03-31 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种超高精度空间望远镜光学畸变在轨标定方法 |
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