JP2010023307A - Screen printing method - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a screen printing method, in which the positioning between a screen mask and a material to be printed is executed enough accurately in a screen printing so as to enough accurately print an object printing pattern on the material to be printed. <P>SOLUTION: In the screen printing method, in which a printing pattern is printed through opening apertures on the material to be printed after the positioning between the screen mask having the opening apertures corresponding to the printing pattern and the material to be printed has been executed, the positioning is executed by relatively moving the material to be printed and the screen mask so as to remove the discrepancy between the positions of shadows and the positions of the positioning references on the material to be printed side under the state that positioning references are provided on the screen mask and on the material to be printed so as to irradiate light from just above the positioning references on the screen mask side in order to project the shadows of the positioning references on the screen mask side on the material to be printed. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、被印刷物上に目的の印刷パターンを形成するスクリーン印刷において、印刷パターンを被印刷物上の所望の位置に精度良く印刷することができるスクリーン印刷方法に関する。   The present invention relates to a screen printing method capable of accurately printing a print pattern at a desired position on a printing material in screen printing for forming a target printing pattern on the printing material.

例えば、フラットパネルディスプレイ等の画像表示装置やセラミック部品、プリント基板、太陽電池等の電子部品の製造工程の1つに、各種基板上に形成された溝や穴等の凹部の内部に電極や発光層を形成する工程がある。この電極や発光層は、基板上に形成された凹部に導電性や発光性のペースト状印刷材料を充填して形成されており、これらの材料が凹部に十分に充填され、かつ、凹部周辺の基板表面上にこれらの材料がはみ出さないことが必要とされている。   For example, in one of the manufacturing processes of image display devices such as flat panel displays and electronic parts such as ceramic parts, printed boards and solar cells, electrodes and light emission are formed in recesses such as grooves and holes formed on various boards. There is a step of forming a layer. The electrode and the light emitting layer are formed by filling a concave portion formed on the substrate with a conductive or luminescent paste-like printing material, and these materials are sufficiently filled in the concave portion and around the concave portion. It is required that these materials do not protrude on the substrate surface.

これらの材料を基板の凹部へ充填する方法としては、フォトリソグラフィやインクジェット印刷等が用いられてきた。しかし、これらの方法は、導電性や発光性の印刷材料を精度良く高い充填率で凹部に充填することができるが、一方で、生産に要する費用が多大となるという問題があった。   As a method of filling these materials into the concave portions of the substrate, photolithography, ink jet printing, and the like have been used. However, these methods can accurately fill the recesses with a conductive or luminescent printing material with a high filling rate, but on the other hand, there is a problem that the cost required for the production becomes large.

そこで、生産に要する費用を削減することを目的として、スクリーン印刷を用いて上記材料を基板上に形成された凹部に充填し、電極や発光層を形成することが行われている。
スクリーン印刷により基板上に形成された凹部に導電性や発光性の印刷材料を充填する方法としては、例えば図2のように、先ず、凹部12が形成された被印刷物1である基板上に、凹部12に対応した位置に開口窓9が設けられているスクリーンマスク2を設置する。
Therefore, for the purpose of reducing the cost required for production, an electrode or a light emitting layer is formed by filling the above-mentioned material into a concave portion formed on a substrate using screen printing.
As a method of filling a concave portion formed on the substrate by screen printing with a conductive or luminescent printing material, for example, as shown in FIG. 2, first, on the substrate that is the substrate 1 on which the concave portion 12 is formed, The screen mask 2 provided with the opening window 9 is installed at a position corresponding to the recess 12.

そして、印刷材料11をスクリーンマスク2上に供給し、スクレッパ(不図示)をスクリーンマスク2上で平行移動させて開口窓9に印刷材料11を充填する。その後、スキージ10をスクリーンマスク2に接触させてスキージ10でスクリーンマスク2を基板に押し当てながらスキージ10を平行移動させて、開口窓9に充填された印刷材料11を基板上の凹部12内に押し出し、凹部12に印刷材料11を充填する。
ここで、印刷を精度良く行うためには、スクリーンマスク2の開口窓9と凹部12の位置が一致していることが重要である。すなわち、スクリーン印刷において、被印刷物とスクリーンマスクの位置決めが必要となる。
Then, the printing material 11 is supplied onto the screen mask 2, and a scraper (not shown) is translated on the screen mask 2 to fill the opening window 9 with the printing material 11. Thereafter, the squeegee 10 is brought into contact with the screen mask 2, and the squeegee 10 is moved in parallel while pressing the screen mask 2 against the substrate with the squeegee 10, so that the printing material 11 filled in the opening window 9 is placed in the recess 12 on the substrate. Extrude and fill the recess 12 with the printing material 11.
Here, in order to perform printing with high accuracy, it is important that the positions of the opening window 9 and the recess 12 of the screen mask 2 coincide. That is, in screen printing, it is necessary to position the substrate and the screen mask.

上記のような一連の作業を繰り返すことにより、凹部12に導電性や発光性の印刷材料11が充填された基板を生産する。スクリーン印刷法を用いることにより、フォトリソグラフィやインクジェット印刷に比べ工程数の削減や処理速度の増大が図られ、生産に要する費用を削減することが可能である。   By repeating a series of operations as described above, a substrate in which the recess 12 is filled with the conductive or luminescent printing material 11 is produced. By using the screen printing method, the number of processes and the processing speed can be increased as compared with photolithography and inkjet printing, and the cost required for production can be reduced.

また、このようなスクリーン印刷方法で、例えば太陽電池の電極を形成する場合、ペースト状印刷材料として、導電性ペースト材料が用いられるが、一般的に導電性ペースト材料の特性等から、一度の印刷で形成される電極の線幅に対してその高さは半分が限界とされており、線幅が細く厚い、すなわち、アスペクト比が高い電極を1度のスクリーン印刷で形成することは困難である。   In addition, when a solar cell electrode is formed by such a screen printing method, for example, a conductive paste material is used as a paste-like printing material. The height is limited to half of the line width of the electrode formed in (1), and it is difficult to form an electrode with a thin and thick line width, that is, a high aspect ratio by one screen printing. .

そこで、例えば太陽電池のフィンガー電極のような、高アスペクト比が要求される電極を得るために、スクリーン印刷を複数回繰り返して、下層の電極線上に導電性ペーストを重ね合わせて印刷し、複層構造の電極を形成することが行われる。
しかし、このようにして、複層構造の電極を形成すると、下層の電極線のパターンとスクリーンマスクの開口窓の位置にずれが存在している場合、本来は垂直に積み重なるべき電極パターンが少しずつ傾斜していくといったようなずれが、層間で発生してしまい、安定した特性が得られず、電極のシャドウロスが発生してしまうという問題があった。
Therefore, in order to obtain an electrode that requires a high aspect ratio, such as a finger electrode of a solar cell, screen printing is repeated a plurality of times, and a conductive paste is overlaid on the lower electrode wire and printed. An electrode having a structure is formed.
However, when an electrode having a multi-layer structure is formed in this way, if there is a shift between the pattern of the lower electrode line and the position of the opening window of the screen mask, the electrode pattern that should be stacked vertically is gradually little by little. There is a problem that a shift such as tilting occurs between the layers, a stable characteristic cannot be obtained, and a shadow loss of the electrode occurs.

このように、スクリーン印刷において、被印刷物とスクリーンマスクの位置決めを精度良く行う必要があり、従来は、例えば以下に示すような位置決め方法を用いていた。
図3は、スクリーン印刷時における、従来の位置決め方法の例を示す説明概要図である。
被印刷物1は、印刷ステージ8上に載置され固定される。そして、被印刷物1の位置をカメラ7でチェックしながら、機械的な辺合わせ、もしくはセンター出しなどで、印刷ステージ8を微動させて被印刷物1の位置決めを行う。
その後、印刷ステージ8はスクリーンマスク2の直下まで所定量移動し、その後、被印刷物上に印刷パターンがスクリーン印刷される。
Thus, in screen printing, it is necessary to accurately position the substrate to be printed and the screen mask. Conventionally, for example, the following positioning method has been used.
FIG. 3 is an explanatory schematic diagram showing an example of a conventional positioning method during screen printing.
The substrate 1 is placed and fixed on the printing stage 8. Then, while checking the position of the substrate 1 with the camera 7, the substrate 1 is positioned by finely moving the printing stage 8 by mechanical edge alignment or centering.
Thereafter, the printing stage 8 moves by a predetermined amount just below the screen mask 2, and then a printing pattern is screen-printed on the substrate.

ところが、カメラ7の直下で正確に被印刷物1の位置決めを行っても、スクリーンマスク2の直下に印刷ステージ8が所定量移動する際、例えば移動の手段として用いられるボールねじの摩擦熱等により、印刷ステージ8とボールねじとの接続部等に歪みが発生する。この歪みにより、印刷ステージ8の移動距離に誤差が生じ、被印刷物への印刷パターンの印刷位置とスクリーンマスクの開口窓にずれが発生する。このため、印刷された印刷パターンの位置が本来印刷されるべき位置からずれてしまうといった問題があった。   However, even if the printing substrate 1 is accurately positioned directly under the camera 7, when the printing stage 8 moves a predetermined amount directly under the screen mask 2, for example, by frictional heat of a ball screw used as a moving means, etc. Distortion occurs at the connection between the printing stage 8 and the ball screw. Due to this distortion, an error occurs in the moving distance of the printing stage 8, and a deviation occurs between the printing position of the printing pattern on the printing material and the opening window of the screen mask. For this reason, there has been a problem that the position of the printed print pattern is deviated from the position to be originally printed.

この問題に対し、移動してきた印刷ステージがストッパに接触する際、圧縮バネによりモーターの駆動力を吸収して印刷ステージの位置決めとスクリーン印刷を正確に行う方法が開示されている(特許文献1参照)。
しかし、この方法においては、圧縮バネやセンサーの調節を頻繁に行わなければならず、また摩擦熱により印刷機全体に歪みが発生した場合、ズレを吸収しきれなくなるという問題があった。
特許公開平7−136889
To solve this problem, a method is disclosed in which when the moving printing stage contacts the stopper, the driving force of the motor is absorbed by a compression spring to accurately position the printing stage and perform screen printing (see Patent Document 1). ).
However, in this method, there is a problem that the compression spring and the sensor must be adjusted frequently, and when the entire printing press is distorted by frictional heat, the displacement cannot be absorbed.
Patent Publication No. 7-136889

本発明は前述のような問題に鑑みてなされたもので、スクリーン印刷において、スクリーンマスクと被印刷物との位置決めを精度良く行い、目的の印刷パターンを被印刷物上に精度良く印刷することができるスクリーン印刷方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems. In screen printing, the screen mask and the substrate can be accurately positioned, and the target print pattern can be accurately printed on the substrate. An object is to provide a printing method.

上記目的を達成するために、本発明によれば、印刷パターンに対応する開口窓を有するスクリーンマスクと被印刷物との位置決めを行った後、前記印刷パターンを前記開口窓を通じて前記被印刷物に印刷するスクリーン印刷方法において、前記位置決めを、前記スクリーンマスク及び、前記被印刷物に位置決め基準を設け、前記スクリーンマスク側の位置決め基準の直上から光を照射して前記被印刷物上に前記スクリーンマスク側の位置決め基準の影を投影し、該影の位置と前記被印刷物側の位置決め基準の位置とのずれをなくすように前記被印刷物と前記スクリーンマスクを相対的に移動させることによって行うことを特徴とするスクリーン印刷方法が提供される(請求項1)。   In order to achieve the above object, according to the present invention, after positioning a screen mask having an opening window corresponding to a printing pattern and the printing material, the printing pattern is printed on the printing material through the opening window. In the screen printing method, the positioning is performed by providing a positioning reference for the screen mask and the substrate to be printed, and irradiating light from directly above the positioning reference on the screen mask side to position the positioning reference for the screen mask on the substrate. Screen printing, which is performed by relatively moving the substrate and the screen mask so as to eliminate the deviation between the position of the shadow and the positioning reference position on the substrate side A method is provided (claim 1).

このように、前記位置決めを、前記スクリーンマスク及び、前記被印刷物に位置決め基準を設け、前記スクリーンマスク側の位置決め基準の直上から光を照射して前記被印刷物上に前記スクリーンマスク側の位置決め基準の影を投影し、該影の位置と前記被印刷物側の位置決め基準の位置とのずれをなくすように前記被印刷物と前記スクリーンマスクを相対的に移動させることによって行うことで、印刷時にスクリーンマスクと被印刷物との位置決めを精度良く行うことができ、目的の印刷パターンを被印刷物上に精度良く印刷することができる。   As described above, the positioning reference is provided to the screen mask and the substrate, and light is irradiated from directly above the positioning reference on the screen mask side so that the positioning reference on the screen mask side is applied to the substrate. By projecting a shadow and relatively moving the substrate and the screen mask so as to eliminate the deviation between the position of the shadow and the positioning reference position on the substrate, Positioning with the substrate can be performed with high accuracy, and a target print pattern can be printed with high accuracy on the substrate.

このとき、前記被印刷物と前記スクリーンマスクの位置決めを行う際、前記影と前記被印刷物側の位置決め基準の画像を画像処理手段に取り込み、前記画像を画像処理して前記ずれの量を算出し、前記被印刷物と前記スクリーンマスクを前記算出したずれの量だけ相対的に移動させて位置決めすることができる(請求項2)。   At this time, when positioning the printing substrate and the screen mask, the shadow and the image of the positioning reference on the printing substrate side are taken into an image processing means, and the image is image-processed to calculate the amount of deviation, The printing substrate and the screen mask can be relatively moved by the calculated amount of displacement for positioning.

このように、前記被印刷物と前記スクリーンマスクの位置決めを行う際、前記影と前記被印刷物側の位置決め基準の画像を画像処理手段に取り込み、前記画像を画像処理して前記ずれの量を算出し、前記被印刷物と前記スクリーンマスクを前記算出したずれの量だけ相対的に移動させて位置決めすることで、印刷時にスクリーンマスクと被印刷物との位置決めをより精度良く行うことができ、その工程を自動化することができる。   As described above, when positioning the printing substrate and the screen mask, the shadow and the positioning reference image on the printing substrate side are taken into an image processing unit, and the image is processed to calculate the amount of deviation. By positioning the substrate and the screen mask by relatively moving the calculated displacement amount, the screen mask and the substrate can be positioned more accurately during printing, and the process is automated. can do.

またこのとき、前記被印刷物は太陽電池の電極であることができる(請求項3)。
本発明のスクリーン印刷方法では、目的の印刷パターンを被印刷物上に精度良く印刷することができるので、高精度かつ低コスト化が要求される太陽電池の電極のスクリーン印刷において特に有用である。
At this time, the substrate may be a solar cell electrode.
The screen printing method of the present invention is particularly useful in the screen printing of solar cell electrodes that require high accuracy and low cost because the target printing pattern can be accurately printed on the substrate.

またこのとき、前記スクリーンマスク及び被印刷物の位置決め基準として、アラインメントマークを用いることができる(請求項4)。
このように、前記スクリーンマスク及び被印刷物の位置決め基準として、アラインメントマークを用いれば、具体的に位置決め基準を設定することができ、容易に精度良く位置決めを行うことができる。
At this time, an alignment mark can be used as a positioning reference for the screen mask and the substrate.
Thus, if the alignment mark is used as the positioning reference for the screen mask and the substrate, the positioning reference can be set specifically, and positioning can be performed easily and accurately.

またこのとき、前記被印刷物は第1層目に電極パターンが印刷された太陽電池の電極であり、前記被印刷物側の位置決め基準として、前記第1層目の電極パターンを用い、また前記スクリーンマスク側の位置決め基準として、印刷する太陽電池の電極パターンに対応する開口窓を用い、前記第1層目の電極パターンの上に、少なくとも1層以上の電極パターンを印刷して複層構造の電極とすことができる(請求項5)。   Further, at this time, the printed material is an electrode of a solar cell on which an electrode pattern is printed on the first layer, the electrode pattern on the first layer is used as a positioning reference on the printed material side, and the screen mask As a positioning reference on the side, an aperture window corresponding to the electrode pattern of the solar cell to be printed is used, and an electrode pattern of at least one layer is printed on the electrode pattern of the first layer. (Claim 5).

このように、前記被印刷物は第1層目に電極パターンが印刷された太陽電池の電極であり、前記被印刷物側の位置決め基準として、前記第1層目の電極パターンを用い、また前記スクリーンマスク側の位置決め基準として、印刷する太陽電池の電極パターンに対応する開口窓を用い、前記第1層目の電極パターンの上に、少なくとも1層以上の電極パターンを印刷して複層構造の電極とすれば、アラインメントマークがなくても具体的に位置決め基準を設定することができ、電極パターンを精度良く印刷することができる。すなわち、シャドウロスを低減した複層構造の電極をスクリーン印刷することができる。   As described above, the printed material is an electrode of a solar cell on which an electrode pattern is printed on the first layer, and the first layer electrode pattern is used as a positioning reference on the printed material side, and the screen mask is used. As a positioning reference on the side, an aperture window corresponding to the electrode pattern of the solar cell to be printed is used, and an electrode pattern of at least one layer is printed on the electrode pattern of the first layer. By doing so, the positioning reference can be set specifically even without the alignment mark, and the electrode pattern can be printed with high accuracy. That is, it is possible to screen print an electrode having a multilayer structure with reduced shadow loss.

本発明では、スクリーン印刷において、位置決めを、スクリーンマスク及び、被印刷物に位置決め基準を設け、前記スクリーンマスク側の位置決め基準の直上から光を照射して前記被印刷物上に前記スクリーンマスク側の位置決め基準の影を投影し、該影の位置と前記被印刷物側の位置決め基準の位置とのずれをなくすように前記被印刷物と前記スクリーンマスクを相対的に移動させることによって行うので、スクリーンマスクと被印刷物との位置決めを精度良く行うことができ、目的の印刷パターンを被印刷物上に精度良く印刷することができる。   In the present invention, in the screen printing, positioning is performed by providing a positioning reference for the screen mask and the printed material, and irradiating light from directly above the positioning reference on the screen mask side, thereby positioning the screen mask side on the printed material. Is performed by relatively moving the substrate and the screen mask so as to eliminate the shift between the position of the shadow and the position of the positioning reference on the substrate side. And the target print pattern can be printed on the substrate with high accuracy.

以下、本発明について実施の形態を説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
従来より、プリント基板の電子部品、太陽電池の電極等を形成する際、基板上に導電性のペースト状の印刷材料をスクリーン印刷する方法が用いられてきた。しかし、被印刷物に目的の印刷パターンをスクリーン印刷する際、被印刷物とスクリーンマスクの位置のずれがあることにより、被印刷物上に目的の印刷パターンが所望の位置に精度良く印刷されないという問題があった。
Hereinafter, although an embodiment is described about the present invention, the present invention is not limited to this.
Conventionally, when forming an electronic component of a printed board, an electrode of a solar cell, or the like, a method of screen printing a conductive paste-like printing material on the board has been used. However, when screen printing a target print pattern on a substrate, there is a problem that the target print pattern cannot be accurately printed on the substrate at a desired position due to the displacement between the substrate and the screen mask. It was.

そこで、本発明者はこのような問題を解決すべく鋭意検討を重ねた。その結果、被印刷物とスクリーンマスクの位置決めを精度良く行うために、スクリーンマスク及び、被印刷物に位置決め基準を設け、光の照射によって被印刷物上にスクリーンマスク側の位置決め基準の影を投影し、その影の位置と被印刷物側の位置決め基準の位置と比較して位置の補正を行えば、精度良く位置決めができることに想到し、本発明を完成させた。   Therefore, the present inventor has intensively studied to solve such problems. As a result, in order to accurately position the substrate to be printed and the screen mask, a positioning reference is provided for the screen mask and the substrate, and the shadow of the positioning reference on the screen mask side is projected onto the substrate by light irradiation. The present invention has been completed by conceiving that positioning can be performed with high precision by correcting the position by comparing the position of the shadow with the positioning reference position on the substrate side.

本発明のスクリーン印刷方法を、太陽電池の製造工程の中で、基板上に形成された溝状の凹部に導電性ペーストを充填し電極を形成する工程を例に挙げて説明する。
まず、印刷パターンを印刷する被印刷物、及びその印刷パターンに対応する開口窓を有するスクリーンマスクを用意する。被印刷物としては、例えば、シリコン単結晶ウェーハを用いることができる。このシリコン単結晶ウェーハには、予め研削加工によって形成された溝状の凹部(電極パターン)が設けられている。
The screen printing method of the present invention will be described by taking as an example a step of filling a groove-like recess formed on a substrate with a conductive paste to form an electrode in a solar cell manufacturing process.
First, a substrate to be printed on which a printing pattern is printed and a screen mask having an opening window corresponding to the printing pattern are prepared. As the substrate, for example, a silicon single crystal wafer can be used. This silicon single crystal wafer is provided with a groove-like recess (electrode pattern) formed in advance by grinding.

スクリーンマスクには印刷パターン、すなわちウェーハ表面の溝状の凹部に対応する位置に開口窓が設けられている。そして、被印刷物、及びスクリーンマスクに、両者の位置決めを行う際に基準とする位置決め基準を設ける。
このとき、被印刷物、及びスクリーンマスクの位置決め基準をアラインメントマークとすることができる。アラインメントマークを設けて位置決め基準とすれば、容易に精度良く位置決めを行うことができる。
The screen mask is provided with an opening window at a position corresponding to a printing pattern, that is, a groove-like recess on the wafer surface. Then, a positioning reference that is used as a reference when positioning both of the printing material and the screen mask is provided.
At this time, the positioning reference of the substrate and the screen mask can be used as the alignment mark. If an alignment mark is provided as a positioning reference, positioning can be performed easily and accurately.

ここで、アラインメントマークは複数設けることができる。少なくとも2つ以上設ければ位置決め精度をより向上することができるが、特にこれに限定されず、1つでも良い。また、アラインメントマークは、被印刷物、及びスクリーンマスクのどの位置に設けても良く、被印刷物とスクリーンマスクのアラインメントマークがそれぞれ対応するように構成されていれば良いが、例えば、印刷時にスクリーンマスクの歪みが少ない中央部に設けることで、スクリーンマスクの歪みによる位置決め誤差を小さくすることができる。   Here, a plurality of alignment marks can be provided. If at least two or more are provided, the positioning accuracy can be further improved. In addition, the alignment mark may be provided at any position on the substrate to be printed and the screen mask, and the alignment mark on the substrate to be printed and the screen mask may be configured to correspond to each other. Positioning errors due to distortion of the screen mask can be reduced by providing the central portion with less distortion.

次に、図1に示すように、印刷ステージ8を下降させ、被印刷物1であるウェーハを印刷ステージ8上に載置し固定する。そして、ウェーハ1の上方にスクリーンマスク2を設置する。
その後、スクリーンマスク2側のアラインメントマーク4の直上からライト5によって光を照射する。このように、アラインメントマーク4の直上から光を照射することによって、ウェーハ1上にスクリーンマスク2側のアラインメントマーク4の影6が投影される。
Next, as shown in FIG. 1, the printing stage 8 is lowered, and the wafer that is the substrate 1 is placed and fixed on the printing stage 8. Then, a screen mask 2 is installed above the wafer 1.
Thereafter, light is irradiated by the light 5 from directly above the alignment mark 4 on the screen mask 2 side. In this way, by irradiating light from directly above the alignment mark 4, the shadow 6 of the alignment mark 4 on the screen mask 2 side is projected onto the wafer 1.

この影6の位置と、ウェーハ1側のアラインメントマーク3の位置のずれをなくすように、ウェーハ1(印刷ステージ8)とスクリーンマスク2を相対的に移動させることにより、極めて誤差の少ない位置決めを行うことができる。   Positioning with very little error is performed by relatively moving the wafer 1 (printing stage 8) and the screen mask 2 so as to eliminate the deviation between the position of the shadow 6 and the position of the alignment mark 3 on the wafer 1 side. be able to.

このとき、影6と被印刷物1であるウェーハ側のアラインメントマーク3の画像をカメラ7を用いて画像処理手段に取り込み、その画像を画像処理して、影6とウェーハ1側のアラインメントマーク3の位置のずれの量を算出し、ウェーハ1とスクリーンマスク2を、算出したずれの量だけ相対的に移動させて位置決めすることができる。
このように、カメラ7で取り込んだ、影6と被印刷物1であるウェーハ側のアラインメントマーク3の画像から両者の位置のずれの量を算出することにより、正確にずれ量を算出することができ、スクリーンマスク2と被印刷物1との位置決めをより精度良く行うことができる。また、この工程を自動化することができる。尚、図1では判り易くするために、アライメントマーク3は突出するように設けられているが凹んでいても良いことは言うまでもない。
At this time, the image of the shadow 6 and the alignment mark 3 on the wafer 1 which is the substrate 1 is taken into the image processing means by using the camera 7, and the image is processed to obtain the shadow 6 and the alignment mark 3 on the wafer 1 side. The amount of positional deviation can be calculated, and the wafer 1 and the screen mask 2 can be positioned relative to each other by moving the calculated amount of deviation.
Thus, by calculating the amount of displacement between the shadow 6 and the image of the alignment mark 3 on the wafer side that is the substrate 1 captured by the camera 7, the amount of displacement can be accurately calculated. The positioning of the screen mask 2 and the substrate 1 can be performed with higher accuracy. Moreover, this process can be automated. In FIG. 1, the alignment mark 3 is provided so as to protrude for easy understanding, but needless to say, it may be recessed.

ここで、印刷ステージ8の上下動可能な距離を大きくすれば、カメラ7を固定したまま、カメラ7の視認範囲を広げることができ、例えば、アラインメントマーク3、4を中央部に設けた場合であっても、そのアラインメントマーク3、及びアラインメントマーク4の影6の位置をカメラの視認範囲とすることができる。   Here, if the distance in which the printing stage 8 can be moved up and down is increased, the viewing range of the camera 7 can be expanded while the camera 7 is fixed. For example, when the alignment marks 3 and 4 are provided in the center portion. Even if it exists, the position of the shadow 6 of the alignment mark 3 and the alignment mark 4 can be made into the visual recognition range of a camera.

このようにして被印刷物1であるウェーハとスクリーンマスク2の位置決めを行った後、印刷ステージ8を所定の位置まで上昇させ、スクリーンマスク2上に印刷材料である導電性ペーストを供給し、スクレッパをスクリーンマスク2に平行な方向に移動させてスクリーンマスク2の開口窓9に導電性ペーストを充填する。   After positioning the wafer 1 to be printed 1 and the screen mask 2 in this way, the printing stage 8 is raised to a predetermined position, a conductive paste as a printing material is supplied onto the screen mask 2, and a scraper is used. The conductive paste is filled in the opening window 9 of the screen mask 2 by moving in a direction parallel to the screen mask 2.

次に、図2に示すように、スキージ10を印刷材料11である導電性ペーストに直接接触させて加圧すると共に、スクリーンマスク2には接触しないようにしてスクリーンマスク2上を平行移動させると、スキージ10から導電性ペースト11を介してスクリーンマスク2に圧力がかかり、スクリーンマスク2がウェーハ1に接触し、導電性ペースト11が開口窓9を通って押し出され、ウェーハ1に形成された溝状の凹部12内部に充填され、電極が形成される。   Next, as shown in FIG. 2, when the squeegee 10 is brought into direct contact with the conductive paste, which is the printing material 11, and pressed, and is moved in parallel on the screen mask 2 so as not to contact the screen mask 2, Pressure is applied to the screen mask 2 from the squeegee 10 via the conductive paste 11, the screen mask 2 comes into contact with the wafer 1, and the conductive paste 11 is extruded through the opening window 9 to form a groove shape formed on the wafer 1. The recess 12 is filled to form an electrode.

また、本発明のスクリーン印刷方法は、太陽電池の複層構造電極の形成における、電極パターンの印刷に用いることができる。複層構造の電極は、第1層目の電極パターンと同一パターンが複数層重ね合わされて形成されており、電極の線幅に対し、線の高さが高い、すなわち、アスペクト比が高い電極として利用される。従って、第1層目に対し、その上に積層される第2層目以降が正確に第1層目とパターン上に精度良く印刷される必要がある。このような場合に、本発明は特に有効である。   Moreover, the screen printing method of this invention can be used for the printing of the electrode pattern in formation of the multilayer structure electrode of a solar cell. A multi-layered electrode is formed by overlapping the same pattern as the electrode pattern of the first layer, and the line height is higher than the line width of the electrode, that is, the electrode has a high aspect ratio. Used. Therefore, the second and subsequent layers stacked on the first layer must be accurately printed on the first layer and the pattern. In such a case, the present invention is particularly effective.

すなわち、本発明のスクリーン印刷方法では、被印刷物1を第1層目に電極パターンが印刷された太陽電池の電極とし、被印刷物側の位置決め基準として、第1層目の電極パターンを用い、またスクリーンマスク2側の位置決め基準として、印刷する太陽電池の電極パターンに対応する開口窓9を用いることができる。   That is, in the screen printing method of the present invention, the substrate 1 is used as an electrode of a solar cell having an electrode pattern printed on the first layer, and the first layer electrode pattern is used as a positioning reference on the substrate side. As the positioning reference on the screen mask 2 side, an opening window 9 corresponding to the electrode pattern of the solar cell to be printed can be used.

この場合、まず、第1層の電極パターンが印刷された例えばシリコン単結晶ウェーハ等の半導体基板を準備する。そして、この基板を印刷ステージ8上に固定する。そして、スクリーンマスク2を基板の上方に設置する。
その後、スクリーンマスク2の開口窓9の直上からライト5によって光を照射し、基板上にスクリーンマスク2の開口窓9の影を投影する。そして、その影と第1層目の電極パターンのずれの量を、前述と同様にして算出し、基板(印刷ステージ)とスクリーンマスクの位置決めを行う。
In this case, first, a semiconductor substrate such as a silicon single crystal wafer on which the first layer electrode pattern is printed is prepared. Then, this substrate is fixed on the printing stage 8. Then, the screen mask 2 is set above the substrate.
Thereafter, light is irradiated from above the opening window 9 of the screen mask 2 by the light 5 to project a shadow of the opening window 9 of the screen mask 2 on the substrate. Then, the amount of displacement between the shadow and the first layer electrode pattern is calculated in the same manner as described above, and the substrate (printing stage) and the screen mask are positioned.

その後、第1層目の電極パターンの上に、上記と同様にしてスクリーン印刷して、これを少なくとも1回以上繰り返すことにより、複層構造の電極とすることができる。
このようにして、被印刷物1とスクリーンマスク2の位置決めを行った後、電極パターンをスクリーン印刷することで、アラインメントマークがなくても具体的に位置決め基準を設定して位置決めを精度良く行うことができ、複層構造の電極パターンを精度良く重ね合わせて印刷することができる。すなわち、電極幅が不必要に幅広となっておらず、シャドウロスを低減した複層構造の電極をスクリーン印刷することができる。
Thereafter, screen printing is performed on the first layer electrode pattern in the same manner as described above, and this is repeated at least once, whereby a multi-layer structure electrode can be obtained.
After positioning the substrate 1 and the screen mask 2 in this way, the electrode pattern is screen-printed, so that the positioning reference can be specifically set and positioning can be performed accurately even without the alignment mark. In addition, the electrode patterns having a multilayer structure can be accurately superimposed and printed. That is, an electrode having a multilayer structure in which the electrode width is not unnecessarily wide and shadow loss is reduced can be screen-printed.

以上説明したように、本発明では、被印刷物とスクリーンマスクの位置決めを行った後、被印刷物に印刷するスクリーン印刷方法において、その位置決めを、スクリーンマスク及び、被印刷物に位置決め基準を設け、スクリーンマスク側の位置決め基準の直上から光を照射して被印刷物上に前記スクリーンマスク側の位置決め基準の影を投影し、該影の位置と被印刷物側の位置決め基準の位置とのずれをなくすように被印刷物とスクリーンマスクを相対的に移動させることによって行うので、印刷時にスクリーンマスクと被印刷物との位置決めを精度良く行うことができ、目的の印刷パターンを被印刷物上に精度良く印刷することができる。   As described above, according to the present invention, in the screen printing method for performing printing on a printing material after positioning the printing material and the screen mask, the positioning is performed on the screen mask and the printing material by providing a positioning reference. Irradiating light from directly above the positioning reference on the side to project a shadow of the positioning reference on the screen mask side onto the substrate to be printed, so that the position of the shadow and the position of the positioning reference on the substrate side is eliminated. Since it is performed by relatively moving the printed material and the screen mask, it is possible to accurately position the screen mask and the printed material during printing, and it is possible to print the target print pattern on the printed material with high accuracy.

以下、本発明の実施例及び比較例を示して本発明をより具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples and comparative examples of the present invention, but the present invention is not limited to these.

(実施例)
シリコン単結晶ウェーハ上に太陽電池の電極パターンを本発明のスクリーン印刷方法を用い、50枚のウェーハを連続して印刷して、被印刷物上に印刷された印刷パターンと本来印刷されるべき印刷パターンの位置とのずれ量を測定し、そのずれ量の経時変化を評価した。
まず、厚さ300μm、直径125mmのシリコン単結晶ウェーハ50枚を準備した。そして、それぞれのウェーハに、研削加工により、幅90μm、深さ60μmの溝状の凹部を形成した。また、位置決め基準としてのアラインメントマークをウェーハの中央付近に2箇所設けた。
(Example)
Using the screen printing method of the present invention, the electrode pattern of the solar cell is printed on a silicon single crystal wafer, and 50 wafers are continuously printed. The amount of deviation from this position was measured, and the change over time in the amount of deviation was evaluated.
First, 50 silicon single crystal wafers having a thickness of 300 μm and a diameter of 125 mm were prepared. Then, a groove-like recess having a width of 90 μm and a depth of 60 μm was formed on each wafer by grinding. In addition, two alignment marks as positioning references were provided near the center of the wafer.

このシリコン単結晶ウェーハを印刷ステージ上に固定し、その上方にウェーハの凹部に対応した開口窓、及びウェーハ側のアラインメントマークに対応する2つのアラインメントマークを有するスクリーンマスクを設置した。
次に、スクリーンマスク側のアラインメントマークの直上からライトにより光を照射し、それによってウェーハ上に投影されたスクリーンマスク側のアラインメントマークの影とウェーハ側のアラインメントマークの画像をカメラに取り込み、画像処理して両者のずれの量を算出した。
The silicon single crystal wafer was fixed on the printing stage, and a screen mask having an opening window corresponding to the concave portion of the wafer and two alignment marks corresponding to the alignment mark on the wafer side was installed thereon.
Next, light is emitted from right above the alignment mark on the screen mask side by light, and the shadow of the alignment mark on the screen mask projected onto the wafer and the image of the alignment mark on the wafer side are captured by the camera and image processing is performed. Thus, the amount of deviation between the two was calculated.

次に、算出したずれの量だけ、印刷ステージを移動させ位置決めを行った。
その後、印刷ステージを所定の位置まで上昇させ、スクリーンマスク上に粘度100pa・sの導電性ペーストを供給し、スクレッパでスクリーンマスクの開口窓に導電性ペーストを充填し、スキージを平行移動させてウェーハ上の凹部に導電性ペーストを充填した。
Next, positioning was performed by moving the printing stage by the calculated amount of deviation.
Thereafter, the printing stage is raised to a predetermined position, a conductive paste having a viscosity of 100 pa · s is supplied onto the screen mask, the conductive paste is filled in the opening window of the screen mask with a scraper, and the squeegee is moved in parallel to move the wafer. The upper recess was filled with a conductive paste.

測定したずれ量の結果を図4に示す。
図4に示すように、本発明のスクリーン印刷方法では、被印刷物上に印刷された印刷パターンと本来印刷されるべき印刷パターンの位置とのずれ量は極めて小さくなっており、時間の経過によるそのずれ量の変化も非常に小さく抑えられている。また、後述の比較例の従来のスクリーン印刷方法によるずれ量と比較して、高精度に印刷されていることが分かる。
このようにして、本発明のスクリーン印刷方法は、印刷時にスクリーンマスクと被印刷物との位置決めを精度良く行うことができ、目的の印刷パターンを被印刷物上に精度良く印刷することができることが確認できた。
The result of the measured deviation is shown in FIG.
As shown in FIG. 4, in the screen printing method of the present invention, the amount of deviation between the print pattern printed on the substrate and the position of the print pattern to be originally printed is extremely small. Changes in the amount of deviation are also kept very small. In addition, it can be seen that printing is performed with high accuracy as compared with the shift amount by the conventional screen printing method of the comparative example described later.
Thus, it can be confirmed that the screen printing method of the present invention can accurately position the screen mask and the substrate during printing, and can accurately print the target print pattern on the substrate. It was.

(比較例)
図3に示すような、従来の被印刷物の位置決め工程により、被印刷物の位置決めを行った後、印刷ステージをスクリーンマスクの直下に移動させて印刷パターンをスクリーン印刷するスクリーン印刷方法を用いて、実施例1と同様の条件のウェーハ50枚に電極パターンを印刷し、実施例1と同様の評価を行った。
測定したずれ量の結果を図4に示す。
図4に示すように、実施例の結果と比較してずれ量は大きく、また時間の経過とともにそのずれ量は大きくなっていることが分かった。従って、所定周期でメンテナンスが必要となる。
(Comparative example)
As shown in FIG. 3, after the positioning of the printing material by the conventional positioning method of the printing material, the printing stage is moved directly below the screen mask, and the screen printing method is used to screen-print the printing pattern. An electrode pattern was printed on 50 wafers under the same conditions as in Example 1, and the same evaluation as in Example 1 was performed.
The result of the measured deviation is shown in FIG.
As shown in FIG. 4, it was found that the amount of deviation was larger than the result of the example, and that the amount of deviation increased with the passage of time. Therefore, maintenance is required at a predetermined cycle.

なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。   The present invention is not limited to the above embodiment. The above-described embodiment is an exemplification, and the present invention has any configuration that has substantially the same configuration as the technical idea described in the claims of the present invention and that exhibits the same effects. Are included in the technical scope.

本発明に係るスクリーン印刷方法の一例を説明する概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing explaining an example of the screen printing method which concerns on this invention. スクリーン印刷における、印刷パターンを被印刷物上に印刷する様子を示す概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing which shows a mode that the printing pattern is printed on to-be-printed material in screen printing. 従来の被印刷物とスクリーンマスクの位置決め方法の一例を説明する概略説明図である。It is a schematic explanatory drawing explaining an example of the positioning method of the conventional to-be-printed material and a screen mask. 実施例及び比較例の結果を示したグラフである。It is the graph which showed the result of the Example and the comparative example.

符号の説明Explanation of symbols

1…被印刷物、2…スクリーンマスク、3…被印刷物側のアラインメントマーク、
4…スクリーンマスク側のアラインメントマーク、5…ライト、6…影、
7…カメラ、8…印刷ステージ、9…開口窓、10…スキージ、
11…印刷材料、12…凹部。
1 ... substrate, 2 ... screen mask, 3 ... alignment mark on the substrate side,
4 ... Screen mask side alignment mark, 5 ... Light, 6 ... Shadow,
7 ... Camera, 8 ... Printing stage, 9 ... Open window, 10 ... Squeegee,
11 ... printing material, 12 ... concave.

Claims (5)

印刷パターンに対応する開口窓を有するスクリーンマスクと被印刷物との位置決めを行った後、前記印刷パターンを前記開口窓を通じて前記被印刷物に印刷するスクリーン印刷方法において、前記位置決めを、前記スクリーンマスク及び、前記被印刷物に位置決め基準を設け、前記スクリーンマスク側の位置決め基準の直上から光を照射して前記被印刷物上に前記スクリーンマスク側の位置決め基準の影を投影し、該影の位置と前記被印刷物側の位置決め基準の位置とのずれをなくすように前記被印刷物と前記スクリーンマスクを相対的に移動させることによって行うことを特徴とするスクリーン印刷方法。   In the screen printing method of printing the printing pattern on the substrate through the opening window after positioning the screen mask having an opening window corresponding to the printing pattern and the substrate, the positioning includes the screen mask and A positioning reference is provided on the substrate, and a shadow of the positioning reference on the screen mask is projected onto the substrate by irradiating light from directly above the positioning reference on the screen mask, and the position of the shadow and the substrate A screen printing method comprising: moving the substrate and the screen mask relative to each other so as to eliminate a deviation from a positioning reference position on the side. 前記被印刷物と前記スクリーンマスクの位置決めを行う際、前記影と前記被印刷物側の位置決め基準の画像を画像処理手段に取り込み、前記画像を画像処理して前記ずれの量を算出し、前記被印刷物と前記スクリーンマスクを前記算出したずれの量だけ相対的に移動させて位置決めすることを特徴とする請求項1に記載のスクリーン印刷方法。   When positioning the printed material and the screen mask, the shadow and the positioning reference image on the printed material side are taken into an image processing unit, the image is processed to calculate the amount of deviation, and the printed material The screen printing method according to claim 1, wherein the screen mask is positioned by relatively moving the screen mask by the calculated displacement amount. 前記被印刷物は太陽電池の電極であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のスクリーン印刷方法。   The screen printing method according to claim 1, wherein the printed material is an electrode of a solar cell. 前記スクリーンマスク及び被印刷物の位置決め基準として、アラインメントマークを用いることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載のスクリーン印刷方法。   The screen printing method according to claim 1, wherein an alignment mark is used as a positioning reference for the screen mask and the substrate. 前記被印刷物は第1層目に電極パターンが印刷された太陽電池の電極であり、前記被印刷物側の位置決め基準として、前記第1層目の電極パターンを用い、また前記スクリーンマスク側の位置決め基準として、印刷する太陽電池の電極パターンに対応する開口窓を用い、前記第1層目の電極パターンの上に、少なくとも1層以上の電極パターンを印刷して複層構造の電極とすることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載のスクリーン印刷方法。




The printed material is an electrode of a solar cell on which an electrode pattern is printed on the first layer, and the first layer electrode pattern is used as the positioning reference on the printed material side, and the positioning reference on the screen mask side Using an opening window corresponding to the electrode pattern of the solar cell to be printed, and printing an electrode pattern of at least one layer on the electrode pattern of the first layer to form an electrode having a multilayer structure The screen printing method according to any one of claims 1 to 3.




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