JP2010014910A - 表示パネルおよび表示装置ならびに表示パネルの検査方法 - Google Patents

表示パネルおよび表示装置ならびに表示パネルの検査方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2010014910A
JP2010014910A JP2008173956A JP2008173956A JP2010014910A JP 2010014910 A JP2010014910 A JP 2010014910A JP 2008173956 A JP2008173956 A JP 2008173956A JP 2008173956 A JP2008173956 A JP 2008173956A JP 2010014910 A JP2010014910 A JP 2010014910A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
short
wiring
gate bus
bus line
display panel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008173956A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuko Yoshida
佳都子 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2008173956A priority Critical patent/JP2010014910A/ja
Publication of JP2010014910A publication Critical patent/JP2010014910A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

【課題】ゲートバスライン間のリーク検査を、簡易ながら、省スペースで行うことのできる表示パネルおよび表示装置ならびに表示パネルの検査方法を実現する。
【解決手段】補助容量配線(CSLe、CSLo)は同じゲートバスライン(GLe、GLo)に接続された複数の絵素(PIXe、PIXo)からなる絵素行ごとに対応して設けられており、上記補助容量配線(CSLe、CSLo)が、短絡配線(SSe、SSo)によって互いに短絡された複数の上記補助容量配線(CSLe、CSLo)からなる複数の補助容量配線群に分割されており、各短絡配線(SSe、SSo)どうしは互いに電気的に分離されている。
【選択図】図1

Description

本発明は、表示パネルにおける配線間のリーク検査に関するものである。
アクティブマトリクス型液晶表示装置の製造工程においては、アレイ基板と対向基板とを貼り合わせて液晶セルを作成した後であって、液晶ドライバをパネルに実装する前の段階で、点灯検査を行うことが多い。点灯検査は、必要に応じて製造工程の様々な段階で実施可能であるが、液晶ドライバの実装前における点灯検査には、事前に不良品を抽出して当該不良品が液晶ドライバ実装工程に供給されるのを防ぐ目的がある。この段階での点灯検査では、液晶ドライバがパネルに実装されていないので、表示品位を評価することができる他に、配線端部に設けられた電極パッドを利用して、隣接するゲートバスライン間やソースバスライン間のリークなどの電気的検査を同じ検査工程で行うことが可能である。
また、上記の電気的検査を行うだけであれば、パネル状態に組み立てられる前でも、アレイ基板が作成された状態にあれば実施することが可能である。この検査を行えば、プロセスのより上流側での不良品選別が可能となるので、電気的な不良を有するアレイ基板を用いてパネルが組み立てられることを回避することができる。
ゲートバスライン間のリークを検出するためには、基本的には、ゲートバスラインごとに設けられた電極パッドにテストプローブを順次コンタクトさせてプローバから検査用の信号を供給すればよい。これが点灯検査である場合には、さらに、例えばソースバスラインに同じく電極パッドを介して検査用の信号を供給して、対応する絵素のみに書き込みが行われているかどうかを、例えばパネル背面に光源を配置して、表示状態を目視確認することでリークを検出することができる。
しかし、この方法ではプローブを各ゲートバスラインの電極パッドにコンタクトさせるための高い精度が要求され、検査装置が大掛かりになるという欠点がある。そこで点灯検査を簡易に行う方法が発案され、従来から、例えば、いわゆる短絡バーや非線形検査素子を用いて複数のゲートバスラインどうしを短絡させ、これらのゲートバスラインに一括してゲート信号を供給することが行われている。
まず、図6を用いて、短絡バーを用いてリーク検査を行うための液晶表示パネルの構成例を説明する。
図6は、特許文献1に記載された、電気的検査の対象となるアレイ基板の構成を示す平面図である。基板100上に、複数のゲートバスライン102…と複数のソースバスライン148…とが配置されている。奇数番目のゲートバスライン102どうしは短絡バー128によって短絡されており、偶数番目のゲートバスライン102どうしは短絡バー152によって短絡されている。短絡バー128は連結配線120を介してテストパッド110に接続されており、短絡バー152は連結配線122を介してテストパッド112に接続されている。また、奇数番目のソースバスライン148どうしは短絡バー129によって短絡されており、偶数番目のソースバスライン148どうしは短絡バー154によって短絡されている。短絡バー129は連結配線124を介してテストパッド114に接続されており、短絡バー154は連結配線126を介してテストパッド116に接続されている。
特許文献1では、この構成を用いて、ゲートバスラインおよびソースバスラインの短絡検査および断線検査を行う。検査後には、短絡バーを含む領域を切断除去する。
また、上記特許文献1の構成をパネルに適用して点灯検査に用いると、奇数ラインあるいは偶数ラインのゲートバスラインどうしが短絡されていることにより、点灯の具合を自動機あるいは目視で観察することにより、ゲートバスライン間にリークが発生しているか否かを検査することができる。
このように電気的検査に短絡バーを用いると、少ない数の電極パッドにプローブをコンタクトさせるだけでよいので、検査装置の構成を簡略化することができる。
次に、図7に、非線形検査素子を用いてリーク検査を行うための液晶表示パネルの構成例を説明する。この構成は、短絡バーを用いた場合のように、検査用に設けた領域を検査後に切断除去せずに済むように提供されたものである。
図7は、特許文献2に記載された、電気的検査の対象となる液晶表示パネルの構成を示す平面図である。この液晶表示パネルでは、オッドゲートライン(GL1、GL3、…)がオッドゲートトランジスタ(OGT)を介して互いに接続可能になっているとともに、イブンゲートライン(GL2、GL4、…)がイブンゲートトランジスタ(EGT)を介して互いに接続可能になっている。
オッドゲートトランジスタ(OGT)はオッドゲート制御パッド及びライン188・152からのオッドゲート制御信号に応答してオッドゲート検査パッド及びライン182・154からのオッドゲート検査信号をオッドゲートライン(GL1、GL3、…)に切換可能に供給する。イブンゲートトランジスタ(EGT)はイブンゲート制御パッド及びライン184・156からのイブンゲート制御信号に応答してイブンゲート検査パッド及びライン186・158からのイブンゲート検査信号をイブンゲートライン(GL2、GL4、…)に切換可能に供給する。
また、データ信号線側では、オッドデータトランジスタ(ODT)はデータ制御パッド及びライン196・162からのデータ制御信号に応答してオッドデータ検査パッド及びライン194・164からのデータ検査信号をオッドデータライン(DL1、DL3、…)に切換可能に供給する。イブンデータトランジスタ(EDT)はデータ制御パッド及びライン196・162からデータ制御信号に応答してイブンデータ検査パッド及びライン192・166からのデータ検査信号をイブンデータライン(DL2、DL4、…)に切換可能に供給する。
上記液晶表示パネルでは、検査工程の際、検査用トランジスタとしてのオッド及びイブンゲートトランジスタをターンオンさせゲートライン(GL)の不良を検査する。データライン(DL)についても検査用トランジスタとしてのオッド及びイブンデータトランジスタをターンオンさせて不良を検査する。そして、液晶表示パネルは正常画像表示モード(データ駆動の際)の間、検査用トランジスタをターンオフさせ、駆動回路実装領域内の駆動集積回路で生成されたデータ信号及びゲート信号を用いて液晶表示パネルを駆動させる。
このような液晶表示パネルでは、駆動集積回路実装領域に位置する非線形素子である検査用トランジスタを用いて奇数ラインどうしおよび偶数ラインどうしを束ね、信号ライン及び画素用トランジスタの不良を検査するので、短絡バーが不要となる、あるいは短絡バーを除去する工程が不要となり、検査及び製造工程を単純化することができるとされている。
特開2003−337349号公報(2003年11月28日公開) 特開2007−25700号公報(2007年2月1日公開) 特開平11−338376号公報(1999年12月10日公開)
しかしながら、上述した短絡バーを用いてゲートバスライン間のリーク検査を行う場合には、検査のみに用いる配線部分が奇数ライン用と偶数ライン用との2ライン分必要となってしまう。さらに、検査後に短絡バーの切断工程が必要なため、製造コストが高くなる。また、上述した非線形素子を用いてゲートバスライン間のリーク検査を行う場合には、短絡バーや短絡バーの除去が不要であるとは言え、非線形素子によって束ねられた配線部分は通常表示時には使用しないので、やはり、検査のみに用いる配線部分が奇数ライン用と偶数ライン用との2ライン分必要となってしまうことになる。
従って、ゲートバスライン間のリーク検査を簡易検査によって行うための従来のパネル構成には、これらの検査に伴う配線を配置するための大きなスペースが必要になるという問題があった。
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、ゲートバスライン間のリーク検査を、簡易ながら、省スペースで行うことのできる表示パネルおよび表示装置ならびに表示パネルの検査方法を実現することにある。
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、表示ドライバを含まず、絵素領域とゲートバスラインとソースバスラインと補助容量配線とを備えたアクティブマトリクス型の表示パネルであって、上記補助容量配線は同じ上記ゲートバスラインに接続された複数の絵素からなる絵素行ごとに対応して設けられており、上記補助容量配線が、短絡配線によって互いに短絡された複数の上記補助容量配線からなる複数の補助容量配線群に分割されており、各短絡配線どうしは互いに電気的に分離されていることを特徴としている。
上記の発明によれば、ゲートバスラインのリーク検査を行うにあたり、まず、例えば、各短絡配線のうち、選択した2つのうちの一方を第1の短絡配線、他方を第2の短絡配線とし、共通電極に共通信号を入力した状態で、上記第1の短絡配線と上記第2の短絡配線とに、それぞれの初期電位から互いに大きさが等しく極性が逆向きとなるようにステップ変動する信号を入力することができる。
そして、例えば、上記第1の短絡配線と上記第2の短絡配線とに上記ステップ変動する信号を入力した結果得られる絵素の点灯状態を観測して、絵素行間で点灯輝度の減衰の時定数にアンバランスが生じないとする第1の点灯状態と、絵素行間で点灯輝度の減衰の時定数にアンバランスが生じたとする第2の点灯状態とのいずれか一方に分類し、上記第1の点灯状態が得られればいずれのゲートバスライン間にもリークが存在していないと判定し、上記第2の点灯状態が得られれば、第2の点灯状態が得られた絵素行間に対応するゲートバスライン間にリークが存在していると判定することにより、ゲートバスライン間のリーク検査を簡易的に行うことができる。
上記のリーク検査では、ゲートバスラインおよびソースバスラインに検査用の信号を入力する必要がない。
また、第1の短絡配線および第2の短絡配線は、当該表示パネルを用いて表示装置を構成した場合に、補助容量配線に補助容量電圧を印加するための配線としてそのまま用いることができる。従って、ゲートバスライン間のリーク検査用の配線を特別に設ける必要がないため、当該リーク検査用の配線の領域を省略することができる。
以上により、ゲートバスライン間のリーク検査を、簡易ながら、省スペースで行うことのできる表示パネルを実現することができるという効果を奏する。
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、互いに隣接する2本の上記ゲートバスラインの組み合わせのうちの少なくとも1つに対応する2つの上記絵素行のそれぞれの上記補助容量配線の一方と他方とが、互いに異なる上記補助容量配線群に属していることを特徴としている。
上記の発明によれば、リーク検査を行いたい任意箇所の2本の隣接するゲートバスライン間について、リーク検査を行うことができるという効果を奏する。
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、連続して配置される所定数の上記補助容量配線のそれぞれが、互いに異なる上記補助容量配線群に属していることを特徴としている。
上記の発明によれば、一般に複数の連続して配置されるゲートバスライン間について、リーク検査を行うことができるという効果を奏する。
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、絵素の選択素子はnチャネル型であることを特徴としている。
上記の発明によれば、第1の短絡配線と第2の短絡配線とにステップ変動する信号を入力した瞬間に、ゲートバスラインの電圧変化が画素の選択素子のゲート電圧を、選択素子のソース−ドレイン間抵抗値を減少させる向きに容易に変化させることができる。従って、ステップ状の電圧変化を与えたときの応答初期において、絵素を容易に点灯状態にすることができるという効果を奏する。
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、上記短絡配線は、上記絵素領域外に形成されていることを特徴としている。
上記の発明によれば、各短絡配線を、絵素領域のゲートバスラインやソースバスラインと干渉させずに製造することができるという効果を奏する。
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、上記短絡配線は、上記絵素領域に対して上記ゲートバスラインの電圧供給側と反対側に形成されていることを特徴としている。
上記の発明によれば、短絡配線に、第3の電圧や表示装置の一部として動作するときの補助容量電圧の印加を、ゲートドライバ実装領域やゲートドライバへの接続領域とは離れた箇所で行うことができるので、当該電圧印加構成がゲートバスラインへの電圧印加構成と干渉しにくいという効果を奏する。
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、上記短絡配線は、対応する上記補助容量配線群の補助容量配線と同じ絵素行のゲートバスラインに対して容量を形成していることを特徴としている。
上記の発明によれば、短絡配線と、対応するゲートバスラインとの間に形成された容量を用いて、当該短絡配線にステップ変動する信号を入力したときのゲートバスラインの電圧変化を容易に生成することができるという効果を奏する。
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、上記短絡配線は、全てのゲートバスラインと交差するように設けられており、各上記短絡配線は、対応する上記補助容量配線群の補助容量配線と同じ絵素行のゲートバスラインである第1のゲートバスラインに対して、他の上記短絡配線に対応する補助容量配線群の補助容量配線と同じ絵素行のゲートバスラインである第2のゲートバスラインに対してよりも大きな容量を形成していることを特徴としている。
上記の発明によれば、各短絡配線が全てのゲートバスラインと交差するように設けられている場合に、各短絡配線と、対応する補助容量配線群の補助容量配線と同じ絵素行のゲートバスラインである第1のゲートバスラインとの間に形成された容量が、他の短絡配線に対応する補助容量配線群の補助容量配線と同じ絵素行のゲートバスラインである第2のゲートバスラインとの間に形成された容量よりも支配的となるので、各短絡配線にステップ変動する信号を入力したときのゲートバスラインの電圧変化を容易に生成することができるという効果を奏する。
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、上記短絡配線の上記第1のゲートバスラインとの交差部における配線幅が、上記短絡配線の上記第2のゲートバスラインとの交差部における配線幅よりも大きいことと、上記短絡配線と上記第1のゲートバスラインとの交差部における上記第1のゲートバスラインの配線幅が、上記短絡配線と上記第2のゲートバスラインとの交差部における上記第2のゲートバスラインの配線幅よりも大きいこととのうち、少なくとも一方の状態であることを特徴としている。
上記の発明によれば、第2のゲートバスラインに対してよりも大きな容量を、短絡配線と第1のゲートバスラインとの交差部において、少なくとも一方の配線幅を太くすることによって得ることができるという効果を奏する。
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、上記短絡配線と上記第1のゲートバスラインとの交差部において上記短絡配線と上記第1のゲートバスラインとに挟まれている絶縁膜の膜厚が、上記短絡配線と上記第2のゲートバスラインとの交差部において上記短絡配線と上記第2のゲートバスラインとに挟まれている絶縁膜の膜厚よりも小さいことを特徴としている。
上記の発明によれば、第2のゲートバスラインに対してよりも大きな容量を、短絡配線と第1のゲートバスラインとの交差部において、絶縁膜を薄くすることによって得ることができるという効果を奏する。
本発明の表示装置は、上記課題を解決するために、上記表示パネルと、上記表示ドライバと、各上記短絡配線に接続された配線を備えた外部基板とを備えていることを特徴としている。
上記の発明によれば、前述のようにゲートバスライン間のリーク検査が行われた表示パネルを用いて表示装置を構成することができ、表示パネル上では互いに電気的に分離されていた各短絡配線に、外部基板上の配線から補助容量電圧を印加することができる。
従って、配線の切断工程を必要としないため、ゲートバスライン間のリーク検査を終えた表示パネルをそのまま用いて表示装置を容易に構成することができるという効果を奏する。
本発明の表示装置は、上記課題を解決するために、各上記短絡配線は、上記外部基板上で互いに短絡していることを特徴としている。
上記の発明によれば、全ての補助容量配線に同一の補助容量電圧を容易に印加することができるという効果を奏する。
各上記短絡配線に互いに同じ信号が入力されることを特徴としている。
上記の発明によれば、全ての補助容量配線に同一の補助容量電圧を容易に印加することができるという効果を奏する。
本発明の表示装置は、上記課題を解決するために、上記外部基板は、上記表示ドライバの少なくとも一部が搭載された基板であることを特徴としている。
上記の発明によれば、表示ドライバの少なくとも一部が搭載された基板を用いて補助容量電圧を供給することができるので、補助容量電圧供給用の外部基板を別途設ける必要がないという効果を奏する。
本発明の表示パネルの検査方法は、上記課題を解決するために、上記表示パネルを検査する表示パネルの検査方法であって、各上記短絡配線のうち、選択した2つのうちの一方を第1の短絡配線、他方を第2の短絡配線とし、共通電極に共通信号を入力した状態で、上記第1の短絡配線と上記第2の短絡配線とに、それぞれの初期電位から互いに大きさが等しく極性が逆向きとなるようにステップ変動する信号を入力し、上記第1の短絡配線と上記第2の短絡配線とに上記ステップ変動する信号を入力した結果得られる絵素の点灯状態を観測して、絵素行間で点灯輝度の変化の時定数にアンバランスが生じないとする第1の点灯状態と、絵素行間で点灯輝度の変化の時定数にアンバランスが生じたとする第2の点灯状態とのいずれか一方に分類し、上記第1の点灯状態が得られれば上記第1の短絡配線に対応する上記ゲートバスラインと上記第2の短絡配線に対応する上記ゲートバスラインとの間にリークが存在していないと判定し、上記第2の点灯状態が得られれば、上記第2の点灯状態が得られた絵素行間に対応した、上記第1の短絡配線に対応する上記ゲートバスラインと上記第2の短絡配線に対応する上記ゲートバスラインとの間にリークが存在していると判定することを特徴としている。
上記の発明によれば、2つの短絡配線にステップ変動する信号を入力することによる絵素の点灯状態の応答を観測することにより、当該2つの短絡配線に対応するゲートバスライン間のリーク検査を、簡易ながら、省スペースで行うことができるという効果を奏する。
本発明の表示パネルは、以上のように、表示ドライバを含まず、絵素領域とゲートバスラインとソースバスラインと補助容量配線とを備えたアクティブマトリクス型の表示パネルであって、上記補助容量配線は同じ上記ゲートバスラインに接続された複数の絵素からなる絵素行ごとに対応して設けられており、上記補助容量配線が、短絡配線によって互いに短絡された複数の上記補助容量配線からなる複数の補助容量配線群に分割されており、各短絡配線どうしは互いに電気的に分離されている。
以上により、ゲートバスライン間のリーク検査を、簡易ながら、省スペースで行うことのできる表示パネルを実現することができるという効果を奏する。
本発明の表示装置は、以上のように、上記表示パネルと、上記表示ドライバと、各上記短絡配線に接続された配線を備えた外部基板とを備えている。
以上により、ゲートバスライン間のリーク検査を終えた表示パネルをそのまま用いて表示装置を容易に構成することができるという効果を奏する。
本発明の表示パネルの検査方法は、以上のように、上記表示パネルを検査する表示パネルの検査方法であって、各上記短絡配線のうち、選択した2つのうちの一方を第1の短絡配線、他方を第2の短絡配線とし、共通電極に共通信号を入力した状態で、上記第1の短絡配線と上記第2の短絡配線とに、それぞれの初期電位から互いに大きさが等しく極性が逆向きとなるようにステップ変動する信号を入力し、上記第1の短絡配線と上記第2の短絡配線とに上記ステップ変動する信号を入力した結果得られる絵素の点灯状態を観測して、絵素行間で点灯輝度の変化の時定数にアンバランスが生じないとする第1の点灯状態と、絵素行間で点灯輝度の変化の時定数にアンバランスが生じたとする第2の点灯状態とのいずれか一方に分類し、上記第1の点灯状態が得られれば上記第1の短絡配線に対応する上記ゲートバスラインと上記第2の短絡配線に対応する上記ゲートバスラインとの間にリークが存在していないと判定し、上記第2の点灯状態が得られれば、上記第2の点灯状態が得られた絵素行間に対応した、上記第1の短絡配線に対応する上記ゲートバスラインと上記第2の短絡配線に対応する上記ゲートバスラインとの間にリークが存在していると判定する。
以上により、ゲートバスライン間のリーク検査を、簡易ながら、省スペースで行うことができるという効果を奏する。
本発明の一実施形態について図1ないし図5に基づいて説明すると以下の通りである。
図1に、本実施形態に係る表示パネル1の構成を示す。
表示パネル1はアクティブマトリクス型の液晶表示パネルであり、絵素領域2、ゲートバスラインGL…、ソースバスラインSL…、補助容量配線CSL…、第1の短絡配線SSe、および、第2の短絡配線SSoを備えている。全体はマトリクス基板と対向基板とが液晶層を挟んで貼りあわされた構成であり、カラーフィルタも備えているが、絵素領域は点灯可能な構成であればよく、従ってカラーフィルタはなくてもよい。また、バックライトや偏光板は表示パネルに備えられていても、検査装置などに備えられていてもよい。なお、ゲートドライバ、ソースドライバ、コントロール回路などの表示ドライバは表示パネル1には含まれていない。
絵素領域2は、複数の絵素PIX…がマトリクス状に配置された領域であり、全絵素行のうち、一方の1本おきの絵素行である偶数ラインの絵素行は、複数の絵素PIXe…からなり、他方の1本おきの絵素行である奇数ラインの絵素行は、複数の絵素PIXo…からなる。絵素PIXeと絵素PIXoとは同様の構成であるが、カラーフィルタの色が互いに異なる場合がある。
ゲートバスラインGL…は、絵素PIXe…がそれぞれTFT5のゲートを介して接続された第1のゲートバスラインGLe…(図1では、…、GLei、GLei+1、GLei+2、…)と、絵素PIXo…がそれぞれTFT6のゲートを介して接続された第2のゲートバスラインGLo…(図1では、…、GLoi−1、GLoi、GLoi+1、GLoi+2、…)とからなる。
ソースバスラインSL…は、RのソースバスラインSLRとGのソースバスラインSLGとBのソースバスラインSLBとからなり、この順で繰り返し配置されている。
補助容量配線CSLは絵素行ごとに設けられており、全ての補助容量配線CSL…は、偶数ラインの絵素行に配置された補助容量配線CSLe…(図1では、…、CSLei、CSLei+1、CSLei+2、…)からなる第1の補助容量配線群と、奇数ラインの絵素行に配置された補助容量配線CSLo…(図1では、…、CSLoi−1、CSLoi、CSLoi+1、CSLoi+2、…)からなる第2の補助容量配線群とからなる。
第1の短絡配線SSeおよび第2の短絡配線SSoは、絵素領域2に対してゲートバスラインの電圧供給側とは反対側に、ソースバスラインSL…と平行な方向に延びるように形成されている。第1の短絡配線SSeと第2の短絡配線SSoとは互いに電気的に分離されている。第1の短絡配線SSeは、補助容量配線CSLe…の各一端に接続されており、補助容量配線CSLe…どうしを短絡させている。第2の短絡配線SSoは、補助容量配線CSLo…の各一端に接続されており、補助容量配線CSLo…どうしを短絡させている。第1の短絡配線SSeの一端には電極パッドCseが設けられており、第2の短絡配線SSoの一端には電極パッドCsoが設けられている。
上記各電極パッドCse・Csoは、ここではゲートバスラインGL間のリーク検査を行うときに検査機で電圧を入力するプローブパッドとして機能するものである。
次に、図2に、絵素PIXの等価回路の構成を示す。
絵素PIXは、TFT10および絵素容量Cpixを備えている。
TFT10はnチャネル型の絵素の選択素子であって図1のTFT5・6に相当するものであり、ゲートはゲートバスラインGLに、ソースはソースバスラインSLに、ドレインは絵素電極11に、それぞれ接続されている。
絵素容量Cpixは絵素の合計容量であり、液晶容量CL、補助容量Ccs、絵素電極・ゲートバスライン間容量Cgdからなる。液晶容量CLは、絵素電極11と共通電極COMとの間に液晶層が挟まれて形成された容量である。補助容量Ccsは、絵素電極11に接続された補助容量電極12と補助容量配線CSLとの間に絶縁膜が挟まれて形成された容量である。絵素電極・ゲートバスライン間容量Cgdは、絵素電極11とゲートバスラインGLとの間に形成された寄生容量である。
次に、図3を用いて、表示パネル1のゲートバスラインGL間のリーク検査を行う方法について説明する。
まず、共通電極COMに、図示しないプローブパッドとなる電極パッドから検査機によって共通信号を入力する。ここでは、共通信号を基準電位とする。
次いで、電極パッドCseから第1の短絡配線SSeに電位がVCseとなる初期電位を与える信号を、また、電極パッドから第2の短絡配線SSoに電位がVCsoとなる初期電位を与える信号を、それぞれ入力する。このとき、電位VCseと電位VCsoとは互いに同じであってもよいし、互いに異なっていてもよい。信号入力後、液晶層のリーク電流により、一定期間(概ね数秒以下程度)経過すると、絵素電極11の電位は図3(b)のVde・Vdoとなり、ゲートバスラインGLの電位は図3(c)のVge・Vgoとなる。ここで、Vde・Vdo・Vge・Vgoは、概ね基準電位と等しくなる。この状態で、第1の短絡配線SSeおよび第2の短絡配線SSoの信号を、ΔVcs分だけ、それぞれ互いに逆極性となるように変化させて、その電位が、VCse−ΔVcsおよびVCso+ΔVcsになるようにすると、絵素電極の電位は、およそ図3(b)のVde−ΔVdおよびVdo+ΔVdへと変動し、ゲートバスラインGLの電位は、およそ図3(c)のVge−ΔVdおよびVgo+ΔVdへと変動する。
このとき、補助容量Ccsにより補助容量配線CSLと容量結合した絵素電極11の電位の変動量ΔVdは、
ΔVd≒(ΔVcs・Ccs)/Cpix (Cgd<<Ccs)
と表される。
また、絵素電極・ゲートバスライン間容量Cgdにより絵素電極11と容量結合したゲートバスラインGLの電位の変動量ΔVgは、
ΔVg≒(n・Cgd/Cg)・(Ccs/Cpix)・ΔVcs
(ただし、Cgは1本のゲートバスラインGLの総容量、nは1本のゲートバスラインGLに接続されている絵素数で点灯対象の絵素のみの数)
と表される。
このとき、ΔVcsは、絵素PIXが点灯状態となる電圧が液晶に印加されるようなΔVdを与えるように設定されている。
ゲートバスラインGL間にリークが存在していない場合には、絵素電極11の電位は図3(b)に示すように誘起され、ゲートバスラインGLの電位は図3(c)に示すように誘起される。絵素電極11の電位およびゲートバスラインGLの電位の両方について、絵素PIXeでは負の方向への変化、絵素PIXoでは正の方向への変化となる。絵素PIXeのTFT5と絵素PIXoのTFT6とがほぼ同様のソース・ドレイン間抵抗値を示すために、絵素電極11の電圧は徐々に減衰するが、この減衰の時定数は絵素PIXeと絵素PIXoとでほぼバランスしているため、互いに同様の減衰波形となる。従って、絵素PIXeと絵素PIXoとは同様に点灯輝度が変化していく。
ゲートバスラインGL間にリークが存在している場合には、絵素電極11の電位は図3(e)に示すように誘起されるが、ゲートバスラインGLの電位は、通常、隣接ゲートバスラインGL間のリークであるために互いの変化が相殺されて、図3(d)に示すようにVgo・Vgeのままとなる。この場合には、絵素PIXeのTFT5のゲート電極の電位に対するソース・ドレイン電極の電位は、絵素PIXoのTFT6のゲート電極の電位に対するソース・ドレイン電極の電位よりも低くなる。そのため、絵素PIXeのTFT5のほうが絵素PIXoのTFT6よりも小さなソース・ドレイン間抵抗値を示すために、絵素PIXeの絵素電極11の電位は急速に減衰する一方、絵素PIXoの絵素電極11の電位は徐々に減衰する。すなわち、減衰の時定数は絵素PIXeのほうが絵素PIXoよりも小さく、互いにバランスしていない。従って、絵素PIXeは急速に点灯輝度が変化するのに対して、絵素PIXoは徐々に点灯輝度が変化していく。
上記のような、第1の短絡配線SSeと第2の短絡配線SSoとにΔVcs分だけステップ変動する信号を入力した結果得られる絵素PIXの点灯状態を、目視や測定器で観測して、絵素行間で点灯輝度の変化の時定数にアンバランスが生じないとする第1の点灯状態と、絵素行間で点灯輝度の変化の時定数にアンバランスが生じたとする第2の点灯状態とのいずれか一方に分類する。そして、第1の点灯状態が得られればいずれのゲートバスラインGL間にもリークが存在していないと判定し、第2の点灯状態が得られれば、その第2の点灯状態が得られたゲートバスラインGL間にリークが存在していると判定することにより、ゲートバスライン間のリーク検査を簡易的に行うことができる。
また、第1の短絡配線SSeおよび第2の短絡配線SSoは、当該表示パネル1を用いて表示装置を構成した場合に、補助容量配線に補助容量電圧を印加するための配線としてそのまま用いることができる。従って、ゲートバスラインGL間のリーク検査用の配線を特別に設ける必要がないため、当該リーク検査用の配線の領域を省略することができる。さらに、ゲートバスラインGL間のリーク検査を行うにあたって、ソースバスラインSLに信号を入力する必要がないため、より簡便に検査を行うことができる。
以上により、ゲートバスライン間のリーク検査を、簡易ながら、省スペースで行うことのできる表示パネルを実現することができる。
なお、表示パネル1を用いて表示装置を構成するには、上記表示パネル1と、ゲートドライバ、ソースドライバ、および、コントロール回路などの表示ドライバと、第1の短絡配線SSeおよび第2の短絡配線SSoに接続された配線を備えた外部基板とを組み合わせればよい。これによれば、前述のようにゲートバスラインGL間のリーク検査が行われた表示パネル1を、例えば従来技術における検査配線の切断工程を必要とすることなく、そのまま用いて表示装置を構成することができるので、表示装置を容易に構成することができる。また、表示パネル1上では互いに電気的に分離されている第1の短絡配線SSeと第2の短絡配線SSoとには、表示装置においては同じ信号を入力してもよいので、従来の駆動回路によって外部基板上の配線から補助容量電圧を印加することができる。
また、上記の表示装置において、第1の短絡配線SSeと第2の短絡配線SSoとを、外部基板上で短絡されるようにすることができる。これによれば、全ての補助容量配線に同一の補助容量電圧を容易に印加することができる。なお、第1の短絡配線SSeと第2の短絡配線SSoとを、外部基板上で互いに接続しないで、それぞれに同じ補助容量電圧を印加してもよいし、互いに異なる補助容量電圧を印加してもよい。
また、上記の表示装置において、上記外部基板を、ソースドライバやコントロール回路などの、上記表示ドライバの少なくとも一部が搭載されたフレキシブルプリント基板などの基板とすることができる。これによれば、表示ドライバの少なくとも一部が搭載された基板を用いて補助容量電圧を供給することができるので、補助容量電圧供給用の外部基板を別途設ける必要がない。
次に、図4に、本実施形態の他の表示パネル21の構成を示す。表示パネル1と同じ符号は、特に断らない限り、表示パネル1と同等の機能を有するものとする。
表示パネル21は、第1の短絡配線SSeが、前記第1の補助容量配線群の補助容量配線CSLeと同じ絵素行のゲートバスラインGLeに対して容量Cg−csを形成しており、第2の短絡配線SSoが、前記第2の補助容量配線群の補助容量配線CSLoと同じ絵素行のゲートバスラインGLoに対して容量Cg−csを形成したものである。
この場合には、容量Cg−csによるゲートバスラインGLの電位の変動量ΔVgを、 ΔVg≒(ΔVcs・Cg−cs)/Cg
と表すことができる。
これによれば、前述のようなCgdだけを利用した場合に比べて、第1の短絡配線SSeと、対応するゲートバスラインGLeとの間に形成された容量Cg−cs、および、第2の短絡配線SSoと、対応するゲートバスラインとの間に形成された容量Cg−csをも利用できるため、第1の短絡配線SSeと第2の短絡配線SSoとにΔVcs分だけステップ変動する信号を入力したときのゲートバスラインGLの電位の変動量ΔVgを容易に生成することができる。
また、図4では、表示パネル2において、第1の短絡配線SSeおよび第2の短絡配線SSoは、全てのゲートバスラインGL…と交差するように設けられている。この場合には、特に、第1の短絡配線SSeが、第1の補助容量配線群の補助容量配線CSLeと同じ絵素行のゲートバスライン(第1のゲートバスライン)GLeに対して、第2の補助容量配線群の補助容量配線CSLoと同じ絵素行のゲートバスライン(第2のゲートバスライン)GLoに対してよりも大きな容量Cg−csを形成するように、また、第2の短絡配線SSoが、第2の補助容量配線群の補助容量配線CSLoと同じ絵素行のゲートバスライン(第1のゲートバスライン)GLoに対して、第1の補助容量配線群の補助容量配線CSLeと同じ絵素行のゲートバスライン(第2のゲートバスライン)GLeに対してよりも大きな容量Cg−csを形成するようにするとよい。例えば、補助容量配線とゲートバスラインGLとの交差部において、少なくとも一方の配線幅をより大きくしたり、補助容量配線とゲートバスラインGLとの間の絶縁膜の膜厚をより小さくしたりすることによって、上記の、より大きな容量Cg−csを形成する。
これによれば、第1の短絡配線SSeおよび第2の短絡配線SSoが全てのゲートバスラインGL…と交差するように設けられている場合に、上記容量Cg−csが、第1の短絡配線SSeと、第2の補助容量配線群の補助容量配線CSLoと同じ絵素行のゲートバスラインGLoとの間に形成された容量、および、第2の短絡配線SSoと、第1の補助容量配線群の補助容量配線CSLeと同じ絵素行のゲートバスラインGLeとの間に形成された容量よりも支配的となるので、第1の短絡配線SSeと第2の短絡配線SSoとにΔVcs分だけステップ変動する信号を入力したときのゲートバスラインGLの電位の変動量ΔVgを容易に生成することができる。
また、図5に示すように、従来の短絡バーや非線形素子を用いた表示パネル201では、絵素領域202とゲートバスラインGLの一端の電極パッドG…との間の領域500で発生したゲートバスラインGL間のリークについては検査することができないが、本実施形態の表示パネルを応用して、図5のようにゲートバスラインGLを左右交互に引き出すように配置し、左右のそれぞれで1本おきの補助容量配線どうしを短絡させれば、上記領域500で発生したゲートバスラインGL間のリークを検査することができる。
このように、補助容量配線群は、1本おきの補助容量配線からなる必要はなく、全ての補助補助容量配線を、短絡配線によって互いに短絡された選択した複数の補助容量配線からなる、複数の補助容量配線群に分割しておき、リークを検査したいゲートバスラインに対応する2つの補助容量配線群を選択して前記検査を行えばよい、
従って、例えば、互いに隣接する2本の上記ゲートバスラインの組み合わせのうちの少なくとも1つに対応する2つの上記絵素行のそれぞれの上記補助容量配線の一方と他方とが、互いに異なる上記補助容量配線群に属するようにすることができる。これによれば、リーク検査を行いたい任意箇所の2本の隣接するゲートバスライン間について、リーク検査を行うことができる。
また例えば、連続して配置される所定数の上記補助容量配線のそれぞれが、互いに異なる上記補助容量配線群に属するようにすることができる。これによれば、一般に複数の連続して配置されるゲートバスライン間について、リーク検査を行うことができる。
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
本発明は、アクティブマトリクス型の表示装置に好適に使用することができる。
本発明の実施形態を示すものであり、表示パネルの要部構成を示すブロック図である。 絵素の構成を示す等価回路図である。 (a)ないし(c)は、表示パネルの検査方法を説明する電圧波形図である。 本発明の実施形態を示すものであり、他の表示パネルの要部構成を示すブロック図である。 表示領域外でのゲートバスライン間のリーク箇所を説明する平面図である。 従来技術を示すものであり、短絡バーを用いて電気的検査を行う構成を示す表示パネルの平面図である。 従来技術を示すものであり、非線形素子を用いて電気的検査を行う構成を示す表示パネルの平面図である。
符号の説明
1、21 表示パネル
2 絵素領域
5、6 TFT(絵素の選択素子)
PIX、PIXe、PIXo
絵素
GL、GLe、GLo
ゲートバスライン
SL、SLe、SLo
ソースバスライン
CSL、CSLe、CSLo
補助容量配線
SSe 第1の短絡配線(短絡配線)
SSo 第2の短絡配線(短絡配線)

Claims (15)

  1. 表示ドライバを含まず、絵素領域とゲートバスラインとソースバスラインと補助容量配線とを備えたアクティブマトリクス型の表示パネルであって、
    上記補助容量配線は同じ上記ゲートバスラインに接続された複数の絵素からなる絵素行ごとに対応して設けられており、
    上記補助容量配線が、短絡配線によって互いに短絡された複数の上記補助容量配線からなる複数の補助容量配線群に分割されており、
    各短絡配線どうしは互いに電気的に分離されていることを特徴とする表示パネル。
  2. 互いに隣接する2本の上記ゲートバスラインの組み合わせのうちの少なくとも1つに対応する2つの上記絵素行のそれぞれの上記補助容量配線の一方と他方とが、互いに異なる上記補助容量配線群に属していることを特徴とする請求項1に記載の表示パネル。
  3. 連続して配置される所定数の上記補助容量配線のそれぞれが、互いに異なる上記補助容量配線群に属していることを特徴とする請求項1に記載の表示パネル。
  4. 絵素の選択素子はnチャネル型であることを特徴とする請求項1から3までのいずれか1項に記載の表示パネル。
  5. 上記短絡配線は、上記絵素領域外に形成されていることを特徴とする請求項1から4までのいずれか1項に記載の表示パネル。
  6. 上記短絡配線は、上記絵素領域を挟んで上記ゲートバスラインのゲートドライバ実装領域と反対側に形成されていることを特徴とする請求項5に記載の表示パネル。
  7. 上記短絡配線は、対応する上記補助容量配線群の補助容量配線と同じ絵素行のゲートバスラインに対して容量を形成していることを特徴とする請求項1から6までのいずれか1項に記載の表示パネル。
  8. 上記短絡配線は、全てのゲートバスラインと交差するように設けられており、
    各上記短絡配線は、対応する上記補助容量配線群の補助容量配線と同じ絵素行のゲートバスラインである第1のゲートバスラインに対して、他の上記短絡配線に対応する補助容量配線群の補助容量配線と同じ絵素行のゲートバスラインである第2のゲートバスラインに対してよりも大きな容量を形成していることを特徴とする請求項7に記載の表示パネル。
  9. 上記短絡配線の上記第1のゲートバスラインとの交差部における配線幅が、上記短絡配線の上記第2のゲートバスラインとの交差部における配線幅よりも大きいことと、
    上記短絡配線と上記第1のゲートバスラインとの交差部における上記第1のゲートバスラインの配線幅が、上記短絡配線と上記第2のゲートバスラインとの交差部における上記第2のゲートバスラインの配線幅よりも大きいこととのうち、少なくとも一方の状態であることを特徴とする請求項8に記載の表示パネル。
  10. 上記短絡配線と上記第1のゲートバスラインとの交差部において上記短絡配線と上記第1のゲートバスラインとに挟まれている絶縁膜の膜厚が、上記短絡配線と上記第2のゲートバスラインとの交差部において上記短絡配線と上記第2のゲートバスラインとに挟まれている絶縁膜の膜厚よりも小さいことを特徴とする請求項8または9に記載の表示パネル。
  11. 請求項1から10までのいずれか1項に記載の表示パネルと、上記表示ドライバと、各上記短絡配線に接続された配線を備えた外部基板とを備えていることを特徴とする表示装置。
  12. 各上記短絡配線は、上記外部基板上で互いに短絡していることを特徴とする請求項11に記載の表示装置。
  13. 各上記短絡配線に互いに同じ信号が入力されることを特徴とする請求項11に記載の表示装置。
  14. 上記外部基板は、上記表示ドライバの少なくとも一部が搭載された基板であることを特徴とする請求項11から13までのいずれか1項に記載の表示装置。
  15. 請求項1から10までのいずれか1項に記載の表示パネルを検査する表示パネルの検査方法であって、
    各上記短絡配線のうち、選択した2つのうちの一方を第1の短絡配線、他方を第2の短絡配線とし、
    共通電極に共通信号を入力した状態で、上記第1の短絡配線と上記第2の短絡配線とに、それぞれの初期電位から互いに大きさが等しく極性が逆向きとなるようにステップ変動する信号を入力し、
    上記第1の短絡配線と上記第2の短絡配線とに上記ステップ変動する信号を入力した結果得られる絵素の点灯状態を観測して、絵素行間で点灯輝度の変化の時定数にアンバランスが生じないとする第1の点灯状態と、絵素行間で点灯輝度の変化の時定数にアンバランスが生じたとする第2の点灯状態とのいずれか一方に分類し、上記第1の点灯状態が得られれば上記第1の短絡配線に対応する上記ゲートバスラインと上記第2の短絡配線に対応する上記ゲートバスラインとの間にリークが存在していないと判定し、上記第2の点灯状態が得られれば、上記第2の点灯状態が得られた絵素行間に対応した、上記第1の短絡配線に対応する上記ゲートバスラインと上記第2の短絡配線に対応する上記ゲートバスラインとの間にリークが存在していると判定することを特徴とする表示パネルの検査方法。
JP2008173956A 2008-07-02 2008-07-02 表示パネルおよび表示装置ならびに表示パネルの検査方法 Pending JP2010014910A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008173956A JP2010014910A (ja) 2008-07-02 2008-07-02 表示パネルおよび表示装置ならびに表示パネルの検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008173956A JP2010014910A (ja) 2008-07-02 2008-07-02 表示パネルおよび表示装置ならびに表示パネルの検査方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010014910A true JP2010014910A (ja) 2010-01-21

Family

ID=41701085

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008173956A Pending JP2010014910A (ja) 2008-07-02 2008-07-02 表示パネルおよび表示装置ならびに表示パネルの検査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010014910A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6566902B2 (en) Liquid crystal display device for testing signal line
JP3964337B2 (ja) 画像表示装置
JP5709457B2 (ja) 液晶表示装置および液晶表示装置の検査方法
KR101137863B1 (ko) 박막트랜지스터 어레이 기판
EP1944648A2 (en) Display panel, method of inspecting the display panel and method of manufacturing the display panel
US8159443B2 (en) Display panels
WO2013011855A1 (ja) アクティブマトリクス型表示装置
KR20070010567A (ko) 액정 표시 패널 및 이의 검사 방법과 이의 제조방법
KR20080049216A (ko) 액정 표시 장치 및 그 검사 방법
JP2010054551A (ja) 表示装置及びこの表示装置の検査プローブ
KR101187200B1 (ko) 스위칭 소자와 연결되는 테스트 라인을 구비하는액정표시장치
KR20060015201A (ko) 어레이 기판과, 이를 갖는 모기판 및 액정표시장치
JP2007298791A (ja) 液晶表示装置及びその欠陥修復方法
KR100225569B1 (ko) 액티브 매트릭스 액정 패널의 결함을 검출하는 방법
KR102010492B1 (ko) 액정표시장치 및 그의 제조방법
KR102034069B1 (ko) 터치타입 액정표시장치 및 이의 검사방법
US20160343279A1 (en) Display device
KR101174156B1 (ko) 평판 표시장치
JP2002098999A (ja) 液晶表示装置
KR20070076843A (ko) 박막 트랜지스터 기판 및 그 검사 방법
KR101157248B1 (ko) 액정표시장치의 mps 검사배선 구조
CN108226759B (zh) 显示面板的非显示区域的线路故障检测方法和装置
JP4298819B2 (ja) 液晶表示装置およびその製造方法
JP2010014910A (ja) 表示パネルおよび表示装置ならびに表示パネルの検査方法
JP2002277896A (ja) 液晶表示装置及び画面表示応用装置