JP2010014467A - 表面検査装置および表面検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】表面検査装置1は、ウエハ10を支持するホルダ5と、ホルダ5に支持されたウエハ10の検査面10aに検査用照明光を照射する照明光学系20と、検査用照明光が照射されたウエハ10の検査面10aからの検査光を受光する撮像装置40と、撮像装置40で受光した検査光に基づいてウエハ10の検査面10aの検査を行う画像処理検査部45とを有し、ホルダ5はウエハ10の検査面10aと検査光の光軸とが成す角度を調整可能であり、前記角度に応じて、ウエハ10と撮像装置40とがシャインプルーフの条件を満たすように、撮像装置40を検査光の光軸に対して傾動させるシャインプルーフ条件制御部51を備えて構成される。
【選択図】図1
Description
10 ウエハ(被検物) 20 照明光学系(照明部)
40 撮像装置(受光部) 41 撮像レンズ(結像光学系)
42 撮像素子 45 画像処理検査部(検査部)
51 シャインプルーフ条件制御部 52 フォーカス制御部
53 解像度制御部
Claims (9)
- 被検物を支持する支持部と、
前記支持部に支持された前記被検物の表面に検査用照明光を照射する照明部と、
前記検査用照明光が照射された前記被検物の表面からの検査光を受光する受光部と、
前記受光部で受光した前記検査光に基づいて前記被検物の表面の検査を行う検査部とを有し、
前記支持部は前記被検物の表面と前記検査光の光軸とが成す角度を調整可能であり、
前記角度に応じて、前記被検物と前記受光部とがシャインプルーフの条件を満たすように、前記受光部を前記検査光の光軸に対して傾動させるシャインプルーフ条件制御部を備えたことを特徴とする表面検査装置。 - 前記受光部は、前記検査光の受光面を有する撮像素子と、前記被検物と前記撮像素子との間に配置されて前記検査光を受け前記受光面に前記被検物の像を形成させる結像光学系とを有し、
前記シャインプルーフ条件制御部は、前記撮像素子および前記結像光学系の少なくともいずれか一方を前記検査光の光軸に対して傾動させることを特徴とする請求項1に記載の表面検査装置。 - 前記照明部は前記検査用照明光の波長を変更可能であり、
前記検査用照明光の波長の変更により生じる前記受光部の軸上色収差に応じて、前記被検物と前記受光部とが互いに共役となるように、前記受光部を前記検査光の光軸方向に移動させるフォーカス制御部を備えたことを特徴とする請求項1もしくは請求項2に記載の表面検査装置。 - 前記受光部は、前記検査光の受光面を有する撮像素子と、前記被検物と前記撮像素子との間に配置されて前記検査光を受け前記受光面に前記被検物の像を形成させる結像光学系とを有し、
前記フォーカス制御部は、前記撮像素子および前記結像光学系の少なくともいずれか一方を前記検査光の光軸方向に移動させることを特徴とする請求項3に記載の表面検査装置。 - 前記受光部を前記検査光の光軸に対して略垂直な方向に移動させる解像度制御部を備えたことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の表面検査装置。
- 前記受光部は、前記検査光の受光面を有する撮像素子と、前記被検物と前記撮像素子との間に配置されて前記検査光を受け前記受光面に前記被検物の像を形成させる結像光学系とを有し、
前記解像度制御部は、前記撮像素子および前記結像光学系の少なくともいずれか一方を前記検査光の光軸に対して略垂直な方向に移動させることを特徴とする請求項5に記載の表面検査装置。 - 被検物の表面に検査用照明光を照射する第1のステップと、
前記検査用照明光が照射された前記被検物の表面からの検査光を受光する第2のステップと、
前記第2のステップで受光した前記検査光に基づいて前記被検物の表面の検査を行う第3のステップとを有し、
前記第2のステップにおいて、前記被検物の表面と前記検査光の光軸とが成す角度に応じて、前記被検物と前記検査光の受光面を有する撮像素子と前記検査光を受け前記受光面に前記被検物の像を形成させる結像光学系とがシャインプルーフの条件を満たすように、前記撮像素子および前記結像光学系の少なくともいずれか一方を前記検査光の光軸に対して傾動させることを特徴とする表面検査方法。 - 前記第1のステップにおいて、前記検査用照明光の波長が変更可能であり、
前記第2のステップにおいて、前記検査用照明光の波長の変更により生じる前記結像光学系の軸上色収差に応じて、前記被検物と前記撮像素子とが前記結像光学系を介して互いに共役となるように、前記撮像素子および前記結像光学系の少なくともいずれか一方を前記検査光の光軸方向に移動させることを特徴とする請求項7に記載の表面検査方法。 - 前記第2のステップにおいて、前記撮像素子および前記結像光学系の少なくともいずれか一方を前記検査光の光軸に対して略垂直な方向に移動させることを特徴とする請求項7もしくは請求項8に記載の表面検査方法。
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TWI769060B (zh) * | 2020-09-09 | 2022-06-21 | 旺矽科技股份有限公司 | 巨觀及微觀檢測設備及檢測方法 |
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2008
- 2008-07-02 JP JP2008173202A patent/JP2010014467A/ja active Pending
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