JP2010004253A - 撮像装置及びその黒レベル検出方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】黒レベルの検出を高精度に行う。
【解決手段】複数の画素が二次元アレイ状に配列形成された有効画素領域及びオプティカルブラック部を備えるCCD型の固体撮像素子と、固体撮像素子の出力信号を相関二重サンプリング処理するCDS回路と、CSD回路から出力されるオプティカルブラック部からの信号を黒レベル検出のためのクランプパルスOBCPでクランプするクランプ回路と、クランプ回路にクランプパルスを出力するパルス発生部と、クランプ回路の出力信号をデジタル信号に変換するA/D変換回路と、A/D変換回路から出力される固体撮像素子の出力信号をデジタル処理する信号処理部と、信号処理部がデジタル処理によってオプティカルブラック部の欠陥K+1を検出したとき該欠陥の位置に対応するパルス部分Aを削除したクランプパルスOBCPをパルス発生部に生成させ出力させる。
【選択図】図4
【解決手段】複数の画素が二次元アレイ状に配列形成された有効画素領域及びオプティカルブラック部を備えるCCD型の固体撮像素子と、固体撮像素子の出力信号を相関二重サンプリング処理するCDS回路と、CSD回路から出力されるオプティカルブラック部からの信号を黒レベル検出のためのクランプパルスOBCPでクランプするクランプ回路と、クランプ回路にクランプパルスを出力するパルス発生部と、クランプ回路の出力信号をデジタル信号に変換するA/D変換回路と、A/D変換回路から出力される固体撮像素子の出力信号をデジタル処理する信号処理部と、信号処理部がデジタル処理によってオプティカルブラック部の欠陥K+1を検出したとき該欠陥の位置に対応するパルス部分Aを削除したクランプパルスOBCPをパルス発生部に生成させ出力させる。
【選択図】図4
Description
本発明は、デジタルスチルカメラ等の撮像装置及びその黒レベル検出方法に係り、特に、精度の高い黒レベルを検出する撮像装置及びその黒レベル検出方法に関する。
CCD(電荷結合素子:Charge Coupled Device)型の固体撮像素子を搭載した撮像装置では、下記の特許文献1,2,3に記載されている様に、固体撮像素子の有効画素領域周辺部に設けられたオプティカルブラック(OB)部から黒レベルを表す信号を読み出し、この黒レベル信号に基づき、信号処理を行っている。
OB部には、遮光膜で遮光された複数の画素(フォトダイオード)と、各画素列に沿って設けられた垂直転送路とが設けられている。このOB部において、各画素のいずれかに欠陥がありその画素で暗電流が多く発生すると、その画素は、黒レベルと異なる信号レベルを出力する。
OB部の垂直転送路のいずれかの転送電極に欠陥があると、その転送電極で常に暗電流が発生し、その垂直転送路を使って読み出される信号は、黒レベルと異なる信号レベルになってしまう。
OB部から読み出した信号を、1枚の画像として表示したと仮定すると、欠陥が全く無いOB部の画像は真っ黒の画像になる。これに対し、画素欠陥があると、この欠陥画素が孤立点として白く表示され、垂直転送路に欠陥があると、欠陥個所から電荷転送方向の上流側に伸びる白い縦線が表示される。
このような白点や白縦線となる信号レベルを、黒レベルとして信号処理すると、被写体画像の品質を劣化させてしまう。
近年のデジタルカメラ等の撮像装置は、画像の高品質化や高感度化が要求され、黒レベルが誤って検出されると、画質劣化に繋がってしまう。また、近年の固体撮像素子は、数百万画素以上を搭載するのが普通となっており、1画素1画素の面積が小さくなっている関係で、検出する信号レベルも小さくなっている。このため、黒レベルが精度良く検出されないと、これも画像の品質劣化に繋がってしまう。
本発明の目的は、精度の高い黒レベルの検出を行う撮像装置とその黒レベル検出方法を提供することにある。
本発明の撮像装置及びその黒レベル検出方法は、複数の画素が二次元アレイ状に配列形成された有効画素領域及びオプティカルブラック部を備えるCCD型固体撮像素子の出力信号を相関二重サンプリング処理し、該相関二重サンプリング処理後の前記オプティカルブラック部からの信号を黒レベル検出のためのクランプパルスでクランプし、該クランプ後の信号をデジタル信号に変換して画像信号処理し、該画像信号処理によって前記オプティカルブラック部の欠陥を検出したとき該欠陥の位置に対応するパルス部分を削除した前記クランプパルスを発生させ前記クランプを行わせることを特徴とする。
本発明の撮像装置及びその黒レベル検出方法は、nライン目の前記CCD型固体撮像素子の出力信号に前記欠陥が検出されたとき該欠陥の位置に対応するパルス部分を削除したクランプパルスで前記CCD型固体撮像素子からのn+1ライン目の出力信号をクランプさせることを特徴とする。
本発明の撮像装置及びその黒レベル検出方法は、前記欠陥の位置情報をメモリに保存しておき、該メモリの保存情報に基づき前記クランプパルスを生成させることを特徴とする。
本発明の撮像装置及びその黒レベル検出方法は、前記メモリには、前記CCD型固体撮像素子の製造時の検査で検出された欠陥の位置情報も保存することを特徴とする。
本発明によれば、欠陥画素,欠陥転送路によって信号レベルが黒レベルにならない箇所の信号を除いてクランプ処理を行うため、精度の高い黒レベル検出が可能となり、高品質な画像を撮像することが可能となる。
以下、本発明の一実施形態について、図面を参照して説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係るデジタルカメラの機能ブロック図である。このデジタルカメラ20は、撮像部21と、アナログフロントエンド(AFE)回路22と、撮像部21及びAFE回路22に駆動パルスを出力するタイミングジェネレータ(TG:パルス発生部)を含む駆動部24と、フラッシュ25とを備える。
撮像部21は、撮影レンズ21aと、絞りやメカニカルシャッタ21bと、CCD型の固体撮像素子50とを備える。
デジタルカメラ20は、更に、AFE回路22の出力を取り込んで画像処理するデジタル信号処理部26と、このデジタルカメラ20の全体を統括制御するシステム制御部(CPU)29と、画像処理された撮像画像データをJPEG画像データやMPEG画像データに圧縮したり逆に伸長したりする圧縮/伸長処理部27と、撮影された被写体画像を表示するカメラ背面等に設けられた表示部28と、フレームメモリとして使用される内部メモリ30と、メモリカード等の外部記録メディア32との間のインタフェース処理を行うメディアI/F31と、これらを相互接続するバス40とを備え、また、システム制御部29には、ユーザからの指示入力を取り込むシャッタボタンを含む操作部33が接続されている。
システム制御部29には、後述する欠陥情報を格納するメモリ29aが内蔵されている。また、システム制御部29は、バス40を介して制御指示を各構成部に出力する他、フラッシュ25と駆動部24を直接制御し、駆動部24は、システム制御部29からの指示により、詳細は後述するOBクランプパルス(OBCP)を生成し、AFE回路22に出力する。
AFE回路22は、固体撮像素子50の出力信号を相関二重サンプリング処理するCDS回路22aと、CDS回路22aの出力信号をクランプするOBクランプ回路22bと、OBクランプ回路22bの出力信号をデジタル信号に変換してデジタル信号処理部26に出力するA/D変換回路22cとを備える。これらは、周知の構成のものを用いることができる。
図2は、固体撮像素子50の表面模式図である。CCD型の固体撮像素子50は、有効画素領域51と、その周辺部に設けられたオプティカルブラック(OB)部52(左側を52L、右側を52Rとする。)と、下辺部に設けられた水平転送路53と、水平転送路53の出力端部に設けられた出力アンプ54と備える。
有効画素領域51とOB部52とには、図示省略の複数の画素が二次元アレイ状に配列形成され、各画素列に沿って垂直転送路が形成され、各画素から隣接の垂直転送路に読み出された電荷(電子)が、垂直転送路に沿って水平転送路53まで転送され、次に水平転送路53に沿って転送され、出力アンプ54が、電荷量に応じた電圧値信号を出力する様になっている。OB部52は、黒レベルを検出できるように、アルミ膜やタングステン膜等でなる遮光膜で覆われている。
次に、上述した実施形態に係るデジタルカメラ20の動作について説明する。今、図2に示す水平ラインnの信号が垂直転送路,水平転送路に沿って転送され、アンプ54から出力されたとする。この1水平期間の信号を例示したのが、図3であり、CDS回路22aからの出力信号と、OBPCとを示している。CDS回路22aからは、先ず、左側のOB部52Lの信号が出力され、次に有効画素領域52の信号が出力され、次に、右側のOB部52Rの信号が出力される。
本実施形態では、右側のOB部52Rの信号レベルを検出し、この信号レベルを黒レベルとする。黒レベルを検出するために駆動部24からOBクランプ回路22bに出力されるパルスがOBCPであり、OB部52Rの出力期間に合わせたパルスOBCPとなる。
次に、図2に示す水平ラインn+1の信号がCDS回路22aから出力されたとする。このラインn+1のOB部52Rに、欠陥56があったとする。この場合には、図4(a)に示す様に、OB部52Rの出力期間の当該垂直転送路位置に対応する出力信号K+1が、黒レベルより高いレベルになってしまう。
この図4(a)に示す信号が、図1のデジタル信号処理部26に取り込まれて処理されれば、信号K+1が異常であることが分かる。例えば、欠陥が存在しないと判定されている隣接垂直転送路位置に対応する信号レベルと信号K+1との差分が、所定の閾値a以上の場合には、信号K+1は異常であると判定される。
システム制御部29は、この判定結果をデジタル信号処理部26から受けたとき、図5に示す様に、その異常信号K+1のアドレス(該当する垂直転送路の位置を示すアドレス)と信号レベルをメモリ29aに保存すると共に、制御指令を駆動部24に出力する。
システム制御部29からの制御指令を受けた駆動部24は、図4(b)に示す様に、CDS回路22aから次の水平ラインn+2の信号が出力されるときにOBクランプ回路22bに与えるOBクランプパルスとして、異常信号K+2がクランプされない様に、当該アドレス位置のパルスAを除外した(図3に示すOBクランプパルスは1つのパルスとして図示しているが、実際には、OB部の各垂直転送路位置に対応する細かなパルス列の集合となっている。)パルスを生成し、OBクランプ回路22bに出力する。
これにより、黒レベルを高精度に検出でき、撮像画像の高品質化を図ることができる。
この様に、本実施形態では、異常信号K+1が検出されたとき、この異常信号検出をフィードバックし、次の水平ラインの異常信号除去に用いている。異常信号K+1が画素欠陥に起因する場合には、これは点欠陥であるため、次ラインの信号K+2は正常信号レベル(黒レベル)となる。しかし、異常信号K+1が、垂直転送路欠陥に起因した場合、縦線異常となるため、信号K+2は異常レベルのままとなる。
本実施形態では、OB部52Rの出力信号中に異常信号レベルが検出された場合、全て、垂直転送路の欠陥として扱い、黒レベルの検出精度を高めている。
上述した実施形態では、CCD型固体撮像素子50の使用中に、経年的に、新たな欠陥がOB部で発生した場合に対処する構成について述べたが、CCD型固体撮像素子50の製造時の検査でOB部52Rに欠陥が検出され、その情報が取得できる場合には、その欠陥情報(欠陥が発生する垂直転送路の位置アドレスおよびその信号レベル)をメモリ29aに格納しておくことで、既に欠陥画素,欠陥垂直転送路がOB部に存在しているCCD型固体撮像素子50でも、高品質な画像を撮像することが可能となる。
従来は、CCD型固体撮像素子のOB部に縦線欠陥が生じた場合、そのCCD型固体撮像素子を不良品して製品には使用しなかったが、上述した実施形態の黒レベル検出方法を採用することで、CCD型固体撮像素子の製造歩留まりを向上させることが可能となる。
尚、上述した実施形態では、メモリ29aに格納する欠陥情報を、欠陥位置のアドレスと信号レベルとしたが、欠陥位置のアドレスだけでも良い。但し、信号レベルも格納しておくことで、後から、欠陥と判定する閾値レベルを変更した場合にも、容易に対処することが可能となる。
本発明に係る撮像装置の黒レベル検出方法によれば、精度良く黒レベルを検出できるので、高品質な画像を撮像するデジタルカメラ等に適用すると有用である。
20 デジタルカメラ
21 撮像部
22 AFE(アナログフロントエンド)回路
22a CDS(相関二重サンプリング)回路
22b OB(オプティカルブラック)クランプ回路
22c A/D(アナログ/デジタル)変換回路
24 駆動部(パルス発生部)
26 デジタル信号処理部
29 システム制御部
50 CCD型固体撮像素子
51 有効画素領域
52 OB部
53 水平転送路
56 欠陥
A 削除するパルス部分
K+1,K+2 OB部の欠陥信号
21 撮像部
22 AFE(アナログフロントエンド)回路
22a CDS(相関二重サンプリング)回路
22b OB(オプティカルブラック)クランプ回路
22c A/D(アナログ/デジタル)変換回路
24 駆動部(パルス発生部)
26 デジタル信号処理部
29 システム制御部
50 CCD型固体撮像素子
51 有効画素領域
52 OB部
53 水平転送路
56 欠陥
A 削除するパルス部分
K+1,K+2 OB部の欠陥信号
Claims (8)
- 複数の画素が二次元アレイ状に配列形成された有効画素領域及びオプティカルブラック部を備えるCCD型の固体撮像素子と、該固体撮像素子の出力信号を相関二重サンプリング処理するCDS回路と、該CSD回路から出力される前記オプティカルブラック部からの信号を黒レベル検出のためのクランプパルスでクランプするクランプ回路と、前記クランプ回路に前記クランプパルスを出力するパルス発生部と、前記クランプ回路の出力信号をデジタル信号に変換するA/D変換回路と、該A/D変換回路から出力される前記固体撮像素子の出力信号をデジタル処理する信号処理部と、該信号処理部が前記デジタル処理によって前記オプティカルブラック部の欠陥を検出したとき該欠陥の位置に対応するパルス部分を削除した前記クランプパルスを前記パルス発生部に生成させ出力させる制御部とを備える撮像装置。
- 請求項1に記載の撮像装置であって、前記制御部は、nライン目の前記固体撮像素子の出力信号に前記欠陥が検出されたとき該欠陥の位置に対応するパルス部分を削除したクランプパルスを前記固体撮像素子からのn+1ライン目の出力信号を処理する前記クランプ回路に出力させることを特徴とする撮像装置。
- 請求項1または請求項2に記載の撮像装置であって、前記欠陥の位置情報を保存するメモリを備え、前記制御部は該メモリの保存情報に基づき前記クランプパルスを生成させることを特徴とする撮像装置。
- 請求項3に記載の撮像装置であって、前記メモリには、前記固体撮像素子の製造時の検査で検出された欠陥の位置情報も保存されていることを特徴とする撮像装置。
- 複数の画素が二次元アレイ状に配列形成された有効画素領域及びオプティカルブラック部を備えるCCD型固体撮像素子の出力信号を相関二重サンプリング処理し、該相関二重サンプリング処理後の前記オプティカルブラック部からの信号を黒レベル検出のためのクランプパルスでクランプし、該クランプ後の信号をデジタル信号に変換して画像信号処理し、該画像信号処理によって前記オプティカルブラック部の欠陥を検出したとき該欠陥の位置に対応するパルス部分を削除した前記クランプパルスを発生させ前記クランプを行わせる撮像装置の黒レベル検出方法。
- 請求項5に記載の撮像装置の黒レベル検出方法であって、nライン目の前記CCD型固体撮像素子の出力信号に前記欠陥が検出されたとき該欠陥の位置に対応するパルス部分を削除したクランプパルスで前記CCD型固体撮像素子からのn+1ライン目の出力信号をクランプさせることを特徴とする撮像装置の黒レベル検出方法。
- 請求項5または請求項6に記載の撮像装置の黒レベル検出方法であって、前記欠陥の位置情報をメモリに保存しておき、該メモリの保存情報に基づき前記クランプパルスを生成させることを特徴とする撮像装置の黒レベル検出方法。
- 請求項7に記載の撮像装置の黒レベル検出方法であって、前記メモリには、前記CCD型固体撮像素子の製造時の検査で検出された欠陥の位置情報も保存することを特徴とする撮像装置の黒レベル検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008160492A JP2010004253A (ja) | 2008-06-19 | 2008-06-19 | 撮像装置及びその黒レベル検出方法 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008160492A JP2010004253A (ja) | 2008-06-19 | 2008-06-19 | 撮像装置及びその黒レベル検出方法 |
Publications (1)
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ID=41585590
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2008160492A Pending JP2010004253A (ja) | 2008-06-19 | 2008-06-19 | 撮像装置及びその黒レベル検出方法 |
Country Status (1)
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012090032A (ja) * | 2010-10-19 | 2012-05-10 | Toshiba Corp | ラインアーチファクト検出器及びその検出方法 |
-
2008
- 2008-06-19 JP JP2008160492A patent/JP2010004253A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2012090032A (ja) * | 2010-10-19 | 2012-05-10 | Toshiba Corp | ラインアーチファクト検出器及びその検出方法 |
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