JP2009514179A - 質量分析計 - Google Patents
質量分析計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009514179A JP2009514179A JP2008538408A JP2008538408A JP2009514179A JP 2009514179 A JP2009514179 A JP 2009514179A JP 2008538408 A JP2008538408 A JP 2008538408A JP 2008538408 A JP2008538408 A JP 2008538408A JP 2009514179 A JP2009514179 A JP 2009514179A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion
- mass
- electrodes
- ions
- mass analyzer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims abstract description 662
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 claims abstract description 64
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 claims abstract description 8
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 claims description 60
- 238000013467 fragmentation Methods 0.000 claims description 57
- 238000006062 fragmentation reaction Methods 0.000 claims description 57
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims description 47
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 42
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 41
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 39
- 230000004323 axial length Effects 0.000 claims description 33
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 25
- 239000012634 fragment Substances 0.000 claims description 18
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims description 14
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 claims description 12
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 claims description 12
- 238000000816 matrix-assisted laser desorption--ionisation Methods 0.000 claims description 9
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 claims description 8
- 230000005405 multipole Effects 0.000 claims description 8
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 7
- 238000003795 desorption Methods 0.000 claims description 6
- 238000000688 desorption electrospray ionisation Methods 0.000 claims description 6
- 238000010265 fast atom bombardment Methods 0.000 claims description 6
- 238000001698 laser desorption ionisation Methods 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000001360 collision-induced dissociation Methods 0.000 claims description 4
- 238000004992 fast atom bombardment mass spectroscopy Methods 0.000 claims description 4
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 claims description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 4
- 102100022704 Amyloid-beta precursor protein Human genes 0.000 claims description 3
- 208000035699 Distal ileal obstruction syndrome Diseases 0.000 claims description 3
- 101000823051 Homo sapiens Amyloid-beta precursor protein Proteins 0.000 claims description 3
- DZHSAHHDTRWUTF-SIQRNXPUSA-N amyloid-beta polypeptide 42 Chemical compound C([C@@H](C(=O)N[C@@H](C)C(=O)N[C@@H](CCC(O)=O)C(=O)N[C@@H](CC(O)=O)C(=O)N[C@H](C(=O)NCC(=O)N[C@@H](CO)C(=O)N[C@@H](CC(N)=O)C(=O)N[C@@H](CCCCN)C(=O)NCC(=O)N[C@@H](C)C(=O)N[C@H](C(=O)N[C@@H]([C@@H](C)CC)C(=O)NCC(=O)N[C@@H](CC(C)C)C(=O)N[C@@H](CCSC)C(=O)N[C@@H](C(C)C)C(=O)NCC(=O)NCC(=O)N[C@@H](C(C)C)C(=O)N[C@@H](C(C)C)C(=O)N[C@@H]([C@@H](C)CC)C(=O)N[C@@H](C)C(O)=O)[C@@H](C)CC)C(C)C)NC(=O)[C@H](CC=1C=CC=CC=1)NC(=O)[C@@H](NC(=O)[C@H](CC(C)C)NC(=O)[C@H](CCCCN)NC(=O)[C@H](CCC(N)=O)NC(=O)[C@H](CC=1N=CNC=1)NC(=O)[C@H](CC=1N=CNC=1)NC(=O)[C@@H](NC(=O)[C@H](CCC(O)=O)NC(=O)[C@H](CC=1C=CC(O)=CC=1)NC(=O)CNC(=O)[C@H](CO)NC(=O)[C@H](CC(O)=O)NC(=O)[C@H](CC=1N=CNC=1)NC(=O)[C@H](CCCNC(N)=N)NC(=O)[C@H](CC=1C=CC=CC=1)NC(=O)[C@H](CCC(O)=O)NC(=O)[C@H](C)NC(=O)[C@@H](N)CC(O)=O)C(C)C)C(C)C)C1=CC=CC=C1 DZHSAHHDTRWUTF-SIQRNXPUSA-N 0.000 claims description 3
- 238000000065 atmospheric pressure chemical ionisation Methods 0.000 claims description 3
- 238000000451 chemical ionisation Methods 0.000 claims description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 3
- 238000000132 electrospray ionisation Methods 0.000 claims description 3
- 238000005036 potential barrier Methods 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 238000004252 FT/ICR mass spectrometry Methods 0.000 claims description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 2
- 238000001211 electron capture detection Methods 0.000 claims description 2
- 238000001077 electron transfer detection Methods 0.000 claims description 2
- 230000006862 enzymatic digestion Effects 0.000 claims description 2
- 230000002255 enzymatic effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 2
- PXHVJJICTQNCMI-RNFDNDRNSA-N nickel-63 Chemical compound [63Ni] PXHVJJICTQNCMI-RNFDNDRNSA-N 0.000 claims description 2
- 238000004150 penning trap Methods 0.000 claims description 2
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 claims description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000005173 quadrupole mass spectroscopy Methods 0.000 claims 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 11
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 5
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 5
- -1 daughter Substances 0.000 description 4
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 4
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 240000006829 Ficus sundaica Species 0.000 description 1
- 108010022337 Leucine Enkephalin Proteins 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 230000003796 beauty Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000005686 electrostatic field Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- URLZCHNOLZSCCA-UHFFFAOYSA-N leu-enkephalin Chemical compound C=1C=C(O)C=CC=1CC(N)C(=O)NCC(=O)NCC(=O)NC(C(=O)NC(CC(C)C)C(O)=O)CC1=CC=CC=C1 URLZCHNOLZSCCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 241000894007 species Species 0.000 description 1
- ZZORFUFYDOWNEF-UHFFFAOYSA-N sulfadimethoxine Chemical compound COC1=NC(OC)=CC(NS(=O)(=O)C=2C=CC(N)=CC=2)=N1 ZZORFUFYDOWNEF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229960000973 sulfadimethoxine Drugs 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/062—Ion guides
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/4205—Device types
- H01J49/422—Two-dimensional RF ion traps
- H01J49/4235—Stacked rings or stacked plates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/426—Methods for controlling ions
- H01J49/427—Ejection and selection methods
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
Description
複数の電極を含むイオンガイドと、
使用時に複数の軸方向時間平均(axial time averaged)または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って生成されるように、ACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加する手段と、
一動作モードにおいて、第1の範囲内に質量電荷比を有するイオンが前記イオンガイドを出射しつつ、第2の異なる範囲内に質量電荷比を有するイオンが前記複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸によって前記イオンガイド内に軸方向にトラップまたは閉じ込められるように、イオンを前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿っておよび/または通って駆動または推進する手段と
を含む質量分析器が提供される。
(i)四重極ロッドセット、六重極ロッドセット、八重極ロッドセットまたは8個より多くのロッドを含むロッドセットを含む多極ロッドセットまたはセグメント化多極ロッドセットイオンガイドもしくはイオントラップ、
(ii)開口を有する複数の電極または少なくとも2、5、10、20、30、40、50、60、70、80、90もしくは100個の電極を含むイオントンネルまたはイオンファネルイオンガイドまたはイオントラップであって、使用時にイオンは、前記開口を通って移送され、前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%は、実質的に同じサイズまたは面積の開口を有するか、またはサイズまたは面積が順次より大きくおよび/またはより小さくなる開口を有する、イオントンネルまたはイオンファネルイオンガイドまたはイオントラップ、
(iii)平面、プレートまたはメッシュ電極のスタックまたはアレイであって、前記平面、プレートまたはメッシュ電極のスタックまたはアレイは、複数のまたは少なくとも2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19もしくは20個の平面、プレートまたはメッシュ電極を含むか、または少なくとも前記平面、プレートまたはメッシュ電極のうちの5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%は、使用時にイオンが走行する概して平面に配置される、平面、プレートまたはメッシュ電極のスタックまたはアレイ、および請求項75に記載の質量分析計であって、前記1つ以上の第2のイオンガイドまたはイオントラップは、
(i)四重極ロッドセット、六重極ロッドセット、八重極ロッドセットまたは8個より多くのロッドを含むロッドセットを含む多極ロッドセットまたはセグメント化多極ロッドセットイオンガイドもしくはイオントラップ、
(ii)開口を有する複数の電極または少なくとも2、5、10、20、30、40、50、60、70、80、90もしくは100個の電極を含むイオントンネルまたはイオンファネルイオンガイドまたはイオントラップであって、使用時にイオンは、前記開口を通って移送され、前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%は、実質的に同じサイズまたは面積の開口を有するか、またはサイズまたは面積が順次より大きくおよび/またはより小さくなる開口を有する、イオントンネルまたはイオンファネルイオンガイドまたはイオントラップ、
(iii)平面、プレートまたはメッシュ電極のスタックまたはアレイであって、前記平面、プレートまたはメッシュ電極のスタックまたはアレイは、複数のまたは少なくとも2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19もしくは20個の平面、プレートまたはメッシュ電極を含むか、または少なくとも前記平面、プレートまたはメッシュ電極のうちの1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%は、使用時にイオンが走行する概して平面に配置される、平面、プレートまたはメッシュ電極のスタックまたはアレイ、からなる群から選択される、および
(iv)イオントラップまたはイオンガイドの長さに沿って軸方向に配置される複数のグループの電極を含むイオントラップまたはイオンガイドであって、各グループの電極は、(a)第1および第2の電極ならびにイオンを前記イオンガイド内に第1の半径方向に閉じ込めるためにDC電圧またはポテンシャルを前記第1および第2の電極に印加する手段、および(b)第3および第4の電極ならびにイオンを前記イオンガイド内に第2の半径方向に閉じ込めるためにACまたはRF電圧を前記第3および第4の電極に印加する手段を含む、イオントラップまたはイオンガイド
からなる群から選択される。
複数の電極を含むイオンガイドを準備するステップと、
使用時に複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って生成されるように、ACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加するステップと、
一動作モードにおいて、第1の範囲内に質量電荷比を有するイオンが前記イオンガイドを出射しつつ、第2の異なる範囲内に質量電荷比を有するイオンが前記複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸によって前記イオンガイド内に軸方向にトラップまたは閉じ込められるように、イオンを前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿っておよび/または通って駆動または推進するステップと
を含む、イオンを質量分析する方法が提供される。
Claims (90)
- 複数の電極を含むイオンガイドと、
使用時に複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って形成されるように、ACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加する手段と、
一動作モードにおいて、第1の範囲内に質量電荷比を有するイオンが前記イオンガイドを出射しつつ、第2の異なる範囲内に質量電荷比を有するイオンが前記複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸によって前記イオンガイド内に軸方向にトラップまたは閉じ込められるように、イオンを前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿っておよび/または通って駆動または推進する手段と
を含む質量分析器。 - 前記第1の範囲は、(i)<100、(ii)100〜200、(iii)200〜300、(iv)300〜400、(v)400〜500、(vi)500〜600、(vii)600〜700、(viii)700〜800、(ix)800〜900、(x)900〜1000、および(xi)>1000からなる群から選択される、請求項1に記載の質量分析器。
- 前記第2の範囲は、(i)<100、(ii)100〜200、(iii)200〜300、(iv)300〜400、(v)400〜500、(vi)500〜600、(vii)600〜700、(viii)700〜800、(ix)800〜900、(x)900〜1000、および(xi)>1000からなる群から選択される、請求項1または2に記載の質量分析器。
- 前記ACまたはRF電圧を前記複数の電極の少なくともいくつかに印加する手段は、複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%に沿って生成されるように構成および適合される、請求項1、2または3に記載の質量分析器。
- 前記複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸は、前記イオンガイドの中心長手方向軸の少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%に沿って生成または提供される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸は、前記イオンガイドの中心長手方向軸から半径方向に少なくともr mmだけ離れるように伸び、ここで、rは、(i)<1、(ii)1〜2、(iii)2〜3、(iv)3〜4、(v)4〜5、(vi)5〜6、(vii)6〜7、(viii)7〜8、(ix)8〜9、(x)9〜10、および(xi)>10からなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 質量電荷比が1〜100、100〜200、200〜300、300〜400、400〜500、500〜600、600〜700、700〜800、800〜900または900〜1000の範囲にあるイオンに対して、前記軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%の振幅、高さまたは深さは、(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 使用時に、前記イオンガイドの軸方向長さに沿って、1cm当たり少なくとも1、2、3、4、5、6、7、8、9または10個の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸が提供または生成される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸は、前記イオンガイドの軸方向長さに沿って極小を有し、前記極小は、前記複数の電極の軸方向位置に対応する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸は、前記イオンガイドの軸方向長さに沿って極大を有し、前記極大は、隣り合う電極間の軸方向距離または間隔の実質的に50%に対応する軸方向位置に位置する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸は、特定の質量電荷比を有するイオンに対して実質的に同じ高さ、深さまたは振幅である極小および/または極大を有し、前記極小および/または極大は、前記複数の電極の軸方向変位または間隔と実質的に同じ周期を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記複数の電極は、開口を有する電極を含み、使用時にイオンが前記開口を通って移送される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、実質的に円形、長方形、正方形または楕円形の開口を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記電極の少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、実質的に同じサイズまたは実質的に同じ面積を有する開口を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、前記イオンガイドの軸に沿う方向にサイズまたは面積が順次より大きくおよび/またはより小さくなる開口を有する、請求項1〜13のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、(i)≦1.0mm、(ii)≦2.0mm、(iii)≦3.0mm、(iv)≦4.0mm、(v)≦5.0mm、(vi)≦6.0mm、(vii)≦7.0mm、(viii)≦8.0mm、(ix)≦9.0mm、(x)≦10.0mm、および(xi)>10.0mmからなる群から選択される内径または寸法を有する開口を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、(i)5mm以下、(ii)4.5mm以下、(iii)4mm以下、(iv)3.5mm以下、(v)3mm以下、(vi)2.5mm以下、(vii)2mm以下、(viii)1.5mm以下、(ix)1mm以下、(x)0.8mm以下、(xi)0.6mm以下、(xii)0.4mm以下、(xiii)0.2mm以下、(xiv)0.1mm以下、および(xv)0.25mm以下からなる群から選択される軸方向距離だけ互いに離れている、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記複数の電極のうちの少なくともいくつかは、開口を含み、隣り合う電極間の中心間軸方向間隔に対する前記開口の内径または寸法の比は、(i)<1.0、(ii)1.0〜1.2、(iii)1.2〜1.4、(iv)1.4〜1.6、(v)1.6〜1.8、(vi)1.8〜2.0、(vii)2.0〜2.2、(viii)2.2〜2.4、(ix)2.4〜2.6、(x)2.6〜2.8、(xi)2.8〜3.0、(xii)3.0〜3.2、(xiii)3.2〜3.4、(xiv)3.4〜3.6、(xv)3.6〜3.8、(xvi)3.8〜4.0、(xvii)4.0〜4.2、(xviii)4.2〜4.4、(xix)4.4〜4.6、(xx)4.6〜4.8、(xxi)4.8〜5.0、および(xxii)>5.0からなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%は、(i)5mm以下、(ii)4.5mm以下、(iii)4mm以下、(iv)3.5mm以下、(v)3mm以下、(vi)2.5mm以下、(vii)2mm以下、(viii)1.5mm以下、(ix)1mm以下、(x)0.8mm以下、(xi)0.6mm以下、(xii)0.4mm以下、(xiii)0.2mm以下、(xiv)0.1mm以下、および(xv)0.25mm以下からなる群から選択される厚さまたは軸方向長さを有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記イオンガイドは、セグメント化ロッドセットイオンガイドを含む、請求項1〜11のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記イオンガイドは、セグメント化四重極、六重極もしくは八重極イオンガイドまたは8個よりも多くのセグメント化ロッドセットを含むイオンガイドを含む、請求項20に記載の質量分析器。
- 前記イオンガイドは、(i)およそまたは実質的に円形な断面、(ii)およそまたは実質的に双曲な曲面、(iii)円弧形または一部円形な断面、(iv)およそまたは実質的に長方形な断面、および(v)およそまたは実質的に正方形な断面からなる群から選択される断面を有する複数の電極を含む、請求項20または21に記載の質量分析器。
- 前記イオンガイドは、複数のプレート電極を含み、複数のグループの電極が前記イオンガイドの軸方向長さに沿って配置される、請求項1〜11のいずれかに記載の質量分析器。
- 各グループの電極は、第1の電極および第2の電極を含み、前記第1および第2の電極は、実質的に同じ平面に配置され、かつ前記イオンガイドの中心長手方向軸のいずれか一方の側に配置される、請求項23に記載の質量分析器。
- イオンを前記イオンガイド内に第1の半径方向に閉じ込めるためにDC電圧またはポテンシャルを前記第1および第2の電極に印加する手段をさらに含む、請求項24に記載の質量分析器。
- 各グループの電極は、第3の電極および第4の電極をさらに含み、前記第3および第4の電極は、前記第1および第2の電極と実質的に同じ平面に配置され、かつ前記第1および第2の電極に対して異なる向きに前記イオンガイドの中心長手方向軸のいずれか一方の側に配置される、請求項24または25に記載の質量分析器。
- 前記ACまたはRF電圧を印加する手段は、イオンを前記イオンガイド内に第2の半径方向に閉じ込めるために前記ACまたはRF電圧を前記第3および第4の電極に印加するように構成される、請求項26に記載の質量分析器。
- 前記ACまたはRF電圧を印加する手段は、前記ACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくとも10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%に印加するように構成される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 軸方向に隣り合う電極には、前記ACまたはRF電圧の互いに反対の位相が供給される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記ACまたはRF電圧は、(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、および(xi)>500Vピークトゥピークからなる群から選択される振幅を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記ACまたはRF電圧は、(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される周波数を有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記イオンガイドは、n個の軸方向セグメントを含み、ここで、nは、(i)1〜10、(ii)11〜20、(iii)21〜30、(iv)31〜40、(v)41〜50、(vi)51〜60、(vii)61〜70、(viii)71〜80、(ix)81〜90、(x)91〜100、および(xi)>100からなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 各軸方向セグメントは、1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20または>20個の電極を含む、請求項32に記載の質量分析器。
- 前記軸方向セグメントの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%の軸方向長さは、(i)<1mm、(ii)1〜2mm、(iii)2〜3mm、(iv)3〜4mm、(v)4〜5mm、(vi)5〜6mm、(vii)6〜7mm、(viii)7〜8mm、(ix)8〜9mm、(x)9〜10mm、および(xi)>10mmからなる群から選択される、請求項32または33に記載の質量分析器。
- 前記軸方向セグメントの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%間の間隔は、(i)<1mm、(ii)1〜2mm、(iii)2〜3mm、(iv)3〜4mm、(v)4〜5mm、(vi)5〜6mm、(vii)6〜7mm、(viii)7〜8mm、(ix)8〜9mm、(x)9〜10mm、および(xi)>10mmからなる群から選択される、請求項32、33または34に記載の質量分析器。
- 前記イオンガイドは、(i)<20mm、(ii)20〜40mm、(iii)40〜60mm、(iv)60〜80mm、(v)80〜100mm、(vi)100〜120mm、(vii)120〜140mm、(viii)140〜160mm、(ix)160〜180mm、(x)180〜200mm、および(xi)>200mmからなる群から選択される長さを有する、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記イオンガイドは、少なくとも(i)10〜20個の電極、(ii)20〜30個の電極、(iii)30〜40個の電極、(iv)40〜50個の電極、(v)50〜60個の電極、(vi)60〜70個の電極、(vii)70〜80個の電極、(viii)80〜90個の電極、(ix)90〜100個の電極、(x)100〜110個の電極、(xi)110〜120個の電極、(xii)120〜130個の電極、(xiii)130〜140個の電極、(xiv)140〜150個の電極、または(xv)>150個の電極を含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記イオンを駆動または推進する手段は、1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたはDC電圧もしくはポテンシャル波形を前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%または100%に印加する手段を含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたはDC電圧もしくはポテンシャル波形は、(i)1つのポテンシャル山または障壁、(ii)1つのポテンシャル井戸、(iii)複数のポテンシャル山または障壁、(iv)複数のポテンシャル井戸、(v)1つのポテンシャル山または障壁および1つのポテンシャル井戸の組み合わせ、あるいは(vi)複数のポテンシャル山または障壁および複数のポテンシャル井戸の組み合わせを生成する、請求項38に記載の質量分析器。
- 前記1つ以上の過渡DC電圧またはポテンシャル波形は、反復波形または方形波を含む、請求項38または39に記載の質量分析器。
- 使用時に、複数の軸方向DCポテンシャル井戸が前記イオンガイドの長さに沿って平行移動されるか、または複数の過渡DCポテンシャルまたは電圧が前記イオンガイドの軸方向長さに沿って電極に順次印加される、請求項38、39または40に記載の質量分析器。
- 前記1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたはDC電圧もしくはポテンシャル波形の振幅、高さまたは深さを順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合された第1の手段をさらに含む、請求項38〜41のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記第1の手段は、前記1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたはDC電圧もしくはポテンシャル波形の振幅、高さまたは深さを期間t1にわたってx1ボルトだけ順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合される、請求項42に記載の質量分析器。
- x1は、(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される、請求項43に記載の質量分析器。
- t1は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項43または44に記載の質量分析器。
- 前記1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたはDCポテンシャルもしくは電圧波形が前記電極に印加される速度または率を順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合された第2の手段をさらに含む、請求項38〜45のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記第2の手段は、前記1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたはDC電圧もしくはポテンシャル波形が前記電極に印加される速度または率を期間t2にわたってx2m/sだけ順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合される、請求項46に記載の質量分析器。
- x2は、(i)<1、(ii)1〜2、(iii)2〜3、(iv)3〜4、(v)4〜5、(vi)5〜6、(vii)6〜7、(viii)7〜8、(ix)8〜9、(x)9〜10、(xi)10〜11、(xii)11〜12、(xiii)12〜13、(xiv)13〜14、(xv)14〜15、(xvi)15〜16、(xvii)16〜17、(xviii)17〜18、(xix)18〜19、(xx)19〜20、(xxi)20〜30、(xxii)30〜40、(xxiii)40〜50、(xxiv)50〜60、(xxv)60〜70、(xxvi)70〜80、(xxvii)80〜90、(xxviii)90〜100、(xxix)100〜150、(xxx)150〜200、(xxxi)200〜250、(xxxii)250〜300、(xxxiii)300〜350、(xxxiv)350〜400、(xxxv)400〜450、(xxxvi)450〜500、および(xxxvii)>500からなる群から選択される、請求項47に記載の質量分析器。
- t2は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項47または48に記載の質量分析器。
- 前記電極に印加される前記ACまたはRF電圧の振幅を順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合された第3の手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記第3の手段は、前記ACまたはRF電圧の振幅を期間t3にわたってx3ボルトだけ順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合される、請求項50に記載の質量分析器。
- x3は、(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、および(xi)>500Vピークトゥピークからなる群から選択される、請求項51に記載の質量分析器。
- t3は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項51または52に記載の質量分析器。
- 前記電極に印加される前記RFまたはAC電圧の周波数を順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合された第4の手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記第4の手段は、前記電極に印加される前記RFまたはAC電圧の周波数を期間t4にわたってx4MHzだけ順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合される、請求項54に記載の質量分析器。
- x4は、(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される、請求項55に記載の質量分析器。
- t4は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項55または56に記載の質量分析器。
- 前記イオンガイドの前記電極のうちの少なくともいくつかに印加されるDC電圧またはポテンシャルの振幅を順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合され、かつイオンを前記イオンガイド内に半径方向に閉じ込めるように作用する第5の手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記第5の手段は、前記少なくともいくつかの電極に印加される前記DC電圧またはポテンシャルの振幅を期間t5にわたってx5ボルトだけ順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合される、請求項58に記載の質量分析器。
- x5は、(i)<0.1V、(ii)0.1〜0.2V、(iii)0.2〜0.3V、(iv)0.3〜0.4V、(v)0.4〜0.5V、(vi)0.5〜0.6V、(vii)0.6〜0.7V、(viii)0.7〜0.8V、(ix)0.8〜0.9V、(x)0.9〜1.0V、(xi)1.0〜1.5V、(xii)1.5〜2.0V、(xiii)2.0〜2.5V、(xiv)2.5〜3.0V、(xv)3.0〜3.5V、(xvi)3.5〜4.0V、(xvii)4.0〜4.5V、(xviii)4.5〜5.0V、(xix)5.0〜5.5V、(xx)5.5〜6.0V、(xxi)6.0〜6.5V、(xxii)6.5〜7.0V、(xxiii)7.0〜7.5V、(xxiv)7.5〜8.0V、(xxv)8.0〜8.5V、(xxvi)8.5〜9.0V、(xxvii)9.0〜9.5V、(xxviii)9.5〜10.0V、および(xxix)>10.0Vからなる群から選択される、請求項59に記載の質量分析器。
- t5は、(i)<1ms、(ii)1〜10ms、(iii)10〜20ms、(iv)20〜30ms、(v)30〜40ms、(vi)40〜50ms、(vii)50〜60ms、(viii)60〜70ms、(ix)70〜80ms、(x)80〜90ms、(xi)90〜100ms、(xii)100〜200ms、(xiii)200〜300ms、(xiv)300〜400ms、(xv)400〜500ms、(xvi)500〜600ms、(xvii)600〜700ms、(xviii)700〜800ms、(xix)800〜900ms、(xx)900〜1000ms、(xxi)1〜2s、(xxii)2〜3s、(xxiii)3〜4s、(xxiv)4〜5s、および(xxv)>5sからなる群から選択される、請求項59または60に記載の質量分析器。
- 一動作モードにおいて、前記イオンガイドを(i)<1.0×10-1mbar、(ii)<1.0×10-2mbar、(iii)<1.0×10-3mbar、および(iv)<1.0×10-4mbarからなる群から選択される圧力に維持する手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 一動作モードにおいて、前記イオンガイドを(i)>1.0×10-3mbar、(ii)>1.0×10-2mbar、(iii)>1.0×10-1mbar、(iv)>1mbar、(v)>10mbar、(vi)>100mbar、(vii)>5.0×10-3mbar、(viii)>5.0×10-2mbar、(ix)10-4〜10-3mbar、(x)10-3〜10-2mbar、および(xi)10-2〜10-1mbarからなる群から選択される圧力に維持する手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記イオンガイドを通るガスフローを順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合された手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 一動作モードにおいて、イオンが実質的に質量電荷比の逆順で前記質量分析器から出射するように構成される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 一動作モードにおいて、イオンが前記イオンガイド内にトラップされるが、実質的にフラグメンテーションされないように構成される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記イオンガイド内のイオンを衝突により冷却するか、または実質的に熱化する手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 一動作モードにおいて、前記イオンガイド内のイオンを実質的にフラグメンテーションする手段をさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 前記イオンガイドの入口および/または出口に配置された1つ以上の電極をさらに含み、一動作モードにおいて、イオンがパルス化されて前記イオンガイドへ入力および/またはそこから出力される、先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器。
- 先行する請求項のいずれかに記載の質量分析器を含む質量分析計。
- (i)エレクトロスプレーイオン化(「ESI」)イオン源、(ii)大気圧光イオン化(「APPI」)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(「APCI」)イオン源、(iv)マトリックス支援レーザ脱離イオン化(「MALDI」)イオン源、(v)レーザ脱離イオン化(「LDI」)イオン源、(vi)大気圧イオン化(「API」)イオン源、(vii)シリコンを用いた脱離イオン化(「DIOS」)イオン源、(viii)電子衝突(「EI」)イオン源、(ix)化学イオン化(「CI」)イオン源、(x)電界イオン化(「FI」)イオン源、(xi)電界脱離(「FD」)イオン源、(xii)誘導結合プラズマ(「ICP」)イオン源、(xiii)高速原子衝撃(「FAB」)イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析(「LSIMS」)イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレーイオン化(「DESI」)イオン源、および(xvi)ニッケル−63放射性イオン源からなる群から選択されるイオン源をさらに含む、請求項70に記載の質量分析計。
- 連続またはパルス化イオン源をさらに含む、請求項70または71に記載の質量分析計。
- 前記質量分析器の上流および/または下流に配置される1つ以上の質量フィルタをさらに含む、請求項70、71または72のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記1つ以上の質量フィルタは、(i)四重極ロッドセット質量フィルタ、(ii)飛行時間質量フィルタまたは質量分析器、(iii)ウィーンフィルタ、および(iv)扇形磁場質量フィルタまたは質量分析器からなる群から選択される、請求項73に記載の質量分析計。
- 前記質量分析器の上流および/または下流に配置される1つ以上の第2のイオンガイドまたはイオントラップをさらに含む、請求項70〜74のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記1つ以上の第2のイオンガイドまたはイオントラップは、
(i)四重極ロッドセット、六重極ロッドセット、八重極ロッドセットまたは8個より多くのロッドを含むロッドセットを含む多極ロッドセットまたはセグメント化多極ロッドセットイオンガイドもしくはイオントラップ、
(ii)開口を有する複数の電極または少なくとも2、5、10、20、30、40、50、60、70、80、90もしくは100個の電極を含むイオントンネルまたはイオンファネルイオンガイドまたはイオントラップであって、使用時にイオンは、前記開口を通って移送され、前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%は、実質的に同じサイズまたは面積の開口を有するか、またはサイズまたは面積が順次より大きくおよび/またはより小さくなる開口を有する、イオントンネルまたはイオンファネルイオンガイドまたはイオントラップ、
(iii)平面、プレートまたはメッシュ電極のスタックまたはアレイであって、前記平面、プレートまたはメッシュ電極のスタックまたはアレイは、複数のまたは少なくとも2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19もしくは20個の平面、プレートまたはメッシュ電極を含むか、または少なくとも前記平面、プレートまたはメッシュ電極のうちの1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%は、使用時にイオンが走行する概して平面に配置される、平面、プレートまたはメッシュ電極のスタックまたはアレイ、および
(iv)イオントラップまたはイオンガイドの長さに沿って軸方向に配置される複数のグループの電極を含むイオントラップまたはイオンガイドであって、各グループの電極は、(a)第1および第2の電極ならびにイオンを前記イオンガイド内に第1の半径方向に閉じ込めるためにDC電圧またはポテンシャルを前記第1および第2の電極に印加する手段、および(b)第3および第4の電極ならびにイオンを前記イオンガイド内に第2の半径方向に閉じ込めるためにACまたはRF電圧を前記第3および第4の電極に印加する手段を含む、イオントラップまたはイオンガイド
からなる群から選択される、請求項75に記載の質量分析計。 - 前記第2のイオンガイドまたはイオントラップは、イオントンネルまたはイオンファネルイオンガイドまたはイオントラップを含み、前記電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%は、(i)≦1.0mm、(ii)≦2.0mm、(iii)≦3.0mm、(iv)≦4.0mm、(v)≦5.0mm、(vi)≦6.0mm、(vii)≦7.0mm、(viii)≦8.0mm、(ix)≦9.0mm、(x)≦10.0mm、および(xi)>10.0mmからなる群から選択される内径または寸法を有する、請求項75または76に記載の質量分析計。
- 前記第2のイオンガイドまたはイオントラップは、イオンを前記第2のイオンガイドまたはイオントラップ内に半径方向に閉じ込めるためにACまたはRF電圧を前記第2のイオンガイドまたはイオントラップの前記複数の電極のうちの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%に印加するように構成および適合された第2のACまたはRF電圧手段をさらに含む、請求項75、76または77に記載の質量分析計。
- 前記第2のイオンガイドまたはイオントラップは、イオンのビームまたはグループを前記質量分析器から受け取り、前記イオンのビームまたはグループを変換または分割して、少なくとも1、2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19または20個の別々のパケットのイオンが任意の特定の時間に前記第2のイオンガイドまたはイオントラップ内に閉じ込められおよび/または隔離されるようにし、各パケットのイオンは、前記第2のイオンガイドまたはイオントラップ内に形成される別々の軸方向ポテンシャル井戸内に別々に閉じ込められおよび/または隔離されるように構成および適合される、請求項75〜78のいずれかに記載の質量分析計。
- 一動作モードにおいて、少なくともいくつかのイオンを前記第2のイオンガイドまたはイオントラップの軸方向長さの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%を通るか、またはそれに沿って上流および/または下流へ駆動するように構成および適合される手段をさらに含む、請求項75〜79のいずれかに記載の質量分析計。
- 少なくともいくつかのイオンを前記第2のイオンガイドまたはイオントラップの軸方向長さの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%に沿って下流および/または上流へ駆動するために、1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャルまたは1つ以上の過渡DC電圧もしくはポテンシャル波形を前記第2のイオンガイドまたはイオントラップを形成する前記電極に印加するように構成および適合された過渡DC電圧手段をさらに含む、請求項75〜80のいずれかに記載の質量分析計。
- 少なくともいくつかのイオンを前記第2のイオンガイドまたはイオントラップの軸方向長さの少なくとも1%、5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%または100%に沿って下流および/または上流へ駆動するために、2つ以上の位相シフトACまたはRF電圧を前記第2のイオンガイドまたはイオントラップを形成する電極に印加するように構成および適合されたACまたはRF電圧手段をさらに含む、請求項75〜81のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記第2のイオンガイドまたはイオントラップの少なくとも一部を(i)>0.0001mbar、(ii)>0.001mbar、(iii)>0.01mbar、(iv)>0.1mbar、(v)>1mbar、(vi)>10mbar、(vii)>1mbar、(viii)0.0001〜100mbar、および(ix)0.001〜10mbarからなる群から選択される圧力に維持するように構成および適合された手段をさらに含む、請求項75〜82のいずれかに記載の質量分析計。
- イオンを衝突誘起解離(「CID」)によってフラグメンテーションするように構成および適合された衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスをさらに含む、請求項70〜83のいずれかに記載の質量分析計。
- (i)表面誘起解離(「SID」)フラグメンテーションデバイス、(ii)電子移動解離フラグメンテーションデバイス、(iii)電子捕獲解離フラグメンテーションデバイス、(iv)電子衝突または衝撃解離フラグメンテーションデバイス、(v)光誘起解離(「PID」)フラグメンテーションデバイス、(vi)レーザ誘起解離フラグメンテーションデバイス、(vii)赤外線放射誘起解離デバイス、(viii)紫外線放射誘起解離デバイス、(ix)ノズル−スキマ間インターフェースフラグメンテーションデバイス、(x)インソースフラグメンテーションデバイス、(xi)イオン源衝突誘起解離フラグメンテーションデバイス、(xii)熱または温度源フラグメンテーションデバイス、(xiii)電界誘起フラグメンテーションデバイス、(xiv)磁場誘起フラグメンテーションデバイス、(xv)酵素消化または酵素分解フラグメンテーションデバイス、(xvi)イオン−イオン反応フラグメンテーションデバイス、(xvii)イオン−分子反応フラグメンテーションデバイス、(xviii)イオン−原子反応フラグメンテーションデバイス、(xix)イオン−メタステーブルイオン反応フラグメンテーションデバイス、(xx)イオン−メタステーブル分子反応フラグメンテーションデバイス、(xxi)イオン−メタステーブル原子反応フラグメンテーションデバイス、(xxii)イオンを反応させて付加物または生成物イオンを形成するためのイオン−イオン反応デバイス、(xxiii)イオンを反応させて付加物または生成物イオンを形成するためのイオン−分子反応デバイス、(xxiv)イオンを反応させて付加物または生成物イオンを形成するためのイオン−原子反応デバイス、(xxv)イオンを反応させて付加物または生成物イオンを形成するためのイオン−メタステーブルイオン反応デバイス、(xxvi)イオンを反応させて付加物または生成物イオンを形成するためのイオン−メタステーブル分子反応デバイス、および(xxvii)イオンを反応させて付加物または生成物イオンを形成するためのイオン−メタステーブル原子反応デバイスからなる群から選択される衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスをさらに含む、請求項70〜84のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記質量分析器のサイクル時間の間またはそれにわたって前記質量分析器と前記衝突、フラグメンテーションまたは反応セルとの間のポテンシャル差を順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合される手段をさらに含む、請求項84または85に記載の質量分析計。
- 前記質量分析器の下流に配置されたさらなる質量分析器をさらに含む、請求項70〜86のいずれかに記載の質量分析計。
- 前記さらなる質量分析器は、(i)フーリエ変換(「FT」)質量分析器、(ii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(「FTICR」)質量分析器、(iii)飛行時間(「TOF」)質量分析器、(iv)直交加速飛行時間(「oaTOF」)質量分析器、(v)軸方向加速飛行時間質量分析器、(vi)扇形磁場質量分析計、(vii)ポールまたは3D四重極質量分析器、(viii)2Dまたは直線四重極質量分析器、(ix)ペニングトラップ質量分析器、(x)イオントラップ質量分析器、(xi)フーリエ変換オービトラップ、(xii)静電イオンサイクロトロン共鳴質量分析計、(xiii)静電フーリエ変換質量分析計、および(xiv)四重極ロッドセット質量フィルタまたは質量分析器からなる群から選択される、請求項87に記載の質量分析計。
- 前記さらなる分析器の質量電荷比移送ウィンドウを前記質量分析器のサイクル時間の間またはそれにわたって前記質量分析器の動作に同期して順次増加させる、順次低減させる、順次変化させる、スキャンする、直線的に増加させる、直線的に低減させる、段階的、順次もしくは他のやり方で増加させる、または段階的、順次もしくは他のやり方で低減させるように構成および適合された手段をさらに含む、請求項87または88に記載の質量分析計。
- イオンを質量分析する方法であって、
複数の電極を含むイオンガイドを準備するステップと、
使用時に複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸が前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿って形成されるように、ACまたはRF電圧を前記複数の電極のうちの少なくともいくつかに印加するステップと、
一動作モードにおいて、第1の範囲内に質量電荷比を有するイオンが前記イオンガイドを出射しつつ、第2の異なる範囲内に質量電荷比を有するイオンが前記複数の軸方向時間平均または擬ポテンシャル障壁、波形もしくは井戸によって前記イオンガイド内に軸方向にトラップまたは閉じ込められるように、イオンを前記イオンガイドの軸方向長さの少なくとも一部に沿っておよび/または通って駆動または推進するステップと
を含む方法。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GBGB0522327.6A GB0522327D0 (en) | 2005-11-01 | 2005-11-01 | Mass spectrometer |
GB0522327.6 | 2005-11-01 | ||
US73505805P | 2005-11-09 | 2005-11-09 | |
US60/735,058 | 2005-11-09 | ||
PCT/GB2006/004078 WO2007052025A2 (en) | 2005-11-01 | 2006-11-01 | Mass spectrometer |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009514179A true JP2009514179A (ja) | 2009-04-02 |
JP2009514179A5 JP2009514179A5 (ja) | 2011-05-06 |
JP4778560B2 JP4778560B2 (ja) | 2011-09-21 |
Family
ID=35516180
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008538408A Active JP4778560B2 (ja) | 2005-11-01 | 2006-11-01 | 質量分析計 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9184039B2 (ja) |
EP (1) | EP1943663B1 (ja) |
JP (1) | JP4778560B2 (ja) |
CN (1) | CN101305444B (ja) |
CA (1) | CA2626209C (ja) |
GB (2) | GB0522327D0 (ja) |
HK (1) | HK1120926A1 (ja) |
WO (1) | WO2007052025A2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008084850A (ja) * | 2006-08-30 | 2008-04-10 | Hitachi High-Technologies Corp | イオントラップ飛行時間型質量分析装置 |
JP2009535761A (ja) * | 2006-04-28 | 2009-10-01 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
US8455819B2 (en) | 2006-04-28 | 2013-06-04 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer device and method using scanned phase applied potentials in ion guidance |
JP2019091700A (ja) * | 2019-01-04 | 2019-06-13 | 908 デバイセズ インク.908 Devices Inc. | コンパクトな質量分析計 |
Families Citing this family (48)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008007069A2 (en) * | 2006-07-10 | 2008-01-17 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
GB0514964D0 (en) | 2005-07-21 | 2005-08-24 | Ms Horizons Ltd | Mass spectrometer devices & methods of performing mass spectrometry |
GB2440613B (en) * | 2005-07-21 | 2010-04-14 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
US10073056B2 (en) * | 2006-02-14 | 2018-09-11 | Excellims Corporation | Practical ion mobility spectrometer apparatus and methods for chemical and/or biological detection |
US10309929B2 (en) * | 2006-02-14 | 2019-06-04 | Excellims Corporation | Practical ion mobility spectrometer apparatus and methods for chemical and/or biological detection |
US10794862B2 (en) * | 2006-11-28 | 2020-10-06 | Excellims Corp. | Practical ion mobility spectrometer apparatus and methods for chemical and/or biological detection |
US8067730B2 (en) | 2007-07-20 | 2011-11-29 | The George Washington University | Laser ablation electrospray ionization (LAESI) for atmospheric pressure, In vivo, and imaging mass spectrometry |
US8901487B2 (en) | 2007-07-20 | 2014-12-02 | George Washington University | Subcellular analysis by laser ablation electrospray ionization mass spectrometry |
US7964843B2 (en) | 2008-07-18 | 2011-06-21 | The George Washington University | Three-dimensional molecular imaging by infrared laser ablation electrospray ionization mass spectrometry |
GB0718468D0 (en) * | 2007-09-21 | 2007-10-31 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
GB0800526D0 (en) | 2008-01-11 | 2008-02-20 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
US7952070B2 (en) * | 2009-01-12 | 2011-05-31 | Thermo Finnigan Llc | Interlaced Y multipole |
EP2430404A4 (en) * | 2009-05-11 | 2016-10-26 | Thermo Finnigan Llc | ION POPULATION CONTROL IN A MASS SPECTROMETER WITH MASS-ACTIVE TRANSMISSION OPTICS |
US20110149252A1 (en) * | 2009-12-21 | 2011-06-23 | Matthew Keith Schwiebert | Electrohydrodynamic Air Mover Performance |
EP2517223A4 (en) * | 2009-12-23 | 2015-11-18 | Academia Sinica | DEVICES AND METHOD FOR PORTABLE MASS SPECTROMETRY |
US8829434B2 (en) * | 2010-11-19 | 2014-09-09 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometer and mass spectrometry method |
EP2732457A4 (en) | 2011-07-14 | 2015-09-16 | Univ George Washington | COLLIMATION OF PANACES FOR MASS SPECTROMETRY WITH IONIZATION BY ELECTROPULVERIZATION IN LASER ABLATION |
WO2013022747A1 (en) * | 2011-08-05 | 2013-02-14 | Academia Sinica | Step-scan ion trap mass spectrometry for high speed proteomics |
US9324551B2 (en) | 2012-03-16 | 2016-04-26 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer and method of driving ion guide |
JP5870848B2 (ja) * | 2012-05-28 | 2016-03-01 | 株式会社島津製作所 | イオンガイド及び質量分析装置 |
JP6102543B2 (ja) | 2013-06-17 | 2017-03-29 | セイコーエプソン株式会社 | 液晶装置の駆動方法、液晶装置、電子機器 |
GB2541795B (en) | 2014-05-23 | 2018-04-11 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Method and apparatus for mass spectrometry of macromolecular complexes |
JP6394438B2 (ja) | 2015-02-27 | 2018-09-26 | セイコーエプソン株式会社 | 液晶装置及び電子機器 |
US20160260594A1 (en) * | 2015-03-02 | 2016-09-08 | Bayspec, Inc. | Sample Inlet and Vacuum System for Portable Mass Spectrometer |
CN107144626B (zh) * | 2016-03-01 | 2019-11-05 | 合肥美亚光电技术股份有限公司 | 离子选择性光解离装置、方法以及仪器 |
US10727036B2 (en) * | 2016-04-14 | 2020-07-28 | Micromass Uk Limited | Two dimensional MSMS |
CN107305833B (zh) | 2016-04-25 | 2019-05-28 | 株式会社岛津制作所 | 离子光学装置 |
GB201609243D0 (en) * | 2016-05-25 | 2016-07-06 | Micromass Ltd | Efficient ion tapping |
GB201614540D0 (en) * | 2016-08-26 | 2016-10-12 | Micromass Ltd | Controlling ion temperature in an ion guide |
GB201802917D0 (en) | 2018-02-22 | 2018-04-11 | Micromass Ltd | Charge detection mass spectrometry |
GB201808894D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
GB201808912D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Bench-top time of flight mass spectrometer |
GB201808890D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Bench-top time of flight mass spectrometer |
US11367607B2 (en) | 2018-05-31 | 2022-06-21 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
GB201808932D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Bench-top time of flight mass spectrometer |
WO2019229463A1 (en) | 2018-05-31 | 2019-12-05 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer having fragmentation region |
GB201808949D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Bench-top time of flight mass spectrometer |
GB201808892D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
GB201808936D0 (en) | 2018-05-31 | 2018-07-18 | Micromass Ltd | Bench-top time of flight mass spectrometer |
US10665441B2 (en) | 2018-08-08 | 2020-05-26 | Thermo Finnigan Llc | Methods and apparatus for improved tandem mass spectrometry duty cycle |
GB201819372D0 (en) * | 2018-11-28 | 2019-01-09 | Shimadzu Corp | Apparatus for analysing ions |
US10651025B1 (en) | 2018-12-21 | 2020-05-12 | Thermo Finnigan Llc | Orthogonal-flow ion trap array |
US20220130654A1 (en) * | 2019-02-15 | 2022-04-28 | Ohio State Innovation Foundation | Surface-induced dissociation devices and methods |
GB201912489D0 (en) * | 2019-08-30 | 2019-10-16 | Shimadzu Corp | Mass analysis apparatuses and methods |
WO2021207494A1 (en) | 2020-04-09 | 2021-10-14 | Waters Technologies Corporation | Ion detector |
CN113707532A (zh) * | 2020-05-21 | 2021-11-26 | 株式会社岛津制作所 | 质谱仪、质谱方法以及检测系统 |
US11600480B2 (en) | 2020-09-22 | 2023-03-07 | Thermo Finnigan Llc | Methods and apparatus for ion transfer by ion bunching |
GB202020575D0 (en) * | 2020-12-24 | 2021-02-10 | Micromass Ltd | Characterising mixtures of high-mass particles using m/z seperation |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5033895A (ja) * | 1973-07-25 | 1975-04-01 | ||
US4234791A (en) * | 1978-11-13 | 1980-11-18 | Research Corporation | Tandem quadrupole mass spectrometer for selected ion fragmentation studies and low energy collision induced dissociator therefor |
US5206506A (en) * | 1991-02-12 | 1993-04-27 | Kirchner Nicholas J | Ion processing: control and analysis |
AU6653296A (en) * | 1995-08-11 | 1997-03-12 | Mds Health Group Limited | Spectrometer with axial field |
GB0028586D0 (en) * | 2000-11-23 | 2001-01-10 | Univ Warwick | An ion focussing and conveying device |
JP2002184347A (ja) * | 2000-12-12 | 2002-06-28 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
CA2391140C (en) * | 2001-06-25 | 2008-10-07 | Micromass Limited | Mass spectrometer |
US6630662B1 (en) * | 2002-04-24 | 2003-10-07 | Mds Inc. | Setup for mobility separation of ions implementing an ion guide with an axial field and counterflow of gas |
US7034292B1 (en) * | 2002-05-31 | 2006-04-25 | Analytica Of Branford, Inc. | Mass spectrometry with segmented RF multiple ion guides in various pressure regions |
GB0305796D0 (en) * | 2002-07-24 | 2003-04-16 | Micromass Ltd | Method of mass spectrometry and a mass spectrometer |
US7309861B2 (en) * | 2002-09-03 | 2007-12-18 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
US6838662B2 (en) * | 2002-11-08 | 2005-01-04 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
US6838666B2 (en) * | 2003-01-10 | 2005-01-04 | Purdue Research Foundation | Rectilinear ion trap and mass analyzer system and method |
US7459693B2 (en) * | 2003-04-04 | 2008-12-02 | Bruker Daltonics, Inc. | Ion guide for mass spectrometers |
GB0514964D0 (en) * | 2005-07-21 | 2005-08-24 | Ms Horizons Ltd | Mass spectrometer devices & methods of performing mass spectrometry |
EP1704578B1 (en) | 2004-01-09 | 2011-04-27 | Micromass UK Limited | Ion extraction devices and methods of selectively extracting ions |
US7026613B2 (en) * | 2004-01-23 | 2006-04-11 | Thermo Finnigan Llc | Confining positive and negative ions with fast oscillating electric potentials |
JP4684287B2 (ja) | 2004-05-05 | 2011-05-18 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス | 質量選択的な軸方向放出のための方法および装置 |
JP2007538357A (ja) * | 2004-05-20 | 2007-12-27 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス | 質量分析計の入射端および出射端にバリア電界を供給するための方法 |
JP4643206B2 (ja) * | 2004-09-03 | 2011-03-02 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
US7557343B2 (en) * | 2005-09-13 | 2009-07-07 | Agilent Technologies, Inc. | Segmented rod multipole as ion processing cell |
-
2005
- 2005-11-01 GB GBGB0522327.6A patent/GB0522327D0/en not_active Ceased
-
2006
- 2006-11-01 EP EP06794963.6A patent/EP1943663B1/en active Active
- 2006-11-01 WO PCT/GB2006/004078 patent/WO2007052025A2/en active Application Filing
- 2006-11-01 CN CN2006800405783A patent/CN101305444B/zh active Active
- 2006-11-01 CA CA2626209A patent/CA2626209C/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-11-01 GB GB0621787A patent/GB2434249B/en active Active
- 2006-11-01 US US12/092,313 patent/US9184039B2/en active Active
- 2006-11-01 JP JP2008538408A patent/JP4778560B2/ja active Active
-
2009
- 2009-01-02 HK HK09100035.8A patent/HK1120926A1/xx not_active IP Right Cessation
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009535761A (ja) * | 2006-04-28 | 2009-10-01 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
US8455819B2 (en) | 2006-04-28 | 2013-06-04 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer device and method using scanned phase applied potentials in ion guidance |
JP2008084850A (ja) * | 2006-08-30 | 2008-04-10 | Hitachi High-Technologies Corp | イオントラップ飛行時間型質量分析装置 |
JP2019091700A (ja) * | 2019-01-04 | 2019-06-13 | 908 デバイセズ インク.908 Devices Inc. | コンパクトな質量分析計 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2434249B (en) | 2010-06-09 |
WO2007052025A2 (en) | 2007-05-10 |
EP1943663A2 (en) | 2008-07-16 |
GB0621787D0 (en) | 2006-12-13 |
CN101305444B (zh) | 2011-03-16 |
GB2434249A (en) | 2007-07-18 |
JP4778560B2 (ja) | 2011-09-21 |
WO2007052025A3 (en) | 2008-02-07 |
US9184039B2 (en) | 2015-11-10 |
CA2626209C (en) | 2016-01-05 |
US20090072136A1 (en) | 2009-03-19 |
EP1943663B1 (en) | 2018-01-17 |
GB0522327D0 (en) | 2005-12-07 |
CN101305444A (zh) | 2008-11-12 |
HK1120926A1 (en) | 2009-04-09 |
CA2626209A1 (en) | 2007-05-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4778560B2 (ja) | 質量分析計 | |
JP5341753B2 (ja) | 質量分析計 | |
JP5198467B2 (ja) | 質量分析計 | |
JP4913066B2 (ja) | 質量分析計 | |
JP5290960B2 (ja) | 質量分析計 | |
EP2526562B1 (en) | Mass to charge ratio selective ejection from ion guide having supplemental rf voltage applied thereto | |
JP2016507151A (ja) | 自動排出イオントラップを用いた質量分析器における、気相反応の改善された効率および精密制御 | |
US9653279B2 (en) | Device allowing improved reaction monitoring of gas phase reactions in mass spectrometers using an auto ejection ion trap | |
GB2440613A (en) | A mass analyzer utilising a plurality of axial pseudo-potential wells | |
GB2512474A (en) | Device allowing improved reaction monitoring of gas phase reactions in mass spectrometers using an auto ejection ion trap | |
US11415547B2 (en) | Ion filtering devices |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091030 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110315 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20110315 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110405 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20110331 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110513 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110602 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110701 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4778560 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140708 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |