JP2009294616A - Exposure drawing device - Google Patents

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exposure
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Shuichi Shimizu
修一 清水
Takeki Shoda
雄樹 正田
Akira Morita
亮 森田
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Orc Manufacturing Co Ltd
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Orc Manufacturing Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an exposure drawing device which presses a substrate on an exposure drawing table, flatly stretches the substrate so that it is closely attached to the table, and forms an accurate drawn pattern. <P>SOLUTION: The exposure drawing device includes: a projection optical system (35) which projects ultraviolet light on a substrate (SW); a drawing table (15) on which the substrate (SW) is placed and which moves the substrate (SW) in a first direction relatively to the projection optical system (35) and in a second direction intersecting the first direction; and substrate pressing means (40) to press the periphery of an exposure area (49) irradiated with the ultraviolet light on the drawing table (15). <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、感光材料層が形成されている平面基板に、描画パターンを描画露光させる露光描画装置に関する。   The present invention relates to an exposure drawing apparatus that draws and exposes a drawing pattern on a flat substrate on which a photosensitive material layer is formed.

電子回路基板(プリント回路基板、以下は基板とする)は、例えば、携帯電話,各種モバイル,パーソナルコンピュータ等の電子機器に搭載されている。これらの電子機器の小型化に伴い、基板上に形成される回路パターンにおける配線、接続用ランド又はビア等についても、微細パターンを要求される傾向にある。   Electronic circuit boards (printed circuit boards, hereinafter referred to as boards) are mounted on electronic devices such as mobile phones, various mobile devices, and personal computers. Along with the miniaturization of these electronic devices, a fine pattern tends to be required for wiring, connection lands, vias, and the like in a circuit pattern formed on a substrate.

それらの要求に応えるには、従来のコンタクト方式の露光装置では、予め描画対象パターンと等倍のマスクを予め用意し、そのマスクを正常に管理・維持しなければならない。一方、ダイレクト露光方式の露光描画装置では、描画パターンをイメージ化した描画データに基づいてDMD(Digital Micro-mirror Device)等の光空間変調素子が形成したイメージの像を基板の表面に投影することによって描画パターンを描画する。この描画方法では、多量の基板に対して正確に描画パターンを形成している。   In order to meet these requirements, in a conventional contact-type exposure apparatus, a mask having the same size as the drawing target pattern must be prepared in advance, and the mask must be normally managed and maintained. On the other hand, in an exposure drawing apparatus of the direct exposure method, an image of an image formed by a light spatial modulation element such as a DMD (Digital Micro-mirror Device) is projected on the surface of a substrate based on drawing data obtained by converting a drawing pattern into an image. A drawing pattern is drawn by. In this drawing method, a drawing pattern is accurately formed on a large number of substrates.

ところが、露光描画装置に投入される基板は、熱処理が行われるため、反ったり変形したりして露光描画装置に投入されることになる。従って、露光描画装置は基板を露光描画テーブルに密着させるために、露光描画テーブルに変形した基板を平らに固定する様々な手段が講じられてきた。特許文献1では基板の2辺の端部を加圧して、基板を露光描画テーブルに吸着させている。特許文献2では基板の4辺の端部をクランプすることで加圧して、基板を露光描画テーブルに吸着させている。
特開2008−18347号公報 特開2008−83478号公報
However, since the substrate put into the exposure drawing apparatus is subjected to heat treatment, it is warped or deformed and put into the exposure drawing apparatus. Therefore, in order to bring the substrate into close contact with the exposure drawing table, various means for fixing the deformed substrate to the exposure drawing table have been taken in the exposure drawing apparatus. In patent document 1, the edge part of 2 sides of a board | substrate is pressurized, and a board | substrate is made to adsorb | suck to an exposure drawing table. In Patent Document 2, pressure is applied by clamping the edges of the four sides of the substrate, and the substrate is sucked onto the exposure drawing table.
JP 2008-18347 A JP 2008-83478 A

実装される装置及びユニットが小型及び薄型になるにつれ、さらに最近の基板は薄くなる傾向にある。基板の薄型化は露光描画工程までの熱処理工程による基板の反りが起こりやすい。描画パターンを描画する露光描画装置では、熱のために周辺が反ることで波状に変形して、真空吸着機構だけでは露光テーブルに密着しにくい状態になる。したがって、露光描画装置において、特許文献1及び特許文献2においての加圧方法では、薄型化する基板を十分に均一平面にすることができず、正確な描画パターンを形成することができない。   As devices and units to be mounted become smaller and thinner, more recent substrates tend to be thinner. When the substrate is thinned, the substrate is likely to warp due to the heat treatment process up to the exposure drawing process. In an exposure drawing apparatus that draws a drawing pattern, the periphery is warped due to heat and deforms into a wave shape, and the vacuum suction mechanism alone makes it difficult to adhere to the exposure table. Therefore, in the exposure drawing apparatus, the pressurization method in Patent Document 1 and Patent Document 2 cannot make the substrate to be thinned sufficiently uniform and cannot form an accurate drawing pattern.

そこで、本発明の露光描画装置は、薄型化する基板においても描画パターンを描画する露光描画装置にて、基板を露光描画テーブルに押圧し、該基板を平面状に伸ばしてテーブルに密着させて正確な描画パターンを形成する。   Therefore, the exposure drawing apparatus of the present invention accurately presses the substrate against the exposure drawing table and draws the substrate into a flat surface and closely contacts the table with the exposure drawing apparatus that draws a drawing pattern even on a thin substrate. A simple drawing pattern is formed.

これらの課題を解決するために本発明では、露光描画装置の露光描画ステップにおいて、反って変形した基板を露光描画テーブルに平面に押圧できる手段を有する露光描画装置を提供することになる。   In order to solve these problems, the present invention provides an exposure drawing apparatus having means capable of pressing a warped and deformed substrate against a flat surface on an exposure drawing table in the exposure drawing step of the exposure drawing apparatus.

そこで第1の観点の露光描画装置は、紫外光を基板に投影する投影光学系と、基板を載置して投影光学系と相対的に第1方向及びこの第1方向と交差する第2方向に移動する描画テーブルと、描画テーブル側に紫外光が照射される露光領域の周囲を押圧する基板押圧手段と、を備える。
基板の中央で反っていても、基板押圧手段は、基板を平面に矯正し精度の高い描画パターンを形成することができる。
Therefore, an exposure drawing apparatus according to a first aspect includes a projection optical system that projects ultraviolet light onto a substrate, a first direction that is placed on the substrate and is relatively relative to the projection optical system, and a second direction that intersects the first direction. And a substrate pressing means for pressing around the exposure area where the drawing table is irradiated with ultraviolet light.
Even if the substrate is warped in the center, the substrate pressing means can correct the substrate to a flat surface and form a highly accurate drawing pattern.

第2の観点の露光描画装置の基板押圧手段は、露光領域に対して第1方向及び第2方向にそれぞれ配置された回転ローラである。
回転ローラで基板を押圧するため、基板との摩擦を小さくするとともに確実に基板の反りを無くすことができる。
第3の観点の露光描画装置は、第2の観点において、ドライフィルムレジストが設けられている。
The substrate pressing means of the exposure drawing apparatus according to the second aspect is a rotating roller arranged in each of the first direction and the second direction with respect to the exposure region.
Since the substrate is pressed by the rotating roller, the friction with the substrate can be reduced and the warpage of the substrate can be reliably eliminated.
The exposure drawing apparatus of the 3rd viewpoint is provided with the dry film resist in the 2nd viewpoint.

第4の観点の露光描画装置は、第2又は第3の観点において、描画テーブルが第2方向に移動する際に回転ローラと基板とが非接触の状態になる。   In the exposure drawing apparatus according to the fourth aspect, in the second or third aspect, when the drawing table moves in the second direction, the rotating roller and the substrate are not in contact with each other.

第5の観点の露光描画装置の基板押圧手段は、露光領域に対して第1方向及び第2方向にそれぞれ配置され、基板にガスを吹き付けるガス噴出部である。
ガスを吹き付けて基板を押圧するため、基板との摩擦をほどんど無くすることができ、さらに基板の反りを無くすことができる。
The substrate pressing means of the exposure drawing apparatus according to the fifth aspect is a gas ejection unit that is arranged in each of the first direction and the second direction with respect to the exposure region and blows gas onto the substrate.
Since the gas is blown to press the substrate, the friction with the substrate can be almost eliminated, and further the warp of the substrate can be eliminated.

第6の観点の露光描画装置は、第5の観点において、基板に液体レジストが塗布されている。   In an exposure drawing apparatus according to a sixth aspect, in the fifth aspect, a liquid resist is applied to the substrate.

第7の観点の露光描画装置は、第5又は第6の観点において、ガス噴出部による押圧は、ガスの噴出量又はガス噴出部と基板との距離を調整することで決められる。   In the exposure drawing apparatus of the seventh aspect, in the fifth or sixth aspect, the pressing by the gas ejection part is determined by adjusting the gas ejection amount or the distance between the gas ejection part and the substrate.

本発明の露光描画装置は、露光描画領域の基板を平面状に伸ばすことで、基板が露光描画テーブル上に密着し、描画パターンを正確に形成することができる。   In the exposure drawing apparatus of the present invention, the substrate in the exposure drawing region is stretched in a planar shape, whereby the substrate is brought into close contact with the exposure drawing table, and the drawing pattern can be accurately formed.

《第一実施形態》
以下に、本発明の露光描画装置100について説明する。図1は露光描画装置100の全体斜視図である。ただし、露光描画装置の光学系を説明するために一部をカットして内部構造を示してある。
<< first embodiment >>
Below, the exposure drawing apparatus 100 of this invention is demonstrated. FIG. 1 is an overall perspective view of the exposure drawing apparatus 100. However, in order to explain the optical system of the exposure drawing apparatus, a part thereof is cut to show the internal structure.

<露光描画装置100の構成>
露光描画装置100は、フォトレジスト等の感光材料を表面に塗布した基板SWへ紫外光UVを照射することにより、描画パターンを形成する装置である。露光描画装置100は筐体底部11をベースに筐体底部11の側面にゲート構造部12が接続され、ゲート構造部12の上に2箇所の光学系20が設置されている。ゲート構造部12の間には露光描画部30が配置されている。露光描画部30の前面にはスライド13が設置されており、スライド13にはアライメントカメラACが2箇所に設置されている。なお、必要に応じてアライメントカメラACは3箇所以上の複数箇所に設置して、より基板SWの位置を正確に計測することもできる。
<Configuration of exposure drawing apparatus 100>
The exposure drawing apparatus 100 is an apparatus that forms a drawing pattern by irradiating the substrate SW coated with a photosensitive material such as a photoresist with ultraviolet light UV. In the exposure drawing apparatus 100, a gate structure 12 is connected to a side surface of the housing bottom 11 based on the housing bottom 11, and two optical systems 20 are installed on the gate structure 12. An exposure drawing unit 30 is disposed between the gate structure units 12. Slides 13 are installed on the front surface of the exposure drawing unit 30, and alignment cameras AC are installed on the slide 13 at two locations. If necessary, the alignment cameras AC can be installed at a plurality of three or more locations to more accurately measure the position of the substrate SW.

筐体底部11の上には移動テーブル15が設置され、移動テーブル15は筐体底部11のX軸方向及びY軸方向に移動可能であり、移動テーブル15に基板SWが載置される。なお、移動テーブル15は、例えばリニア移動手段にて基板SWを精密に筐体のX軸方向及びY軸方向に移動可能となっている。なお移動テーブル15は、リニア移動手段だけでなく、ボールねじと、スライドウエイと、ねじ駆動用モータ等で構成する移動手段を用いてもよい。いずれの移動手段においても移動用と現在位置を正確に反映する制御ができる機構であれば構わない。露光描画装置100の制御はメイン制御部90が行い、移動テーブル15、光学系20、露光描画部30及びアライメントカメラACなどを制御している。メイン制御部90の制御系については後述する。   A moving table 15 is installed on the housing bottom 11, the moving table 15 is movable in the X-axis direction and the Y-axis direction of the housing bottom 11, and the substrate SW is placed on the moving table 15. The moving table 15 can move the substrate SW precisely in the X-axis direction and the Y-axis direction of the housing by, for example, linear moving means. The moving table 15 may use not only linear moving means but also moving means constituted by a ball screw, a slide way, a screw driving motor, and the like. Any moving mechanism may be used as long as it can control movement and accurately reflect the current position. The exposure drawing apparatus 100 is controlled by the main control unit 90 and controls the moving table 15, the optical system 20, the exposure drawing unit 30, the alignment camera AC, and the like. The control system of the main control unit 90 will be described later.

光源部20は同じ内部構成を持つ2箇所の光源部20aと,光源部20bとで構成されている。光源部20aと,光源部20bとは同じ構成のため光源部20aを代表して説明する。   The light source unit 20 includes two light source units 20a having the same internal configuration and a light source unit 20b. Since the light source unit 20a and the light source unit 20b have the same configuration, the light source unit 20a will be described as a representative.

光源部20aはUVランプ21と、第1全反射ミラー22、コンデンサーレンズ23、第2全反射ミラー24、フライアイレンズ25、楕円ミラー26及びアパーチャ(不図示)とから構成されている。なお、光源部20からは365nmから440nmまでの各種の波長が混在した紫外光UVが発射されている。   The light source unit 20a includes a UV lamp 21, a first total reflection mirror 22, a condenser lens 23, a second total reflection mirror 24, a fly-eye lens 25, an elliptical mirror 26, and an aperture (not shown). The light source 20 emits ultraviolet light UV in which various wavelengths from 365 nm to 440 nm are mixed.

光源部20aはUVランプ21から発する露光描画に適した紫外光UVは、楕円ミラー26により天方向(+Z軸方向)に射出され、第1全反射ミラー22により水平方向に向きを変え、コンデンサーレンズ23にて集光され、第2全反射ミラー24にて地面方向(−Z軸方向)に向きを変える。向きを変えた紫外光UVはフライアイレンズ25及びアパーチャを経て露光描画部30に入射する。   The light source unit 20a emits ultraviolet light UV, which is suitable for exposure drawing from the UV lamp 21, is emitted in the celestial direction (+ Z-axis direction) by the elliptical mirror 26, is changed in the horizontal direction by the first total reflection mirror 22, and is a condenser lens. 23, and the direction is changed to the ground direction (−Z axis direction) by the second total reflection mirror 24. The ultraviolet light UV whose direction is changed enters the exposure drawing unit 30 through the fly-eye lens 25 and the aperture.

露光描画部30は光分岐部31、第1投影レンズ32、反射ミラー33、DMD(ダイレクト・マイクロ・ミラー・デバイス)素子34及び第2投影レンズ群35で構成されている。   The exposure drawing unit 30 includes a light branching unit 31, a first projection lens 32, a reflection mirror 33, a DMD (direct micro mirror device) element 34, and a second projection lens group 35.

露光描画部30に入射した紫外光UVは光分岐部31で4分岐されたビームとなる。ビームは更に8個の第1投影レンズ32と、8個の反射ミラー33とを経由して、8個のDMD素子34に入射することで制御されたビームとなる。この制御されたビームは8個の第2投影レンズ群35を通過することで、投影する露光描画の倍率を調整して、基板SWに照射される。つまり、露光描画装置100は、所望の描画像をあらかじめ収納してある描画データに従い、光源部20a及び光源部20bの紫外光UVを制御することで、所定の倍率と光量とを基板に照射することができる。なお、露光描画装置100は紫外光UVの通過経路の途中にシャッタ(不図示)を設けて紫外光UVの光量の制御、または不要な紫外光UVの除去を行ってもよい。   The ultraviolet light UV incident on the exposure drawing unit 30 becomes a beam branched into four by the light branching unit 31. The beam is further controlled by being incident on eight DMD elements 34 via eight first projection lenses 32 and eight reflection mirrors 33. The controlled beam passes through the eight second projection lens groups 35 to adjust the magnification of the exposure drawing to be projected, and is irradiated onto the substrate SW. That is, the exposure drawing apparatus 100 irradiates the substrate with a predetermined magnification and light quantity by controlling the ultraviolet light UV of the light source unit 20a and the light source unit 20b in accordance with drawing data in which a desired drawing image is stored in advance. be able to. Note that the exposure / drawing apparatus 100 may be provided with a shutter (not shown) in the middle of the passage path of the ultraviolet light UV to control the amount of the ultraviolet light UV or to remove unnecessary ultraviolet light UV.

アライメントカメラACは、基板SWの幅方向(Y軸方向)に移動可能であり、スライド13に沿って移動する。スライド13はリニア駆動又はモータ駆動にて、基板SWのアライメントマークAMを撮像するように、Y軸方向にアライメントカメラACを動かすことができる。アライメントカメラACは、第1面の基板SWのアライメントマークAMを検出して、基板SWの位置確認をしている。本実施形態では2箇所にアライメントカメラACを設置しているが、基板SWの露光像の描画パターンが精細な場合には3箇所以上に増加させ、アライメントマークAMの間隔を狭くしても構わない。   The alignment camera AC is movable in the width direction (Y-axis direction) of the substrate SW and moves along the slide 13. The slide camera 13 can move the alignment camera AC in the Y-axis direction so as to image the alignment mark AM of the substrate SW by linear driving or motor driving. The alignment camera AC detects the alignment mark AM of the substrate SW on the first surface and confirms the position of the substrate SW. In this embodiment, the alignment cameras AC are installed at two locations. However, when the drawing pattern of the exposure image of the substrate SW is fine, the alignment camera AM may be increased to three locations or more to narrow the interval between the alignment marks AM. .

<基板固定手段>
露光描画装置100に搬送される基板SWは薄く形成されたX軸方向に600mm程度、Y軸方向に500mm程度の大きな基板であり、紫外光UVで露光描画できるようにレジスト層が形成されている。基板SWにレジスト層を積層するために本実施形態では感光性ドライフィルムを用いる。感光性ドライフィルムは片面にレジスト層が形成されているタイプを用いており、もう一方の片面はレジスト層が形成されていない。感光性ドライフィルムはレジスト層側を基板SWの表面に接着させることで、フィルム側が大気と接触する面となる。感光性ドライフィルムは、接着後に後熱処理することで基板SWに固着させる。
<Board fixing means>
The substrate SW conveyed to the exposure drawing apparatus 100 is a thin substrate having a thickness of about 600 mm in the X-axis direction and about 500 mm in the Y-axis direction, and a resist layer is formed so that exposure drawing can be performed with ultraviolet light UV. . In this embodiment, a photosensitive dry film is used for laminating a resist layer on the substrate SW. The photosensitive dry film uses a type in which a resist layer is formed on one side, and the resist layer is not formed on the other side. In the photosensitive dry film, the resist layer side is adhered to the surface of the substrate SW so that the film side comes into contact with the atmosphere. The photosensitive dry film is fixed to the substrate SW by post-heat treatment after bonding.

感光性ドライフィルムのレジスト面を接着した基板SWは露光描画装置100の移動テーブル15の所定位置に搬送され、吸着固定される。吸着固定した基板SWは移動テーブル15がX軸方向へ移動することで、ゲート構造部12の下部に搬送される。ゲート構造部12の下部ではアライメントカメラACでアライメントマークAMを検出し、露光描画処理を行う。   The substrate SW to which the resist surface of the photosensitive dry film is bonded is conveyed to a predetermined position of the moving table 15 of the exposure drawing apparatus 100 and is fixed by suction. The suction-fixed substrate SW is transported to the lower part of the gate structure 12 as the moving table 15 moves in the X-axis direction. Under the gate structure 12, the alignment mark AM is detected by the alignment camera AC, and exposure drawing processing is performed.

図2は移動テーブル15の構成を示した図である。図2(a)は移動テーブル15の断面の構成図を示し、図2(b)は移動テーブル15の上面図を示している。移動テーブル15の表面は均一平面を形成しており、基板SWを吸着固定するための吸着口16が複数箇所に設置され、吸着配管17に接続されている。移動テーブル15は吸着配管17より吸引ポンプ(不図示)で吸引することで移動テーブル15に載置した基板SWを吸着口16で吸着固定する。吸着口16は図2(b)で示すように、基板SWが載置される領域(破線で表示)に均等に形成され、基板SWを均一な圧力で吸着することができるような構造となっている。なお、移動テーブル15は静電吸着方式を採用することで、基板SWを吸着してもよい。   FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the movement table 15. FIG. 2A shows a cross-sectional configuration diagram of the moving table 15, and FIG. 2B shows a top view of the moving table 15. The surface of the moving table 15 forms a uniform plane, and suction ports 16 for sucking and fixing the substrate SW are installed at a plurality of locations and connected to the suction pipe 17. The moving table 15 is sucked by a suction pump (not shown) from the suction pipe 17 so that the substrate SW placed on the moving table 15 is sucked and fixed by the suction port 16. As shown in FIG. 2B, the suction ports 16 are formed uniformly in a region (indicated by a broken line) on which the substrate SW is placed, and have a structure capable of sucking the substrate SW with a uniform pressure. ing. The moving table 15 may suck the substrate SW by adopting an electrostatic chucking method.

変形した基板SWは上記の基板固定手段を用いても、基板SWを均一平面にすることができない場合があるため、本実施形態では露光描画部30の直下の露光描画する範囲において、基板SWを均一にするために基板押圧部40を設置する。   Since the deformed substrate SW may not be able to be a uniform plane even when the above-described substrate fixing means is used, in this embodiment, the substrate SW is placed within the exposure drawing range immediately below the exposure drawing unit 30. In order to make it uniform, the board | substrate press part 40 is installed.

図3は露光描画装置100の上面図であり、光源部20及び露光描画部30を取り除いて、基板押圧部40の配置を示した図である。図4はゲート構造部12の下部に設置された基板押圧部40の斜視図である。基板押圧部40は移動テーブル15と露光描画部30との間に設置され、基板押圧部40と移動テーブル15との間に基板SWがX軸方向に通過する。基板SWは吸着固定されているが、部分的に数ミリメートルも反っていることがあるため、露光範囲の周辺を押圧することで均一平面を形成する必要がある。   FIG. 3 is a top view of the exposure drawing apparatus 100, and shows the arrangement of the substrate pressing unit 40 with the light source unit 20 and the exposure drawing unit 30 removed. FIG. 4 is a perspective view of the substrate pressing portion 40 installed at the lower portion of the gate structure portion 12. The substrate pressing unit 40 is installed between the moving table 15 and the exposure drawing unit 30, and the substrate SW passes between the substrate pressing unit 40 and the moving table 15 in the X-axis direction. Although the substrate SW is fixed by suction, it may be partially warped by several millimeters, so that it is necessary to form a uniform plane by pressing the periphery of the exposure range.

図4に示されるように、基板押圧部40は、基板を押圧する複数のローラ41とブラケット42で構成されている。ブラケット42は紫外光UVからの熱などで変形しにくい素材で形成され、ローラ41は回転軸43で保持され自由回転することができる。ローラ41は基板SWの搬送方向順に8個の前部ローラ41a、9個の中部ローラ41b、8個の後部ローラ41cが配置し、前部ローラ41aは前部回転軸43aで、中部ローラ41bは中部回転軸43b、後部ローラ41cは後部回転軸43cで保持されている。また、ローラ41は基板に均一な平面を形成するために、移動テーブル15との接触面が均一な圧力で接触するように水平に配置する。回転軸43も同様に移動テーブル15と水平に配置され、前部回転軸43a及び後部回転軸43cはそれぞれ8個の前部ローラ41a及び8個の後部ローラ41cを貫通するように形成されている。中部回転軸43bは9箇所に形成されており、9個の中部ローラ41bを片持ち式で支えている。露光描画部30の第2投影レンズ群35の描画領域49は、前部ローラ41aと、中部ローラ41bと、後部ローラ41cとで囲まれた領域であり、基板SWに紫外光UVで描画パターンを描画する領域である。複数のローラ41の素材は基板SWの表面にダメージを与えないように樹脂性であることが望ましく、通常の鋼製のベアリングであっても構わない。   As shown in FIG. 4, the substrate pressing portion 40 includes a plurality of rollers 41 and a bracket 42 that press the substrate. The bracket 42 is formed of a material that is not easily deformed by heat from the ultraviolet light UV, and the roller 41 is held by a rotating shaft 43 and can freely rotate. The roller 41 includes eight front rollers 41a, nine middle rollers 41b, and eight rear rollers 41c arranged in the order in which the substrate SW is conveyed. The front roller 41a is a front rotating shaft 43a, and the middle roller 41b is The middle rotating shaft 43b and the rear roller 41c are held by the rear rotating shaft 43c. In addition, the roller 41 is horizontally arranged so that the contact surface with the moving table 15 contacts with a uniform pressure in order to form a uniform plane on the substrate. Similarly, the rotary shaft 43 is also arranged horizontally with the moving table 15, and the front rotary shaft 43a and the rear rotary shaft 43c are formed so as to pass through the eight front rollers 41a and the eight rear rollers 41c, respectively. . The middle rotating shaft 43b is formed at nine locations, and supports the nine middle rollers 41b in a cantilever manner. The drawing region 49 of the second projection lens group 35 of the exposure drawing unit 30 is a region surrounded by the front roller 41a, the middle roller 41b, and the rear roller 41c, and a drawing pattern is formed on the substrate SW with ultraviolet light UV. This is the area to draw. The material of the plurality of rollers 41 is preferably resinous so as not to damage the surface of the substrate SW, and may be a normal steel bearing.

図5(a)は露光描画部30の描画領域49を示した上面図であり、第2投影レンズ群35及び基板押圧部40との関係を示した図である。図5(b)は(a)の側面図である。描画領域49のX軸方向の大きさは15mm程度であり、Y軸方向に25mm程度である。   FIG. 5A is a top view showing the drawing region 49 of the exposure drawing unit 30 and is a diagram showing the relationship between the second projection lens group 35 and the substrate pressing unit 40. FIG. 5B is a side view of FIG. The size of the drawing region 49 in the X-axis direction is about 15 mm and about 25 mm in the Y-axis direction.

8箇所の第2投影レンズ群35から射出される紫外光UVは8箇所の描画領域49a、描画領域49b、描画領域49c、描画領域49d、描画領域49e、描画領域49f、描画領域49g及び描画領域49hの空間を確保しておき、描画領域内で描画パターンを形成することができる。図5(a)に示すように描画領域49の周囲にローラ41が配置されており、4方のローラ41が基板SWを押圧して移動テーブル15で吸着することで描画領域49の基板SWは均一平面に保たれる。   The ultraviolet light UV emitted from the eight second projection lens groups 35 includes eight drawing regions 49a, drawing regions 49b, drawing regions 49c, drawing regions 49d, drawing regions 49e, drawing regions 49f, drawing regions 49g, and drawing regions. A drawing pattern can be formed in the drawing area by securing a space of 49h. As shown in FIG. 5A, rollers 41 are arranged around the drawing area 49, and the four rollers 41 press the substrate SW and attract the moving table 15 so that the substrate SW in the drawing area 49 is A uniform plane is maintained.

図6は基板SWに描画パターンを描画する描画領域49の経路を示した図である。露光描画部30は8箇所の第2投影レンズ群35で8箇所の描画領域49aから描画領域49hが描画される。第2投影レンズ群35は基板SWのY軸方向に平行に設置しているため、描画領域49は基板SWが+X軸方向に移動することで、相対的に−X軸方向に移動する。以下は代表して描画領域49aについて説明するが、描画領域49bから描画領域49gも同様に−X軸方向に移動する。   FIG. 6 is a diagram showing a path of a drawing area 49 for drawing a drawing pattern on the substrate SW. The exposure drawing unit 30 draws the drawing area 49h from the eight drawing areas 49a by the eight second projection lens groups 35. Since the second projection lens group 35 is installed parallel to the Y-axis direction of the substrate SW, the drawing region 49 relatively moves in the −X-axis direction when the substrate SW moves in the + X-axis direction. In the following, the drawing area 49a will be described as a representative, but the drawing area 49b is similarly moved in the −X-axis direction.

露光描画装置100はアライメントカメラACが基板SWの先端側のアライメントマークAM1及びアライメントマークAM3を検知すると、描画領域49aを描画し始める。描画領域49aは移動テーブル15が+X軸方向に移動することで、相対的に矢印AR0方向(−X軸方向)に移動しながら描画パターンを描画していく。露光描画装置100はアライメントカメラACが基板SWの後端側のアライメントマークAM2及びアライメントマークAM4を検知すると、基板SWの後端で描画を中止して、描画領域49aの幅(Y軸方向)の長さ分だけ移動テーブル15を矢印AR1方向(+Y軸方向)に動かす。露光描画装置100は描画を開始して、移動テーブル15を−X軸方向に移動することで、相対的に矢印AR2向(+X軸方向)に移動しながら描画パターンを描画していく。露光描画装置100はアライメントカメラACが基板SWの先端側のアライメントマークAM1及びアライメントマークAM3を検知すると、基板SWの先端で描画を中止して、描画領域49aの幅(Y軸方向)の長さ分だけ移動テーブル15を矢印AR3方向(+Y軸方向)に動かす。露光描画装置100は描画を開始して、移動テーブル15を+X軸方向に移動することで、相対的に矢印AR4方向(−X軸方向)に移動しながら描画パターンを描画していく。露光描画装置100はアライメントカメラACが基板SWの後端側のアライメントマークAM2及びアライメントマークAM4を検知すると、基板SWの後端で描画を中止する。   When the alignment camera AC detects the alignment mark AM1 and alignment mark AM3 on the front end side of the substrate SW, the exposure drawing apparatus 100 starts drawing the drawing area 49a. The drawing area 49a draws a drawing pattern while relatively moving in the arrow AR0 direction (−X axis direction) as the moving table 15 moves in the + X axis direction. When the alignment camera AC detects the alignment mark AM2 and alignment mark AM4 on the rear end side of the substrate SW, the exposure drawing apparatus 100 stops drawing at the rear end of the substrate SW, and the width of the drawing area 49a (Y-axis direction) is reduced. The moving table 15 is moved in the arrow AR1 direction (+ Y-axis direction) by the length. The exposure drawing apparatus 100 starts drawing and moves the moving table 15 in the −X axis direction to draw a drawing pattern while moving relatively in the direction of the arrow AR2 (+ X axis direction). When the alignment camera AC detects the alignment mark AM1 and alignment mark AM3 on the front end side of the substrate SW, the exposure drawing apparatus 100 stops drawing at the front end of the substrate SW, and the width of the drawing area 49a (the Y-axis direction) is the length. The movement table 15 is moved in the direction of the arrow AR3 (+ Y-axis direction) by the amount. The exposure drawing apparatus 100 starts drawing and moves the moving table 15 in the + X-axis direction, thereby drawing a drawing pattern while relatively moving in the arrow AR4 direction (−X-axis direction). When the alignment camera AC detects the alignment mark AM2 and alignment mark AM4 on the rear end side of the substrate SW, the exposure drawing apparatus 100 stops drawing at the rear end of the substrate SW.

つまり、露光描画装置100は移動テーブル15を2往復させることで、基板SWの全面の描画パターンを描画することができる。   That is, the exposure drawing apparatus 100 can draw the drawing pattern on the entire surface of the substrate SW by reciprocating the movement table 15 twice.

図7は基板押圧部40を駆動させる上下駆動部50を示した図である。図7(a)は基板押圧部40及び上下駆動部50の上面図であり、図7(b)は基板押圧部40及び上下駆動部50の側面図である。   FIG. 7 is a view showing the vertical drive unit 50 that drives the substrate pressing unit 40. 7A is a top view of the substrate pressing unit 40 and the vertical driving unit 50, and FIG. 7B is a side view of the substrate pressing unit 40 and the vertical driving unit 50.

上下駆動部50は支持部51、シリンダ部52及び連結部53で構成されている。支持部51は第2投影レンズ群35を固定するレンズ固定部36と接合されており、垂直下方(−Z軸方向)になるよう設置されている。基板押圧部40はブラケット42と、上下駆動部50の連結部53及びシリンダ部52と接続されている。シリンダ部52は固定部54が支持部51に固定され、移動部55が支持部51に沿って垂直に移動することができる。上下駆動部50はシリンダ部52を駆動させることにより、基板押圧部40を垂直に昇降することができる。このため、基板押圧部40のローラ41は移動テーブル15と水平に昇降し基板SWを均一に押圧することができる。   The vertical drive unit 50 includes a support part 51, a cylinder part 52, and a connection part 53. The support portion 51 is joined to a lens fixing portion 36 that fixes the second projection lens group 35, and is installed to be vertically downward (−Z axis direction). The substrate pressing part 40 is connected to the bracket 42, the connecting part 53 and the cylinder part 52 of the vertical drive part 50. In the cylinder portion 52, the fixed portion 54 is fixed to the support portion 51, and the moving portion 55 can move vertically along the support portion 51. The vertical drive unit 50 can move the substrate pressing unit 40 vertically by driving the cylinder unit 52. For this reason, the roller 41 of the board | substrate press part 40 can go up and down horizontally with the movement table 15, and can press board | substrate SW uniformly.

露光描画装置100は基板SWが部分的に変形していても、ローラ41で基板SWを移動テーブル15の均一平面に押し付け、移動テーブル15により吸着固定することで描画領域49を平面に保つことができるため、正確に描画パターンを描画することができる。なお、シリンダ部52の移動距離は基板SWの厚みと相関させることが望ましく、シリンダ部52のストロークと、例えばスプリングなどの緩衝部(不図示)により、Z軸方向の高さを変化させ、基板SWにかかる圧力を均一に保持することもできる。   Even if the substrate SW is partially deformed, the exposure / drawing apparatus 100 can keep the drawing region 49 flat by pressing the substrate SW against the uniform plane of the moving table 15 with the roller 41 and attracting and fixing it with the moving table 15. Therefore, the drawing pattern can be drawn accurately. It is desirable that the moving distance of the cylinder portion 52 be correlated with the thickness of the substrate SW, and the height in the Z-axis direction is changed by the stroke of the cylinder portion 52 and a buffer portion (not shown) such as a spring, for example. The pressure applied to the SW can be kept uniform.

<露光描画装置の制御系の構成>
図8は露光描画装置100の制御系の全体図である。露光描画装置100のメイン制御部90はテーブル制御部91、露光制御部92、光源制御部93、基板押圧制御部94、アライメントマーク観察部95及びラスタ変換部96を制御している。
<Configuration of control system of exposure drawing apparatus>
FIG. 8 is an overall view of a control system of the exposure drawing apparatus 100. The main control unit 90 of the exposure drawing apparatus 100 controls the table control unit 91, the exposure control unit 92, the light source control unit 93, the substrate pressing control unit 94, the alignment mark observation unit 95, and the raster conversion unit 96.

テーブル制御部91はメイン制御部90からアライメントマーク観察部95の情報より基板SWを載置した移動テーブル15を、X軸駆動部61及びY軸駆動部62をもちいて駆動させる。また、テーブル制御部91は移動テーブル15の位置情報を位置検出部63で取得し、正確な位置であるかをフィードバックしてX軸駆動部61及びY軸駆動部62を駆動させる。   The table control unit 91 drives the moving table 15 on which the substrate SW is placed from the main control unit 90 based on the information of the alignment mark observation unit 95 using the X-axis drive unit 61 and the Y-axis drive unit 62. Further, the table control unit 91 acquires the position information of the moving table 15 by the position detection unit 63 and feeds back whether the position is accurate, thereby driving the X-axis drive unit 61 and the Y-axis drive unit 62.

光源制御部93はメイン制御部90からの指示により光源部20を制御し、フィルタ及びシャッタを制御することで、所望の波長及び光量の紫外光UVを射出する。   The light source control unit 93 controls the light source unit 20 according to an instruction from the main control unit 90 and controls the filter and the shutter to emit ultraviolet light UV having a desired wavelength and light amount.

基板押圧制御部94はメイン制御部90からの指示により、露光処理時に基板押圧部40を適切な位置及び圧力で基板SWに押圧する。   In response to an instruction from the main control unit 90, the substrate pressing control unit 94 presses the substrate pressing unit 40 to the substrate SW at an appropriate position and pressure during the exposure process.

アライメントマーク観察部95はアライメントカメラACで基板SWに形成されているアライメントマークAMを検出し、基板のずれを検出してメイン制御部90に伝える。   The alignment mark observation unit 95 detects the alignment mark AM formed on the substrate SW by the alignment camera AC, detects the deviation of the substrate, and transmits it to the main control unit 90.

メイン制御部90は基板SWに露光するCADデータのパターンデータ65をラスタ変換部96にかけラスタ変換する。メイン制御部90はラスタ変換した描画データを露光制御部92でビットマップメモリ66を生成する。露光制御部92はビットマップメモリ66を用いて、露光描画部30を制御することで光源部20からの紫外光UVを描画パターンに変換して基板SWに露光する。露光描画装置100はこれらの制御により、基板を均一平面にして、描画パターンを正確に描画することができる。   The main control unit 90 performs raster conversion by applying the pattern data 65 of CAD data exposed on the substrate SW to the raster conversion unit 96. The main control unit 90 uses the exposure control unit 92 to generate the bitmap memory 66 of the rasterized drawing data. The exposure control unit 92 uses the bitmap memory 66 to control the exposure drawing unit 30 to convert the ultraviolet light UV from the light source unit 20 into a drawing pattern and expose the substrate SW. By these controls, the exposure drawing apparatus 100 can draw the drawing pattern accurately by setting the substrate to a uniform plane.

図9は露光描画装置100の露光描画制御のフローチャートである。以下はフローチャートに従い説明する。   FIG. 9 is a flowchart of exposure drawing control of the exposure drawing apparatus 100. The following will be described with reference to the flowchart.

ステップS11において、メイン制御部90はテーブル制御部91で吸引ポンプを作動させることで、搬送された基板SWを移動テーブル15に吸着固定する。基板SWはレジスト層を形成し、熱処理されている。   In step S <b> 11, the main control unit 90 operates the suction pump by the table control unit 91 to suck and fix the transported substrate SW to the moving table 15. The substrate SW forms a resist layer and is heat-treated.

ステップS12において、メイン制御部90はアライメントマーク観察部95の情報から、移動テーブル15のY軸駆動部62を駆動させ、Y軸方向の位置を調整する。
ステップS13において、メイン制御部90はアライメントマーク観察部95の情報から、移動テーブル15のX軸駆動部61を駆動させ、X軸方向の位置を調整する。なお、移動テーブル15のX軸方向及びY軸方向の位置情報は位置検出部63により取得する。
In step S12, the main control unit 90 drives the Y-axis drive unit 62 of the moving table 15 based on information from the alignment mark observation unit 95, and adjusts the position in the Y-axis direction.
In step S <b> 13, the main control unit 90 drives the X-axis drive unit 61 of the moving table 15 from the information of the alignment mark observation unit 95 to adjust the position in the X-axis direction. The position information of the movement table 15 in the X-axis direction and the Y-axis direction is acquired by the position detection unit 63.

ステップS14において、メイン制御部90は上下駆動部50を駆動させ、基板押圧部40を下降させる。
ステップS15において、メイン制御部90は基板押圧制御部94で基板SWの厚みに応じた下降位置を調整することで密着圧を制御し、基板押圧部40のローラ41を基板に押し付け基板SWを平面にさせる。
In step S <b> 14, the main control unit 90 drives the vertical drive unit 50 to lower the substrate pressing unit 40.
In step S15, the main control unit 90 controls the contact pressure by adjusting the descending position according to the thickness of the substrate SW by the substrate pressing control unit 94, and presses the roller 41 of the substrate pressing unit 40 against the substrate to flatten the substrate SW. Let me.

ステップS16において、メイン制御部90はラスタ変換部96によりパターンデータ65をビットマップメモリ66にし、露光制御部92及び光源制御部93を制御することで、露光描画を開始する。光源制御部93はシャッタで紫外光UVの光量及び波長を制御し、露光制御部92は露光描画部30に入射する紫外光UVを制御することで描画パターンに変換し、基板SWに描画パターンの露光処理を開始する。   In step S16, the main control unit 90 uses the raster conversion unit 96 to convert the pattern data 65 into the bitmap memory 66, and controls the exposure control unit 92 and the light source control unit 93 to start exposure drawing. The light source control unit 93 controls the light amount and wavelength of the ultraviolet light UV with a shutter, and the exposure control unit 92 converts the ultraviolet light UV incident on the exposure drawing unit 30 to convert it into a drawing pattern. The exposure process is started.

ステップS17において、メイン制御部90は移動テーブル15のX軸駆動部61を駆動させ、X軸方向(図6の参照)に移動をさせることで、位置検出部63で取得した位置に適合する描画パターンを露光描画していく。また、メイン制御部90はアライメントマーク観察部95でアライメントマークAMを観察しながら精密な基板位置を調節する。   In step S <b> 17, the main control unit 90 drives the X-axis drive unit 61 of the moving table 15 to move in the X-axis direction (see FIG. 6), thereby matching the position acquired by the position detection unit 63. The pattern is exposed and drawn. The main controller 90 adjusts the precise substrate position while observing the alignment mark AM with the alignment mark observation unit 95.

ステップS18において、メイン制御部90は、光源制御部93によりシャッタを閉じることで光源部20の光を遮断し、露光描画を終了する。   In step S <b> 18, the main control unit 90 closes the shutter by the light source control unit 93 to block the light from the light source unit 20 and ends the exposure drawing.

ステップS19において、メイン制御部90は、上下駆動部50を駆動させ、基板押圧部40を上昇させる。   In step S <b> 19, the main control unit 90 drives the vertical drive unit 50 to raise the substrate pressing unit 40.

ステップS20において、メイン制御部90は、基板SWの全面を露光描画したかを判断する。露光描画してない場合はステップ12に戻りY軸方向の位置を調節する。全面を露光描画している場合は露光描画処理を終了する。   In step S20, the main control unit 90 determines whether the entire surface of the substrate SW has been exposed and drawn. If exposure drawing has not been performed, the process returns to step 12 to adjust the position in the Y-axis direction. If the entire surface is exposed and drawn, the exposure drawing process is terminated.

≪第二実施形態≫
第一実施形態ではローラ41が移動テーブル15に載置された基板SWを加圧して変形した基板SWを矯正したが、ローラ41が基板SWに接触して移動するため、基板SWの表面に形成した感光性ドライフィルムに負荷が掛かるおそれがある。また、液体レジストを基板SWに塗布した場合には液体レジストを熱処理して硬化させても、レジストに粘張度が残るため、ローラ41で加圧すると、ローラ41とレジストとの接着又はレジストのはがれ等をおこし、露光描画処理を行うことができない。そこで本実施形態では液体レジストを用いる場合においても、基板を均一平面に保持することができる露光描画装置100を提供する。
<< Second Embodiment >>
In the first embodiment, the roller 41 pressurizes the substrate SW placed on the moving table 15 to correct the deformed substrate SW. However, since the roller 41 moves in contact with the substrate SW, the roller 41 is formed on the surface of the substrate SW. There is a possibility that a load is applied to the photosensitive dry film. Further, when the liquid resist is applied to the substrate SW, even if the liquid resist is heat-treated and cured, the resist remains viscous, so that when the roller 41 is pressed, the adhesion between the roller 41 and the resist or the resist The exposure drawing process cannot be performed due to peeling or the like. Therefore, the present embodiment provides an exposure drawing apparatus 100 that can hold a substrate on a uniform plane even when a liquid resist is used.

本実施形態の露光描画装置100はローラ41を用いない基板押圧部140を設置している。基板押圧部140以外は第一実施形態と同様なため、基板押圧部140についてのみ説明する。   The exposure drawing apparatus 100 of this embodiment is provided with a substrate pressing unit 140 that does not use the roller 41. Other than the substrate pressing part 140 is the same as that of the first embodiment, so only the substrate pressing part 140 will be described.

図10(a)は基板押圧部140の斜視図であり、一部をカットして内部を見やすく示している。図10(b)は上下駆動部50及び基板押圧部140の側面図である。   FIG. 10A is a perspective view of the substrate pressing portion 140, which is partially cut away so that the inside can be easily seen. FIG. 10B is a side view of the vertical drive unit 50 and the substrate pressing unit 140.

基板押圧部140は空気配管141とブラケット142とで構成され、ブラケット142の長軸方向(Y軸方向)と平行に空気配管141が設置されている。空気配管141はφ25mm程度の円柱状で、管状に形成されており、下面(―Z軸方向)に突出口143が8箇所に形成されている。空気配管141の吸入口144からポンプ(不図示)により圧縮空気を送り込むことで、突出口143から圧縮空気が排出される。なお、ポンプから送り込む気体は空気だけでなく、窒素ガス等の不活性ガスを送ることで、レジストに過酸素の影響を低下させることができる。また8箇所の以上の突出口143を設けてもよい。   The substrate pressing portion 140 is composed of an air pipe 141 and a bracket 142, and the air pipe 141 is installed in parallel with the major axis direction (Y-axis direction) of the bracket 142. The air pipe 141 has a cylindrical shape with a diameter of about 25 mm and is formed in a tubular shape, and has eight protrusions 143 on the lower surface (−Z-axis direction). By sending compressed air from a suction port 144 of the air pipe 141 by a pump (not shown), the compressed air is discharged from the protruding port 143. Note that not only air but also an inert gas such as nitrogen gas is sent from the pump, thereby reducing the influence of overoxygen on the resist. Further, eight or more protruding openings 143 may be provided.

基板SWは移動テーブルに15で吸着固定された後、描画開始位置に配置されると突出口143よりガスが噴出することで、基板SWの変形が矯正され均一平面を形成することができる。   After the substrate SW is fixed to the moving table by 15 and then placed at the drawing start position, gas is ejected from the projection port 143, whereby the deformation of the substrate SW is corrected and a uniform plane can be formed.

基板押圧部140は上下駆動部50を駆動させて基板SWとの間隔が数mmの位置に配置させる。   The substrate pressing unit 140 drives the vertical drive unit 50 and arranges it at a position where the distance from the substrate SW is several mm.

基板押圧部140の描画領域を確保する空間はX軸方向に15mm程度であり、Y軸方向は露光描画部30の全幅に相当する500mm程度の空間を形成することができる。このため露光制御部は基板押圧部140を基板SWの上部の数mm程度に配置した後は、移動テーブル15をX軸方向及びY軸方向に自由に移動させることができるため、基板全面の露光描画処理が終了するまで基板押圧部140を上昇する必要がない。
本実施形態では2本の円柱状の空気配管141を示したが、平板を内蔵した2本の配管でもよい。
A space for securing the drawing area of the substrate pressing unit 140 is about 15 mm in the X-axis direction, and a space of about 500 mm corresponding to the entire width of the exposure drawing unit 30 can be formed in the Y-axis direction. For this reason, the exposure control unit can freely move the moving table 15 in the X-axis direction and the Y-axis direction after the substrate pressing unit 140 is disposed about several mm above the substrate SW. There is no need to raise the substrate pressing portion 140 until the drawing process is completed.
In the present embodiment, two cylindrical air pipes 141 are shown, but two pipes incorporating a flat plate may be used.

露光描画装置100の全体斜視図である。1 is an overall perspective view of an exposure drawing apparatus 100. FIG. (a)は、移動テーブル15の断面の構成図である。 (b)は、移動テーブル15の上面図である。(A) is a block diagram of the cross section of the moving table 15. FIG. 4B is a top view of the moving table 15. 露光描画装置100に配置した基板押圧部40を示した上面図である。4 is a top view showing a substrate pressing unit 40 arranged in the exposure drawing apparatus 100. FIG. 基板押圧部40の斜視図である。4 is a perspective view of a substrate pressing unit 40. FIG. (a)は、描画領域49を示した上面図である。 (b)は、(a)の側面図である。FIG. 4A is a top view showing a drawing area 49. FIG. (B) is a side view of (a). 基板SWに描画パターンを描画する描画領域49の経路を示した図である。It is the figure which showed the path | route of the drawing area | region 49 which draws a drawing pattern on the board | substrate SW. (a)は、基板押圧部40及び上下駆動部50の上面図である。 (b)は、基板押圧部40及び上下駆動部50の側面図である。FIG. 4A is a top view of the substrate pressing unit 40 and the vertical drive unit 50. FIG. FIG. 4B is a side view of the substrate pressing unit 40 and the vertical drive unit 50. 露光描画装置100の制御系の全体図である2 is an overall view of a control system of the exposure drawing apparatus 100. FIG. 露光描画装置100の露光描画制御のフローチャートである。4 is a flowchart of exposure drawing control of the exposure drawing apparatus 100. (a)は、基板押圧部140の斜視図である。 (b)は、基板押圧部140及び上下駆動部50の側面図である。(A) is a perspective view of the board | substrate press part 140. FIG. FIG. 4B is a side view of the substrate pressing unit 140 and the vertical drive unit 50.

符号の説明Explanation of symbols

11 … 筐体底部
12 … ゲート構造部
13 … スライド
15 … 移動テーブル
16 … 吸着口、17 … 吸着配管
20 … 光学系
21 … UVランプ
22 … 第1全反射ミラー、23 … コンデンサーレンズ
24 … 第2全反射ミラー、25 … フライアイレンズ、26 … 楕円ミラー
30 … 露光描画部
31 … 光分岐部
32 … 第1投影レンズ
33 … 反射ミラー
34 … DMD素子、35 … 第2投影レンズ群
36 … レンズ固定部
40 … 基板押圧部
41 … ローラ、42 … ブラケット、43 … 回転軸
49 … 描画領域
50 … 上下駆動部
51 … 支持部
52 … シリンダ部
53 … 連結部、54 … 固定部、55 … 移動部
61 … X軸駆動部、62 … Y軸駆動部
63 … 位置検出部
90 … メイン制御部
91 … テーブル制御部
92 … 露光制御部
93 … 光源制御部
94 … 基板押圧制御部
95 … アライメントマーク観察部
96 … ラスタ変換部
100 … 露光描画装置、140 … 基板押圧部
141 … 空気配管、142 … ブラケット
143 … 突出口、144 … 吸入口
AC … アライメントカメラ、AM … アライメントマーク
SW … 基板
UV … 紫外光
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Case bottom part 12 ... Gate structure part 13 ... Slide 15 ... Moving table 16 ... Adsorption port, 17 ... Adsorption piping 20 ... Optical system 21 ... UV lamp 22 ... 1st total reflection mirror, 23 ... Condenser lens 24 ... 2nd Total reflection mirror, 25 ... fly-eye lens, 26 ... elliptical mirror 30 ... exposure drawing section 31 ... light branching section 32 ... first projection lens 33 ... reflection mirror 34 ... DMD element, 35 ... second projection lens group 36 ... lens fixed Part 40 ... Substrate pressing part 41 ... Roller, 42 ... Bracket, 43 ... Rotating shaft 49 ... Drawing area 50 ... Vertical drive part 51 ... Support part 52 ... Cylinder part 53 ... Connection part, 54 ... Fixing part, 55 ... Moving part 61 ... X-axis drive unit, 62 ... Y-axis drive unit 63 ... Position detection unit 90 ... Main control unit 91 ... Table control unit 92 ... Exposure control 93 ... Light source control unit 94 ... Substrate pressing control unit 95 ... Alignment mark observation unit 96 ... Raster converter 100 ... Exposure drawing device, 140 ... Substrate pressing unit 141 ... Air piping, 142 ... Bracket 143 ... Projection port, 144 ... Suction port AC ... Alignment camera, AM ... Alignment mark SW ... Substrate UV ... Ultraviolet light

Claims (7)

紫外光を基板に投影する投影光学系と、
前記基板を載置して前記投影光学系と相対的に第1方向及びこの第1方向と交差する第2方向に移動する描画テーブルと、
前記描画テーブル側に前記紫外光が照射される露光領域の周囲を押圧する基板押圧手段と、
を備えることを特徴とする露光描画装置。
A projection optical system that projects ultraviolet light onto the substrate;
A drawing table that mounts the substrate and moves in a first direction and a second direction intersecting the first direction relative to the projection optical system;
Substrate pressing means for pressing the periphery of an exposure area irradiated with the ultraviolet light on the drawing table side;
An exposure drawing apparatus comprising:
前記基板押圧手段は、前記露光領域に対して前記第1方向及び前記第2方向にそれぞれ配置された回転ローラであることを特徴とする請求項1に記載の露光描画装置。   2. The exposure drawing apparatus according to claim 1, wherein the substrate pressing unit is a rotating roller disposed in each of the first direction and the second direction with respect to the exposure region. 前記基板には、ドライフィルムレジストが設けられていることを特徴とする請求項2に記載の露光描画装置。   The exposure drawing apparatus according to claim 2, wherein a dry film resist is provided on the substrate. 前記描画テーブルが前記第2方向に移動する際に、前記回転ローラと前記基板とが非接触の状態になることを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の露光描画装置。   4. The exposure drawing apparatus according to claim 2, wherein when the drawing table moves in the second direction, the rotating roller and the substrate are in a non-contact state. 5. 前記基板押圧手段は、前記露光領域に対して前記第1方向及び前記第2方向にそれぞれ配置され、前記基板にガスを吹き付けるガス噴出部であることを特徴とする請求項1に記載の露光描画装置。   2. The exposure drawing according to claim 1, wherein the substrate pressing unit is a gas ejection unit that is disposed in each of the first direction and the second direction with respect to the exposure region and blows gas to the substrate. apparatus. 前記基板には、液体レジストが塗布されていることを特徴とする請求項5に記載の露光描画装置。   6. The exposure drawing apparatus according to claim 5, wherein a liquid resist is applied to the substrate. 前記ガス噴出部による押圧は、前記ガスの噴出量又は前記ガス噴出部と前記基板との距離を調整することで決められることを特徴とする請求項5又は請求項6に記載の露光描画装置。   The exposure drawing apparatus according to claim 5 or 6, wherein the pressing by the gas ejection part is determined by adjusting an ejection amount of the gas or a distance between the gas ejection part and the substrate.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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