JP2009288015A - 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】搬送路において搬送される検査対象の欠陥を検査する欠陥検査装置であって、前記搬送路の撮像位置における検査対象の有無を検出する検出手段と、前記検出手段が有と判定している間に、前記撮像位置における検査対象を撮像し、画像データを生成する撮像手段と、前記検出手段が有と判定している間に、前記撮像手段によって生成された画像データに基づいて、前記検査対象の全ラインよりも少ないライン単位で欠陥検出処理を順次行う欠陥検出手段とを備えることを特徴とする。
【選択図】図1
Description
これにより、搬送路上の検査対象の欠陥の有無が検査される。
本発明は、搬送路において搬送される検査対象の欠陥を検査する欠陥検査装置であって、前記搬送路の撮像位置における検査対象の有無を検出する検出手段と、前記検出手段が有と判定している間に、前記撮像位置における検査対象を撮像し、画像データを生成する撮像手段と、前記検出手段が有と判定している間に、前記撮像手段によって生成された画像データに基づいて、前記検査対象の全ラインよりも少ないライン単位で欠陥検出処理を順次行う欠陥検出手段とを備えることを特徴とする。
以下、本発明の第1の実施形態における欠陥検査装置について、図面を参照して説明する。
図1は、本発明の第1の実施形態としての欠陥検査装置を示したものである。
欠陥検査装置1の検査対象2は、ベルトコンベアなどの生産ライン20によって、走行方向Aに搬送される長方形の樹脂板や枚葉フィルムなどのシートである。
この欠陥検査装置1は、所定分解能のパルスを出力するエンコーダ3と、検査対象2の有無を検出するセンサ4と、照明光を照射する照明部5とを備えている。また、欠陥検査装置1は、ラインごとに撮像を行うラインCCDカメラ(撮像手段)6と、検査結果に応じて良品(OK)と不良品(NG)とに分別する分別機11とを備えている。
センサ4は、生産ライン20によって搬送される検出位置P1における検査対象2の有無を検出する。すなわち、センサ4は、例えば光学センサなどからなり、検出位置P1に検査対象2が配されると、検出信号を出力する。
ラインCCDカメラ6は、照明部5による照明のもと、読取位置P2の検査対象2を撮像する。このラインCCDカメラ6としては、2048素子、5000素子、7450素子のものがあり、検査対象2の幅、走行速度及び欠陥を検出するために必要な分解能により、それら素子数や台数が設定される。
分別機11は、検査結果が良であると、検査対象2をOK側に搬送し、検査結果が不良であると、検査対象2をNG側に搬送することにより、良品と不良品とを分別する。
シーケンサ7は、センサ4から出力された検出信号が入力されると、エンコーダ3から出力されたパルスをカウントし、当該パルスがあらかじめ設定された所定のパルス数に達すると、分解能パルスを画像処理装置8に出力する。
ここで、所定のパルス数は、検査対象2が検出位置P1から読取位置P2にまで至る距離L1に合わせて設定されるものである。すなわち、検査対象2が検出位置P1に配されてから、エンコーダ3から所定数のパルスが出力されると、検査対象2が読取位置P2に配されたことになる。なお、エンコーダ3、センサ4及びシーケンサ7は、読取位置P2における検査対象2の有無を検出する検出手段として機能するものである。
また、シーケンサ7は、制御PC9から出力されるOK信号又はNG信号に基づいて、分別機11を駆動する。
画像処理装置8は分解能パルスを入力すると画像データを入力し、欠陥検出処理を行う。
また、制御PC9は、画像処理装置8から出力された欠陥データを、欠陥NO、欠陥座標、欠陥サイズ及び欠陥分類名など欠陥詳細データとして操作PC10に出力する。
図3は、画像処理装置8を示すブロック図である。
画像処理装置8は、カメラIF12と、速度補正部13と、シェーディング補正部14と、2値化処理部15と、符号化処理部16と、連結性処理部17とを備えている。
速度補正部13は、生産ライン20の速度に関わらず、流れ方向分解能を一定とするため、読み出し信号が入力されたときのみ、ラインCCDカメラ6の撮像データを入力するものである。
シェーディング補正部14は、読み出した撮像データを補正する。すなわち、レンズの歪や照明斑などのため、ラインCCDカメラ6の撮像データは、素子位置により出力値のばらつきがある。シェーディング補正部14は、入力された基準データの値が、あらかじめ設定された目標値となる補正係数を1画素単位で作成し、ラインCCDカメラ6の撮像データにシェーディング補正係数を乗算することにより、撮像データを補正する。シェーディング補正係数は、検査中にも読み出し信号が入力されている間に更新することにより、地合いの変化に追従し、検出感度を安定化させている。
符号化処理部16は、連結性処理部17からの符号化切替要求により、ライン単位である符号化系列A,Bを切り替え、2値化処理部15から出力された2値データを、設定された画像処理単位(ライン単位)で圧縮し、連結性処理部17に出力する。
連結性処理部17は、欠陥の面積、幅、長さ、座標などの特徴量を抽出し、制御PC9に出力する。
図5は、画像処理装置8の欠陥検出処理のタイミングを示す説明図である。
生産ライン20によって搬送されてきた検査対象2が検出位置P1に配されると、センサ4が検出信号をシーケンサ7に出力する。すなわち、センサ4は、検査対象2が検出位置P1にある間、パルスをオンに保持し、検査対象2が検出位置P1にないときオフにする。図5において、T1からT7までオンとされている。つまり、T1のときに、検査対象2の走行方向Aの先端辺が検出位置P1に到達し、T7のときに、同一の検査対象2の後端辺が検出位置P1から走行方向Aに離れることになる。
画像処理装置8は、分解能パルスを入力すると、撮像データをラインCCDカメラ6から読み出し、系列Aの分の欠陥検出処理の前ステップ(速度補正、シェーディング補正、2値化及び符号化)の処理を行う。
さらに、T2からあらかじめ設定された時間の経過後(T3)、画像処理装置8は、系列Aの前ステップを終了し、系列Bの撮像データの読み出し及び前ステップの処理に切り替える。そして、画像処理装置8は、系列Bの前ステップ等の処理と同時に、系列Aの後ステップ(符号化処理)の処理を行う。
すなわち、画像処理装置8は、欠陥検出処理の所定のステップごとに、ライン単位で交互に欠陥検出処理を行う。
さらに、検査対象2の後端辺が検出位置P1から走行方向Aに離れると、センサ4は、検出信号の出力を停止する(T7)。これにより、シーケンサ7は、エンコーダ3からのパルスをカウントし、所定数のパルスに到達したときに、分解能パルスをオフにする(T10)。
本実施形態における欠陥検査装置1では、シーケンサ7が、読み出し停止信号を出力してからあらかじめ設定された時間の経過後(図5に示すT11)に、処理信号を画像処理装置8に出力する。画像処理装置8は、処理信号を受け付けると、分解能パルスがオフであっても、ライン単位未満の撮像データに対して、欠陥検査処理を行う。なお、画像処理装置8は、読取位置P2から判定位置P3までの距離L2において、OK/NGの判定結果を出力する。
そして、シーケンサ7は、NG信号を受け付けると、分別機11を介して、検査対象2を不良品として分別する。
また、操作PC10は、欠陥詳細データを受け付けると、リストやマップ、画像として表示部に表示する。
また、画像処理装置8は、シーケンサ7から出力された処理信号を受け付けると、分解能パルスがオフであっても、ライン単位未満の撮像データに対して、欠陥検査処理を行うことから、任意の間隔で間欠的に搬送される複数の検査対象2の欠陥検査を容易に行うことができる。
また、画像処理装置8は、欠陥検出処理の所定のステップごとに、ライン単位で交互に欠陥検出処理を行うことから、リアルタイムでの欠陥検査を容易に行うことができる。
検査対象2は、幅800mm、長さ1600mmのシートであり、走行速度30m/分で走行している。
ラインCCDカメラ6は、5000素子のものが2台設置され、分解能0.1mm/素子×0.1mm/スキャンで読み取る。ラインCCDカメラ6の走査周期は0.2msであるので、30m/分以下の場合でも、エンコーダ3により、流れ分解能0.1mm/スキャンで一定としている。
照明部5は、40Wの高周波点灯蛍光灯である。
制御PC9は、リアルタイムOSを採用したコンピュータであり、操作PC10は、Windows(登録商標)XPを採用したNEC製のパソコンである。
検査対象2に欠陥が含まれている場合は不良品、欠陥を含まない場合は良品として分別が可能となる。
1)検査対象2の長さが異なるものが混在する場合でも、センサ4で検査対象2が有と判断した範囲で欠陥検査が可能である。
2)検査対象2が近接して搬送される場合でも、リアルタイム処理が可能であるので、次の検査対象の撮像データの入力が行われる前に、OK/NGの判定が可能となる。
3)検査対象2の走行速度が検査中に変動する場合でも、エンコーダ3によるパルスをカウントすることにより、速度追従が可能である。
4)検査対象2の長さが長いものでも大容量のメモリが不要となる。例えば、幅800mm、長さ1600mm、分解能0.1mm/素子×0.1mm/スキャンの場合は、108MBのデータが処理されているが、全画像を保存するためのメモリ容量は不要である。ただし、OK/NG判定のタイミングの問題があるので、図1の距離L2は、検査対象2より長くする。
照明の調光特性は、光源の種類によって変わるものである。図6及び図7は、高周波点灯蛍光灯の調光特性の一例を示すグラフである。
図6は、制御PC9から出力された制御値(DA=0〜4095)により得られたラインCCDカメラ6の出力値を示すものである。
この特性の近似式は、Y=−0.00001X2+0.08806X+71となる。
図7は、ラインCCDカメラ6の出力を得るための制御値を示すものである。この特性の近似式は、Y=0.0438X2+2.5453X−375.94となる。
そして、欠陥検査開始前に、ラインCCDカメラ6の指定した素子範囲の平均出力値があらかじめ求められ、この平均出力があらかじめ設定された上下限値内にあるかが確認される。平均出力値が上下限値の範囲外である場合、図7の近似式により、制御値が変更される。これにより、ラインCCDカメラ6の出力値が、安定した状態で検査が可能となる。自動調光は、検査と同様、分解能パルスが入力されている間に行われる。仮に、検査対象2の1枚の間に処理時間が不足する場合は、次の検査対象2で継続して処理を行うことで処理を完了させた後、欠陥検査を開始する。
なお、本発明の技術範囲は上記の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、種々の変更を加えることが可能である。
2 検査対象
3 エンコーダ(検出手段)
4 センサ(検出手段)
6 ラインCCDカメラ(撮像手段)
7 シーケンサ(検出手段)
8 画像処理装置(欠陥検出装置)
9 制御PC
10 操作PC
11 分別機
12 カメラIF
13 速度補正部
14 シェーディング補正部
15 2値化処理部
16 符号化処理部
17 連結性処理部
P1 検出位置
P2 読取位置(撮像位置)
P3 判定位置
Claims (4)
- 搬送路において搬送される検査対象の欠陥を検査する欠陥検査装置であって、
前記搬送路の撮像位置における検査対象の有無を検出する検出手段と、
前記検出手段が有と判定している間に、前記撮像位置における検査対象を撮像し、画像データを生成する撮像手段と、
前記検出手段が有と判定している間に、前記撮像手段によって生成された画像データに基づいて、前記検査対象の全ラインよりも少ないライン単位で欠陥検出処理を順次行う欠陥検出手段とを備えることを特徴とする欠陥検査装置。 - 前記欠陥検出手段は、
前記検出手段が有と判定している間に、前記ライン単位で前記欠陥検出処理を行い、
前記検出手段が無と判定している間に、前記検出手段が有から無と判定したときの前記欠陥検出処理が行われていない未処理ラインの欠陥検出処理を行うことを特徴とする請求項1に記載の欠陥検査装置。 - 前記欠陥検出手段は、
前記欠陥検出処理のステップごとに前記ライン単位で交互に行うことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の欠陥検査装置。 - 搬送路において搬送される検査対象の欠陥を検査する欠陥検査方法であって、
前記搬送路の撮像位置における検査対象の有無を検出する検出工程と、
前記検出工程によって有と判定している間に、前記撮像位置における検査対象を撮像し、画像データを生成する撮像工程と、
前記検出手段が有と判定している間に、前記撮像工程によって生成された画像データに基づいて、前記検査対象の全ラインよりも少ないライン単位で欠陥検出処理を順次行う欠陥検出工程とを含むことを特徴とする欠陥検査方法。
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JP2009288015A true JP2009288015A (ja) | 2009-12-10 |
JP5133782B2 JP5133782B2 (ja) | 2013-01-30 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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