JP2009283779A - 半導体パッケージの設計方法及び半導体パッケージレイアウト設計装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】新規半導体パッケージの設計前に、過去に設計された既存半導体パッケージのワイヤ配線図のうち、新規半導体パッケージと類似した半導体パッケージのワイヤ配線図を決定し、この決定したワイヤ配線図に対し、既存半導体パッケージのボールレイアウトのうち、電源ノイズ特性が良いボール配置になっているボールレイアウトを決定し、この決定したワイヤ配線図とボールレイアウトとに基づいて電源を割り当てられたパッドから電源用ボール端子までのインダクタンス及び抵抗を算出して電源ノイズ特性を予測する。
【選択図】図5
Description
図11に示すように、まず、ステップ101において、設計装置は電源特性予測を行う。設計装置は、設計対象の半導体パッケージ(以下、新規半導体パッケージという)と類似の過去に設計された半導体パッケージ(以下、既存半導体パッケージという)の電源特性に基づいて、新規の半導体パッケージの電源特性を予測する。
また、新規半導体パッケージを設計する前に、半導体パッケージの最適な形態や種類を選択する方法が知られている(例えば、特許文献1参照)。ここで、半導体パッケージの形態は、複数の半導体装置を1つの半導体パッケージに格納されるマルチチップや、複数の半導体装置を積層して1つのパッケージに格納される積層実装などであり、半導体パッケージの種類とは、QFP(Quad Flat Package)、BGA(Ball Grid Array)などである。
図1に示すように、半導体パッケージのレイアウトデータを生成するための半導体パッケージレイアウト設計装置(コンピュータ)11は、一般的なCAD(Computer Aided Design )装置からなり、中央処理装置(以下、CPUという)12、メモリ13、記憶装置14、表示装置15、入力装置16、及び、ドライブ装置17を備え、それらはバス18を介して相互にデータの授受を行っている。
図2は、新規半導体パッケージを説明するための概略構成図、図3はパッケージ基板に形成した端子とパッケージ基板に実装するLSIに設けたパッドを説明するための概略平面図、図4は新規半導体パッケージに設けたボール端子の配置を説明するための概略底面図である。
次に、本実施形態の新規半導体パッケージ21の設計処理について概要を説明する。
CPU12は、ワイヤ配線ライブラリ40の中から、設計条件のうち、パッド25の配列方法、パッド25の数、ワイヤ27の段数、新規半導体パッケージ21のタイプ、ボール端子28の間隔の順で、設計対象の新規半導体パッケージ21と設計条件の近いワイヤ配線図のワイヤ配線図データを選択する。そして、CPU12は、選択したワイヤ配線図データのうち、ワイヤ27の段数(端子26の配列数)が多く、且つ半導体パッケージ21の組み立て実現性と信号配線実現性を満たすワイヤ配線図データに決定する。
上記のようにして新規半導体パッケージ21と設計条件の近いワイヤ配線図データをワイヤ配線ライブラリ40の中から決定すると、ステップ32において、CPU12は、ボールレイアウト処理を行う。
図6に示すように、ステップ61において、CPU12は標準ボールレイアウトの選択を行う。CPU12は、標準ボールレイアウトライブラリ41に格納されている標準ボールレイアウトのうち、標準ボールレイアウトを1つ選択して読み出す。ここで、標準ボールレイアウトライブラリ41に格納されている標準ボールレイアウトは、新規半導体パッケージ21のタイプ、ボール端子28の間隔の情報が付けられている。
(1)読み出した標準ボールレイアウトのボール端子28に対し、決定したワイヤ配線図の短ワイヤ(第1段目ワイヤ27a)を接続する端子26(第1段目端子26a)から近い、例えば、該端子26から1つ又は2つめのボール端子28以内の範囲(第1ボール端子アサイン領域Z1)に各種電源用ボール端子28A(I/O電源用ボール端子、内部電源用ボール端子、GND用ボール端子)を割り当てる。
(2)短ワイヤ27(第1段目ワイヤ27a)と接続する各種電源用ボール端子28Aが割り当てられた範囲(第1ボール端子アサイン領域Z1)の外方に設けた範囲(第2ボール端子アサイン領域Z2)に、残る各種電源用ボール端子28Aを、例えば、ボール50〜60個割り当てる。
ステップ63において、CPU12は、標準ボールレイアウトライブラリ41に未処理のボールレイアウトが残っているか否かを確認する。未処理のボールレイアウトが残っている場合(ステップ63でYES)、CPU12はステップ61に戻る。つまり、CPU12は、ステップ61において読み出した標準ボールレイアウトが第1の条件を満たすまで、ステップ61〜63を繰り返し処理する。
(1)読み出した標準ボールレイアウトのボール端子28に対して、ワイヤ27が接続する端子26から近い、例えば、該端子26から1つ又は2つめのボール27以内の範囲に各種電源用ボール端子28A(I/O電源用ボール端子、内部電源用ボール端子、GND用ボール端子)を割り当てる。
一方、新たなワイヤ配線図データやボールレイアウトを使って設計する場合の半導体パッケージ設計の開発費が許される開発費を超える場合(ステップ64でNO)、CPU12はステップ66に移行する。そして、ステップ66(標準ボールレイアウトの読み出し)において、CPU12は、標準ボールレイアウトライブラリ41に格納されている標準ボールレイアウトのうち、標準ボールレイアウトを1つ読み出す。
ここで、第3の条件の内容は、読み出した標準ボールレイアウトのボール端子28に対して、ワイヤ27の段数の決定処理において決定したワイヤ配線図データの配線図の端子26から近い、例えば、該端子26から1つ又は2つめのボール端子28以内の範囲に各種電源用ボール端子28A(I/O電源用ボール端子、内部電源用ボール端子、GND用ボール端子)を割り当てることである。
CPU12は、ステップ32において決定したボールレイアウトについて、選択した各ボール端子28を電源用ボール端子28Aとし、その各電源用ボール端子28AにそれぞれI/O電源用ボール端子I、内部電源用ボール端子V、GND用ボール端子Gのいずれかを割り当てる。
CPU12は、ステップ33において決定されたボールレイアウトにおいて割り当てられた各種電源用ボール端子28Aに、ステップ31において決定したワイヤ配線図データの配線図の各ワイヤ27のうち、それぞれ短ワイヤ(図3においては第1段目ワイヤ27a)を割り当てる。そして、CPU12は、各種電源用ボール端子28A(I/O電源用ボール端子I、内部電源用ボール端子V、GND用ボール端子G)毎に電源特性を算出する。
電源特性は、各種電源用ボール端子28A(I/O電源用ボール端子I、内部電源用ボール端子V、GND用ボール端子G)にそれぞれ接続されるワイヤ27とインターポーザ配線の電気特性(インダクタンスや抵抗)を算出する。そして、CPU12はこのワイヤ27とインターポーザ配線の電気特性(インダクタンスや抵抗)を足し合わせて平均をすることにより見積もることができる。
CPU12は、ワイヤ段数の決定処理において決定したワイヤ配線図データとLSI23のパッド25の配置に基づいて、各種電源用ボール端子28Aに接続される短ワイヤを割り当てる。詳しくは、CPU12は、各第1段目ワイヤ27aを順番にGND用ボール端子に接続し、残りの第1段目ワイヤ27aをI/O電源用ボール端子I、内部電源用ボール端子Vに接続する。
CPU12は、各種電源用ボール端子28Aがそれぞれ複数あるため、各種電源用ボール端子28Aのインターポーザ配線の長さを各種電源用ボール端子28A毎に平均してインターポーザ配線1本あたりの長さを算出する。図10に示すように、インターポーザ配線の長さは、接続される端子26とボール28との距離d4を測定して求められる。
CPU12は、ステップ34において算出した各種電源用ボール端子28Aの電源特性に基づいて、電源ノイズ解析を行う。CPU12は、この電源ノイズ解析の結果に基づいて、電源ノイズ特性の規格を満たしているか否かを判定する。解析した電源ノイズ特性が規格を満たしている場合(ステップ35でYES)、CPU12はステップ36に移行する。一方、解析した電源ノイズ特性が規格を満たしていない場合(ステップ35でNO)、CPU12はステップ31に移行する。
CPU12は、ステップ31〜33の処理において求めたワイヤ段数、ボールレイアウト、各種電源用ボール端子28A情報からなるデータをパッケージ設計制約として生成する。
CPU12は、ステップ36において生成したパッケージ設計制約に基づいて半導体パッケージを設計する。
CPU12は、ステップ37において設計した新規半導体パッケージ21の各種電源用ボール端子28Aの電源特性を抽出する。
CPU12は、ステップ34(半導体パッケージ設計前)、38(半導体パッケージ設計後)において見積もりした電源特性の結果を比較して差異があるか否かを確認する。そして、この半導体パッケージ設計の前後における電源特性に差異がなかった場合、CPU12はステップ37において設計した半導体パッケージ21のレイアウトデータを最終データとして処理を完了する。つまり、ステップ37において設計された新規半導体パッケージ21は、ステップ34,38において見積もられた電源特性について差異がないと判断されると、電源ノイズ特性が電源特性に依存するため電源ノイズ特性においても規格を満たしていることがわかる。
(1)本実施形態によれば、新規半導体パッケージ21を設計する前に、ワイヤ段数の決定処理、ボールレイアウトの決定処理を行い、過去に設計したワイヤ配線図データ、ボールレイアウトの中から、新規半導体パッケージ21の仕様に対して電源ノイズ特性の良いものを選択する。そして、CPU12は、選択したワイヤ配線図データ、ボールレイアウトに基づいて、電源ノイズ解析処理を行い、電源ノイズ特性の規格を満たすか否かを判定する。電源ノイズ特性の規格を満たさない場合、電源ノイズ特性の規格を満たすまで上記のような一連の処理を繰り返す。そのため、新規半導体パッケージ21を設計する前に、電源ノイズ特性を高精度に見積もることが可能であり、新規半導体パッケージ21の電源ノイズ特性を容易に向上することができる。また、新規半導体パッケージ21の設計において、再設計の必要がなくなり設計期間の短縮をすることができる。
尚、上記各実施の形態は、以下の態様で実施してもよい。
12 中央処理装置(CPU)
13 メモリ
14 記憶装置
21 新規半導体パッケージ
22 パッケージ基板
23 半導体装置(LSI)
25 外部端子(パッド)
26 端子
27 ワイヤ
28 ボール端子
28A 電源用ボール端子
28B 信号用ボール端子
Z1 第1ボール端子アサイン領域
Z2 第2ボール端子アサイン領域
Z3 サーマルボール領域
Claims (6)
- 半導体パッケージレイアウト設計装置によって、上面周縁部に沿って複数のパッドを形成した半導体装置を搭載するパッケージ基板上面に形成された複数の端子からなる列が、前記上面周縁部に沿って形成された前記パッドの列に平行に複数形成され、前記各パッドがそれぞれ対応する前記端子とワイヤを介して接続されているとともに、前記各端子がそれぞれインターポーザ配線を介して前記パッケージ基板下面に形成したボール端子に接続されたレイアウトデータを作成する半導体パッケージの設計方法であって、
前記半導体パッケージレイアウト設計装置の実行する処理は、
前記半導体パッケージレイアウト設計装置が備える中央処理装置が、複数の既存半導体パッケージについて、それぞれ前記ワイヤの配線を示すワイヤ配線図データと、それぞれ前記ボール端子の配列を示すボールレイアウトデータとを記憶装置に格納する第1設計処理と、
前記中央処理装置が、前記複数のワイヤ配線図データの中から、新規半導体パッケージと類似した前記既存半導体パッケージのワイヤ配線図データを決定する第2設計処理と、
前記中央処理装置が、前記複数のボールレイアウトデータの中から、前記決定したワイヤ配線図データに対して、前記ボール端子の配置が基準以下の電源ノイズ特性の配置になっているボールレイアウトデータを決定する第3設計処理と、
前記中央処理装置が、前記決定したワイヤ配線図データと前記ボールレイアウトデータとに基づいて、電源が割り当てられた前記ボール端子である各種電源用ボール端子について、前記パッドまでのインダクタンス及び抵抗をそれぞれ求め、電源ノイズ特性を予測する第4設計処理と
を含むことを特徴とする半導体パッケージの設計方法。 - 請求項1に記載の半導体パッケージの設計方法において、
前記第2設計処理で決定される既存半導体パッケージのワイヤ配線図データは、
前記新規半導体パッケージの組み立て及び信号を割り当てられた配線を配線することが可能であって、且つ前記パッケージ基板に形成される複数の端子からなる前記列が最も多いワイヤ配線図データであることを特徴とする半導体パッケージの設計方法。 - 請求項2に記載の半導体パッケージの設計方法において、
前記第3設計処理にて決定されるボールレイアウトデータは、
前記第2設計処理にて決定されたワイヤ配線図データ中の前記ワイヤのうち、最も短い又は2番目に短いワイヤが接続される前記パッケージ基板の端子に対して、最も近い又は2番目に近い前記ボール端子を割り当てられたボールレイアウトデータであることを特徴とする半導体パッケージの設計方法。 - 請求項3に記載の半導体パッケージの設計方法において、
前記ボールレイアウトデータは、
前記パッケージ基板の下面において、
前記半導体装置が実装されている位置に対応する下面位置にサーマルボールを配置するサーマルボール領域と、
前記サーマルボール領域の外周において環状にて前記各種電源用ボール端子を配置する第1ボール端子アサイン領域と、
前記第1ボール端子アサイン領域の外周において環状にて前記各種電源用ボール端子と信号用ボール端子を配置する第2ボール端子アサイン領域と
から構成されていることを特徴とする半導体パッケージの設計方法。 - 請求項1乃至4のいずれか1項に記載の半導体パッケージの設計方法において、
前記第4設計処理は、
前記ワイヤの単位長当たりのインダクタンス及び抵抗、及び、前記端子と前記ボール端子とを接続するインターポーザ配線の単位長当たりのインダクタンス及び抵抗が前記記憶装置に予め記憶され、
前記各種電源用ボール端子とつながる前記ワイヤとインターポーザ配線の長さをそれぞれ算出し、その算出値と前記記憶装置に記憶された単位長当たりのインダクタンス及び抵抗とに基づいて、前記各種電源用ボール端子における前記パッドまでの電気特性を算出することを特徴とする半導体パッケージの設計方法。 - 上面周縁部に沿って複数のパッドを形成した半導体装置を搭載するパッケージ基板上面に形成された複数の端子からなる列が、前記上面周縁部に沿って形成された前記パッドの列に平行に複数形成され、前記各パッドがそれぞれ対応する前記端子とワイヤを介して接続されているとともに、前記各端子がそれぞれインターポーザ配線を介してパッケージ基板下面に形成したボール端子に接続されたレイアウトデータを作成する半導体パッケージレイアウト設計装置であって、
複数の既存半導体パッケージについて、それぞれ前記ワイヤの配線を示すワイヤ配線図データと、それぞれ前記ボール端子の配列を示すボールレイアウトデータとを格納する記憶装置と、
前記複数のワイヤ配線図データの中から、新規半導体パッケージと類似した前記既存半導体パッケージのワイヤ配線図データを決定するワイヤ配線図データ決定装置と、
前記ワイヤ配線図データ決定装置が前記複数のボールレイアウトデータの中から、前記決定したワイヤ配線図データに対して、前記ボール端子の配置が基準以下の電源ノイズ特性の配置になっているボールレイアウトデータを決定するボールレイアウトデータ決定装置と、
前記決定したワイヤ配線図データとボールレイアウトデータとに基づいて電源を割り当てられた前記ボール端子について前記パッドまでのインダクタンス及び抵抗をそれぞれ求め、電源ノイズ特性を予測する予測装置と
を含むことを特徴とする半導体パッケージレイアウト設計装置。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018093230A (ja) * | 2018-03-05 | 2018-06-14 | 東芝メモリ株式会社 | ストレージ装置、及び電子機器 |
IT202000029210A1 (it) * | 2020-12-01 | 2022-06-01 | St Microelectronics Srl | Dispositivo a semiconduttore e corrispondente procedimento |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0964232A (ja) * | 1995-08-23 | 1997-03-07 | Sumitomo Kinzoku Electro Device:Kk | セラミックパッケージ |
JP2001053197A (ja) * | 1999-08-06 | 2001-02-23 | Texas Instr Inc <Ti> | 高性能二層ボールグリッドアレイ基板 |
JP2001094014A (ja) * | 1999-09-16 | 2001-04-06 | Texas Instr Inc <Ti> | 半導体パッケージ基板 |
JP2001306644A (ja) * | 2000-04-19 | 2001-11-02 | Kawasaki Steel Corp | パッケージ形態選択支援システムおよび支援方法、ならびに、パッケージ形態選択支援プログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP2006059013A (ja) * | 2004-08-18 | 2006-03-02 | Fujitsu Ltd | 回路基板の設計方法 |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0964232A (ja) * | 1995-08-23 | 1997-03-07 | Sumitomo Kinzoku Electro Device:Kk | セラミックパッケージ |
JP2001053197A (ja) * | 1999-08-06 | 2001-02-23 | Texas Instr Inc <Ti> | 高性能二層ボールグリッドアレイ基板 |
JP2001094014A (ja) * | 1999-09-16 | 2001-04-06 | Texas Instr Inc <Ti> | 半導体パッケージ基板 |
JP2001306644A (ja) * | 2000-04-19 | 2001-11-02 | Kawasaki Steel Corp | パッケージ形態選択支援システムおよび支援方法、ならびに、パッケージ形態選択支援プログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP2006059013A (ja) * | 2004-08-18 | 2006-03-02 | Fujitsu Ltd | 回路基板の設計方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018093230A (ja) * | 2018-03-05 | 2018-06-14 | 東芝メモリ株式会社 | ストレージ装置、及び電子機器 |
IT202000029210A1 (it) * | 2020-12-01 | 2022-06-01 | St Microelectronics Srl | Dispositivo a semiconduttore e corrispondente procedimento |
EP4009365A1 (en) | 2020-12-01 | 2022-06-08 | STMicroelectronics S.r.l. | Semiconductor device and corresponding method |
US11990442B2 (en) | 2020-12-01 | 2024-05-21 | STMicroelectron S.r.l. | Semiconductor device and corresponding method |
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