JP2009276292A - 液体の表面物性の異方性評価方法およびそれに用いる装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】偏光波面が一致している入射光と参照光を、試料液体の表面の同じ照射位置に互いに異なる入射角で入射させ、試料液体表面から鏡面反射された参照光とその方向に散乱された入射光の散乱光とを干渉させて光ヘテロダイン信号を検出する。
【選択図】なし
Description
偏光波面が一致している入射光と参照光を、前記試料液体の表面の同じ照射位置に互いに異なる入射角で入射させ、前記試料液体表面から鏡面反射された参照光とその方向に散乱された入射光の散乱光とを干渉させて光ヘテロダイン信号を検出することにより、前記試料液体の表面物性の異方性を評価することを特徴とする方法。
[2] 前記光ヘテロダイン信号を検出する工程を、前記試料液体を回転させることにより前記照射位置における前記入射光と反射光の偏光波面に対する測定方向を変えて複数回行い、それぞれの工程で得られる光ヘテロダイン信号の違いにより前記試料液体の表面物性の異方性を評価することを特徴とする[1]に記載の方法。
[3] 前記ヘテロダイン信号を検出する工程を、前記試料液体を90度回転させる前後でそれぞれ行うことを特徴とする[2]に記載の方法。
[4] 前記光ヘテロダイン信号のStokes成分とanti-Stokes成分を一度に測定することを特徴とする[1]に記載の方法。
[5] 直線偏光レーザを2分して、一方を前記入射光として使用し、他方を前記参照光として使用することを特徴とする[1]〜[4]のいずれか一項に記載の方法。
[6] 検出された前記ヘテロダイン信号をフーリエ変換して得られたパワースペクトルから液体面のリプロンの周波数と減衰率とを求め、また、前記入射光の入射角と前記散乱光の散乱角と前記入射光の波数とからリプロンの波数を求め、求められたリプロンの周波数と前記減衰率と前記入射光の波数とから表面張力と動粘性率を推算し、求められた表面張力と動粘性率の少なくとも一方を用いて前記試料液体の表面物性の異方性を評価することを特徴とする[1]〜[5]のいずれか一項に記載の方法。
前記素材を溶剤に溶解させた試料溶液に対して[1]〜[6]のいずれか一項に記載の方法を行うことにより、前記試料溶液の表面に発現した異方性を評価することを特徴とする方法。
[8] 前記素材が光配向基を有する化合物であることを特徴とする[7]に記載の方法。
[9] 前記素材がアゾ基を有する化合物であることを特徴とする[7]または[8]に記載の方法。
偏光波面が一致している入射光と参照光を、前記試料液体の表面の同じ照射位置に互いに異なる入射角で入射させる光照射機構と、
前記試料液体表面から鏡面反射された参照光とその方向に散乱された入射光の散乱光とを干渉させて得られる光ヘテロダイン信号を検出する検出機構と、
を備えることを特徴とする装置。
[11] 前記試料液体を回転させることにより前記照射位置における前記入射光と反射光の偏光波面に対する測定方向を変えることができる回転機構をさらに備えることを特徴とする[10]に記載の装置。
[12] 光照射機構により前記入射光と前記参照光を前記試料液体の表面に照射し、前記検出機構により光ヘテロダイン信号を検出した後、前記回転機構により前記試料液体を回転させ、さらに回転後の状態で光照射機構により前記入射光と前記参照光を前記試料液体の表面に照射し、前記検出機構により光ヘテロダイン信号を検出するように制御する制御機構をさらに備えることを特徴とする[11]に記載の装置。
[13] 測定方向を変えて得られる各光ヘテロダイン信号を記録する記録機構をさらに備えることを特徴とする[11]または[12]に記載の装置。
[14] 音響光学素子を少なくとも1つ備えており、光ヘテロダイン信号のStokes成分とanti-Stokes成分を一度に測定することができることを特徴とする[10]に記載の装置。
[15] 前記光照射機構が、直線偏光レーザを2分して、一方を前記入射光として使用し、他方を前記参照光として使用するものであることを特徴とする[10]〜[14]のいずれか一項に記載の装置。
[16] λ/2板を2つ以上備えており、そのうちの1つが前記入射光と前記散乱光の強度を調整するために用いられることを特徴とする[10]〜[15]のいずれか一項に記載の装置。
本発明の液体の表面物性の異方性を評価する方法は、偏光波面が一致している入射光と参照光を、試料液体の表面の同じ照射位置に互いに異なる入射角で入射させ、試料液体表面から鏡面反射された参照光とその方向に散乱された入射光の散乱光とを干渉させて光ヘテロダイン信号を検出することを基本工程とする。ここで、光ヘテロダイン信号のStokes成分とanti-Stokes成分を一度に測定すれば、異方性を簡単に評価することができる。
本発明の液体の表面物性の異方性を評価する方法は、偏光波面が一致している入射光と参照光を、試料液体の表面の同じ照射位置に互いに異なる入射角で入射させ、試料液体表面から鏡面反射された参照光とその方向に散乱された入射光の散乱光とを干渉させて光ヘテロダイン信号を検出する検出機構を備えた装置で実施することができる。
下記の化合物1および化合物2を用意して、以下において使用した。
化合物1を脱水2−ブタノン(和光純薬工業製)に固形分濃度1質量%で溶解させた。その後、LED方式のUV照射器(キーエンス社製、UV−400、φ8mmプローブ、99%出力設定)を用いて、波長365±5nmの光を図3に示すように、XY面に対して15度傾斜した+X軸上の地点より液体表面に向けて照射した(+X方向からの照射)。照度は400mW/cm2、照射エネルギーは80000mJ/cm2とした。
また、同じ方法により化合物1のメチルエチルケトン溶液を調製した後、同じ光をXY面に対して15度傾斜した+Y軸上の地点より液体表面に向けて照射した(+Y方向からの照射)。
図1の装置(装置A1)を用いて、+X方向からの光照射により得られたサンプルと、+Y方向からの光照射により得られたサンプルの物性の違いをFFT処理後のスペクトルから算出して比較した。各サンプルについて、光照射前と光照射後について測定を行った。
さらに図1の装置(装置A1)のかわりに、特開2001−318042号公報に記載されている光学系(装置B)を用いて同様の測定を行った。
結果を下記表1に示す。
上記評価方法1と同様にして、化合物1と化合物2の2−ブタノン溶液を調製し、光照射を行った。評価方法1と同様に+X方向から光照射を行い、このときのStokesとanti−Stokes(つまり+X方向と−X方向の波の進行方向の違い)を比較した。測定に際しては、図2に示す装置を用いた(装置A2)。すなわち、図1の光学系に音響工光学素子(AOM、Isomet社製1205−1054)30,31を挿入し周波数シフターとして用いた。各サンプルについて、光照射前と光照射後について測定を行った。
また、図2の装置(装置A2)のかわりに、特開2001−318042号公報に記載されている光学系(装置B)を用いて同様の測定を行った。
結果を下記表2に示す。
2,13 λ/2板
3,4,11,12,16,21 ミラー
8 偏光ビームスプリッター
9,10,14,15,20 ピンホール
17 FFT
18 増幅器/フィルター
19 フォトマル
22 試料
30,31 音響光学素子
40 ランプ
Claims (16)
- 試料液体の表面物性の異方性を評価する方法であって、
偏光波面が一致している入射光と参照光を、前記試料液体の表面の同じ照射位置に互いに異なる入射角で入射させ、前記試料液体表面から鏡面反射された参照光とその方向に散乱された入射光の散乱光とを干渉させて光ヘテロダイン信号を検出することにより、前記試料液体の表面物性の異方性を評価することを特徴とする方法。 - 前記光ヘテロダイン信号を検出する工程を、前記試料液体を回転させることにより前記照射位置における前記入射光と反射光の偏光波面に対する測定方向を変えて複数回行い、それぞれの工程で得られる光ヘテロダイン信号の違いにより前記試料液体の表面物性の異方性を評価することを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記ヘテロダイン信号を検出する工程を、前記試料液体を90度回転させる前後でそれぞれ行うことを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 前記光ヘテロダイン信号のStokes成分とanti-Stokes成分を一度に測定することを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 直線偏光レーザを2分して、一方を前記入射光として使用し、他方を前記参照光として使用することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 検出された前記ヘテロダイン信号をフーリエ変換して得られたパワースペクトルから液体面のリプロンの周波数と減衰率とを求め、また、前記入射光の入射角と前記散乱光の散乱角と前記入射光の波数とからリプロンの波数を求め、求められたリプロンの周波数と前記減衰率と前記入射光の波数とから表面張力と動粘性率を推算し、求められた表面張力と動粘性率の少なくとも一方を用いて前記試料液体の表面物性の異方性を評価することを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の方法。
- 素材の液体表面における異方性発現能を評価する方法であって、
前記素材を溶剤に溶解させた試料溶液に対して請求項1〜6のいずれか一項に記載の方法を行うことにより、前記試料溶液の表面に発現した異方性を評価することを特徴とする方法。 - 前記素材が光配向基を有する化合物であることを特徴とする請求項7に記載の方法。
- 前記素材がアゾ基を有する化合物であることを特徴とする請求項7または8に記載の方法。
- 試料液体の表面物性の異方性を評価する装置であって、
偏光波面が一致している入射光と参照光を、前記試料液体の表面の同じ照射位置に互いに異なる入射角で入射させる光照射機構と、
前記試料液体表面から鏡面反射された参照光とその方向に散乱された入射光の散乱光とを干渉させて得られる光ヘテロダイン信号を検出する検出機構と、
を備えることを特徴とする装置。 - 前記試料液体を回転させることにより前記照射位置における前記入射光と反射光の偏光波面に対する測定方向を変えることができる回転機構をさらに備えることを特徴とする請求項10に記載の装置。
- 光照射機構により前記入射光と前記参照光を前記試料液体の表面に照射し、前記検出機構により光ヘテロダイン信号を検出した後、前記回転機構により前記試料液体を回転させ、さらに回転後の状態で光照射機構により前記入射光と前記参照光を前記試料液体の表面に照射し、前記検出機構により光ヘテロダイン信号を検出するように制御する制御機構をさらに備えることを特徴とする請求項11に記載の装置。
- 測定方向を変えて得られる各光ヘテロダイン信号を記録する記録機構をさらに備えることを特徴とする請求項11または12に記載の装置。
- 音響光学素子を少なくとも1つ備えており、光ヘテロダイン信号のStokes成分とanti-Stokes成分を一度に測定することができることを特徴とする請求項10に記載の装置。
- 前記光照射機構が、直線偏光レーザを2分して、一方を前記入射光として使用し、他方を前記参照光として使用するものであることを特徴とする請求項10〜14のいずれか一項に記載の装置。
- λ/2板を2つ以上備えており、そのうちの1つが前記入射光と前記散乱光の強度を調整するために用いられることを特徴とする請求項10〜15のいずれか一項に記載の装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2009276292A true JP2009276292A (ja) | 2009-11-26 |
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JP (1) | JP5160956B2 (ja) |
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