JP2009253137A - Electronic component - Google Patents

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Toshiyuki Atsumi
俊之 渥美
Michio Oba
美智央 大庭
Shinya Matsutani
伸哉 松谷
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the connection reliability of an electronic component after being mounted. <P>SOLUTION: The electronic component has a slit for dividing a bottom face terminal into an inner part and an outer part or a slit for dividing a side face terminal into an upper part and a lower part. Due to the existence of the slit, the torque of the side face terminal is suppressed, reducing local stress acting on the solder after the electronic component is mounted. Consequently, the connection reliability of the electronic component after being mounted can be improved. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、インダクタンス部品等の電子部品に関する。   The present invention relates to an electronic component such as an inductance component.

図6に示すように、従来この種の電子部品1は、絶縁体2と、この絶縁体2の下面に形成された下面端子3A、3Bと、絶縁体2の側面に形成された側面端子4A、4Bと、この側面端子4Aまたは下面端子3A、および側面端子4Bまたは下面端子3Bと両端が接続されるとともに、絶縁体2内部に形成されたコイル5とを備えている。   As shown in FIG. 6, this type of electronic component 1 conventionally includes an insulator 2, lower surface terminals 3 </ b> A and 3 </ b> B formed on the lower surface of the insulator 2, and side surface terminals 4 </ b> A formed on the side surfaces of the insulator 2. 4B, the side surface terminal 4A or the lower surface terminal 3A, and the side surface terminal 4B or the lower surface terminal 3B are connected to both ends, and a coil 5 formed in the insulator 2 is provided.

そしてこの電子部品1は、基板6上においてはんだ7で実装されている。
特開平9−270355号公報
The electronic component 1 is mounted on the substrate 6 with solder 7.
Japanese Patent Laid-Open No. 9-270355

このような従来の電子部品1では、実装時に基板6との接続信頼性が低いという課題があった。   Such a conventional electronic component 1 has a problem that connection reliability with the substrate 6 is low at the time of mounting.

即ち基板6と電子部品1の絶縁体2との熱膨張率には差があるため、外部環境要因により絶縁体2が伸縮するとき、その伸縮力は側面端子4A、4Bに外力となって作用する。この時従来の構成では、側面端子4A、4Bは、基板6に近い下面端子3A、3Bに拘束されるため、下面端子3A、3Bを基点とした回転力が側面端子4A、4Bに作用する。
そしてこの回転力はテコの働きを伴い実装後のはんだ7に局所的に作用するため、はんだ7にクラックが生じたり、あるいは剥離したりして接続不良が発生することがあった。
That is, since there is a difference in thermal expansion coefficient between the substrate 6 and the insulator 2 of the electronic component 1, when the insulator 2 expands and contracts due to external environmental factors, the expansion force acts as an external force on the side terminals 4A and 4B. To do. At this time, in the conventional configuration, the side terminals 4A and 4B are constrained by the bottom terminals 3A and 3B close to the substrate 6, so that the rotational force based on the bottom terminals 3A and 3B acts on the side terminals 4A and 4B.
Since this rotational force acts as a lever and acts locally on the solder 7 after mounting, the solder 7 may be cracked or peeled off, resulting in poor connection.

そこで本発明は、電子部品の基板との接続信頼性を向上させることを目的とする。   Accordingly, an object of the present invention is to improve the connection reliability of an electronic component with a substrate.

そして、この目的を達成するために本発明は、下面端子を内外に区画するスリット、または側面端子を上下に区画するスリットを有するものとした。   And in order to achieve this object, this invention shall have the slit which divides a lower surface terminal inside and outside, or the slit which divides a side terminal up and down.

この構成により本発明は、電子部品の基板との接続信頼性を向上させることが出来る。   With this configuration, the present invention can improve the connection reliability of the electronic component with the substrate.

その理由は、スリットにより側面端子が下面端子からの拘束を受け難くなるからである。したがって側面端子の回転力が抑制され、絶縁体の伸縮に合わせて側面端子全体が一様に変形する。そしてその結果、はんだへの応力負荷が分散され、実装後において、電子部品の基板との接続信頼性を向上させることが出来る。   The reason is that the side terminals are not easily restrained by the lower surface terminals due to the slits. Therefore, the rotational force of the side terminal is suppressed, and the entire side terminal is uniformly deformed according to the expansion and contraction of the insulator. As a result, the stress load on the solder is dispersed, and the reliability of connection between the electronic component and the substrate can be improved after mounting.

(実施の形態1)
以下、本発明の実施の形態1における電子部品について、図面を参照しながら説明する。
(Embodiment 1)
Hereinafter, the electronic component according to Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1において、エポキシ樹脂等の絶縁性樹脂からなるシート状の絶縁体8の下面には、その左右端部に一対の下面端子9、10が設けられ、また絶縁体8の対向する側面(左右両端)には、それぞれ側面端子11、12が設けられている。本実施の形態では、これらの側面端子11、12はそれぞれ図2(A)〜図2(G)に示すコイル13の端部と接続されている。   In FIG. 1, a pair of lower surface terminals 9 and 10 are provided on the left and right ends of the lower surface of a sheet-like insulator 8 made of an insulating resin such as an epoxy resin, and the opposite side surfaces (left and right) of the insulator 8 are also provided. Side terminals 11 and 12 are provided at both ends. In the present embodiment, these side terminals 11 and 12 are connected to the ends of the coil 13 shown in FIGS. 2 (A) to 2 (G), respectively.

また本実施の形態では、下面端子9、10をそれぞれ内側9A、10Aの領域と外側9B、10Bの領域とに区画するようにスリット14が設けられている。このスリット14は、できるだけ下面端子9と側面端子11、下面端子10と側面端子12の境界領域近傍に設けることが好ましく、本実施の形態では、スリット14を下面端子9、10の中央よりも外側の位置にそれぞれ形成した。   In the present embodiment, the slits 14 are provided so as to divide the lower surface terminals 9 and 10 into regions of inner 9A and 10A and regions of outer 9B and 10B, respectively. The slit 14 is preferably provided in the vicinity of the boundary region between the lower surface terminal 9 and the side surface terminal 11 and between the lower surface terminal 10 and the side surface terminal 12 as much as possible. In this embodiment, the slit 14 is located outside the center of the lower surface terminals 9 and 10. Each was formed at the position.

また絶縁体8は図2(A)〜(G)に示すように、各絶縁体層8A、8B、8C、8D、8E、8F、8Gの積層構造により構成している。   Moreover, the insulator 8 is comprised by the laminated structure of each insulator layer 8A, 8B, 8C, 8D, 8E, 8F, 8G, as shown to FIG. 2 (A)-(G).

また図2(A)に示すように下面端子9、10は、電子部品の最下層に形成されており、スリット14の内部には絶縁体層8Aの樹脂が充填されている。なお本実施の形態では、このスリット14は、各下面端子9、10の上面から下面までを貫通している構成とした。この場合は、図2(A)に示す最下層を形成する一の工程でスリット14を形成することができ、生産効率が高い。   As shown in FIG. 2A, the lower surface terminals 9 and 10 are formed in the lowermost layer of the electronic component, and the inside of the slit 14 is filled with the resin of the insulating layer 8A. In the present embodiment, the slit 14 penetrates from the upper surface to the lower surface of the lower surface terminals 9 and 10. In this case, the slit 14 can be formed in one step of forming the lowermost layer shown in FIG. 2A, and the production efficiency is high.

また側面端子は、図2(B)〜(G)に示すように、各側面端子層11B〜11G、12B〜12Gの積層構造により構成している。   Moreover, the side terminal is comprised by the laminated structure of each side terminal layer 11B-11G and 12B-12G, as shown to FIG. 2 (B)-(G).

そして図2(B)に示すように、絶縁体層8Bには下面端子(図2(A)の9)に電気的に接続される側面端子層11B(引出電極)を形成しており、この絶縁体層8Bの上層には、図2(C)に示すように側面端子層(図2(B)の11B)に電気的に接続されるビア15が埋め込まれた絶縁体層8Cを積層している。   As shown in FIG. 2 (B), the insulating layer 8B is formed with a side surface terminal layer 11B (extraction electrode) electrically connected to the lower surface terminal (9 in FIG. 2 (A)). As shown in FIG. 2C, an insulating layer 8C in which a via 15 electrically connected to the side surface terminal layer (11B in FIG. 2B) is embedded is laminated on the insulating layer 8B. ing.

この絶縁体層8Cの上層には、図2(D)に示すように、ビア(図2(C)の15)にその一端が電気的に接続されるコイル13が埋め込まれた絶縁体層8Dを積層しており、この絶縁体層8Dの上層には、図2(E)に示すように、コイル(図2(D)の13)の他端に電気的に接続されるビア15が埋め込まれた絶縁体層8Eを積層している。   As shown in FIG. 2 (D), an insulator layer 8D in which a coil 13 whose one end is electrically connected to a via (15 in FIG. 2 (C)) is embedded in the upper layer of the insulator layer 8C. As shown in FIG. 2E, a via 15 electrically connected to the other end of the coil (13 in FIG. 2D) is embedded in the upper layer of the insulator layer 8D. The insulating layers 8E are stacked.

この絶縁体層8Eの上層には、図2(F)に示すように、ビア(図2(E)の15)にその一端が電気的に接続されるコイル13が埋め込まれた絶縁体層8Fを形成しており、このコイル13の他端を側面端子層12Fに電気的に接続させている。   As shown in FIG. 2 (F), an insulator layer 8F in which a coil 13 whose one end is electrically connected to a via (15 in FIG. 2 (E)) is embedded is formed above the insulator layer 8E. The other end of the coil 13 is electrically connected to the side terminal layer 12F.

またこの絶縁体層8Fの上層には、図2(G)に示すように絶縁体層8Gと側面端子層11G、12Gからなる層を積層し、これによりインダクタンス部品を形成している。   Further, as shown in FIG. 2G, a layer made up of the insulator layer 8G and the side terminal layers 11G and 12G is laminated on the insulator layer 8F, thereby forming an inductance component.

なお、本実施の形態では、コイル13の一端は下面端子9と接続させ、他端は側面端子12と接続させたが、例えば一端は下面端子9、他端は下面端子10、あるいは一端は側面端子11、他端は側面端子12と接続してもよく、適宜選択できる。   In the present embodiment, one end of the coil 13 is connected to the lower surface terminal 9 and the other end is connected to the side surface terminal 12. For example, one end is the lower surface terminal 9, the other end is the lower surface terminal 10, or one end is the side surface. The terminal 11 and the other end may be connected to the side terminal 12 and can be selected as appropriate.

本実施の形態における効果を以下に説明する。   The effect in this Embodiment is demonstrated below.

本実施の形態では、実装後の接続信頼性を向上させることが出来る。   In this embodiment, connection reliability after mounting can be improved.

その理由は、下面端子9、10にスリット14を設けることにより、絶縁体8の伸縮により発生する応力が、側面端子11、12の回転力となることを防止することができるからである。   The reason is that by providing the slits 14 in the lower surface terminals 9 and 10, it is possible to prevent the stress generated by the expansion and contraction of the insulator 8 from becoming the rotational force of the side terminals 11 and 12.

すなわち図6に示すように、一般にガラスエポキシ等からなる基板6と絶縁体2との熱膨張率には差があるため、外部環境要因により絶縁体2が伸縮するとき、その伸縮力は側面端子4A、4B、に外力となって作用する。この時従来の構成では、側面端子4A、4Bは、基板6に近い下面端子3A、3Bに拘束されるため、下面端子3A、3Bを基点とした回転力が側面端子4A、4Bに作用する。そしてこの回転力はテコの働きを伴い実装後のはんだ7に局所的に作用するため、はんだ7にクラックが生じたり、あるいは剥離したりして接続不良が発生することがあった。   That is, as shown in FIG. 6, since there is a difference in the coefficient of thermal expansion between the substrate 6 made of glass epoxy or the like and the insulator 2, when the insulator 2 expands and contracts due to external environmental factors, the expansion and contraction force is a side terminal. Acts as an external force on 4A and 4B. At this time, in the conventional configuration, the side terminals 4A and 4B are constrained by the lower surface terminals 3A and 3B close to the substrate 6, so that a rotational force based on the lower surface terminals 3A and 3B acts on the side terminals 4A and 4B. Since this rotational force acts as a lever and acts locally on the solder 7 after mounting, the solder 7 may be cracked or peeled off, resulting in poor connection.

これに対し本実施の形態では、図1に示すように、下面端子9、10にそれぞれスリット14を設けたため、側面端子11、12が下面端子9、10からの拘束を受け難くなる。すなわち側面端子11、12における回転力の発生を抑制でき、側面端子11、12全体に一様な応力が作用することになる。したがって、はんだに作用する応力の最大値を低減させることができ、結果として実装後の接続信頼性を向上させることが出来る。   In contrast, in the present embodiment, as shown in FIG. 1, since the slits 14 are provided in the lower surface terminals 9 and 10, the side terminals 11 and 12 are not easily restrained by the lower surface terminals 9 and 10. That is, the generation of rotational force at the side terminals 11 and 12 can be suppressed, and uniform stress acts on the entire side terminals 11 and 12. Therefore, the maximum value of the stress acting on the solder can be reduced, and as a result, the connection reliability after mounting can be improved.

また本実施の形態では、スリット14は下面端子9、10の中央より外側に設け、側面端子11、12と連結されている下面端子9、10の領域を小さくしている。したがって、下面端子9、10からの拘束を抑えることができ、側面端子11、12に作用する応力負荷をより分散させることができる。   Further, in the present embodiment, the slit 14 is provided outside the center of the lower surface terminals 9, 10 to reduce the area of the lower surface terminals 9, 10 connected to the side terminals 11, 12. Therefore, restraint from the lower surface terminals 9 and 10 can be suppressed, and the stress load acting on the side terminals 11 and 12 can be further dispersed.

なお、本実施の形態では、スリット14部分で下面端子9、10はそれぞれ内側9A、10Aと外側9B、10Bとに分断されるが、この分断された領域間は、はんだで電気的に接続することができる。   In the present embodiment, the lower surface terminals 9, 10 are divided into the inner 9A, 10A and the outer 9B, 10B at the slit 14, respectively, and the divided areas are electrically connected with solder. be able to.

またスリット14の幅は下面端子9、10の幅の三分の一以下程度が適当である。スリット14内に充填された絶縁体8の樹脂は、はんだとの密着性が低いが、このスリット幅であれば、下面端子9から側面端子11および下面端子10から側面端子12にわたりはんだ付けが容易にできるため、端子面積が縮小しても、はんだと端子の密着力低下を抑制できる。   The width of the slit 14 is suitably about one third or less of the width of the lower surface terminals 9 and 10. The resin of the insulator 8 filled in the slit 14 has low adhesiveness to the solder. However, with this slit width, soldering is easy from the bottom terminal 9 to the side terminal 11 and from the bottom terminal 10 to the side terminal 12. Therefore, even if the terminal area is reduced, a decrease in the adhesion between the solder and the terminal can be suppressed.

また本実施の形態では、スリット14の内部は絶縁体8の樹脂が充填されているため、表面をほぼ面一に形成することができる。したがって、この上に絶縁体8等を容易に積層できるとともに、凹凸が無いのでダスト等が溜まるのを防ぐことができる。   Further, in the present embodiment, since the inside of the slit 14 is filled with the resin of the insulator 8, the surface can be formed substantially flush. Therefore, the insulator 8 and the like can be easily laminated thereon, and since there is no unevenness, accumulation of dust and the like can be prevented.

なお本実施の形態では、スリット14は各下面端子9、10に一本ずつ設けたが、例えば複数本設けてもよい。   In the present embodiment, one slit 14 is provided for each lower surface terminal 9, 10, but a plurality of slits may be provided, for example.

さらに本実施の形態では、電子部品の両端は金属からなる側面端子11、12で全面被覆されている。したがって、この電子部品を一枚の基板状に複数個形成した場合、側面端子11、12と絶縁体8等の樹脂領域とが隣接するように配置すれば、側面端子11、12と樹脂領域との界面で容易に分割でき、個片化工程の効率が高い。   Further, in the present embodiment, both ends of the electronic component are entirely covered with side terminals 11 and 12 made of metal. Therefore, when a plurality of electronic components are formed on a single substrate, if the side terminals 11 and 12 and the resin region such as the insulator 8 are arranged adjacent to each other, the side terminals 11 and 12 and the resin region Can be easily divided at the interface, and the efficiency of the singulation process is high.

(実施の形態2)
本実施の形態と実施の形態1との違いは、図3に示すように、スリット14を有底の溝形状とした点である。すなわち本実施の形態では、スリット14は、下面端子9、10の外表面(下面)を残し、その内側に形成されている。
(Embodiment 2)
The difference between the present embodiment and the first embodiment is that the slit 14 has a bottomed groove shape as shown in FIG. That is, in the present embodiment, the slit 14 is formed on the inner side of the lower surface terminals 9 and 10 while leaving the outer surface (lower surface).

このようなスリット14は、図4(A)に示すように、製造工程においてこの電子部品の最下層にはスリット14の無い下面端子層16A、17Aを形成し、その上に図4(B)に示すようなスリット14を設けた下面端子層16B、17Bを積層することによって形成できる。   As shown in FIG. 4A, such slits 14 are formed with lower surface terminal layers 16A and 17A having no slits 14 in the lowermost layer of the electronic component in the manufacturing process, and FIG. The lower terminal layers 16B and 17B provided with the slits 14 shown in FIG.

本実施の形態では、このスリット14が設けられた領域では、下面端子9、10が薄くなり、弾性が小さくなる(軟らかくなる)。したがって、側面端子11、12への拘束力が抑制され、側面端子11、12の回転力を小さくすることができる。そしてその結果、絶縁体8が伸縮する際における側面端子11、12への応力負荷が分散され、電子部品と、これを実装する基板との接続信頼性を高めることができる。   In the present embodiment, in the region where the slit 14 is provided, the lower surface terminals 9 and 10 become thinner and the elasticity becomes smaller (softer). Therefore, the restraining force to the side terminals 11 and 12 is suppressed, and the rotational force of the side terminals 11 and 12 can be reduced. As a result, the stress load on the side terminals 11 and 12 when the insulator 8 expands and contracts is dispersed, and the connection reliability between the electronic component and the board on which the electronic component is mounted can be improved.

また本実施の形態では、下面端子9、10の外表面(下面)は金属で形成されているため、はんだとの親和性が高く、接続信頼性を向上させることができる。   In the present embodiment, since the outer surfaces (lower surfaces) of the lower surface terminals 9 and 10 are made of metal, the affinity with solder is high, and the connection reliability can be improved.

さらにこの構成では、下面端子9と側面端子11、および下面端子10と側面端子12とは電気的に接続している。したがって下面端子9、側面端子11のいずれか一方と、下面端子10、側面端子12のいずれか一方とがそれぞれはんだと接触していれば、いずれもコイル13と電気的に接続させることができる。したがって、基板と電子部品との接続信頼性を向上させることができる。   Further, in this configuration, the lower surface terminal 9 and the side surface terminal 11 and the lower surface terminal 10 and the side surface terminal 12 are electrically connected. Therefore, if either one of the lower surface terminal 9 and the side surface terminal 11 and either one of the lower surface terminal 10 and the side surface terminal 12 are in contact with the solder, both can be electrically connected to the coil 13. Therefore, the connection reliability between the substrate and the electronic component can be improved.

その他実施の形態1と同様の構成および効果については説明を省略する。   Description of other configurations and effects similar to those of the first embodiment is omitted.

(実施の形態3)
本実施の形態と実施の形態1との違いは、図5に示すように、スリット14を側面端子11、12にそれぞれ形成した点である。
(Embodiment 3)
The difference between the present embodiment and the first embodiment is that the slits 14 are formed in the side terminals 11 and 12, respectively, as shown in FIG.

そしてこのスリット14は、側面端子11、12をその上方の領域と下方の領域とに区画するように設けられている。   The slit 14 is provided so as to partition the side terminals 11 and 12 into an upper region and a lower region.

また本実施の形態では、スリット14は、下面端子9と側面端子11、および下面端子10と側面端子12の境界部分のすぐ上に形成されている。すわわち、側面端子11、12の中央よりも下側に形成されている構成である。   In the present embodiment, the slit 14 is formed immediately above the boundary portion between the lower surface terminal 9 and the side surface terminal 11 and between the lower surface terminal 10 and the side surface terminal 12. That is, it is the structure formed below the center of the side terminals 11 and 12.

さらにこのスリット14は有底の溝形状であり、側面端子11、12の外表面を残し、その内側にそれぞれ形成されている。そしてスリット14の内部には、絶縁体8の樹脂が充填されているものである。   Further, the slit 14 has a bottomed groove shape, and is formed on the inner side of the side terminals 11 and 12 while leaving the outer surfaces. The slit 14 is filled with the resin of the insulator 8.

本実施の形態における電子部品は、側面端子11、12を積層する工程において、一部の層でその幅を狭くすることによって形成できる。   The electronic component in the present embodiment can be formed by narrowing the width of some layers in the step of laminating the side terminals 11 and 12.

本実施の形態では、このスリット14が設けられた領域では、側面端子11、12が薄くなり、弾性が小さくなる(軟らかくなる)。したがって、この薄い部分が弾性変形することにより、下面端子9、10からの拘束力を緩衝することができ、側面端子11、12に作用する回転力を小さくすることができる。そしてその結果、絶縁体8が伸縮する際における側面端子11、12への応力負荷が分散され、電子部品と基板との接続信頼性を高めることができる。   In the present embodiment, in the region where the slit 14 is provided, the side terminals 11 and 12 become thin and the elasticity becomes small (soft). Therefore, when the thin portion is elastically deformed, the restraining force from the lower surface terminals 9 and 10 can be buffered, and the rotational force acting on the side terminals 11 and 12 can be reduced. As a result, the stress load on the side terminals 11 and 12 when the insulator 8 expands and contracts is dispersed, and the connection reliability between the electronic component and the board can be improved.

ここで、側面端子11、12に作用する回転力は、下面端子9、10との各接合部分を基点として働くため、テコの原理により、この基点との距離が長くなるほど回転力は大きくなる。したがってこの回転力を低減するには、スリット14をできるだけ下面端子9、10に近い位置に設けることが好ましい。よって本実施の形態では、スリット14を側面端子11、12の下側に形成し、効率よく回転力を低減している。   Here, since the rotational force acting on the side terminals 11 and 12 works with the respective joint portions with the lower surface terminals 9 and 10 as base points, the rotational force increases as the distance from the base point becomes longer according to the lever principle. Therefore, in order to reduce this rotational force, it is preferable to provide the slit 14 as close to the lower surface terminals 9 and 10 as possible. Therefore, in this embodiment, the slit 14 is formed below the side terminals 11 and 12 to efficiently reduce the rotational force.

なおスリット14は、本実施の形態のように溝状としてもよく、あるいは側面端子11、12の左右の面を貫通するように形成してもよく、いずれの場合も側面端子11、12の回転力を小さくすることができる。ただし、本実施の形態のようにスリット14を溝状とすることにより、個片化工程を簡易にすることができる。すなわち、本実施の形態では、電子部品の左右の側面全体は、側面端子11、12の金属で構成されている。したがってこの側面で容易に分割でき、個片化工程の効率が高くなる。   The slit 14 may be groove-shaped as in the present embodiment, or may be formed so as to penetrate the left and right surfaces of the side terminals 11 and 12, and in either case, the rotation of the side terminals 11 and 12 The power can be reduced. However, the singulation process can be simplified by making the slit 14 into a groove shape as in the present embodiment. In other words, in the present embodiment, the entire left and right side surfaces of the electronic component are made of the metal of the side terminals 11 and 12. Therefore, it can be easily divided on this side, and the efficiency of the singulation process is increased.

また本実施の形態では、スリット14は側面端子11、12にのみ設けたが、下面端子9、10にも設けても良い。   In the present embodiment, the slit 14 is provided only on the side terminals 11 and 12, but it may be provided on the lower surface terminals 9 and 10.

その他実施の形態1と同様の構成および効果については説明を省略する。   Description of other configurations and effects similar to those of the first embodiment is omitted.

なお、上記実施の形態においてはインダクタンス部品を用いて説明をしたが、絶縁体8内にコンデンサ等を設けLC複合部品とするなど、他の電子部品においても有用である。   Although the above embodiment has been described using an inductance component, it is also useful in other electronic components such as an LC composite component in which a capacitor or the like is provided in the insulator 8.

本発明にかかる電子部品は、実装後の接続信頼性の向上を図ることができるという特徴を有し、携帯電話等の各種電気機器において有用である。   The electronic component according to the present invention is characterized in that the connection reliability after mounting can be improved, and is useful in various electric devices such as a mobile phone.

本発明の実施の形態1における電子部品の斜視図The perspective view of the electronic component in Embodiment 1 of this invention (A)〜(G)同電子部品を分解した断面図(A)-(G) The sectional view which decomposed | disassembled the electronic component 本発明の実施の形態2における電子部品の斜視図The perspective view of the electronic component in Embodiment 2 of this invention (A)(B)同電子部品の要部を分解した断面図(A) (B) Cross-sectional view of the essential parts of the electronic component exploded 本発明の実施の形態3における電子部品の斜視図The perspective view of the electronic component in Embodiment 3 of this invention 従来の電子部品の断面図Sectional view of conventional electronic components

符号の説明Explanation of symbols

8 絶縁体
8A〜8G 絶縁体層
9、10 下面端子
9A、10A 内側
9B、10B 外側
11、12 側面端子
11B〜11G、12B〜12G 側面端子層
13 コイル
14 スリット
15 ビア
16A、16B、17A、17B 下面端子層
8 Insulator 8A-8G Insulator layer 9, 10 Lower surface terminal 9A, 10A Inner 9B, 10B Outer 11, 12 Side terminal 11B-11G, 12B-12G Side terminal layer 13 Coil 14 Slit 15 Via 16A, 16B, 17A, 17B Bottom terminal layer

Claims (7)

絶縁体と、
この絶縁体の下面に形成された下面端子と、
前記絶縁体の側面に形成された側面端子と、
この側面端子または下面端子の少なくとも一方と接続され、前記絶縁体内部に形成されたコイルとを備え、
前記下面端子を内外に区画するスリットを有する電子部品。
An insulator;
A lower surface terminal formed on the lower surface of the insulator;
A side terminal formed on a side surface of the insulator;
It is connected to at least one of the side surface terminal or the bottom surface terminal, and includes a coil formed inside the insulator,
An electronic component having a slit that divides the lower surface terminal into an inside and an outside.
前記スリットは、前記下面端子の中央より外側に形成されている請求項1に記載の電子部品。 The electronic component according to claim 1, wherein the slit is formed outside a center of the lower surface terminal. 絶縁体と、
この絶縁体の下面に形成された下面端子と、
前記絶縁体の側面に形成された側面端子と、
この側面端子または下面端子の少なくとも一方と接続され、前記絶縁体内部に形成されたコイルとを備え、
前記側面端子を上下に区画するスリットを有する電子部品。
An insulator;
A lower surface terminal formed on the lower surface of the insulator;
A side terminal formed on a side surface of the insulator;
It is connected to at least one of the side surface terminal or the bottom surface terminal, and includes a coil formed inside the insulator,
An electronic component having a slit that divides the side terminal vertically.
前記スリットは、前記側面端子の中央より下側に形成されている請求項3に記載の電子部品。 The electronic component according to claim 3, wherein the slit is formed below the center of the side terminal. 前記スリットは有底の溝形状であり、
前記下面端子または前記側面端子の外表面を残し、
その内側に形成されている請求項1または3に記載の電子部品。
The slit is a bottomed groove shape,
Leaving the outer surface of the bottom terminal or the side terminal,
The electronic component according to claim 1, wherein the electronic component is formed inside thereof.
前記スリットの内部には、
絶縁体が充填されている請求項1または3に記載の電子部品。
Inside the slit,
The electronic component according to claim 1 or 3, which is filled with an insulator.
前記スリットの幅は、このスリットが形成されている端子の幅の三分の一以下とした請求項1または3に記載の電子部品。 4. The electronic component according to claim 1, wherein a width of the slit is one third or less of a width of a terminal in which the slit is formed.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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