JP2009235497A - スパッタリング装置 - Google Patents

スパッタリング装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2009235497A
JP2009235497A JP2008083718A JP2008083718A JP2009235497A JP 2009235497 A JP2009235497 A JP 2009235497A JP 2008083718 A JP2008083718 A JP 2008083718A JP 2008083718 A JP2008083718 A JP 2008083718A JP 2009235497 A JP2009235497 A JP 2009235497A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plasma
pair
magnets
magnet
sputtering apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008083718A
Other languages
English (en)
Inventor
Atsuhiro Terakura
厚広 寺倉
Yasukuni Iwasaki
安邦 岩崎
Daisuke Akashi
大輔 明石
Masao Marunaka
正雄 丸中
Noriaki Miyazaki
典明 宮崎
Takayuki Tsuchiya
貴之 土屋
Etsuro Nishida
悦郎 西田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinmaywa Industries Ltd
Original Assignee
Shinmaywa Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinmaywa Industries Ltd filed Critical Shinmaywa Industries Ltd
Priority to JP2008083718A priority Critical patent/JP2009235497A/ja
Publication of JP2009235497A publication Critical patent/JP2009235497A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】 複数の磁石を必要とせず、磁石の表面の磁束密度を容易に均一化する磁石ホルダを備えるスパッタリング装置を安価に提供する。
【解決手段】 スパッタリング装置が、プラズマガンと、プラズマ形成室と、一対の磁石11A,11Bと、一対の磁石ホルダ25A,25Bと、真空成膜室と、電磁コイルと、電源と、を備え、前記一対の磁石ホルダは、それぞれ、その有効主面に対向する第1の構成部材28A,28Bと、前記有効主面以外の部分に対向する第2の構成部材26A,26B,27A,27Bと、を有し、第1の構成部材28A,28Bが磁性材料からなる。
【選択図】 図3

Description

本発明は、プラズマをシート状に変形するための磁石を保持する磁石ホルダを備えるスパッタリング装置に関し、特に、磁石を保持し、且つ、その表面の磁束密度を容易に均一化する磁石ホルダを備えるスパッタリング装置に関する。
従来から、円柱状のプラズマを、同じ磁極同士を互いに対向させて強力な反発磁界を発生するような一対の磁石により挟むことで、均一且つ高密度のシート状プラズマを形成できることが知られている。
又、従来から、シート状プラズマをターゲットと基板との間の成膜空間に導いて、シート状プラズマ中の荷電粒子を用いたスパッタリングによりスパッタ粒子を叩き出し、そのスパッタ粒子をシート状プラズマに通して電離させ、基板に堆積させるといったスパッタリング技術が開発されている。
ところで、シート状プラズマを用いてスパッタ粒子を基板に堆積させるスパッタリング技術において、円柱状のプラズマの形状を一対の磁石により挟むことでシート状に変形させる構成では、その磁石の表面における磁束密度には約100ガウス程度の面内ばらつきがあり、これに起因してプラズマ変形用の磁場に非対称性が発生するため、変形されたシート状プラズマの形状には、左右方向、上下方向、及び捻れ方向にずれが発生する。そして、シート状プラズマの形状にずれが発生すると、そのシート状プラズマの密度の不均一化が発生して、基板上の膜厚分布及び膜質分布が悪化するという問題が生じる。
その対策として、所定の磁束密度及び分布を得るために、中心部分の反発磁場強度が外縁部分の反発磁場強度よりも強い磁石を少なくとも1以上備えることを特徴とするスパッタリング装置が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2007−119804号公報
しかしながら、複数の磁石を用いて所定の磁束密度及び分布を得ようとする場合には、矩形状の磁石を組み合わせることにより、磁束密度の乱れが生じて、一様な所定の磁束密度及び分布が得られ難いという問題が発生する。従って、実際には、被成膜基板上の膜厚分布及び膜質分布が悪化するという問題を解消することは難しい。
又、複数の磁石を用いて所定の磁束密度及び分布を得ようとする場合には、個々の磁石の特性を十分に考慮して、複数の磁石を精密に組み合わせる必要がある。そのため、所定の磁束密度及び分布を容易に得ることは難しく、これを実現するためには、スパッタリング装置のコストアップを招く危険性がある。
本発明は、上記従来技術の問題点に鑑み、複数の磁石を必要とせず、磁石の表面の磁束密度を容易に均一化する磁石ホルダを備えるスパッタリング装置を安価に提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明は次の技術的手段を講じた。
即ち、本発明に係る特徴的なスパッタリング装置は、円柱状プラズマを放電により形成して輸送方向に向けて放出するプラズマガンと、前記プラズマガンに連通し前記円柱状プラズマが前記輸送方向に移動する輸送空間を有するプラズマ形成室と、前記プラズマ形成室の輸送空間を前記輸送方向に対して交差する向きに同極同士が向き合うように挟む一対の磁石と、前記一対の磁石を同極同士が向き合うように保持する一対の磁石ホルダと、前記プラズマ形成室の輸送空間に連通する開口を通じてシート状プラズマが導入される真空成膜室と、前記真空成膜室内に配置されたターゲットを前記輸送方向に沿った向きに挟み互いに異極同士が向き合った対をなす電磁コイルと、前記ターゲットにバイアス電圧を印加する電源と、を備え、前記一対の磁石は、それぞれ、磁束を提供する有効主面を有し、前記それぞれの有効主面が前記輸送空間を挟むように前記一対の磁石が配置され、前記有効主面からの前記磁束により前記円柱状プラズマをシート状に変形させて前記シート状プラズマとするスパッタリング装置であって、前記一対の磁石ホルダは、それぞれ、前記有効主面に対向する第1の構成部材と、前記有効主面以外の部分に対向する第2の構成部材と、を有し、前記第1の構成部材が磁性材料からなる。
かかる構成とすると、一対の磁石ホルダにおける第1の構成部材が磁性材料により構成されているので、一対の磁石の有効主面における磁束密度が不均一である場合でも、その一対の磁石の有効主面における磁束密度を全面に渡り容易に均一化することができる。その結果、円柱状のプラズマをシート状のプラズマに変形するための磁場が全面に渡り一様となり、シート状に変形されたプラズマの形状が均一になるので、基板上の膜厚分布及び膜質分布を均一化することが可能になる。
この場合、前記磁性材料が、少なくとも1000以上の透磁率の磁性材料である。
かかる構成とすると、一対の磁石ホルダにおける第1の構成部材が少なくとも1000以上の透磁率の磁性材料からなるので、一対の磁石の有効主面における磁束密度が不均一である場合でも、その一対の磁石の有効主面における磁束密度を全面に渡り容易に且つ確実に均一化することが可能になる。
この場合、前記磁性材料が、鉄、ニッケルの何れかの強磁性材料である。
かかる構成とすると、一対の磁石ホルダにおける第1の構成部材が、鉄、ニッケルの何れかの強磁性材料からなるので、一対の磁石の有効主面における磁束密度が不均一である場合でも、その一対の磁石の有効主面における磁束密度を全面に渡り容易に且つより一層確実に均一化することが可能になる。
又、上記の場合、前記第2の構成部材が非磁性材料からなる。
かかる構成とすると、一対の磁石ホルダにおける第2の構成部材が非磁性材料からなっているので、それぞれの磁石ホルダにおいて磁界が収束することを効果的に防ぐことが可能になる。
又、かかる構成とすると、一対の磁石ホルダを機械加工により容易に製作することが可能になるので、一対の磁石ホルダの寸法精度が向上して、スパッタリング装置の組み立て及び調整が容易になる。
この場合、前記非磁性材料が、アルミニウム、銅、樹脂、セラミックスの何れかの非磁性材料である。
かかる構成とすると、一対の磁石ホルダにおける第2の構成部材が、比較的安価なアルミニウム、銅、樹脂、セラミックスの何れかの非磁性材料からなるので、一対の磁石ホルダを比較的安価に構成することが可能になる。
又、上記の場合、前記一対の磁石の有効主面と前記一対の磁石ホルダの第1の構成部材とが相互に接触している。
かかる構成とすると、一対の磁石の有効主面と一対の磁石ホルダの第1の構成部材とが相互に接触しているので、一対の磁石の有効主面における磁束密度が比較的高度に不均一である場合でも、その一対の磁石の有効主面における磁束密度を全面に渡り効果的に均一化することが可能になる。
上記の通り、本発明によれば、複数の磁石を用いることなく、磁石の表面の磁束密度を容易に均一化する磁石ホルダを備えるスパッタリング装置を安価に提供することが可能になる。
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
先ず、本実施の形態に係るスパッタリング装置の基本的な構成について説明する。
図1は、本発明に係るスパッタリング装置の概略構成を示す模式図である。尚、以下の説明においては、プラズマの輸送方向である図1の紙面左右方向をZ方向とし、このZ方向に直交する図1の紙面上下方向をY方向とし、Z方向に直交する図1の紙面貫通方向をX方向とする。
図1に示すように、本実施の形態に係るスパッタリング装置1は、Z方向に沿って図1の右側から順に、プラズマを高密度に生成してZ方向に放出するプラズマガン2と、Z方向の軸心を中心とした円筒状に形成された非磁性材料からなるプラズマ形成室3と、Y方向を軸心とする円筒状に形成された非磁性材料からなる真空成膜室4とを備えている。ここで、これらプラズマガン2、プラズマ形成室3、及び真空成膜室4は、気密状態を保った状態で互いに連通されている。
プラズマガン2は、減圧可能な図示しない放電空間を有しており、当該プラズマガン2の一端には、当該放電空間を塞ぐフランジ5(カソードマウント)が設けられている。このフランジ5には、プラズマ放電誘発用の熱電子を放出するカソード6と、プラズマ放電により電離される放電ガスとしてのアルゴンガスを上記放電空間に導く図示しないガス導入部とが設けられている。
上記放電空間の適所には、カソード6との間でプラズマ放電を維持するため、直流電源と抵抗との組み合わせにより所定のプラス電圧を印加された一対のグリッド電極G1,G2(中間電極)が配置されている。このようなプラズマ放電により、プラズマガン2の放電空間には、荷電粒子の集合体としてのプラズマが形成される。尚、直流電源に基づく低電圧且つ大電流の直流アーク放電により、カソード6と後述のアノード7との間に高密度のプラズマ放電を可能とする公知の圧力勾配型のプラズマガンが採用されている。
磁束密度のZ方向における勾配により、プラズマを構成する荷電粒子は、上記放電空間からZ方向に運動するよう、磁力線の回りを旋回しながら進む。そして、これら荷電粒子の集合体としてのプラズマが、Z方向の輸送中心に対して略等密度分布する円柱状のプラズマ(以下、円柱状プラズマという)として、プラズマガン2のZ方向の端部とプラズマ形成室3の端部との間に介在する図示しない通路を介して、当該プラズマ形成室3へ引き出される。
ここで、プラズマ形成室3は、導電性材料、半導体、絶縁性材料の何れかにより構成されるが、その機械的強度を考慮する場合には、導電性金属材料により構成することが好ましい。
又、プラズマ形成室3は、Z方向の軸を中心とした円柱状の減圧可能な輸送空間10を有している。このプラズマ形成室3の周囲には、円柱状プラズマ8のZ方向の推進力を発生する円環状の第1電磁コイル9(空心コイル)が配設されている。尚、この第1電磁コイル9の巻線には、カソード6側をS極とし、アノード7側をN極とする向きの電流が通電されている。又、第1電磁コイル9のZ方向の前方側(アノードAに近い側)には、プラズマ形成室3(輸送空間10)をY方向の向きに挟み、互いに同極(ここではN極)が対向する一対の角形の棒磁石11A,11B(一対の磁石)が、Y方向に所定の間隔を隔てて配設されている。尚、一対の棒磁石11A,11Bは、図1に示すX軸に対して平行に配置されている。又、一対の棒磁石11A,11Bの材料としては、例えば、ネオジウム、フェライト、サマリウムコバルト等の材料が用いられる。ここで、便宜上、図1では図示しないが、棒磁石11Aは、磁石ホルダにより所定の位置に配設されている。又、同様にして、棒磁石11Bも、磁石ホルダにより所定の位置に配設されている。これらの磁石ホルダ(後述する磁石ホルダ11A,11B)の特徴的な構成については、後に詳細に説明する。
上記第1電磁コイル9の巻線に電流を流すと、プラズマ形成室3の輸送空間10に作られるコイル磁界と、一対の棒磁石11A,11Bによりこの輸送空間10に作られる磁石磁界との相互作用により、円柱状プラズマ8が、輸送空間10をZ方向に移動する過程において、シート状に変形されたシート状プラズマ12となる。このシート状プラズマ12は、輸送中心Pを含むXZ平面(以下、主面Sという)に沿って均一に拡がっている。
ここで、第1電磁コイル9及び一対の棒磁石11A,11Bによる磁界相互作用に基づいて、円柱状プラズマ8がシート状プラズマ12に変形されることについて、図2を参照しながら説明する。
図2はシート状プラズマ12の形成法の概略を説明する模式図であって、図2(a)は棒磁石11A,11BのZ方向の略中央付近におけるXY平面に平行な断面の模式図であり、図2(b)は棒磁石11A,11BのX方向の略中央付近におけるYZ平面に平行な断面の模式図である。尚、図2において、符号Bx,By及びBzは、各々、図1中のX方向、Y方向及びZ方向の磁束密度ベクトル成分を表している。
図2(b)から理解されるように、第1電磁コイル9のコイル磁界により、棒磁石11A,11Bに到達する前の円柱状プラズマ8のZ方向に作用する初期の磁束密度成分Bz0が形成されている。このとき、初期の磁束密度成分Bz0と、一対の棒磁石11A,11Bが作るZ方向の磁束密度成分Bzとの間の大小関係を適正に保つように、第1電磁コイル9の配置やその巻線に流す電流量を設定する必要がある。両者間の適正な関係を保たなければ、円柱状プラズマ8をシート状プラズマ12に変形する際の、プラズマの形態が乱れて、主面Sに沿って、円柱状プラズマ8を均一に拡げ難くなると考えられている。
又、図2(a)から理解されるように、XY平面上には、一対の棒磁石11A,11BのN極面から互いに輸送中心P1に近づく磁束密度のY方向成分Byの対が形成されると共に、これらの棒磁石11A,11BのN極面と平行に輸送中心P1から互いに離れる磁束密度のX方向成分Bxの対が形成されている。
磁束密度のY方向成分Byの対については、棒磁石11A,11BのN極面を互いに対向配置させていることから、これらのN極面から輸送中心P1に近づくに連れて、そのY方向成分に互いに相殺され、これらの磁束密度のY成分に適宜のマイナス勾配を持たせることができる。
このような、磁束密度のY方向成分Byの勾配は、図2(a)の矢印で示す如く、輸送中心P1に向かってY方向に円柱状プラズマ8を圧縮する方向に荷電粒子を運動させ、これにより、円柱状プラズマ8中の荷電粒子は、磁力線の回りを旋回しながら、輸送中心P1の方向に進む。
一方、磁束密度のX方向成分Bxの対については、棒磁石11A,11Bの配置やその磁場強度の適切な設計により、輸送中心P1からX方向に離れるに連れて、これらの磁束密度のX成分に適宜のマイナス勾配を持たせるように調整できる。
このような、磁束密度のX方向成分Bxの勾配は、図2(a)の矢印で示す如く、円柱状プラズマ8を主面S(XZ平面)に沿って拡げる方向に荷電粒子を運動させ、これにより、円柱状プラズマ8中の荷電粒子は、磁力線の回りを旋回しながら、輸送中心Pから離れる方向に進む。
このようにして、円柱状プラズマ8は、プラズマ形成室3をZ方向に移動する間に、第1電磁コイル9及び棒磁石11A,11Bによる磁界相互作用に基づいて、主面Sに沿ったシート状プラズマ12に均一に変形される。尚、シート状プラズマ12の幅、厚み及び荷電粒子の密度分布等は、これらの磁束密度Bx,By,Bz,Bz0を適宜変更することにより、調整可能である。
さて、このようにして変形されたシート状プラズマ12は、図1に示すように、プラズマ形成室3のZ方向の他端と真空成膜室4の側壁との間に介在する、ボトルネック部13を介して、真空成膜室4へ引き出される。尚、本実施の形態において、ボトルネック部13の間隔(Y方向寸法)及び厚み(Z方向寸法)並びに幅(X方向寸法)は、シート状プラズマ12を適切に通過させるように設計されている。
真空成膜室4としては、例えば、シート状プラズマ12中のArイオンの衝突エネルギにより平板状のターゲット14のCu材料をスパッタ粒子として叩き出す真空スパッタリング装置が採用される。尚、この真空成膜室4の筐体は、例えば、アルミニウム、ステンレス等の導電性材料により構成される。
本実施の形態では、真空成膜室4は、Y方向の軸を中心とした円柱状の減圧可能な、スパッタリングプロセス用の成膜空間16を有している。この成膜空間16は、バルブ17により開閉可能な排気口から真空ポンプ18(例えば、ターボポンプ)により真空引きされる。当該成膜空間16は、スパッタリングプロセス可能なレベルの真空度にまで速やかに減圧されると共に、プラズマ形成室3の輸送空間10が円柱状プラズマを輸送可能なレベルの真空度まで速やかに減圧される。
成膜空間16は、その機能上、上下方向(Y方向)において、ボトルネック部13の間隔に対応する水平面(XZ平面)に沿った中央空間を境にして、板状の銅製のターゲット14を格納する囲い部により区画されたターゲット空間と、板状の基板15を格納する囲い部により区画された基板空間と、に区分けされる。
つまり、本実施の形態において、ターゲット14は、ターゲットホルダ19に装着された状態でターゲット空間内に格納され、図示しないアクチュエータによりターゲット空間内を上下(Y方向)に移動可能に構成されている。一方、基板15は、基板ホルダ20に装着された状態で基板空間内に格納され、図示しないアクチュエータにより基板空間内を上下(Y方向)に移動可能に構成されている。
このようにして、ターゲット14及び基板15は、互いに、シート状プラズマ12の厚み方向(Y方向)に一定の好適な間隔を隔てるようにして、このシート状プラズマ12を挟み、成膜空間16内に対向して配置されている。
又、スパッタリングプロセス中、ターゲット14には、直流電源V3により数百ボルトの範囲内で変更可能な可変バイアス電圧(マイナス電圧)が印加される。これにより、シート状プラズマ12中のArイオンがターゲット14に向かって引き付けられる。その結果、Arイオンとターゲット14との間の衝突エネルギにより、ターゲット14のスパッタ粒子(例えば、Cu粒子)が、ターゲット14から基板15に向かって叩き出される。
又、基板15には、直流電源V2により数百ボルトの範囲内で変更可能な直流の可変バイアス電圧が基板ホルダ20を介して印加されており、シート状プラズマ12により電子を剥ぎ取られて電離されたスパッタ粒子(例えば、Cuイオン)が、基板15に向かって加速され、当該基板15に対し付着強度を高めて堆積される。
ここで、ボトルネック部13から見て、Z方向に対向する位置の真空成膜室4の周辺構成を説明する。
真空成膜室4の側壁にはアノード7が配置され、この側壁とアノード7との間には、プラズマ通過用の通路21が設けられている。
アノード7は、カソード6との間で適宜のプラス電圧(例えば、100V程度の印加電圧)が印加され、カソード6及びアノード7の間の直流アーク放電によるシート状プラズマ12中の荷電粒子(特に、電子)を回収する役割を担っている。
又、アノード7の裏側には、アノード7側をS極、大気側をN極とした永久磁石(収束用磁石)22が配置されている。このため、この永久磁石22のN極から出てS極に入るXZ平面に沿った磁力線により、アノード7に向かうシート状プラズマ12が幅方向に収束され、シート状プラズマ12の荷電粒子が、アノード7に適切に回収され得る。
尚、図1では図示しないが、スパッタリング装置1には、上記永久磁石22をプラズマの輸送中心P1を傾動軸として傾ける収束磁石用の傾動機構が設けられている。この収束磁石用の傾動機構は、アノード7の裏側に配置された永久磁石22の近傍に配置されている。傾動機構は、永久磁石22を挟んで保持する保持部と、この保持部を輸送中心P1を傾動軸として傾ける回転部と、この回転部に設けられた手動で操作するためのレバーとを備え、更に、回転部には、永久磁石22の傾きを読みとれる目盛りが設けられている。これにより、永久磁石22を所望の角度まで簡単に傾けることができる。
尚、当該傾動機構には、永久磁石22を保持し且つ傾ける構成のものであれば、公知の機構を採用することができる。例えば、他の傾動機構の構成として、角度値を入力すれば回転部を自動で傾けるための駆動部及び制御部を設けて、永久磁石22をその角度に傾けるようにしてもよい。
又、図1に示すように、このスパッタリング装置1では、円環状の第2、及び第3の電磁コイル23,24(空心コイル)が、互いに対をなして、真空成膜室4の側壁を臨むようにして、成膜空間16内のターゲット14及び基板15をZ方向の向きに挟んで配置されている。
ここで、第2の電磁コイル23は、その巻線が一対の棒磁石11A,11Bと真空成膜室4との間のZ方向の適所を取り囲むように、配置されている。又、第3の電磁コイル24は、その巻線が真空成膜室4の側壁とアノード7との間のZ方向の適所を取り囲むように配置されている。
このような、第2及び第3の電磁コイル23,24の対の巻線に電流を流すことにより作られるコイル磁界(例えば、10G〜300G程度のミラー磁界)により、シート状プラズマ12の幅方向(X方向)の形状が、当該シート状プラズマ12中の荷電粒子の拡散を適切に抑えるように整形される。
尚、本実施の形態に係るスパッタリング装置1において、プラズマガン2、真空成膜室4、アノード7、ターゲット14、基板15は、セラミック、プラスチック等の電気絶縁性材料を介し、それぞれ電気的に絶縁されている。
次に、本発明に係る特徴的な磁石ホルダの具体的な構成について説明する。
図3は、一対の棒磁石11A,11Bを同極同士が向き合うように保持する磁石ホルダの断面構成を示す模式図である。尚、図3に示す模式図は、図1に示すIII−III線に沿った断面構成を示し、磁石ホルダの断面をカソード5からアノード7の方向に観察した場合の断面構成を示している。
図3に示すように、本発明に係る一対の磁石ホルダ25A,25Bは、一対の角形の棒磁石11A,11Bの周囲を取り囲むようにして、Z方向から見てそれぞれ平板状の、ホルダベース26A,26Bと、サイドベース27A,27Bと、トップベース28A,28Bと、を備えている。
具体的には、説明が重複するため磁石ホルダ25Aを挙げて説明すると、この磁石ホルダ25Aは、角形の棒磁石11Aの上面を完全に覆うようにして、Z方向から見て平板状であり且つY方向から見て矩形状のホルダベース26Aを備えている。又、この磁石ホルダ25Aは、棒磁石11Aの側面をその全周に渡り完全に覆うようにして、Z方向から見て平板状であり、且つ、X方向及びZ方向から見て矩形状のサイドベース27Aを備えている。そして、この磁石ホルダ25Aは、角形の棒磁石11Aの下面を完全に覆うようにして、Z方向から見て平板状であり且つY方向から見て矩形状のトップベース28Aを備えている。ここで、本実施の形態では、図3に示すように、棒磁石11Aと磁石ホルダ25Aとは互いに接触した状態とされている。又、ホルダベース26Aの周縁の内方に矩形状に形成されたサイドベース27Aが配設され、その矩形状のサイドベース27Aの内方に棒磁石11Aが配置されている。そして、この棒磁石11Aの下面にその上面が接し且つその下面がサイドベース27Aの下端と同一平面上に位置するように、トップベース28Aが配設されている。
ホルダベース26A及びサイドベース27Aは、それぞれ分割して製作された後に接合されてもよく、或いは、一体加工により結合状態で製作されてもよい。又、サイドベース27Aとトップベース28Aとは、ネジ、リベットロー付け等の適切な手段により相互に接合される。
本明細書では、角形の棒磁石11Aの下面を有効主面という。又、この有効主面に対向するトップベース28Aを、磁石ホルダ25Aにおける第1の構成部材という。更に、棒磁石11Aの有効主面以外の部分に対向するホルダベース26A及びサイドベース27Aを、磁石ホルダ25Aにおける第2の構成部材という。
そして、本実施の形態では、磁石ホルダ25Aにおける第1の構成部材としてのトップベース28Aが、磁性材料により構成されている。又、磁石ホルダ25Aにおける第2の構成部材としてのホルダベース26A及びサイドベース27Aが、非磁性材料により構成されている。ここで、磁性材料としては、少なくとも1000以上の透磁率の磁性材料が用いられる。好ましくは、この磁性材料としては、例えば、鉄、ニッケル等の強磁性材料が用いられる。一方、非磁性材料としては、アルミニウム、銅、樹脂、セラミックス等の非磁性材料が用いられる。尚、磁性材料及び非磁性材料としては、上記に挙げた鉄等の磁性材料及びアルミニウム等の非磁性材料に限定されることはなく、磁気的特性及び機械的強度等が所定の基準を満たすものであれば、如何なる磁性材料及び非磁性材料を用いてもよい。かかる構成としても、本実施の形態により得られる効果と同様の効果を得ることができる。
又、図3に示すように、本実施の形態では、棒磁石11Aの有効主面と磁石ホルダ25Aにおける第1の構成部材としてのトップベース28Aとが相互に接触している。尚、棒磁石11Aの有効主面と磁石ホルダ25Aにおけるトップベース28Aとは、磁石ホルダ25Aの形状次第により若干間隙を有するように配置されてもよい。
又、本実施の形態では、トップベース28AがZ方向から見て平板状に整形されている形態を例示しているが、このような形態に限定されることはない。例えば、棒磁石11Aの有効主面における磁束密度の分布等に応じて、その磁束密度の分布を適切に改善するべく、トップベース28Aの断面形状を適当な断面形状に変形させてもよい。例えば、トップベース28Aの断面形状を三角状に整形してもよく、或いは、トップベース28Aの断面形状を台形状に整形してもよい。このように、トップベース28Aの形状を適宜変形させることで、様々な磁場分布が得られるので、磁石を複数個使用する場合と比べて、棒磁石11Aの有効主面における磁束密度の分布を安価に且つ適切に制御することが可能になる。
尚、磁石ホルダ25Aに対向して配設される磁石ホルダ25Bの構成は、磁石ホルダ25Aの構成と同様である。又、磁石ホルダ25A,25Bは、スパッタリング装置1における所定の位置に適切な手段により固定されている。
次に、本発明に係る特徴的な磁石ホルダにより得られる効果について説明する。
図4は、本発明に係る特徴的な磁石ホルダが提供する効果を概念的に説明するための模式図である。尚、図4では、磁石ホルダが提供する効果のシミュレーションによる計算結果の一例を模式的に示している。又、図4において、曲線aは矩形磁石の磁束密度が均一に分布している場合の理論モデルを示し、曲線bは矩形磁石上に磁性部材を配置しない場合の磁束密度の分布を示し、曲線cは矩形磁石上に磁性部材を配置した場合の磁束密度の分布を示している。
ここで、図4に示すシミュレーションの計算結果を求める際には、矩形磁石上に配置する磁性部材の透磁率を1000と設定した。
図4に示すように、矩形磁石の磁束密度が均一に分布している場合の理論モデルを基準にすると(曲線a参照)、矩形磁石上に磁性部材を配置しない場合には、矩形磁石が配置されている中央部の磁束密度は、矩形磁石が配置されてはいない周縁部の磁束密度よりも大きく、その磁束密度は凸状に突出している(曲線b参照)。これに対して、矩形磁石上に磁性部材を配置した場合には、矩形磁石が配置されている中央部の磁束密度は、矩形磁石が配置されてはいない周縁部の磁束密度よりも僅かながら大きいが、その磁束密度が明確に凸状に突出することはなく、磁性部材を配置することにより磁束密度が平均化される傾向があることを示している(曲線c参照)。このように、棒磁石11A,11Bの図3では下面及び上面に第1の構成部材としてのトップベース28A,28Bを設けることにより、複数の磁石を設けることなく、棒磁石11A,11Bの表面の磁束密度を容易に且つ安価に均一化することが可能になる。
尚、上述したように、棒磁石11A,11Bの表面の磁束密度をその全面に渡り均一化するためには、棒磁石11A,11Bの表面の磁束密度の分布に応じて、磁石ホルダ25A,25Bにおけるトップベース28A,28Bの形状を適切に変形すればよい。
以上、本実施の形態に係るスパッタリング装置1によれば、複数の磁石を必要とせず、棒磁石11A,11Bの表面の磁束密度を容易に均一化する磁石ホルダ25A,25Bを備えるスパッタリング装置1を安価に提供することが可能になる。
尚、本実施の形態では、スパッタリング装置1が永久磁石22を備えている形態を例示したが、このような形態に限定されることはなく、永久磁石22を備えていない形態であっても、本発明を適用することができる。
又、上記の実施形態は例示であり制限的なものではなく、本発明はあらゆる種類のスパッタリング装置に対して適用することができる。
本発明は、複数の磁石を必要とせず、棒磁石の表面の磁束密度を容易に均一化する磁石ホルダを備えるスパッタリング装置として、産業上の利用可能性を十分に有している。
図1は、本発明に係るスパッタリング装置の概略構成を示す模式図である。 図2はシート状プラズマの形成法の概略を説明するための模式図であって、図2(a)は棒磁石のZ方向の略中央付近におけるXY平面に平行な断面の模式図であり、図2(b)は棒磁石のX方向の略中央付近におけるYZ平面に平行な断面の模式図である。 図3は、一対の棒磁石を同極同士が向き合うように保持する磁石ホルダの断面構成を示す模式図である。 図4は、本発明に係る特徴的な磁石ホルダが提供する効果を概念的に説明するための模式図である。
符号の説明
1 スパッタリング装置
2 プラズマガン
3 プラズマ形成室
4 真空成膜室
5 フランジ
6 カソード
7 アノード
8 円柱プラズマ
9 第1の電磁コイル
10 輸送空間
11A,11B 棒磁石
12 シート状プラズマ
13 ボトルネック部
14 ターゲット
15 基板
16 成膜空間
17 バルブ
18 真空ポンプ
19 ターゲットホルダ
20 基板ホルダ
21 通路
22 永久磁石
23 第2の電磁コイル
24 第3の電磁コイル
25A,25B 磁石ホルダ
26A,26B ホルダベース
27A,27B サイドベース
28A,28B トップベース
G1,G2 グリッド電極
V1,V2,V3 電源
R1,R2 抵抗
RV 可変抵抗

Claims (6)

  1. 円柱状プラズマを放電により形成して輸送方向に向けて放出するプラズマガンと、
    前記プラズマガンに連通し前記円柱状プラズマが前記輸送方向に移動する輸送空間を有するプラズマ形成室と、
    前記プラズマ形成室の輸送空間を前記輸送方向に対して交差する向きに同極同士が向き合うように挟む一対の磁石と、
    前記一対の磁石を同極同士が向き合うように保持する一対の磁石ホルダと、
    前記プラズマ形成室の輸送空間に連通する開口を通じてシート状プラズマが導入される真空成膜室と、
    前記真空成膜室内に配置されたターゲットを前記輸送方向に沿った向きに挟み互いに異極同士が向き合った対をなす電磁コイルと、
    前記ターゲットにバイアス電圧を印加する電源と、を備え、
    前記一対の磁石は、それぞれ、磁束を提供する有効主面を有し、
    前記それぞれの有効主面が前記輸送空間を挟むように前記一対の磁石が配置され、
    前記有効主面からの前記磁束により前記円柱状プラズマをシート状に変形させて前記シート状プラズマとするスパッタリング装置であって、
    前記一対の磁石ホルダは、それぞれ、前記有効主面に対向する第1の構成部材と、前記有効主面以外の部分に対向する第2の構成部材と、を有し、
    前記第1の構成部材が磁性材料からなる、スパッタリング装置。
  2. 前記磁性材料が、少なくとも1000以上の透磁率の磁性材料である、請求項1記載のスパッタリング装置。
  3. 前記磁性材料が、鉄、ニッケルの何れかの強磁性材料である、請求項2記載のスパッタリング装置。
  4. 前記第2の構成部材が非磁性材料からなる、請求項1記載のスパッタリング装置。
  5. 前記非磁性材料が、アルミニウム、銅、樹脂、セラミックスの何れかの非磁性材料である、請求項4記載のスパッタリング装置。
  6. 前記一対の磁石の有効主面と前記一対の磁石ホルダの第1の構成部材とが相互に接触している、請求項1記載のスパッタリング装置。
JP2008083718A 2008-03-27 2008-03-27 スパッタリング装置 Pending JP2009235497A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008083718A JP2009235497A (ja) 2008-03-27 2008-03-27 スパッタリング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008083718A JP2009235497A (ja) 2008-03-27 2008-03-27 スパッタリング装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009235497A true JP2009235497A (ja) 2009-10-15

Family

ID=41249810

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008083718A Pending JP2009235497A (ja) 2008-03-27 2008-03-27 スパッタリング装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009235497A (ja)

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06349593A (ja) * 1993-06-07 1994-12-22 Sumitomo Heavy Ind Ltd シートプラズマ生成方法及びその装置
JPH0794451A (ja) * 1993-04-30 1995-04-07 Toshiba Corp 半導体ウェハ等の被処理体をプラズマ処理するに際して使用されるプラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
JPH07296988A (ja) * 1994-04-28 1995-11-10 Sumitomo Heavy Ind Ltd シートプラズマ装置
JPH08213195A (ja) * 1995-02-02 1996-08-20 Mitsubishi Heavy Ind Ltd シートプラズマ発生装置
JPH10195648A (ja) * 1996-12-17 1998-07-28 Applied Materials Inc マグネトロンスパッタ装置及びスパッタ装置用バッキングプレート
JPH1116893A (ja) * 1997-06-25 1999-01-22 Hitachi Ltd プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
WO2006082863A1 (ja) * 2005-02-02 2006-08-10 Hitachi Metals, Ltd. マグネトロンスパッタリング用磁気回路装置及びその製造方法
JP2008056990A (ja) * 2006-08-31 2008-03-13 Shin Meiwa Ind Co Ltd スパッタリング装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0794451A (ja) * 1993-04-30 1995-04-07 Toshiba Corp 半導体ウェハ等の被処理体をプラズマ処理するに際して使用されるプラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
JPH06349593A (ja) * 1993-06-07 1994-12-22 Sumitomo Heavy Ind Ltd シートプラズマ生成方法及びその装置
JPH07296988A (ja) * 1994-04-28 1995-11-10 Sumitomo Heavy Ind Ltd シートプラズマ装置
JPH08213195A (ja) * 1995-02-02 1996-08-20 Mitsubishi Heavy Ind Ltd シートプラズマ発生装置
JPH10195648A (ja) * 1996-12-17 1998-07-28 Applied Materials Inc マグネトロンスパッタ装置及びスパッタ装置用バッキングプレート
JPH1116893A (ja) * 1997-06-25 1999-01-22 Hitachi Ltd プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
WO2006082863A1 (ja) * 2005-02-02 2006-08-10 Hitachi Metals, Ltd. マグネトロンスパッタリング用磁気回路装置及びその製造方法
JP2008056990A (ja) * 2006-08-31 2008-03-13 Shin Meiwa Ind Co Ltd スパッタリング装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4906331B2 (ja) シートプラズマ成膜装置
WO2012102092A1 (ja) マグネトロンスパッタリング用磁場発生装置
JP5461264B2 (ja) マグネトロンスパッタリング装置、及び、スパッタリング方法
JP5611039B2 (ja) スパッタリング装置
TWI493069B (zh) Sputtering device and magnet unit
JP5080977B2 (ja) シートプラズマ成膜装置
JP4795174B2 (ja) スパッタリング装置
KR20120027033A (ko) 성막 장치
US9607813B2 (en) Magnetic field generation apparatus and sputtering apparatus
JPH11158625A (ja) マグネトロンスパッタ成膜装置
JPWO2007066606A1 (ja) プラズマ成膜装置
JP5231962B2 (ja) シートプラズマ成膜装置
JP2009235497A (ja) スパッタリング装置
JP4860594B2 (ja) スパッタリング装置
JP5124317B2 (ja) シートプラズマ成膜装置、及びシートプラズマ調整方法
JPS58199862A (ja) マグネトロン形スパツタ装置
CN211897094U (zh) 一种物理溅射的硬件配置及系统
JP5119021B2 (ja) シートプラズマ成膜装置、及びシートプラズマ調整方法
JP2009235546A (ja) スパッタリング装置およびスパッタリング方法
JPH0339469A (ja) スパッタリング装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101026

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120313

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20120717