JP2009218409A - Processing apparatus for processing object - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a punching apparatus capable of surely bringing a printed board close to a die side member, capable of recognizing an accurate position of the printed substrate with respect to the die side member and being miniaturized by reducing the number of components. <P>SOLUTION: A printed board 17 is placed on the die side member 15. A punch side member 13 moves in a direction approaching or separated to/from the die side member 15 to move in an approaching direction and punch the printed board 17. A position of the printed board 17 with respect to the die side member 15 is recognized by an image photographing device 21. On the basis of the position of the printed board 17 recognized by the image photographing device 21, the printed board 17 is moved to a prescribed position of the die side member 15. When recognizing the position of the printed board 17 by the image photographing device 21, the printed board 17 is directly pressed by a pressing unit 45 and brought close to the die side member 15. The pressing unit 45 is attached to the punch side member 13 so as to freely move forward and backward. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、可撓性の薄板状の被処理物を載置台上に載置して所定の処理を施す被処理物処理装置において、被処理物の載置台に対する正確な位置を認識するに好適な被処理物処理装置に関するものである。   INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention is suitable for recognizing an accurate position of a processing object with respect to the mounting table in a processing object processing apparatus that performs a predetermined process by mounting a flexible thin plate-shaped processing object on the mounting table. The present invention relates to a processing object processing apparatus.

特許文献1に示されている従来の被処理物処理装置においては、被処理物たる基板を載置台上に載置して、真空吸着手段により基板を載置台上に固定したのち、孔明け具により基板の所定位置にガイドホールを穿設するようにしている。このような従来の被処理物処理装置では、ガイドホールを穿設する前に、基板に付された基準マーク等の位置に基づいて、孔明け具に対する基板の位置合わせを行っている。その際、載置台上に載置された基板に向かって圧縮空気噴出部から圧縮空気を噴射して、基板を載置台に確実に密接させた状態でCCDカメラにより、基板に付された基準マーク等の測定を行う。   In the conventional object processing apparatus shown in Patent Document 1, a substrate as a object to be processed is mounted on a mounting table, and the substrate is fixed on the mounting table by vacuum suction means, and then a punching tool. Thus, a guide hole is formed at a predetermined position of the substrate. In such a conventional workpiece processing apparatus, before the guide hole is drilled, the substrate is aligned with the drilling tool based on the position of a reference mark or the like attached to the substrate. At that time, a reference mark affixed to the substrate by the CCD camera in a state where the compressed air is ejected from the compressed air ejection portion toward the substrate placed on the placement table and the substrate is securely brought into close contact with the placement table. Etc. are measured.

そして、その測定結果に基づいて載置台を移動制御し、基板の位置合わせを行うようにしている。前記圧縮空気の噴出は、パイプを介して圧縮空気源から圧縮空気噴出部に空気を供給することで行うようにしている。圧縮空気を噴射するようにしているのは、その噴射によって基板を載置台上に完全に密接させ、反りや皺などがない状態でCCDカメラにより基板の基準マーク等の測定を行うことで、その測定が正確になり、延いては、孔明け具によりガイドホールを基板の正確な位置に穿設することができるようにするためである。
実開平7−27726号公報
Based on the measurement result, the mounting table is moved and controlled to align the substrate. The compressed air is ejected by supplying air from a compressed air source to the compressed air ejection section via a pipe. The compressed air is ejected by bringing the substrate into close contact with the mounting table by the ejection, and measuring the reference marks on the substrate with a CCD camera in a state without warping or wrinkles. This is because the measurement becomes accurate, and the guide hole can be drilled at an accurate position of the substrate by the drilling tool.
Japanese Utility Model Publication No. 7-27726

しかしながら、従来の被処理物処理装置では、圧縮空気噴出部から圧縮空気を噴射して基板を載置台上に密接させるようにしているので、圧縮空気の噴射の圧力,流量および方向と、基板の剛性,反りおよび皺などの程度との関係によっては、基板を載置台に確実に密接させることができなかった。このため、基板の載置台に対する正確な位置を測定することができなかった。また、パイプを介して圧縮空気源から圧縮空気噴出部に空気を供給して圧縮空気噴出部から圧縮空気を噴射するようにしているので、その分、部品点数が多くなる上、圧縮空気源からパイプまで配管したり圧縮空気源を配置するためのスペースも必要となって被処理物処理装置が大型化するという問題もあった。   However, in the conventional workpiece processing apparatus, the compressed air is ejected from the compressed air ejecting section so that the substrate is brought into close contact with the mounting table. Depending on the relationship between the degree of rigidity, warpage, and wrinkles, the substrate could not be brought into close contact with the mounting table. For this reason, the exact position of the substrate with respect to the mounting table could not be measured. Further, since air is supplied from the compressed air source to the compressed air ejecting portion via the pipe and the compressed air is ejected from the compressed air ejecting portion, the number of parts is increased, and from the compressed air source, There is also a problem in that a space for arranging the compressed air source to the pipe is required, and the object processing apparatus is increased in size.

本発明はこのような問題を解消するためになされたもので、可撓性の薄板状の被処理物を載置台に確実に密接させることができるとともに、該被処理物の載置台に対する正確な位置を認識することができ、さらに、部品点数を少なくして小型化することができる被処理物処理装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve such a problem, and it is possible to reliably bring a flexible thin plate-like object to be placed into close contact with the mounting table, and to accurately measure the object to be mounted on the mounting table. It is an object of the present invention to provide a workpiece processing apparatus that can recognize a position and can be reduced in size by reducing the number of parts.

この目的を達成するために、本発明に係る被処理物処理装置は、可撓性の薄板状の被処理物を載置するための載置台と、載置台に対して近接または離間する方向に相対的に移動自在で、かつ、近接する方向に相対的に移動して前記載置台上に載置された被処理物に所定の処理を施す処理部と、載置台上に載置された被処理物の所定の部位の載置台に対する位置を認識する画像撮影装置と、画像撮影装置により認識された被処理物の所定の部位の載置台に対する位置に基づき、被処理物を載置台上の所定の位置に移動させる移動装置とを備えた被処理物処理装置であって、画像撮影装置により被処理物の所定の部位の位置を認識する際に、被処理物における所定の部位を押圧して被処理物を載置台に密接させる押圧子を、載置台に対して進退自在に処理部に設けたものである。   In order to achieve this object, a processing object processing apparatus according to the present invention includes a mounting table for mounting a flexible thin plate-shaped processing object, and a direction close to or away from the mounting table. A processing unit that is relatively movable and relatively moves in the direction in which it approaches, and performs a predetermined process on an object to be processed that is mounted on the mounting table, and a substrate that is mounted on the mounting table An image capturing apparatus for recognizing a position of a predetermined part of the processing object with respect to the mounting table, and a predetermined object on the mounting table based on the position of the predetermined part of the processing object with respect to the mounting table recognized by the image capturing apparatus. An object processing apparatus including a moving device that moves the object to the position of the object, and when the position of the predetermined part of the object to be processed is recognized by the image capturing device, the predetermined part of the object to be processed is pressed. The pusher that brings the workpiece into close contact with the mounting table is moved forward and backward with respect to the mounting table. But on the processor to.

本発明では、画像撮影装置により認識しようとする被処理物の所定の部位を押圧子により押圧して被処理物を載置台に密接させるようにしている。このため、画像撮影装置により、被処理物の載置台に対する正確な位置を認識することができ、これにともなって、処理部による被処理物の適正な処理が可能になる。すなわち、被処理物を載置台に密接させた状態で、画像撮影装置で被処理物の位置認識を行い、その位置認識に基づいて移動装置を作動させて被処理物を移動させることにより、被処理物の前後、左右または回転方向の位置を調節して、被処理物を適正位置に位置させることができる。この結果、処理部で被処理物を処理する際には、適正な処理が行えるようになる。   In the present invention, a predetermined portion of the object to be recognized that is to be recognized by the image photographing apparatus is pressed by the pressing element so that the object to be processed is brought into close contact with the mounting table. For this reason, the image photographing apparatus can recognize an accurate position of the workpiece with respect to the mounting table, and accordingly, the processing section can appropriately process the workpiece. That is, with the object to be processed being in close contact with the mounting table, the position of the object to be processed is recognized by the image capturing device, and the moving object is moved based on the position recognition to move the object to be processed. By adjusting the front / rear, left / right or rotational position of the processed object, the processed object can be positioned at an appropriate position. As a result, proper processing can be performed when the processing object is processed by the processing unit.

この場合、移動装置の作動により、被処理物を移動させた後には、再度、画像撮影装置による位置の認識を行い、被処理物の位置が適正になったときに処理部による処理を行う。また、処理部を、載置台に対して近接または離間する方向に相対的に移動自在で、かつ、近接する方向に相対的に移動して載置台上に載置された被処理物に所定の処理を施すようにするとともに、その処理部に押圧子を設けたので、載置台に対して処理部を相対的に近接または離間することで載置台上に載置された被処理物に対して押圧子を近接または離間することができる。このため、押圧子を移動させるための専用の移動装置が不要となり、その分、部品点数を少なくでき、被処理物処理装置を小型化することができる。   In this case, after the object to be processed is moved by the operation of the moving device, the position of the object to be processed is recognized again by the image photographing device, and the processing by the processing unit is performed when the position of the object to be processed becomes appropriate. In addition, the processing unit is relatively movable in a direction in which the processing unit approaches or separates from the mounting table, and the processing unit moves in a direction in which the processing unit moves relatively to the processing table and is placed on a processing object placed on the mounting table. Since the processing unit is provided with a presser, the processing unit is placed closer to or away from the mounting table to be processed on the mounting table. The pressing element can be close or separated. For this reason, a dedicated moving device for moving the pressing element is not required, the number of parts can be reduced correspondingly, and the workpiece processing apparatus can be downsized.

さらに、押圧子を、載置台に対して近接または離間する方向に進退自在にして処理部に設けている。このため、近接する方向に処理部を相対的に移動して被処理物に所定の処理を施す際に、載置台に対して離間する方向に押圧子を後退させることで押圧子が邪魔になることが回避され、支障なく被処理物に所定の処理を施すことができる。なお、この押圧子は、1個だけ設けてもよいし、複数個設けてもよい。また、押圧子が押圧する被処理物の所定の部位は、被処理物における処理が施される部分の近傍にすることが好ましい。   Furthermore, the pressing element is provided in the processing unit so as to be movable forward and backward in a direction approaching or separating from the mounting table. For this reason, when the processing unit is relatively moved in the approaching direction to perform a predetermined process on the object to be processed, the pressing member is obstructed by retreating the pressing member in a direction away from the mounting table. Thus, a predetermined process can be performed on the workpiece without any trouble. Note that only one or a plurality of pressing members may be provided. Moreover, it is preferable that the predetermined site | part of the to-be-processed object which a presser presses is the vicinity of the part to which the process in a to-be-processed object is performed.

請求項2に記載した発明に係る被処理物処理装置は、請求項1に記載の被処理物処理装置において、処理部は、載置台に対して近接または離間する方向に、数値制御されて相対的に移動するようにしたことを特徴とするものである。請求項2記載の発明によれば、処理部は数値制御されて相対的に移動させられるので、その移動量は高い精度で制御される。このため、押圧子による被処理物への押圧力を被処理物の特性などに応じて微調整して適度に押圧することができる上、押圧子により微弱な押圧力を付与して載置台に密接させた状態で被処理物を移動させ、載置台の所定の位置に位置合わせすることもできる。この結果、該位置合わせの精度を一層向上させることができる。   A workpiece processing apparatus according to a second aspect of the present invention is the workpiece processing apparatus according to the first aspect, wherein the processing section is numerically controlled in a direction approaching or separating from the mounting table. It is characterized by the fact that it moves. According to the second aspect of the present invention, the processing unit is numerically controlled and relatively moved, so that the amount of movement is controlled with high accuracy. For this reason, the pressing force applied to the object to be processed by the pressing element can be finely adjusted in accordance with the characteristics of the object to be processed and appropriately pressed, and a weak pressing force can be applied by the pressing element to the mounting table. It is also possible to move the object to be processed in close contact and align it with a predetermined position on the mounting table. As a result, the alignment accuracy can be further improved.

請求項3に記載した発明に係る被処理物処理装置は、請求項1または請求項2に記載の被処理物処理装置において、押圧子を載置台に向かって進出するように付勢手段により付勢し、付勢手段による付勢力によって被処理物を押圧子で押圧して載置台に密接させるようにしたことを特徴とするものである。請求項3記載の発明によれば、付勢手段による付勢力によって被処理物を押圧子で押圧して載置台に密接させるようにしたので、被処理物を確実に載置台に密接させることや、載置台に対して離間する方向に押圧子を後退させることが単純で安価な構造により達成できる。   A workpiece processing apparatus according to a third aspect of the present invention is the workpiece processing apparatus according to the first or second aspect, wherein the pressing element is applied by the biasing means so as to advance toward the mounting table. The object to be processed is pressed by the pressing element by the urging force of the urging means and brought into close contact with the mounting table. According to the invention described in claim 3, since the object to be processed is pressed with the pressing element by the urging force of the urging means and brought into close contact with the mounting table, the object to be processed is securely brought into close contact with the mounting table. The pusher can be moved backward in a direction away from the mounting table with a simple and inexpensive structure.

請求項4に記載した発明に係る被処理物処理装置は、請求項1ないし請求項3のうち何れか一つに記載の被処理物処理装置において、載置台上に載置された被処理物に近接する方向に処理部が相対的に移動する際に、処理部が被処理物に当接する前に押圧子により被処理物を押圧するように処理部に対して押圧子を位置付けたことを特徴とするものである。   A workpiece processing apparatus according to a fourth aspect of the present invention is the workpiece processing apparatus according to any one of the first to third aspects, wherein the workpiece is placed on a mounting table. When the processing unit moves relatively in a direction close to the processing unit, the pressing unit is positioned with respect to the processing unit so that the processing unit presses the processing unit with the pressing unit before contacting the processing unit. It is a feature.

請求項4記載の発明によれば、処理部が被処理物に当接する前に押圧子により被処理物を押圧するようにしている。このため、押圧子により被処理物を押圧して載置台に予め密接させたのち、処理部により被処理物に所定の処理を施すことができるので、所定の処理を適切に行うことができる。また、処理部が被処理物に当接する前に、処理部に突設した押圧子により被処理物を押圧するようにしているので、押圧子により被処理物を押圧して載置台に密接させた状態で、処理部と被処理物との間に間隙を形成することができ、該間隙に画像撮影装置の撮影部を位置付けて被処理物の所定の部位を撮影することができる。   According to the fourth aspect of the present invention, the object to be processed is pressed by the pressing element before the processing unit comes into contact with the object to be processed. For this reason, since a to-be-processed object can be given to a to-be-processed object by a process part, after pressing a to-be-processed object with a presser and making it closely contact with a mounting base beforehand, a predetermined process can be performed appropriately. In addition, since the processing object is pressed by a pressing member protruding from the processing unit before the processing unit comes into contact with the processing object, the processing object is pressed by the pressing element so as to be in close contact with the mounting table. In this state, a gap can be formed between the processing unit and the object to be processed, and a predetermined part of the object to be processed can be imaged by positioning the imaging unit of the image capturing apparatus in the gap.

請求項5に記載した発明に係る被処理物処理装置は、請求項1ないし請求項4のうち何れか一つに記載の被処理物処理装置において、被処理物処理装置は載置台上に載置された被処理物に所定の孔を穿設する穿孔装置からなり、処理部は穿孔装置のパンチ側部材からなり、載置台は穿孔装置のダイ側部材からなることを特徴とするものである。   A workpiece processing apparatus according to a fifth aspect of the present invention is the workpiece processing apparatus according to any one of the first to fourth aspects, wherein the workpiece processing apparatus is mounted on a mounting table. It comprises a punching device for drilling a predetermined hole in the placed workpiece, the processing part comprises a punch side member of the punching device, and the mounting table comprises a die side member of the punching device. .

請求項5記載の発明によれば、画像撮影装置により認識しようとする被処理物の所定の部位をダイ側部材に確実に密接させることができ、被処理物のダイ側部材に対する正確な位置を認識することができる。また、被処理物の正確な位置を認識できることで、被処理物の設置位置が適正位置になるように調節することができ、これにより正確な処理が行えるようになる。また、ダイ側部材に対してパンチ側部材を相対的に近接または離間することでダイ側部材上に載置された被処理物に対して押圧子を近接または離間することができる。このため、押圧子を移動させるための専用の移動装置が不要となり、その分、部品点数を少なくでき、穿孔装置を小型化することができる。   According to the fifth aspect of the present invention, the predetermined part of the workpiece to be recognized by the image photographing apparatus can be reliably brought into close contact with the die side member, and the accurate position of the workpiece with respect to the die side member can be determined. Can be recognized. In addition, since the accurate position of the object to be processed can be recognized, the installation position of the object to be processed can be adjusted to an appropriate position, thereby enabling accurate processing. In addition, the presser can be moved closer to or away from the workpiece placed on the die side member by moving the punch side member closer to or away from the die side member. For this reason, a dedicated moving device for moving the pressing element is not required, the number of parts can be reduced correspondingly, and the punching device can be miniaturized.

この場合、パンチ側部材を、ダイ側部材上に載置された被処理物に所定の孔を穿設するパンチを備えたもので構成するとともに、押圧子をパンチ側部材におけるパンチの近傍に配設し、ダイ側部材上に載置された被処理物に近接する方向にパンチ側部材が相対的に移動する際に、パンチ側部材が被処理物に当接する前に押圧子により被処理物を押圧するようにパンチ側部材に対して押圧子を位置付けることが好ましい。   In this case, the punch side member is constituted by a punch provided with a predetermined hole in the workpiece placed on the die side member, and the presser is arranged in the vicinity of the punch in the punch side member. When the punch side member relatively moves in a direction close to the workpiece placed on the die side member, the workpiece is processed by the presser before the punch side member contacts the workpiece. It is preferable to position the pressing element with respect to the punch side member so as to press the.

これによれば、所定の孔が穿設される部位の近傍を押圧子により押圧して被処理物をダイ側部材に密接させた状態で、パンチ側部材のパンチで被処理物に孔を穿設することができるので、孔を精度良く穿設することができる。また、パンチ側部材が被処理物に当接する前に押圧子により被処理物を押圧するようにしているので、押圧子により被処理物を押圧してダイ側部材に密接させた状態で、パンチ側部材と被処理物との間に間隙を形成することができ、該間隙に画像撮影装置の撮影部を位置付けて被処理物の所定の部位を撮影することができる。   According to this, in the state where the vicinity of the part where the predetermined hole is drilled is pressed by the pressing element and the object to be processed is brought into close contact with the die side member, the hole on the object to be processed is punched by the punch of the punch side member. Therefore, the hole can be drilled with high accuracy. In addition, since the workpiece is pressed by the presser before the punch side member comes into contact with the workpiece, the punch is pressed in a state where the workpiece is pressed by the presser and brought into close contact with the die side member. A gap can be formed between the side member and the object to be processed, and a predetermined part of the object to be processed can be photographed by positioning the photographing unit of the image photographing device in the gap.

請求項6に記載した発明に係る被処理物処理装置は、請求項1ないし請求項4のうち何れか一つに記載の被処理物処理装置において、被処理物はプリント基板からなり、被処理物処理装置は載置台上に載置されたプリント基板の複数の電気的接点に複数の検査プローブを当接させてプリント基板の電気的な導通の状態を検査する基板検査装置からなり、処理部は複数の検査プローブを備えた検査プローブ側部材からなることを特徴とするものである。   A processing object processing apparatus according to a sixth aspect of the present invention is the processing object processing apparatus according to any one of the first to fourth aspects, wherein the processing object comprises a printed circuit board. The material processing apparatus comprises a substrate inspection device that inspects the electrical continuity of the printed circuit board by bringing a plurality of inspection probes into contact with the plurality of electrical contacts of the printed circuit board placed on the mounting table. Is composed of an inspection probe side member provided with a plurality of inspection probes.

請求項6記載の発明によれば、プリント基板を載置台に確実に密接させることができ、プリント基板の載置台に対する正確な位置を認識することができる。また、プリント基板の正確な位置を認識できることで、プリント基板の設置位置が適正な位置になるように調節することができ、これによって、正確な検査が行えるようになる。また、載置台に対して検査プローブ側部材を相対的に近接または離間することで載置台上に載置されたプリント基板に対して押圧子を近接または離間することができる。このため、押圧子を移動させるための専用の移動装置が不要となり、その分、部品点数を少なくでき、基板検査装置を小型化することができる。   According to the sixth aspect of the present invention, the printed circuit board can be reliably brought into close contact with the mounting table, and the accurate position of the printed circuit board with respect to the mounting table can be recognized. In addition, since the accurate position of the printed circuit board can be recognized, the installation position of the printed circuit board can be adjusted to an appropriate position, thereby enabling accurate inspection. In addition, the presser can be moved closer to or away from the printed circuit board placed on the mounting table by relatively moving the inspection probe side member closer to or away from the mounting table. For this reason, a dedicated moving device for moving the pressing element is not required, and accordingly, the number of parts can be reduced, and the board inspection apparatus can be downsized.

この場合、押圧子を検査プローブ側部材における複数の検査プローブの近傍に配設し、載置台上に載置されたプリント基板に近接する方向に検査プローブ側部材が相対的に移動する際に、複数の検査プローブがプリント基板に当接する前に押圧子によりプリント基板を押圧するように検査プローブ側部材に対して押圧子を位置付けることが好ましい。これによれば、複数の検査プローブが当接される部位の近傍を押圧子により押圧してプリント基板を載置台に密接させた状態で、複数の検査プローブを当接させてプリント基板の電気的な導通の状態を検査することができる。   In this case, the presser is disposed in the vicinity of the plurality of inspection probes on the inspection probe side member, and when the inspection probe side member relatively moves in the direction approaching the printed circuit board placed on the mounting table, It is preferable that the presser is positioned with respect to the inspection probe side member so that the printed circuit board is pressed by the presser before the plurality of inspection probes contact the printed circuit board. According to this, the plurality of inspection probes are brought into contact with each other while the printed circuit board is brought into close contact with the mounting table by pressing the vicinity of the portion where the plurality of inspection probes are in contact with the pressing element. It is possible to check the state of proper continuity.

このため、該検査を精度良く行うことができる。また、複数の検査プローブがプリント基板に当接する前に押圧子によりプリント基板を押圧するようにしているので、押圧子によりプリント基板を押圧して載置台に密接させた状態で、複数の検査プローブとプリント基板との間に間隙を形成することができ、該間隙に画像撮影装置の撮影部を位置付けてプリント基板の所定の部位を撮影することができる。   For this reason, the inspection can be performed with high accuracy. In addition, since the printed circuit board is pressed by the presser before the plurality of inspection probes come into contact with the printed circuit board, the plurality of inspection probes are in close contact with the mounting table by pressing the printed circuit board with the presser. A gap can be formed between the printed circuit board and the printed board, and a photographing part of the image photographing apparatus can be positioned in the gap to photograph a predetermined part of the printed board.

(第1実施形態)
以下、本発明の第1実施形態について図1ないし図6を参照して詳細に説明する。図1は同実施形態に係る穿孔装置11(本発明でいう「被処理物処理装置」を構成する。)の概略の構成を示している。図1において、矢印Fは前方を指している。この穿孔装置11は、本発明でいう「所定の処理を施す処理部」を構成するパンチ側部材13と、該パンチ側部材13の下方に、該パンチ側部材13に対向するように配置されたダイ側部材15(本発明でいう「載置台」を構成する。)と、ダイ側部材15上に載置された可撓性の薄板状のプリント基板17(本発明でいう「被処理物」を構成する。)を把持して該プリント基板17をダイ側部材15上の所定の位置に移動させる移動装置19と、ダイ側部材15上に載置されたプリント基板17の所定の部位のダイ側部材15に対する位置を認識する画像撮影装置21とで構成されている。
(First embodiment)
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. FIG. 1 shows a schematic configuration of a perforation apparatus 11 (which constitutes a “processing object processing apparatus” in the present invention) according to the embodiment. In FIG. 1, the arrow F points to the front. This punching device 11 is disposed so as to face the punch side member 13 below the punch side member 13 constituting the “processing section for performing a predetermined process” according to the present invention. A die-side member 15 (which constitutes a “mounting table” according to the present invention) and a flexible thin plate-like printed circuit board 17 (the “object to be processed” according to the present invention) placed on the die-side member 15. And a moving device 19 that moves the printed circuit board 17 to a predetermined position on the die side member 15 and a die at a predetermined portion of the printed circuit board 17 placed on the die side member 15. The image capturing device 21 recognizes the position with respect to the side member 15.

そして、パンチ側部材13に、後述する押圧子45がダイ側部材15に対して近接または離間する方向に進退自在に突設されている。プリント基板17の所定の部位とは、プリント基板17に付された基準マークまたはプリント基板17の配線パターンの特定の部位をいい、以下「基準マーク等」という。該基準マーク等はプリント基板17の所定の位置に一つまたは複数設けられており、該基準マーク等は、画像撮影装置21によって撮影され、ダイ側部材15に対する位置が認識される。また、図示していないが、穿孔装置11は、該穿孔装置11が備える各機構や各装置の作動を制御するための制御装置や、各機構や各装置を操作するための操作盤等を備えている。   A presser 45, which will be described later, is provided on the punch side member 13 so as to be able to advance and retract in a direction approaching or separating from the die side member 15. The predetermined part of the printed circuit board 17 refers to a reference mark attached to the printed circuit board 17 or a specific part of the wiring pattern of the printed circuit board 17 and is hereinafter referred to as “reference mark or the like”. One or a plurality of the reference marks and the like are provided at predetermined positions on the printed circuit board 17, and the reference marks and the like are photographed by the image photographing device 21 and the position with respect to the die side member 15 is recognized. Although not shown, the punching device 11 includes a mechanism for controlling each mechanism provided in the punching device 11 and an operation of each device, an operation panel for operating each mechanism and each device, and the like. ing.

前記移動装置19は、一対の第一把持機構23と第二把持機構25と、これらの第一把持機構23と第二把持機構25とを支持する把持機構支持部材27と、該把持機構支持部材27を自在に移動させる支持部材移動機構28とで構成されている。支持部材移動機構28は、第一把持機構23および第二把持機構25と共に把持機構支持部材27を、図1にそれぞれ示すX軸方向(ダイ側部材15の長手方向に沿う方向)とY軸方向(水平面上においてX軸方向に直交する方向)とに移動自在に、かつ、Z軸方向(X軸方向およびY軸方向に直交する方向であって鉛直方向)に沿う軸芯回りの方向に回動自在に動かすように構成されている。支持部材移動機構28は、周知の機構であって、電動機,レールおよびボールねじ等からなる移動機構と電動機および回動軸等からなる回動機構とで構成されている。   The moving device 19 includes a pair of a first gripping mechanism 23 and a second gripping mechanism 25, a gripping mechanism support member 27 that supports the first gripping mechanism 23 and the second gripping mechanism 25, and the gripping mechanism support member. And a support member moving mechanism 28 that freely moves 27. The support member moving mechanism 28 includes a gripping mechanism support member 27 together with the first gripping mechanism 23 and the second gripping mechanism 25 in the X-axis direction (direction along the longitudinal direction of the die-side member 15) and the Y-axis direction shown in FIG. (In a direction perpendicular to the X-axis direction on the horizontal plane) and rotated in a direction around the axis along the Z-axis direction (the direction perpendicular to the X-axis direction and the Y-axis direction and the vertical direction). It is configured to move freely. The support member moving mechanism 28 is a well-known mechanism and includes a moving mechanism including an electric motor, a rail, a ball screw, and the like, and a rotating mechanism including an electric motor and a rotating shaft.

前記第一把持機構23と第二把持機構25とは、プリント基板17の一端側の縁部を把持したり、その把持を解放したりするための把持部23aと把持部25aとを先端部にそれぞれ備え、これらの把持部23a,25aによりプリント基板17の縁部を把持した状態で支持部材移動機構28を作動させて把持機構支持部材27を適宜移動させ、ダイ側部材15に対してプリント基板17を所定の位置に位置合わせするようにしている。   The first gripping mechanism 23 and the second gripping mechanism 25 have a gripping portion 23a and a gripping portion 25a for gripping an edge portion on one end side of the printed circuit board 17 or releasing the gripping at the distal end portions. The supporting member moving mechanism 28 is operated in a state where the edge portion of the printed circuit board 17 is gripped by the gripping portions 23a and 25a, and the gripping mechanism supporting member 27 is appropriately moved to move the printed circuit board relative to the die side member 15. 17 is aligned with a predetermined position.

また、把持機構支持部材27は、第一把持機構23と第二把持機構25とを互いの間隔を広げたり狭めたりする方向に移動させることができ、プリント基板17の幅寸法(図1ではX軸方向の寸法)に応じて第一把持機構23と第二把持機構25との間隔を適宜調整することができる。このため、プリント基板17の両端部の角部近傍を各把持部23a,25aで把持した状態で第一把持機構23と第二把持機構25との間隔を広げるように適宜移動させることでプリント基板17の把持された部分の間が波打ったりしないようにすることができる。   Further, the gripping mechanism support member 27 can move the first gripping mechanism 23 and the second gripping mechanism 25 in the direction of widening or narrowing each other, and the width dimension of the printed circuit board 17 (X in FIG. 1). The distance between the first gripping mechanism 23 and the second gripping mechanism 25 can be appropriately adjusted according to the dimension in the axial direction. For this reason, the printed circuit board 17 is appropriately moved so as to widen the distance between the first gripping mechanism 23 and the second gripping mechanism 25 in the state where the vicinity of the corners of both ends of the printed circuit board 17 is gripped by the gripping portions 23a and 25a. It is possible to prevent undulation between the 17 gripped portions.

画像撮影装置21は、撮影装置用移動機構(図示せず)によって、図1に示すX軸方向とY軸方向とに移動自在に構成されており、画像撮影装置21の一端部に延出されたアーム部21aの先端部にCCDカメラ(図示せず)が取り付けられている。前記撮影装置用移動機構は、周知の機構で、電動機,レールおよびボールねじ等からなる移動機構と電動機とで構成されている。   The image photographing device 21 is configured to be movable in the X axis direction and the Y axis direction shown in FIG. 1 by a photographing device moving mechanism (not shown), and extends to one end of the image photographing device 21. A CCD camera (not shown) is attached to the tip of the arm portion 21a. The photographing apparatus moving mechanism is a well-known mechanism and includes a moving mechanism including an electric motor, a rail, a ball screw, and the like, and an electric motor.

なお、この穿孔装置11には、前述した各装置等の他に、画像処理装置,各種データを記憶するメモリおよびマイクロコンピュータが設けられており、該マイクロコンピュータは、画像撮影装置21のCCDカメラが撮影する画像を画像処理してダイ側部材15に対するプリント基板17の基準マーク等の位置を演算により求める。そして、この求めた基準マーク等の位置に基づいて、移動装置19は、支持部材移動機構28を作動させて把持機構支持部材27をX軸方向またはY軸方向に移動させたり、Z軸方向に沿う軸芯回りの方向に回動させてプリント基板17をダイ側部材15の所定の位置に位置合わせしたりする。   The punching device 11 is provided with an image processing device, a memory for storing various data, and a microcomputer in addition to the devices described above. The microcomputer is a CCD camera of the image photographing device 21. The position of the reference mark or the like of the printed board 17 with respect to the die side member 15 is obtained by calculation by processing the image to be photographed. Then, based on the obtained position of the reference mark or the like, the moving device 19 operates the support member moving mechanism 28 to move the gripping mechanism support member 27 in the X-axis direction or the Y-axis direction, or in the Z-axis direction. The printed board 17 is aligned with a predetermined position of the die-side member 15 by rotating in the direction around the axis along the axis.

この位置合わせの際は、第一把持機構23の把持部23aと第二把持機構25の把持部25aとでプリント基板17の一端側のみを把持して移動するようにしている。このため、移動装置19は、移動することによってプリント基板17が波打ったりしないように両把持部23a,25aがダイ側部材15から、図1に示すY軸方向に沿う後方または斜め後方に向かって常に後退するようにプリント基板17を移動させる。   At the time of this alignment, the gripping portion 23a of the first gripping mechanism 23 and the gripping portion 25a of the second gripping mechanism 25 grip and move only one end side of the printed circuit board 17. For this reason, in the moving device 19, both the gripping portions 23a and 25a are directed from the die side member 15 to the rear or obliquely rearward along the Y-axis direction shown in FIG. 1 so that the printed circuit board 17 does not wave when moved. The printed circuit board 17 is moved so as to always move backward.

パンチ側部材13は、パンチ側部材移動機構(図示せず)により図1に示すZ軸方向に、数値制御されて移動自在に構成されている。また、パンチ側部材13は、図2ないし図5に示すように、基枠29と、該基枠29の下面に接合固定されたパンチベースプレート31と、該パンチベースプレート31の下面に接合固定されたパンチプレート33と、該パンチプレート33を貫通して上端部が前記パンチベースプレート31の下面に接合固定された円柱状のパンチ35と、ストリッパ37とを備える。パンチ35は、ダイ側部材15上に載置されたプリント基板17に所定の孔を穿設するためのもので、ストリッパ37は、パンチ35でプリント基板17に穿孔する際に、プリント基板17の上面を押圧するためのものである。   The punch side member 13 is configured to be movable by being numerically controlled in the Z-axis direction shown in FIG. 1 by a punch side member moving mechanism (not shown). 2 to 5, the punch-side member 13 is bonded and fixed to the base frame 29, the punch base plate 31 bonded and fixed to the lower surface of the base frame 29, and the lower surface of the punch base plate 31. A punch plate 33, a cylindrical punch 35 penetrating the punch plate 33 and having an upper end joined and fixed to the lower surface of the punch base plate 31, and a stripper 37 are provided. The punch 35 is for making a predetermined hole in the printed circuit board 17 placed on the die side member 15, and the stripper 37 is used for punching the printed circuit board 17 with the punch 35. This is for pressing the upper surface.

パンチ35は、ストリッパ37の中央部に穿設された貫通孔37aに挿通され、該貫通孔37aを摺動自在とされている。パンチベースプレート31,パンチプレート33およびストリッパ37は共に矩形の板状に形成されており、パンチプレート33とストリッパ37とはパンチベースプレート31より小さな略同一の矩形状とされ、ストリッパ37よりパンチベースプレート31の方の板厚がやや薄く、パンチプレート33の板厚は、パンチベースプレート31の板厚の略半分に形成されている。   The punch 35 is inserted into a through-hole 37a formed in the central portion of the stripper 37, and is slidable through the through-hole 37a. The punch base plate 31, the punch plate 33, and the stripper 37 are all formed in a rectangular plate shape. The punch plate 33 and the stripper 37 are substantially the same rectangular shape smaller than the punch base plate 31. The plate thickness of the punch plate 33 is slightly thinner, and the plate thickness of the punch plate 33 is approximately half of the plate thickness of the punch base plate 31.

パンチベースプレート31の四隅の部位には、円柱状のガイド支柱39の上端部がそれぞれパンチベースプレート31を貫通して強固に固定されており、パンチベースプレート31から下方に向かって突出したガイド支柱39の中間部分は、ストリッパ37の四隅の部位にそれぞれ穿設された貫通孔37bに挿通されている。そして、ストリッパ37がパンチプレート33に対して隙間S(図2および図3を参照)より離間しないように移動を規制する機構(図示せず)がパンチベースプレート31またはパンチプレート33とストリッパ37との間に設けられている。   At the four corners of the punch base plate 31, the upper ends of the columnar guide struts 39 are firmly fixed through the punch base plate 31, respectively, and intermediate the guide struts 39 projecting downward from the punch base plate 31. The portions are inserted through through-holes 37 b formed in the four corners of the stripper 37. A mechanism (not shown) for restricting the movement of the stripper 37 so as not to be separated from the punch plate 33 by the gap S (see FIGS. 2 and 3) is provided between the punch base plate 31 or the punch plate 33 and the stripper 37. It is provided in between.

なお、ストリッパ37の各貫通孔37bの上部には、ストリッパ37がガイド支柱39に案内されて該ガイド支柱39の軸芯に沿う方向(図1に示すZ軸方向)に移動自在とし、かつ、移動する際の摺動摩擦抵抗を低減するガイドブッシュ40がそれぞれ配設されている。ストリッパ37の貫通孔37bにおけるガイドブッシュ40より下方の内径は、ガイド支柱39の外径より若干大きく形成され、ガイドブッシュ40の内径は、ガイド支柱39の外径と略同一に形成されている。また、パンチ35の軸芯回りにはパンチ35を囲むように90度の等角度間隔で四個の圧縮ばね41がパンチ35の近傍に配置されている。   Note that the stripper 37 is guided by the guide column 39 and is movable in the direction along the axis of the guide column 39 (Z-axis direction shown in FIG. 1) above each through hole 37b of the stripper 37, and Guide bushes 40 for reducing sliding frictional resistance when moving are provided. The inner diameter of the through hole 37 b of the stripper 37 below the guide bush 40 is slightly larger than the outer diameter of the guide column 39, and the inner diameter of the guide bush 40 is substantially the same as the outer diameter of the guide column 39. Further, around the punch 35, four compression springs 41 are arranged in the vicinity of the punch 35 at equal angular intervals of 90 degrees so as to surround the punch 35.

圧縮ばね41は、パンチプレート33を貫通してパンチベースプレート31の下面とストリッパ37の上面との間に圧縮された状態で介装されている。そして、圧縮ばね41によってストリッパ37がパンチプレート33から離間するように常に付勢されている。また、ストリッパ37には、前記四個の圧縮ばね41が介装された部位をさらに囲むように、90度の等角度間隔で四個の段付きの貫通孔43(図6参照)が穿設されており、該貫通孔43は、パンチプレート33に対向する上側部分が大径に形成され、その反対側の下側部分が小径に形成されて貫通孔43の長手方向の中途部下側寄りに段部43aが形成されている。   The compression spring 41 passes through the punch plate 33 and is interposed between the lower surface of the punch base plate 31 and the upper surface of the stripper 37 in a compressed state. The stripper 37 is always urged away from the punch plate 33 by the compression spring 41. Further, the stepper 37 is provided with four stepped through holes 43 (see FIG. 6) at equal angular intervals of 90 degrees so as to further surround the portion where the four compression springs 41 are interposed. The through hole 43 is formed such that the upper part facing the punch plate 33 has a large diameter, and the lower part on the opposite side is formed with a small diameter so that the through hole 43 is closer to the lower part of the middle part of the through hole 43 in the longitudinal direction. A step portion 43a is formed.

そして、長手方向の中途部上側寄りに鍔部45a(図6参照)が形成された円柱状の押圧子45が貫通孔43に挿通されて、該押圧子45がパンチ側部材13におけるパンチ35の近傍に配設されている。なお、図2ないし図6においては、作図の都合上、左右のガイド支柱39等と押圧子45等との間は、二点鎖線で示すように破断して一部を省略している。押圧子45の鍔部45aの上端面が圧縮ばね47の下端面により押圧されて、該鍔部45aの下端面が貫通孔43の段部43aに当接させられている。   A columnar pressing element 45 having a flange 45a (see FIG. 6) formed on the upper side of the middle part in the longitudinal direction is inserted into the through hole 43, and the pressing element 45 is connected to the punch 35 in the punch side member 13. It is arranged in the vicinity. In FIG. 2 to FIG. 6, for the convenience of drawing, a portion between the left and right guide columns 39 and the presser 45 and the like is broken and omitted as shown by a two-dot chain line. The upper end surface of the flange 45 a of the pressing element 45 is pressed by the lower end surface of the compression spring 47, and the lower end surface of the flange 45 a is brought into contact with the step 43 a of the through hole 43.

このため、押圧子45がダイ側部材15に向かって進出するように圧縮ばね47により付勢され、ダイ側部材15に対して近接または離間する方向に進退自在に押圧子45がパンチ側部材13に突設されている。そして、パンチ側部材13が下降して、ストリッパ37の下面がプリント基板17に当接する前に、押圧子45が先に当接してプリント基板17を押圧するように、パンチ側部材13に対して押圧子45が位置付けられる。圧縮ばね47は、伸縮する範囲において最も圧縮された状態でも比較的小さな圧縮荷重しか生じないように、ばね定数等が設定されている。なお、圧縮ばね47に代えて圧縮空気を利用した空気ばねにより押圧子45を付勢するか、または圧縮ばね47を省略して押圧子45自体の重量を適宜設定することで押圧子45の自重により押圧子45を下方に向かって付勢するようにしてもよい。   For this reason, the pressing element 45 is urged by the compression spring 47 so as to advance toward the die side member 15, and the pressing element 45 can move forward and backward in a direction approaching or separating from the die side member 15. Projected to Then, before the punch-side member 13 is lowered and the lower surface of the stripper 37 contacts the printed circuit board 17, the pressing member 45 contacts the printed circuit board 17 first so that the printed circuit board 17 is pressed against the punch-side member 13. A pressing element 45 is positioned. The compression spring 47 has a spring constant or the like so that a relatively small compressive load is generated even in the most compressed state in the range of expansion and contraction. In addition, it replaces with the compression spring 47, the presser 45 is urged | biased by the air spring using compressed air, or the compression spring 47 is abbreviate | omitted, and sets the weight of the presser 45 itself suitably, and presses the weight of the presser 45 itself. Thus, the pressing element 45 may be urged downward.

貫通孔43の上側の大径部分は、押圧子45の鍔部45aと圧縮ばね47との外径より若干大きな寸法に形成され、貫通孔43の下側の小径部分の内径は、押圧子45における鍔部45aより下方の部分の外径より僅かに大きな寸法に形成されている。また、圧縮ばね47の上部側は、パンチプレート33およびパンチベースプレート31に、各貫通孔43と同軸となる位置にそれぞれ穿設された貫通孔に挿通されている。そして、パンチベースプレート31の貫通孔の上部に形成されたねじ孔に螺着された固定ねじ49の下端面と押圧子45の鍔部45aの上端面との間に圧縮ばね47が圧縮された状態で介装されている。   The large diameter portion on the upper side of the through hole 43 is formed to have a size slightly larger than the outer diameter of the flange 45a of the pressing element 45 and the compression spring 47, and the inner diameter of the small diameter portion on the lower side of the through hole 43 is the pressing element 45. Are formed in dimensions slightly larger than the outer diameter of the portion below the flange 45a. In addition, the upper side of the compression spring 47 is inserted into the punch plate 33 and the punch base plate 31 through through holes respectively formed at positions coaxial with the through holes 43. The compression spring 47 is compressed between the lower end surface of the fixing screw 49 screwed into the screw hole formed in the upper portion of the through hole of the punch base plate 31 and the upper end surface of the flange 45a of the pressing element 45. It is intervened in.

このように、パンチベースプレート31およびパンチプレート33の各貫通孔とストリッパ37の貫通孔43とに圧縮ばね47が収納されているので、圧縮ばね47を収納するための専用の容器等が不要となる。なお、パンチベースプレート31,パンチプレート33およびストリッパ37の板厚の寸法や圧縮ばね47のばね定数等によっては、パンチプレート33とストリッパ37とに穿設された両貫通孔またはストリッパ37のみに穿設された貫通孔43に圧縮ばね47を収納して固定ねじ49をパンチプレート33またはストリッパ37に取り付けるようにしてもよい。   As described above, since the compression springs 47 are accommodated in the through holes of the punch base plate 31 and the punch plate 33 and the through holes 43 of the stripper 37, a dedicated container or the like for accommodating the compression springs 47 becomes unnecessary. . Depending on the thickness of the punch base plate 31, the punch plate 33 and the stripper 37, the spring constant of the compression spring 47, etc., the punch plate 33 and the stripper 37 are drilled only in both through holes or the stripper 37. The compression spring 47 may be accommodated in the formed through hole 43 and the fixing screw 49 may be attached to the punch plate 33 or the stripper 37.

一方、前記ダイ側部材15は、ストリッパ37の下方に配設されている。ダイ側部材15は、基台51と、該基台51の上面に接合固定されたダイベースプレート53と、該ダイベースプレート53の上面に接合固定されたダイ55とを備えている。ダイ55は、その上面にプリント基板17を載置するためのものである。ダイベースプレート53とダイ55とはそれぞれ矩形の板状に形成されており、ダイベースプレート53はダイ55より大きく板厚も厚く形成されている。   On the other hand, the die side member 15 is disposed below the stripper 37. The die side member 15 includes a base 51, a die base plate 53 bonded and fixed to the upper surface of the base 51, and a die 55 bonded and fixed to the upper surface of the die base plate 53. The die 55 is for mounting the printed circuit board 17 on the upper surface thereof. The die base plate 53 and the die 55 are each formed in a rectangular plate shape, and the die base plate 53 is larger than the die 55 and thicker.

ダイ55の中央部であってプリント基板17が載置される部位には、パンチ35の下端部が挿入される円形のパンチ孔55aが貫通形成されている。パンチ35がパンチ孔55aに挿通されることで、ダイ55の上面に載置されたプリント基板17が穿孔される。パンチ孔55aの内径は、パンチ35の外径より僅かに大きく形成されている。ダイベースプレート53の中央部であってダイ55のパンチ孔55aに対向する部位には、パンチ孔55aより大きな貫通孔53aがパンチ孔55aと同軸となる位置に穿設されている。また、ダイベースプレート53の四隅の部位には、ガイド支柱39の下端部がそれぞれ挿通するための貫通孔53bが穿設されている。   A circular punch hole 55a into which the lower end portion of the punch 35 is inserted is formed through the central portion of the die 55 where the printed circuit board 17 is placed. By inserting the punch 35 into the punch hole 55a, the printed circuit board 17 placed on the upper surface of the die 55 is punched. The inner diameter of the punch hole 55 a is slightly larger than the outer diameter of the punch 35. A through hole 53a larger than the punch hole 55a is formed at a central portion of the die base plate 53 and facing the punch hole 55a of the die 55 at a position coaxial with the punch hole 55a. In addition, through holes 53 b through which the lower end portions of the guide support columns 39 are respectively inserted are formed at four corners of the die base plate 53.

また、ダイ55の四隅にそれぞれ穿設された段付きの貫通孔57(図6参照)には、ガイド支柱39の下端部がそれぞれ挿通するためのガイドブッシュ59が嵌合されている。貫通孔57は、ダイベースプレート53の貫通孔53bと同軸となる位置に穿設されている。ガイドブッシュ59の内径は、貫通孔53bの内径より小さく、かつ、ガイド支柱39の外径より僅かに大きく形成され、ガイドブッシュ59の下端部には、鍔部59aが形成されている。貫通孔57は、その下端部が大径に形成されていることで段部57aが形成され、該段部57aとダイベースプレート53の上面との間でガイドブッシュ59の鍔部59aが挟持されている。四本のガイド支柱39の下端部がガイドブッシュ59にそれぞれ案内されて下降することでパンチ35がダイ55のパンチ孔55aに対して図1に示すZ軸方向に正確に移動させられる。   In addition, guide bushes 59 through which the lower end portions of the guide columns 39 are inserted are fitted in stepped through holes 57 (see FIG. 6) respectively drilled at the four corners of the die 55. The through hole 57 is formed at a position that is coaxial with the through hole 53 b of the die base plate 53. The inner diameter of the guide bush 59 is smaller than the inner diameter of the through hole 53 b and slightly larger than the outer diameter of the guide column 39, and a flange portion 59 a is formed at the lower end portion of the guide bush 59. The through hole 57 is formed with a stepped portion 57 a because the lower end portion is formed to have a large diameter, and the flange portion 59 a of the guide bush 59 is sandwiched between the stepped portion 57 a and the upper surface of the die base plate 53. Yes. The lower ends of the four guide columns 39 are guided by the guide bushes 59 and lowered, whereby the punch 35 is accurately moved with respect to the punch hole 55a of the die 55 in the Z-axis direction shown in FIG.

このように構成された穿孔装置11を用いてプリント基板17の所定の位置に穿孔する場合には、例えば、以下の(1)ないし(10)の工程の順序に従って穿孔作業が行われる。
(1)まず、第一把持機構23の把持部23aと第二把持機構25の把持部25aとの間隔をプリント基板17の両端部間の間隔と略同じになるようにして、把持部23a,25aでプリント基板17の両端部の角部近傍を把持したのち、把持した状態で第一把持機構23と第二把持機構25との間隔を広げプリント基板17の把持された間が波打ったりしないようにする。
When punching at a predetermined position of the printed circuit board 17 using the punching device 11 configured as described above, for example, the punching operation is performed in the order of the following steps (1) to (10).
(1) First, the distance between the gripping part 23a of the first gripping mechanism 23 and the gripping part 25a of the second gripping mechanism 25 is made substantially the same as the distance between both ends of the printed circuit board 17, so that the gripping parts 23a, After gripping the vicinity of the corners at both ends of the printed circuit board 17 with 25a, the gap between the first gripping mechanism 23 and the second gripping mechanism 25 is widened in the gripped state so that the printed circuit board 17 is not undulated. Like that.

(2)次に、プリント基板17を把持部23a,25aで把持した状態で支持部材移動機構28を作動させて第一把持機構23と第二把持機構25とを移動させ、パンチ側部材13のパンチ35の下方にプリント基板17の基準マーク等が位置付けられるようにダイ側部材15に対してプリント基板17を位置合わせする。
(3)次に、前記パンチ側部材移動機構により図1に示すZ軸方向にパンチ側部材13を下降させて四個の押圧子45の下端によりプリント基板17の基準マーク等の近傍を直接押圧し、図2に符号Wで示すようなプリント基板17に存在する反りや皺などを伸ばし、プリント基板17の基準マーク等が付された部位を図3に示すようにダイ側部材15のダイ55の上面に完全に密接させる。このとき、圧縮ばね47による付勢力によってプリント基板17が押圧子45で押圧されてダイ55に密接される。
(2) Next, in a state where the printed circuit board 17 is gripped by the gripping portions 23 a and 25 a, the support member moving mechanism 28 is operated to move the first gripping mechanism 23 and the second gripping mechanism 25. The printed circuit board 17 is aligned with the die-side member 15 so that the reference mark or the like of the printed circuit board 17 is positioned below the punch 35.
(3) Next, the punch-side member 13 is moved down in the Z-axis direction shown in FIG. 1 by the punch-side member moving mechanism, and the vicinity of the reference mark or the like on the printed circuit board 17 is directly pressed by the lower ends of the four pressing elements 45. Then, the warp, wrinkles, etc. existing on the printed circuit board 17 as indicated by the symbol W in FIG. 2 are extended, and the portion of the printed circuit board 17 to which the reference mark or the like is attached is the die 55 of the die side member 15 as shown in FIG. Make sure it is completely in close contact with the top surface. At this time, the printed circuit board 17 is pressed by the pressing element 45 by the urging force of the compression spring 47 and brought into close contact with the die 55.

(4)次に、押圧子45で押圧してプリント基板17をダイ側部材15に密接させた状態で、前記撮影装置用移動機構によって画像撮影装置21のアーム部21aを移動させ、画像撮影装置21のCCDカメラをプリント基板17の基準マーク等の直上に位置させる。
(5)次に、前記CCDカメラでプリント基板17の基準マーク等を撮影し、その撮影した画像を画像処理してダイ側部材15に対するプリント基板17の基準マーク等の位置を演算により求める。
(6)前記(5)の工程で求めた基準マーク等の位置に基づいて、移動装置19は、支持部材移動機構28を作動させて、プリント基板17を把持した第一把持機構23と第二把持機構25との把持部23a,25aを図1に示すY軸方向に沿う後方または斜め後方に適宜移動させ、ダイ側部材15のダイ55の上面における所定の位置にプリント基板17を位置させる。
(4) Next, in a state where the printed circuit board 17 is brought into close contact with the die side member 15 by being pressed by the pressing element 45, the arm portion 21a of the image capturing device 21 is moved by the moving mechanism for the image capturing device. The 21 CCD cameras are positioned immediately above the reference marks on the printed circuit board 17.
(5) Next, the reference mark or the like of the printed circuit board 17 is photographed by the CCD camera, and the photographed image is subjected to image processing to obtain the position of the reference mark or the like of the printed circuit board 17 with respect to the die side member 15 by calculation.
(6) Based on the position of the reference mark or the like obtained in the step (5), the moving device 19 operates the support member moving mechanism 28 to hold the printed circuit board 17 and the second holding mechanism 23. The gripping portions 23a and 25a with the gripping mechanism 25 are appropriately moved rearward or obliquely rearward along the Y-axis direction shown in FIG. 1 to place the printed circuit board 17 at a predetermined position on the upper surface of the die 55 of the die side member 15.

このとき、プリント基板17におけるパンチ35で穿設される孔の中心位置に一つの基準マーク等が設けられている場合は、該基準マーク等がパンチ35の軸芯と一致するようにプリント基板17を位置合わせする。また、プリント基板17に複数の基準マーク等が付されている場合は、これらの複数の基準マーク等のダイ側部材15に対する位置を演算により求め、これらの求めた複数の基準マーク等の位置からパンチ35でプリント基板17に穿設される予定の孔の中心位置を演算により求め、この求めた孔の中心位置がパンチ35の軸芯と一致するようにプリント基板17を位置合わせする。なお、前記複数の基準マーク等の位置とパンチ35で穿設される孔の中心位置との関係は、予めメモリに記憶されている。   At this time, if one reference mark or the like is provided at the center position of the hole formed by the punch 35 in the printed circuit board 17, the printed circuit board 17 is arranged so that the reference mark or the like coincides with the axial center of the punch 35. Align. Further, when a plurality of reference marks or the like are attached to the printed circuit board 17, the positions of the plurality of reference marks or the like with respect to the die side member 15 are obtained by calculation, and from the obtained positions of the plurality of reference marks or the like. The center position of a hole scheduled to be drilled in the printed board 17 by the punch 35 is obtained by calculation, and the printed board 17 is aligned so that the obtained center position of the hole coincides with the axial center of the punch 35. The relationship between the positions of the plurality of reference marks and the center position of the hole formed by the punch 35 is stored in advance in the memory.

なお、ダイ側部材15に対するプリント基板17の位置合わせの精度を上げるために、プリント基板17を把持した把持部23a,25aを移動させて一旦、ダイ側部材15のダイ55の上面における所定の位置にプリント基板17を位置させたのち、再度、画像撮影装置21のCCDカメラでプリント基板17の基準マーク等を撮影して基準マーク等の位置を求め、ダイ55の上面の所定の位置にプリント基板17がまだ位置していない場合には、所定の位置に位置するようにプリント基板17を把持した把持部23a,25aを再度移動させるようにしてもよい。このような把持部23a,25aの再度の移動を複数回行って、ダイ側部材15に対するプリント基板17の位置合わせの精度をさらに向上させるようにしてもよい。   In order to increase the accuracy of the alignment of the printed circuit board 17 with respect to the die side member 15, the gripping portions 23 a and 25 a that grip the printed circuit board 17 are moved to temporarily change the predetermined position on the upper surface of the die 55 of the die side member 15. After the printed circuit board 17 is positioned, the CCD camera of the image photographing device 21 captures the reference mark on the printed circuit board 17 again to obtain the position of the reference mark and the like, and the printed circuit board is placed at a predetermined position on the upper surface of the die 55. When 17 is not yet positioned, the gripping portions 23a and 25a that grip the printed circuit board 17 may be moved again so as to be positioned at a predetermined position. Such a movement of the gripping portions 23a and 25a may be performed a plurality of times to further improve the alignment accuracy of the printed circuit board 17 with respect to the die side member 15.

(7)次に、パンチ35による穿孔作業の邪魔にならないように、パンチ側部材13の下方から画像撮影装置21のアーム部21aを外側方に移動させる。
(8)次に、前記パンチ側部材移動機構により図1に示すZ軸方向にパンチ側部材13をさらに下降させて、図4に示すように、ストリッパ37の下面をプリント基板17の上面に当接させる。これによって、圧縮ばね47による圧縮荷重がさらに増加した四個の押圧子45によってプリント基板17がダイ側部材15の上面に押圧されるだけでなくストリッパ37によってもプリント基板17がダイ側部材15の上面に押圧される。
(7) Next, the arm portion 21a of the image photographing device 21 is moved outward from below the punch side member 13 so as not to obstruct the punching work by the punch 35.
(8) Next, the punch side member 13 is further lowered in the Z-axis direction shown in FIG. 1 by the punch side member moving mechanism, and the lower surface of the stripper 37 is brought into contact with the upper surface of the printed circuit board 17 as shown in FIG. Make contact. As a result, the printed circuit board 17 is not only pressed against the upper surface of the die side member 15 by the four pressing elements 45 whose compression load by the compression springs 47 is further increased, but also the stripper 37 is used to attach the printed circuit board 17 to the die side member 15. Pressed against the top surface.

(9)次に、前記パンチ側部材移動機構により図1に示すZ軸方向にパンチ側部材13をさらに下降させて、図5に示すように、パンチ35により所定の孔をプリント基板17に穿設する。これによって、打ち抜かれたプリント基板17の打ち抜き片は、パンチ孔55aおよび貫通孔53aを通過して基台51上に落下する。
このとき、ストリッパ37は、プリント基板17に当接した状態で下降せず、圧縮ばね41を圧縮してパンチプレート33に接近させられる。また、四個の押圧子45も、プリント基板17に当接した状態で下降せず、圧縮ばね47がさらに圧縮されて押圧子45の鍔部45aがパンチプレート33の貫通孔に没入させられる。
(10)次に、前記パンチ側部材移動機構により図1に示すZ軸方向にパンチ側部材13を最初の位置(図1に示す位置)まで上昇させる。
以上で、プリント基板17の穿孔作業が終了する。
(9) Next, the punch-side member 13 is further lowered in the Z-axis direction shown in FIG. 1 by the punch-side member moving mechanism, and a predetermined hole is punched in the printed circuit board 17 by the punch 35 as shown in FIG. Set up. Thus, the punched piece of the printed circuit board 17 passes through the punch hole 55a and the through hole 53a and falls onto the base 51.
At this time, the stripper 37 does not move downward in contact with the printed circuit board 17, but compresses the compression spring 41 to approach the punch plate 33. Also, the four pressing elements 45 do not descend in contact with the printed circuit board 17, and the compression spring 47 is further compressed, so that the flange 45 a of the pressing element 45 is inserted into the through hole of the punch plate 33.
(10) Next, the punch side member 13 is raised to the initial position (position shown in FIG. 1) in the Z-axis direction shown in FIG. 1 by the punch side member moving mechanism.
This completes the drilling operation of the printed circuit board 17.

なお、以上説明した穿孔作業工程(1)ないし(10)は、本発明の要旨または思想に反しない範囲で、順序や内容を必要に応じて適宜変更することができる。例えば、前述した工程では、パンチ側部材13を下降させて押圧子45によりプリント基板17を押圧してプリント基板17をダイ側部材15のダイ55の上面に密接させる前記(3)の工程を実施したのち、撮影装置用移動機構によって画像撮影装置21のアーム部21aを移動させて画像撮影装置21のCCDカメラをプリント基板17の上方に位置させる前記(4)の工程を実施するようにしたが、これに代えて、前記(4)の工程を先に実施したのち、前記(3)の工程を実施するようにしてもよい。   In addition, the order and content of the drilling operation steps (1) to (10) described above can be appropriately changed as necessary without departing from the gist or concept of the present invention. For example, in the above-described step, the step (3) is performed in which the punch-side member 13 is lowered and the printed circuit board 17 is pressed by the pressing element 45 to bring the printed circuit board 17 into close contact with the upper surface of the die 55 of the die-side member 15. After that, the step (4) in which the arm unit 21a of the image capturing device 21 is moved by the moving mechanism for the image capturing device to position the CCD camera of the image capturing device 21 above the printed circuit board 17 is performed. Instead of this, the step (3) may be performed after the step (4) is performed first.

また、前記工程(3),(8),(9)および(10)では、パンチ側部材13を下降もしくは上昇させるようにしたが、これに代えて、パンチ側部材13を下降もしくは上昇させずに、またはパンチ側部材13を下降もしくは上昇させると共に、前記ダイ側部材移動機構によりダイ側部材15を上昇もしくは下降させるようにしてもよい。要は、ダイ側部材15のダイ55に対してパンチ側部材13が近接または離間する方向に相対的に移動自在で、かつ、近接する方向に相対的に移動してダイ55上に載置されたプリント基板17に穿孔できればよい。   In the steps (3), (8), (9) and (10), the punch side member 13 is lowered or raised. Instead, the punch side member 13 is not lowered or raised. Alternatively, the punch side member 13 may be lowered or raised, and the die side member 15 may be raised or lowered by the die side member moving mechanism. In short, the punch-side member 13 is relatively movable in the direction in which the punch-side member 13 approaches or separates from the die 55 of the die-side member 15, and moves relative to the adjacent direction and is placed on the die 55. It is sufficient that the printed circuit board 17 can be perforated.

この場合は、ダイ側部材15を上昇または下降させる前に、前記工程(1)で実施した第一把持機構23と第二把持機構25との把持部23a,25aによるプリント基板17の把持を解放しておく。 ところで、前記(5)の工程で求めたプリント基板17の基準マーク等の位置に基づいて、さらにプリント基板17に他の孔を穿設する場合は、前述した(6)(8)(9)(10)の工程と同様の工程を繰返す。   In this case, before the die side member 15 is raised or lowered, the holding of the printed circuit board 17 by the holding portions 23a and 25a of the first holding mechanism 23 and the second holding mechanism 25 performed in the step (1) is released. Keep it. By the way, when another hole is to be drilled in the printed circuit board 17 based on the position of the reference mark or the like of the printed circuit board 17 obtained in the step (5), the above described (6), (8), (9). The process similar to the process of (10) is repeated.

前述したように、本実施形態に係る穿孔装置11では、画像撮影装置21により認識しようとするプリント基板17の基準マーク等の近傍を押圧子45により直接押圧してプリント基板17をダイ側部材15のダイ55の上面に密接させるようにしている。このため、画像撮影装置21により認識しようとするプリント基板17の基準マーク等が設けられた部位をダイ55の上面に確実に密接させることができる。この結果、穿孔作業時にストリッパ37によってプリント基板17の上面が押圧された状態に近い状態で画像撮影装置21のCCDカメラによりプリント基板17の基準マーク等を撮影することができ、プリント基板17のダイ55に対する穿孔作業時と同等の正確な位置を認識することができる。   As described above, in the punching device 11 according to the present embodiment, the vicinity of the reference mark or the like of the printed circuit board 17 to be recognized by the image capturing device 21 is directly pressed by the pressing element 45 to press the printed circuit board 17 to the die side member 15. The die 55 is brought into close contact with the upper surface of the die 55. For this reason, the part provided with the reference mark or the like of the printed circuit board 17 to be recognized by the image capturing device 21 can be reliably brought into close contact with the upper surface of the die 55. As a result, the reference mark or the like of the printed circuit board 17 can be photographed by the CCD camera of the image photographing device 21 in a state close to the state where the upper surface of the printed circuit board 17 is pressed by the stripper 37 during the punching operation. An accurate position equivalent to that at the time of drilling work for 55 can be recognized.

また、ダイ側部材15のダイ55に対して近接または離間する方向に相対的に移動自在で、かつ、近接する方向に相対的に移動してダイ55の上面に載置されたプリント基板17に所定の孔を穿設するパンチ側部材13に押圧子45を設けたので、ダイ55に対してパンチ側部材13を相対的に近接または離間させることでダイ55の上面に載置されたプリント基板17に対して押圧子45を近接または離間することができる。このため、押圧子45を移動させるための専用の移動装置が不要となり、その分、部品点数を少なくでき、穿孔装置11を小型化することができる。   In addition, the die side member 15 is relatively movable in the direction approaching or separating from the die 55, and is moved relatively in the approaching direction to be placed on the printed circuit board 17 placed on the upper surface of the die 55. Since the pressing element 45 is provided on the punch side member 13 that forms a predetermined hole, the printed board placed on the upper surface of the die 55 by moving the punch side member 13 relatively close to or away from the die 55. The pressing element 45 can be moved closer to or away from the 17. For this reason, a dedicated moving device for moving the pressing element 45 becomes unnecessary, and accordingly, the number of parts can be reduced and the punching device 11 can be downsized.

また、パンチ側部材13は、パンチ側部材移動機構により数値制御されて移動させられるので、その移動量は高い精度で制御される。このため、押圧子45によるプリント基板17への押圧力をプリント基板17の特性や反りおよび皺などの程度に応じて微調整して適度に押圧することができる上、押圧子45により微弱な押圧力をプリント基板17に付与してダイ55の上面に密接させた状態で、プリント基板17を把持した把持部23a,25aを移動させて、ダイ55の上面の所定の位置にプリント基板17を位置合わせすることもできる。この結果、該位置合わせの精度を一層向上させることができる。   Further, since the punch side member 13 is moved under numerical control by the punch side member moving mechanism, the movement amount is controlled with high accuracy. For this reason, the pressing force applied to the printed circuit board 17 by the pressing element 45 can be finely adjusted according to the characteristics of the printed circuit board 17 and the degree of warpage, wrinkles, etc., and pressed moderately. With the pressure applied to the printed circuit board 17 and in close contact with the upper surface of the die 55, the gripping portions 23 a and 25 a that grip the printed circuit board 17 are moved to position the printed circuit board 17 at a predetermined position on the upper surface of the die 55. It can also be combined. As a result, the alignment accuracy can be further improved.

この位置合わせの精度の向上については、ダイ側部材15が単独でダイ側部材移動機構により数値制御されてZ軸方向に沿う上方に移動する方法や、ダイ側部材15とパンチ側部材13とがそれぞれ数値制御されて共に移動する方法によって、押圧子45によりプリント基板17を押圧する場合についても同様のことがいえる。また、ダイ55の上面に対して近接または離間する方向に進退自在に押圧子45をパンチ側部材13に設けたので、近接する方向にパンチ側部材13を相対的に移動してプリント基板17に所定の孔を穿設する際に、ダイ55に対して離間する方向に押圧子45を後退させることで押圧子45が邪魔になることが回避され、支障なく穿孔装置11によりプリント基板17に孔を穿設することができる。   For improving the alignment accuracy, a method in which the die side member 15 is independently numerically controlled by the die side member moving mechanism and moves upward along the Z-axis direction, or the die side member 15 and the punch side member 13 are The same can be said for the case where the printed circuit board 17 is pressed by the pressing element 45 by a method of moving together under numerical control. Further, since the pressing member 45 is provided on the punch side member 13 so as to be able to move forward and backward in the direction approaching or separating from the upper surface of the die 55, the punch side member 13 is relatively moved in the approaching direction to the printed circuit board 17. When the predetermined hole is drilled, the pressing element 45 is prevented from getting in the way by retreating the pressing element 45 in a direction away from the die 55, and the hole is formed in the printed circuit board 17 by the punching device 11 without any trouble. Can be drilled.

また、この実施形態による穿孔装置11では、圧縮ばね47による付勢力によってプリント基板17を押圧子45で押圧してダイ55の上面に密接させるようにしたので、プリント基板17を確実にダイ55の上面に密接させることや、ダイ55に対して離間する方向に押圧子45を後退させることが単純で安価な構造により達成できる。また、この実施形態による穿孔装置11では、ダイ55の上面に載置されたプリント基板17に相対的に近接する方向にパンチ側部材13が移動する際に、パンチ側部材13がプリント基板17に当接する前に押圧子45によりプリント基板17を押圧するようにしている。   Further, in the punching device 11 according to this embodiment, the printed circuit board 17 is pressed by the pressing element 45 by the urging force of the compression spring 47 so as to be brought into close contact with the upper surface of the die 55. It is possible to achieve close contact with the upper surface and to retract the pressing element 45 in a direction away from the die 55 with a simple and inexpensive structure. Further, in the punching device 11 according to this embodiment, when the punch side member 13 moves in a direction relatively close to the printed board 17 placed on the upper surface of the die 55, the punch side member 13 moves to the printed board 17. Before the contact, the printed circuit board 17 is pressed by the pressing element 45.

このため、押圧子45によりプリント基板17を押圧してダイ55の上面に予め密接させたのち、パンチ側部材13によりプリント基板17に所定の孔を穿設することができるようになり、孔の穿設を適切に行うことができる。また、パンチ側部材13のストリッパ37がプリント基板17に当接する前に、パンチ側部材13に突設した押圧子45によりプリント基板17を押圧するようにしている。このため、プリント基板17をダイ55の上面に密接させた状態で、パンチ側部材13のストリッパ37とプリント基板17との間に間隙を形成することができ、該間隙に画像撮影装置21のCCDカメラを位置付けてプリント基板17の基準マーク等を撮影することができる。   For this reason, after the printed circuit board 17 is pressed by the pressing element 45 and brought into close contact with the upper surface of the die 55 in advance, a predetermined hole can be formed in the printed circuit board 17 by the punch side member 13. Drilling can be performed appropriately. In addition, before the stripper 37 of the punch side member 13 comes into contact with the printed board 17, the printed board 17 is pressed by the pressing element 45 protruding from the punch side member 13. Therefore, a gap can be formed between the stripper 37 of the punch-side member 13 and the printed board 17 in a state where the printed board 17 is in close contact with the upper surface of the die 55, and the CCD of the image photographing device 21 is formed in the gap. The camera can be positioned and a reference mark or the like on the printed circuit board 17 can be photographed.

さらに、この実施形態による穿孔装置11では、パンチ側部材13におけるパンチ35の近傍に押圧子45を配設している。このため、所定の孔が穿設される部位の近傍を押圧子45により押圧してプリント基板17をダイ55の上面に密接させた状態で、パンチ側部材13のパンチ35でプリント基板17に穿孔することができるので、孔を精度良く穿設することができる。   Further, in the punching device 11 according to this embodiment, a pressing element 45 is disposed in the vicinity of the punch 35 in the punch side member 13. For this reason, the printed board 17 is punched by the punch 35 of the punch-side member 13 in a state where the vicinity of the portion where the predetermined hole is drilled is pressed by the pressing element 45 and the printed board 17 is brought into close contact with the upper surface of the die 55. Therefore, the hole can be drilled with high accuracy.

(第2実施形態)
次に、本発明の第2実施形態について図7ないし図11を参照して詳細に説明する。図7は同実施の形態に係る基板検査装置61(本発明でいう「被処理物処理装置」を構成する。)の概略の構成を示している。前述した第1実施形態で説明したものと同一もしくは同等の部材については、以下の説明および図7ないし図11では同一の符号を記し詳細な説明は省略する。また、第1実施形態で説明したものと同一もしくは同等の部材のうち一部の部材については、図7ないし図11では図示も省略する。この基板検査装置61は、可撓性の薄板状のプリント基板63(本発明でいう「被処理物」を構成する。)に設けられた配線パターン(図示せず)の導通状態が適正であるか否かを検査するための検査装置であり、プリント基板63の複数の電気的接点に複数の検査プローブを当接させてプリント基板63の電気的な導通の状態を検査する。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. FIG. 7 shows a schematic configuration of a substrate inspection apparatus 61 (which constitutes a “processing object processing apparatus” in the present invention) according to the embodiment. The same or equivalent members as those described in the first embodiment are denoted by the same reference numerals in the following description and FIGS. Also, some of the members that are the same as or equivalent to those described in the first embodiment are not shown in FIGS. In this board inspection apparatus 61, the conductive state of a wiring pattern (not shown) provided on a flexible thin plate-like printed board 63 (which constitutes the “object to be processed” in the present invention) is appropriate. This is an inspection apparatus for inspecting whether the printed circuit board 63 is in electrical continuity by contacting a plurality of inspection probes with the plurality of electrical contacts of the printed circuit board 63.

基板検査装置61は、プリント基板63を載置するための載置台64と、載置台64の上面に載置されたプリント基板63を把持して該プリント基板63を載置台64の上面の所定の位置に移動させる移動装置19と、検査プローブ部材移動装置(図示せず)に取り付けられ該検査プローブ部材移動装置の駆動によって載置台64の上面に直交する方向(鉛直方向)にそれぞれ同時にまたは個別に移動自在な上側検査プローブ部材65(本発明でいう「所定の処理を施す処理部」および「検査プローブ部材」を構成する。)と下側検査プローブ部材66と、基板検査装置61が備える各装置を制御するための制御部や後述する判定部67aを有する検査装置本体67と、この検査装置本体67と上側検査プローブ部材65とを接続する上側接続構造69と、検査装置本体67と下側検査プローブ部材66とを接続する下側接続構造71と、載置台64の上面に載置されたプリント基板63の所定の部位の載置台64に対する位置を認識する画像撮影装置21とで構成されている。   The board inspection device 61 holds a printed board 63 on which the printed board 63 is placed, and a printed board 63 placed on the upper surface of the placed board 64 to hold the printed board 63 on the upper surface of the placed table 64. A moving device 19 to be moved to a position and an inspection probe member moving device (not shown) are attached to the inspection probe member moving device, and simultaneously or individually in a direction (vertical direction) perpendicular to the upper surface of the mounting table 64 by driving the inspection probe member moving device. A movable upper inspection probe member 65 (which constitutes a “processing section for performing a predetermined process” and an “inspection probe member” in the present invention), a lower inspection probe member 66, and each device included in the substrate inspection apparatus 61 An inspection apparatus main body 67 having a control section for controlling the inspection and a determination section 67a to be described later, and an upper contact for connecting the inspection apparatus main body 67 and the upper inspection probe member 65. The structure 69, the lower connection structure 71 that connects the inspection apparatus main body 67 and the lower inspection probe member 66, and the position of a predetermined portion of the printed circuit board 63 placed on the upper surface of the placement table 64 with respect to the placement table 64. It comprises an image capturing device 21 to be recognized.

なお、上側検査プローブ部材65と下側検査プローブ部材66とは、前記検査プローブ部材移動装置によりそれぞれ数値制御されて鉛直方向に移動自在に構成されている。プリント基板63の所定の部位とは、プリント基板63に付された基準マークまたはプリント基板63の配線パターンの特定の部位をいい、以下「基準マーク等」という。該基準マーク等はプリント基板63の所定の位置に一つまたは複数設けられており、該基準マーク等は、画像撮影装置21によって撮影され、載置台64に対する位置が認識される。なお、図示していないが、基板検査装置61は、該基板検査装置61が備える各機構や各装置の作動を制御するための制御装置や、各機構や各装置を操作するための操作盤等を備えている。前記制御装置は、CPU,ROMおよびRAMを備えており、ROMには、各移動装置等を作動させるためのプログラム等の各種のプログラムが記憶されている。   The upper inspection probe member 65 and the lower inspection probe member 66 are configured to be movable in the vertical direction by being numerically controlled by the inspection probe member moving device. The predetermined part of the printed circuit board 63 refers to a reference mark attached to the printed circuit board 63 or a specific part of the wiring pattern of the printed circuit board 63, and is hereinafter referred to as “reference mark or the like”. One or a plurality of the reference marks and the like are provided at predetermined positions on the printed circuit board 63, and the reference marks and the like are photographed by the image photographing device 21 and the position with respect to the mounting table 64 is recognized. Although not shown, the board inspection device 61 includes a mechanism for controlling each mechanism and operation of each device provided in the board inspection device 61, an operation panel for operating each mechanism and each device, and the like. It has. The control device includes a CPU, a ROM, and a RAM, and various programs such as a program for operating each moving device are stored in the ROM.

また、基板検査装置61は、これらの各装置等の他に、画像処理装置,各種データを記憶するメモリおよびマイクロコンピュータが設けられており、該マイクロコンピュータは、前記画像撮影装置21のCCDカメラが撮影する画像を画像処理して載置台64に対するプリント基板63の基準マーク等の位置を演算により求め、この求めた基準マーク等の位置に基づいて、移動装置19は、支持部材移動機構28を作動させて把持機構支持部材27を図7の左右方向または図7の紙面に垂直な方向に移動させたり、鉛直方向に沿う軸芯回りの方向に回動させたりして、プリント基板63を載置台64の上面における所定の位置に位置合わせする。   In addition to these devices, the substrate inspection device 61 is provided with an image processing device, a memory for storing various data, and a microcomputer. The microcomputer is a CCD camera of the image photographing device 21. The position of the reference mark or the like of the printed circuit board 63 with respect to the mounting table 64 is obtained by image processing on the image to be photographed, and the moving device 19 operates the support member moving mechanism 28 based on the obtained position of the reference mark or the like. The gripping mechanism support member 27 is moved in the left-right direction in FIG. 7 or in a direction perpendicular to the paper surface in FIG. 7 or rotated in the direction around the axis along the vertical direction to place the printed circuit board 63 on the mounting table. Align to a predetermined position on the upper surface of 64.

この位置合わせの際は、第一把持機構23の把持部23aと第二把持機構25の把持部25aとでプリント基板63の一端側のみを把持して移動するようにしているため、移動することでプリント基板63が波打ったりしないように両把持部23a,25aが載置台64から図7の紙面に交差する方向に常に後退するようにプリント基板63を移動させる。また、基板検査装置61は、上側検査プローブ部材65の上側検査プローブ73および下側検査プローブ部材66の下側検査プローブ74から送られてくる検出信号を計測する回路からなる計測部を備えている。   At the time of this alignment, the gripping part 23a of the first gripping mechanism 23 and the gripping part 25a of the second gripping mechanism 25 grip and move only one end side of the printed circuit board 63. Then, the printed circuit board 63 is moved so that both the gripping portions 23a and 25a are always retracted from the mounting table 64 in the direction intersecting the paper surface of FIG. The board inspection apparatus 61 includes a measuring unit including a circuit for measuring detection signals sent from the upper inspection probe 73 of the upper inspection probe member 65 and the lower inspection probe 74 of the lower inspection probe member 66. .

該計測部は、上側接続構造69およびその上側接続配線69aと下側接続構造71および下側接続配線71aとをそれぞれ介して上側検査プローブ73と下側検査プローブ74とにそれぞれ検査信号を出力すると共に、上側検査プローブ73および下側検査プローブ74を介してプリント基板63の各電気的接点を通過したのちに戻ってくる検出信号を入力する。また、基板検査装置61が備える制御装置のRAMには、前記検出信号等、導通検査を行うために必要な各種のデータが書き換え可能に記憶されている。前記制御装置のCPUは、該装置のROMおよびRAMが記憶する各種のプログラムやデータに基づいて、前記計測部が計測した計測結果から電気的な導通の状態の判定を行う。前記CPUおよび計測部で、検査装置本体67の判定部67aが構成される。   The measuring section outputs inspection signals to the upper inspection probe 73 and the lower inspection probe 74 via the upper connection structure 69 and its upper connection wiring 69a, and the lower connection structure 71 and the lower connection wiring 71a, respectively. At the same time, a detection signal that returns after passing through the electrical contacts of the printed circuit board 63 is input via the upper inspection probe 73 and the lower inspection probe 74. In addition, various data necessary for conducting a continuity test, such as the detection signal, are stored in a rewritable manner in the RAM of the control device provided in the board inspection device 61. The CPU of the control device determines the state of electrical continuity from the measurement results measured by the measurement unit based on various programs and data stored in the ROM and RAM of the device. The CPU and the measurement unit constitute a determination unit 67a of the inspection apparatus main body 67.

上側検査プローブ部材65,下側検査プローブ部材66および載置台64は、検査対象であるプリント基板63の仕様に応じて交換されるものである。上側検査プローブ部材65は、平行に並んだ上側ベースプレート75aと上側第一プレート76aと上側第二プレート77aとの3つの矩形プレートと、複数の上側検査プローブ73とを備えている。そして、上側第一プレート76aと上側第二プレート77aとの互いに対向する位置にそれぞれ複数の貫通孔81,83(図11を参照)が穿設され、これらの複数の貫通孔81,83に、複数の上側検査プローブ73の両端部がそれぞれ挿入されている。   The upper inspection probe member 65, the lower inspection probe member 66, and the mounting table 64 are exchanged according to the specifications of the printed circuit board 63 to be inspected. The upper inspection probe member 65 includes three rectangular plates of an upper base plate 75a, an upper first plate 76a, and an upper second plate 77a arranged in parallel, and a plurality of upper inspection probes 73. Then, a plurality of through holes 81 and 83 (see FIG. 11) are formed in positions where the upper first plate 76a and the upper second plate 77a face each other, and the plurality of through holes 81 and 83 are respectively Both end portions of the plurality of upper inspection probes 73 are inserted.

複数の貫通孔81と複数の貫通孔83との配置は、それぞれプリント基板63の上面側に形成された電気的接点の配置と同じになっており、このため複数の上側検査プローブ73の配置も前記電気的接点の配置と同じになっている。また、これらの複数の上側検査プローブ73の上端部に、可撓性のニクロム線からなる上側ワイヤーケーブル85aの下端部が電気的に接続され、その上側ワイヤーケーブル85aの上端部が上側接続構造69に電気的に接続され、上側接続構造69の上側接続配線69aが前記検査装置本体67に電気的に接続されている。   The arrangement of the plurality of through-holes 81 and the plurality of through-holes 83 is the same as the arrangement of the electrical contacts formed on the upper surface side of the printed circuit board 63. Therefore, the arrangement of the plurality of upper inspection probes 73 is also the same. The arrangement of the electrical contacts is the same. Further, the lower ends of the upper wire cables 85a made of flexible nichrome wires are electrically connected to the upper ends of the plurality of upper inspection probes 73, and the upper ends of the upper wire cables 85a are connected to the upper connection structure 69. The upper connection wiring 69 a of the upper connection structure 69 is electrically connected to the inspection apparatus main body 67.

また、上側第一プレート76aの中央寄りには、上側第一プレート76aの中心部に配設された一部の上側検査プローブ73を囲むように4個の貫通孔78(図11参照)が穿設され、該貫通孔78には、上端が閉塞され下端が開口された円筒状のばね収納体87の上部がそれぞれ嵌合固定されている。そして、四個のばね収納体87のそれぞれの下端が上側第二プレート77aの上面に接合され、四個のばね収納体87が上側第一プレート76aと上側第二プレート77aとの間に架け渡されて固定されている。ばね収納体87の下端が接合された上側第二プレート77aの部位には、ばね収納体87の内径より小さな内径を有する貫通孔89(図11参照)がばね収納体87の軸芯と同軸となる位置に穿設されている。   Further, four through holes 78 (see FIG. 11) are formed near the center of the upper first plate 76a so as to surround a part of the upper inspection probe 73 disposed at the center of the upper first plate 76a. The upper part of the cylindrical spring accommodating body 87 whose upper end is closed and whose lower end is opened is fitted and fixed in the through hole 78. The lower ends of the four spring storage bodies 87 are joined to the upper surface of the upper second plate 77a, and the four spring storage bodies 87 are bridged between the upper first plate 76a and the upper second plate 77a. Has been fixed. A through hole 89 (see FIG. 11) having an inner diameter smaller than the inner diameter of the spring housing body 87 is coaxial with the axial center of the spring housing body 87 at the portion of the upper second plate 77 a to which the lower end of the spring housing body 87 is joined. It is drilled at the position.

そして、長手方向の上端寄りの中途部に鍔部45a(図11を参照)が形成された円柱状の押圧子45が貫通孔89に挿通され、該鍔部45aの上端面が、ばね収納体87内に収納された圧縮ばね47の下端面により押圧されて該鍔部45aの下端面が貫通孔89の上側開口部に当接させられている。また、貫通孔89は、押圧子45における鍔部45aより下方の部分の外径より僅かに大きな寸法に形成されている。この結果、圧縮ばね47は、ばね収納体87内の上端と押圧子45の鍔部45aの上端面との間に圧縮された状態で介装されている。   A cylindrical pressing element 45 having a flange 45a (see FIG. 11) formed in the middle of the upper end in the longitudinal direction is inserted into the through-hole 89, and the upper end surface of the flange 45a is a spring housing. The lower end surface of the flange 45 a is pressed against the upper opening of the through hole 89 by being pressed by the lower end surface of the compression spring 47 accommodated in the 87. Further, the through hole 89 is formed to have a size slightly larger than the outer diameter of the portion of the pressing element 45 below the flange 45a. As a result, the compression spring 47 is interposed between the upper end in the spring housing 87 and the upper end surface of the flange 45a of the pressing element 45 in a compressed state.

これによって、押圧子45が載置台64に向かって進出するように圧縮ばね47により付勢され、載置台64に対して近接または離間する方向に進退自在に押圧子45が上側検査プローブ部材65に突設される。そして、上側検査プローブ部材65が下降して押圧子45がプリント基板63を押圧することで圧縮ばね47が圧縮される前は、上側検査プローブ73より押圧子45の方が下方に突出している。而して、上側検査プローブ部材65が下降して、その上側検査プローブ73の下端がプリント基板63に当接する前に、押圧子45が先に当接してプリント基板63を押圧するように、上側検査プローブ部材65に対して押圧子45が位置付けられる。また、押圧子45は、複数の上側検査プローブ73の近傍で、かつ、複数の上側検査プローブ73の間に配設される。   As a result, the pressing element 45 is urged by the compression spring 47 so as to advance toward the mounting table 64, and the pressing element 45 moves forward and backward in a direction approaching or separating from the mounting table 64. Projected. Then, before the compression spring 47 is compressed by the upper inspection probe member 65 being lowered and the pressing element 45 pressing the printed circuit board 63, the pressing element 45 protrudes downward from the upper inspection probe 73. Thus, before the upper inspection probe member 65 is lowered and the lower end of the upper inspection probe 73 is brought into contact with the printed circuit board 63, the presser 45 is first contacted to press the printed circuit board 63. The pressing element 45 is positioned with respect to the inspection probe member 65. The pressing element 45 is disposed in the vicinity of the plurality of upper inspection probes 73 and between the plurality of upper inspection probes 73.

上側ベースプレート75aは、その中央部に略矩形の貫通孔91が穿設された枠状に形成され、上側第一プレート76aは、上側ベースプレート75aより薄くて小さいプレートに形成されている。そして、上側第一プレート76aの四隅が、4本の上側第一支柱93aを介して上側ベースプレート75aの下面に固定されている。上側第二プレート77aは、上側第一プレート76aと略同じ厚さで上側第一プレート76aより小さいプレートに形成され、上側第一プレート76aの下面に4本の上側第二支柱95aを介して四隅が固定されている。   The upper base plate 75a is formed in a frame shape having a substantially rectangular through hole 91 formed in the center thereof, and the upper first plate 76a is formed in a plate that is thinner and smaller than the upper base plate 75a. The four corners of the upper first plate 76a are fixed to the lower surface of the upper base plate 75a via the four upper first struts 93a. The upper second plate 77a is formed in a plate that is substantially the same thickness as the upper first plate 76a and is smaller than the upper first plate 76a, and has four corners on the lower surface of the upper first plate 76a via four upper second columns 95a. Is fixed.

なお、4本の上側第一支柱93aは、それらの上端部に形成された雄ネジ部(図示せず)が上側ベースプレート75aに形成された雌ネジ部(図示せず)にそれぞれ螺着されており、上側第一プレート76aは、4本の上側第一支柱93aの下端部に形成された雌ネジ部(図示せず)にボルト(図示せず)によって螺着されている。また、4本の上側第二支柱95aは、それらの上端部に形成された雄ネジ部(図示せず)が上側第一プレート76aに形成された雌ネジ部(図示せず)にそれぞれ螺着されており、上側第二プレート77aは、4本の上側第二支柱95aの下端部に形成された雌ネジ部(図示せず)にボルト(図示せず)によって螺着されている。   The four upper first struts 93a have male screw portions (not shown) formed at the upper ends thereof screwed into female screw portions (not shown) formed on the upper base plate 75a, respectively. The upper first plate 76a is screwed to a female screw portion (not shown) formed at the lower ends of the four upper first struts 93a with bolts (not shown). The four upper second struts 95a have male screw portions (not shown) formed at their upper ends screwed into female screw portions (not shown) formed on the upper first plate 76a, respectively. The upper second plate 77a is screwed to a female screw portion (not shown) formed at the lower ends of the four upper second support columns 95a by bolts (not shown).

また、図11に示すように、複数の上側検査プローブ73は、細い丸棒状のタングステン材からなるプローブ部73aとそのプローブ部73aの長手方向中央部を被覆保護する絶縁管73bとから構成されている。そして、プローブ部73aの上端部は、上側第一プレート76aの貫通孔を貫通して上側第一プレート76aから上側ベースプレート75aに向かって突出し、プローブ部73aの下端部は、上側第二プレート77aの貫通孔を貫通して上側第二プレート77aから下方に向って突出している。このため、絶縁管73bは、上側第一プレート76aと上側第二プレート77aとの間に挟まれるように配置されている。   As shown in FIG. 11, the plurality of upper inspection probes 73 are composed of a probe portion 73a made of a thin round bar-like tungsten material and an insulating tube 73b that covers and protects the longitudinal center portion of the probe portion 73a. Yes. And the upper end part of the probe part 73a penetrates the through-hole of the upper side first plate 76a, protrudes toward the upper side base plate 75a from the upper side first plate 76a, and the lower end part of the probe part 73a is the upper side second plate 77a. It penetrates the through hole and protrudes downward from the upper second plate 77a. For this reason, the insulating tube 73b is disposed so as to be sandwiched between the upper first plate 76a and the upper second plate 77a.

また、上側第一プレート76aの上面から上方に突出しているプローブ部73aの上端部の突出長さの方が、上側第二プレート77aの下面から下方に突出しているプローブ部73aの下端部の突出長さよりもかなり長くなっている。そして、このプローブ部73aの下端部の突出端が、上側検査プローブ部材65の鉛直方向下方への移動によって、プリント基板63の上面側の電気的接点に当接する。また、上側第一プレート76aの上面から突出したプローブ部73aの上端部に、上側ワイヤーケーブル85aの下端部が結着されている。   Further, the protruding length of the upper end portion of the probe portion 73a protruding upward from the upper surface of the upper first plate 76a is longer than the lower end portion of the probe portion 73a protruding downward from the lower surface of the upper second plate 77a. It is considerably longer than the length. The protruding end of the lower end portion of the probe portion 73a comes into contact with the electrical contact on the upper surface side of the printed circuit board 63 due to the downward movement of the upper inspection probe member 65 in the vertical direction. The lower end portion of the upper wire cable 85a is bound to the upper end portion of the probe portion 73a protruding from the upper surface of the upper first plate 76a.

なお、上側検査プローブ73,上側ワイヤーケーブル85aおよび上側接続構造69の上側接続配線69aの本数は、本来は、検査すべきプリント基板63の上面側の電気的接点の個数と同数であるが、図7ないし図10においては作図の都合上、それよりかなり少ない本数で描いている。上側検査プローブ73がプリント基板63の上面側の電気的接点に当接したときに各上側検査プローブ73間が通電され、その電気抵抗値の大小によってプリント基板63が適正に導通しているか否かが判定される。この場合、検出信号が、上側検査プローブ73から上側接続構造69を経て、検査装置本体67内の判定部67aに送信され、この判定部67aによりプリント基板63の電気的な導通の状態が判定される。   The number of the upper inspection probe 73, the upper wire cable 85a, and the upper connection wiring 69a of the upper connection structure 69 is essentially the same as the number of electrical contacts on the upper surface side of the printed circuit board 63 to be inspected. In FIG. 7 to FIG. 10, for the convenience of drawing, it is drawn with a considerably smaller number. When the upper inspection probe 73 comes into contact with the electrical contact on the upper surface side of the printed circuit board 63, current is passed between the upper inspection probes 73, and whether or not the printed circuit board 63 is properly conducted depending on the magnitude of the electrical resistance value. Is determined. In this case, the detection signal is transmitted from the upper inspection probe 73 through the upper connection structure 69 to the determination unit 67a in the inspection apparatus main body 67, and the determination unit 67a determines the state of electrical continuity of the printed circuit board 63. The

詳しくは、良品のプリント基板63の電気抵抗値をもとにして予め検査判定閾値が設定されており、検出した電気抵抗値の検査判定閾値に対する比率で、検査したプリント基板63の導通状態についての良否の判定が行われる。すなわち、検査が、導通が良好であるか否かの検査である場合は、検出した電気抵抗値が検査判定閾値に対して所定比率未満であれば良品と判定し、所定比率以上であれば不良品と判定する。また、検査が、導通しないで適正に絶縁しているか否かの検査である場合には、検出した電気抵抗値が検査判定閾値に対して所定の比率以上であれば良品と判定し、所定の比率未満であれば不良品と判定する。このような判定方法は、後述する下側検査プローブ部材66による導通検査についても同様に行われる。また、その他、各種の電気測定、例えば、絶縁検査や静電容量検査も同様に可能である。   Specifically, an inspection determination threshold value is set in advance based on the electrical resistance value of the non-defective printed circuit board 63, and the conduction state of the inspected printed circuit board 63 is determined by the ratio of the detected electrical resistance value to the inspection determination threshold value. A pass / fail decision is made. That is, when the inspection is an inspection of whether or not continuity is good, if the detected electric resistance value is less than a predetermined ratio with respect to the inspection determination threshold value, it is determined as a non-defective product, and if it is equal to or higher than the predetermined ratio, Judge as good. Further, when the inspection is an inspection of whether or not the insulation is properly conducted without conducting, if the detected electric resistance value is equal to or greater than a predetermined ratio with respect to the inspection determination threshold value, it is determined as a non-defective product. If it is less than the ratio, it is determined as a defective product. Such a determination method is similarly performed for a continuity test by the lower test probe member 66 described later. In addition, various electrical measurements, for example, an insulation test and a capacitance test are also possible.

下側検査プローブ部材66は、基本的には、前述した上側検査プローブ部材65から、ばね収納体87,押圧子45および圧縮ばね47を取り除いて上下方向を逆向きにした構造と略同様の構造となっている。すなわち、上側検査プローブ部材65の上側ベースプレート75a,上側第一プレート76a,上側第二プレート77a,上側第一支柱93a,上側第二支柱95a,上側検査プローブ73,上側ワイヤーケーブル85aが、下側検査プローブ部材66の下側ベースプレート75b,下側第一プレート76b,下側第二プレート77b,下側第一支柱93b,下側第二支柱95b,下側検査プローブ74,下側ワイヤーケーブル85bにそれぞれ対応する。   The lower inspection probe member 66 is basically similar in structure to the above-described upper inspection probe member 65 in which the spring housing 87, the pressing element 45, and the compression spring 47 are removed and the vertical direction is reversed. It has become. That is, the upper base plate 75a, the upper first plate 76a, the upper second plate 77a, the upper first column 93a, the upper second column 95a, the upper inspection probe 73, and the upper wire cable 85a of the upper inspection probe member 65 are subjected to the lower inspection. The lower base plate 75b, the lower first plate 76b, the lower second plate 77b, the lower first support post 93b, the lower second support post 95b, the lower inspection probe 74, and the lower wire cable 85b of the probe member 66, respectively. Correspond.

そして、下側検査プローブ74は、下側ワイヤーケーブル85bおよび下側接続構造71を介して検査装置本体67に電気的に接続されている。なお、下側検査プローブ74,下側ワイヤーケーブル85bおよび下側接続構造71の下側接続配線71aの本数は、本来は、検査すべきプリント基板63の下面側の電気的接点の個数と同数であるが、図7ないし図10においては作図の都合上、それよりかなり少ない本数で描いている。   The lower inspection probe 74 is electrically connected to the inspection apparatus main body 67 via the lower wire cable 85 b and the lower connection structure 71. The number of the lower inspection probe 74, the lower wire cable 85b, and the lower connection wiring 71a of the lower connection structure 71 is essentially the same as the number of electrical contacts on the lower surface side of the printed circuit board 63 to be inspected. However, in FIG. 7 to FIG. 10, for the convenience of drawing, it is drawn with a considerably smaller number.

また、載置台64には、下側検査プローブ部材66の各下側検査プローブ74が配設された位置に対応する位置にそれぞれ貫通孔64a(図11参照)が穿設されており、該貫通孔64aを下側検査プローブ74の上端部が挿通してプリント基板63の下面側の電気的接点に各下側検査プローブ74の上端が当接したときに各下側検査プローブ74間が通電され、その電気抵抗値の大小によってプリント基板63が適正に導通しているか否かが判定される。なお、プリント基板63の下面側の電気的接点の個数とプリント基板63の上面側の電気的接点の個数とは同数であってもよいし異なる個数であってもよい。   Further, the mounting table 64 is provided with through holes 64a (see FIG. 11) at positions corresponding to positions where the lower inspection probes 74 of the lower inspection probe member 66 are disposed. When the upper end of the lower inspection probe 74 is inserted through the hole 64a and the upper end of each lower inspection probe 74 comes into contact with the electrical contact on the lower surface side of the printed circuit board 63, the lower inspection probes 74 are energized. Whether or not the printed circuit board 63 is properly conducted is determined based on the magnitude of the electrical resistance value. Note that the number of electrical contacts on the lower surface side of the printed circuit board 63 and the number of electrical contacts on the upper surface side of the printed circuit board 63 may be the same or different.

このような構成において、基板検査装置61を用いてプリント基板63の電気的な導通の状態を検査する場合には、以下の(1)ないし(10)の工程の順序に従って導通検査作業が行われる。
(1)まず、第一把持機構23の把持部23aと第二把持機構25の把持部25aとの間隔をプリント基板63の両端部間の間隔と略同じになるようにして、把持部23a,25aでプリント基板63の両端部の角部近傍を把持したのち、把持した状態で第一把持機構23と第二把持機構25との間隔を広げプリント基板63の把持された間が波打ったりしないようにする。
In such a configuration, when the electrical continuity state of the printed circuit board 63 is inspected using the substrate inspection apparatus 61, the continuity inspection work is performed in the order of the following steps (1) to (10). .
(1) First, the distance between the gripping part 23a of the first gripping mechanism 23 and the gripping part 25a of the second gripping mechanism 25 is made substantially the same as the distance between both ends of the printed circuit board 63. After gripping the vicinity of the corners at both ends of the printed circuit board 63 with 25a, the gap between the first gripping mechanism 23 and the second gripping mechanism 25 is widened in the gripped state so that the printed circuit board 63 is not waved while being gripped. Like that.

(2)次に、プリント基板63を把持部23a,25aで把持した状態で支持部材移動機構28を作動させて第一把持機構23と第二把持機構25とを移動させ、上側検査プローブ部材65の複数の上側検査プローブ73の下方にプリント基板63の基準マーク等が位置付けられるように載置台64に対してプリント基板63を位置合わせする。
(3)次に、前記検査プローブ部材移動装置により上側検査プローブ部材65を鉛直方向に下降させて四個の押圧子45の下端によりプリント基板63の基準マーク等の近傍を直接押圧し、図7および図11にW’で示すようなプリント基板63に存在する反りや皺などを伸ばし、プリント基板63の基準マーク等が付された部位を図8に示すように載置台64の上面に完全に密接させる。
(2) Next, in a state where the printed circuit board 63 is gripped by the gripping portions 23a, 25a, the support member moving mechanism 28 is operated to move the first gripping mechanism 23 and the second gripping mechanism 25, and the upper inspection probe member 65 is moved. The printed circuit board 63 is aligned with respect to the mounting table 64 so that the reference marks and the like of the printed circuit board 63 are positioned below the plurality of upper inspection probes 73.
(3) Next, the upper inspection probe member 65 is moved downward in the vertical direction by the inspection probe member moving device, and the vicinity of the reference mark or the like on the printed circuit board 63 is directly pressed by the lower ends of the four pressing elements 45. FIG. Further, the warp, wrinkles, etc. existing on the printed circuit board 63 as indicated by W ′ in FIG. Close.

このとき、圧縮ばね47による付勢力によってプリント基板63が押圧子45で押圧されて載置台64に密接される。
(4)次に、押圧子45で押圧してプリント基板63を載置台64の上面に密接させた状態で、前述した第1実施形態の撮影装置用移動機構と同等の撮影装置用移動機構によって画像撮影装置21のアーム部21aを移動させ、画像撮影装置21のCCDカメラをプリント基板63の基準マーク等の直上に位置させる。
(5)次に、前記CCDカメラでプリント基板63の基準マーク等を撮影し、その撮影した画像を画像処理して載置台64に対するプリント基板63の基準マーク等の位置を演算により求める。
At this time, the printed circuit board 63 is pressed by the pressing element 45 by the urging force of the compression spring 47 and brought into close contact with the mounting table 64.
(4) Next, with the photographing device moving mechanism equivalent to the photographing device moving mechanism of the first embodiment described above in a state where the printed board 63 is brought into close contact with the upper surface of the mounting table 64 by being pressed by the pressing element 45. The arm portion 21 a of the image capturing device 21 is moved, and the CCD camera of the image capturing device 21 is positioned directly above the reference mark or the like on the printed board 63.
(5) Next, the reference mark or the like of the printed circuit board 63 is photographed by the CCD camera, and the photographed image is subjected to image processing to obtain the position of the reference mark or the like of the printed circuit board 63 with respect to the mounting table 64 by calculation.

(6)前記(5)の工程で求めた基準マーク等の位置に基づいて、移動装置19は、支持部材移動機構28を作動させて、プリント基板63を把持した第一把持機構23と第二把持機構25との把持部23a,25aを図7の紙面に交差する方向に適宜後退させ、載置台64の上面における所定の位置にプリント基板63を位置させる。
このとき、プリント基板63には少なくとも2個の基準マーク等が設けられており、これらの基準マーク等の載置台64に対する位置を演算により求め、これらの求めた基準マーク等の位置に基づいて、載置台64に対してプリント基板63が本来位置付けられる正規の位置(所定の位置)に対して、傾斜している角度と偏倚している量とを演算により求め、これらの求めた各演算値から載置台64に対してプリント基板63を所定の位置に位置合わせする。
(6) Based on the position of the reference mark or the like obtained in the step (5), the moving device 19 operates the support member moving mechanism 28 and the second holding mechanism 23 holding the printed circuit board 63 and the second holding mechanism 23. The gripping portions 23 a and 25 a with the gripping mechanism 25 are appropriately retracted in the direction intersecting the paper surface of FIG. 7, and the printed circuit board 63 is positioned at a predetermined position on the upper surface of the mounting table 64.
At this time, the printed circuit board 63 is provided with at least two reference marks and the like, the positions of these reference marks and the like with respect to the mounting table 64 are obtained by calculation, and based on the obtained positions of the reference marks and the like, With respect to a normal position (predetermined position) where the printed circuit board 63 is originally positioned with respect to the mounting table 64, an angle of inclination and an amount of deviation are obtained by calculation, and from these calculated values obtained. The printed circuit board 63 is aligned with a predetermined position with respect to the mounting table 64.

なお、載置台64に対するプリント基板63の位置合わせの精度を上げるために、プリント基板63を把持した把持部23a,25aを移動させて一旦、載置台64の所定の位置にプリント基板63を位置させたのち、再度、画像撮影装置21のCCDカメラでプリント基板63の基準マーク等を撮影して基準マーク等の位置を求め、載置台64上の所定の位置にプリント基板63がまだ位置していない場合には、所定の位置に位置するようにプリント基板63を把持した把持部23a,25aを再度移動させるようにしてもよい。このような把持部23a,25aの再度の移動を複数回行って、載置台64に対するプリント基板63の位置合わせの精度をさらに向上させるようにしてもよい。   In order to increase the accuracy of positioning the printed circuit board 63 with respect to the mounting table 64, the gripping portions 23 a and 25 a that grip the printed circuit board 63 are moved to temporarily position the printed circuit board 63 at a predetermined position on the mounting table 64. After that, again, the CCD camera of the image capturing device 21 captures the reference mark on the printed circuit board 63 to obtain the position of the reference mark and the like, and the printed circuit board 63 is not yet positioned at a predetermined position on the mounting table 64. In this case, the grip portions 23a and 25a that grip the printed circuit board 63 may be moved again so as to be positioned at a predetermined position. Such a movement of the gripping portions 23a and 25a may be performed a plurality of times to further improve the accuracy of alignment of the printed circuit board 63 with respect to the mounting table 64.

(7)次に、上側検査プローブ73による導通検査作業の邪魔にならないように、載置台64上に載置されたプリント基板63の上方から画像撮影装置21のアーム部21aを外側方に移動させる。
(8)次に、前記検査プローブ部材移動装置により上側検査プローブ部材65を鉛直方向にさらに下降させて、図9に示すように、複数の上側検査プローブ73の下端をプリント基板63の上面側の電気的接点に当接させる。この状態でプリント基板63の導通状態の検査が行われる。
(7) Next, the arm portion 21a of the image photographing device 21 is moved outward from above the printed circuit board 63 placed on the placement table 64 so as not to obstruct the continuity inspection work by the upper inspection probe 73. .
(8) Next, the upper inspection probe member 65 is further lowered in the vertical direction by the inspection probe member moving device, and the lower ends of the plurality of upper inspection probes 73 are placed on the upper surface side of the printed circuit board 63 as shown in FIG. Abut on electrical contact. In this state, the conductive state of the printed circuit board 63 is inspected.

このとき、四個の押圧子45は、プリント基板63に当接した状態で下降せず、圧縮ばね47がさらに圧縮されて押圧子45の上端がばね収納体87内の上面に向かって接近させられ、圧縮ばね47の前記圧縮荷重が付与された押圧子45によって載置台64の上面にプリント基板63が押圧される。
(9)次に、前記検査プローブ部材移動装置によって下側検査プローブ部材66を鉛直方向に上昇させ、下側検査プローブ部材66の複数の下側検査プローブ74の上端を載置台64の貫通孔64aを挿通させてプリント基板63の下面の電気的接点に当接させる(図10参照)。この状態でプリント基板63の導通状態の検査が行われる。
At this time, the four pressing elements 45 do not descend in contact with the printed circuit board 63, and the compression spring 47 is further compressed so that the upper end of the pressing element 45 approaches the upper surface in the spring housing 87. Then, the printed circuit board 63 is pressed against the upper surface of the mounting table 64 by the pressing element 45 to which the compression load of the compression spring 47 is applied.
(9) Next, the lower inspection probe member 66 is raised in the vertical direction by the inspection probe member moving device, and the upper ends of the plurality of lower inspection probes 74 of the lower inspection probe member 66 are passed through the through holes 64a of the mounting table 64. Is inserted into contact with the electrical contact on the lower surface of the printed circuit board 63 (see FIG. 10). In this state, the conductive state of the printed circuit board 63 is inspected.

このとき、プリント基板63の上面側と下面側との各電気的接点に上側検査プローブ73と下側検査プローブ74とが共に当接することで、複数の上側検査プローブ73と、該複数の上側検査プローブ73に対応する同数の下側検査プローブ74とがプリント基板63を介して電気的に導通され、その導通状態の検査も行われる。
(10)次に、前記検査プローブ部材移動装置により最初の位置(図7に示す位置)まで、上側検査プローブ部材65を鉛直方向に上昇させると共に下側検査プローブ部材66を鉛直方向に下降させる。
以上で、プリント基板63の導通検査作業が終了する。
At this time, the upper inspection probe 73 and the lower inspection probe 74 are brought into contact with each electrical contact between the upper surface side and the lower surface side of the printed circuit board 63, so that the plurality of upper inspection probes 73 and the plurality of upper inspection probes are contacted. The same number of lower inspection probes 74 corresponding to the probes 73 are electrically connected to each other through the printed circuit board 63, and the inspection of the conductive state is also performed.
(10) Next, the inspection probe member moving device raises the upper inspection probe member 65 in the vertical direction and lowers the lower inspection probe member 66 in the vertical direction to the initial position (position shown in FIG. 7).
The continuity inspection work for the printed circuit board 63 is thus completed.

なお、以上説明した導通検査作業工程(1)ないし(10)は、本発明の要旨または思想に反しない範囲で、順序や内容を必要に応じて適宜変更することができる。例えば、前述した工程では、上側検査プローブ部材65を下降させて押圧子45によりプリント基板63を押圧して該プリント基板63を載置台64の上面に密接させる工程(前記(3)の工程)を実施したのち、撮影装置用移動機構によって画像撮影装置21のアーム部21aを移動させて画像撮影装置21のCCDカメラをプリント基板63の上方に位置させる工程(前記(4)の工程)を実施するようにしたが、これに代えて、前記(4)の工程を先に実施したのち、前記(3)の工程を実施するようにしてもよい。   The order and contents of the continuity inspection work steps (1) to (10) described above can be appropriately changed as necessary without departing from the gist or concept of the present invention. For example, in the process described above, the process of lowering the upper inspection probe member 65 and pressing the printed circuit board 63 with the pressing element 45 to bring the printed circuit board 63 into close contact with the upper surface of the mounting table 64 (the process (3)). After the execution, the step of moving the arm portion 21a of the image photographing device 21 by the photographing device moving mechanism to position the CCD camera of the image photographing device 21 above the printed circuit board 63 (the step (4)) is performed. However, instead of this, the step (3) may be performed after the step (4) is performed first.

また、前述した工程では、上側検査プローブ部材65を下降させてプリント基板63の上面側の電気的接点に上側検査プローブ73を当接させてプリント基板63の導通状態の検査を行う工程(前記(8)の工程)を実施したのち、下側検査プローブ部材66を上昇させてプリント基板63の下面側の電気的接点に下側検査プローブ74を当接させてプリント基板63の導通状態の検査を行う工程(前記(9)の工程)を実施するようにしたが、これに代えて、次のようにしてもよい。   In the above-described process, the upper inspection probe member 65 is lowered and the upper inspection probe 73 is brought into contact with the electrical contact on the upper surface side of the printed circuit board 63 to inspect the conduction state of the printed circuit board 63 ((( After performing step 8), the lower inspection probe member 66 is raised and the lower inspection probe 74 is brought into contact with the electrical contact on the lower surface side of the printed circuit board 63 to inspect the conductive state of the printed circuit board 63. Although the step to be performed (the step (9)) is performed, the following may be performed instead.

すなわち、下側検査プローブ部材66を上昇させてプリント基板63の下面側の電気的接点に下側検査プローブ74を当接させたのち、上側検査プローブ部材65を下降させてプリント基板63の上面側の電気的接点に上側検査プローブ73を当接させるか、または、上側検査プローブ部材65の下降と下側検査プローブ部材66の上昇とを同時に行って上側検査プローブ73と下側検査プローブ74とをプリント基板63の上面側および下面側の電気的接点にそれぞれ当接させ、プリント基板63の導通状態の検査を行うようにしてもよい。   That is, the lower inspection probe member 66 is raised to bring the lower inspection probe 74 into contact with the electrical contact on the lower surface side of the printed circuit board 63, and then the upper inspection probe member 65 is moved down to move the upper surface side of the printed circuit board 63. The upper inspection probe 73 and the lower inspection probe 74 are moved by bringing the upper inspection probe 73 into contact with the electrical contact of the upper inspection probe 73 or lowering the upper inspection probe member 65 and raising the lower inspection probe member 66 simultaneously. You may make it contact | abut to the electrical contact of the upper surface side of the printed circuit board 63, and a lower surface side, respectively, and you may make it test | inspect the continuity state of the printed circuit board 63. FIG.

なお、前記(5)の工程で求めたプリント基板63の基準マーク等の位置に基づいて、プリント基板63における他の電気的接点の導通状態の検査を行う場合は、前述した(6)(8)(9)(10)の工程と同様の工程を繰返して、プリント基板63における次の検査位置を載置台64の上面の所定の位置に移動させ、前記他の電気的接点の導通状態の検査を行う。   In the case where the conduction state of other electrical contacts on the printed circuit board 63 is inspected based on the position of the reference mark or the like of the printed circuit board 63 obtained in the step (5), the above-described (6) (8) (9) By repeating the same process as the process of (10), the next inspection position on the printed circuit board 63 is moved to a predetermined position on the upper surface of the mounting table 64, and the conduction state of the other electrical contacts is inspected. I do.

前述したように、本実施形態に係る基板検査装置61では、画像撮影装置21により認識しようとするプリント基板63の基準マーク等の近傍を押圧子45により直接押圧してプリント基板63を載置台64に密接させるようにしている。このため、画像撮影装置21により認識しようとするプリント基板63の基準マーク等が設けられた部位を載置台64の上面に確実に密接させることができる。この結果、導通検査作業時に上側検査プローブ部材65の上側検査プローブ73によってプリント基板63の上面が押圧された状態に近い状態で画像撮影装置21のCCDカメラによりプリント基板63の基準マーク等を撮影することができ、プリント基板63の載置台64に対する導通検査時と同等の正確な位置を認識することができる。   As described above, in the board inspection apparatus 61 according to the present embodiment, the vicinity of the reference mark or the like of the printed board 63 to be recognized by the image capturing apparatus 21 is directly pressed by the pressing element 45 to place the printed board 63 on the mounting table 64. To be in close contact with. For this reason, the part provided with the reference mark or the like of the printed circuit board 63 to be recognized by the image capturing device 21 can be reliably brought into close contact with the upper surface of the mounting table 64. As a result, the reference mark or the like of the printed circuit board 63 is photographed by the CCD camera of the image photographing device 21 in a state close to the state where the upper surface of the printed circuit board 63 is pressed by the upper inspection probe 73 of the upper inspection probe member 65 during the continuity inspection work. Therefore, it is possible to recognize an accurate position equivalent to that in the continuity inspection with respect to the mounting table 64 of the printed circuit board 63.

また、載置台64に対して近接または離間する方向に移動自在で、かつ、近接する方向に移動して載置台64の上面に載置されたプリント基板63の上面側の電気的接点の導通検査を行う上側検査プローブ部材65に押圧子45を設けたので、載置台64に対して上側検査プローブ部材65を近接または離間させることで載置台64の上面に載置されたプリント基板63に対して押圧子45を近接または離間することができる。このため、押圧子45を移動させるための専用の移動装置が不要となり、その分、部品点数を少なくでき、基板検査装置61を小型化することができる。   Further, the continuity test of the electrical contact on the upper surface side of the printed circuit board 63 which is movable in the direction approaching or separating from the mounting table 64 and is moved in the approaching direction and placed on the upper surface of the mounting table 64. Since the presser 45 is provided on the upper inspection probe member 65 that performs the above operation, the upper inspection probe member 65 is moved closer to or away from the mounting table 64, so that the printed circuit board 63 mounted on the upper surface of the mounting table 64 is attached. The pressing element 45 can be moved close to or away from the pressing element 45. For this reason, a dedicated moving device for moving the pressing element 45 becomes unnecessary, and accordingly, the number of parts can be reduced, and the board inspection device 61 can be downsized.

また、上側検査プローブ部材65は、検査プローブ部材移動装置により数値制御されて移動させられるので、その移動量は高い精度で制御される。このため、押圧子45によるプリント基板63への押圧力をプリント基板63の特性や反りおよび皺などの程度に応じて微調整して適度に押圧することができる上、押圧子45により微弱な押圧力をプリント基板63に付与して載置台64の上面に密接させた状態で、プリント基板63を把持した把持部23a,25aを移動させて、載置台64の上面の所定の位置にプリント基板63を位置合わせすることもできる。この結果、該位置合わせの精度を一層向上させることができる。   Further, since the upper inspection probe member 65 is moved under numerical control by the inspection probe member moving device, the amount of movement thereof is controlled with high accuracy. For this reason, the pressing force applied to the printed circuit board 63 by the pressing element 45 can be finely adjusted according to the characteristics of the printed circuit board 63, the degree of warpage, wrinkles, etc., and pressed appropriately. In a state where pressure is applied to the printed circuit board 63 and in close contact with the upper surface of the mounting table 64, the grip portions 23 a and 25 a that grip the printed circuit board 63 are moved to move the printed circuit board 63 to a predetermined position on the upper surface of the mounting table 64. Can also be aligned. As a result, the alignment accuracy can be further improved.

また、載置台64の上面に対して近接または離間する方向に進退自在に押圧子45を上側検査プローブ部材65に設けたので、上側検査プローブ部材65を下降してプリント基板63の電気的接点の導通検査を行う際に、載置台64に対して離間する方向に押圧子45を後退させることで押圧子45が邪魔になることが回避され、支障なくプリント基板63の電気的接点の導通検査を行うことができる。また、この実施形態による基板検査装置61では、圧縮ばね47による付勢力によってプリント基板63を押圧子45で押圧して載置台64の上面に密接させるようにしたので、プリント基板63を確実に載置台64の上面に密接させることや、載置台64に対して離間する方向に押圧子45を後退させることが単純で安価な構造により達成できる。   Further, since the presser 45 is provided on the upper inspection probe member 65 so as to be able to move forward and backward in the direction approaching or separating from the upper surface of the mounting table 64, the upper inspection probe member 65 is lowered and the electrical contact of the printed circuit board 63. When conducting the continuity test, the pusher 45 is retracted in a direction away from the mounting table 64 to prevent the pusher 45 from getting in the way, and the continuity test of the electrical contacts of the printed circuit board 63 can be performed without hindrance. It can be carried out. Further, in the board inspection apparatus 61 according to this embodiment, the printed circuit board 63 is pressed by the pressing element 45 by the urging force of the compression spring 47 so as to be brought into close contact with the upper surface of the mounting table 64, so that the printed circuit board 63 is securely mounted. It is possible to achieve close contact with the upper surface of the mounting table 64 and to retract the pressing element 45 in a direction away from the mounting table 64 with a simple and inexpensive structure.

また、この実施形態による基板検査装置61では、載置台64の上面に載置されたプリント基板63に近接する方向に上側検査プローブ部材65が移動する際に、上側検査プローブ部材65の複数の上側検査プローブ73がプリント基板63に当接する前に押圧子45によりプリント基板63を押圧するようにしている。このため、押圧子45によりプリント基板63を押圧して載置台64の上面に予め密接させたのち、複数の上側検査プローブ73によりプリント基板63の上面側の電気的接点の導通検査を行うことができるので、導通検査を適切に行うことができる。   Further, in the substrate inspection apparatus 61 according to this embodiment, when the upper inspection probe member 65 moves in the direction approaching the printed circuit board 63 placed on the upper surface of the mounting table 64, a plurality of upper sides of the upper inspection probe member 65 are moved. Before the inspection probe 73 comes into contact with the printed circuit board 63, the printed circuit board 63 is pressed by the pressing element 45. For this reason, after the printed circuit board 63 is pressed by the pressing element 45 and brought into close contact with the upper surface of the mounting table 64 in advance, the continuity inspection of the electrical contacts on the upper surface side of the printed circuit board 63 can be performed by the plurality of upper inspection probes 73. Therefore, the continuity test can be appropriately performed.

また、複数の上側検査プローブ73がプリント基板63に当接する前に、上側検査プローブ部材65に突設した押圧子45によりプリント基板63を押圧するようにしているので、押圧子45によりプリント基板63を押圧して載置台64の上面に密接させた状態で、複数の上側検査プローブ73の下端とプリント基板63との間に間隙を形成することができ、該間隙に画像撮影装置21のCCDカメラを位置付けてプリント基板63の基準マーク等を撮影することができる。   In addition, the printed circuit board 63 is pressed by the pressing element 45 protruding from the upper inspection probe member 65 before the plurality of upper inspection probes 73 contact the printed circuit board 63. A gap can be formed between the lower ends of the plurality of upper inspection probes 73 and the printed circuit board 63 in a state where it is pressed and brought into close contact with the upper surface of the mounting table 64, and the CCD camera of the image capturing device 21 is formed in the gap. The fiducial mark or the like on the printed circuit board 63 can be photographed.

また、この実施形態による基板検査装置61では、上側検査プローブ部材65に押圧子45を配設し、しかも、複数の上側検査プローブ73の近傍で、かつ、複数の上側検査プローブ73の間に押圧子45を配設している。このため、上側検査プローブ73が当接して導通検査が行なわれる部位の近傍を押圧子45により押圧してプリント基板63を載置台64の上面に密接させた状態で、複数の上側検査プローブ73をプリント基板63に当接させることができるので、プリント基板63の上面側の電気的接点の導通検査を精度良く行うことができる。   Further, in the substrate inspection apparatus 61 according to this embodiment, the pressing element 45 is disposed on the upper inspection probe member 65, and is pressed in the vicinity of the plurality of upper inspection probes 73 and between the plurality of upper inspection probes 73. A child 45 is provided. For this reason, a plurality of upper inspection probes 73 are arranged in a state where the vicinity of the portion where the upper inspection probe 73 comes into contact and the continuity inspection is performed is pressed by the pressing element 45 so that the printed circuit board 63 is brought into close contact with the upper surface of the mounting table 64. Since the printed circuit board 63 can be brought into contact with the printed circuit board 63, the electrical contact on the upper surface side of the printed circuit board 63 can be accurately inspected.

なお、前述した第1実施形態および第2実施形態は本発明を説明するための例であり、本発明は、前記の実施形態に限定されるものではない。本発明は、特許請求の範囲と明細書との全体から読み取れる発明の要旨または思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更後の穿孔装置や基板検査装置もまた、本発明の技術的範囲に含まれるものである。例えば、前述した各実施の形態においては、押圧子を四個設ける例を示したが、本発明は、このような構成に囚われることなく、押圧子を一個ないし三個または五個以上設けてもよい。   In addition, 1st Embodiment and 2nd Embodiment which were mentioned above are examples for demonstrating this invention, and this invention is not limited to the said embodiment. The present invention can be changed as appropriate without departing from the spirit or concept of the invention which can be read from the entirety of the claims and specification, and the perforation apparatus and the substrate inspection apparatus after such a change are also included in the present invention. It is included in the technical scope. For example, in each of the embodiments described above, an example in which four pressing elements are provided has been described. However, the present invention is not limited to such a configuration, and one to three or five or more pressing elements may be provided. Good.

四個以下の少ない個数しか押圧子を設けない場合は、プリント基板の仕様が同一のときは反りや皺などが発生しやすい部位も同じになる傾向があるので、その部位を予め調査しておいて、その部位に位置付けられるように押圧子を穿孔装置のパンチ側部材や基板検査装置の検査プローブ部材に配設する。一方、押圧子を多数設ける場合は、一定の間隔を隔てて格子状に多数の押圧子が整列するようにパンチ側部材や検査プローブ部材に押圧子を配設して、該押圧子の下端がプリント基板の広い領域に分散して均一に当接するようにする。   If only a small number of four or less pressing elements are provided, the parts that are likely to be warped or wrinkled tend to be the same when the printed circuit board specifications are the same. The presser is disposed on the punch-side member of the perforation apparatus or the inspection probe member of the substrate inspection apparatus so that it can be positioned at the site. On the other hand, when a large number of pressing elements are provided, the pressing elements are arranged on the punch side member or the inspection probe member so that the large number of pressing elements are arranged in a lattice pattern at a predetermined interval. Disperse over a wide area of the printed circuit board so as to make uniform contact.

また、前述した各実施形態においては、被処理物としてプリント基板の例を示したが、これに代えて、被処理物が可撓性の薄板状の樹脂シートや紙等からなるものでもよい。また、前述した各実施形態においては、被処理物処理装置として穿孔装置や基板検査装置の例を示したが、これに代えて、被処理物処理装置が被処理物の面上の所定の部位に文字や図柄を印刷する印刷装置からなるものでもよい。また、前述した第1実施形態による穿孔装置11では、パンチ35を囲むように90度の等角度間隔で四個の圧縮ばね41を配置し、これらの圧縮ばね41をさらに囲むように圧縮ばね47と押圧子45とを配設したが、これに代えて、各圧縮ばね41の間に押圧子45と圧縮ばね47とをそれぞれ配設してもよい。   In each of the above-described embodiments, an example of a printed circuit board is shown as an object to be processed. Instead, the object to be processed may be made of a flexible thin plate-like resin sheet or paper. In each of the above-described embodiments, examples of the perforation apparatus and the substrate inspection apparatus are shown as the processing object processing apparatus. Instead, the processing object processing apparatus is a predetermined part on the surface of the processing object. It may be composed of a printing device for printing characters and designs. In the punching device 11 according to the first embodiment described above, the four compression springs 41 are arranged at equal angular intervals of 90 degrees so as to surround the punch 35, and the compression springs 47 are further surrounded by these compression springs 41. However, instead of this, the presser 45 and the compression spring 47 may be provided between the compression springs 41, respectively.

そして、押圧子45および圧縮ばね47と圧縮ばね41とでパンチ35を囲むようにして、押圧子45および圧縮ばね47をパンチ35に対してさらに接近するように配置する。これによって、パンチ35で孔が穿設される部位のさらに近傍を押圧子45により押圧してプリント基板17をダイ55の上面に密接させることができ、その状態で、パンチ側部材13のパンチ35でプリント基板17に穿孔することができるので、孔を一層精度良く穿設することができる。   Then, the presser 45 and the compression spring 47 and the compression spring 41 surround the punch 35 so that the presser 45 and the compression spring 47 are closer to the punch 35. Accordingly, the printed board 17 can be brought into close contact with the upper surface of the die 55 by pressing the vicinity of the portion where the hole is formed by the punch 35 with the pressing element 45, and in this state, the punch 35 of the punch-side member 13. Since the printed circuit board 17 can be drilled, the holes can be drilled with higher accuracy.

また、前述した第2実施形態による基板検査装置61では、上側検査プローブ部材65に押圧子45を配設する際、複数の上側検査プローブ73の近傍で、かつ、複数の上側検査プローブ73の間に押圧子45を配設するようにしたが、これに代えて、複数の上側検査プローブ73の間ではなく、複数の上側検査プローブ73からなる検査プローブ群の側方近傍に押圧子45を配設するようにしてもよい。この場合でも、上側検査プローブ73が当接して導通検査が行なわれる部位の近傍を押圧子45により押圧してプリント基板63を載置台64の上面に密接させた状態で、複数の上側検査プローブ73をプリント基板63に当接させることができるので、プリント基板63の上面側の電気的接点の導通検査を精度良く行うことができる。   Moreover, in the board | substrate inspection apparatus 61 by 2nd Embodiment mentioned above, when arrange | positioning the presser 45 to the upper test | inspection probe member 65, it is in the vicinity of several upper test | inspection probes 73, and between several upper test | inspection probes 73. However, instead of this, the presser 45 is arranged not in the vicinity of the plurality of upper inspection probes 73 but in the vicinity of the side of the inspection probe group composed of the plurality of upper inspection probes 73. You may make it install. Even in this case, a plurality of upper inspection probes 73 are brought into contact with the upper surface of the mounting table 64 by pressing the vicinity of the portion where the upper inspection probe 73 comes into contact and the continuity inspection is performed by the pressing element 45. Can be brought into contact with the printed circuit board 63, so that the continuity test of the electrical contacts on the upper surface side of the printed circuit board 63 can be performed with high accuracy.

さらに、前述した第2実施形態による基板検査装置61では、検査プローブ部材移動装置により上側検査プローブ部材65が数値制御されて鉛直方向に移動するようにしたが、これに代えて、上側検査プローブ部材65は移動させずに、または上側検査プローブ部材65が移動すると共に載置台64が検査プローブ部材移動装置により数値制御されて鉛直方向に移動するようにしてもよい。要は、載置台64に対して上側検査プローブ部材65が近接または離間する方向に相対的に移動自在で、かつ、近接する方向に相対的に移動して載置台64上に載置されたプリント基板63の電気的な導通検査が行なわれればよい。この場合、画像撮影装置21の鉛直方向の高さ位置は載置台64や上側検査プローブ部材65の移動範囲を考慮して適宜設定する。   Further, in the substrate inspection apparatus 61 according to the second embodiment described above, the upper inspection probe member 65 is moved in the vertical direction by numerical control by the inspection probe member moving device. 65 may be moved without moving, or the upper inspection probe member 65 may be moved and the mounting table 64 may be numerically controlled by the inspection probe member moving device to move in the vertical direction. The point is that the upper inspection probe member 65 is relatively movable in the direction in which the upper inspection probe member 65 approaches or separates from the mounting table 64, and the print placed on the mounting table 64 by moving relatively in the approaching direction. An electrical continuity test of the substrate 63 may be performed. In this case, the height position in the vertical direction of the image capturing device 21 is appropriately set in consideration of the movement range of the mounting table 64 and the upper inspection probe member 65.

本発明の第1実施形態に係る穿孔装置を斜め前方から見た状態を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows the state which looked at the punching apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention from diagonally forward. プリント基板が載置された穿孔装置を正面から見た状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which looked at the punching apparatus with which the printed circuit board was mounted from the front. プリント基板を押圧子で押圧しているときの穿孔装置を正面から見た状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which looked at the punching device when pressing the printed circuit board with a presser from the front. プリント基板をストリッパで押圧しているときの穿孔装置を正面から見た状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which looked at the punching apparatus when pressing the printed circuit board with a stripper from the front. プリント基板をパンチで穿孔したときの穿孔装置を正面から見た状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which looked at the punching apparatus when punching a printed circuit board with the punch from the front. 図2における左側の一部を拡大して示す断面図である。It is sectional drawing which expands and shows a part of left side in FIG. 本発明の第2実施形態に係る基板検査装置を正面から見た状態の概略構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows schematic structure of the state which looked at the board | substrate inspection apparatus which concerns on 2nd Embodiment of this invention from the front. プリント基板を押圧子で押圧しているときの基板検査装置の要部を正面から見た状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which looked at the principal part of the board | substrate inspection apparatus when pressing the printed circuit board with a presser from the front. 上側検査プローブをプリント基板に当接させたときの基板検査装置の要部を正面から見た状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which looked at the principal part of the board | substrate inspection apparatus when an upper side inspection probe was made to contact | abut to a printed circuit board from the front. 下側検査プローブをプリント基板に当接させたときの基板検査装置の要部を正面から見た状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which looked at the principal part of the board | substrate inspection apparatus when a lower inspection probe was made to contact | abut to a printed circuit board from the front. 図7における左上側の一部を拡大して示す断面図である。It is sectional drawing which expands and shows a part of the upper left side in FIG.

符号の説明Explanation of symbols

11…穿孔装置(被処理物処理装置)、13…パンチ側部材(処理部)、15…ダイ側部材(載置台)、17…プリント基板(被処理物)、19…移動装置、21…画像撮影装置、35…パンチ、45…押圧子、47…圧縮ばね(付勢手段)、61…基板検査装置(被処理物処理装置)、63…プリント基板(被処理物)、64…載置台、65…上側検査プローブ側部材(処理部、検査プローブ側部材)、73…上側検査プローブ(検査プローブ)。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Perforation apparatus (processed object processing apparatus), 13 ... Punch side member (processing part), 15 ... Die side member (mounting table), 17 ... Printed circuit board (processed object), 19 ... Moving apparatus, 21 ... Image Imaging device, 35 ... punch, 45 ... pressor, 47 ... compression spring (biasing means), 61 ... substrate inspection device (processing object processing device), 63 ... printed circuit board (processing object), 64 ... mounting table, 65: Upper inspection probe side member (processing unit, inspection probe side member), 73: Upper inspection probe (inspection probe).

Claims (6)

可撓性の薄板状の被処理物を載置するための載置台と、
前記載置台に対して近接または離間する方向に相対的に移動自在で、かつ、近接する方向に相対的に移動して、前記載置台上に載置された被処理物に所定の処理を施す処理部と、
前記載置台上に載置された被処理物の所定の部位の前記載置台に対する位置を認識する画像撮影装置と、
前記画像撮影装置により認識された前記被処理物の所定の部位の前記載置台に対する位置に基づき、前記被処理物を前記載置台上の所定の位置に移動させる移動装置とを備えた被処理物処理装置であって、
前記画像撮影装置により前記被処理物の所定の部位の位置を認識する際に、前記被処理物における前記所定の部位を押圧して前記被処理物を前記載置台に密接させる押圧子を、前記載置台に対して進退自在にして前記処理部に設けた被処理物処理装置。
A mounting table for mounting a flexible thin plate-shaped workpiece;
It is relatively movable in the direction approaching or separating from the mounting table, and is moved relatively in the approaching direction, and performs a predetermined process on the workpiece placed on the mounting table. A processing unit;
An image capturing device for recognizing the position of the predetermined part of the workpiece placed on the mounting table with respect to the mounting table;
An object to be processed comprising: a moving device configured to move the object to be processed to a predetermined position on the mounting table based on a position of the predetermined part of the object to be processed recognized by the image capturing device with respect to the mounting table; A processing device comprising:
When recognizing the position of a predetermined part of the object to be processed by the image photographing device, a pressing element that presses the predetermined part of the object to be processed and causes the object to be in close contact with the mounting table is A workpiece processing apparatus provided in the processing section so as to be movable forward and backward with respect to the mounting table.
前記処理部は、前記載置台に対して近接または離間する方向に、数値制御されて相対的に移動するようにした請求項1に記載の被処理物処理装置。   The workpiece processing apparatus according to claim 1, wherein the processing unit is moved by being controlled numerically in a direction of approaching or separating from the mounting table. 前記押圧子を前記載置台に向かって進出するように付勢手段により付勢し、前記付勢手段による付勢力によって前記被処理物を前記押圧子で押圧して前記載置台に密接させるようにした請求項1または請求項2に記載の被処理物処理装置。   The pressing element is urged by the urging means so as to advance toward the mounting table, and the workpiece is pressed by the pressing element by the urging force of the urging means so as to be in close contact with the mounting table. The processed object processing apparatus according to claim 1 or claim 2. 前記載置台上に載置された被処理物に近接する方向に前記処理部が相対的に移動する際に、前記処理部が前記被処理物に当接する前に前記押圧子により前記被処理物を押圧するように前記処理部に対して前記押圧子を位置付けた請求項1ないし請求項3のうち何れか一つに記載の被処理物処理装置。   When the processing unit relatively moves in a direction approaching the workpiece to be placed on the mounting table, the workpiece is moved by the pressing element before the processing portion comes into contact with the workpiece. The processing object processing apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the pressing element is positioned with respect to the processing unit so as to press the button. 前記被処理物処理装置は前記載置台上に載置された被処理物に所定の孔を穿設する穿孔装置からなり、前記処理部は前記穿孔装置のパンチ側部材からなり、前記載置台は前記穿孔装置のダイ側部材からなる請求項1ないし請求項4のうち何れか一つに記載の被処理物処理装置。   The processing object processing apparatus includes a punching device that punches a predetermined hole in the processing object placed on the mounting table, the processing unit includes a punch side member of the punching device, and the mounting table includes The workpiece processing apparatus according to claim 1, comprising a die side member of the punching apparatus. 前記被処理物はプリント基板からなり、前記被処理物処理装置は前記載置台上に載置されたプリント基板の複数の電気的接点に複数の検査プローブを当接させて前記プリント基板の電気的な導通の状態を検査する基板検査装置からなり、前記処理部は前記複数の検査プローブを備えた検査プローブ側部材からなる請求項1ないし請求項4のうち何れか一つに記載の被処理物処理装置。   The object to be processed is a printed circuit board, and the object processing apparatus has a plurality of inspection probes brought into contact with a plurality of electrical contacts of the printed circuit board placed on the mounting table. 5. The object to be processed according to claim 1, comprising: a substrate inspection apparatus that inspects a state of electrical continuity, wherein the processing unit includes an inspection probe side member including the plurality of inspection probes. Processing equipment.
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