JP2009187850A - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
装置の大型化を招くことなく、質量分析装置の質量数の計測結果の経時変化を抑える。
【解決手段】
飛行時間型質量分析装置のイオン加速部に出力する高圧電源回路16の温度を計測する機構を設け、同じ時間に測定した質量スペクトルデータについて、温度データを参照して、質量スペクトルデータの補正をデータ処理部18で実施する。すなわち、例えば、装置の主要な部分全体を恒温化するのではなく、飛行時間に最も大きな影響を与える個所を調べて、その個所の温度を常時計測し、温度変化と飛行時間の変化との相関関係から、得られる質量スペクトルを補正する。
【選択図】図1
Description
11 イオン輸送部
12 イオン加速部
13 飛行部
14 イオン検出部
15 装置制御部
16 高圧電源回路
17 信号線
18 データ処理部
19 温度センサー
Claims (5)
- 質量分析部として、イオンを生成するイオン源と、イオンを加速する為の加速部および、加速されたイオンを計測することが可能なイオン検出部を備えた質量分析装置において、
筐体の少なくとも一部の温度を計測可能なセンサーを備えることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1において、
前記筐体の少なくとも一部は、前記イオンの飛行時間に影響を与える個所であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項2において、
前記筐体の少なくとも一部は、イオン加速の為の電源回路であることを特徴とする質量分析装置。 - 請求項3において、
前記電源回路部分の温度データから、測定の結果得られた質量スペクトルの質量数データを補正することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項4において、
前記イオン検出部は、前記加速されたイオンを高い時間精度で計測することが可能なイオン検出部であり、飛行時間型質量分析装置として機能することを特徴とする質量分析装置。
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