CN109073592B - 质谱分析装置及质谱分析方法 - Google Patents

质谱分析装置及质谱分析方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109073592B
CN109073592B CN201680084525.5A CN201680084525A CN109073592B CN 109073592 B CN109073592 B CN 109073592B CN 201680084525 A CN201680084525 A CN 201680084525A CN 109073592 B CN109073592 B CN 109073592B
Authority
CN
China
Prior art keywords
mass
standard
standard value
range
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201680084525.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109073592A (zh
Inventor
池田笃重
盐浜徹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Publication of CN109073592A publication Critical patent/CN109073592A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109073592B publication Critical patent/CN109073592B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/0009Calibration of the apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/0027Methods for using particle spectrometers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/0027Methods for using particle spectrometers
    • H01J49/0031Step by step routines describing the use of the apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/40Time-of-flight spectrometers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

当受理标准试样的设定且受理分析范围的设定时,标准值选定部(64)从与所设定的标准试样相对应的标准试样数据(51)中选定预先决定的余量中包含的标准值。数据获取部(63)在对所设定的分析范围加上余量所得到的数据获取范围获取质谱数据。数据校正部(65)基于选定的标准值及数据获取范围内的标准试样的实测值,来校正质谱数据。另一方面,在余量的范围中包含的标准值不存在的情况下,标准值选定部(64)选定在分析范围外的与余量的范围最靠近的标准值。数据获取部(63)在将余量扩大至包含该选定的标准值的范围所得到的数据获取范围获取质谱数据。数据校正部(65)基于选定的标准值及数据获取范围内的标准值的实测值,来校正质谱数据。

Description

质谱分析装置及质谱分析方法
技术领域
本发明涉及使用通过质谱分析得到的峰的质荷比的标准值已知的标准试样来进行包含该标准试样在内的测定对象试样的质谱分析的质谱分析装置及质谱分析方法。
背景技术
一直以来,利用了能够通过进行包含标准试样的测定对象试样的质谱分析来以高精度进行分析的质谱分析装置。
具体而言,在这种质谱分析装置中,使用通过质谱分析得到的峰的质荷比的标准值已知的试样作为标准试样。在质谱分析装置中,进行包含标准试样的测定对象试样的质谱分析,来制作质谱数据。另外,检测出质谱数据中包含的标准试样的峰的质荷比的实测值,通过实测值与标准值的比较来计算出因分析动作而产生的偏差(误差)作为校正值。然后,使用该校正值对质谱数据进行校正,来制作准确的质谱数据。用户通过基于这种校正后的质谱数据进行分析,能够进行高精度的分析(例如参照下述专利文献1)。
在使用这种质谱分析装置的情况下,用户预先设定成为分析范围的质荷比范围。然后,在质谱分析装置中,在该设定的质荷比范围制作(获取)质谱数据。
专利文献1:日本特开2015-121500号公报
发明内容
发明要解决的问题
如上所述的现有的质谱分析装置存在如下的问题:用户在设定成为分析范围的质荷比范围时,需要在考虑通过质谱分析得到的标准试样的峰的基础上进行设定。具体而言,在质谱分析装置中,如上所述,为了进行质谱数据的校正,而需要在质谱数据中包含标准试样的峰。因此,用户需要预先确认通过质谱分析得到的标准试样的峰的质荷比的值,以包含该值的方式设定分析范围。另外,通过质谱分析得到的标准试样的峰的质荷比的值与分析所需的质荷比范围相距很远的情况下,产生如下的问题:大量地制作分析所不需要的质谱数据,整体的分析时间也增大。
本发明是鉴于上述实际情况而完成的,目的在于提供能够使用于校正质谱数据的作业高效化的质谱分析装置及质谱分析方法。
用于解决问题的方案
(1)本发明所涉及的质谱分析装置使用通过质谱分析得到的峰的质荷比的标准值已知的标准试样,来进行包含该标准试样的测定对象试样的质谱分析。所述质谱分析装置具备分析范围设定受理部、存储部、标准值选定部、质谱分析部以及数据获取部。所述分析范围设定受理部受理成为质谱分析的分析范围的质荷比范围的设定。所述存储部预先存储针对标准试样进行了质谱分析时得到的多个峰的质荷比的标准值。所述标准值选定部从所述存储部读取多个峰的质荷比的标准值,从这些标准值中选定特定的峰的质荷比的标准值。所述质谱分析部进行包含标准试样的测定对象试样的质谱分析。所述数据获取部在对被所述分析范围设定受理部受理了设定的质荷比范围的两端分别加上余量所得到的数据获取范围,获取通过测定对象试样的质谱分析得到的质谱数据。所述标准值选定部从存储于所述存储部的多个峰的质荷比的标准值中选定所述余量的范围中包含的峰的质荷比的标准值,另一方面,在该余量的范围中包含的峰的质荷比的标准值不存在的情况下,选定所述分析范围外的与该余量的范围最靠近的峰的质荷比的标准值。所述数据获取部在所述余量的范围中包含的峰的质荷比的标准值不存在的情况下,在将所述余量扩大至包含由所述标准值选定部选定的标准值的范围所得到的数据获取范围,获取通过测定对象试样的质谱分析得到的质谱数据。
根据这种构成,当由用户进行成为分析范围的质荷比范围的设定时,标准值选定部从存储部读取多个峰的质荷比的标准值,从标准值中选定特定的峰的质荷比的标准值。具体而言,标准值选定部从存储于存储部的多个峰的质荷比的标准值中选定余量的范围中包含的峰的质荷比的标准值。数据获取部在对所设定的质荷比范围加上余量所得到的数据获取范围获取质谱数据。
另一方面,在余量的范围中包含的峰的质荷比的标准值不存在的情况下,标准值选定部选定分析范围外的与余量的范围最靠近的峰的质荷比的标准值。数据获取部在将余量扩大至包含该选定的标准值的范围所得到的数据获取范围获取质谱数据。
因此,用户不考虑通过质谱分析得到的标准试样的峰而单纯地进行将分析所需的质荷比范围设定为分析范围的作业即可,能够简化用户的作业。
另外,能够在校正质谱数据所需的最小限度的范围获取质谱数据。
因此,能够抑制大量地获取分析所不需要的质谱数据,来抑制总体的数据量和分析时间增大。
即,根据本发明所涉及的质谱分析装置,能够使用于校正质谱数据的作业高效化。
(2)另外,所述质谱分析装置可以还具备数据校正部。所述数据校正部基于由所述标准值选定部选定的所述特定的峰的质荷比的标准值以及所述数据获取范围内的与所述特定的峰相对应的质荷比的实测值,来对由所述数据获取部获取到的所述数据获取范围内的质谱数据进行校正。
根据这种构成,能够通过数据校正部来高精度地校正质谱数据。
(3)另外,所述质谱分析装置可以还具备标准试样设定受理部。所述标准试样设定受理部受理标准试样的种类的设定。所述质谱分析部可以进行包含被所述标准试样设定受理部受理了设定的标准试样的测定对象试样的质谱分析。所述存储部可以预先将针对多种标准试样中的各标准试样进行了质谱分析时得到的多个峰的质荷比的标准值与各标准试样相关联地进行存储。所述标准值选定部从所述存储部读取与被所述标准试样设定受理部受理了设定的标准试样相对应的多个峰的质荷比的标准值,从这些标准值中选定特定的峰的质荷比的标准值。
根据这种构成,当由用户设定从多种标准试样中选择出的一个标准试样时,标准试样设定受理部受理该设定。标准值选定部从存储部读取与设定的标准试样相对应的多个峰的质荷比的标准值,从标准值中选定特定的峰的质荷比的标准值。
因此,用户不考虑通过质谱分析得到的标准试样的峰而单纯地进行选择设定标准试样的种类的作业即可,能够简化用户的作业。
(4)另外,标准值选定部可以选定两个以上的峰的质荷比的标准值。
根据这种构成,能够基于两个以上的峰的质荷比的标准值来校正质谱数据,因此能够提高质谱数据的校正精度。
(5)另外,所述标准值选定部可以在隔着所述分析范围的两侧分别选定至少一个峰的质荷比的标准值。
根据这种构成,能够进一步提高质谱数据的校正精度。
(6)本发明所涉及的质谱分析方法使用通过质谱分析得到的峰的质荷比的标准值已知的标准试样,来进行包含该标准试样的测定对象试样的质谱分析。所述质谱分析方法包括分析范围设定步骤、标准值选定步骤、质谱分析步骤以及数据获取步骤。在所述分析范围设定步骤中,设定成为质谱分析的分析范围的质荷比范围。在所述标准值选定步骤中,从预先存储针对标准试样进行了质谱分析时得到的多个峰的质荷比的标准值的存储部,读取所述多个峰的质荷比的标准值,从这些标准值中选定特定的峰的质荷比的标准值。在所述质谱分析步骤中,进行包含标准试样的测定对象试样的质谱分析。在所述数据获取步骤中,在对在所述分析范围设定步骤中设定的质荷比范围的两端分别加上余量所得到的数据获取范围,获取通过测定对象试样的质谱分析得到的质谱数据。在所述标准值选定步骤中,从存储于所述存储部的多个峰的质荷比的标准值中选定所述余量的范围中包含的峰的质荷比的标准值,另一方面,在该余量的范围中包含的峰的质荷比的标准值不存在的情况下,选定所述分析范围外的与该余量的范围最靠近的峰的质荷比的标准值。在所述数据获取步骤中,在所述余量的范围中包含的峰的质荷比的标准值不存在的情况下,在将所述余量扩大至包含所述标准值选定步骤中选定的标准值的范围所得到的数据获取范围,获取通过测定对象试样的质谱分析得到的质谱数据。
(7)另外,所述质谱分析方法可以还包括数据校正步骤。在所述数据校正步骤中,基于在所述标准值选定步骤中选定的所述特定的峰的质荷比的标准值以及所述数据获取范围内的与所述特定的峰相对应的质荷比的实测值,来对在所述数据获取步骤中获取到的所述数据获取范围内的质谱数据进行校正。
(8)另外,所述质谱分析方法可以还包括标准试样设定步骤。在所述标准试样设定步骤中,设定标准试样的种类。在所述质谱分析步骤中,可以进行包含所述标准试样设定步骤中设定的标准试样的测定对象试样的质谱分析。在所述标准值选定步骤中,可以从预先将针对多种标准试样中的各标准试样进行了质谱分析时得到的多个峰的质荷比的标准值与各标准试样相关联地存储的存储部,读取与在所述标准试样设定步骤中设定的标准试样相对应的多个峰的质荷比的标准值,从这些标准值中选定特定的峰的质荷比的标准值。
(9)另外,在所述标准值选定步骤中,可以选定两个以上的峰的质荷比的标准值。
(10)另外,在所述标准值选定步骤中,可以在隔着所述分析范围的两侧分别选定至少一个峰的质荷比的标准值。
发明的效果
根据本发明,用户不考虑通过质谱分析得到的标准试样的峰而单纯地进行将分析所需的质荷比范围设定为分析范围来设定标准试样的作业即可,能够简化用户的作业。另外,能够在校正质谱数据所需的最小限度的范围获取质谱数据。因此,能够使用于校正质谱数据的作业高效化。
附图说明
图1为示出本发明的一个实施方式所涉及的质谱分析装置的具体构成的的框图。
图2为示出控制部所进行的处理的一例的流程图。
图3为概要性地示出由控制部处理的数据的图,示出了在存储部中存储的标准值数据的值处于余量的范围内的情况下的直至制作出校正后的质谱数据为止的一系列数据。
图4为概要性地示出由控制部处理的数据的图,示出了在存储部中存储的标准值数据的值不处于余量的范围内的情况下的直至制作出校正后的质谱数据为止的一系列数据。
具体实施方式
1.质谱分析装置的构成
图1为示出本发明的一个实施方式所涉及的质谱分析装置1的具体构成的框图。
质谱分析装置1为进行包含标准试样(内标)的测定对象试样的质谱分析的装置,具备质谱分析部2、操作部3、显示部4、存储部5以及控制部6。
质谱分析部2例如具备离子化室及TOFMS(飞行时间型质谱分析仪)等(未图示)。测定对象试样被供给到离子化室中,使用MALDI(基质辅助激光解吸离子化法)等离子化法来使测定对象试样离子化。其中,作为试样成分的离子化法,不限于MALDI,能够使用其它各种方法。
在TOFMS中,利用离子检测器(未图示)检测飞过飞行空间的离子。具体而言,利用在飞行空间中形成的电场而被加速的离子在该飞行空间中飞行的期间根据质荷比而在时间上分离,依次被离子检测器检测。由此,测定质荷比(m/z值)与离子检测器中的检测强度之间的关系作为谱,实现质谱分析。
操作部3例如由键盘和鼠标等构成。用户通过对操作部3进行操作,能够将分析条件(设定内容)等各种信息输入至控制部6。
显示部4例如由液晶显示器等构成。在控制部6的控制下,显示部4中显示分析结果等各种信息。
存储部5例如由ROM(Read Only Memory:只读存储器)、RAM(Random AccessMemory:随机存取存储器)及硬盘等构成。存储部5存储有多个标准试样数据51。
各标准试样数据51为与能够在质谱分析中使用的标准试样相关的数据,为每一种标准试样的数据。各标准试样数据中,索引数据52与多个标准值数据53互相关联。
索引数据52为用于指定标准试样的种类的数据。索引数据52用作从多个标准试样数据51中选定一个标准试样数据51时的索引。
各标准值数据53为在对标准试样进行了质谱分析时得到的峰的质荷比的标准值的信息。具体而言,当对各标准试样进行质谱分析时,按每个标准试样得到多个峰。标准值数据53为每个标准试样的峰的质荷比的标准值的信息。标准试样数据51中包含的标准值数据53的数量根据标准试样的种类而不同,而在本例中,至少为两个以上。
控制部6例如为包括CPU(Central Processing Unit:中央处理器)的构成。控制部6能够在与质谱分析部2、操作部3及显示部4之间进行电信号的输入或输出。控制部6根据需要读取存储于存储部5的信息。通过CPU执行程序,控制部6作为标准试样设定受理部61、分析范围设定受理部62、数据获取部63、标准值选定部64、数据校正部65及显示控制部66等发挥功能。
标准试样设定受理部61受理被输入至操作部3的标准试样的种类的设定。此外,该标准试样的种类对应于存储部5中存储的标准试样数据51的种类。
分析范围设定受理部62受理被输入至操作部3的分析范围的设定。具体而言,分析范围设定受理部62受理质荷比范围的设定作为进行分析的范围。
数据获取部63基于质谱分析部2中的质谱分析的结果以及被分析范围设定受理部62受理了设定的质荷比范围,来获取(制作)质谱数据。具体而言,数据获取部63对被分析范围设定受理部62受理了设定的质荷比范围加上余量,在加上余量后的范围获取通过质谱分析部2中的质谱分析得到的质谱数据。余量是指考虑了因分析动作而产生的获取数据的误差(偏差)的区域,是用于扩大分析范围(质荷比范围)以获取包含误差的数据的区域。另外,余量也是用于扩大分析范围(质荷比范围)以准确地获取被分析范围设定受理部62受理了设定的质荷比范围的边界附近的数据的区域。详细在后文说明,该余量是基于标准值选定部64的选定内容来确定的。
标准值选定部64从存储于存储部5的标准试样数据51中读取多个标准值数据53,从它们之中选定特定的标准值数据53。具体而言,标准值选定部64从存储部5与被标准试样设定受理部61受理了设定的标准试样相关联地选定规定的标准值数据53的值(标准值)。
数据校正部65对由数据获取部63获取到的质谱数据进行校正。具体而言,数据校正部65基于由标准值选定部64选定的标准值(标准值数据53)及质谱数据中包含的标准试样的峰的实测值,来校正质谱数据。
显示控制部66基于由数据校正部65校正后的质谱数据,来进行在显示部4显示质谱的处理。
2.控制部所进行的控制动作
图2为示出控制部6所进行的处理的一例的流程图。图3为概要性地示出由控制部6处理的数据的图,示出了存储部5中存储的标准值数据53的值处于余量的范围内的情况下的直至制作出校正后的质谱数据为止的一系列数据。此外,图3的(a)~(d)各图中,横向表示质荷比的值,纵向(曲线的纵向的长度)表示信号强度的值。
以下,使用流程图及数据概要图来说明控制部6所进行的控制动作。
在使用质谱分析装置1时,用户首先准备作为测定对象的样品及标准试样。标准试样为通过质谱分析得到的峰的质荷比的标准值已知的试样。而且,存储部5中预先存储有与这些能够使用的标准试样相关的数据作为标准试样数据51。
用户将包含样品和标准试样的测定对象试样放置于质谱分析部2,并且对操作部3进行操作,进行标准试样的种类的设定及分析范围的设定(步骤S101中为“是”)。具体而言,用户对操作部3进行操作,进行用于指定放置于质谱分析部2的标准试样的设定(标准试样设定步骤),并且进行要实施分析的质荷比范围的设定(分析范围设定步骤)。
然后,标准试样设定受理部61受理标准试样的设定。另外,分析范围设定受理部62受理成为分析范围的质荷比范围的设定。
图3的(a)中示出了在分析范围X1的两端加上余量MA及MB所得到的范围。分析范围X1为已由分析范围设定受理部62受理的质荷比范围。例如,在通过用户的操作部3的操作来设定了质荷比的下限值A及上限值B作为分析范围的情况下,自下限值A至上限值B为止的区间成为分析范围X1。另外,在质谱分析装置1中,余量MA及MB的宽度已被预先决定。然后,在质谱分析装置1中,以在分析范围X1的两端加上余量MA及MB所得到的范围(在分析范围X1的前侧加上MA且在后侧加上MB所得到的范围)为基准,如以下那样进行数据的处理。
此外,以下,将自分析范围X1的下限值A至进一步向前侧移动余量MA的点(值)为止的区域设为第一余量区域M1,将自分析范围X1的上限值B至进一步向后侧移动余量MB的点(值)为止的区域设为第二余量区域M2
标准值选定部64从存储部5与被标准试样设定受理部61受理了设定的标准试样相关联地读取包含表示该标准试样的索引数据52的标准试样数据51。然后,在该标准试样数据51中包含的标准值数据53之中存在表示包含在余量的范围中的标准值的标准值数据53的情况下,标准值选定部64选定该标准值(标准值选定步骤)。
在图3的(b)中,在图3的(a)所示的数据(范围)上重叠地显示标准值P1~P3所示的标准值数据53。标准值P1~P3分别对应于标准值选定部64从存储部5读取的标准试样数据51中包含的各标准值数据53的值。
具体而言,在由标准值选定部64读取出的标准试样数据51中包含的各标准值数据53的值(标准值P1~P3)之中,标准值P1被包含在第一余量区域M1中,标准值P2被包含在第二余量区域M2中,标准值P3位于比第二余量区域M2更靠后侧的区域。
在本例中,标准值选定部64由于第一余量区域M1及第二余量区域M2中包含标准值P1及标准值P2(步骤S102中为“是”),因此选定该标准值P1及标准值P2(步骤S103)。
如此,标准值选定部64从标准试样数据51中包含的标准值数据53中选定至少两个以上的标准值。具体而言,标准值选定部64以在隔着分析范围X1的两侧(前侧和后侧)分别存在至少一个标准值的方式选定标准值。
然后,用户在操作部3进行用于开始质谱分析部2的质谱分析的操作(步骤S104中为“是”)。质谱分析部2根据该操作而开始质谱分析(步骤S105:质谱分析步骤)。具体而言,质谱分析部2将包含样品和标准试样的测定对象试样离子化,使所得到的离子在飞行空间飞行,用离子检测器检测。然后,质谱分析部2测定质荷比与离子检测器中的检测强度之间的关系作为谱。
当质谱分析部2中的质谱分析结束时(步骤S106中为“是”),数据获取部63在对分析范围加上余量所得到的范围获取质谱数据。在本例中,在第一余量区域M1及第二余量区域M2包含标准值P1及标准值P2。因此,如图3的(c)所示,数据获取部63将在分析范围X1的两端分别加上余量MA及MB所得到的范围设为数据获取范围X2,在该数据获取范围X2获取通过由质谱分析部2进行的质谱分析而得到的质谱数据(步骤S107:数据获取步骤)。
该质谱数据中包含作为样品的数据的样品数据S以及作为标准试样的实测值的数据的实测数据T。实测数据T的质荷比的值为实测值Q1及实测值Q2。实测数据T的实测值Q1对应于标准值数据53的标准值P1,实测数据T的实测值Q2对应于标准值数据53的标准值P2
对于该样品数据S及实测数据T而言,包含因分析动作而产生的偏差(误差)。于是,数据校正部65基于标准试样的标准值及实测值,来校正样品数据S。具体而言,在实测数据T的实测值Q1与标准值数据53的标准值P1之间,产生了d1的偏差。另外,在实测数据T的实测值Q2与标准值数据53的标准值P2之间产生了d2的偏差。因此,数据校正部65基于此求出用于校正数据的校正值(校正式)。然后,数据校正部65通过将该校正值应用于样品数据S,由此如图3的(d)所示那样制作作为校正后的质谱数据的样品数据U(步骤S108:数据校正步骤)。
此外,作为校正样品数据S的方法,可列举出:在以标准值为横轴且以实测值为纵轴的区域,制作基于标准试样的标准值及实测值的直线,基于制作出的直线及样品数据S的值(基于在制作出的直线上与样品数据S相对应的标准值的值)制作样品数据U的方法;其它的质量校正的方法。
然后,显示控制部66将校正后的质谱数据(样品数据U)显示在显示部4。
另一方面,在步骤S102中为“否”的情况下,即,在余量的范围中不包含标准值的情况下,如图4所示那样制作质谱数据。图4为概要性地示出由控制部6处理的数据的图,示出了存储部5中存储的标准值数据53的值不在余量的范围内的情况下的直至制作出校正后的质谱数据为止的一系列数据。图4与图3的不同之处在于,在图4的(b)中,标准值P2及P3的标准值数据53位于第二余量区域M2的外侧,在图4的(c)中,实测数据T位于第二余量区域M2的外侧。
具体而言,标准值选定部64在步骤S102中,在从存储部5读取出的标准试样数据51中包含的标准值数据53不包含在余量的范围内的情况下,选定位于分析范围X1的外侧且最靠近余量的标准值(步骤S109)。在本例中,如图4的(b)所示,在第二余量区域M2中不包含标准值数据53。另外,在本例中,标准值为P2的标准值数据53是位于分析范围X1的外侧且最靠近第二余量区域M2的标准值数据53。
此外,在第一余量区域M1中包含标准值为P1的标准值数据53。因此,关于分析范围X1的前侧,标准值选定部64与上述同样地选定标准值为P1的标准值数据53。
然后,数据获取部63在分析范围X1的两端以包含选定的标准值的方式扩大余量。
在本例中,如图4的(c)所示,在第二余量区域M2中不包含标准值数据53。因此,数据获取部63在分析范围X1的后侧以包含标准值为P2的标准值数据53的方式得到(制作)第三余量区域M3。另一方面,在第一余量区域M1中包含标准值为P1的标准值数据53。因此,与上述同样地,数据获取部63将在分析范围X1的前侧加上的余量设为第一余量区域M1
然后,与上述同样地基于用户对操作部3的操作,开始质谱分析部2的质谱分析。然后,数据获取部63将在分析范围X1的两侧加上各余量区域(第一余量区域M1及第三余量区域M3)所得到的范围设为数据获取范围X3,在该数据获取范围X3获取通过质谱分析部2的质谱分析得到的质谱数据。另外,与上述同样地由数据校正部65制作作为校正后的质谱数据的样品数据U,由显示控制部66将校正后的质谱数据(样品数据U)显示在显示部4。
3.作用效果
(1)在本实施方式中,当由用户进行成为分析范围的质荷比范围的设定时(设定步骤),标准值选定部64从存储部5读取标准试样数据51。然后,标准值选定部64在该标准试样数据51中包含的标准值数据53之中存在表示余量的范围中包含的标准值的标准值数据53的情况下(步骤S102中为“是”),选定该标准值(标准值P1及P2)。另外,如图3的(c)所示,数据获取部63在对设定的质荷比范围(分析范围X1)的两端加上余量MA及MB所得到的数据获取范围X2获取质谱数据。然后,如图3的(d)所示,数据校正部65基于选定的标准值(标准值P1及P2)以及数据获取范围X2内的实测数据T的实测值(实测值Q1及Q2)来校正所获取到的质谱数据。
另一方面,在步骤S102中为“否”的情况下,即,在余量的范围中不包含标准值的情况下,标准值选定部64选定位于分析范围X1的外侧且最靠近余量的标准值(步骤S109)。然后,如图4的(c)所示,数据获取部63在加上以包含选定的标准值的方式扩大的余量所得到的数据获取范围X3获取质谱数据(步骤S110)。
因此,用户不考虑通过质谱分析得到的标准试样的峰的值而在设定步骤中单纯地进行将分析所需的质荷比范围设定为分析范围的作业即可,能够简化用户的作业。
另外,能够在校正质谱数据所需的最小限度的数据获取范围获取质谱数据。
因此,能够抑制大量地获取分析所不需要的质谱数据,抑制总体的数据量和分析时间增大。
即,根据本实施方式,能够使用于校正质谱数据的作业高效化。
(2)另外,在本实施方式中,数据校正部65基于由标准值选定部64选定的标准值数据53的标准值以及分析范围内的实测数据T的实测值,来校正样品数据S。具体而言,数据校正部65基于实测数据T的实测值Q1与标准值数据53的标准值P1之间产生了d1的偏差、以及实测数据T的实测值Q2与标准值数据53的标准值P2之间产生了d2的偏差,求出用于校正数据的校正值(校正式)。然后,数据校正部65通过将该校正值应用于样品数据S,来制作作为校正后的质谱数据的样品数据U(数据校正步骤)。
因此,能够通过数据校正部65来高精度地校正样品数据S。
(3)另外,在本实施方式中,当由用户设定从多种标准试样选择出的一个标准试样时,标准试样设定受理部61受理该设定。标准值选定部64从存储部5与被标准试样设定受理部61受理了设定的标准试样相关联地读取包含表示该标准试样的索引数据52的标准试样数据51。然后,标准值选定部64从该标准试样数据51中包含的标准值数据53中选定特定的标准值数据53(标准值选定步骤)。
因此,用户不考虑通过质谱分析得到的标准试样的峰而单纯地进行选择设定标准试样的种类的作业即可,能够简化用户的作业。
(4)另外,在本实施方式中,如图3及图4所示,标准值选定部64在存储部5的标准试样数据51中包含的标准值数据53之中选定至少两个以上的标准值。
因此,能够通过数据校正部65基于两个以上的标准值来校正质谱数据。
其结果,能够提高质谱数据的校正精度。
(5)另外,在本实施方式中,如图3及图4所示,标准值选定部64以在隔着分析范围X1的两侧(前侧及后侧)分别存在至少一个标准值的方式选定标准值。
因此,能够进一步提高质谱数据的校正精度。
4.变形例
在以上的实施方式中,说明了标准值选定部64在存储部5的标准试样数据51中包含的标准值数据53之中选定两个以上的标准值的情况。但是,标准值选定部64也可以在存储部5的标准试样数据51中包含的标准值数据53之中选定一个标准值。另外,在该情况下,标准值选定部64也可以以在分析范围的前侧和后侧中的某一侧存在一个标准值的方式选定标准值。
附图标记说明
1:质谱分析装置;2:质谱分析部;5:存储部;61:标准试样设定受理部;62:分析范围设定受理部;63:数据获取部;64:标准值选定部;65:数据校正部。

Claims (10)

1.一种质谱分析装置,使用通过质谱分析得到的峰的质荷比的标准值已知的标准试样,来进行包含该标准试样的测定对象试样的质谱分析,所述质谱分析装置的特征在于,具备:
分析范围设定受理部,其受理成为质谱分析的分析范围的质荷比范围的设定;
存储部,其预先存储针对标准试样进行了质谱分析时得到的多个峰的质荷比的标准值;
标准值选定部,其从所述存储部读取多个峰的质荷比的标准值,从这些标准值中选定特定的峰的质荷比的标准值;
质谱分析部,其进行包含标准试样的测定对象试样的质谱分析;以及
数据获取部,其在对被所述分析范围设定受理部受理了设定的质荷比范围的两端分别加上余量所得到的数据获取范围,获取通过测定对象试样的质谱分析得到的质谱数据,
其中,所述标准值选定部从存储于所述存储部的多个峰的质荷比的标准值中选定所述余量的范围中包含的峰的质荷比的标准值,另一方面,在该余量的范围中包含的峰的质荷比的标准值不存在的情况下,所述标准值选定部选定所述分析范围外的与该余量的范围最靠近的峰的质荷比的标准值,
在所述余量的范围中包含的峰的质荷比的标准值不存在的情况下,所述数据获取部在将所述余量扩大至包含由所述标准值选定部选定的标准值的范围所得到的数据获取范围,获取通过测定对象试样的质谱分析得到的质谱数据。
2.根据权利要求1所述的质谱分析装置,其特征在于,
还具备数据校正部,该数据校正部基于由所述标准值选定部选定的所述特定的峰的质荷比的标准值以及所述数据获取范围内的与所述特定的峰相对应的质荷比的实测值,来对由所述数据获取部获取到的所述数据获取范围内的质谱数据进行校正。
3.根据权利要求2所述的质谱分析装置,其特征在于,
还具备标准试样设定受理部,该标准试样设定受理部受理标准试样的种类的设定,
所述质谱分析部进行包含被所述标准试样设定受理部受理了设定的标准试样的测定对象试样的质谱分析,
所述存储部预先将针对多种标准试样中的各标准试样进行了质谱分析时得到的多个峰的质荷比的标准值与各标准试样相关联地进行存储,
所述标准值选定部从所述存储部读取与被所述标准试样设定受理部受理了设定的标准试样相对应的多个峰的质荷比的标准值,从这些标准值中选定特定的峰的质荷比的标准值。
4.根据权利要求3所述的质谱分析装置,其特征在于,
所述标准值选定部选定两个以上的峰的质荷比的标准值。
5.根据权利要求4所述的质谱分析装置,其特征在于,
所述标准值选定部在隔着所述分析范围的两侧分别选定至少一个峰的质荷比的标准值。
6.一种质谱分析方法,使用通过质谱分析得到的峰的质荷比的标准值已知的标准试样,来进行包含该标准试样的测定对象试样的质谱分析,所述质谱分析方法的特征在于,包括:
分析范围设定步骤,设定成为质谱分析的分析范围的质荷比范围;
标准值选定步骤,从预先存储针对标准试样进行了质谱分析时得到的多个峰的质荷比的标准值的存储部读取所述多个峰的质荷比的标准值,从这些标准值中选定特定的峰的质荷比的标准值;
质谱分析步骤,进行包含标准试样的测定对象试样的质谱分析;以及,
数据获取步骤,在对所述分析范围设定步骤中设定的质荷比范围的两端分别加上余量所得到的数据获取范围,获取通过测定对象试样的质谱分析得到的质谱数据,
其中,在所述标准值选定步骤中,从存储于所述存储部的多个峰的质荷比的标准值中选定所述余量的范围中包含的峰的质荷比的标准值,另一方面,在该余量的范围中包含的峰的质荷比的标准值不存在的情况下,选定所述分析范围外的与该余量的范围最靠近的峰的质荷比的标准值,
在所述数据获取步骤中,在所述余量的范围中包含的峰的质荷比的标准值不存在的情况下,在将所述余量扩大至包含所述标准值选定步骤中选定的标准值的范围所得到的数据获取范围,获取通过测定对象试样的质谱分析得到的质谱数据。
7.根据权利要求6所述的质谱分析方法,其特征在于,
还包括数据校正步骤,在该数据校正步骤中,基于在所述标准值选定步骤中选定的所述特定的峰的质荷比的标准值以及所述数据获取范围内的与所述特定的峰相对应的质荷比的实测值,来对在所述数据获取步骤中获取到的所述数据获取范围内的质谱数据进行校正。
8.根据权利要求7所述的质谱分析方法,其特征在于,
还包括标准试样设定步骤,在该标准试样设定步骤中,设定标准试样的种类,
在所述质谱分析步骤中,进行包含所述标准试样设定步骤中设定的标准试样的测定对象试样的质谱分析,
在所述标准值选定步骤中,从预先将针对多种标准试样中的各标准试样进行了质谱分析时得到的多个峰的质荷比的标准值与各标准试样相关联地进行存储的存储部,读取与在所述标准试样设定步骤中设定的标准试样相对应的多个峰的质荷比的标准值,从这些标准值中选定特定的峰的质荷比的标准值。
9.根据权利要求8所述的质谱分析方法,其特征在于,
在所述标准值选定步骤中,选定两个以上的峰的质荷比的标准值。
10.根据权利要求9所述的质谱分析方法,其特征在于,
在所述标准值选定步骤中,在隔着所述分析范围的两侧分别选定至少一个峰的质荷比的标准值。
CN201680084525.5A 2016-04-11 2016-04-11 质谱分析装置及质谱分析方法 Active CN109073592B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2016/061688 WO2017179096A1 (ja) 2016-04-11 2016-04-11 質量分析装置及び質量分析方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109073592A CN109073592A (zh) 2018-12-21
CN109073592B true CN109073592B (zh) 2020-11-10

Family

ID=60042391

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201680084525.5A Active CN109073592B (zh) 2016-04-11 2016-04-11 质谱分析装置及质谱分析方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10444185B2 (zh)
EP (1) EP3444604A1 (zh)
JP (1) JP6583544B2 (zh)
CN (1) CN109073592B (zh)
WO (1) WO2017179096A1 (zh)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10132786A (ja) * 1996-10-30 1998-05-22 Shimadzu Corp 質量分析装置
JP2000057992A (ja) * 1998-08-03 2000-02-25 Shimadzu Corp 質量分析装置
WO2009144765A1 (ja) * 2008-05-26 2009-12-03 株式会社島津製作所 四重極型質量分析装置
CN101601119A (zh) * 2006-12-11 2009-12-09 株式会社岛津制作所 飞行时间质谱仪和在飞行时间质谱仪中分析离子的方法
CN101918826A (zh) * 2007-12-20 2010-12-15 株式会社岛津制作所 质量分析系统
CN102077092A (zh) * 2008-05-23 2011-05-25 电泳有限公司 质谱分析
CN102403184A (zh) * 2010-09-16 2012-04-04 株式会社岛津制作所 飞行时间质谱仪

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62124456A (ja) * 1985-11-26 1987-06-05 Jeol Ltd 質量分析デ−タのオ−トキヤリブレ−シヨン・システム
US9673030B2 (en) * 2010-05-17 2017-06-06 Emory University Computer readable storage mediums, methods and systems for normalizing chemical profiles in biological or medical samples detected by mass spectrometry
US9514360B2 (en) * 2012-01-31 2016-12-06 Thermo Scientific Portable Analytical Instruments Inc. Management of reference spectral information and searching
EP2741312A1 (en) * 2012-12-05 2014-06-11 Tofwerk AG Method of calibrating mass-to-charge ratio measurements obtained from a mass spectrometer connected in fluid communication with an analysis system delivering a temporally changing sample
JP6160471B2 (ja) * 2013-12-19 2017-07-12 株式会社島津製作所 飛行時間型質量分析装置及び該装置を用いた質量分析方法
JP2015121500A (ja) 2013-12-25 2015-07-02 株式会社島津製作所 質量分析方法及び質量分析装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10132786A (ja) * 1996-10-30 1998-05-22 Shimadzu Corp 質量分析装置
JP2000057992A (ja) * 1998-08-03 2000-02-25 Shimadzu Corp 質量分析装置
CN101601119A (zh) * 2006-12-11 2009-12-09 株式会社岛津制作所 飞行时间质谱仪和在飞行时间质谱仪中分析离子的方法
CN101918826A (zh) * 2007-12-20 2010-12-15 株式会社岛津制作所 质量分析系统
CN102077092A (zh) * 2008-05-23 2011-05-25 电泳有限公司 质谱分析
WO2009144765A1 (ja) * 2008-05-26 2009-12-03 株式会社島津製作所 四重極型質量分析装置
CN102403184A (zh) * 2010-09-16 2012-04-04 株式会社岛津制作所 飞行时间质谱仪

Also Published As

Publication number Publication date
EP3444604A1 (en) 2019-02-20
CN109073592A (zh) 2018-12-21
US10444185B2 (en) 2019-10-15
JPWO2017179096A1 (ja) 2018-11-29
JP6583544B2 (ja) 2019-10-02
US20190170688A1 (en) 2019-06-06
WO2017179096A1 (ja) 2017-10-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3435404B1 (en) Tuning multipole rf amplitude for ions not present in calibrant
US8803083B2 (en) Time of flight mass spectrometer
JP6899560B2 (ja) 質量分析データ解析装置及び質量分析データ解析用プログラム
JP7063342B2 (ja) 質量分析装置及び質量分析装置における質量較正方法
JP6773236B2 (ja) 質量分析装置及び質量分析方法
EP3737940B1 (en) System and method for optimizing peak shapes
US8134121B2 (en) Chromatographic mass spectrometer
EP2483641B1 (en) Systems and methods for maintaining the precision of mass measurement
CN109073592B (zh) 质谱分析装置及质谱分析方法
US10564135B2 (en) Chromatograph mass spectrometer
US10707064B2 (en) Mass spectrometer, mass spectrometry method and program for mass spectrometry
JP2004361367A (ja) プラズマイオン源質量分析装置を用いた同位体比分析
JP6508414B2 (ja) クロマトグラフ装置
JP6668188B2 (ja) 質量分析方法
US9823228B2 (en) Chromatograph mass spectrometer and control method therefor
US20230132727A1 (en) Laser desorption/ionization mass spectrometer and laser power adjustment method
US11527393B2 (en) Spectrum calculation processing device, spectrum calculation processing method, ion trap mass spectrometry system, ion trap mass spectrometry method and non-transitory computer readable medium storing spectrum calculation processing program
JP5055157B2 (ja) 質量分析装置
JP4921302B2 (ja) 質量分析システム
GB2584336A (en) Method of calibrating analytical instrument
US20240105435A1 (en) Mass Spectrometer Calibration
JP6477332B2 (ja) 質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析用プログラム

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant