JP2009171509A - イコライザのテスト回路および集積回路の評価システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】テスト回路1は、擬似乱数データ生成部11が、擬似乱数データを生成し、重み付け係数生成部12が、符号間干渉の干渉強度設定用の重み付け係数を生成し、擬似符号間干渉データ生成部13が、擬似乱数データのビット系列に応じて擬似乱数データに擬似的な符号間干渉を発生させ、重み付け係数により振幅を変化させた擬似符号間干渉データを生成し、ドライバ14が、生成された擬似符号間干渉データを差動信号として出力する。比較部15は、イコライザ100の出力をサンプリング回路200によりサンプリングしたデータを、符号間干渉発生前の元の擬似乱数データと比較し、カウント部16が、比較部15により検出された不一致の数をカウントする。
【選択図】図1
Description
また、テスト回路をイコライザを内蔵する集積回路に一緒に内蔵することにより、集積回路単体での自己診断が可能であり、イコライザを内蔵する集積回路の量産テストを容易に行うことができる。
11 擬似乱数データ生成部
12 重み付け係数生成部
13、13A 擬似符号間干渉データ生成部
14、14A ドライバ
15 比較部
16 カウント部
131、131A 演算部
Claims (5)
- 擬似乱数データを生成する擬似乱数データ生成手段と、
符号間干渉の干渉強度設定用の重み付け係数を生成する重み付け係数生成手段と、
前記擬似乱数データのビット系列に応じて前記擬似乱数データに擬似的な符号間干渉を発生させ、前記重み付け係数により振幅を変化させた擬似符号間干渉データを生成する擬似符号間干渉データ生成手段と、
前記擬似符号間干渉データを差動信号として出力するドライバと、
前記ドライバから出力された前記差動信号に対する前記イコライザの出力データを前記擬似乱数データ生成手段により生成された前記擬似乱数データと比較する比較手段と、
前記比較手段により検出された不一致の数をカウントするカウント手段と
を備えることを特徴とするイコライザのテスト回路。 - 前記重み付け係数生成手段が、n個の重み付け係数を生成し、
前記擬似符号間干渉データ生成手段が、
前記擬似乱数データの現在のデータに対してnビット前までのビット系列に応じた擬似的な符号間干渉を発生させ、前記n個の重み付け係数により振幅を調整する
ことを特徴とする請求項1に記載のイコライザのテスト回路。 - 前記重み付け係数生成手段により生成する前記重み付け係数の値を変化させ、その変化に対する前記カウント手段のカウント値の変化特性により前記イコライザの性能を評価することを特徴とする請求項1または2に記載のイコライザのテスト回路。
- イコライザが内蔵される集積回路の外部に、
擬似乱数データを生成する擬似乱数データ生成手段と、
符号間干渉の干渉強度設定用の重み付け係数を生成する重み付け係数生成手段と、
前記擬似乱数データのビット系列に応じて前記擬似乱数データに擬似的な符号間干渉を発生させ、前記重み付け係数により振幅を変化させた擬似符号間干渉データを生成する擬似符号間干渉データ生成手段と
を設け、
前記集積回路の内部に、
前記ドライバから出力された前記差動信号に対する前記イコライザの出力データを前記擬似乱数データ生成手段により生成された前記擬似乱数データと比較する比較手段と、
前記比較手段により検出された不一致の数をカウントするカウント手段と
を備え、
前記ドライバを前記イコライザに接続して前記イコライザの評価を行う
ことを特徴とする集積回路の評価システム。 - 前記重み付け係数生成手段により生成する前記重み付け係数の値を変化させ、その変化に対する前記カウント手段のカウント値の変化特性により前記イコライザの性能を評価することを特徴とする請求項4に記載の集積回路の評価システム。
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