JPH0887839A - 磁気記録再生装置 - Google Patents
磁気記録再生装置Info
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- JPH0887839A JPH0887839A JP6224509A JP22450994A JPH0887839A JP H0887839 A JPH0887839 A JP H0887839A JP 6224509 A JP6224509 A JP 6224509A JP 22450994 A JP22450994 A JP 22450994A JP H0887839 A JPH0887839 A JP H0887839A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】磁気記録再生装置の品質を保証する手段として
のデータ正確度の評価及び異常検知を実現する。 【構成】波形等化器の等化係数値と、記録補正回路の記
録補正量と、低域通過フィルタの遮断周波数を変えなが
らビタビ検出器の参照振幅値を基準値からずらしたとき
のデータエラーレートを測定することにより、該磁気記
録再生装置のデータ正確度を評価する。 【効果】ビタビ検出器の識別特性を含んだ磁気記録再生
装置のデータ正確度評価を行うことができ、磁気記録再
生装置におけるデータ正確度の記録再生チャネルパラメ
ータ依存性を容易に評価できる。
のデータ正確度の評価及び異常検知を実現する。 【構成】波形等化器の等化係数値と、記録補正回路の記
録補正量と、低域通過フィルタの遮断周波数を変えなが
らビタビ検出器の参照振幅値を基準値からずらしたとき
のデータエラーレートを測定することにより、該磁気記
録再生装置のデータ正確度を評価する。 【効果】ビタビ検出器の識別特性を含んだ磁気記録再生
装置のデータ正確度評価を行うことができ、磁気記録再
生装置におけるデータ正確度の記録再生チャネルパラメ
ータ依存性を容易に評価できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は磁気記録再生装置に関
し、特に装置の品質を保証する手段としてのデータ正確
度の評価及び異常検知に関する。
し、特に装置の品質を保証する手段としてのデータ正確
度の評価及び異常検知に関する。
【０００２】
【従来の技術】アイ．イー．イー．イー． トランザク
ションズ オン マグネティクス ２７巻（ＩＥＥＥ
ＴＲＡＮＳＡＣＴＩＯＮＳ ＯＮ ＭＡＧＮＥＴＩＣ
Ｓ，ＶＯＬ．２７）の第４５３８頁〜第４５４３頁に
は、ビタビ検出器を有する磁気記録再生装置が記載され
ている。
ションズ オン マグネティクス ２７巻（ＩＥＥＥ
ＴＲＡＮＳＡＣＴＩＯＮＳ ＯＮ ＭＡＧＮＥＴＩＣ
Ｓ，ＶＯＬ．２７）の第４５３８頁〜第４５４３頁に
は、ビタビ検出器を有する磁気記録再生装置が記載され
ている。
【０００３】この磁気記録再生装置は、データ再生時に
発生するビットシフトをあらかじめ記録時に補正するた
めの記録補正回路と、磁気記録媒体から読み出されたア
ナログ再生波形信号の高周波ノイズ成分を取り除くため
の低域通過フィルタと、アナログ再生波形信号をデジタ
ル波形信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、デジタル波形信
号を整形する波形等化器と、整形されたデジタル波形信
号からデジタルデータを識別するビタビ検出器とを有す
る。これらの装置では、小型化、データ転送速度の高速
化に対応して、前記記録再生信号処理回路が１チップの
ＬＳＩに収められている。
発生するビットシフトをあらかじめ記録時に補正するた
めの記録補正回路と、磁気記録媒体から読み出されたア
ナログ再生波形信号の高周波ノイズ成分を取り除くため
の低域通過フィルタと、アナログ再生波形信号をデジタ
ル波形信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、デジタル波形信
号を整形する波形等化器と、整形されたデジタル波形信
号からデジタルデータを識別するビタビ検出器とを有す
る。これらの装置では、小型化、データ転送速度の高速
化に対応して、前記記録再生信号処理回路が１チップの
ＬＳＩに収められている。
【０００４】磁気記録再生装置の品質を判断する１つの
基準としてデータ正確度がある。データ正確度は、磁気
ヘッド、磁気媒体の電磁変換特性の他に、記録補正回路
の記録補正量、低域通過フィルタの遮断周波数、波形等
化器の等化係数値などの記録再生チャネルパラメータに
も依存する。高品質の磁気記録再生装置を得るために
は、パラメータは前記磁気記録再生装置の使用時におい
て最適値に設定されなければならない。このパラメータ
の最適値を知るためには、パラメータ変動時のデータ正
確度を定量的に評価する必要がある。
基準としてデータ正確度がある。データ正確度は、磁気
ヘッド、磁気媒体の電磁変換特性の他に、記録補正回路
の記録補正量、低域通過フィルタの遮断周波数、波形等
化器の等化係数値などの記録再生チャネルパラメータに
も依存する。高品質の磁気記録再生装置を得るために
は、パラメータは前記磁気記録再生装置の使用時におい
て最適値に設定されなければならない。このパラメータ
の最適値を知るためには、パラメータ変動時のデータ正
確度を定量的に評価する必要がある。
【０００５】一般にデータ正確度を定量化する数値とし
てエラーレートがある。しかし、磁気記録再生装置の通
常の動作状態ではエラーレートが非常に小さく、その測
定には多大の時間を要し、装置の品質を判断するのが困
難である。
てエラーレートがある。しかし、磁気記録再生装置の通
常の動作状態ではエラーレートが非常に小さく、その測
定には多大の時間を要し、装置の品質を判断するのが困
難である。
【０００６】特開平３−１４４９６９号には、デジタル
波形信号の系列と基準信号の系列とを比較した誤差値の
ヒストグラムを測定することにより、磁気記録再生装置
のデータエラーレートを予測し、データ正確度を評価す
る技術が記載されている。
波形信号の系列と基準信号の系列とを比較した誤差値の
ヒストグラムを測定することにより、磁気記録再生装置
のデータエラーレートを予測し、データ正確度を評価す
る技術が記載されている。
【０００７】一方、従来から知られているデータ正確度
評価方法としてレベルマージンテストがある。レベルマ
ージンテストでは、波形等化器の出力信号の振幅と比較
されるゲートスライスレベルを上下に動かして、落ちこ
みもしくは湧き出しのビットを検出することによりゲー
トスライスレベルのマージン幅及びデータエラーレート
を測定する。
評価方法としてレベルマージンテストがある。レベルマ
ージンテストでは、波形等化器の出力信号の振幅と比較
されるゲートスライスレベルを上下に動かして、落ちこ
みもしくは湧き出しのビットを検出することによりゲー
トスライスレベルのマージン幅及びデータエラーレート
を測定する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ヒスト
グラム測定によるエラーレート予測法は、デジタル波形
信号の分布のみに着目し、最尤値系列推定としてのビタ
ビ検出器のデータ識別特性を含んでいない。また、レベ
ルマージンテストは、１ビットごとにレベルの検出を行
っているので、やはり最尤値系列推定としてのビタビ検
出器のデータ識別特性を含んでいない。これらの理由に
より、従来のデータ正確度評価法では、ビタビ検出器を
含む記録再生チャネルの性能を正しく評価できない。
グラム測定によるエラーレート予測法は、デジタル波形
信号の分布のみに着目し、最尤値系列推定としてのビタ
ビ検出器のデータ識別特性を含んでいない。また、レベ
ルマージンテストは、１ビットごとにレベルの検出を行
っているので、やはり最尤値系列推定としてのビタビ検
出器のデータ識別特性を含んでいない。これらの理由に
より、従来のデータ正確度評価法では、ビタビ検出器を
含む記録再生チャネルの性能を正しく評価できない。
【０００９】また、記録再生信号処理回路をＬＳＩチッ
プ内に組み込んだとき、同一チップ内にこの磁気記録再
生装置の記録再生チャネルパラメータ依存性を評価する
手段がなければ、パラメータの最適値を見つけることが
容易でない。また、磁気記録再生装置の品質を判断する
ことも容易でない。
プ内に組み込んだとき、同一チップ内にこの磁気記録再
生装置の記録再生チャネルパラメータ依存性を評価する
手段がなければ、パラメータの最適値を見つけることが
容易でない。また、磁気記録再生装置の品質を判断する
ことも容易でない。
【００１０】
【課題を解決するための手段】これらの課題を解決する
ため、本発明による磁気記録再生装置は、ビタビ検出器
の参照振幅値を変える機能を有する。そして、ビタビ検
出器の参照振幅値を変えて磁気記録再生装置のデータエ
ラーレートを測定することにより、磁気記録再生装置の
データ正確度を評価する。
ため、本発明による磁気記録再生装置は、ビタビ検出器
の参照振幅値を変える機能を有する。そして、ビタビ検
出器の参照振幅値を変えて磁気記録再生装置のデータエ
ラーレートを測定することにより、磁気記録再生装置の
データ正確度を評価する。
【００１１】さらに、本発明による磁気記録再生装置で
は、その信号処理ＬＳＩは、少なくとも１本以上の入力
ピンが指定され、そのピンを介してビタビ検出器の参照
振幅値を変える機能を有する。
は、その信号処理ＬＳＩは、少なくとも１本以上の入力
ピンが指定され、そのピンを介してビタビ検出器の参照
振幅値を変える機能を有する。
【００１２】また、本発明による磁気記録再生装置は、
低域通過フィルタの遮断周波数と、波形等化器の等化係
数値と、ビタビ検出器の参照振幅値とを変える機能を有
する。そして、低域通過フィルタの遮断周波数と、波形
等化器の等化係数値とを変えながら、ビタビ検出器の参
照振幅値を基準値からずらしたときのデータエラーレー
トを測定することにより、磁気記録再生装置のデータ正
確度を評価する。
低域通過フィルタの遮断周波数と、波形等化器の等化係
数値と、ビタビ検出器の参照振幅値とを変える機能を有
する。そして、低域通過フィルタの遮断周波数と、波形
等化器の等化係数値とを変えながら、ビタビ検出器の参
照振幅値を基準値からずらしたときのデータエラーレー
トを測定することにより、磁気記録再生装置のデータ正
確度を評価する。
【００１３】さらに、本発明による磁気記録再生装置
は、記録補正回路の記録補正量と、ビタビ検出器の参照
振幅値とを変える機能を有する。そして、記録補正回路
の記録補正量を変えながら、ビタビ検出器の参照振幅値
を基準値からずらしたときのデータエラーレートを測定
することにより、該磁気記録再生装置のデータ正確度を
評価する。
は、記録補正回路の記録補正量と、ビタビ検出器の参照
振幅値とを変える機能を有する。そして、記録補正回路
の記録補正量を変えながら、ビタビ検出器の参照振幅値
を基準値からずらしたときのデータエラーレートを測定
することにより、該磁気記録再生装置のデータ正確度を
評価する。
【００１４】また、本発明による磁気記録再生装置は、
記録補正回路の記録補正量、あるいは、低域通過フィル
タの遮断周波数と、波形等化器の等化係数値と、ビタビ
検出器の参照振幅値とを、係数設定用シーケンサにより
あらかじめ定められたシーケンスに従って自動的に設定
する機能を有している。
記録補正回路の記録補正量、あるいは、低域通過フィル
タの遮断周波数と、波形等化器の等化係数値と、ビタビ
検出器の参照振幅値とを、係数設定用シーケンサにより
あらかじめ定められたシーケンスに従って自動的に設定
する機能を有している。
【００１５】また、本発明による磁気記録再生装置は、
波形等化誤差の絶対値、もしくは、２乗値を平均化した
信号の大きさを測定することにより、該磁気記録再生装
置のデータ正確度を評価する。
波形等化誤差の絶対値、もしくは、２乗値を平均化した
信号の大きさを測定することにより、該磁気記録再生装
置のデータ正確度を評価する。
【００１６】
【作用】本発明によれば、磁気記録再生装置のビタビ検
出器の参照振幅値を基準値からずらすことによって、ビ
タビ検出器の識別特性を含んだまま、識別性能を劣化さ
せることができる。そのため、データエラーレートの測
定を短時間で行うことができる。そして、そのデータエ
ラーレートから、装置本来のデータエラーレート、即
ち、データ正確度を予測することができる。
出器の参照振幅値を基準値からずらすことによって、ビ
タビ検出器の識別特性を含んだまま、識別性能を劣化さ
せることができる。そのため、データエラーレートの測
定を短時間で行うことができる。そして、そのデータエ
ラーレートから、装置本来のデータエラーレート、即
ち、データ正確度を予測することができる。
【００１７】さらに、信号処理ＬＳＩはその入力ピンを
介してビタビ検出器の参照振幅値を変える機能を有す
る。そのため、ＬＳＩが装置に組み込まれた状態で装置
のデータ正確度を容易に評価することができる。
介してビタビ検出器の参照振幅値を変える機能を有す
る。そのため、ＬＳＩが装置に組み込まれた状態で装置
のデータ正確度を容易に評価することができる。
【００１８】また、低域通過フィルタの遮断周波数と波
形等化器の等化係数値とを変え、さらにビタビ検出器の
参照振幅値を基準値からずらしたときのデータエラーレ
ートを測定することにより、装置のデータ正確度の再生
チャネルパラメータ依存性及びパラメータの最適値を知
ることができる。
形等化器の等化係数値とを変え、さらにビタビ検出器の
参照振幅値を基準値からずらしたときのデータエラーレ
ートを測定することにより、装置のデータ正確度の再生
チャネルパラメータ依存性及びパラメータの最適値を知
ることができる。
【００１９】さらに、磁気記録再生装置の記録補正回路
の記録補正量を変え、さらにビタビ検出器の参照振幅値
を基準値からずらしたときのデータエラーレートを測定
することにより、装置のデータ正確度の記録補正量依存
性及び記録補正量の最適値を知ることができる。
の記録補正量を変え、さらにビタビ検出器の参照振幅値
を基準値からずらしたときのデータエラーレートを測定
することにより、装置のデータ正確度の記録補正量依存
性及び記録補正量の最適値を知ることができる。
【００２０】また、磁気記録再生装置は記録補正回路の
記録補正量、あるいは、低域通過フィルタの遮断周波数
と、波形等化器の等化係数値と、ビタビ検出器の参照振
幅値とを、係数設定用データシーケンサがあらかじめ定
められたシーケンスに従って自動的に設定する機能を有
する。そのため、コントローラ等の外部機器を使わず
に、あらかじめ定められたシーケンスにしたがって係数
を自動的に設定しながらデータ正確度を容易に評価する
ことができる。
記録補正量、あるいは、低域通過フィルタの遮断周波数
と、波形等化器の等化係数値と、ビタビ検出器の参照振
幅値とを、係数設定用データシーケンサがあらかじめ定
められたシーケンスに従って自動的に設定する機能を有
する。そのため、コントローラ等の外部機器を使わず
に、あらかじめ定められたシーケンスにしたがって係数
を自動的に設定しながらデータ正確度を容易に評価する
ことができる。
【００２１】また、波形等化誤差の絶対値、もしくは、
２乗値を平均化した信号を監視することにより、記録再
生チャネルの識別性能を大まかに把握できる。そのた
め、製品品質保証試験における合否判定や、製品出荷後
のユーザ使用時におけるヘッドディスクを含む記録再生
チャネルの経時変化を察知することができる。
２乗値を平均化した信号を監視することにより、記録再
生チャネルの識別性能を大まかに把握できる。そのた
め、製品品質保証試験における合否判定や、製品出荷後
のユーザ使用時におけるヘッドディスクを含む記録再生
チャネルの経時変化を察知することができる。
【００２２】
【実施例】以下、本発明による磁気記録再生信号処理回
路の実施例を図面を用いて説明する。図１はビタビ検出
の動作を示す図、図２はビタビ検出器の参照振幅値を基
準値よりも大きくしたときの動作を示す図、図３はビタ
ビ検出器の参照振幅値を基準値よりも小さくしたときの
動作を示す図、図４はビタビ検出器における参照振幅値
とデータエラーレートの関係を示す図である。
路の実施例を図面を用いて説明する。図１はビタビ検出
の動作を示す図、図２はビタビ検出器の参照振幅値を基
準値よりも大きくしたときの動作を示す図、図３はビタ
ビ検出器の参照振幅値を基準値よりも小さくしたときの
動作を示す図、図４はビタビ検出器における参照振幅値
とデータエラーレートの関係を示す図である。
【００２３】ビタビ検出器では、図１に示すような２つ
のしきい値をサンプル値系列に応じて効果的に動かすこ
とによって最尤値系列を推定している。２つのしきい値
の間に入るサンプル値はデータ”０”と識別され、第１
のしきい値よりも大きいサンプル値はデータ”１”の候
補となり、第２のしきい値よりも小さいサンプル値はデ
ータ”−１”の候補となる。データ”１”の候補とデー
タ”−１”の候補が交互に出現する系列では候補として
のデータがそのまま識別結果となり、同一極性の候補が
連続する場合には後方の候補のみが残り、前方の候補
は”０”と識別される。
のしきい値をサンプル値系列に応じて効果的に動かすこ
とによって最尤値系列を推定している。２つのしきい値
の間に入るサンプル値はデータ”０”と識別され、第１
のしきい値よりも大きいサンプル値はデータ”１”の候
補となり、第２のしきい値よりも小さいサンプル値はデ
ータ”−１”の候補となる。データ”１”の候補とデー
タ”−１”の候補が交互に出現する系列では候補として
のデータがそのまま識別結果となり、同一極性の候補が
連続する場合には後方の候補のみが残り、前方の候補
は”０”と識別される。
【００２４】このビタビ検出器の２つのしきい値の間隔
（参照振幅値：Ｖｔｈ）は入力波形振幅の期待値にする
のが普通である。しかし、図２に示すように、この間隔
を期待値よりも大きくすると落ちこみエラーが増える。
図３に示すように、この間隔を期待値よりも小さくする
と湧きだしエラーが増える。その結果、参照振幅値（Ｖ
ｔｈ）とデータエラーレート（Ｂ．Ｅ．Ｒ．）との関係
は図４に示すような曲線（バケットカーブ）で表され
る。その曲線を延長することにより装置本来のデータエ
ラーレートを知ることができる。（図４では入力波形振
幅の期待値を１に規格化している。） 図５は、係数設定用データバスによってビタビ検出器の
参照振幅値を変える機能を有する磁気記録再生装置の信
号処理ＬＳＩを示す図である。係数設定用データバス、
及び、レジスタライトゲートを使ってビタビ検出器の参
照振幅値レジスタに値を設定することができる。上記係
数設定用データバスは、他のパラメータのレジスタ等の
設定経路と共通にしても良いし、あるいは独立に設けて
も良い。
（参照振幅値：Ｖｔｈ）は入力波形振幅の期待値にする
のが普通である。しかし、図２に示すように、この間隔
を期待値よりも大きくすると落ちこみエラーが増える。
図３に示すように、この間隔を期待値よりも小さくする
と湧きだしエラーが増える。その結果、参照振幅値（Ｖ
ｔｈ）とデータエラーレート（Ｂ．Ｅ．Ｒ．）との関係
は図４に示すような曲線（バケットカーブ）で表され
る。その曲線を延長することにより装置本来のデータエ
ラーレートを知ることができる。（図４では入力波形振
幅の期待値を１に規格化している。） 図５は、係数設定用データバスによってビタビ検出器の
参照振幅値を変える機能を有する磁気記録再生装置の信
号処理ＬＳＩを示す図である。係数設定用データバス、
及び、レジスタライトゲートを使ってビタビ検出器の参
照振幅値レジスタに値を設定することができる。上記係
数設定用データバスは、他のパラメータのレジスタ等の
設定経路と共通にしても良いし、あるいは独立に設けて
も良い。
【００２５】図６は係数設定用データシーケンサによっ
てビタビ検出器の参照振幅値を変える機能を有する磁気
記録再生装置の信号処理ＬＳＩを示す図である。係数設
定用データシーケンサにはあらかじめ設定すべきビタビ
検出器の参照振幅値がセットされている。ＬＳＩにシー
ケンススタート信号を入力することにより、シーケンサ
がビタビ検出器の参照振幅値データ、及び、レジスタラ
イトゲートを出力する。その出力によって、ビタビ検出
器の参照振幅値レジスタの値が設定される。上記係数設
定用データシーケンサ内のビタビ検出器の参照振幅値
は、ＬＳＩ内部で固定的にセットしても良い。あるい
は、外部からシーケンサ内のレジスタ値を入力すること
により変更可能なようにしてもよい。
てビタビ検出器の参照振幅値を変える機能を有する磁気
記録再生装置の信号処理ＬＳＩを示す図である。係数設
定用データシーケンサにはあらかじめ設定すべきビタビ
検出器の参照振幅値がセットされている。ＬＳＩにシー
ケンススタート信号を入力することにより、シーケンサ
がビタビ検出器の参照振幅値データ、及び、レジスタラ
イトゲートを出力する。その出力によって、ビタビ検出
器の参照振幅値レジスタの値が設定される。上記係数設
定用データシーケンサ内のビタビ検出器の参照振幅値
は、ＬＳＩ内部で固定的にセットしても良い。あるい
は、外部からシーケンサ内のレジスタ値を入力すること
により変更可能なようにしてもよい。
【００２６】図７は第１の実施例による磁気記録再生装
置の主構成を示す図、図８は図７の装置を用いたデータ
エラーテストの各部信号動作を示す図、図９はこのデー
タエラーテストによって得られる結果のグラフを示す図
である。
置の主構成を示す図、図８は図７の装置を用いたデータ
エラーテストの各部信号動作を示す図、図９はこのデー
タエラーテストによって得られる結果のグラフを示す図
である。
【００２７】第１の実施例による磁気記録再生装置にお
ける信号処理回路を図７に示す。この信号処理回路は、
変復調回路１０１と、記録補正回路１０２と、リードラ
イトアンプ１０３と、ＡＧＣ回路１０４と、低域通過フ
ィルタ１０５と、Ａ／Ｄ変換器１０６と、波形等化器１
０７と、ＶＦＯ回路１０８と、ビタビ検出器１０９と、
スイッチ１１０と、係数設定シーケンサ１１１と、デー
タ発生器１１２と、データ比較器１１３と、等化誤差信
号処理回路１１４と、カウンタ１１５とから構成され
る。
ける信号処理回路を図７に示す。この信号処理回路は、
変復調回路１０１と、記録補正回路１０２と、リードラ
イトアンプ１０３と、ＡＧＣ回路１０４と、低域通過フ
ィルタ１０５と、Ａ／Ｄ変換器１０６と、波形等化器１
０７と、ＶＦＯ回路１０８と、ビタビ検出器１０９と、
スイッチ１１０と、係数設定シーケンサ１１１と、デー
タ発生器１１２と、データ比較器１１３と、等化誤差信
号処理回路１１４と、カウンタ１１５とから構成され
る。
【００２８】変復調回路１０１は、ユーザデータを記録
再生に有利な符号に変換する。記録補正回路１０２は、
記録波形の位相を補正する。リードライトアンプ１０３
は、磁気記録媒体１１から磁気ヘッド１２により読みだ
したアナログ再生波形信号を増幅する。ＡＧＣ回路１０
４は波形等化器１０７の出力波形信号の振幅を一定にす
る。低域通過フィルタ１０５は、アナログ再生波形信号
の高周波ノイズ成分を除去する。Ａ／Ｄ変換器１０６
は、アナログ再生波形信号をデジタル値に変換する。波
形等化器１０７は、該デジタル波形信号を整形する。Ｖ
ＦＯ回路１０８は、サンプルクロックを生成する。ビタ
ビ検出器１０９は、整形された該デジタル波形信号から
データを識別する。スイッチ１１０はデータエラーテス
ト時にチャネルを切り替える。係数設定シーケンサ１１
１は、データエラーテスト時に波形等化器１０７の等化
係数値、記録補正回路１０２の記録補正量、低域通過フ
ィルタ１０５の遮断周波数、及びビタビ検出器１０９の
参照振幅値をあらかじめ決められたシーケンスに従って
設定する。データ発生器１１２は、テスト時にパターン
データを発生する。データ比較器１１３は、テスト時に
パターンデータとビタビ検出器１０９によって識別され
たデータとを比較してデータリードエラーを検出する。
カウンタ１１５は、データエラーの回数を数える。デー
タ発生器１１２は３６ビット程度のデータレジスタを持
ち、そのデータパターンは自由に設定できる。また、カ
ウンタ１１５と、リードライトアンプ１０３以外の回路
は記録再生信号処理ＬＳＩ１０内に組み込まれている。
再生に有利な符号に変換する。記録補正回路１０２は、
記録波形の位相を補正する。リードライトアンプ１０３
は、磁気記録媒体１１から磁気ヘッド１２により読みだ
したアナログ再生波形信号を増幅する。ＡＧＣ回路１０
４は波形等化器１０７の出力波形信号の振幅を一定にす
る。低域通過フィルタ１０５は、アナログ再生波形信号
の高周波ノイズ成分を除去する。Ａ／Ｄ変換器１０６
は、アナログ再生波形信号をデジタル値に変換する。波
形等化器１０７は、該デジタル波形信号を整形する。Ｖ
ＦＯ回路１０８は、サンプルクロックを生成する。ビタ
ビ検出器１０９は、整形された該デジタル波形信号から
データを識別する。スイッチ１１０はデータエラーテス
ト時にチャネルを切り替える。係数設定シーケンサ１１
１は、データエラーテスト時に波形等化器１０７の等化
係数値、記録補正回路１０２の記録補正量、低域通過フ
ィルタ１０５の遮断周波数、及びビタビ検出器１０９の
参照振幅値をあらかじめ決められたシーケンスに従って
設定する。データ発生器１１２は、テスト時にパターン
データを発生する。データ比較器１１３は、テスト時に
パターンデータとビタビ検出器１０９によって識別され
たデータとを比較してデータリードエラーを検出する。
カウンタ１１５は、データエラーの回数を数える。デー
タ発生器１１２は３６ビット程度のデータレジスタを持
ち、そのデータパターンは自由に設定できる。また、カ
ウンタ１１５と、リードライトアンプ１０３以外の回路
は記録再生信号処理ＬＳＩ１０内に組み込まれている。
【００２９】第１の実施例における磁気記録再生装置で
は、例えば図８に示すように、データエラーテスト時
（図８のテストモード信号”Ｈ”レベル）に、まず、係
数シーケンサ１１１によって最初の係数値（ビタビ検出
器参照振幅値Ｖｔｈ＝０．８，等化係数値＝Ａ）が設定
され、その状態でデータリードテストを行う。そして、
データ比較器１１３がデータエラーを検出し、カウンタ
１１５がエラーの数をカウントする。データリード回数
があらかじめ定められたリードビット数（例えば１０9
ビット）に達したとき、係数アップデート信号によりカ
ウンタ１１５がリセットされる。また、係数設定シーケ
ンサ１１１によって２番目の係数値（ビタビ検出器参照
振幅値Ｖｔｈ＝０．９，等化係数値＝Ａ）が設定され、
その状態で前記同様のデータリードテストを行う。この
ようにして得たデータエラーテストの結果を、等化係数
値＝Ｂでの結果も含め図９に示す。この結果から最適係
数値、及び、その時のデータエラーレートを知ることが
できる。
は、例えば図８に示すように、データエラーテスト時
（図８のテストモード信号”Ｈ”レベル）に、まず、係
数シーケンサ１１１によって最初の係数値（ビタビ検出
器参照振幅値Ｖｔｈ＝０．８，等化係数値＝Ａ）が設定
され、その状態でデータリードテストを行う。そして、
データ比較器１１３がデータエラーを検出し、カウンタ
１１５がエラーの数をカウントする。データリード回数
があらかじめ定められたリードビット数（例えば１０9
ビット）に達したとき、係数アップデート信号によりカ
ウンタ１１５がリセットされる。また、係数設定シーケ
ンサ１１１によって２番目の係数値（ビタビ検出器参照
振幅値Ｖｔｈ＝０．９，等化係数値＝Ａ）が設定され、
その状態で前記同様のデータリードテストを行う。この
ようにして得たデータエラーテストの結果を、等化係数
値＝Ｂでの結果も含め図９に示す。この結果から最適係
数値、及び、その時のデータエラーレートを知ることが
できる。
【００３０】データエラーテストのフローチャートを図
１０に示す。まず、係数設定シーケンスが終了したかど
うかを判断する。係数設定シーケンスが終了していれば
テスト終了である。係数設定シーケンスが終了していな
ければ、つぎに、記録再生チャネルパラメータを設定す
る。以下、順に、データのライト、データのリード、デ
ータリードエラーの検出、エラー数のカウントを行う。
つぎに、データリード回数があらかじめ定められたビッ
ト数（例えば１０9ビット）に到達したかどうかを判断
する。到達していなければデータのリードに戻る。到達
していれば一番初めの分岐点である係数設定シーケンス
が終了したかどうかの判断にもどる。
１０に示す。まず、係数設定シーケンスが終了したかど
うかを判断する。係数設定シーケンスが終了していれば
テスト終了である。係数設定シーケンスが終了していな
ければ、つぎに、記録再生チャネルパラメータを設定す
る。以下、順に、データのライト、データのリード、デ
ータリードエラーの検出、エラー数のカウントを行う。
つぎに、データリード回数があらかじめ定められたビッ
ト数（例えば１０9ビット）に到達したかどうかを判断
する。到達していなければデータのリードに戻る。到達
していれば一番初めの分岐点である係数設定シーケンス
が終了したかどうかの判断にもどる。
【００３１】図１１は第２の実施例による磁気記録再生
装置の主構成を示す図である。第２の実施例による磁気
記録再生装置における信号処理回路は、変復調回路２０
１と、記録補正回路２０２と、リードライトアンプ２０
３と、ＡＧＣ回路２０４と、低域通過フィルタ２０５
と、Ａ／Ｄ変換器２０６と、波形等化器２０７と、ＶＦ
Ｏ回路２０８と、ビタビ検出器２０９と、スイッチ２１
０と、係数設定シーケンサ２１１と、エラー検出器２１
３と、カウンタ２１２とから構成される。
装置の主構成を示す図である。第２の実施例による磁気
記録再生装置における信号処理回路は、変復調回路２０
１と、記録補正回路２０２と、リードライトアンプ２０
３と、ＡＧＣ回路２０４と、低域通過フィルタ２０５
と、Ａ／Ｄ変換器２０６と、波形等化器２０７と、ＶＦ
Ｏ回路２０８と、ビタビ検出器２０９と、スイッチ２１
０と、係数設定シーケンサ２１１と、エラー検出器２１
３と、カウンタ２１２とから構成される。
【００３２】変復調回路２０１は、ユーザデータを記録
再生に有利な符号に変換する。記録補正回路２０２は、
記録波形の位相を補正する。リードライトアンプ２０３
は、磁気記録媒体２１から磁気ヘッド２２により読みだ
したアナログ再生波形信号を増幅する。ＡＧＣ回路２０
４は、波形等化器２０７の出力波形信号の振幅を一定に
する。低域通過フィルタ２０５は、アナログ再生波形信
号の高周波ノイズ成分を除去する。Ａ／Ｄ変換器２０６
は、アナログ再生波形信号をデジタル値に変換する。波
形等化器２０７は、該デジタル波形信号を整形する。Ｖ
ＦＯ回路２０８はサンプルクロックを生成する。ビタビ
検出器２０９は、整形された該デジタル波形信号からデ
ータを識別する。スイッチ２１０は、データエラーテス
ト時にチャネルを切り替える。係数設定シーケンサ２１
１は、データエラーテスト時に波形等化器２０７の等化
係数値、記録補正回路２０２の記録補正量、低域通過フ
ィルタ２０５の遮断周波数、ビタビ検出器２０９の参照
振幅値をあらかじめ決められたシーケンスに従って設定
する。エラー検出器２１３は、データリードエラーを検
出する。カウンタ２１２は、データエラーの回数を数え
る。
再生に有利な符号に変換する。記録補正回路２０２は、
記録波形の位相を補正する。リードライトアンプ２０３
は、磁気記録媒体２１から磁気ヘッド２２により読みだ
したアナログ再生波形信号を増幅する。ＡＧＣ回路２０
４は、波形等化器２０７の出力波形信号の振幅を一定に
する。低域通過フィルタ２０５は、アナログ再生波形信
号の高周波ノイズ成分を除去する。Ａ／Ｄ変換器２０６
は、アナログ再生波形信号をデジタル値に変換する。波
形等化器２０７は、該デジタル波形信号を整形する。Ｖ
ＦＯ回路２０８はサンプルクロックを生成する。ビタビ
検出器２０９は、整形された該デジタル波形信号からデ
ータを識別する。スイッチ２１０は、データエラーテス
ト時にチャネルを切り替える。係数設定シーケンサ２１
１は、データエラーテスト時に波形等化器２０７の等化
係数値、記録補正回路２０２の記録補正量、低域通過フ
ィルタ２０５の遮断周波数、ビタビ検出器２０９の参照
振幅値をあらかじめ決められたシーケンスに従って設定
する。エラー検出器２１３は、データリードエラーを検
出する。カウンタ２１２は、データエラーの回数を数え
る。
【００３３】第２の実施例では、信号処理ＬＳＩ２０の
外に置かれたディスクコントローラ２３を使ってデータ
リードエラーテストを行う。即ち、ディスクコントロー
ラ２３は信号処理ＬＳＩ２０にデータのライトとリード
を指示する。そして、ディスクコントローラ２３はエラ
ー検出器２１３によってエラーの検出を行い、カウンタ
２１２はそのエラー数をカウントすることによりエラー
レートを求める。ここでエラー検出器２１３のエラー検
出方法は、１ビットごとのコンペアチェックでもよい
し、ＥＣＣをチェックすることでもよい。本実施例でも
第１の実施例と同様のテストを行うことができ、同様の
結果を得ることができる。
外に置かれたディスクコントローラ２３を使ってデータ
リードエラーテストを行う。即ち、ディスクコントロー
ラ２３は信号処理ＬＳＩ２０にデータのライトとリード
を指示する。そして、ディスクコントローラ２３はエラ
ー検出器２１３によってエラーの検出を行い、カウンタ
２１２はそのエラー数をカウントすることによりエラー
レートを求める。ここでエラー検出器２１３のエラー検
出方法は、１ビットごとのコンペアチェックでもよい
し、ＥＣＣをチェックすることでもよい。本実施例でも
第１の実施例と同様のテストを行うことができ、同様の
結果を得ることができる。
【００３４】また、第１の実施例では、等化器出力とビ
タビ検出器出力との差（波形等化誤差）を求め、その波
形等化誤差の絶対値、もしくは、波形等化誤差の２乗値
を平均化した信号の大きさを測定することにより、磁気
記憶再生装置の記録再生チャネルの識別性能を大まかに
把握できる。そして、その識別性能によって製品品質保
証試験における合否判定や、製品使用時における記録再
生チャネルの経時変化を評価することができる。図１
２、図１３、図１４に図７の等化誤差信号処理回路１１
４の例を示す。
タビ検出器出力との差（波形等化誤差）を求め、その波
形等化誤差の絶対値、もしくは、波形等化誤差の２乗値
を平均化した信号の大きさを測定することにより、磁気
記憶再生装置の記録再生チャネルの識別性能を大まかに
把握できる。そして、その識別性能によって製品品質保
証試験における合否判定や、製品使用時における記録再
生チャネルの経時変化を評価することができる。図１
２、図１３、図１４に図７の等化誤差信号処理回路１１
４の例を示す。
【００３５】図１２に示す回路は、減算器３０１と、絶
対値回路３０２と、平均化回路３０３とで構成され、６
ビット程度のデジタル信号を出力する。
対値回路３０２と、平均化回路３０３とで構成され、６
ビット程度のデジタル信号を出力する。
【００３６】図１３に示す回路は、減算器４０１と、絶
対値回路４０２と、平均化回路４０３とＤ／Ａ変換器４
０４で構成され、１本のアナログ信号を出力する。図８
の回路に比べて出力ピンを１本に減らせる利点がある。
対値回路４０２と、平均化回路４０３とＤ／Ａ変換器４
０４で構成され、１本のアナログ信号を出力する。図８
の回路に比べて出力ピンを１本に減らせる利点がある。
【００３７】図１４に示す回路は、減算器５０１と、絶
対値回路５０２と、平均化回路５０３と比較器５０４で
構成され、１ビットのデジタル信号を出力する。比較器
５０４のしきい値を適当に選ぶことにより、この出力信
号を品質判定フラグとして使うことができる。
対値回路５０２と、平均化回路５０３と比較器５０４で
構成され、１ビットのデジタル信号を出力する。比較器
５０４のしきい値を適当に選ぶことにより、この出力信
号を品質判定フラグとして使うことができる。
【００３８】また、図１２、図１３、図１４における絶
対値回路３０２、４０２、５０２は２乗回路に置き換え
てもよい。
対値回路３０２、４０２、５０２は２乗回路に置き換え
てもよい。
【００３９】
【発明の効果】本発明によれば、ビタビ検出器の識別特
性を含んだ磁気記録再生装置のデータ正確度評価を容易
に行うことができ、前記装置におけるデータ正確度の記
録再生チャネルパラメータ依存性を容易に評価すること
ができる。
性を含んだ磁気記録再生装置のデータ正確度評価を容易
に行うことができ、前記装置におけるデータ正確度の記
録再生チャネルパラメータ依存性を容易に評価すること
ができる。
【図１】ビタビ検出の動作を示す図。
【図２】ビタビ検出器の参照振幅値を基準値より大きく
したときの動作を示す図。
したときの動作を示す図。
【図３】ビタビ検出器の参照振幅値を基準値より小さく
したときの動作を示す図。
したときの動作を示す図。
【図４】ビタビ検出器における参照振幅値とデータエラ
ーレートの関係を示す図。
ーレートの関係を示す図。
【図５】係数設定用データバスを有する磁気記録再生装
置の信号処理ＬＳＩを示す図。
置の信号処理ＬＳＩを示す図。
【図６】係数設定用データシーケンサを有する磁気記録
再生装置の信号処理ＬＳＩを示す図。
再生装置の信号処理ＬＳＩを示す図。
【図７】第１の実施例における磁気記録再生装置の主構
成を示す図。
成を示す図。
【図８】図７の回路を用いたデータエラーテストにおけ
る各部信号動作を示す図。
る各部信号動作を示す図。
【図９】データエラーテストの結果を示す図。
【図１０】データエラーテストのフローチャートを示す
図。
図。
【図１１】第２の実施例における磁気記録再生装置の主
構成を示す図。
構成を示す図。
【図１２】等化誤差信号処理回路１１４の例を示す図。
（その１）
（その１）
【図１３】等化誤差信号処理回路１１４の例を示す図。
（その２）
（その２）
【図１４】等化誤差信号処理回路１１４の例を示す図。
（その３）
（その３）
１０、２０…記録再生信号処理ＬＳＩ １０１、２０１
…データ変復調回路、１０２、２０２…記録補正回路
１０３、２０３…リードライトアンプ １０４、２０４…ＡＧＣ回路 １０５、２０５
…低域通過フィルタ １０６、２０６…Ａ／Ｄ変換器 １０７、２０７
…波形等化器 １０８、２０８…ＶＦＯ回路 １０９、２０９
…ビタビ検出器 １１０、２１０…スイッチ １１１、２１１
…係数設定シーケンサ １１２…リードライトデータ発生器 １１３…データ
比較器 １１４…等化誤差信号処理回路 １１５、２１２
…カウンタ ２３…ディスクコントローラ ２１２…カウンタ ２１３…エラー
検出器 ３０１、４０１、５０１…減算器 ３０２、４０
２、５０２…絶対値回路、３０３、４０３、５０３…平
均化回路 ５０４…比較器
…データ変復調回路、１０２、２０２…記録補正回路
１０３、２０３…リードライトアンプ １０４、２０４…ＡＧＣ回路 １０５、２０５
…低域通過フィルタ １０６、２０６…Ａ／Ｄ変換器 １０７、２０７
…波形等化器 １０８、２０８…ＶＦＯ回路 １０９、２０９
…ビタビ検出器 １１０、２１０…スイッチ １１１、２１１
…係数設定シーケンサ １１２…リードライトデータ発生器 １１３…データ
比較器 １１４…等化誤差信号処理回路 １１５、２１２
…カウンタ ２３…ディスクコントローラ ２１２…カウンタ ２１３…エラー
検出器 ３０１、４０１、５０１…減算器 ３０２、４０
２、５０２…絶対値回路、３０３、４０３、５０３…平
均化回路 ５０４…比較器
Claims (12)
- 【請求項１】磁気ディスクと、磁気ヘッドと、ビタビ検
出器を用いてデジタルデータを識別する記録再生信号処
理回路を有し、前記ビタビ検出器の参照振幅値を変えて
前記磁気記録再生装置のデータエラーレートを測定する
ことを特徴とする磁気記録再生装置。 - 【請求項２】磁気ディスクと、磁気ヘッドと、ビタビ検
出器を用いてデジタルデータを識別する記録再生信号処
理回路と、前記ビタビ検出器の参照振幅値を変える手段
とを有することを特徴とする磁気記録再生装置。 - 【請求項３】前記ビタビ検出器を含む信号処理ＬＳＩは
ビタビ検出器の参照振幅値を変える機能を持つ入力ピン
を有することを特徴とする請求項１記載の磁気記録再生
装置。 - 【請求項４】前記記録再生信号処理回路は、磁気記録媒
体から読み出された再生波形信号の高周波ノイズ成分を
取り除くための低域通過フィルタと、該再生波形信号を
整形する波形等化器と、整形された該再生波形信号から
デジタルデータを識別するビタビ検出器とを有し、低域
通過フィルタの遮断周波数と、波形等化器の等化係数値
とを変えながら、ビタビ検出器の参照振幅値を基準値か
らずらしたときのデータエラーレートを測定することを
特徴とする請求項１記載の磁気記録再生装置。 - 【請求項５】前記記録再生処理回路は、磁気記録媒体か
ら読み出された再生波形信号の高周波ノイズ成分を取り
除くための低域通過フィルタと、該再生波形信号を整形
する波形等化器と、整形された該再生波形信号からデジ
タルデータを識別するビタビ検出器と、低域通過フィル
タの遮断周波数、波形等化器の等化係数値、及びビタビ
検出器の参照振幅値を設定する手段とを有することを特
徴とする請求項２記載の磁気記録再生装置。 - 【請求項６】前記遮断周波数と前記等化係数値と前記参
照振幅値とを設定する手段は、前記遮断周波数と前記等
化係数値と前記参照振幅値とをあらかじめ定められたシ
ーケンスに従って設定する係数設定シーケンサであるこ
とを特徴とする請求項５記載の磁気記録再生装置。 - 【請求項７】前記記録再生処理回路は、データ再生時に
発生するビットシフトをあらかじめ記録時に補正するた
めの記録補正回路と、前記ビタビ検出器とを有し、記録
補正回路の記録補正量を変えながら、前記ビタビ検出器
の参照振幅値を基準値からずらしたときのデータエラー
レートを測定することを特徴とする請求項１記載の磁気
記録再生装置。 - 【請求項８】前記記録再生処理回路は、データ再生時に
発生するビットシフトをあらかじめ記録時に補正するた
めの記録補正回路と、前記ビタビ検出器とを有し、記録
補正回路の記録補正量と、前記ビタビ検出器の参照振幅
値とを設定する手段を有することを特徴とする請求項２
記載の磁気記録再生装置。 - 【請求項９】前記記録補正量と前記参照振幅値とを変え
る手段は、前記記録補正量と前記参照振幅値とをあらか
じめ定められたシーケンスに従って設定する係数設定シ
ーケンサであることを特徴とする請求項２記載の磁気記
録再生装置。 - 【請求項１０】前記信号処理ＬＳＩは、データ再生時に
発生するビットシフトをあらかじめ記録時に補正するた
めの記録補正回路と、磁気記録媒体から読み出された再
生波形信号の高周波ノイズ成分を取り除くための低域通
過フィルタと、該再生波形信号を整形する波形等化器
と、整形された該再生波形信号からデジタルデータを識
別するビタビ検出器とを有し、記録補正回路の記録補正
量と、低域通過フィルタの遮断周波数と、波形等化器の
等化係数値と、ビタビ検出器の参照振幅値とを設定する
手段を有する請求項３記載の磁気記録再生装置。 - 【請求項１１】前記記録再生処理回路は、磁気記録媒体
から読み出された再生波形信号を整形する波形等化器を
有し、波形等化誤差の絶対値、もしくは、２乗値を平均
化した信号の大きさを測定することを特徴とする請求項
１記載の磁気記録再生装置。 - 【請求項１２】前記記録再生処理回路は、磁気記録媒体
から読み出された再生波形信号を整形する波形等化器を
有し、波形等化誤差の絶対値、もしくは、２乗値を平均
化した信号の大きさを監視することを特徴とする請求項
１記載の磁気記録再生装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22450994A JP3599383B2 (ja) | 1994-09-20 | 1994-09-20 | 磁気記録再生装置及びデータエラーレート測定方法 |
| US08/529,400 US6046873A (en) | 1994-09-20 | 1995-09-18 | Magnetic recording and reproducing apparatus including a viterbi detector having a variable reference amplitude value |
| US09/435,779 US6175460B1 (en) | 1994-09-20 | 1999-11-08 | Magnetic recording and reproduction apparatus |
| US09/721,988 US6496316B1 (en) | 1994-09-20 | 2000-11-27 | Magnetic recording and reproduction apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22450994A JP3599383B2 (ja) | 1994-09-20 | 1994-09-20 | 磁気記録再生装置及びデータエラーレート測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0887839A true JPH0887839A (ja) | 1996-04-02 |
| JP3599383B2 JP3599383B2 (ja) | 2004-12-08 |
Family
ID=16814919
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22450994A Expired - Lifetime JP3599383B2 (ja) | 1994-09-20 | 1994-09-20 | 磁気記録再生装置及びデータエラーレート測定方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (3) | US6046873A (ja) |
| JP (1) | JP3599383B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009171509A (ja) * | 2008-01-21 | 2009-07-30 | Toshiba Corp | イコライザのテスト回路および集積回路の評価システム |
Families Citing this family (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3599383B2 (ja) * | 1994-09-20 | 2004-12-08 | 株式会社日立グローバルストレージテクノロジーズ | 磁気記録再生装置及びデータエラーレート測定方法 |
| US6519715B1 (en) * | 1998-05-22 | 2003-02-11 | Hitachi, Ltd. | Signal processing apparatus and a data recording and reproducing apparatus including local memory processor |
| WO2000042609A1 (fr) * | 1999-01-18 | 2000-07-20 | Fujitsu Limited | Procede et dispositif de commande de signal reproduit |
| US6724706B1 (en) * | 1999-02-26 | 2004-04-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Digital adaptive equalizer for different quality signals |
| JP4077993B2 (ja) | 1999-07-30 | 2008-04-23 | 株式会社日立グローバルストレージテクノロジーズ | 性能評価方法及び性能評価装置並びにこれらを用いた記録再生装置 |
| GB0018842D0 (en) * | 2000-08-02 | 2000-09-20 | Koninkl Philips Electronics Nv | Data decoder |
| CN100483531C (zh) * | 2001-12-07 | 2009-04-29 | 希捷科技有限公司 | 预处理垂直记录中低频的方法和装置 |
| US6977436B2 (en) * | 2002-02-14 | 2005-12-20 | Macronix International Co. Ltd. | Semiconductor packaging device |
| US6920591B2 (en) * | 2002-12-03 | 2005-07-19 | Adc Telecommunications, Inc. | Measuring an error rate in a communication link |
| JP2004234699A (ja) * | 2003-01-28 | 2004-08-19 | Hitachi Ltd | 光ディスクの記録波形制御方法およびこれを用いた光ディスク装置 |
| US7038869B2 (en) * | 2003-04-14 | 2006-05-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Recording control apparatus, recording and reproduction apparatus, and recording control method |
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