JP2009169001A

JP2009169001A - 光コネクタ及び評価方法

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Publication number: JP2009169001A
Application number: JP2008005627A
Authority: JP
Inventors: Shigenori Aoki; 重憲青木
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 2008-01-15
Filing date: 2008-01-15
Publication date: 2009-07-30

Abstract

【課題】光損失の要因を簡便に評価する。
【解決手段】光の進行方向を曲げるための複数の光導波路１１ａ並びに複数の光導波路１１ｂを形成したクラッド部１０と、少なくとも一つの光導波路１１ａの両端面の対向する位置に設けられたレンズと、を備え、光導波路１１ｂの長さが光導波路１１ａの長さよりも大なる光コネクタ１００が提供される。そして、光導波路１１ｂの両端がクラッド部１０に取り付けられる光ファイバの端面に位置する。このような光コネクタ１００を用いれば、光コネクタ１００による光損失の要因を簡便に評価することができる。
【選択図】図１

Description

本発明は光コネクタ及び評価方法に関し、特に多チャネル構造の光コネクタ及び光コネクタを用いた評価方法に関する。

近年、面発光レーザ（Vertical Cavity Surface Emitting Laser，VCSEL）アレイ、並びにフォトダイオード（Photo Diode，PD）アレイを用いた光トランシーバが注目されている。

このような光トランシーバでは、多チャネル構造の光モジュールが用いられている。特に、最近では、光デバイスと光ファイバアレイとを低損失かつ低コストで接続する、小型の光モジュール部品が必要とされている。

例えば、光デバイスと光ファイバアレイとを直角に配置することのできる光コネクタの先行例がある（例えば、特許文献１参照）。この光コネクタでは、レンズによる集光機能、光導波路の９０度曲げ機能、並びに位置決め機能を一体化し、光デバイスと光ファイバ間を高効率に接続している。
特開２００５−１１５３４６号公報

しかし、上述した光コネクタに光を入力すると、出力までに光が損失してしまう。例えば、レンズの集光性の悪さ、レンズと光導波路の軸ずれ、光導波路の形状の悪さ等によって光損失が起きる。また、当該光コネクタは、集光機能、曲げ機能、並びに位置決め機能等を一体化させた部材であるために、上述した損失因子を独立させて評価・管理することが困難である。

即ち、このような損失要因は、その因子が多く、互いに作用し合うことから、損失要因が解明できず、光コネクタの品質管理が難しいという問題があった。
尚、レンズと光導波路の軸ずれにおいては、物理的な断面研磨等により測定することが可能と思われる。しかし、レンズと光導波路の夫々の光軸を測定値から決定するのは難しく、レンズと光導波路の距離が長くなるに従い、測定精度が著しく悪化してしまう。

従って、上述した光損失の原因を簡便に評価することのできる光コネクタの構築が望まれている。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、光損失の要因を簡便に評価することのできる光コネクタ及び当該光コネクタを用いた評価方法を提供することを目的とする。

上記課題を解決するために、光の進行方向を曲げるための第１の光導波路と、前記第１の光導波路と並んで配置された第２の光導波路とが形成された本体部と、前記第１の光導波路の両端面の対向する位置に設けられたレンズと、を備え、前記第２の光導波路が前記第１の光導波路よりも長いことを特徴とする光コネクタが提供される。

また、光の進行方向を曲げるための第１の光導波路と、前記第１の光導波路と並んで配置された第２の光導波路とが形成された本体部と、前記第１の光導波路の両端面の対向する位置に設けられたレンズと、を備え、前記第２の光導波路が前記第１の光導波路よりも長い光コネクタの前記第２の光導波路による第１の光損失量を測定するステップと、標準試料である、他の光コネクタの前記第２の光導波路による第２の光損失量を測定し、前記第１の光損失量と前記第２の光損失量とを比較するステップと、前記光コネクタの前記第１の光導波路並びに前記レンズによる第３の光損失量を測定し、前記第３の光損失量と前記第１の光損失量を比較するステップと、を有することを特徴とする評価方法が提供される。

上記手段によれば、光コネクタにおける光損失の要因を簡便に評価することができる。また、光コネクタの歩留まりを向上させることができる。

＜第１の実施の形態＞
以下、本実施の形態に係る光コネクタを、図面を参照して詳細に説明する。
図１は第１の実施の形態に係る光コネクタの要部模式図である。ここで、図１には、光コネクタ１００の正面模式図が例示されている。

図示するように、光コネクタ１００は、光コネクタ１００の本体である第１のクラッド部（本体部）１０と、チャネル構造を有した光導波路（コア部）１１ａ，１１ｂと、光導波路１１ａ，１１ｂを被覆する第２のクラッド部２０と、を有する構造をなしている。

ここで、クラッド部１０は、その正面に円弧状に湾曲した曲面を有し（後述）、当該曲面の一部分において、合計１２本の溝１０ｂが列状になるように形成されている。そして、当該溝１０ｂ内には、クラッド部１０に比べて高い屈折率をもつコア材（透明材料）が充填されている。このような溝１０ｂ及び充填したコア材により、合計１２本の光導波路１１ａ，１１ｂがクラッド部１０の曲面に列状になるように形成される。また、クラッド部１０及び上記コア材は、クラッド部１０とは別の部材であるクラッド部２０により被覆されている。

また、光コネクタ１００においては、これらの１２本の光導波路１１ａ，１１ｂのうち、両側に配置・配列された、夫々４個の光導波路１１ａの両端面に対向する位置に、レンズ１２を形成している。尚、光コネクタ１００においては、レンズ１２と同じ構造のレンズ（後述するレンズ１３）が光コネクタ１００の裏側に配置されている。また、これらのレンズ１２，１３は、クラッド部１０と一体的に成形加工されている。

また、このようなレンズ１２は、例えば、面型光素子をレンズ１２の直下に配置した場合、その受光面或いは発光面に真っ直ぐ向き合うようにして配設される。そして、面型発光素子から光導波路１１ａに入射する光をレンズ１２で集束することもでき、或いは光導波路１１ａから面型受光素子へ出射する光をレンズ１２で集束することもできる。即ち、光コネクタ１００は、後述する評価機能を備えると共に、光トランシーバに用いられる光コネクタ部材として機能する。

更に、光コネクタ１００においては、中央に配置・配列された４個の光導波路１１ｂを、レンズ１２を配置した光コネクタ１００の下面１０ｃから下方に延在させた構造をなしている。また、このような４個の光導波路１１ｂは、光コネクタ１００の裏側においても、光導波路１１ａより長く延在されている（後述）。即ち、光導波路１１ｂの長さは、光導波路１１ａの長さより、長く構成されている。

そして、光コネクタ１００の下面１０ｃには、固定ピン４０が貫設され、当該固定ピン４０に、光ファイバアレイ５０ａが光ファイバアレイ用コネクタ５０ｃを介して取り付けられている。

ここで、光ファイバアレイ５０ａには、合計１２個の光ファイバ５０ｆが配置されている。そして、固定ピン４０による光ファイバアレイ５０ａの位置決めにより、光ファイバアレイ５０ａの中央に配置された４個の光ファイバ５０ｆと４個の光導波路１１ｂとが、所謂バット接続（突き当て接続）により、その先端同士を直接的に接触させた構造をなしている。

また、光ファイバアレイ５０ａの両側に配置された、夫々４個の光ファイバ５０ｆにおいては、夫々の端がレンズ１２の直下に位置している。そして、レンズ１２は、光ファイバ５０ｆの出射端面或いは入射端面に真っ直ぐ向き合うようにして配設されている。

このようなレンズ１２の存在により、光ファイバ５０ｆから光導波路１１ａに入射する光６０をレンズ１２で集束し、或いは光導波路１１ａから光ファイバ５０ｆへ出射する光６０をレンズ１２で集束することができる。

尚、光導波路１１ｂから出射する光は、上記レンズ１２を介さず、直接的に光ファイバ５０ｆ内に入射させ、光ファイバ５０ｆから出射する光は、直接的に光導波路１１ｂ内に入射させることができる。

また、このような構造の光ファイバアレイ、固定ピン等は、クラッド部１０の裏側にも、取り付けられている（後述）。
また、図１では、一例として、合計１２本の光導波路１１ａ，１１ｂが列状になるように配置された構造が示されているが、その数は、特に、この数に限定されるものではない。

次に、光コネクタ１００の断面図を用いて、光コネクタ１００の構造を補説する。
図２は第１の実施の形態に係る光コネクタの要部断面模式図である。ここで、図２（ａ）には、図１における光コネクタ１００のＸ−Ｘ破線に沿った要部断面模式図が例示され、図２（ｂ）には、Ｙ−Ｙ破線に沿った要部断面模式図が例示されている。尚、以下に示す全ての図においては、図１に例示した部材を同一の部材には同一の符号を付し、一度説明した部材の再度の説明は省略する。

先ず、図２（ａ）に示すように、光コネクタ１００は、クラッド部１０と、チャネル構造を有した光導波路１１ａと、光導波路１１ａを被覆するクラッド部２０と、を有する構造をなしている。

ここで、クラッド部１０は、その表面において円弧状に湾曲した曲面１０ａを有し、当該曲面１０ａの一部分において、溝１０ｂを形成している。そして、当該溝１０ｂ内には、クラッド部１０に比べて高い屈折率をもつコア材が充填されている。また、クラッド部１０及び上記コア材は、クラッド部１０とは別の部材であるクラッド部２０により被覆されている。

また、光導波路１１ａの両端面に対向する位置に、レンズ１２，１３を形成している。また、これらのレンズ１２，１３は、クラッド部１０と一体的に成形加工されている。
そして、光コネクタ１００の下面１０ｃには、上記固定ピン４０が貫設され（図示しない）、当該固定ピン４０に、評価用に用いる光ファイバアレイ５０ａが光ファイバアレイ用コネクタ５０ｃを介して取り付けられている。また、このような光ファイバアレイ５０ａには、光ファイバ５０ｆが配置されている。

また、光コネクタ１００の裏面１０ｄには、同様に、上記固定ピン４０が貫設され（図示しない）、当該固定ピン４０に、評価用に用いる光ファイバアレイ５１ａが光ファイバアレイ用コネクタ５１ｃを介して取り付けられている。また、このような光ファイバアレイ５１ａには、光ファイバ５１ｆが配置されている。

そして、レンズ１２，１３は、光ファイバ５０ｆ，５１ｆの出射端面或いは入射端面に真っ直ぐ向き合うようにして配設されている。そして、レンズ１２，１３の存在により、光ファイバ５０ｆ，５１ｆから光導波路１１ａに入射する光６０をレンズ１２，１３で集束し、或いは光導波路１１ａから光ファイバ５０ｆ，５１ｆへ出射する光６０をレンズ１２，１３で集束することができる。

続いて、図２（ｂ）に示すように、クラッド部１０は、上述したように、その表面において円弧状に湾曲した曲面１０ａを有し、当該曲面１０ａにおいて、溝１０ｂを形成している。そして、当該溝１０ｂ内には、上記コア材が充填されている。また、クラッド部１０及びコア材は、クラッド部１０とは別の部材であるクラッド部２０により被覆されている。

また、光コネクタ１００においては、光導波路１１ｂを、レンズ１２を配置した光コネクタ１００の下面１０ｃから下方に延在させた構造をなしている。また、このような光導波路１１ｂは、光コネクタ１００の裏面１０ｄまで水平方向に延出されている。

そして、光コネクタ１００の下面１０ｃには、上記固定ピン４０が貫設され（図示しない）、当該固定ピン４０に、評価用に用いる光ファイバアレイ５０ａが光ファイバアレイ用コネクタ５０ｃを介して取り付けられている。また、光ファイバアレイ５０ａには、光ファイバ５０ｆが配置されている。そして、固定ピン４０により、光ファイバアレイ５０ａがクラッド部１０に位置決めされ、光ファイバ５０ｆと光導波路１１ｂとが、所謂バット接続により、その先端同士を直接的に接触させた構造をなしている。

また、光コネクタ１００の裏面１０ｄには、上記固定ピン４０が貫設され（図示しない）、当該固定ピン４０に、評価用に用いる光ファイバアレイ５１ａが光ファイバアレイ用コネクタ５１ｃを介して取り付けられている。また、光ファイバアレイ５１ａには、光ファイバ５１ｆが配置されている。そして、上記固定ピン４０により、光ファイバアレイ５１ａがクラッド部１０に位置決めされ、光ファイバ５１ｆと光導波路１１ｂとが、所謂バット接続により、その先端同士を直接的に接触している。即ち、光導波路１１ｂの両端は、光コネクタ１００に取り付けられた光ファイバ５０ｆ，５１ｆの端面に位置している。

尚、図２（ａ）並びに図２（ｂ）に示す、光ファイバ５０ｆ，５１ｆの端面は、レンズ１２，１３の焦点に位置している。
そして、光導波路１１ｂから出射する光は、直接的に光ファイバ５０ｆ，５１ｆ内に入射させ、光ファイバ５０ｆ，５１ｆから出射する光は、直接的に光導波路１１ｂ内に入射させることができる。

また、このような光コネクタ１００は、以下の手順により製造される。
先ず、光コネクタ１００の本体部分である、第１のクラッド部１０を、金型を用いた成形加工（射出成形）により作製する。

例えば、溝１０ｂに相当する凸部を有した第１のブロック（上金型）と、第１のブロックに衝合される第２のブロック（下金型）からなる金型で、溝１０ｂを配設したクラッド部１０を成形する（図示しない）。

ここで、上記成形により作製したクラッド部１０は、透明構造体であり、例えば、半径２．０ｍｍの１／４円弧の凸状の曲面１０ａを有し、当該曲面に沿って、例えば、幅０．０５ｍｍ、深さ０．０５ｍｍの溝１０ｂが１２本、０．２５ｍｍのピッチで並列状に形成されている。

ここで、クラッド部１０の中央には、クラッド部１０の裏面１０ｄまで、或いはクラッド部１０の下面１０ｃから延在させた４個の溝１０ｂが形成される。
また、クラッド部１０の材質は、例えば、ポリオレフィンが適用される。そして、ポリオレフィン材の屈折率は、例えば、波長８５０ｎｍで１．５である。

尚、この成形において、上述したレンズ１２，１３がクラッド部１０と併せて成形される。
例えば、両側に配置された夫々４個の溝１０ｂの両端面に対向するクラッド部１０の位置に、例えば、直径０．２５ｍｍのレンズ１２，１３が上記金型により一体的に成形される。

次に、クラッド部１０の溝１０ｂに、クラッド部材よりも屈折率の高いコア材を充填して、光導波路１１ａ，１１ｂを構成するコア部を形成する。
例えば、夫々の溝１０ｂ内に、例えば、硬化後の屈折率が１．６となる、紫外線硬化型のエポキシ樹脂を、ディスペンス法により滴下する。滴下量は、例えば、０．１ｃｃ程度とする。

続いて、クラッド部１０の曲面１０ａ及び透明材料を、例えば、厚さ０．０５ｍｍのポリオレフィン製のフィルムで被覆する。このフィルムが、上述した第２のクラッド部２０の部材に相当する。

そして、紫外線照射により、上記透明材料を硬化させる。更に、オーブン内での加熱（例えば、１２０℃、６０分）により、上記透明材料を熱硬化させる。
更に、複数の固定ピン４０を、外部からクラッド部１０の下面１０ｃ並びに裏面１０ｄに貫設する。

このような手順で、上記光コネクタ１００が製造される。
次に、上述した光コネクタ１００及び光ファイバアレイ５０ａ等を用いた光損失の評価方法について説明する。

図３は評価方法を説明するためのフロー図である。尚、この説明では、光導波路１１ａを通信用の光導波路、光導波路１１ｂを評価用の光導波路と称する。
先ず、上記光コネクタ１００に、上記光ファイバアレイ５０ａ，５１ａを取り付ける。即ち、光コネクタ１００の下面１０ｃ並びに裏面１０ｄに設置された固定ピン４０に、光ファイバアレイ用コネクタ５０ｃ，５１ｃを介して、光ファイバアレイ５０ａ，５１ａを取り付ける。

これにより、光ファイバアレイ５０ａ，５１ａの中央に配置された４個の光ファイバ５０ｆと、光コネクタ１００に配置された４個の光導波路１１ｂ（評価用の光導波路）とが、所謂バット接続をし、その先端同士を直接的に接触する。また、光ファイバアレイ５０ａ，５１ａの両側に配置された、夫々４個の光ファイバ５０ｆにおいては、その端面をレンズ１２，１３に対向するように配置される。

尚、上記のバット接続をする際には、光導波路１１ｂと光ファイバ５０ｆとの間に、屈折率整合材を配置してもよい。
そして、光ファイバアレイ５０ａの中央に配置された４個の光ファイバ５０ｆと、光コネクタ１００に配置された４個の光導波路１１ｂと、光ファイバアレイ５１ａの中央に配置された４個の光ファイバ５０ｆと、により構成される４個のラインの一方の端から他方の端へ、光（波長：８５０ｎｍ）を進行させる。そして、当該４個のラインにおける光損失量を外付けされた測定器により測定する（ステップＳ１ａ）。

また、光損失が極めて少ない標準試料用の光コネクタを別途、準備し、標準試料の光コネクタ（評価用の光導波路）を用いて、上記と同様の方法により、中央の４個のラインを使用した場合の光損失量を測定する（ステップＳ１ｂ）。尚、標準試料の光コネクタは、上記光コネクタ１００と同一の部材を有している。

そして、光コネクタ１００により測定した損失量と、標準試料の光コネクタにより測定した損失量とを比較する（ステップＳ１）。
次に、光コネクタ１００により測定した損失量が所定の目的値より大きい場合には、光ファイバアレイ用コネクタ５０ｃ，５１ｃの嵌合状態を確認し、または、光コネクタ１００の両側に配置・配列された８個の光導波路１１ａ自体の品質を確認する（ステップＳ１ｃ）。

ここで光導波路１１ｂを使用した場合の損失量から、光導波路１１ａの品質を間接的に推測できるのは、光導波路１１ａ，１１ｂを構成する溝１０ｂが同じ金型面により成形され、光導波路１１ａ，１１ｂを構成する溝１０ｂに同じコア材が充填されているからである。

そして、光ファイバアレイ用コネクタ５０ｃ，５１ｃの嵌合状態の修正後、光コネクタ１００による損失量が所定の目的値以下である場合は、次のステップに進む。
或いは、光導波路１１ａ自体の品質の修正を製造プロセスにフィードバックさせ、光コネクタ１００による損失量が所定の目的値以下となった場合には、次のステップに進む。

尚、中央の光導波路１１ｂを使用した場合の損失量は、次のステップで使用される。
次に、光ファイバアレイ５０ａの両側に配置された、夫々４個の光ファイバ５０ｆと、光コネクタ１００の両側に配置された、夫々４個の光導波路１１ａ（通信用の光導波路）と、光ファイバアレイ５１ａの両側に配置された、夫々４個の光ファイバ５０ｆと、により構成される８個のラインの一方の端から他方の端へ、光（波長：８５０ｎｍ）を進行させる。そして、当該８個のラインにおける光損失量を外付けされた測定器により測定する（ステップＳ２ａ）。

更に、光導波路１１ａ並びにレンズ１２，１３を使用した場合の損失量と、光導波路１１ａを使用した場合の損失量とを比較する（ステップＳ２）。
例えば、光導波路１１ａ並びにレンズ１２，１３を使用した場合の損失量と、光導波路１１ａを使用した場合の損失量を比較し、その差が大きければ、光損失は、クラッド部１０に備えたレンズ１２，１３と光導波路１１ａとの軸ずれ、または、レンズ１２，１３自体の品質が起因していると判断できる。

具体的には、レンズ１２，１３を備えた、上記８個のラインでの損失量が２．０〜２．５ｄＢであり、中央の光導波路１１ｂを使用した場合の上記４個のラインでの損失量が０．８〜１．１ｄＢであるとする。

また、各ラインにおける、反射損失量が所定の量検出され、当該反射損失量が０．５ｄＢであるとする。従って、上記８個のラインによる損失量から、上記４個のラインによる損失量及び反射損失量を除算すると、クラッド部１０にレンズ１２，１３を備えたことによる損失量が０．７〜１．２ｄＢと算出することができる。

尚、各ラインにおける反射損失量が極めて少なく、０ｄＢに近い場合は、当該反射損失量を上記の値から差し引く必要はない。
そして、レンズ１２，１３を備えたことによる損失量が目的値より、大きい場合は、レンズ１２，１３と光導波路１１ａとの光軸のずれの確認を行い、その修正を行う。或いは、レンズ１２，１３の集光性等を確認し、その修正を行う（ステップＳ２ｂ）。

また、レンズ１２，１３を備えたことによる損失量が目的値以下である場合は、製造した光コネクタ１００を合格製品だと認定する（ステップＳ３）。
このような方法により、光コネクタ１００が評価され、最終的に良品が製造される。

＜第１の実施の形態の変形例＞
図４は第１の実施の形態の変形例に係る光コネクタの要部模式図である。ここで、図４（ａ）には、光コネクタの正面模式図が例示され、図４（ｂ）には、光コネクタの下面模式図が例示されている。尚、図４では、光ファイバアレイ用コネクタ５１ｃ、光ファイバアレイ５１ａ、光ファイバ５１ｆが光コネクタ２００の裏面側に設置されているために、光ファイバアレイ用コネクタ５１ｃ、光ファイバアレイ５１ａ、光ファイバ５１ｆが表示されていない。

光コネクタ２００においては、中央に配置・配列された４個の光導波路１１ｂの長さが両側に配置・配列された８個の光導波路１１ａの長さよりも長い構成としている。また、中央に配置・配列された４個の光導波路１１ｂの片端面を、両側に配置・配列された８個の光導波路１１ａの片端面の高さと一致させている。また、その片端面に対向する位置（下面１０ｃ）に、十字状のマーク１４を配置している。

例えば、クラッド部１０の下面１０ｃに配設された複数のレンズ１２の間に、横一列となるように十字状のマーク１４が４個形成されている。即ち、クラッド部１０の主面（下面１０ｃ）に、２組に分かれた４個のレンズ１２と、４個のマーク１４とが直列状に並設されている。従って、当該マーク１４部分に、光導波路１１ｂ内を進行する光を投影し、そのずれを観察することにより、光導波路１１ａとレンズ１２、１３との光軸のずれを間接的に評価することができる。

また、このようなマーク１４の表面には、マーク１４に光が照射されたとき、当該マーク１４部分において光が充分に散乱するように、例えば、すりガラス加工、被膜によるハーフミラー加工等の表面処理が施されている。即ち、光導波路１１ｂを進行する光を散乱させるための層が当該マーク１４部分上に設けられている。

尚、図４では、当該層として、ハーフミラー機能を有する金属膜３０をマーク１４上に形成させた状態が例示されている。
また、このようなマーク１４は、上記成形により、一体的にクラッド部１０の下面１０ｃに形成される。また、マーク１４の形状は、縦横に直行させた溝の長さが０．２０ｍｍであり、幅が０．０５ｍｍであり、深さが０．０５ｍｍである。

そして、マーク１４部分へ光６０を光導波路１１ｂを介して出射させ、金属膜３０に投影させた光６０の像を、マーク１４直下に配置したＣＣＤ（Charge Coupled Device）カメラ７０で観察する。

図５は金属膜に投影させた光の像を説明する図である。
例えば、図５（ａ）に示すように、光６０の像の中心とマーク１４の中心とが一致している場合は、光コネクタ２００には、光損失がなく、光コネクタ２００は、正常に製造されたと判断できる。従って、正常と判断された当該光コネクタ２００を含むロットにおいては、全ての光コネクタ２００が正常に機能すると簡便に判断することができる。

ところが、図５（ｂ）に示すように、光６０の像の中心とマーク１４の中心とが一致せず、光６０の像の中心を結ぶ線Ｘ−Ｙが４個のマーク１４の中心からずれている場合は、光コネクタ２００において、上述した光損失が発生していると簡便に推定できる。この場合、光６０の像の中心を結ぶ線Ｘ−Ｙと４個のマーク１４の中心とのずれの程度から、光コネクタ２００における光軸のずれの方向とずれの量が簡便に推定できる。

そして、このようなずれが観察された場合、当該ずれの方向と当該ずれの量に基づき、光コネクタ２００と光ファイバアレイ用コネクタ５１ｃとの嵌合状態を調査し、当該嵌合状態に異常がなければ、光コネクタ２００自体に光損失を発生させる要因があると推定できる。

更に、当該ずれの方向と当該ずれの量に基づき、上述した金型の嵌合状態、内形状等を調査する。また、光導波路１１ａ自体の品質について調査する。そして、これらに異常がないときは、レンズ１２，１３と光導波路１１ａの軸ずれ、レンズ１２，１３の集光性等を調査する。

このように、光コネクタ１００，２００は、レンズ１２，１３による集光機能、光導波路１１ａによる光６０の曲げ機能、固定ピン４０による位置決め機能等を一体化させた部材であるにも係らず、光導波路１１ａを使用した場合の光損失量と光導波路１１ｂを使用した場合の光損失量との比較、或いは、光６０の像の中心を結ぶ線Ｘ−Ｙと４個のマーク１４の中心とのずれの程度を調査することにより、光コネクタ１００，２００における光損失の要因を簡便に評価することができる。

また、上記構造の光コネクタ１００，２００であれば、光コネクタ１００，２００の出荷前における検査、または製造プロセスへのフィードバック等の品質管理に有利に働く。即ち、光コネクタ１００，２００の歩留まりを向上させることができる。

また、光ファイバアレイ用コネクタ５０ｃ，５１ｃは、クラッド部１０から簡便に脱着可能なので、上記評価は簡便に実施できる。
尚、上記の実施の形態に例示された数値は、特に、例示された数値に限定されるものではなく、必要に応じて、その数を変更することも可能である。

第１の実施の形態に係る光コネクタの要部模式図である。第１の実施の形態に係る光コネクタの要部断面模式図である。評価方法を説明するためのフロー図である。第１の実施の形態の変形例に係る光コネクタの要部模式図である。金属膜に投影させた光の像を説明する図である。

符号の説明

１０，２０クラッド部
１０ａ曲面
１０ｂ溝
１０ｃ下面
１０ｄ裏面
１１ａ，１１ｂ光導波路
１２，１３レンズ
１４マーク
３０金属膜
４０固定ピン
５０ａ，５１ａ光ファイバアレイ
５０ｃ，５１ｃ光ファイバアレイ用コネクタ
５０ｆ，５１ｆ光ファイバ
６０光
７０ＣＣＤカメラ
１００，２００光コネクタ

Claims

光の進行方向を曲げるための第１の光導波路と、前記第１の光導波路と並んで配置された第２の光導波路とが形成された本体部と、
前記第１の光導波路の両端面の対向する位置に設けられたレンズと、
を備え、
前記第２の光導波路が前記第１の光導波路よりも長いことを特徴とする光コネクタ。
前記第２の光導波路の一端が、前記本体部に取り付けられる光ファイバの端面と対向する位置に配置されることを特徴とする請求項１記載の光コネクタ。
前記レンズの焦点が前記端面に位置していることを特徴とする請求項１または２記載の光コネクタ。
前記本体部が、前記光ファイバを前記本体部に取り付ける固定ピンを有することを特徴とする請求項２記載の光コネクタ。
光の進行方向を曲げるための第１の光導波路と、前記第１の光導波路と並んで配置された第２の光導波路とが形成された本体部と、前記第１の光導波路の両端面の対向する位置に設けられたレンズと、を備え、前記第２の光導波路が前記第１の光導波路よりも長い光コネクタの前記第２の光導波路による第１の光損失量を測定するステップと、
標準試料である、他の光コネクタの前記第２の光導波路による第２の光損失量を測定し、前記第１の光損失量と前記第２の光損失量とを比較するステップと、
前記光コネクタの前記第１の光導波路並びに前記レンズによる第３の光損失量を測定し、前記第３の光損失量と前記第１の光損失量を比較するステップと、
を有することを特徴とする評価方法。