JP2009140583A - 光ディスク描画装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】光ディスクに描画を行う際に、安定したトラッキングサーボ制御を行うことのできる技術を提供する。
【解決手段】描画信号生成部51は、ホスト機器10から供給される画像データをエンコードすることで、その画像データを構成する画素の階調データに応じてデューティが変化するパルス信号を生成する。レーザドライバ48はこのデューティが変化するパルス信号に応じてレーザ光を変調し、光ディスク1の描画層の可視光特性を変化させて描画を行う。また、描画信号生成部51は、生成したパルス信号を、光ディスク1が1回転するのに要する時間だけ遅延させてトラッキングエラー生成部53に供給する。トラッキングエラー生成部53は、レーザ光の反射光と描画信号生成部51から供給される遅延されたパルス信号とに応じてトラッキングエラー信号を生成する。トラッキングサーボ44は、トラッキングエラー信号に応じてトラッキングサーボ制御を行う。
【選択図】図10
【解決手段】描画信号生成部51は、ホスト機器10から供給される画像データをエンコードすることで、その画像データを構成する画素の階調データに応じてデューティが変化するパルス信号を生成する。レーザドライバ48はこのデューティが変化するパルス信号に応じてレーザ光を変調し、光ディスク1の描画層の可視光特性を変化させて描画を行う。また、描画信号生成部51は、生成したパルス信号を、光ディスク1が1回転するのに要する時間だけ遅延させてトラッキングエラー生成部53に供給する。トラッキングエラー生成部53は、レーザ光の反射光と描画信号生成部51から供給される遅延されたパルス信号とに応じてトラッキングエラー信号を生成する。トラッキングサーボ44は、トラッキングエラー信号に応じてトラッキングサーボ制御を行う。
【選択図】図10
Description
本発明は、光ディスクに描画を行うための技術に関する。
近年の光ディスク装置には、CD−R(Compact Disk Recordable)などの光ディスクに対し、オーディオ等のデータを記録するという記録機能に、文字や図形等の可視画像を形成するという画像形成機能が付加されたものがある。この種の光ディスク装置は、データを記録する記録面にレーザ光を照射して、記録面の一部を熱変色させることにより、文字や図形等の可視画像を形成するというものである。例えば、特許文献1には、光ピックアップから出射されるレーザ光を該光ディスクのデータ記録層に形成されたグルーブ(プリグルーブ)にトラッキング制御し、該レーザ光を描画信号で変調することにより、データ記録層の可視光特性を変化させて、該データ記録層に描画信号に応じた可視画像を描画する方法が提案されている。特許文献1に記載の方法によれば、トラッキング制御しながら緻密なピッチで描画できる。
特開2004−355764号公報
ところで、光ディスクのトラッキング制御方法として3ビーム法や位相差法が知られている。3ビーム法は主スポットのディスク外周側に配置される先行サイドスポットが未記録領域に配置されるのに対し、主スポットのディスク内周側に配置される後行サイドスポットが記録済領域に配置されるので、両サイドスポットで反射量が異なり、両反射光量差として検出されるトラッキングエラー信号にオフセットが生じる。この場合、データ記録であれば、記録済領域にピットが満遍なく形成されているので、オフセットは一定量を保つ。しかし、描画の場合は、描画済領域でも画像がある部分とない部分があり、後行サイドスポットが画像のある部分から画像のない部分に突入する際又は画像のない部分から画像のある部分に突入する際に、トラッキングエラーが急激に変動し、トラッキングサーボが不安定になる場合がある。特に、画像を高コントラストで描画して視認性を向上させるためにグルーブに太幅で描画したり、描画前後の反射率比を大きくした場合には、この傾向が強まり、トラッキングサーボがより一層不安定になる。位相差法は上述の3ビーム法の問題は生じないが、ピットのエッジを利用してトラッキングエラーを検出するので、エッジがないグルーブのトラッキングには利用することができない。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、光ディスクに描画を行う際に、安定したトラッキングサーボ制御を行うことのできる技術を提供することを目的としている。
上記課題を解決するため、本発明は、熱又は光により変色する描画層を有する光ディスクを回転させる回転手段と、前記光ディスクの径方向に移動可能で、前記回転手段によって回転させられる光ディスクにレーザ光を照射する照射手段と、供給される描画信号に応じて、前記描画層を変色させるレベルのレーザ光と前記描画層を変色させないレベルのレーザ光とを前記照射手段から前記描画層に照射させる描画手段と、前記描画手段に供給された描画信号のうちの前記レーザ光の照射位置の近傍の位置に対応する描画信号と該レーザ光の反射光とに基づいてトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段と、前記トラッキングエラー信号生成手段により生成されたトラッキングエラー信号に基づいて、前記照射手段から照射されるレーザ光の照射位置を制御するトラッキングサーボ手段とを具備することを特徴とする光ディスク描画装置を提供する。
上述の態様において、前記照射手段は、メインビーム、後行サブビーム及び先行サブビームの3つのレーザ光を前記光ディスクに照射し、前記トラッキングエラー信号生成手段は、前記描画手段に供給された描画信号のうちの前記後行サブビームの照射位置の近傍の位置に対応する描画信号と前記レーザ光の反射光とに基づいて、トラッキングエラー信号を生成してもよい。
上述の態様において、前記トラッキングエラー信号生成手段は、前記描画手段に供給された描画信号のうちの前記レーザ光の照射位置の径方向の近傍の位置に対応する描画信号と前記レーザ光の反射光とに基づいて前記トラッキングエラー信号を生成してもよい。
上述の態様において、前記トラッキングエラー信号生成手段は、前記照射手段により前記描画層に照射されたレーザ光の反射光の光量に応じた信号を出力する信号出力手段と、前記描画手段に供給された描画信号のうちの前記照射手段により照射されたレーザ光の照射位置の近傍の位置に対応する描画信号に応じて、前記信号出力手段により出力される信号のレベルを調整するレベル調整手段と、前記レベル調整手段により調整された信号のレベルに基づいたトラッキングエラー信号を生成する生成手段とを具備してもよい。
上述の態様において、前記レベル調整手段は、前記照射手段により照射されたレーザ光の照射位置の近傍の位置に対応する描画信号に応じて、前記信号出力手段により出力される信号のゲインを調節してもよい。
上述の態様において、前記レベル調整手段は、前記照射手段により照射されたレーザ光の照射位置の近傍の位置に対応する描画信号に応じた量のオフセットを、前記信号出力手段により出力される信号に加算してもよい。
上述の態様において、前記描画手段に供給される描画信号を、予め定められた時間だけ遅延させて出力する遅延手段を具備し、前記トラッキングエラー信号生成手段は、前記照射手段により前記描画層に照射されたレーザ光の反射光と前記遅延手段から出力される描画信号とに基づいてトラッキングエラー信号を生成してもよい。
上述の態様において、前記遅延手段は、前記描画手段に供給される描画信号を、前記光ディスクの1回転に要する時間だけ遅延させて出力してもよい。
上述の態様において、前記遅延手段は、前記描画手段に供給される描画信号を、前記光ディスクの1回転に要する時間だけ遅延させて出力してもよい。
上述の態様において、前記描画手段に供給される描画信号を、前記メインビームと前記後行サブビームの照射位置のディスク円周方向の距離に対応する時間だけ遅延させて出力する遅延手段を具備し、前記トラッキングエラー信号生成手段は、前記照射手段により前記描画層に照射されたレーザ光の反射光と前記遅延手段から出力される描画信号とに基づいてトラッキングエラー信号を生成してもよい。
上述の態様において、前記遅延手段は、前記描画手段に供給される描画信号を、前記メインビームと前記後行サブビームの照射位置のディスク円周方向の距離と前記レーザ光のディスク径方向の照射位置とに応じた時間だけ遅延させて出力してもよい。
前記描画手段に供給される描画信号を、それぞれ異なる予め定められた時間だけ遅延させて出力する複数の遅延手段を具備し、前記トラッキングエラー信号生成手段は、前記照射手段により前記描画層に照射されたレーザ項の反射光と前記複数の遅延手段のそれぞれから出力される描画信号とに基づいてトラッキングエラー信号を生成してもよい。
上述の態様において、前記複数の遅延手段は、前記描画手段に供給される描画信号を、前記光ディスクの1回転に要する時間だけ遅延させて出力する第1の遅延手段と、前記描画手段に供給される描画信号を、前記照射手段が照射するメインビームと後行サブビームの照射位置のディスク円周方向の距離と前記レーザ光のディスク径方向の照射位置とに応じた時間だけ遅延させて出力する第2の遅延手段とを含んでもよい。
また、上述の態様において、前記描画手段と前記遅延手段とは、それぞれ異なるクロック信号に基づいて信号出力を行ってもよい。
また、上述の態様において、前記描画手段と前記遅延手段とは、それぞれ異なるクロック信号に基づいて信号出力を行ってもよい。
本発明によれば、光ディスクに描画を行う際に、安定したトラッキングサーボ制御を行うことができる。
(1)第1実施形態
本実施形態に係る光ディスク記録装置12は、光ディスクに対して例えば音楽データ等のデータを記録する機能(データ記録)と、その光ディスクに利用者が視認し得る画像を描く機能(描画機能)とを有している。以下の説明では、はじめに、光ディスクそのものの構成を説明し、その次に、光ディスク記録装置12を含むシステムについての説明を行う。
本実施形態に係る光ディスク記録装置12は、光ディスクに対して例えば音楽データ等のデータを記録する機能(データ記録)と、その光ディスクに利用者が視認し得る画像を描く機能(描画機能)とを有している。以下の説明では、はじめに、光ディスクそのものの構成を説明し、その次に、光ディスク記録装置12を含むシステムについての説明を行う。
(1−1)構成
(1−1−1)光ディスクの構成
図1は、本実施形態に係る光ディスクの一例として、DVD−Rタイプの断面図を示している。光ディスク1においては、記録面Dからレーベル面Lに向かって順番に、ポリカーボネート層101、データ記録層103、反射層104、中間層105、反射層106、描画層107及びポリカーボネート層108が積層されている。光ディスク1の厚さはおおよそ1.2(mm)であるが、そのうちポリカーボネート層101及びポリカーボネート層108がそれぞれ0.6(mm)程度を占めており、データ記録層103から描画層107までの距離Δd1は微少である。
(1−1−1)光ディスクの構成
図1は、本実施形態に係る光ディスクの一例として、DVD−Rタイプの断面図を示している。光ディスク1においては、記録面Dからレーベル面Lに向かって順番に、ポリカーボネート層101、データ記録層103、反射層104、中間層105、反射層106、描画層107及びポリカーボネート層108が積層されている。光ディスク1の厚さはおおよそ1.2(mm)であるが、そのうちポリカーボネート層101及びポリカーボネート層108がそれぞれ0.6(mm)程度を占めており、データ記録層103から描画層107までの距離Δd1は微少である。
データ記録層103の記録面D側には、螺旋状のグルーブ(案内溝)102が形成されている。データ記録時には、図1(a)に示すように、記録面D側からレーザ光が照射される。データ記録時には、図1(a)に示すように、対物レンズ33aの位置が矢印P方向の適切な位置に調整され、反射層104からの反射光に基づいて、データ記録層103にレーザ光の焦点が合わせられる。そして、記録すべきデータに応じた強度のレーザ光が、データ記録層103のグルーブ102に沿って照射される。このときレーザ光が照射された箇所にはデータ長に対応するピットが形成される。これによりデータ記録が行われる。
描画層107のレーベル面L側には、螺旋状のグルーブ109が形成されている。描画層107は、或る強度のレーザ光が照射されると変色する物質によって形成されている。描画時には、図1(b)に示すように、対物レンズ33aの位置が矢印P方向の適切な位置に調整され、反射層106からの反射光に基づいて描画層107にレーザ光laの焦点が合わせられ、描画すべき画像に応じた強度のレーザ光が描画層107のグルーブ109に沿って照射される。或る強度のレーザ光laが照射されると、レーザ光laが照射された描画層107の領域が変色する。この変色した領域と変色していない領域によって、ユーザが視認可能な画像が形成される。なお、図1(b)では、描画層107に焦点が合わせられたレーザ光laが照射されている場合を示している。このように、本実施形態では、描画層107にグルーブ109が形成された光ディスク1に対して描画を行う。
(1−1−2)システムの全体構成
本実施形態に係るシステムは、図2に示すように、ホスト機器10と光ディスク記録装置12とを相互に通信可能な状態に接続して構成される。光ディスク記録装置12は、ホスト機器10に内蔵する形式でも外付けする形式でもよい。光ディスク記録装置12には、前述した光ディスク1が装填される。
本実施形態に係るシステムは、図2に示すように、ホスト機器10と光ディスク記録装置12とを相互に通信可能な状態に接続して構成される。光ディスク記録装置12は、ホスト機器10に内蔵する形式でも外付けする形式でもよい。光ディスク記録装置12には、前述した光ディスク1が装填される。
光ディスク記録装置12において、スピンドルモータ30は光ディスク1を回転させる。スピンドルサーボ32は、スピンドルモータ30の回転を、記録時は線速度一定に制御し(CLV制御)、描画時は回転数一定に制御する(CAV制御)。光ピックアップ34(光ヘッド)は、ステッピングモータ36で駆動される送りねじ等による送り機構38により、光ディスク1の径方向(図中左右方向)に移動される。光ピックアップ34は、スピンドルモータ30によって回転させられる光ディスクにレーザ光を照射する。モータドライバ40はシステム制御部56の指令に基づきステッピングモータ36を駆動する。
ステッピングモータ36は、例えば図3に示す形式の2相ステッピングモータによって構成される。この2相ステッピングモータ36は、2つのコイル36a,36bを備えており、モータドライバ40を構成する各ドライバ40a,40bから各コイル36a,36bに印加される2相の駆動パルスによりバイポーラ駆動される。この2相ステッピングモータ36をフルステップ駆動する場合に、各コイル36a,36bに印加する駆動パルスA,Bの電圧波形を図4に示す。この駆動パルスA,Bはデューティがともに50%で極性が交互に切り替わる、位相が相互に90°ずれた方形波信号である。この駆動パルスA,Bを使用することにより、ロータ37は1ステップにつき90°ずつ回転する。ステッピングモータ36の駆動方式にマイクロステップ駆動方式を用いることにより、1ステップあたりの回転角度を小さくすることができる。2相ステッピングモータ36をマイクロステップ駆動する場合に各コイル36a,36bに印加する駆動パルスA,Bの電圧波形の一例を図5に示す。図5は1フルステップあたりの分割数を「4」とした場合の波形であり、この駆動パルスを使用することにより、ロータ37は1マイクロステップにつき、フルステップ駆動の場合の1ステップの1/4の移動量(=22.5°)ずつ回転する。
再び図2において、フォーカスサーボ42は、データ記録時及び描画時に光ピックアップ34のフォーカス制御を行う。トラッキングサーボ44は、データ記録時及び描画時に光ピックアップ34のトラッキングサーボ制御を行う。ここでは、トラッキングサーボ44は、いわゆる3ビームトラッキング方式によってトラッキングサーボ制御を行う。すなわち光ピックアップ34は、先行サブビーム、メインビーム、後行サブビームの3つのレーザ光を光ディスク1に照射し、トラッキングサーボ44は、光ディスク1に照射された先行サブビーム、メインビーム及び後行サブビームのそれぞれの反射光に基づいてトラッキングサーボ制御を行う。レーザドライバ48は、データ記録時及び描画時に光ピックアップ34のレーザダイオードを駆動する。ALPC(Automatic Laser Power Control)回路50は、データ記録時及び描画時にレーザパワーをそれぞれ指令された値に制御する。
描画信号生成部51は、描画時において、画像データをエンコードすることで、当該画像データを構成する画素の階調データに応じてデューティが変化するパルス信号(描画信号)を生成する。レーザドライバ48はこのデューティが変化するパルス信号に応じてレーザ光を変調し、光ディスク1の描画層の可視光特性を変化させて(つまり変色させて)、モノクロ多階調による描画を行う。このように、レーザドライバ48は、描画信号生成部51から供給される描画信号に応じて、光ディスク1の描画層を変色させるレベルのレーザ光と描画層を変色させないレベルのレーザ光とを光ピックアップ34から照射させる。
また、描画信号生成部51は、このパルス信号を一定時間遅延させたパルス信号をトラッキングエラー生成部53に供給する。トラッキングエラー生成部53に供給されたパルス信号は、トラッキングエラー信号を補正するために用いられる(詳細は後述する)。クロック生成部54は、フレーム化を実行するための各種のクロック信号を描画信号生成部51に供給する。描画信号生成部51によってエンコードされて生成された描画信号は、クロック生成部54から供給されるクロック信号に応じたタイミングで出力される。
フォーカスエラー生成部52は、レーザ光の戻り光に基づいてフォーカス制御のフィードバック制御を行うためのフォーカスエラー信号を生成する。トラッキングエラー生成部53は、データ記録時には、光ピックアップ34により光ディスク1の描画層に照射されたレーザ光の反射光に基づいてトラッキングエラー信号を生成する。一方、描画時には、トラッキングエラー生成部53は、描画層に照射されたレーザ光の反射光に基づくとともに、レーザ光の照射位置の近傍に変色された領域があるか否かに基づいてトラッキングエラー信号を生成する。すなわち、トラッキングエラー生成部53は、描画時には、光ピックアップ34により光ディスク1の描画層に照射されたレーザ光の反射光と、レーザドライバ48に供給された描画信号のうちのレーザ光の照射位置の近傍の位置に対応する描画信号とに基づいて、トラッキングエラー信号を生成する。
ホスト機器10は、データ記録時及び描画時に、操作者による指令を光ディスク記録装置12に送信する。この指令はインタフェース58を介してシステム制御部56に送信される。システム制御部56は該指令に応じた指令を光ディスク記録装置12内の各回路に送り、該当する動作を実行させる。例えばデータ記録時には、ホスト機器10は、記録データを光ディスク記録装置12に送信する。この記録データは、光ディスク記録装置12のインタフェース58で受信され、システム制御部56によってFIFO形式のバッファメモリ60に書き込まれる。そして、システム制御部56は、バッファメモリ60から記録データを読み出し描画信号生成部51に供給する。描画信号生成部51は、上述したエンコード処理を実行してレーザドライバ48に供給する。一方、描画時においては、ホスト機器10は、画像データを光ディスク記録装置12に送信する。この画像データは、インタフェース58で受信され、システム制御部56によってバッファメモリ60に書き込まれる。システム制御部56は、バッファメモリ60から画像データを読み出し、描画信号生成部51に供給する。描画信号生成部51は、上述したエンコード処理を実行してパルス信号(描画信号)を生成し、レーザドライバ48に供給する。
(1−1−3)描画信号生成部51の構成
次に、図6を参照して描画信号生成部51の構成を説明する。図6は描画信号生成部51の構成を示す図である。図6において、CDエンコーダ64には、データ記録時は記録データ、描画時は画像データが入力される。CDエンコーダ64は、記録データや画像データを光ディスク1の形式に応じたフォーマットにエンコードする。CDエンコーダ64は、描画時における画像データを、データ記録時の記録データと同様に扱って処理をする。ただし、インタリーブ処理を行わないようにすることもできる。インタリープ処理を行わない場合は、CDエンコーダ64は画像データをインタリープ処理をせずにそのままEFM(Eight to Fourteen Modulation)変調し、さらに、同期処理や、パリティデータおよびマージンビットの付加処理や、NRZI変換処理を施して、1EFMフレームを構成する記録信号を連続して作成する。ここで、1EFMフレームのデータには、1画素分の画像データ(その画素の階調を表す階調データ)が含まれている。本実施形態では、1画素のデータを1EFMフレーム長で表すようにしている。CDエンコーダ64には、フレーム化を実行するために、クロック生成部54から各種のクロック信号ENCCKが供給される。描画信号生成部51によってエンコードされて生成されたNRZI信号は、クロック生成部54から供給されるクロック信号に応じたタイミングで出力される。
次に、図6を参照して描画信号生成部51の構成を説明する。図6は描画信号生成部51の構成を示す図である。図6において、CDエンコーダ64には、データ記録時は記録データ、描画時は画像データが入力される。CDエンコーダ64は、記録データや画像データを光ディスク1の形式に応じたフォーマットにエンコードする。CDエンコーダ64は、描画時における画像データを、データ記録時の記録データと同様に扱って処理をする。ただし、インタリーブ処理を行わないようにすることもできる。インタリープ処理を行わない場合は、CDエンコーダ64は画像データをインタリープ処理をせずにそのままEFM(Eight to Fourteen Modulation)変調し、さらに、同期処理や、パリティデータおよびマージンビットの付加処理や、NRZI変換処理を施して、1EFMフレームを構成する記録信号を連続して作成する。ここで、1EFMフレームのデータには、1画素分の画像データ(その画素の階調を表す階調データ)が含まれている。本実施形態では、1画素のデータを1EFMフレーム長で表すようにしている。CDエンコーダ64には、フレーム化を実行するために、クロック生成部54から各種のクロック信号ENCCKが供給される。描画信号生成部51によってエンコードされて生成されたNRZI信号は、クロック生成部54から供給されるクロック信号に応じたタイミングで出力される。
ストラテジ回路65は、CDエンコーダ64によりエンコードされた記録データ又は画像データに対して時間軸補正処理等を行い、ライトレベルのレーザ光の照射を制御するためのライト系制御信号を出力する。すなわち、ストラテジ回路65は、描画時においては、CDエンコーダ64から供給される画像データに基づいて、ライトレベル及びリードレベルのいずれかの照射レベルを示す駆動信号を生成する。
スイッチ回路69,71は、システム制御部56から供給される信号SELに基づいてデータ記録時と描画時とで切り換えられる。まず、データ記録時には、スイッチ回路69のスイッチは図中上側にたおされる。すなわち、データ記録時には、スイッチ回路69からは、ストラテジ回路65から出力される駆動信号がそのまま出力される。一方、描画時には、スイッチ回路69のスイッチは図中下側にたおされる。すなわち、描画時には、ゲート回路68から出力される信号がスイッチ回路69から出力される。
識別器66は、描画時には、CDエンコーダ64から出力されるデータをEFM復調して、1EFMフレームにつき1画素分ずつ、その画素の階調データを取得する。そして、識別器66は、周期が1EFMフレーム長で、デューティがこの取得した画索ごとの階調データに応じて変化するパルス信号DOTXを出力する。このパルス信号DOTXは時間軸伸張器67によって伸張されてゲート回路68の一方の入力端に入力される。したがって、描画時において、ゲート回路68は、1EFMフレーム周期ごとに、対応する画素の階調値に応じた時間だけゲートを開いて、他方の入力端に入力されているストラテジ回路65を介されたCDエンコーダ64の出力信号(NRZI変換されたEFM信号で、デューティ約50%の信号)をその時間だけ通過させる。このゲート回路68から出力されるNRZI信号の断片信号WEN(1つの画素を描画する描画信号)は、そのデータ自体はもはや意味を持たないが、ゲート回路68の一方に入力される信号はNRZI信号であるので、デューティは約50%である。したがって、1画素に対応する1EFMフレーム周期中にゲート回路68を通過するNRZI断片信号WENの1EFMフレーム長に対するデューティ(1EFMフレーム長に対する、その期間にゲート回路68を通過するNRZI断片信号WENのパルス幅の合計値の比率)は、パルス信号DOTXのデューティに対応したもの、すなわち対応する画素の階調値に対応したものとなる。
描画時にゲート回路68から出力されるNRZI断片信号WENは、描画信号としてレーザドライバ48に供給される。レーザドライバ48は、この描画信号WENに応じてレーザダイオードを駆動してレーザ光のパワーを2値に変調し、光ディスク1の描画層に照射する。具体的には、レーザドライバ48は、描画信号WENが“H”レベルの区間ではレーザパワーを描画するレベルに上げ、描画信号WENが“L”レベルの区間ではレーザパワーを描画されないレベルに下げる。この場合、1EFMフレーム長に相当する光ディスク1上での周方向の距離(すなわち1画素を描画するのに割り当てられた周方向の長さ)はきわめて短いので、描画された1つの画素は人の目には1つの点(ドット)として認識されることになる。デューティが高いほど淡い描画として感じられる。このようにして、光ディスク1の描画層に形成される画像において階調を表現することができる。
ここで、描画時に時間軸伸張器67から出力されるパルス信号DOTXのデューティの設定について、図7,8を参照して説明する。
図7は、EFMフレームのデータ構造とパルス信号DOTXとの関係を示したものである。図7(a)の「ビット列」はNRZI信号のフォーマットを表し、図中の数字はビット数である。図7(b)の「データ構造」はEFMフレームのデータ構造を表す。「EFM sync」は、EFMフレームの区切りを示すシンクパターン、「D0」〜「D23」はデータ、「P0」〜「P3」はPパリティ、「Q0」〜「Q3」はQパリティ、「m」はマージンビットである。このEFMフレームのデータ構造自体はデータ記録用も描画用も同じである。データ記録用と描画用とで異なるのは、データD0〜D23の内容である。すなわち、データ記録用のデータD0〜D23は記録する情報を表すデータであるのに対し、描画用のデータD0〜D23はこの1EFMフレームに割り当てられた1画素の階調に応じたデータである。
図7は、EFMフレームのデータ構造とパルス信号DOTXとの関係を示したものである。図7(a)の「ビット列」はNRZI信号のフォーマットを表し、図中の数字はビット数である。図7(b)の「データ構造」はEFMフレームのデータ構造を表す。「EFM sync」は、EFMフレームの区切りを示すシンクパターン、「D0」〜「D23」はデータ、「P0」〜「P3」はPパリティ、「Q0」〜「Q3」はQパリティ、「m」はマージンビットである。このEFMフレームのデータ構造自体はデータ記録用も描画用も同じである。データ記録用と描画用とで異なるのは、データD0〜D23の内容である。すなわち、データ記録用のデータD0〜D23は記録する情報を表すデータであるのに対し、描画用のデータD0〜D23はこの1EFMフレームに割り当てられた1画素の階調に応じたデータである。
図7(c)の「DOTX」はパルス信号DOTXである。このパルス信号DOTXは、1EFMフレーム長を区間0〜23に24等分して、該分割された区間単位で“H”レベル又は“L”レベルに設定される(デューティが0〜100%まで変化する)信号である。図7において矢印で示すように、データD0〜D23は、パルス信号DOTXの区間0〜23にそれぞれ対応づけられている。そして、データD0〜D23が特定のコードの場合にパルス信号DOTXの対応する分割区間が“H’レベルに設定され、それ以外のコードの場合にパルス信号DOTXの対応する分割区間が“L”レベルに設定される。すなわち、識別器66(図8)で復調された階調データ(ここでは、第0階調〜第24階調の25段階の階調を表すデータ)に応じて、第0階調(描画なし)の場合はパルス信号DOTXの全分割区間が“L”レベルに設定され、第1階調の場合はパルス信号DOTXの1つの分割区間のみ“H’レベルに設定され、第2階調の場合はパルス信号DOTXの2つの分割区間が“H’’レベルに設定され、…、第24階調(最も濃い濃度)の場合はパルス信号DOTXの全分割区間が“H”レベルに設定される。
図8は、第0階調〜第24階調の25段階の階調毎のパルス信号DOTXの波形の一例を示す。この設定では、パルス信号DOTXの“H”レベルの区間は、階調数が上がるにつれて、1EFMフレーム長の区間の中央部付近から前後両側に順次広がっていく。識別器66は、復調した階調データに応じて、図8に示すパルス信号DOTXが生成されるように、データD0〜D23の値をそれぞれ設定する。即ち、データD0〜23のうち、パルス信号DOTXを“H”レベルに設定する分割区間に対応するデータを前記特定のコードに設定し、パルス信号DOTXを“L”レベルに設定する分割区間に対応するデータを該特定のコード以外のコードに設定する。また、描画信号生成部51の描画時の動作波形を図9に示す。図9において、(a)のNRZI信号は、ゲート回路68で(b)のパルス信号DOTXにより1EFMフレーム長の周期でスイッチングされて、(c)のNRZI断片信号WENが作成される。なお、図9のNRZI信号及びWEN信号は、説明を分かりやすくするために、簡易的な波形にしたものである。
図6の説明に戻る。シフトレジスタ70は、クロック生成部54から供給されるクロック信号ENCCKに応じて、時間軸伸張器67から出力されるパルス信号DOTXを、予め定められた時間だけ遅延させてパルス信号CHGとして出力する。ここでは、シフトレジスタ70は、パルス信号DOTXを光ディスク1の1回転に要する時間だけ遅延させて出力する。この遅延量は、クロック信号ENCCKの周波数と、シフトレジスタ70のビット数で決まる。生成されたパルス信号CHGはトラッキングエラー生成部53に供給される。スイッチ回路71は、シフトレジスタ70からのパルス信号CHGの出力のオン/オフを切り替える。データ記録時にはシフトレジスタ70からのパルス信号CHGの出力はオフにされ、描画時にはオンにされる。このように、描画時においては、レーザ光の照射位置のディスク内周側の位置の描画信号、すなわち1周内側の位置の描画層が変色されているか否かを示す描画信号が、トラッキングエラー生成部53に供給される。
(1−1−4)トラッキングエラー生成部53の構成
次に、図10を参照してトラッキングエラー生成部53の構成を説明する。図10は、トラッキングエラー生成部53の構成と光ディスク1へのレーザ光の照射態様の一例を示す図である。トラッキングエラー生成部53は、後行サブビームB1、メインビームB2、先行サブビームB3の3つのビームの戻り光に基づいて、トラッキングエラー信号を生成する。なお、データ記録時においてトラッキングエラー生成部53が行う処理は従来と同様であり、以下では、描画時の処理について主に説明する。メインビームB2の照射によって光ディスク1の描画層の変色が行われ、後行サブビームB1と先行サブビームB3は、描画層を変色させないレベルで照射される。このとき、図示のように、メインビームB2はグルーブ109に沿って照射され、後行サブビームB1はメインビームB2の1周内側のランドに沿って照射され、先行サブビームB3はメインビームB2の1周外側のランドに沿って照射される。後行サブビームB1はメインビームB2の内側のランドに沿って照射されるから、後行サブビームB1は、メインビームB2の照射によって変色した領域A1と変色していない領域(領域A1以外の領域)とが混在した領域に照射される。
次に、図10を参照してトラッキングエラー生成部53の構成を説明する。図10は、トラッキングエラー生成部53の構成と光ディスク1へのレーザ光の照射態様の一例を示す図である。トラッキングエラー生成部53は、後行サブビームB1、メインビームB2、先行サブビームB3の3つのビームの戻り光に基づいて、トラッキングエラー信号を生成する。なお、データ記録時においてトラッキングエラー生成部53が行う処理は従来と同様であり、以下では、描画時の処理について主に説明する。メインビームB2の照射によって光ディスク1の描画層の変色が行われ、後行サブビームB1と先行サブビームB3は、描画層を変色させないレベルで照射される。このとき、図示のように、メインビームB2はグルーブ109に沿って照射され、後行サブビームB1はメインビームB2の1周内側のランドに沿って照射され、先行サブビームB3はメインビームB2の1周外側のランドに沿って照射される。後行サブビームB1はメインビームB2の内側のランドに沿って照射されるから、後行サブビームB1は、メインビームB2の照射によって変色した領域A1と変色していない領域(領域A1以外の領域)とが混在した領域に照射される。
図において、光検出器531は、光ピックアップ34から光ディスク1に照射されたレーザ光の反射光を受光する受光手段であり、後行サブビームB1の反射光を受光する受光部531aと、メインビームB2の反射光を受光する受光部531bと、先行サブビームB3の反射光を受光する受光部531cとを備える。受光部531a,531b,531cはそれぞれ、反射光の光量に応じた信号を出力する。受光部531aから出力された信号は増幅器532で増幅され、受光部531cから出力された信号は増幅器533で増幅される。このとき、増幅器532は、描画信号生成部51から供給されるパルス信号CHGに応じてゲインを切り替える。
ゲインの切り替えの極性は、具体的には、例えば、記録すると反射率が上がる光ディスクの場合には、パルス信号CHGがHighのときにゲインダウンさせる。ゲインの切り替えの極性は光ディスクの種類等に応じて異なるが、要は、描画信号51から供給されたパルス信号CHGが変色されている旨を示す信号である場合に、受光器531aからの信号レベルが、変色していない場合の信号レベルに近くなるように、増幅器532が信号レベルを補正するようにすればよい。
ゲインの切り替えの極性は光ディスクの種類等に応じて異なる。そこで、光ディスク1の種類とゲインの切り替えの態様とを対応付けて所定の記憶領域に予め記憶させておき、光ディスク記録装置12が、光ディスク1の種類を判別し、判別結果に応じたゲインの切り替えを行うようにしてもよい。この場合、光ディスク1の種類の判定方法としては、例えば、光ディスク記録装置12が、光ディスク1から所定のコードを読み取って種類を判別するようにしてもよく、また、例えば、利用者が操作部等を操作して光ディスク1の種類を入力するようにしてもよい。
増幅器532から出力される信号と増幅器533から出力される信号は、減算器534で両者の差分がとられ、その差分がトラッキングエラー信号としてトラッキングサーボ44に出力される。トラッキングサーボ44は、トラッキングエラー生成部53により生成されたトラッキング信号に基づいて、光ピックアップ34から照射されるレーザ光の照射位置を制御する。上述したように、後行サブビームB1の戻り光を示す信号は、メインビームの照射位置から1周分内側の位置の描画(変色)の有無を示すパルス信号CHGに基づいてレベル調整されるから、トラッキングエラー生成部53は、メインビームB2の照射位置の1周内側に変色された領域と変色されていない領域とが混在している場合であっても、安定したトラッキングエラー信号を出力することができる。
なお、図10に示す例では、説明を容易にするために、後行サブビームB1の戻り光と先行サブビームB3の戻り光とを用いてトラッキングエラー信号を生成する構成としたが、後行サブビームB1の戻り光と先行サブビームB3の戻り光に加えてメインビームB2の戻り光を用いてトラッキングエラー信号を生成するようにしてもよい。
(1−2)動作
次に、以上説明したシステムの動作説明を行う。この動作では、描画時のスピンドルの回転数は一定とし(CAV描画)、その回転数を6000rpmとする。よって、光ディスク1が1回転する時間Trは、10msとなる。また、メインビームB2によるスポットと後行サブビームB1によるスポットとの円周方向の距離Ld(図10参照)を0.1mmとする。また、クロック信号ENCCK(fenc)を43MHz(CDの約10倍速)とする。また、光ディスク1の回転中心からのレーザ光の照射位置までの半径の長さを半径Rとして説明する。
次に、以上説明したシステムの動作説明を行う。この動作では、描画時のスピンドルの回転数は一定とし(CAV描画)、その回転数を6000rpmとする。よって、光ディスク1が1回転する時間Trは、10msとなる。また、メインビームB2によるスポットと後行サブビームB1によるスポットとの円周方向の距離Ld(図10参照)を0.1mmとする。また、クロック信号ENCCK(fenc)を43MHz(CDの約10倍速)とする。また、光ディスク1の回転中心からのレーザ光の照射位置までの半径の長さを半径Rとして説明する。
光ディスク記録装置12に光ディスクが挿入されると、まず、システム制御部56は、ホスト機器10から何らかの処理を指示するコマンドを受信したか否かを判断する。コマンドを受信すると、システム制御部56は、受信したコマンドが、画像を描画する旨を示すコマンド(以下「WRITEコマンド」という)であるか否かを判断する。コマンドが画像データのWRITEコマンドでなければ、システム制御部56は、そのコマンドによって指示される処理を実行すればよい。この処理に関しては従来と同じであるので、ここではその説明を省略する。
一方、受信したコマンドが画像データのWRITEコマンドである場合には、システム制御部56は、そのWRITEコマンドに引き続いて転送されてくる画像データの受信を開始し、受信した画像データをバッファメモリ60の記録領域に順次書き込んでいく。そして、1回のWRITEコマンドによって転送される画像データの受信・書き込みが完了すると、システム制御部56は、バッファメモリ60が満杯となったか否かを判断する。バッファメモリ60が満杯となっていなければ、システム制御部56は、バッファメモリ60が満杯となるまで、上述した処理を繰り返す。
さて、バッファメモリ60が満杯となると、システム制御部56は、画像データをバッファメモリ60から順次読み出して描画信号生成部51に供給する。描画信号生成部51は、これをEFM変調し、NRZI信号(図9(a))に変換して、画像データを構成する各画素の階調値に応じたデューティのNRZI断片信号WEN(図9(c))に変調する。このNRZI断片信号WENは、ALPC回路50を介してレーザドライバ48に供給される。レーザドライバ48は描画用レーザ光をNRZI断片信号WENで変調する。変調された描画用レーザ光は光ピックアップ34から出射され、光ディスク1の描画層に照射される。
この描画処理について、図11を参照しながら更に詳細に説明する。図11は、描画処理の流れを示すフローチャートである。まず、システム制御部56は、ALPC回路50を制御して、光ピックアップ34からのリードレベルのレーザ光の照射を開始させる(ステップS1)。光ピックアップ34は、設定されたレーザパワーでレーザ光を照射する。次いで、システム制御部56は、スピンドルサーボ32を制御して、CAV制御によってスピンドルモータ30を駆動させ、光ディスク1を回転させる(ステップS2)。次いで、システム制御部56は、フォーカスサーボ42を制御して、光ピックアップ34のフォーカス制御を行わせる(ステップS3)。
次いで、システム制御部56は、光ピックアップ34の対物レンズ33aのディスク径方向光軸位置を、描画開始位置へ移動する(ステップS4)。この制御は、ステッピングモータ36を駆動して光ピックアップ34を内周方向に一旦戻し、最内周の原点位置(リミットスイッチで検出される位置、或いはストッパで機械的に係止される位置)を検出したら、その位置から対物レンズ33aが描画開始位置に到達するステップ数分、ステッピングモータ36を駆動することにより実現される。
次いで、システム制御部56は、トラッキングサーボとスレッドサーボを開始する(ステップS5)。次いで、システム制御部56は、光ディスク1への(間欠的な)ライトレベルのレーザ光の照射を開始する。すなわち、光ディスクへの描画を開始する(ステップS6)。描画は、光ディスク1を回転させながら光ピックアップ34をディスク径方向に順次移送して行われる。よって、描画に用いられる画像データは、光ディスク1の回転中心位置を極とする極座標で表すのが便利である。そこで、ここでは画像データを構成する各画素の座標位置を、動径をrとし、偏角θが原線から左回り方向に増加する極座標(r,θ)でそれぞれ表す。
スピンドルモータ30が所定の回転数で安定にCAV制御され、かつ光ピックアップ34の対物レンズ33aのディスク径方向の光軸位置が書き始め半径位置に位置決めされた状態に達したら、任意の周方向角度位直から描画が開始される。システム制御部56は、この描画を開始した周方向角度位置をθ=0と定める。描画中は、システム制御部56は、スピンドルモータ30のCAV制御に用いられているのと同じ水晶発振クロックを分周して作成したクロックをカウントして、θ=0の角度位置に対する周方向角度位置を前記△θ(周方向に隣接して描画する画素問の偏角差)ごとに検出する。△θは、周方向に隣接して描画する画素間の偏角差である。この偏角差△θの値はディスク1周あたりの描画数に基づき、△θ=2π/1周あたりの描画数の演算で求められる。
θ=2πに達したら、システム制御部56は、ディスクが1回転したものと判断して、ステッピングモータ36を1マイクロステップ分駆動して、対物レンズ33aの光軸位置(対物レンズ33aをディスク径方向に振動させる場合は振動の中央位置)をディスク外周方向に距離△r分移動させる。△rは、光ピックアップ34のディスク径方向単位送り量、すなわちステッピングモータ36の1マイクロステップによる光ピックアップ34の移動量である。この△rの値は、「ステッピングモータ36の1フルステップ動作による光ピックアップ34のディスク径方向への送り量N」と「ステッピングモータ36のマイクロステップ動作の分割数M」の情報に基づき、N/Mの演算で求められる。
θ=2πでθの計数値が0に戻り、そのままθの計数を繰り返す。距離△rの移動を、θが2πに達するごとに行い、ディスク径方向位置が書き終わり半径位置に達したら(ステップS7;YES)、システム制御部56は、全サーボをオフにし(ステップS8)、描画処理を終了する。
以上のように、光ピックアップ34の対物レンズ33aの光軸位置(振動の中央位置)が光ディスク1上の任意の位置(r,θ)にあるときに、該当する位置(r,θ)の画素データに基づいて生成されたNRZI断片信号WENで変調したレーザ光で描画が行われるように、対物レンズ33aのディスク周方向およびディスク径方向の光軸位置(振動の中央位置)と描画信号生成部51のエンコード動作とが同期するわけである。スピンドルモータ30のCAV制御と描画信号生成部51によるエンコード処理は、同じ水晶発振クロックに基づいて行われるので、この同期は容易に実現される。
ここで、光ディスク記録装置12が行うトラッキング制御の内容について、図12を参照しつつ説明する。図12は、描画信号生成部51が生成するパルス信号DOTXと、パルス信号DOTXをシフトレジスタ70によって遅延させたパルス信号CHGのタイミングチャートである。図12に示す例では、シフトレジスタ70での遅延時間を、ディスク1回転分の時間とする。この場合、シフトレジスタ70のビット数は、
Tr×fenc = 10ms×43MHz = 430000ビットとすればよい。
Tr×fenc = 10ms×43MHz = 430000ビットとすればよい。
図12に示すように、パルス信号DOTXは、シフトレジスタ70によって、光ディスク1が1回転に要する時間Trだけ遅延されてパルス信号CHGとして出力される。
図10に示したように、後行サブビームB1の照射部分が変色済みか未変色かによって後行サブビームB1の戻り光は変動するが、本実施形態では、後行サブビームB1の戻り光を示す信号のゲインを、変動を打ち消すように変化させるから、これにより、安定したトラッキングエラー信号が得られる。
図10に示したように、後行サブビームB1の照射部分が変色済みか未変色かによって後行サブビームB1の戻り光は変動するが、本実施形態では、後行サブビームB1の戻り光を示す信号のゲインを、変動を打ち消すように変化させるから、これにより、安定したトラッキングエラー信号が得られる。
以上説明したように実施形態によれば、描画されることにより不安定となる反射光を補正することができ、これにより、安定なトラッキングサーボを掛けて描画を行うことができ、光ディスクへの描画を安定して行うことができる。特に、ホログラム視覚効果のある描画を安定させることができる。
また、本実施形態では、トラッキングサーボを掛けて光ディスク1にレーザ光で描画する際に、現在描画している瞬間の光ディスク1の1回転前に描画したかどうかにより、トラッキングエラー生成部53を制御するから、このようにすることで、後行サブビームを用いたトラッキングサーボ制御を安定して行うことができる。
上述の実施形態において、図10に示すトラッキングエラー生成部53に代えて、図13に示す構成のトラッキングエラー生成部53aを用いてもよい。図13に示すトラッキングエラー生成部53aが図10に示すトラッキングエラー生成部53と異なる点は、DAC535と加算器536とを有している点であり、他の構成は上述した図10に示したトラッキングエラー生成部53と同様である。そのため、以下の説明においては、上述したトラッキングエラー生成部53と同様の構成については、適宜その説明を省略する。
図10に示したトラッキングエラー生成部53は、後行サブビームB1の戻り光を示す信号を増幅する際のゲインを、パルス信号CHGによって変化させるようにしたが、図13に示すトラッキングエラー生成部53aは、トラッキングエラー信号のオフセット加算量を、パルス信号CHGに基づいて変化させる。図13において、DAC535は、パルス信号CHGに基づいてトラッキングエラー信号のオフセット加算量を変化させるための回路である。オフセット加算量は、記録すると反射率が上がるディスクの場合には、パルス信号CHGがHighで大きいDAC値が出力されるようにする。オフセット加算量の切り替えの態様は光ディスクの種類等に応じて異なるが、要は、パルス信号CHGが変色済みである旨を示す信号である場合に、トラッキングエラー信号のレベルが、変色していない場合の信号レベルに近くなるようにオフセット加算量を切り替えるようにすればよい。
図13に示すトラッキングエラー生成部53aを用いた場合でも、上述の実施形態と同様に、後行サブビームB1の照射部分が変色済みか否かによって変動する後行サブビームB1の戻り光量が、トラッキングエラー信号に印加するオフセット量変化により、打ち消されるように働くから、描画により不安定となる反射光を補正することができ、これにより、トラッキングサーボを安定して行うことができる。
(2)第2実施形態
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。本実施形態が上述した第1の実施形態と異なる点は、シフトレジスタ70がパルス信号DOTXを遅延させてパルス信号CHGを出力する際の遅延時間が異なる点であり、他の構成や動作については上述の第1実施形態のそれと同様である。そこで、以下の説明では、上述の第1実施形態と異なる動作について主に説明し、上述した第1の実施形態と同様の構成や動作については適宜その説明を省略する。
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。本実施形態が上述した第1の実施形態と異なる点は、シフトレジスタ70がパルス信号DOTXを遅延させてパルス信号CHGを出力する際の遅延時間が異なる点であり、他の構成や動作については上述の第1実施形態のそれと同様である。そこで、以下の説明では、上述の第1実施形態と異なる動作について主に説明し、上述した第1の実施形態と同様の構成や動作については適宜その説明を省略する。
上述の第1実施形態では、メインビームの照射位置の径方向の近傍位置の変色の有無をトラッキングエラー信号に反映させるようにしたが、本実施形態では、メインビームが直前に描画した部分の変色の有無をトラッキングエラー信号に反映させる。より具体的には、トラッキングエラー生成部53は、メインビームと後行サブビームの照射位置のディスク円周方向の距離に対応する時間だけ、パルス信号DOTXを遅延させる。
図14は、描画信号生成部51が生成するパルス信号DOTXと、パルス信号DOTXをシフトレジスタ70によって遅延させたパルス信号CHGのタイミングチャートであり、上述の第1実施形態における図12に対応するものである。上述の第1実施形態では、図12に示したように、シフトレジスタ70での遅延時間を光ディスク1の1回転分の時間Trとしたが、本実施形態では、シフトレジスタ70は、メインビームB2によるスポットと後行サブビームB1によるスポットとの光ディスク1の円周方向の距離Ld(図10参照)をレーザ光のスポットが通過する時間Tdだけ遅延させる。
距離Ldをスポットが通過する時間Tdは、次の(1)式で求められる。
Td = Tr×Ld/(2πR) …(1)
距離Ldをスポットが通過する時間Tdは、次の(1)式で求められる。
Td = Tr×Ld/(2πR) …(1)
ところで、この時間Tdは、光ディスク1の中心からレーザ光の照射位置までの半径Rの長さによって変わってしまう。本実施形態では、簡易的に、描画する半径範囲の中央値をRとして代用することで、光ディスク1全面の描画に対応する。例えば、描画可能範囲をR=25mm〜58mm(中央値:41.5mm)とした場合、Td=10ms×0.1mm/(2π×41.5mm)=3.84μsとなる。よって、シフトレジスタ70のビット数を、Td×Fenc=3.84μs×43MHz=165ビットとすればよい。
本実施形態によれば、光ディスク記録描画装置において、トラッキングサーボを掛けて光ディスクにレーザ光で描画する際に、現在描画している瞬間のメインビームと後行サブビームの時間差前に描画したかどうかにより、トラッキングエラー生成部53を制御するから、これにより、後行サブビームを用いたトラッキングサーボ制御を安定して行うことができる。
(3)第3実施形態
次に、本発明の第3の実施形態について説明する。本実施形態が上述の第2実施形態と異なる点は、描画信号生成部の構成が異なる点とシフトレジスタがパルス信号DOTXを遅延させてパルス信号CHGを出力する際の遅延時間が異なる点であり、他の構成や動作については上述の第2実施形態のそれと同様である。そのため、以下の説明では、上述の第2実施形態と同様の構成や動作については適宜その説明を省略する。
次に、本発明の第3の実施形態について説明する。本実施形態が上述の第2実施形態と異なる点は、描画信号生成部の構成が異なる点とシフトレジスタがパルス信号DOTXを遅延させてパルス信号CHGを出力する際の遅延時間が異なる点であり、他の構成や動作については上述の第2実施形態のそれと同様である。そのため、以下の説明では、上述の第2実施形態と同様の構成や動作については適宜その説明を省略する。
上述の第2実施形態においては、光ディスク1の全面の平均半径をRとしたが、本実施形態では、描画可能範囲を複数のエリアに分けて、それぞれのエリアで最適なディレイ量をシステム制御部56が選択できるようにする。すなわち、トラッキングエラー生成部53は、メインビームと後行サブビームの照射位置のディスク円周方向の距離と、レーザ光のディスク径方向における照射位置とに応じた時間だけ、パルス信号DOTXを遅延させる。このようにすることで、より適切なディレイ量を用いてトラッキングエラー信号を補正することができる。
図15は、本実施形態の描画信号生成部513の構成を示す図である。同図は、4つのエリアのディレイ量をシステム制御部56が選択できるようにした例である。本実施形態において、4つのエリアA1〜A4の半径を、それぞれ、
エリアA1: R=25〜33mm(中央値:29.0mm),
エリアA2: R=33〜41mm(中央値:37.0mm),
エリアA3: R=41〜49mm(中央値:45.0mm),
エリアA4: R=49〜58mm(中央値:53.5mm),
とすると、それぞれのエリアにおける遅延時間Tdは、
エリアA1: Td=10ms×0.1mm/(2π×29.0mm)=5.49μs,
エリアA2: Td=10ms×0.1mm/(2π×37.0mm)=4.30μs,
エリアA3: Td=10ms×0.1mm/(2π×45.0mm)=3.54μs,
エリアA4: Td=10ms×0.1mm/(2π×53.5mm)=3.00μs,
となる。
更にそれぞれのエリアに適用するシフトレジスタ70のビット長は、
エリアA1: 5.49μs×43MHz=236ビット,
エリアA2: 4.30μs×43MHz=185ビット,
エリアA3: 3.54μs×43MHz=152ビット,
エリアA4: 3.00μs×43MHz=129ビット,
とすればよい。
エリアA1: R=25〜33mm(中央値:29.0mm),
エリアA2: R=33〜41mm(中央値:37.0mm),
エリアA3: R=41〜49mm(中央値:45.0mm),
エリアA4: R=49〜58mm(中央値:53.5mm),
とすると、それぞれのエリアにおける遅延時間Tdは、
エリアA1: Td=10ms×0.1mm/(2π×29.0mm)=5.49μs,
エリアA2: Td=10ms×0.1mm/(2π×37.0mm)=4.30μs,
エリアA3: Td=10ms×0.1mm/(2π×45.0mm)=3.54μs,
エリアA4: Td=10ms×0.1mm/(2π×53.5mm)=3.00μs,
となる。
更にそれぞれのエリアに適用するシフトレジスタ70のビット長は、
エリアA1: 5.49μs×43MHz=236ビット,
エリアA2: 4.30μs×43MHz=185ビット,
エリアA3: 3.54μs×43MHz=152ビット,
エリアA4: 3.00μs×43MHz=129ビット,
とすればよい。
この実施形態では、シフトレジスタ703は、パルス信号DOTXをエリア毎の遅延時間Tdだけ遅延させた信号Q1,Q2,Q3,Q4をそれぞれ出力する。システム制御部56は、光ピックアップ34のレーザ光の照射位置がどのエリアに属するかに応じてスイッチ回路71から出力させる信号を切り替える。これにより、描画位置に応じた遅延時間だけ遅延されたパルス信号CHGがトラッキングエラー生成部53に出力される。
本実施形態によれば、光ディスク1の描画領域を径方向に複数のエリアに分けて、エリア毎に異なる遅延時間を設定しておく。そして、描画する際には、描画位置の属するエリアに対応する遅延時間だけ描画信号が遅延されて出力されるから、より適切なディレイ量を用いてトラッキングサーボ制御を行うことができ、これにより、トラッキングサーボ制御の精度を高くすることができる。
(4)第4実施形態
次に、本発明の第4の実施形態について説明する。本発明が上述の第1実施形態と異なる点は、描画信号生成部の構成と動作が異なる点と、トラッキングエラー生成部の構成と動作が異なる点である。そのため、以下の説明では、上述の第1実施形態と同様の構成や動作については適宜その説明を省略する。本実施形態は、上述の第1実施形態と上述の第2実施形態とを組み合わせた態様となっており、メインビームで描画された直前の変色の有無(第2実施形態参照)と、1回転前の描画における変色の有無(第1実施形態参照)との両方の影響を考慮したトラッキングサーボ制御を行う。
次に、本発明の第4の実施形態について説明する。本発明が上述の第1実施形態と異なる点は、描画信号生成部の構成と動作が異なる点と、トラッキングエラー生成部の構成と動作が異なる点である。そのため、以下の説明では、上述の第1実施形態と同様の構成や動作については適宜その説明を省略する。本実施形態は、上述の第1実施形態と上述の第2実施形態とを組み合わせた態様となっており、メインビームで描画された直前の変色の有無(第2実施形態参照)と、1回転前の描画における変色の有無(第1実施形態参照)との両方の影響を考慮したトラッキングサーボ制御を行う。
図16は、本実施形態の描画信号生成部514の構成を示すブロック図である。図において、シフトレジスタ704は、パルス信号CHG1とパルス信号CHG2との2つの異なったディレイ量の信号を出力する。パルス信号CHG1の遅延量は、上述の第1実施形態と同様の方法で計算でき、また、パルス信号CHG2の遅延量は、上述の第2実施形態と同様の方法で計算できるため、ここではその詳細な説明を省略する。
図17は、本実施形態のトラッキングエラー生成部544の構成を示す図である。図17に示すトラッキングエラー生成部544が図10に示すトラッキングエラー生成部53と異なる点は、増幅器532に代えて増幅器532aと増幅器532bとを有している点と、増幅器533に代えて増幅器533aと533bとを有している点である。増幅器532aは、描画信号生成部514から供給されるパルス信号CHG1に応じて、後行サブビームB1の受光信号のゲインを切り替える。増幅器532bは描画信号生成部514から供給されるパルス信号CHG2に応じて、後行サブビームB1の受光信号のゲインを切り替える。なお、増幅器533a,533bは上述の第1実施形態における増幅器533と同様である。
本実施形態によれば、メインビームでの描画直後の後行サブビームによる影響と、1回転前の描画の影響の両方を考慮してトラッキングエラー信号を補正するから、これにより、トラッキングサーボ制御の精度を高くすることができる。
本実施形態において、図17に示すトラッキングエラー生成部544に代えて、図18(a)に示すトラッキングエラー生成部544aや、図18(b)に示すトラッキングエラー生成部544bを用いるようにしてもよい。図18(a)において、DAC535aは、描画信号生成部514から供給されるパルス信号CHG1とパルス信号CHG2とに基づいて、トラッキングエラー信号のオフセット加算量を切り替える。また、図18(b)に示すように、パルス信号CHG1とパルス信号CHG2とのそれぞれに対応するDAC535b,DAC535cを設ける構成としてもよい。
(5)第5実施形態
次に、本発明の第5の実施形態について説明する。本実施形態が上述の第1実施形態と異なる点は、描画信号生成部の構成と動作が異なる点である。そこで、以下の説明においては、上述の第1実施形態と同様の構成や動作については適宜その説明を省略する。
次に、本発明の第5の実施形態について説明する。本実施形態が上述の第1実施形態と異なる点は、描画信号生成部の構成と動作が異なる点である。そこで、以下の説明においては、上述の第1実施形態と同様の構成や動作については適宜その説明を省略する。
本実施形態は、上述した第1の実施形態と上述した第3の実施形態とを組み合わせたものである。すなわち、メインビームでの描画の直後の後行サブビームによる影響と(数個のエリアに分ける:第3実施形態参照)、1回転前に記録されたピットの影響(これは半径Rによらず一定:第1実施形態参照)の両方を考慮する。
図19は、本実施形態の描画信号生成部515の構成を示すブロック図である。シフトレジスタ705のビット数(Q1〜Q4、Qdの段数)は、第1実施形態及び第3実施形態と同様の方法で計算することができる。そして、ここで生成されたパルス信号CHG1とパルス信号CHG2とを、第4実施形態と同様に、後行サブビームのゲイン切り替えや、トラッキングエラーのオフセット量切り替えに使用すればよい。
本実施形態によれば、メインビームで記録されたピットの直後の後行サブビームによる影響と、1回転前に記録されたピットの影響の両方を考慮してトラッキングエラー信号を補正するから、これにより、トラッキングサーボ制御の精度を高くすることができる。
(6)第6実施形態
次に、本発明の第6の実施形態について説明する。図20は、本実施形態に係るシステムの構成を示すブロック図である。図20に示す光ディスク記録装置126が、上述の第1実施形態に係る図2に示した光ディスク記録装置12と異なる点は、分周器55を備える点と、描画信号生成部の構成と動作が異なる点であり、他の構成や動作については上述した第1の実施形態に係るそれと同様である。そこで、以下の説明においては、上述した第1の実施形態と同様の構成や動作については適宜その説明を省略する。図20において、分周器55は、クロック生成部54から供給されるクロック信号ENCCKを分周し、クロック信号SRCKを描画信号生成部516に出力する。
次に、本発明の第6の実施形態について説明する。図20は、本実施形態に係るシステムの構成を示すブロック図である。図20に示す光ディスク記録装置126が、上述の第1実施形態に係る図2に示した光ディスク記録装置12と異なる点は、分周器55を備える点と、描画信号生成部の構成と動作が異なる点であり、他の構成や動作については上述した第1の実施形態に係るそれと同様である。そこで、以下の説明においては、上述した第1の実施形態と同様の構成や動作については適宜その説明を省略する。図20において、分周器55は、クロック生成部54から供給されるクロック信号ENCCKを分周し、クロック信号SRCKを描画信号生成部516に出力する。
図21は、本実施形態の描画信号生成部516の構成を示すブロック図である。本実施形態では、図示のように、描画信号生成部51のCDエンコーダ64に供給されるクロック信号ENCCKとシフトレジスタ70に供給するクロック信号SRCKを分離する。このようにすることで、シフトレジスタ70のビット数を少なくすることができる。
(7)変形例
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されることなく、他の様々な形態で実施可能である。以下にその例を示す。なお、以下の各態様を適宜組み合わせてもよい。
(7−1)上述の実施形態では、本実施形態に係る光ディスクの一例として、DVD−Rを示したが、光ディスクは、これに限らず、例えば、CD−R、CD−R/DVD−R混合型光ディスク等であってもよい。また、例えば、CD−RW、DVD−RW、CD−RW/DVD−RW混合型光ディスク等であってもよい。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されることなく、他の様々な形態で実施可能である。以下にその例を示す。なお、以下の各態様を適宜組み合わせてもよい。
(7−1)上述の実施形態では、本実施形態に係る光ディスクの一例として、DVD−Rを示したが、光ディスクは、これに限らず、例えば、CD−R、CD−R/DVD−R混合型光ディスク等であってもよい。また、例えば、CD−RW、DVD−RW、CD−RW/DVD−RW混合型光ディスク等であってもよい。
また、上述のような書き換え可能な光ディスクについては、画像を書き換える際や消去する際にも、本発明に係るトラッキングサーボ制御を用いることができる。すなわち、上述の実施形態では、光ディスクへの描画処理について説明したが、本発明に係るトラッキングサーボ制御は、描画に限らず、光ディスクに描画された画像を消去する場合においても適用可能である。この場合は、光ディスクに既に描画されている画像を表す画像データを予め定められたメモリに記憶させおき、光ディスク記録装置12が、光ディスクの描画層に照射されたレーザ光の反射光とレーザ光の近傍の位置(1周内側、1周外側、レーザ光の照射位置の円周方向の前後、等)の画像データ(すなわち変色の有無を示すデータ)とに基づいてトラッキングエラー信号を生成するようにすればよい。
(7−2)光ディスク1の描画層は、熱又は光の少なくともいずれか一方に応じて変色するものであればよい。また、光ディスク1における描画層の位置は、図1に示したものに限らず、要するにデータ記録層とは異なる(光ディスク1の記録面又はレーベル面からの距離が異なる)位置に設けられていればよい。また、光ディスク1は各メーカにより提供されるが、メーカごとにデータ記録層や描画層の特性は異なっていることが考えられる。たとえば、データ記録層の熱吸収率が異なる場合は、ピットを形成するために照射すべきレーザ光のレベルや変色させるために照射すべきレーザ光のレベルが異なることも想定される。描画層にしても同様である。このため、予め多数のメーカの光ディスク1に対してデータ記録及び描画を実際に行い、どの程度のレーザ光を照射するのが適しているのかを求めておき、かかる値をメモリに格納しておくようにしてもよい。この場合、光ディスク1の種類を示す識別情報(ディスクID情報)と対応付けて格納しておけば、セットされた光ディスク1のディスクID情報を読み取った上で、ディスク種類に沿ったトラッキングサーボ制御を行うことができる。
(7−3)上述の実施形態では描画を開始した任意の周方向角度位置をθ=0としたが、これに代えて、光ディスク1の描画領域よりも内周側に、特定の認識コードを形成し、描画に先立ち光ピックアップ34でこの認識コードの周方向位置を検出し、その位置をθ=0と走めて、この周方向角度位置から描画を開始することもできる。このようにすれば、光ディスク1を光ディスク記録装置12から出し入れしても、θ=0の位置は変わらないので、描画の書き継ぎを行うことができる。
(7−4)上述の第6実施形態では、シフトレジスタのクロック信号として、クロック信号ENCCKを分周した信号を用いた。シフトレジスタのクロックを分離する態様はこれに限らず、例えば、図22に示すように、シフトレジスタのクロック信号としてスピンドル信号FGを用いるようにしてもよい。スピンドル信号FGを用いることで、回転ムラが発生した場合であっても正確な切り替えを行うことができる。また、スピンドル信号FGを用いることで描画をCLV制御で行うことも可能となる。
また、図23に示すように、シフトレジスタのクロック信号として、逓倍器57によってスピンドル信号FGを逓倍した信号を用いるようにしてもよい。
また、図23に示すように、シフトレジスタのクロック信号として、逓倍器57によってスピンドル信号FGを逓倍した信号を用いるようにしてもよい。
(7−5)上述の実施形態では、3ビームトラッキング方式によってトラッキング制御を行ったが、トラッキング制御の方法はこれに限らず、DPPトラッキング方式によるトラッキング制御を行うようにしてもよい。この場合も、上述の実施形態と同様に、レーザ光の照射位置の1周前の位置の描画信号や微少時間前の描画信号を用いてトラッキングエラー信号を補正するようにすればよい。また、3ビームトラッキング方式とDPPトラッキング方式とを併用してもよい。この場合のトラッキングエラー生成部の構成の一例について図24を参照しつつ説明する。図24はトラッキングエラー生成部537の構成を示す図である。図において、後行サブビームB1のディスク外周側の戻り光の受光信号は、増幅器539によって、パルス信号CHG1(上述の第4実施形態のパルス信号CHG1と同様)に応じてゲイン調整される。また、後行サブビームB1のディスク内周側の戻り光の受光信号は、増幅器540によって、パルス信号CHG2(上述の第4実施形態のパルス信号CHG2と同様)に応じてゲイン調整される。そして、後行サブビーム、メインビーム、先行サブビームのそれぞれの受光信号が、演算器559〜564によって加算又は減算されてトラッキングエラー信号が生成される。
(7−6)上述の実施形態では、トラッキングエラー生成部は、メインビームの照射位置の1周内側の位置の描画信号や、メインビームが直前に描画し終えた位置の描画信号を用いてトラッキングエラー信号を生成(補正)した。トラッキングエラー信号を生成する際に用いる描画信号はこれらに限らず、例えば、光ディスクに描画された画像を消去する場合に、レーザ光の照射位置の1周分だけ外側の位置の描画信号に応じてトラッキングエラー信号を生成するようにしてもよく、要は、トラッキングエラー生成部は、供給される描画信号のうちの、光ピックアップ34からのレーザ光の照射位置の近傍の位置(照射位置の径方向に近接する位置や円周方向に近接する位置、等)に対応する描画信号(すなわち照射位置の近傍の位置における変色の有無を示す信号)に応じてトラッキングエラー信号を生成するようにすればよい。特に、3ビームトラッキング方式によってトラッキングサーボ制御を行う場合には、トラッキングエラー生成部は、後行サブビームの照射位置の近傍の位置に対応する描画信号と、レーザ光の反射光とに基づいてトラッキングエラー信号を生成するようにすればよい。
1…光ディスク、10…ホスト装置、12…光ディスク記録装置、30…スピンドルモータ、32…スピンドルサーボ、34…光ピックアップ、36…ステッピングモータ、37…ロータ、38…送り機構、40…モータドライバ、42…フォーカスサーボ、44…トラッキングサーボ、48…レーザドライバ、50…ALPC回路、51…描画信号生成部、52…フォーカスエラー生成部、53,544,544a,544b…トラッキングエラー生成部、54…クロック生成部、55…分周器、56…システム制御部、57…逓倍器、58…インタフェース、60…バッファメモリ、64…CDエンコーダ、65…ストラテジ回路、66…識別器、67…時間軸伸張器、68…ゲート回路、69…スイッチ回路、70,703,704…シフトレジスタ、71…スイッチ回路、76…時間軸伸張器、101…ポリカーボネート層、102…グルーブ、103…データ記録層、104…半透明層、105…中間層、106…描画層、107…半透明層、108…ポリカーボネート層、109…グルーブ、126…光ディスク記録装置、513,514,515,516…描画信号生成部、531…光検出器、532,533…増幅器,534…減算器、535…DAC、536…加算器、537…トラッキングエラー生成部、538…演算器。
Claims (13)
- 熱又は光により変色する描画層を有する光ディスクを回転させる回転手段と、
前記光ディスクの径方向に移動可能で、前記回転手段によって回転させられる光ディスクにレーザ光を照射する照射手段と、
供給される描画信号に応じて、前記描画層を変色させるレベルのレーザ光と前記描画層を変色させないレベルのレーザ光とを前記照射手段から前記描画層に照射させる描画手段と、
前記描画手段に供給された描画信号のうちの前記レーザ光の照射位置の近傍の位置に対応する描画信号と該レーザ光の反射光とに基づいてトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段と、
前記トラッキングエラー信号生成手段により生成されたトラッキングエラー信号に基づいて、前記照射手段から照射されるレーザ光の照射位置を制御するトラッキングサーボ手段と
を具備することを特徴とする光ディスク描画装置。 - 前記照射手段は、メインビーム、後行サブビーム及び先行サブビームの3つのレーザ光を前記光ディスクに照射し、
前記トラッキングエラー信号生成手段は、前記描画手段に供給された描画信号のうちの前記後行サブビームの照射位置の近傍の位置に対応する描画信号と前記レーザ光の反射光とに基づいて、トラッキングエラー信号を生成する
ことを特徴とする請求項1に記載の光ディスク描画装置。 - 前記トラッキングエラー信号生成手段は、前記描画手段に供給された描画信号のうちの前記レーザ光の照射位置の径方向の近傍の位置に対応する描画信号と前記レーザ光の反射光とに基づいて前記トラッキングエラー信号を生成する
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の光ディスク描画装置。 - 前記トラッキングエラー信号生成手段は、
前記照射手段により前記描画層に照射されたレーザ光の反射光の光量に応じた信号を出力する信号出力手段と、
前記描画手段に供給された描画信号のうちの前記照射手段により照射されたレーザ光の照射位置の近傍の位置に対応する描画信号に応じて、前記信号出力手段により出力される信号のレベルを調整するレベル調整手段と、
前記レベル調整手段により調整された信号のレベルに基づいたトラッキングエラー信号を生成する生成手段と
を具備することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1に記載の光ディスク描画装置。 - 前記レベル調整手段は、前記照射手段により照射されたレーザ光の照射位置の近傍の位置に対応する描画信号に応じて、前記信号出力手段により出力される信号のゲインを調節する
ことを特徴とする請求項4に記載の光ディスク描画装置。 - 前記レベル調整手段は、前記照射手段により照射されたレーザ光の照射位置の近傍の位置に対応する描画信号に応じた量のオフセットを、前記信号出力手段により出力される信号に加算する
ことを特徴とする請求項4に記載の光ディスク描画装置。 - 前記描画手段に供給される描画信号を、予め定められた時間だけ遅延させて出力する遅延手段
を具備し、
前記トラッキングエラー信号生成手段は、前記照射手段により前記描画層に照射されたレーザ光の反射光と前記遅延手段から出力される描画信号とに基づいてトラッキングエラー信号を生成する
ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1に記載の光ディスク描画装置。 - 前記遅延手段は、前記描画手段に供給される描画信号を、前記光ディスクの1回転に要する時間だけ遅延させて出力する
ことを特徴とする請求項7に記載の光ディスク描画装置。 - 前記描画手段に供給される描画信号を、前記メインビームと前記後行サブビームの照射位置のディスク円周方向の距離に対応する時間だけ遅延させて出力する遅延手段
を具備し、
前記トラッキングエラー信号生成手段は、前記照射手段により前記描画層に照射されたレーザ光の反射光と前記遅延手段から出力される描画信号とに基づいてトラッキングエラー信号を生成する
ことを特徴とする請求項2に記載の光ディスク描画装置。 - 前記遅延手段は、前記描画手段に供給される描画信号を、前記メインビームと前記後行サブビームの照射位置のディスク円周方向の距離と前記レーザ光のディスク径方向の照射位置とに応じた時間だけ遅延させて出力する
ことを特徴とする請求項9に記載の光ディスク描画装置。 - 前記描画手段に供給される描画信号を、それぞれ異なる予め定められた時間だけ遅延させて出力する複数の遅延手段
を具備し、
前記トラッキングエラー信号生成手段は、前記照射手段により前記描画層に照射されたレーザ項の反射光と前記複数の遅延手段のそれぞれから出力される描画信号とに基づいてトラッキングエラー信号を生成する
ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1に記載の光ディスク描画装置。 - 前記複数の遅延手段は、
前記描画手段に供給される描画信号を、前記光ディスクの1回転に要する時間だけ遅延させて出力する第1の遅延手段と、
前記描画手段に供給される描画信号を、前記照射手段が照射するメインビームと後行サブビームの照射位置のディスク円周方向の距離と前記レーザ光のディスク径方向の照射位置とに応じた時間だけ遅延させて出力する第2の遅延手段と
を含む
ことを特徴とする請求項11に記載の光ディスク描画装置。 - 前記描画手段と前記遅延手段とは、それぞれ異なるクロック信号に基づいて信号出力を行う
ことを特徴とする請求項7乃至12のいずれか1に記載の光ディスク描画装置。
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JP2007317143A JP2009140583A (ja) | 2007-12-07 | 2007-12-07 | 光ディスク描画装置 |
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2004030728A (ja) * | 2002-06-21 | 2004-01-29 | Yamaha Corp | 光ディスク記録装置 |
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2007
- 2007-12-07 JP JP2007317143A patent/JP2009140583A/ja active Pending
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