JP2009105399A - Euv放射線を生成するための配列装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】プラズマ(3)が、集光光学系を不要として前記出口開口部(6)を直接くまなく照らすようになっている、プラズマ(3)の横方向寸法(d)が前記出口開口部(6)の直径(D)よりも大きくなっている、またその際には前記直径の超過の度合いが、プラズマ(3)と前記出口開口部(6)間の距離(L)および後置されるリソグラフィ照射系の開口数(NA)に従属している体積エミッターとして構成される。
【選択図】図1
Description
EUV線源モジュール1は、図1に示されるように、かなりの大体積であるプラズマ3を生成するプラズマ生成装置2と、デブリフィルタ4とから成る基本構造を有している。線源モジュール1を取り囲んでいる真空チャンバー11は、光軸12に沿って、後置されるリソグラフィ露光系(不図示)に対する空間位置および配向に関して、従来の方式で諸元決定される中間集光面62に相当する、定義済みの出口開口部6を有している。
d≒D+2L・NA
により、出口開口部6からのプラズマ3の距離Lをプラズマ直径dとの関係で選択することができるという、プラズマ3の横方向の寸法dに関する条件が明らかとなる。ミリメートル域のプラズマ直径で、粒子濃度が1015cm−3であるコレクタによる投影のために要求されていたようなプラズマは、もはやコレクタ5(図2aを参照)の検出可能な立体角に対する制約がなくなるために、プラズマ3として実質的に大体積に分散されたものとなることができるが、発光中心の数は維持される。
11 真空チャンバー
12 光軸
2 プラズマ生成装置
21 陰極
22 陽極
23 アイソレータ(セラミックス)
24 マイクロ波励起配列
25 磁気ミラー配列
3 プラズマ
31 光学的に薄い(中空陰極放電)プラズマ
32 光学的に濃い(表面放電)プラズマ
33 ECRHプラズマ
4 デブリフィルタ
5 コレクタ
51 ネスト構造のリフレクタ
52 回転双曲面
53 回転楕円面
6 (線源モジュールの)出口開口部
61 中間集光点
62 中間集光面
d プラズマの直径
D 出口開口部の直径
L 距離
NA 開口数
Claims (12)
- EUV放射線を生成するための配列装置であって、真空チャンバーの内部に、空間的に明確に限定された高温プラズマを一次線源位置として生成するプラズマ生成装置が設けられており、前記真空チャンバーが、後置される照射系のための均質に照らされる二次線源位置を定義付ける出口開口部を有しており、さらにプラズマと前記出口開口部との間に少なくとも一つのデブリフィルタが配置されている、配列装置において、
プラズマ(3)が、集光光学系(5)なしに前記出口開口部(6)を直接照らす体積エミッターとして構成され、前記プラズマ(3)の横方向の寸法(d)が前記出口開口部(6)の直径(D)よりも大きくなっていること、またその際、
前記直径の超過の度合いが、前記プラズマ(3)と前記出口開口部(6)間の距離(L)および前記後置される照射系の開口数(NA)に依存すること
を特徴とする、配列装置。 - EUV放出プラズマ(3)の横方向の寸法(d)が、ほぼ(D+2L・NA)であることを特徴とする、請求項1に記載の配列装置。
- EUV放出プラズマ(3)が、ガス放電プラズマとして、電極配列(2)のところに構成されることを特徴とする、請求項1に記載の配列装置。
- EUV放出プラズマ(3)が、陽極(22)と陰極(21)間のガス体積中に生成されることを特徴とする、請求項3に記載の配列装置。
- 陰極(21)が、円筒形状または若干円錐形状の中空陰極として構成され、陽極(22)が、その前方の前記出口開口部(6)寄りに配置される環状電極であることを特徴とする、請求項4に記載の配列装置。
- デブリフィルタ(4)が、陽極(22)として、スイッチされることを特徴とする、請求項5に記載の配列装置。
- EUV放出プラズマ(32)が、表面放電として、アイソレータ(23)上に生成されることを特徴とする、請求項3に記載の配列装置。
- 陰極(21)が中央電極として構成され、その周囲に管状のアイソレータ(23)と前記陽極(22)が実質的に共軸で配置されること、またその際には放電が、前記電極配列の端面のところで、アイソレータ表面に沿って放射状に行われることを特徴とする、請求項7に記載の配列装置。
- アイソレータ(23)が、チタン酸ジルコン酸鉛(PZT)、ホウケイ酸鉛、またはホウケイ酸鉛亜鉛のような誘電率が高い材料から成ることを特徴とする、請求項7に記載の配列装置。
- アイソレータ(23)が、Si3N4、Al2O3、AlZr、AlTi、BeO、SiCまたはサファイアのような高絶縁性セラミックスから製造されることを特徴とする、請求項7に記載の配列装置。
- EUV放出プラズマ(3)が、高周波励起により生成されることを特徴とする、請求項1に記載の配列装置。
- EUV放出プラズマ(33)が、電子サイクロトロン共鳴加熱(ECRH)による励起を利用して生成されることを特徴とする、請求項1または11に記載の配列装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102007051295A DE102007051295B4 (de) | 2007-10-22 | 2007-10-22 | Anordnung zur Erzeugung von EUV-Strahlung |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009105399A true JP2009105399A (ja) | 2009-05-14 |
JP2009105399A5 JP2009105399A5 (ja) | 2009-09-10 |
JP4385079B2 JP4385079B2 (ja) | 2009-12-16 |
Family
ID=40459002
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008267370A Active JP4385079B2 (ja) | 2007-10-22 | 2008-10-16 | Euv放射線を生成するための配列装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9170505B2 (ja) |
JP (1) | JP4385079B2 (ja) |
DE (1) | DE102007051295B4 (ja) |
NL (1) | NL2002003C2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5093267B2 (ja) * | 2010-03-11 | 2012-12-12 | ウシオ電機株式会社 | 集光鏡アッセンブリおよびこの集光鏡アッセンブリを用いた極端紫外光光源装置 |
CN103531263B (zh) * | 2013-11-04 | 2016-07-06 | 中国科学院光电研究院 | 一种使用电场降低碎屑的方法、装置和euv光源系统 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6827824B1 (en) * | 1996-04-12 | 2004-12-07 | Micron Technology, Inc. | Enhanced collimated deposition |
US7180081B2 (en) * | 2000-06-09 | 2007-02-20 | Cymer, Inc. | Discharge produced plasma EUV light source |
DE10237901B3 (de) * | 2002-08-16 | 2004-05-27 | Xtreme Technologies Gmbh | Anordnung zur Unterdrückung von Teilchenemission bei der Strahlungserzeugung einer Röntgenstrahlungsquelle |
DE10260458B3 (de) * | 2002-12-19 | 2004-07-22 | Xtreme Technologies Gmbh | Strahlungsquelle mit hoher durchschnittlicher EUV-Strahlungsleistung |
DE102005020521B4 (de) * | 2005-04-29 | 2013-05-02 | Xtreme Technologies Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Unterdrückung von Debris bei der Erzeugung kurzwelliger Strahlung auf Basis eines Plasmas |
DE102005048670B3 (de) * | 2005-10-07 | 2007-05-24 | Xtreme Technologies Gmbh | Anordnung zur Unterdrückung von unerwünschten Spektralanteilen bei einer plasmabasierten EUV-Strahlungsquelle |
-
2007
- 2007-10-22 DE DE102007051295A patent/DE102007051295B4/de active Active
-
2008
- 2008-09-22 NL NL2002003A patent/NL2002003C2/nl active Search and Examination
- 2008-10-16 JP JP2008267370A patent/JP4385079B2/ja active Active
- 2008-10-20 US US12/254,272 patent/US9170505B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL2002003A1 (nl) | 2009-04-23 |
DE102007051295A1 (de) | 2009-04-23 |
US9170505B2 (en) | 2015-10-27 |
JP4385079B2 (ja) | 2009-12-16 |
NL2002003C2 (nl) | 2011-08-30 |
DE102007051295B4 (de) | 2009-08-06 |
US20090101850A1 (en) | 2009-04-23 |
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