JP2009081054A - グラファイト基板を利用した質量分析 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】グラファイト基板表面のグラファイト試料を除去すれば、非常に高い性能をもつイオン化基板として用いることが期待される。すなわち、グラファイト微結晶から構成されるグラファイト薄膜を基板上に固着させ、その固着している層の上に堆積しているグラファイト部分を除去することにより上記課題を解決した。
【選択図】 図6
Description
J. Wei, J. M.Buriak, G. Siuzdak: Nature, 399, 243 (1998) J, Paek K, Kang W. BullKorean Chem Soc 2002;23;315-9
グラファイト粒子(Wako社 〜200mesh)を乳鉢で磨り潰し、乳鉢壁面に付着した微結晶のみを水−エタノール溶液に分散させる。水及びエタノールのみでは分散度が低いため、混合液が望ましい。この溶液をサンプル管等に移し、水及びエタノールのいずれにも混和する有機溶媒を加える。その後、静置させると水溶液と有機溶媒に相分離し、その界面にグラファイト微結晶より形成された薄膜が生成する(図4参照)。有機溶媒にはシクロへキサンが望ましい。
次に、作製したグラファイト薄膜を基板上に載置させる。基板としては、OHPシートのように融点が低く、熱によって変形しやすい素材が望ましい。その後、重石をして炉などの装置を用いて加熱する(図5参照)。加熱温度は、基板に用いた素材の融点よりもやや高温に調節する。
該試料を測定装置(図7参照)にセットし、マススペクトルを測定した。
励起光は、Nd/YAGレーザーであり、図Xの測定装置の左下から、斜めに照射し、プリズムで反射させ中央部の試料台を照射する。その後、試料台から反射された光を、プリズムを通し外へ導く。試料は、励起光により励起され、イオン化され、リニア飛行時間型質量分析計により測定された。
試料台 グラファイト薄膜+OHPフィルム
サンプル濃度 単分子層吸着程度
Nd:YAG 532 nm
加速電圧: 4.0 kV(1段目)
3.0 kV(2段目)
検出器: MCP
MCP電圧: 1.90 kV
真空度 1×10−4 Pa order
delay 0.4 μs
図8には、この基板を用いて質量分析測定を行った結果を示す。その結果、試料分子は解離することなく、試料分子のみを高感度(フェムトモル以下)に検出することに成功した。
Claims (5)
- レーザー脱離質量分析法において、グラファイト微結晶から構成されるグラファイト薄膜を作製し、該薄膜を基板に固着し、固着しなかった部分のグラファイトは洗浄により除去し、該グラファイトの固着した基板上に試料を付着させ、レーザー光を照射することにより試料をイオン化し質量分析することを特徴とするレーザー脱離質量分析法。
- 上記グラファイト薄膜の作製は、液液界面を利用して行うことを特徴とする請求項1に記載のレーザー脱離質量分析法。
- 上記固着は、熱固着であることを特徴とする請求項1に記載のレーザー脱離質量分析法。
- 上記基板は、グラファイトより低い融点を有する部材であることを特徴とする請求項1に記載のレーザー脱離質量分析法。
- 上記基板は、OHP用フィルムであることを特徴とする請求項4に記載のレーザー脱離質量分析法。
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