JP2009070419A - 抽出光学系、光ピックアップ装置、光ディスク装置及び情報処理装置 - Google Patents

Abstract

【課題】信号光と迷光とを含む光束から信号光を効率良く抽出する。
【解決手段】偏光ビームスプリッタ５４で−Ｚ方向に反射された戻り光束は、集光レンズ６１で収束光となり、ビームスプリッタ７０を透過して分離光学素子６２に入射する。分離光学素子６２に入射した信号光は、その大部分が反射板６３に入射し、反射板６３で反射されて、往路と同じ光路を通ってビームスプリッタ７０に入射する。ビームスプリッタ７０で−Ｘ方向に反射された信号光は、検出レンズ５８で集光され、受光器５９で受光される。一方、分離光学素子６２に入射した迷光は、対象記録層が記録層Ｌ０の場合には、遮光部６２ａによって遮光され、対象記録層が記録層Ｌ１の場合には、反射板６３で反射されてから遮光部６２ａによって遮光される。
【選択図】図１０

Description

本発明は、抽出光学系、光ピックアップ装置、光ディスク装置及び情報処理装置に係り、さらに詳しくは、信号光と迷光とが含まれる光束から信号光を抽出する抽出光学系、該抽出光学系を有する光ピックアップ装置、該光ピックアップ装置を備えた光ディスク装置及び該光ディスク装置を備えた情報処理装置に関する。

近年、デジタル技術の進歩及びデータ圧縮技術の向上に伴い、音楽、映画、写真及びコンピュータソフトなどの情報（以下「コンテンツ」ともいう）を記録するための媒体として、ＤＶＤ（ｄｉｇｉｔａｌ ｖｅｒｓａｔｉｌｅ ｄｉｓｃ）などの光ディスクが注目されるようになり、その低価格化とともに、光ディスクを情報記録の対象媒体とする光ディスク装置が普及するようになった。

ところで、コンテンツの情報量は、年々増加する傾向にあり、光ディスクの記録容量の更なる増加が期待されている。そこで、光ディスクの記録容量を増加させる手段の一つとして、記録層の多層化が考えられ、複数の記録層を有する光ディスク（以下「多層ディスク」ともいう）及び該多層ディスクをアクセス対象とする光ディスク装置の開発が盛んに行われている。

多層ディスクでは、記録層と記録層との間隔が広いと、球面収差の影響により目的とする記録層からの信号が劣化するおそれがあるため、記録層と記録層との間隔を狭くする傾向にある。しかしながら、記録層と記録層との間隔が狭くなると、いわゆる層間クロストークにより、多層ディスクからの戻り光束には、目的とする記録層での反射光（以下「信号光」ともいう）だけでなく、目的とする記録層以外の記録層での反射光（以下「迷光」ともいう）も高いレベルで含まれることとなる．

そこで、多層ディスクを再生するときに、層間クロストークを低減させる装置が提案された（例えば、特許文献１参照）。

ところで、従来の光ピックアップ装置では、光ディスクの偏芯に追従するために、差動プッシュプル法を用いたトラッキング法が使われている（例えば、非特許文献１参照）。差動プッシュプル法は、光源からの光束を３ビームに分割して光ディスクに照射し、光ディスクで反射した光束を光検出器で検出する方法である。

また、多層ディスクを再生する際に差動プッシュプル法を用いると、光量の小さい信号と光量の大きい迷光とが光検出器の受光面上で干渉し、コヒーレントクロストークを引き起こすことが知られている（例えば、非特許文献２参照）。

特許第２６２４２５５号公報 大里 潔、「新しいトラッキングサーボ方式 差動プッシュプル法」、光メモリシンポジウム’８６、１９８６年、東京、ｐ１２７−ｐ１３２ Ａｌｅｘａｎｄｅｒ ｖａｎ ｄｅｒ Ｌｅｅ、Ｅｒｗｉｎ Ａｌｔｅｗｉｓｃｈｅｒ、「Ｄｒｉｖｅ ｃｏｎｓｉｄｅｒａｔｉｏｎｓ ｆｏｒ ｍｕｌｔｉｌａｙｅｒ ｄｉｓｃｓ」、ＩＳＯＭ２００６、Ｔｅｃｈｎｉｃａｌ Ｄｉｇｅｓｔ、Ｍｏ−Ｃ−０５

今後、多層ディスクにおける記録層の数が増加し、それに伴って、記録層と記録層との間隔が更に狭くなることが予想される。そこで、光検出器で受光される光束に含まれる迷光の更なる低減が望まれている。しかしながら、特許文献１に開示されている装置では、検出器に入射する迷光を更に減少させるには、ピンホールの径を更に小さくする必要があるため、検出器に入射する信号光も減少するという不都合があった。

本発明は、かかる事情の下になされたもので、その第１の目的は、信号光と迷光とが含まれる光束から信号光を効率良く抽出することができる抽出光学系を提供することにある。

また、本発明の第２の目的は、複数の記録層を有する光ディスクから所望の信号を精度良く取得することができる光ピックアップ装置を提供することにある。

また、本発明の第３の目的は、複数の記録層を有する光ディスクからの情報の再生を精度良く行うことができる光ディスク装置を提供することにある。

また、本発明の第４の目的は、複数の記録層を有する光ディスクに対して、安定したアクセスを行うことができる情報処理装置を提供することにある。

本発明は、第１の観点からすると、信号光と迷光とが含まれる光束から前記信号光を抽出する抽出光学系であって、前記光束を集光する第１光学素子と；前記第１光学素子の光軸に直交する方向に平行な反射面を有し、該反射面が前記信号光の集光位置に配置されている反射部材と；前記反射部材に対して前記第１光学素子側にある迷光の集光位置に配置され、集光位置での迷光のビームスポットと同程度の大きさの第１の領域と、該第１の領域の周囲に設けられた第２の領域とを有し、前記第１の領域は光を遮光し、前記第２の領域は光を透過させ、前記信号光のみを前記第１光学素子に向けて出力する第２光学素子と；を備える第１の抽出光学系である。

これによれば、信号光と迷光とが含まれる光束は第１光学素子で集光され、第２光学素子及び反射部材により、信号光のみが第１光学素子に向けて出力される。従って、信号光と迷光とが含まれる光束から信号光を効率良く抽出することが可能となる。

本発明は、第２の観点からすると、信号光と迷光とが含まれる光束から前記信号光を抽出する抽出光学系であって、前記光束を集光する第１光学素子と；前記第１光学素子の光軸に直交する方向に平行な反射面を有し、該反射面が前記信号光の集光位置に配置されている反射部材と；前記反射部材に対して前記第１光学素子側にある迷光の集光位置に配置され、集光位置での迷光のビームスポットと同程度の大きさの第１の領域と、該第１の領域の周囲に設けられた第２の領域とを有し、前記第１の領域及び前記第２の領域は、互いに光学軸が直交し、いずれも透過光に１／４波長の位相差を与え、前記信号光と前記迷光の偏光状態が互いに異なる状態で、前記第１光学素子に向けて出力する第２光学素子と；を備える第２の抽出光学系である。

これによれば、信号光と迷光とが含まれる光束は第１光学素子で集光され、第２光学素子及び反射部材により、信号光と迷光の偏光状態が互いに異なる状態で、第１光学素子に向けて出力される。従って、信号光と迷光とが含まれる光束から信号光を効率良く抽出することが可能となる。

本発明は、第３の観点からすると、複数の記録層を有する光ディスクに光束を照射し、前記光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップ装置であって、光源と；前記光源から射出された光束を前記複数の記録層のうちアクセス対象の記録層に集光する対物レンズと；前記光ディスクで反射され前記対物レンズを介した戻り光束の光路上に配置され、前記アクセス対象の記録層で反射された反射光を信号光とし、前記複数の記録層のうち前記アクセス対象の記録層以外の記録層で反射された反射光を迷光とし、前記戻り光束から前記信号光を抽出する本発明の抽出光学系と；前記抽出光学系で抽出された前記信号光を受光し、受光量に応じた信号を生成する光検出器と；を備える光ピックアップ装置である。

これによれば、本発明の抽出光学系を備えているため、迷光が極めて少ない戻り光束が光検出器で受光される。従って、複数の記録層を有する光ディスクから所望の信号を精度良く取得することが可能となる。

本発明は、第４の観点からすると、複数の記録層を有する光ディスクに対して、情報の記録、再生及び消去のうち少なくとも再生が可能な光ディスク装置であって、本発明の光ピックアップ装置と；前記光ピックアップ装置の光検出器の出力信号を用いて、前記光ディスクに記録されている情報の再生を行なう処理装置と；を備える光ディスク装置である。

これによれば、本発明の光ピックアップ装置を備えているため、その結果として、複数の記録層を有する光ディスクからの情報の再生を精度良く行うことが可能となる。

本発明は、第５の観点からすると、本発明の光ディスク装置と；前記光ディスク装置を制御する制御装置と；を備える情報処理装置である。

これによれば、本発明の光ディスク装置を備えているため、結果として、複数の記録層を有する光ディスクに対して、安定したアクセスを行うことが可能となる。

以下、本発明の一実施形態を図１〜図１６に基づいて説明する。図１には、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置２０の概略構成が示されている。

この図１に示される光ディスク装置２０は、光ディスク１５を回転駆動するためのスピンドルモータ２２、光ピックアップ装置２３、該光ピックアップ装置２３を光ディスク１５の半径方向に駆動するためのシークモータ２１、レーザ制御回路２４、エンコーダ２５、駆動制御回路２６、再生信号処理回路２８、バッファＲＡＭ３４、バッファマネージャ３７、インターフェース３８、フラッシュメモリ３９、ＣＰＵ４０及びＲＡＭ４１などを備えている。なお、図１における矢印は、代表的な信号や情報の流れを示すものであり、各ブロックの接続関係の全てを表すものではない。また、本実施形態では、光ディスク装置２０は多層ディスクに対応しているものとする。

光ディスク１５は、一例として図２に示されるように、光束の入射側から順に、基板Ｍ０、記録層Ｌ０、中間層ＭＬ、記録層Ｌ１、基板Ｍ１を有している。また、記録層Ｌ０と中間層ＭＬとの間には金や誘電体などで形成された半透明膜ＭＢ０があり、記録層Ｌ１と基板Ｍ１との間にはアルミニウムなどで形成された反射膜ＭＢ１がある。中間層ＭＬには、照射される光束に対して透過率が高く、基板の屈折率に近い屈折率を有する紫外線硬化型の樹脂材料が用いられている。

すなわち、光ディスク１５は片面２層ディスクである。なお、各記録層にはスパイラル状又は同心円状の案内用の溝を有するトラックが、それぞれ形成されている。そして、光ディスク１５は、記録層Ｌ０が記録層Ｌ１よりも光ピックアップ装置２３に近くなるように光ディスク装置２０にセットされる。そこで、光ディスク１５に入射した光束の一部は半透明膜ＭＢ０で反射され、残りは半透明膜ＭＢ０を透過する。そして、半透明膜ＭＢ０を透過した光束は反射膜ＭＢ１で反射される。ここでは、一例として、光ディスク１５はＨＤ ＤＶＤ系の情報記録媒体であるものとする。

光ピックアップ装置２３は、光ディスク１５の２つの記録層のうちアクセス対象の記録層（以下、便宜上「対象記録層」と略述する）にレーザ光を照射するとともに、光ディスク１５からの反射光を受光するための装置である。

この光ピックアップ装置２３は、一例として図３に示されるように、光源ユニット５１、カップリングレンズ５２、グレーティング７１、偏光ビームスプリッタ５４、１／４波長板５５、対物レンズ６０、集光レンズ６１、ビームスプリッタ７０、分離光学素子６２、反射板６３、検出レンズ５８、受光器５９、及び対物レンズ６０を駆動するための駆動系（図示省略）などを備えている。

光源ユニット５１は、光ディスク１５に対応する波長が約４０５ｎｍのレーザ光を射出する光源としての半導体レーザを含んで構成されている。なお、本実施形態では、光源ユニット５１から出力されるレーザ光の最大強度射出方向を＋Ｘ方向とする。また、一例として、光源ユニット５１からは、偏光ビームスプリッタ５４に対してＰ偏光の光束が出力されるものとする。

この光源ユニット５１の＋Ｘ側には、カップリングレンズ５２が配置され、光源ユニット５１から出力された光束を略平行光とする。

グレーティング７１は、カップリングレンズ５２の＋Ｘ側に配置され、カップリングレンズ５２からの略平行光を０次光、＋１次回折光（以下、便宜上「＋１次光」と略述する）、−１次回折光（以下、便宜上「−１次光」と略述する）の３ビームに分割する。すなわち、グレーティング７１は、入射光を３ビーム化する。ここでは、一例として、グレーティング７１は、入射光の８０％を０次光に、１０％を＋１次光に、１０％を−１次光にするものとする。また、以下では、便宜上、＋１次光と−１次光を合わせて「±１次光」ともいう。

偏光ビームスプリッタ５４は、グレーティング７１の＋Ｘ側に配置されている。この偏光ビームスプリッタ５４は、入射する光束の偏光状態に応じてその反射率が異なっている。ここでは、偏光ビームスプリッタ５４は、Ｐ偏光に対する反射率が小さく、Ｓ偏光に対する反射率が大きくなるように設定されている。すなわち、光源ユニット５１から出力された光束の大部分は、偏光ビームスプリッタ５４を透過することができる。この偏光ビームスプリッタ５４の＋Ｘ側には、１／４波長板５５が配置されている。

この１／４波長板５５は、入射した光束に１／４波長の光学的位相差を付与する。１／４波長板５５の＋Ｘ側には、対物レンズ６０が配置され、１／４波長板５５を介した光束を対象記録層に集光する。

駆動系は、フォーカシングアクチュエータ及びトラッキングアクチュエータを有している。フォーカシングアクチュエータは、対物レンズ６０の光軸方向であるフォーカス方向に対物レンズ６０を微少駆動するためのアクチュエータである。ここでは、便宜上、対象記録層が記録層Ｌ０のときのフォーカス方向に関する対物レンズ６０の最適位置を「第１レンズ位置」といい、対象記録層が記録層Ｌ１のときのフォーカス方向に関する対物レンズ６０の最適位置を「第２レンズ位置」ということとする。なお、対物レンズ６０が第２レンズ位置にあるときには、第１レンズ位置にあるときよりも、対物レンズ６０と光ディスク１５との間隔は狭くなる（図４（Ａ）及び図４（Ｂ）参照）。

トラッキングアクチュエータは、トラッキング方向に対物レンズ６０を微少駆動するためのアクチュエータである。

ここで、光ディスク１５からの戻り光束について説明する。

対象記録層が記録層Ｌ０のときには、一例として図４（Ａ）に示されるように、対物レンズ６０は第１レンズ位置に位置決めされる。これにより、光源ユニット５１から出力された光束は、対物レンズ６０によって記録層Ｌ０に集光される。そして、半透過膜ＭＢ０で反射された光束は信号光として対物レンズ６０に入射する。一方、半透過膜ＭＢ０を透過した光束は金属反射膜ＭＢ１で反射され、迷光として対物レンズ６０に入射する。

対象記録層が記録層Ｌ１のときには、一例として図４（Ｂ）に示されるように、対物レンズ６０は第２レンズ位置に位置決めされる。これにより、光源ユニット５１から出力された光束は、対物レンズ６０によって記録層Ｌ１に集光される。そして、金属反射膜ＭＢ１で反射された光束は信号光として対物レンズ６０に入射する。一方、半透過膜ＭＢ０で反射された光束は迷光として対物レンズ６０に入射する。

すなわち、対象記録層がいずれの記録層であっても、戻り光束には半透過膜ＭＢ０で反射された光束（以下「第１反射光」ともいう）と金属反射膜ＭＢ１で反射された光束（以下「第２反射光」ともいう）とが含まれることとなる。ここでは、対象記録層が記録層Ｌ０のときには、第１反射光が信号光であり、第２反射光が迷光である。一方、対象記録層が記録層Ｌ１のときには、第２反射光が信号光であり、第１反射光が迷光である。迷光は再生信号処理回路２８で各種信号を検出する際にＳ／Ｎ比を低下させる要因となるため、戻り光束に含まれる信号光のみを抽出する必要がある。

集光レンズ６１は、偏光ビームスプリッタ５４の−Ｚ側に配置され、偏光ビームスプリッタ５４で反射された戻り光束を集光する。

ビームスプリッタ７０は、集光レンズ６１の−Ｚ側に配置されている。ビームスプリッタ７０は、集光レンズ６１からの戻り光束を透過させ、分離光学素子６２を介して入射する戻り光束を−Ｘ方向に反射する。

分離光学素子６２は、ビームスプリッタ７０の−Ｚ側であって、対象記録層が記録層Ｌ０のときに、記録層Ｌ１からの迷光が集光する位置に配置されている。この分離光学素子６２は、一例として図５に示されるように、遮光部６２ａと透過部６２ｂとを有し、集光レンズ６１の光軸の延長線上に遮光部６２ａが設けられている。また、遮光部６２ａは、集光位置における迷光のビームスポットと同程度の大きさを有している。

遮光部６２ａは、光学ガラス中に光吸収物質を分散させて作られる吸収型フィルタ、ガラス基板上にクロム膜をコートして作られる反射型フィルタ、及び偏光フィルタなどを用いて形成することができる。

反射板６３は、集光レンズ６１の光軸に直交する方向に平行な反射面を有し、分離光学素子６２の−Ｚ側であって、反射面が信号光の集光位置に配置されている。

集光レンズ６１で集光された信号光と迷光の集光点について図６を用いて説明する。なお、図６では、説明を分かりやすくするため、光学系は対物レンズ６０と集光レンズ６１のみを図示し、対物レンズ６０の光軸方向をＺ軸方向としている。

信号光の集光位置をＣ、記録層Ｌ０からの迷光の集光位置をＡ、記録層Ｌ１からの迷光の集光位置をＢとし、ＡＣの間隔をＳ、ＢＣの間隔をＴ、対物レンズ６０の焦点距離をｆ１、集光レンズ６１の焦点距離をｆ２、記録層Ｌ０と記録層Ｌ１の間隔をΔ、中間層ＭＬの屈折率をｎとすると、レンズの縦倍率の関係より、次の（１）式及び（２）式が得られる。

Ｔ＝（２・Δ／ｎ）・（ｆ２／ｆ１）^２ ……（１）
Ｓ＝（２・Δ／ｎ）・（ｆ２／ｆ１）^２ ……（２）

ところで、Ｔ＝Ｓであり、信号光の集光位置Ｃに反射板６３を置くことにより、記録層Ｌ０からの迷光の集光位置と反射板６３で反射された記録層Ｌ１からの迷光の集光位置を一致させることができる。

そこで、分離光学素子６２と反射板６３との間隔Ｌは、次の（３）式が成り立つように設定すれば良い。

Ｌ＝Ｓ＝Ｔ
＝２・（Δ／ｎ）・（ｆ２／ｆ１）^２ ……（３）

上記間隔Ｌは、光ディスク１５の記録層の間隔Δで決定される。そこで、間隔Δにばらつきがあると、迷光の集光点はＺ軸方向にばらつくこととなる。

迷光の集光点がＺ軸方向にずれた状態で、対物レンズ６０がトラッキングを行うと、分離光学素子６２への迷光の入射位置はトラッキング方向に対応する方向（ここでは、Ｘ軸方向）に移動することになる。

この場合には、一例として図７及び図８に示されるように、分離光学素子６２における遮光部６２ａを、トラッキング方向に対応する方向（ここでは、Ｘ軸方向）を長手方向とする長方形、あるいは前記トラッキング方向に対応する方向を長軸方向とする楕円形とすることにより、迷光の集光点がＺ軸方向にずれた状態で、対物レンズ６０がトラッキングを行っても、信号光と迷光とを精度良く分離することができる。

検出レンズ５８は、ビームスプリッタ７０の−Ｘ側に配置され、ビームスプリッタ７０で反射された戻り光束を集光する。

受光器５９は、検出レンズ５８の−Ｘ側に配置されている。この受光器５９は、一例として図９に示されるように、＋１次光を受光する受光領域５９ａ、０次光を受光する受光領域５９ｂ、−１次光を受光する受光領域５９ｂを有し、再生信号処理回路２８にてＲＦ信号、ウォブル信号及びサーボ信号などを検出するのに適した複数の信号（光電変換信号）を出力する。

上記のように構成される光ピックアップ装置２３の作用を、図１０（対象記録層が記録層Ｌ０の場合）及び図１１（対象記録層が記録層Ｌ１の場合）を用いて説明する。なお、図１０及び図１１では、信号光を実線で示し、迷光を破線で示している。また、±１次光については、煩雑さを避けるため図示を省略している。

光源ユニット５１から出力された直線偏光（ここではＰ偏光）の光束は、カップリングレンズ５２で略平行光となり、グレーティング７１で３ビーム（０次光及び±１次光）化され、偏光ビームスプリッタ５４に入射する。グレーティング７１からの各光束の大部分は偏光ビームスプリッタ５４をそのまま透過し、１／４波長板５５で円偏光とされ、対物レンズ６０を介して光ディスク１５の対象記録層である記録層Ｌ０に３つの微小スポットとして集光される。

「対象記録層が記録層Ｌ０の場合」
光ディスク１５からは、記録層Ｌ０からの信号光と記録層Ｌ１からの迷光とが生じ、これらの光束は、往路とは反対回りの円偏光となり、戻り光束として対物レンズ６０で再び略平行光とされ、１／４波長板５５で往路と直交した直線偏光（ここではＳ偏光）とされる。そして、この戻り光束は偏光ビームスプリッタ５４に入射する。偏光ビームスプリッタ５４に入射した戻り光束は、Ｓ偏光であるため、偏光ビームスプリッタ５４で−Ｚ方向に反射され、信号光が平行光で、迷光が収束光で集光レンズ６１に入射する。

集光レンズ６１からの信号光は、ビームスプリッタ７０を透過して分離光学素子６２に入射する。分離光学素子６２に入射する信号光は、ビームスポットが遮光部６２ａの大きさよりもかなり大きいため、その大部分は分離光学素子６２を透過して反射板６３に入射する。そして、反射板６３が信号光の集光位置に配置されているため、反射板６３で反射された信号光は、往路と同じ光路を通ってビームスプリッタ７０に入射する。ビームスプリッタ７０で−Ｘ方向に反射された信号光は、検出レンズ５８で集光され、受光器５９で受光される。

集光レンズ６１からの迷光は、ビームスプリッタ７０を透過して分離光学素子６２に入射する。分離光学素子６２は、記録層Ｌ１からの迷光の集光位置に配置され、集光レンズ６１の光軸の延長線上に遮光部６２ａが設けられているため、迷光は遮光部６２ａによって遮光される。

すなわち、戻り光束に含まれる信号光のみが受光器５９で受光されるため、Ｓ／Ｎ比の高い光電変換信号が出力されることとなる。

「対象記録層が記録層Ｌ１の場合」
光ディスク１５からは、記録層Ｌ１からの信号光と記録層Ｌ０からの迷光とが生じ、これらの光束は、往路とは反対回りの円偏光となり、戻り光束として対物レンズ６０で再び略平行光とされ、１／４波長板５５で往路と直交した直線偏光（ここではＳ偏光）とされる。そして、この戻り光束は偏光ビームスプリッタ５４に入射する。偏光ビームスプリッタ５４に入射した戻り光束は、Ｓ偏光であるため、偏光ビームスプリッタ５４で−Ｚ方向に反射され、信号光が平行光で、迷光が発散光で集光レンズ６１に入射する。

集光レンズ６１からの信号光は、対象記録層が記録層Ｌ０の場合と同様にして、受光器５９で受光される。

集光レンズ６１からの迷光は、ビームスプリッタ７０を透過して分離光学素子６２に入射する。この場合には、迷光の集光位置が反射板６３の−Ｚ側となるため、迷光のビームスポットは信号光のビームスポットよりも大きく、迷光の大部分は分離光学素子６２を透過して反射板６３に入射する。反射板６３で反射された迷光は、収束光として分離光学素子６２に再度入射する。このときには、分離光学素子６２が集光位置に配置されていることとなり、迷光は遮光部６２ａで遮光される。

この場合も、戻り光束に含まれる信号光のみが受光器５９で受光されるため、Ｓ／Ｎ比の高い光電変換信号が出力されることとなる。

図１に戻り、再生信号処理回路２８は、受光器５９の出力信号（複数の光電変換信号）に基づいて、サーボ信号（フォーカスエラー信号やトラックエラー信号など）、アドレス情報、同期情報及びＲＦ信号などを取得する。ここでは、受光器５９からＳ／Ｎ比の高い光電変換信号が出力されるため、サーボ信号、アドレス情報、同期情報及びＲＦ信号などを精度良く取得することができる。

例えば、中間層厚２０μｍの片面２層のＨＤ ＤＶＤディスクにおいて、受光器５９の出力信号から得られた差動プッシュプル信号の一例が図１２に示されている。なお、比較例として、偏光ビームスプリッタ５４で反射された戻り光束が、直接、検出レンズ５８に入射する場合に、受光器５９の出力信号から得られた差動プッシュプル信号が図１３に示されている。

比較例では、±１次光で生成される差動プッシュプル信号（ＳＰＰ）が迷光の干渉の影響により乱れていることが分かる。一方、本実施形態で得られた差動プッシュプ信号（ＳＰＰ）は、メインプッシュプル信号（ＭＰＰ）と同期しており，非常に精度の良い差動プッシュプル信号が得られている。なお、図１２及び図１３の縦軸は規格化されており、例えば、受光器５９がトラッキング方向に直交する方向の分割線によって２つの受光領域に分割され、各受光領域の出力信号をＳａ、Ｓｂとすると、縦軸は（Ｓａ−Ｓｂ）／（Ｓａ＋Ｓｂ）である。

再生信号処理回路２８で得られたサーボ信号は駆動制御回路２６に出力され、アドレス情報はＣＰＵ４０に出力され、同期信号はエンコーダ２５や駆動制御回路２６などに出力される。さらに、再生信号処理回路２８は、ＲＦ信号に対して復号処理及び誤り検出処理などを行い、誤りが検出されたときには誤り訂正処理を行った後、再生データとしてバッファマネージャ３７を介してバッファＲＡＭ３４に格納する。また、再生データに含まれるアドレス情報はＣＰＵ４０に出力される。

図１に戻り、駆動制御回路２６は、再生信号処理回路２８からのトラックエラー信号に基づいて、トラッキング方向に関する対物レンズ６０の位置ずれを補正するためのトラッキングアクチュエータの駆動信号を生成する。また、駆動制御回路２６は、再生信号処理回路２８からのフォーカスエラー信号に基づいて、対物レンズ６０のフォーカスずれを補正するためのフォーカシングアクチュエータの駆動信号を生成する。ここで生成された各アクチュエータの駆動信号は光ピックアップ装置２３に出力される。これにより、トラッキング制御及びフォーカス制御が行われる。さらに、駆動制御回路２６は、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、シークモータ２１を駆動するための駆動信号、及びスピンドルモータ２２を駆動するための駆動信号を生成する。各モータの駆動信号は、それぞれシークモータ２１及びスピンドルモータ２２に出力される。

バッファＲＡＭ３４には、光ディスク１５に記録するデータ（記録用データ）、及び光ディスク１５から再生したデータ（再生データ）などが一時的に格納される。このバッファＲＡＭ３４へのデータの入出力は、バッファマネージャ３７によって管理されている。

エンコーダ２５は、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、バッファＲＡＭ３４に蓄積されている記録用データをバッファマネージャ３７を介して取り出し、データの変調及びエラー訂正コードの付加などを行ない、光ディスク１５への書き込み信号を生成する。ここで生成された書き込み信号はレーザ制御回路２４に出力される。

レーザ制御回路２４は、光源ユニット５１の半導体レーザの発光パワーを制御する。例えば記録の際には、前記書き込み信号、記録条件、及び半導体レーザの発光特性などに基づいて、半導体レーザの駆動信号がレーザ制御回路２４にて生成される。

インターフェース３８は、上位装置９０（例えば、パソコン）との双方向の通信インターフェースであり、ＡＴＡＰＩ（ＡＴ Ａｔｔａｃｈｍｅｎｔ Ｐａｃｋｅｔ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）、ＳＣＳＩ（Ｓｍａｌｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｓｙｓｔｅｍ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）及びＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ Ｓｅｒｉａｌ Ｂｕｓ）などの標準インターフェースに準拠している。

フラッシュメモリ３９には、ＣＰＵ４０にて解読可能なコードで記述された各種プログラム、記録パワーや記録ストラテジ情報を含む記録条件、及び光源ユニット５１の半導体レーザの発光特性などが格納されている。

ＣＰＵ４０は、フラッシュメモリ３９に格納されている上記プログラムに従って前記各部の動作を制御するとともに、制御に必要なデータなどをＲＡＭ４１及びバッファＲＡＭ３４に保存する。

次に、上位装置９０からアクセス要求があったときの、光ディスク装置２０における処理について図１４を用いて簡単に説明する。図１４のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。

上位装置９０の主制御装置（図示省略）は、ユーザから記録要求があると記録要求コマンドを発行し、再生要求があると再生要求コマンドを発行する。

上位装置９０から記録要求コマンド又は再生要求コマンド（以下、「要求コマンド」と総称する）を受信すると、図１４のフローチャートに対応するプログラムの開始アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、処理がスタートする。

最初のステップ４０１では、所定の線速度（又は角速度）で光ディスク１５が回転するように駆動制御回路２６に指示するとともに、上位装置９０から要求コマンドを受信した旨を再生信号処理回路２８に通知する。

次のステップ４０３では、要求コマンドから指定アドレスを抽出し、その指定アドレスから、対象記録層が記録層Ｌ０であるか記録層Ｌ１であるかを特定する。

次のステップ４０５では、特定された対象記録層に関する情報を駆動制御回路２６などに通知する。

次のステップ４０９では、指定アドレスに対応する目標位置近傍に光スポットが形成されるように、駆動制御回路２６に指示する。これにより、シーク動作が行なわれる。なお、シーク動作が不要であれば、ここでの処理はスキップされる。

次のステップ４１１では、要求コマンドに応じて記録又は再生を許可する。

次のステップ４１３では、記録又は再生が完了したか否かを判断する。完了していなければ、ここでの判断は否定され、所定時間経過後に再度判断する。完了していれば、ここでの判断は肯定され、処理を終了する。

ところで、比較のために、偏光ビームスプリッタ５４で反射された戻り光束が、直接、検出レンズ５８に入射するときの信号光及び迷光の光路が、図１５（対象記録層が記録層Ｌ０の場合）及び図１６（対象記録層が記録層Ｌ１の場合）に示されている。なお、図１５及び図１６では、信号光を実線で示し、迷光を破線で示している。また、±１次光については、煩雑さを避けるため図示を省略している。

対象記録層が記録層Ｌ０の場合には、偏光ビームスプリッタ５４で−Ｚ方向に反射された戻り光束は、信号光が平行光で、迷光が収束光で検出レンズ５８に入射する。迷光は、信号光よりも＋Ｚ側で集光した後、発散状態で、信号光全体を覆うようにして光検出器５９に入射する。特に、０次光の迷光は、±１次光の受光領域（５９ａ、５９ｃ）にかぶってしまう。従って、迷光が、ＲＦ信号、ウォブル信号及びサーボ信号などの検出信号に影響を及ぼすことになる。

また、対象記録層が記録層Ｌ１の場合には、偏光ビームスプリッタ５４で−Ｚ方向に反射された戻り光束は、信号光が平行光で、迷光が発散光で検出レンズ５８に入射する。迷光は、信号光よりも−Ｚ方向に集光するため、信号光全体を覆うようにして光検出器５９に入射する。特に、０次光の迷光は、±１次光の受光領域（５９ａ、５９ｃ）にかぶってしまう。従って、迷光が、ＲＦ信号、ウォブル信号及びサ−ボ信号などの検出信号に影響を及ぼすことになる。

以上の説明から明らかなように、本実施形態に係る光ピックアップ装置２３では、集光レンズ６１とビームスプリッタ７０と分離光学素子６２と反射板６３とによって、抽出光学系が構成されている。

また、本実施形態に係る光ディスク装置２０では、再生信号処理回路２８と、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムとによって、処理装置が構成されている。なお、ＣＰＵ４０によるプログラムに従う処理の少なくとも一部をハードウェアによって構成することとしても良いし、あるいは全てをハードウェアによって構成することとしても良い。

また、光ディスク装置２０と上位装置９０とによって、情報処理装置が実現されている。そして、上位装置９０の主制御装置（図示省略）によって、制御装置が実現されている。

以上説明したように、本実施形態に係る光ピックアップ装置２３によると、光源ユニット５１から出力された直線偏光（ここではＰ偏光）の光束は、カップリングレンズ５２、グレーティング７１、偏光ビームスプリッタ５４、１／４波長板５５、及び対物レンズ６０を介して光ディスク１５の対象記録層に複数の微小スポットとして集光される。光ディスク１５からの戻り光束（信号光＋迷光）は、往路と直交した直線偏光（ここではＳ偏光）となって偏光ビームスプリッタ５４に入射する。偏光ビームスプリッタ５４で−Ｚ方向に反射された戻り光束は、集光レンズ６１で収束光となり、ビームスプリッタ７０を透過して分離光学素子６２に入射する。

分離光学素子６２に入射した信号光は、その大部分が反射板６３に入射し、反射板６３で反射されて、往路と同じ光路を通ってビームスプリッタ７０に入射する。ビームスプリッタ７０で−Ｘ方向に反射された信号光は、検出レンズ５８で集光され、受光器５９で受光される。一方、分離光学素子６２に入射した迷光は、対象記録層が記録層Ｌ０の場合には、遮光部６２ａによって遮光され、対象記録層が記録層Ｌ１の場合には、反射板６３で反射されてから遮光部６２ａによって遮光される。このように、戻り光束に含まれる信号光のみが受光器５９で受光されるため、受光器５９からは、Ｓ／Ｎ比の高い光電変換信号が出力されることとなる。従って、複数の記録層を有する光ディスクから所望の信号を精度良く取得することが可能となる。

また、本実施形態に係る光ディスク装置２０によると、Ｓ／Ｎ比の高い光電変換信号が光ピックアップ装置２３から出力されるため、複数の記録層を有する光ディスクへのアクセスを精度良く安定して行うことが可能となる。従って、複数の記録層を有する光ディスクからの情報の再生を精度良く行うことができる。

そして、本実施形態に係る情報処理装置によると、複数の記録層を有する光ディスクに対して、安定したアクセスを行うことが可能となる。

なお、上記実施形態において、前記光ピックアップ装置２３に代えて、図１７に示される光ピックアップ装置２３Ａを用いても良い。この光ピックアップ装置２３Ａでは、検出レンズ５８及び光検出器５９が偏光ビームスプリッタ５４の＋Ｚ側に配置され、前記反射板６３に代えて、反射板６４が用いられている。すなわち、集光レンズ６１とビームスプリッタ７０と分離光学素子６２と反射板６４とによって、抽出光学系が構成されている。

反射板６４は、反射型の１／２波長板であり、その光学軸は、信号光（ここでは、Ｓ偏光）の偏光方向に対して４５°傾斜した方向に設定されている。

上記反射型の１／２波長板としては、一例として図１８に示されるように、表面が入射光の波長よりも短いピッチの微細な凹凸形状をしたものが使われる。この凹凸形状により、入射／反射した光の複屈折が変わり、１／２波長の光学的位相差が付与される。

光ピックアップ装置２３Ａにおいて、対象記録層が記録層Ｌ０の場合が図１９に示され、対象記録層が記録層Ｌ１の場合が図２０に示されている。なお、図１９及び図２０では、信号光を実線で示し、迷光を破線で示している。また、±１次光については、煩雑さを避けるため図示を省略している。

信号光の大部分は、分離光学素子６２を透過し、反射板６４に入射する。反射板６４に入射した信号光は、１／２波長の光学的位相差が付与されＰ偏光となって反射される。そして、反射板６４で反射された信号光は、往路と同じ光路を通って偏光ビームスプリッタ５４に入射する。偏光ビームスプリッタ５４に入射した信号光は、Ｐ偏光であるため、その大部分が偏光ビームスプリッタ５４を透過し、検出レンズ５８で集光され、受光器５９で受光される。

迷光は、前記光ピックアップ装置２３と同様に、遮光部６２ａによって遮光される。

従って、上記実施形態と同様な効果を得ることができる。

また、上記実施形態において、前記光ピックアップ装置２３に代えて、図２１に示される光ピックアップ装置２３Ｂを用いても良い。この光ピックアップ装置２３Ｂは、上記光ピックアップ装置２３Ａにおいて、前記反射板６３を用い、該反射板６３と分離光学素子６２との間に、１／４波長板６５を配置したものである。すなわち、集光レンズ６１とビームスプリッタ７０と分離光学素子６２と１／４波長板６５と反射板６３とによって、抽出光学系が構成されている。

１／４波長板６５の光学軸は、信号光（ここでは、Ｓ偏光）の偏光方向に対して４５°傾斜した方向に設定されている。１／４波長板６５には、ツイストネマティック型液晶、サブ波長格子、フォトニック結晶、及び水晶などを用いることができる。

光ピックアップ装置２３Ｂにおいて、対象記録層が記録層Ｌ０の場合が図２２に示され、対象記録層が記録層Ｌ１の場合が図２３に示されている。なお、図２２及び図２３では、信号光を実線で示し、迷光を破線で示している。また、±１次光については、煩雑さを避けるため図示を省略している。

信号光の大部分は、分離光学素子６２を透過し、１／４波長板６５に入射する。１／４波長板６５に入射した信号光は、円偏光となって反射板６３に入射する。そして、反射板６３で反射された信号光は、往路と同じ光路を通って１／４波長板６５に入射し、Ｐ偏光となって、分離光学素子６２を介して偏光ビームスプリッタ５４に入射する。偏光ビームスプリッタ５４に入射した信号光は、Ｐ偏光であるため、その大部分が偏光ビームスプリッタ５４を透過し、検出レンズ５８で集光され、受光器５９で受光される。

迷光は、前記光ピックアップ装置２３と同様に、遮光部６２ａによって遮光される。

従って、上記実施形態と同様な効果を得ることができる。

また、上記実施形態において、前記光ピックアップ装置２３に代えて、図２４に示される光ピックアップ装置２３Ｃを用いても良い。この光ピックアップ装置２３Ｃは、上記光ピックアップ装置２３Ｂにおいて、前記分離光学素子６２と前記１／４波長板６５に代えて、前記分離光学素子６２の透過部６２ｂに、１／４波長の光学的位相差を入射光に付与する機能を追加した分離光学素子６２´を用いている。すなわち、集光レンズ６１とビームスプリッタ７０と分離光学素子６２´と反射板６３とによって、抽出光学系が構成されている。

なお、分離光学素子６２´の光学軸は、信号光（ここでは、Ｓ偏光）の偏光方向に対して４５°傾斜した方向に設定されている。

光ピックアップ装置２３Ｃにおいて、対象記録層が記録層Ｌ０の場合が図２５に示され、対象記録層が記録層Ｌ１の場合が図２６に示されている。なお、図２５及び図２６では、信号光を実線で示し、迷光を破線で示している。また、±１次光については、煩雑さを避けるため図示を省略している。

信号光の大部分は、分離光学素子６２´で円偏光となって反射板６３に入射する。そして、反射板６３で反射された信号光は、往路と同じ光路を通って分離光学素子６２´に入射し、分離光学素子６２´でＰ偏光となって、偏光ビームスプリッタ５４に入射する。偏光ビームスプリッタ５４に入射した信号光は、Ｐ偏光であるため、その大部分が偏光ビームスプリッタ５４を透過し、検出レンズ５８で集光され、受光器５９で受光される。

迷光は、前記光ピックアップ装置２３と同様にして、分離光学素子６２´の遮光部６２ａによって遮光される。

従って、上記実施形態と同様な効果を得ることができる。

また、上記実施形態において、前記光ピックアップ装置２３に代えて、図２７に示される光ピックアップ装置２３Ｄを用いても良い。この光ピックアップ装置２３Ｄは、上記光ピックアップ装置２３Ｃにおいて、前記分離光学素子６２´に代えて、変更光学素子６６を用いている。すなわち、集光レンズ６１とビームスプリッタ７０と変更光学素子６６と反射板６３とによって、抽出光学系が構成されている。

この変更光学素子６６は、一例として図２８に示されるように、入射光に−１／４波長の光学的位相差を付与する第１領域６６ａと、入射光に＋１／４波長の光学的位相差を付与する第２領域６６ｂとを有し、集光レンズ６１の光軸の延長線上に第２領域６６ｂが設けられている。また、第２領域６６ｂは、集光位置における迷光のビームスポットと同程度の大きさを有している。なお、第１領域６６ａ及び第２領域６６ｂの光学軸は、互いに直交し、信号光（ここでは、Ｓ偏光）の偏光方向に対して４５°傾斜した方向に設定されている。変更光学素子６６の各領域には、ツイストネマティック型液晶、サブ波長格子、フォトニック結晶、及び水晶などを用いることができる。

光ピックアップ装置２３Ｄにおいて、対象記録層が記録層Ｌ０の場合が図２９に示され、対象記録層が記録層Ｌ１の場合が図３０に示されている。なお、図２９及び図３０では、信号光を実線で示し、迷光を破線で示している。また、±１次光については、煩雑さを避けるため図示を省略している。

信号光の大部分は、変更光学素子６６の第１領域６６ａで−１／４波長の光学的位相差を付与され円偏光となって反射板６３に入射する。そして、反射板６３で反射された信号光は、往路と同じ光路を通って変更光学素子６６に入射し、第１領域６６ａで再度−１／４波長の光学的位相差を付与されてＰ偏光となって、偏光ビームスプリッタ５４に入射する。偏光ビームスプリッタ５４に入射した信号光は、Ｐ偏光であるため、その大部分が偏光ビームスプリッタ５４を透過し、検出レンズ５８で集光され、受光器５９で受光される。

対象記録層が記録層Ｌ０の場合、変更光学素子６６に入射した迷光は、第２領域６６ｂで＋１／４波長の光学的位相差を付与され円偏光となって反射板６３に入射する。反射板６３で反射された迷光は、変更光学素子６６に入射し、第１領域６６ａで−１／４波長の光学的位相差を付与されてＳ偏光となって、偏光ビームスプリッタ５４に入射する。偏光ビームスプリッタ５４に入射した迷光は、Ｓ偏光であるため、偏光ビームスプリッタ５４で反射され、検出レンズ５８には入射しない。

対象記録層が記録層Ｌ１の場合、変更光学素子６６に入射した迷光は、第１領域６６ａで−１／４波長の光学的位相差を付与され円偏光となって反射板６３に入射する。反射板６３で反射された迷光は、変更光学素子６６に入射し、第２領域６６ｂで＋１／４波長の光学的位相差を付与されてＳ偏光となって、偏光ビームスプリッタ５４に入射する。偏光ビームスプリッタ５４に入射した迷光は、Ｓ偏光であるため、偏光ビームスプリッタ５４で反射され、検出レンズ５８には入射しない。

従って、上記実施形態と同様な効果を得ることができる。

また、上記実施形態において、前記光ピックアップ装置２３に代えて、図３１に示される光ピックアップ装置２３Ｅを用いても良い。この光ピックアップ装置２３Ｅは、上記光ピックアップ装置２３Ｄにおいて、前記カップリングレンズ５２と前記集光レンズ６１の機能を１つの集光レンズ８０で実現したものである。これにより、光学系の小型化が可能となる。

光ピックアップ装置２３Ｅにおいて、対象記録層が記録層Ｌ０の場合が図３２に示されている。なお、図３２では、信号光を実線で示し、迷光を破線で示している。また、±１次光については、煩雑さを避けるため図示を省略している。

なお、上記実施形態では、対物レンズ６０が無限系である場合について説明したが、これに限らず、対物レンズ６０が有限系であっても良い。この場合であっても、上記実施形態及び各変形例と同じ構成で信号光を効率良く抽出することができる。

また、上記実施形態では、情報の記録及び再生が可能な光ディスク装置について説明したが、これに限らず、情報の記録、再生及び消去のうち、少なくとも情報の再生が可能な光ディスク装置であれば良い。

また、上記実施形態では、光ディスクが２つの記録層を有する場合について説明したが、これに限らず、３つ以上の記録層を有していてもよい。例えば対象記録層が２つの記録層に挟まれていると、戻り光束には、信号光の集光位置よりも手前で集光する迷光と、信号光の集光位置よりも遠方で集光する迷光とが含まれることとなるが、この場合でも、信号光を効率良く抽出することができる。

また、上記実施形態では、光ディスクがＨＤ ＤＶＤ系の場合について説明したが、これに限らず、光ディスクがＣＤ系、ＤＶＤ系，及びＢｌｕ−ｒａｙに対応した次世代の情報記録媒体であっても良い。

また、上記実施形態では、光ピックアップ装置が１つの半導体レーザを備える場合について説明したが、これに限らず、例えば互いに異なる波長の光束を発光する複数の半導体レーザを備えていても良い。この場合に、例えば波長が約４０５ｎｍの光束を発光する半導体レーザ、波長が約６６０ｎｍの光束を発光する半導体レーザ及び波長が約７８０ｎｍの光束を発光する半導体レーザの少なくとも１つを含んでいても良い。すなわち、光ディスク装置が互いに異なる規格に準拠した複数種類の光ディスクに対応する光ディスク装置であっても良い。この場合に、少なくともいずれかの光ディスクが複数の記録層を有する光ディスクであっても良い。

以上説明したように、本発明の抽出光学系によれば、信号光と迷光とを含む光束から信号光を効率良く抽出するのに適している。また、本発明の光ピックアップ装置によれば、複数の記録層を有する光ディスクから所望の信号を精度良く取得するのに適している。また、本発明の光ディスク装置によれば、複数の記録層を有する光ディスクへのアクセスを精度良く安定して行うのに適している。また、本発明の情報処理装置によれば、複数の記録層を有する光ディスクに対して、安定したアクセスを行うのに適している。

光ディスク装置の構成を示すブロック図である。 図１における光ディスクの構造を説明するための図である。 図１における光ピックアップ装置を説明するための図である。 図４（Ａ）及び図４（Ｂ）は、それぞれ信号光及び迷光を説明するための図である。 図３における分離光学素子の例１を説明するための図である。 信号光及び迷光の集光位置を説明するための図である。 図３における分離光学素子の例２を説明するための図である。 図３における分離光学素子の例３を説明するための図である。 図３における受光器を説明するための図である。 対象記録層が記録層Ｌ０の場合の、信号光及び迷光の光路を説明するための図である。 対象記録層が記録層Ｌ１の場合の、信号光及び迷光の光路を説明するための図である。 信号処理回路で取得される±１次光による差動プッシュプル信号を説明するための図である。 従来取得されていた±１次光による差動プッシュプル信号を説明するための図である。 上位装置からアクセス要求を受信したときの光ディスク装置での処理を説明するためのフローチャートである。 抽出光学系がないときの、対象記録層が記録層Ｌ０の場合の、信号光及び迷光の光路を説明するための図である。 抽出光学系がないときの、対象記録層が記録層Ｌ１の場合の、信号光及び迷光の光路を説明するための図である。 図１における光ピックアップ装置の変形例１を説明するための図である。 図１７における反射型の１／２波長板を説明するための図である。 図１７の光ピックアップ装置での、対象記録層が記録層Ｌ０の場合の、信号光及び迷光の光路を説明するための図である。 図１７の光ピックアップ装置での、対象記録層が記録層Ｌ１の場合の、信号光及び迷光の光路を説明するための図である。 図１における光ピックアップ装置の変形例２を説明するための図である。 図２１の光ピックアップ装置での、対象記録層が記録層Ｌ０の場合の、信号光及び迷光の光路を説明するための図である。 図２１の光ピックアップ装置での、対象記録層が記録層Ｌ１の場合の、信号光及び迷光の光路を説明するための図である。 図１における光ピックアップ装置の変形例３を説明するための図である。 図２４の光ピックアップ装置での、対象記録層が記録層Ｌ０の場合の、信号光及び迷光の光路を説明するための図である。 図２４の光ピックアップ装置での、対象記録層が記録層Ｌ１の場合の、信号光及び迷光の光路を説明するための図である。 図１における光ピックアップ装置の変形例４を説明するための図である。 図２７における変更光学素子を説明するための図である。 図２７の光ピックアップ装置での、対象記録層が記録層Ｌ０の場合の、信号光及び迷光の光路を説明するための図である。 図２７の光ピックアップ装置での、対象記録層が記録層Ｌ１の場合の、信号光及び迷光の光路を説明するための図である。 図１における光ピックアップ装置の変形例５を説明するための図である。 図３１の光ピックアップ装置での、対象記録層が記録層Ｌ０の場合の、信号光及び迷光の光路を説明するための図である。

符号の説明

１５…光ディスク、２０…光ディスク装置、２３…光ピックアップ装置、２３Ａ…光ピックアップ装置、２３Ｂ…光ピックアップ装置、２３Ｃ…光ピックアップ装置、２３Ｄ…光ピックアップ装置、２３Ｅ…光ピックアップ装置、２８…再生信号処理回路（処理装置の一部）、４０…ＣＰＵ（処理装置の一部）、５１…光源ユニット、５２…カップリングレンズ、５４…偏光ビームスプリッタ、５５…１／４波長板、５８…検出レンズ、５９…受光器、６０…対物レンズ、６１…集光レンズ（第１光学素子）、６２…分離光学素子（第２光学素子）、６２´…分離光学素子（第２光学素子）、６２ａ…遮光部（第１の領域）、６２ｂ…透過部（第２の領域）、６３…反射板（反射部材）、６４…反射板（反射部材）、６５…１／４波長板、６６…変更光学素子（第２光学素子）、６６ａ…第１領域（第１の領域）、６６ｂ…第２領域（第２の領域）、７０…ビームスプリッタ、７１…グレーティング、Ｌ０…記録層（複数の記録層の一部）、Ｌ１…記録層（複数の記録層の一部）。

Claims (10)

1. 信号光と迷光とが含まれる光束から前記信号光を抽出する抽出光学系であって、
   前記光束を集光する第１光学素子と；
   前記第１光学素子の光軸に直交する方向に平行な反射面を有し、該反射面が前記信号光の集光位置に配置されている反射部材と；
   前記反射部材に対して前記第１光学素子側にある迷光の集光位置に配置され、集光位置での迷光のビームスポットと同程度の大きさの第１の領域と、該第１の領域の周囲に設けられた第２の領域とを有し、前記第１の領域は光を遮光し、前記第２の領域は光を透過させ、前記信号光のみを前記第１光学素子に向けて出力する第２光学素子と；を備える抽出光学系。
2. 前記反射部材は、反射型の１／２波長板であることを特徴とする請求項１に記載の抽出光学系。
3. 前記第２光学素子と前記反射部材との間に配置された１／４波長板を、更に備えることを特徴とする請求項１に記載の抽出光学系。
4. 前記第２の領域は、入射した光束に１／４波長の光学的位相差を付与することを特徴とする請求項１に記載の抽出光学系。
5. 信号光と迷光とが含まれる光束から前記信号光を抽出する抽出光学系であって、
   前記光束を集光する第１光学素子と；
   前記第１光学素子の光軸に直交する方向に平行な反射面を有し、該反射面が前記信号光の集光位置に配置されている反射部材と；
   前記反射部材に対して前記第１光学素子側にある迷光の集光位置に配置され、集光位置での迷光のビームスポットと同程度の大きさの第１の領域と、該第１の領域の周囲に設けられた第２の領域とを有し、前記第１の領域及び前記第２の領域は、互いに光学軸が直交し、いずれも透過光に１／４波長の位相差を与え、前記信号光と前記迷光の偏光状態が互いに異なる状態で、前記第１光学素子に向けて出力する第２光学素子と；を備える抽出光学系。
6. 前記信号光と迷光とが含まれる光束は、複数の記録層を有する光ディスクからの対物レンズを介した光束であり、
   前記第２光学素子と前記反射部材の間隔Ｌは、前記対物レンズの焦点距離ｆ１、前記第１光学素子の焦点距離ｆ２、前記複数の記録層における記録層間隔Δ、前記複数の記録層における記録層間の媒質の屈折率ｎを用いて、Ｌ＝２・（Δ／ｎ）・（ｆ２／ｆ１）^２を満足することを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の抽出光学系。
7. 前記信号光と迷光とが含まれる光束は、複数の記録層を有する光ディスクからの対物レンズを介した光束であり、
   前記第１の領域は、前記対物レンズのトラッキング方向に対応する方向を長手方向とする長方形、あるいは前記トラッキング方向に対応する方向を長軸方向とする楕円形であることを特徴とする請求項１〜６のいずれか一項に記載の抽出光学系。
8. 複数の記録層を有する光ディスクに光束を照射し、前記光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップ装置であって、
   光源と；
   前記光源から射出された光束を前記複数の記録層のうちアクセス対象の記録層に集光する対物レンズと；
   前記光ディスクで反射され前記対物レンズを介した戻り光束の光路上に配置され、前記アクセス対象の記録層で反射された反射光を信号光とし、前記複数の記録層のうち前記アクセス対象の記録層以外の記録層で反射された反射光を迷光とし、前記戻り光束から前記信号光を抽出する請求項１〜７のいずれか一項に記載の抽出光学系と；
   前記抽出光学系で抽出された前記信号光を受光し、受光量に応じた信号を生成する光検出器と；を備える光ピックアップ装置。
9. 複数の記録層を有する光ディスクに対して、情報の記録、再生及び消去のうち少なくとも再生が可能な光ディスク装置であって、
   請求項８に記載の光ピックアップ装置と；
   前記光ピックアップ装置の光検出器の出力信号を用いて、前記光ディスクに記録されている情報の再生を行なう処理装置と；を備える光ディスク装置。
10. 請求項９に記載の光ディスク装置と；
    前記光ディスク装置を制御する制御装置と；を備える情報処理装置。