JP2009065212A - Substrate detecting apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、基板処理装置に用いられ、基板収納容器内の基板の収納状態を把握することができる基板検出装置に関する。 The present invention relates to a substrate detection apparatus that is used in a substrate processing apparatus and can grasp a storage state of a substrate in a substrate storage container.
従来、この種の基板処理装置として、例えば、特開平3−297156号公報に開示されたものがある。 Conventionally, as this type of substrate processing apparatus, for example, there is one disclosed in JP-A-3-297156.
この基板処理装置では、複数枚の基板を収納するためのカセットとして、オープンカセットと呼ばれるものが使用されている。このオープンカセット(以下、単に「カセット」と呼ぶ)の前側には、基板を取り出し・収納するための開口が設けられ、また、カセットの奥側には、前記開口よりも小さな開口が設けられている。また、カセットの内壁には、基板をほぼ水平に保持するための溝が多段に刻まれている。基板は、この溝に1枚ずつ収められ、その結果、複数枚の基板がカセットに収納される。 In this substrate processing apparatus, what is called an open cassette is used as a cassette for storing a plurality of substrates. An opening for taking out and storing the substrate is provided on the front side of this open cassette (hereinafter simply referred to as “cassette”), and an opening smaller than the opening is provided on the back side of the cassette. Yes. In addition, grooves for holding the substrate substantially horizontally are engraved in multiple stages on the inner wall of the cassette. The substrates are stored one by one in the groove, and as a result, a plurality of substrates are stored in the cassette.
基板処理装置は、カセット内の特定の溝から取り出した基板に所定の処理を行い、再び、この基板を特定の溝に収納するために、カセット内の基板の収納状態を予め把握する。この基板の収納状態の把握は、載置部に設けられた検出手段によって行われる。この検出手段は、カセットを前後から挟むように対向配置された投光素子と受光素子とで構成された透過型センサである。この透過型センサは、投光素子と受光素子との間で行われる光の伝送が遮断される否かによって、基板の有無を検出するものである。この透過型センサをカセット内の最上段の溝から最下段の溝にまで上下方向に移動させることで、カセットの各溝内に収納された基板の有無、すなわち、カセット内の基板の収納状態を把握している。 The substrate processing apparatus performs a predetermined process on the substrate taken out from the specific groove in the cassette, and grasps in advance the storage state of the substrate in the cassette in order to store the substrate in the specific groove again. The grasping state of the substrate is performed by detection means provided on the placement unit. This detection means is a transmission type sensor composed of a light projecting element and a light receiving element that are arranged to face each other so as to sandwich the cassette from the front and rear. This transmissive sensor detects the presence or absence of a substrate based on whether or not transmission of light performed between a light projecting element and a light receiving element is interrupted. By moving this transmissive sensor in the vertical direction from the uppermost groove in the cassette to the lowermost groove, the presence / absence of a substrate stored in each groove of the cassette, that is, the storage state of the substrate in the cassette is determined. I know.
しかしながら、近年の基板の大型化に伴って、この基板を収納するカセットについて、新たな規格が取り決められている。この規格に準じたカセットは、FOUP(Front Open Unified Pod)カセットと呼ばれている。このFOUPカセットは、基板の取り出し・収納するための単一の開口だけが設けられていて、この開口に着脱可能な蓋が取付けられた構成となっている。基板の取り出し・収納時に、FOUPカセットは、蓋が外され、開口が開けられた状態で使用されるが、単一の開口だけしか備えていないので、従来のようにカセットを前後から挟む透過型センサによっては、カセットの各溝に収納された基板の有無を検出することができないという問題がある。 However, with the recent increase in the size of substrates, new standards have been agreed on cassettes for storing these substrates. A cassette conforming to this standard is called a FOUP (Front Open Unified Pod) cassette. This FOUP cassette is provided with only a single opening for taking out and storing the substrate, and a detachable lid is attached to this opening. The FOUP cassette is used with the lid removed and the opening opened when the substrate is taken out and stored. However, since the FOUP cassette has only a single opening, it is a transmission type that sandwiches the cassette from the front and the rear as in the past. There is a problem that some sensors cannot detect the presence or absence of a substrate stored in each groove of the cassette.
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、基板収納容器内の基板の収納状態を把握することができる基板検出装置を提供することを目的とする。 This invention is made | formed in view of such a situation, Comprising: It aims at providing the board | substrate detection apparatus which can grasp | ascertain the accommodation state of the board | substrate in a board | substrate storage container.
本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項1に記載の発明は、基板を処理する基板処理装置の載置部上に載置された、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する基板検出装置であって、前記載置部は、基板が搬送される通過口と、前記通過口を開閉するシャッターとを備え、前記シャッターは、後退・下降移動して前記通過口を開き、上昇・前進移動して前記通過口を塞ぐように構成された基板検出装置において、前記シャッターに取り付けられ、前記シャッターと一体に昇降する投光素子を備え、前記投光素子は、前記基板収納容器内へ光を投光するようになっており、前記シャッターに取り付けられ、前記シャッターと一体に昇降する受光素子を備え、前記受光素子は、前記投光素子から投光された光を受光するようになっており、前記受光素子は、光を受光するときは電気信号が発生する状態になり、光を受光しないときは電気信号が発生しない状態になり、電気信号が発生するか否かに基づいて、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する検出手段を備えるものである。
In order to achieve such an object, the present invention has the following configuration.
That is, the invention according to
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の基板検出装置において、前記検出手段は、前記受光素子の前記電気信号が発生する状態から前記電気信号が発生しない状態へ変化すると基板の位置を検出することを特徴とするものである。 According to a second aspect of the present invention, in the substrate detection apparatus according to the first aspect, the position of the substrate is detected when the detection means changes from a state where the electric signal of the light receiving element is generated to a state where the electric signal is not generated. Is detected.
請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の基板検出装置において、前記検出手段は、前記受光素子の前記電気信号が発生しない状態から前記電気信号が発生する状態へ変化すると基板の位置を検出することを特徴とするものである。 According to a third aspect of the present invention, in the substrate detection apparatus according to the first aspect, when the detecting means changes from a state where the electric signal of the light receiving element is not generated to a state where the electric signal is generated, the position of the substrate is detected. Is detected.
請求項4に記載の発明は、基板を処理する基板処理装置の載置部上に載置された、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する基板検出装置であり、前記載置部は通過口を含み、前記通過口を通じて基板が搬送され、前記通過口を開閉するシャッターは、後退・下降移動して前記通過口を開き、上昇・前進移動して前記通過口を塞ぐように構成された基板検出装置であって、前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降して、前記基板収納容器内へ光を投光する投光素子と、前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降して、前記投光素子から投光された光を受光する受光素子とを備え、前記受光素子は、光を受光するときは電気信号が発生する状態になり、前記受光素子への光を基板が遮断するときは電気信号が発生しない状態になり、電気信号が発生するか否かに基づいて、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する検出手段を備えるものである。
Invention of
請求項5に記載の発明は、請求項4に記載の基板検出装置において、前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降する投光部材であり、前記投光部材が前記基板収納容器内へ前進しない場合は退避位置にあり、前記投光部材が前記基板収納容器内へ前進する場合は前記基板収納容器の開口に近接する位置にある前記投光部材と、前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降する受光部材であり、前記受光部材が前記基板収納容器内へ前進しない場合は退避位置にあり、前記受光部材が前記基板収納容器内へ前進する場合は前記基板収納容器の開口に近接する位置にある前記受光部材と、を更に備え、前記投光素子は前記投光部材の先端部に取り付けられ、前記受光素子は前記受光部材の先端部に取り付けられていることを特徴とするものである。 According to a fifth aspect of the present invention, in the substrate detection apparatus according to the fourth aspect, the light projecting member is attached to the shutter and moves up and down integrally with the shutter, and the light projecting member is moved into the substrate storage container. When the light projecting member does not move forward, it is in the retracted position, and when the light projecting member moves forward into the substrate storage container, the light projecting member is positioned close to the opening of the substrate storage container, and the shutter is attached to the shutter. A light receiving member that moves up and down integrally with the light receiving member. When the light receiving member does not advance into the substrate storage container, the light receiving member is in a retracted position, and when the light receiving member advances into the substrate storage container, The light receiving member at a position adjacent thereto, the light projecting element is attached to a front end portion of the light projecting member, and the light receiving element is attached to a front end portion of the light receiving member. And it is characterized in that is.
請求項6に記載の発明は、請求項5に記載の基板検出装置において、前記投光部材及び前記受光部材を前進・後退させる進退駆動機構を備えていることを特徴とするものである。 According to a sixth aspect of the present invention, in the substrate detection apparatus according to the fifth aspect of the present invention, the substrate detecting device includes an advance / retreat drive mechanism for moving the light projecting member and the light receiving member forward and backward.
請求項7に記載の発明は、請求項4に記載の基板検出装置において、前記投光素子及び前記受光素子は、前記シャッターの上部に取り付けられていることを特徴とするものである。 According to a seventh aspect of the present invention, in the substrate detection apparatus according to the fourth aspect, the light projecting element and the light receiving element are attached to an upper part of the shutter.
請求項8に記載の発明は、基板を処理する基板処理装置の載置部上に載置された、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する基板検出装置であり、前記載置部は通過口を含み、前記通過口を通じて基板が搬送され、前記通過口を開閉するシャッターは、後退・下降移動して前記通過口を開き、上昇・前進移動して前記通過口を塞ぐように構成された基板検出装置であって、前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降して、前記基板収納容器内へ光を投光する投光素子と、前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降して、前記投光素子から投光された光が基板の端面で反射されると光を受光する受光素子とを備え、前記受光素子は、光を受光すると電気信号が発生する状態になり、光を受光しないと電気信号が発生しない状態になり、電気信号が発生するか否かに基づいて、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する検出手段を備えるものである。 The invention according to claim 8 is a substrate detection device that detects the presence or absence of a substrate placed at each position in a substrate storage container, which is placed on a placement portion of a substrate processing apparatus for processing a substrate, The placement unit includes a passage opening, a substrate is conveyed through the passage opening, and a shutter that opens and closes the passage opening moves backward and downward to open the passage opening and moves upward and forward to move the passage opening. A substrate detection device configured to close, a light-projecting element that is attached to the shutter and that moves up and down integrally with the shutter to project light into the substrate storage container, and is attached to the shutter A light receiving element that moves up and down integrally with the shutter and receives light when the light projected from the light projecting element is reflected by an end surface of the substrate, and the light receiving element receives an electric signal when receiving the light. To generate light, Ready for electrical signal unless the light is not generated, based on whether an electrical signal is generated, in which comprises a detecting means for detecting the presence of the substrates stored in each position of the substrate storage container.
請求項9に記載の発明は、少なくとも1つの基板を処理する基板処理装置の載置部上に載置された基板収納容器内の前記少なくとも1つの基板に関する情報を検出する基板検出装置であり、前記載置部は通過口を含み、前記通過口を通じて前記少なくとも1つの基板が搬送され、前記通過口を開閉するシャッターは、後退・下降移動して前記通過口を開き、上昇・前進移動して前記通過口を塞ぐように構成された基板検出装置であって、前記シャッターに取り付けられて、前記シャッターと一体に昇降し、前記少なくとも1つの基板に関する情報を検出するセンサと、前記情報を処理する処理部とを備えるものである。
Invention of
本発明に係る基板検出装置によれば、投光素子及び受光素子は、シャッターに取り付けられているので、シャッターと一体となって昇降することができる。シャッターが昇降するとともに、投光素子から光が投光され、受光素子は投光素子からの光を受光したときは電気信号を発生する状態となり、光を受光しないときは電気信号が発生しない状態となるので、検出手段はこの電気信号の発生するか否かに基づいて、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出することができる。 According to the board | substrate detection apparatus which concerns on this invention, since the light projection element and the light receiving element are attached to the shutter, it can raise / lower integrally with a shutter. When the shutter moves up and down, light is projected from the light projecting element, and when the light receiving element receives light from the light projecting element, it is in an electrical signal generating state, and when it does not receive light, no electrical signal is generated. Therefore, the detection means can detect the presence / absence of the substrate stored at each position in the substrate storage container based on whether or not the electric signal is generated.
また、投光素子が先端部に取り付けられた投光部材と、受光素子が先端部に取り付けられた受光部材とを、基板収納容器の開口に近接する位置に前進移動させるようになっているので、基板収納容器により近い位置で基板を検出することができ、基板収納容器内の基板をより正確に検出することができる。 In addition, the light projecting member with the light projecting element attached to the front end portion and the light receiving member with the light receiving element attached to the front end portion are moved forward to a position close to the opening of the substrate storage container. The substrate can be detected at a position closer to the substrate storage container, and the substrate in the substrate storage container can be detected more accurately.
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。
図1は本発明の実施例に係る基板処理装置の要部の概略構成を示す平面図である。図2はその側面図である。なお、この実施例の基板処理装置は、FOUP(Front Open Unified Pod)カセットと呼ばれている、基板を取り出し・収納するための開口に蓋が取り付けられているカセットに対応した基板処理装置である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of a main part of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a side view thereof. The substrate processing apparatus of this embodiment is a substrate processing apparatus corresponding to a cassette called a FOUP (Front Open Unified Pod) cassette in which a lid is attached to an opening for taking out and storing a substrate. .
この基板処理装置は、図1に示すように、基板Wをカセット1から取り出して、この基板Wに所定の処理を施す処理部20と、カセット1を載置する載置部3とが隔壁12で隔てられて構成されている。載置部3には、カセット1を載置する複数個(本実施例では4個)のカセットステージ2が設けられている。
As shown in FIG. 1, the substrate processing apparatus includes a
図3に示すように、FOUPカセット1(以下、「カセット1」と呼ぶ)は、基板Wを収納するための容器1aと、この容器1aに備える開口1cに着脱可能に嵌め込まれる蓋1bとで構成されている。容器1aの内壁には、多段の溝1dが対向して設けられている。各溝1dには、基板Wがほぼ水平に保持された状態で収納されている。蓋1bには、容器1aの開口1cに嵌め込まれた際に、蓋1bを容器1aに固定する固定機構1eが埋設されている。この固定機構1eは、基端部にラックが刻設された2本のロック部材1fと、ラックに噛み合う回転自在なピニオン1gとで構成される。後述するシャッター部材5に備えているロック機構6によって、蓋1bの中央付近にあるピニオン1gを回転させることで、ロック部材1fを上昇させて、蓋1bを容器1aの開口1cに固定している。
As shown in FIG. 3, the FOUP cassette 1 (hereinafter referred to as “
カセットステージ2には、カセット1が載置されたことを検出するために、反射センサなどの図示しないカセット検出手段がカセット1の載置面に設けられている。また、カセットステージ2は、その下方に設けられたカセット駆動機構4によって、隔壁12方向(Y方向)に進退移動可能に構成されている。
The
カセット駆動機構4は、カセットステージ2の下面に設けられた凸部2aに螺合する螺軸4bを電動モータ4aで駆動する、いわゆる螺子送り機構によって構成されている。カセットステージ2にカセット1が載置されると、電動モータ4aが螺軸4bを正回転させてカセットステージ2を隔壁12に向かって前進させる。なお、カセット1の全ての基板Wの処理が終了すると、電動モータ4aは、螺軸4bを逆回転してカセットステージ2を後退させる。
The
隔壁12には、カセット1に対向する位置に、カセット1とほぼ同じ大きさの通過口12aが設けられている。この通過口12aは、カセット1から基板Wの取り出し・収納を行うためのものであり、カセット1が載置されていない場合には、処理部20と載置部3との雰囲気を遮蔽するためにシャッター部材5によって閉じられている。
The
図4に示すように、シャッター部材5は、隔壁12の通過口12aに嵌め込まれる凸部5aと、この凸部5aが設けられている支持板部5bとで構成される。凸部5aには、図示しない電動モータと、この電動モータの出力軸に連結された連結部材6aとが埋設されている。
As shown in FIG. 4, the
上述したカセットステージ2の前進駆動によって、カセット1の蓋1bは、シャッター部材5の凸部5aに近接する位置にまで移動されるので、蓋1bに備えられたロック機構1eのピニオン1gが、連結部材6aに連結接続される。この状態で、シャッター部材5に備えられたロック機構6は、電動モータを回転させて、蓋1bと容器1aとのロックを解除することで、容器1aから蓋1bを離脱可能とする。
By the forward drive of the
また、上述した支持板部5bには、下方へ延びた「L」字型のアーム5cが設けられている(図2参照)。シャッター部材5は、このアーム5cの基端部に取り付けたシャッター駆動機構7によって、進退および昇降駆動とされる。
Further, the above-described
シャッター駆動機構7は、シャッター部材5をZ方向に昇降させる昇降機構7aと、Y方向に進退させる進退機構7bとで構成されている。昇降機構7aは、アーム5cの基端部に螺合する螺軸を電動モータによって駆動する、いわゆる螺子送り機構によって構成されている。また、昇降機構7aの上部には、エンコーダ13aが設けられていて、電動モータの回転量を検出することによって、シャッター部材5のZ方向の位置を検出するようになっている。進退機構7bは、昇降機構7aをY方向に進退させる螺子送り機構で構成されている。昇降機構7aおよび進退機構7bによって、シャッター部材5は、進退および昇降可能となる。以下、図5(a)、(b)を参照してシャッター部材5の動作を具体的に説明する。
The
図5(a)に示すように、カセットステージ2(図2参照)に載置されたカセット1は、カセット駆動機構4(図2参照)によって前進駆動される。このとき、シャッター部材5は、通過口12aを塞いでいる。図5(b)に示すように、カセット1がシャッター部材5に近接する位置にまで移動してくると、シャッター部材5は、ロック機構6(図4参照)によって、カセット1の蓋1bのロックを解除するとともに、この蓋1bを保持する。次に、シャッター部材5は、シャッター駆動機構7によって後退駆動された後、カセット1からの基板Wの取り出し、収納の邪魔にならない退避位置にまで下降駆動される。このカセット1の全ての基板Wの処理が終了するまで退避位置で待機する。カセット1の全ての基板Wの処理が終了すると、シャッター部材5は、上昇駆動された後、前進駆動されて、通過口12aを塞ぐとともに、カセット1に蓋1bを取り付ける。
As shown in FIG. 5A, the
上述したシャッター部材5には、さらに図4に示したように、支持部材5bの上部に投光素子部10aと受光素子部10bとで構成される反射型センサ10が取り付けられている。この投光素子部10aと受光素子部10bとは、シャッター部材5が下降する際に、カセット1の溝1dに収納される基板Wの端面上の点Pに向くように取り付けられている。したがって、この投光素子部10aから投光された光は、カセット1の溝1dに収納された基板Wの端面上の点Pで反射し、この反射光が受光素子部10bで受光され、電気信号に変換される。つまり、受光素子部10bで電気信号が発生するか否かを検出することで、溝1d内に収納される基板Wの有無を知ることができる。
Further, as shown in FIG. 4, the above-described
図6に示すように、反射型センサ10は、データ収集部11に繋がれている。データ収集部11は、反射型センサ10の受光素子部10bで受光された反射光に基づいて光電変換された電気信号を収集する。データ収集部11では、シャッター部材5の下降駆動している間、電気信号の収集を行う。位置検出部13は、シャッター駆動機構7の昇降機構7aに取り付けられたエンコーダ13aから送られる電動モータの回転量信号に基づいて、シャッター部材5に取り付けられた反射型センサ10の位置を検出する。処理部14は、位置検出部13によって検出された反射型センサ10の位置と、データ収集部11に集められた電気信号とからカセット1内の各溝における基板Wの有無を求めるとともに、メモリ15にカセット1の各溝位置における基板Wの有無を記憶する。
As shown in FIG. 6, the
具体的には、シャッター部材5の下降、すなわち反射型センサ10の下降が始まると、データ収集部11は、反射型センサ10の投光素子部10aから光を投光するとともに、受光素子部10bで発生する電気信号の収集を開始する。まず、反射型センサ10の下降によって、反射型センサ10がカセット1の最上段の溝1dの正面位置に来たときには、この最上段の溝1dに基板Wが収納されている場合、その基板Wの端面上で、投光素子部10aから投光された光が反射する。受光素子部10bでは、受光された反射光が光電変換されて電気信号が発生する。さらに、反射型センサ10は下降するので、次に、反射型センサ10がカセット1内の2段目の溝1dの正面位置に来たときには、2段目の溝1dに基板Wが収納されていない場合、受光素子部10bでは反射光が受光されず、電気信号は発生しない。データ収集部11は、反射型センサの下降が終了するまで、これらの電気信号の収集し続ける。このデータ収集部11で収集される電気信号と時間経過との関係を示す模式図を図7(a)に示す。図中、符号70は、基板Wが検出された場合の各信号を示す。
Specifically, when the
一方、位置検出部13は、昇降機構7aに設けられているエンコーダ13aから送られてくる電動モータの回転量に基づいて、反射型センサ10の初期位置および下降量から反射型センサ10の位置を把握することができる。位置検出部13は、反射型センサ10がカセット1の各溝1dに対面する位置を通過している間の時間を検出する。この溝1dに対面する位置を通過する時間を示す模式図を図7(b)に示す。図中、符号71は、カセット1の溝1dに対面する位置を通過している間の時間を示す。符号72は、溝1dの番号を示す。この溝1dは、最初に通過する溝1dを「1」として、その後の溝は順番に「2」、「3」、・・・、「25」となっている。ここで、カセット1は、25枚の基板Wが収納できるので、溝1dの最後の番号は「25」となっている。
On the other hand, the
処理部14は、位置検出部13で検出される、各溝1dに対面する位置を通過する時間と、データ収集部11で集められた時間経過における基板Wの有無の情報とに基づいて、各溝1dの時間ごとに論理演算によって、各溝1dにおける基板Wの有無を求める。処理部14は、この結果をメモリ15に記憶する。このようにして、カセット1内の基板Wの収納状態を把握することができる。
Based on the time detected by the
このメモリ15に記憶された、各溝1dごとの基板Wの有無の情報は、図示しない基板処理装置を制御するコントローラによって利用される。例えば、コントローラは、このメモリ15の情報に基づいて、後述する基板搬送機構9を動作させて、カセット1の特定の溝から取り出した基板Wの処理が終了した後に、その基板Wを取り出した特定の溝へ返却収納するような場合に利用している。
Information on the presence or absence of the substrate W for each
基板処理装置は、カセット1内の基板Wの収納状態を把握した後、基板搬送機構9によって、カセット1から基板Wの取り出し・収納を開始する。
After grasping the storage state of the substrate W in the
基板搬送機構9は、基板Wを保持するアーム9aを備えている。この保持アーム9aは、図1に示すような「I」の字型の形状となっているが、例えば「U」の字型の形状であってもよい。このアーム9aは、基板Wの下面を点接触で支持する図示しない複数本の支持ピンを備え、搬送中の基板Wの脱落や位置ズレなどを防止するために基板Wの周辺に点接触する部材が設けられている。
The
基板搬送機構9は、次のように構成されている。図1、図2に示すように、アーム9aは、アーム支持台9bに配備された螺子送り機構によって、水平面内で進退移動可能に構成されている。次に、アーム支持台9bは、アーム回転台9cに内蔵された電動モータの出力軸に連結支持されている。この電動モータの回転によって、アーム9aは、水平面内で回転可能となる。さらに、アーム回転台9cは、螺子送り機構で構成された昇降機構9dによって、昇降可能に構成されている。また、昇降機構9dは、水平面内のX方向にスライド移動可能なスライド駆動機構9eに搭載されている。
The
上述した構成によって、アーム9aは、次のように動作する。スライド移動機構9eは、載置部3に載置された所定のカセット1に対向する位置にまでアーム9aをスライド移動させる。カセット1内の最上段の基板Wを取り出すために、アーム9aを上昇させ、さらにアーム9aを基板Wの下面にまで前進移動させ、アーム9aの上に基板Wを保持した後に、アーム9aを後退させて基板Wをカセット1から取り出す。スライド移動機構9eは、アーム9aを装置のほぼ中央付近にまで移動させて、処理部20の図示しない基板搬送ロボットに基板Wを受け渡す。処理部20での基板Wの処理が終了すると、基板搬送機構9は、処理部20の基板搬送ロボットから基板Wを受け取り、再びその基板Wを取り出したカセット1内に収納する。この処理をカセット1の全ての基板Wに対して行う。
With the above-described configuration, the
カセット1の全ての基板Wの処理が終了し、カセット1に全ての基板Wが収納されると、シャッター部材5は、上昇駆動された後に前進駆動されて、通過口12aを塞ぎ、ロック機構6を動作させて、カセット1の容器1aに蓋1bを固定する。容器1aに蓋1bが固定されると、カセットステージ2は、カセット駆動機構4によって後退移動し、カセット取り上げ位置にまで移動する。
When the processing of all the substrates W in the
上述した基板処理装置は、シャッター部材5の上部に検出手段である反射型センサ10を取り付けて、シャッター部材5の下降とともに、カセット1の各溝1dに保持される基板の有無を検出するので、検出手段だけを昇降させるような駆動機構を必要としない。したがって、検出手段を取り付けることによる、装置の製造コストの上昇を最小限に抑えることができる。また、装置に備わっている構成を利用して検出手段を容易に取り付けることができる。
The above-described substrate processing apparatus attaches the
本発明は、以下のように変形実施することも可能である。 The present invention can be modified as follows.
(1)上記実施例では、カセット1内の基板Wの収納状態を把握するために、カセット1の各溝1dに収納された基板Wの有無を検出する検出手段として反射型センサを用いたが、本発明はこれに限定するものではなく、例えば、この反射型センサ10の代わりに、進退駆動機構を備える透過型センサを取り付けることもできる。この透過型センサを取り付けた場合の構成を図8に示す。
(1) In the above embodiment, in order to grasp the storage state of the substrate W in the
図8に示すように、シャッター部材5の支持板部5bの上部には、進退駆動機構81と、この進退駆動機構81に進退駆動可能に取り付けられた透過型センサ80とが配備されている。進退駆動機構81は、連結部材81cに螺合する螺軸81bを電動モータ81aで駆動する、いわゆる、螺子送り機構によって構成されている。
As shown in FIG. 8, an advance /
透過型センサ80は、先端部に投光素子83aを備える投光部材80aと、先端部に受光素子83bを備える受光部材80bとで構成されていて、これら両部材80a、80bの基端部は、連結部材81cに支持固定されている。さらに、投光部材80aと受光部材80bとは、固定部材82aと固定部材82bとをそれぞれ貫通することによって、摺動自在に案内支持されているとともに、上下に高さをずらして対向配置されている。
The
以下、この透過型センサ80および進退駆動機構81がシャッター部材5に取り付けられた場合の動作について説明する。シャッター部材5の下降によって、透過型センサ80が、カセット1の上端部の正面位置に来ると、進退駆動機構81は、電動モータ81aを駆動して、連結部材81cを前進させる。この連結部材81cと一体となって、投光部材80aと受光部材80bとがカセット1の側壁の内面と基板Wとの間に向かって前進する。進退駆動機構81は、投光部材80aと受光部材80bとの先端部が所定の位置にまで来ると、電動モータ81aの駆動を止める。この位置は、カセット1の溝1dに基板Wが有る場合に、基板Wによって透過型センサ80の光軸が遮断される位置である。透過型センサ80は、この位置を保持された状態で、シャッター部材5の下降にしたがって、順次カセット1の各溝1d内の基板Wの有無を検出していく。この基板Wの検出のタイミングは、反射型センサを使用した上記実施例の場合と同様である。
Hereinafter, an operation when the
透過型センサ80が、カセット1の最下部の正面に来ると、進退駆動機構81は、電動モータ81aを逆方向に駆動して、連結部材81cを後退させる。投光部材80aと受光部材80bとの先端部が、固定部材82a、82bにまで後退したら、進退駆動機構81は、電動モータ81aの駆動を止める。投光部材80aと受光部材80bを後退させるのは、シャッター部材5が下降したときに、投光部材80aと受光部材80bとが、載置部3などに引っ掛からないようにするためである。
When the
上述した進退駆動機構81によって、検出手段である透過型センサ80を基板Wに近づけて基板Wの有無を検出することができるので、検出精度を向上することができる。なお、上述した実施例で説明した反射型センサを、上記の進退駆動機構81によって前後進させ、反射型センサを基板に近接させて基板の有無を検出するようにしてもよい。
The above-described advance /
(2)カセット1の各溝1dに収納された基板Wの有無を検出する検出手段は、反射型センサや透過型センサに限定するものではなく、例えば、カセット1内を撮像するCCDカメラでもよい。
(2) The detecting means for detecting the presence / absence of the substrate W accommodated in each
例えば、図9に示すように、シャッター部材5の支持板部5bの上部に、CCDカメラ90を載置する。このCCDカメラ90は、シャッター部材5が下降する間に、カセット1内を連続して撮像する。この撮像によって得られるカセット1の画像データは、データ収集部11に収集される。処理部14は、この画像データに2値化処理を施して、カセット1の基板Wの収納状態を把握する。なお、CCDカメラ90は、本発明における撮像手段に相当する。
For example, as shown in FIG. 9, the
上述した構成にすれば、カセット1内を画像として捉えることができるので、さらに詳細に基板の状態を把握することができる。
With the configuration described above, the inside of the
(3)上記変形例(2)では、カセット1内の基板Wの収納状態を把握するために、CCDカメラ90を用いたが、例えば、図10に示すように、シャッター部材5の支持板部5bの上部に、光ファイバ95を設置して、この光ファイバ95の終端に接続された図示しないCCDカメラによって、カセット1内を撮像するように構成してもよい。
(3) In the above modification (2), the
上述した構成にすれば、CCDカメラを装置内の空いた場所に設置することができるので、検出手段を設けることによる装置の拡大を防止することができる。また、光ファイバは、軽いのでシャッター部材5の動作に影響を与えることもない。なお、上述したCCDカメラ90や光ファイバ95を、図8に示したような進退駆動機構81で前後進させ、基板に近接した状態で、カセット内を撮像するようにしてもよい。
With the above-described configuration, the CCD camera can be installed in a vacant place in the apparatus, so that the expansion of the apparatus due to the provision of the detection means can be prevented. Further, since the optical fiber is light, the operation of the
1 …カセット
2 …カセットステージ
3 …載置部
4 …カセット駆動機構
5 …シャッター部材
6 …ロック機構
7 …シャッター駆動機構
9 …基板搬送機構
10 …反射型センサ
11 …データ収集部
12 …隔壁
12a…開口部
13 …位置検出部
14 …処理部
15 …メモリ
80 …透過型センサ
81 …進退駆動機構
90 …CCDカメラ
95 …光ファイバ
W …基板
DESCRIPTION OF
Claims (9)
前記シャッターに取り付けられ、前記シャッターと一体に昇降する投光素子を備え、
前記投光素子は、前記基板収納容器内へ光を投光するようになっており、
前記シャッターに取り付けられ、前記シャッターと一体に昇降する受光素子を備え、
前記受光素子は、前記投光素子から投光された光を受光するようになっており、
前記受光素子は、光を受光するときは電気信号が発生する状態になり、光を受光しないときは電気信号が発生しない状態になり、
電気信号が発生するか否かに基づいて、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する検出手段を備える基板検出装置。 A substrate detection device for detecting the presence or absence of a substrate stored at each position in a substrate storage container mounted on a mounting portion of a substrate processing apparatus for processing a substrate, wherein the mounting portion includes: It has a passing port to be conveyed and a shutter that opens and closes the passing port, and the shutter is configured to move backward and downward to open the passing port and to move up and forward to close the passing port. In the substrate detection device,
A light projecting element attached to the shutter and moving up and down integrally with the shutter;
The light projecting element is configured to project light into the substrate storage container,
A light receiving element attached to the shutter and moving up and down integrally with the shutter;
The light receiving element is adapted to receive light projected from the light projecting element,
The light receiving element is in a state where an electric signal is generated when receiving light, and is in a state where an electric signal is not generated when not receiving light,
A substrate detection apparatus comprising detection means for detecting the presence or absence of a substrate stored at each position in a substrate storage container based on whether or not an electrical signal is generated.
前記検出手段は、前記受光素子の前記電気信号が発生する状態から前記電気信号が発生しない状態へ変化すると基板の位置を検出することを特徴とする基板検出装置。 In the board | substrate detection apparatus of Claim 1,
The substrate detecting apparatus, wherein the detecting means detects the position of the substrate when the light receiving element changes from a state where the electric signal is generated to a state where the electric signal is not generated.
前記検出手段は、前記受光素子の前記電気信号が発生しない状態から前記電気信号が発生する状態へ変化すると基板の位置を検出することを特徴とする基板検出装置。 In the board | substrate detection apparatus of Claim 1,
The substrate detecting apparatus, wherein the detecting means detects a position of the substrate when the light receiving element changes from a state where the electric signal is not generated to a state where the electric signal is generated.
前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降して、前記基板収納容器内へ光を投光する投光素子と、
前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降して、前記投光素子から投光された光を受光する受光素子とを備え、
前記受光素子は、光を受光するときは電気信号が発生する状態になり、前記受光素子への光を基板が遮断するときは電気信号が発生しない状態になり、
電気信号が発生するか否かに基づいて、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する検出手段を備える基板検出装置。 A substrate detection device for detecting the presence or absence of a substrate stored at each position in a substrate storage container placed on a placement portion of a substrate processing apparatus for processing a substrate, wherein the placement portion includes a passage opening. The substrate detection apparatus is configured such that a substrate is transported through the passage opening, and a shutter that opens and closes the passage opening moves backward and downward to open the passage opening, and moves upward and forward to close the passage opening. Because
A light projecting element that is attached to the shutter and moves up and down integrally with the shutter to project light into the substrate storage container;
A light receiving element that is attached to the shutter and moves up and down integrally with the shutter to receive light projected from the light projecting element;
The light receiving element is in a state where an electrical signal is generated when receiving light, and is in a state where no electrical signal is generated when the substrate blocks light to the light receiving element,
A substrate detection apparatus comprising detection means for detecting the presence or absence of a substrate stored at each position in a substrate storage container based on whether or not an electrical signal is generated.
前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降する投光部材であり、前記投光部材が前記基板収納容器内へ前進しない場合は退避位置にあり、前記投光部材が前記基板収納容器内へ前進する場合は前記基板収納容器の開口に近接する位置にある前記投光部材と、
前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降する受光部材であり、前記受光部材が前記基板収納容器内へ前進しない場合は退避位置にあり、前記受光部材が前記基板収納容器内へ前進する場合は前記基板収納容器の開口に近接する位置にある前記受光部材と、を更に備え、
前記投光素子は前記投光部材の先端部に取り付けられ、前記受光素子は前記受光部材の先端部に取り付けられていることを特徴とする基板検出装置。 The board | substrate detection apparatus of Claim 4 WHEREIN:
A light projecting member that is attached to the shutter and moves up and down integrally with the shutter; when the light projecting member does not advance into the substrate storage container, the light projecting member is in a retracted position; and the light projecting member enters the substrate storage container In the case of advancing, the light projecting member in a position close to the opening of the substrate storage container,
A light receiving member that is attached to the shutter and moves up and down integrally with the shutter, and is in a retracted position when the light receiving member does not advance into the substrate storage container, and the light reception member advances into the substrate storage container Further comprising the light receiving member at a position close to the opening of the substrate storage container,
The substrate detecting device, wherein the light projecting element is attached to a front end portion of the light projecting member, and the light receiving element is attached to a front end portion of the light receiving member.
前記投光部材及び前記受光部材を前進・後退させる進退駆動機構を備えていることを特徴とする基板検出装置。 In the board | substrate detection apparatus of Claim 5,
A substrate detection apparatus comprising an advance / retreat drive mechanism for moving the light projecting member and the light receiving member forward and backward.
前記投光素子及び前記受光素子は、前記シャッターの上部に取り付けられていることを特徴とする基板検出装置。 The board | substrate detection apparatus of Claim 4 WHEREIN:
The substrate detecting device, wherein the light projecting element and the light receiving element are attached to an upper part of the shutter.
前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降して、前記基板収納容器内へ光を投光する投光素子と、
前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降して、前記投光素子から投光された光が基板の端面で反射されると光を受光する受光素子とを備え、
前記受光素子は、光を受光すると電気信号が発生する状態になり、光を受光しないと電気信号が発生しない状態になり、
電気信号が発生するか否かに基づいて、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する検出手段を備える基板検出装置。 A substrate detection device for detecting the presence or absence of a substrate stored at each position in a substrate storage container placed on a placement portion of a substrate processing apparatus for processing a substrate, wherein the placement portion includes a passage opening. The substrate detection apparatus is configured such that a substrate is transported through the passage opening, and a shutter that opens and closes the passage opening moves backward and downward to open the passage opening, and moves upward and forward to close the passage opening. Because
A light projecting element that is attached to the shutter and moves up and down integrally with the shutter to project light into the substrate storage container;
A light receiving element that is attached to the shutter and moves up and down integrally with the shutter, and receives light when the light projected from the light projecting element is reflected by the end face of the substrate;
The light receiving element is in a state where an electric signal is generated when receiving light, and an electric signal is not generated unless receiving light.
A substrate detection apparatus comprising detection means for detecting the presence or absence of a substrate stored at each position in a substrate storage container based on whether or not an electrical signal is generated.
前記シャッターに取り付けられて、前記シャッターと一体に昇降し、前記少なくとも1つの基板に関する情報を検出するセンサと、
前記情報を処理する処理部とを備える基板検出装置。 A substrate detection device for detecting information related to the at least one substrate in a substrate storage container placed on a placement portion of a substrate processing apparatus for processing at least one substrate, wherein the placement portion includes a passage opening. The at least one substrate is transported through the passage opening, and a shutter that opens and closes the passage opening is configured to move backward and downward to open the passage opening and to move upward and forward to close the passage opening. A substrate detection device,
A sensor attached to the shutter and integrally moving up and down with the shutter to detect information on the at least one substrate;
A substrate detection apparatus comprising: a processing unit that processes the information.
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