JP2009065212A - Substrate detecting apparatus - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate detecting apparatus to grasp containment condition of a substrate inside a substrate holding container. <P>SOLUTION: A reflecting type sensor 10 is mounted on a shutter member 5 to block a passing opening 12a of a separating wall 12. The reflecting type sensor 10 descending with the shutter member 5 detects substrates W inside a cassette 1 successively. A data processing part 11 collects detection information of the substrate W. A position detecting means detects a position of the reflecting type sensor 10 from information transmitted from an encoder 13a mounted on ascending/descending mechanism 7a. A processing part 14 grasps condition of the substrate W inside the cassette 1 from the detection information of the substrate W and the position of the reflecting type sensor 10. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、基板処理装置に用いられ、基板収納容器内の基板の収納状態を把握することができる基板検出装置に関する。   The present invention relates to a substrate detection apparatus that is used in a substrate processing apparatus and can grasp a storage state of a substrate in a substrate storage container.

従来、この種の基板処理装置として、例えば、特開平3−297156号公報に開示されたものがある。   Conventionally, as this type of substrate processing apparatus, for example, there is one disclosed in JP-A-3-297156.

この基板処理装置では、複数枚の基板を収納するためのカセットとして、オープンカセットと呼ばれるものが使用されている。このオープンカセット(以下、単に「カセット」と呼ぶ)の前側には、基板を取り出し・収納するための開口が設けられ、また、カセットの奥側には、前記開口よりも小さな開口が設けられている。また、カセットの内壁には、基板をほぼ水平に保持するための溝が多段に刻まれている。基板は、この溝に1枚ずつ収められ、その結果、複数枚の基板がカセットに収納される。   In this substrate processing apparatus, what is called an open cassette is used as a cassette for storing a plurality of substrates. An opening for taking out and storing the substrate is provided on the front side of this open cassette (hereinafter simply referred to as “cassette”), and an opening smaller than the opening is provided on the back side of the cassette. Yes. In addition, grooves for holding the substrate substantially horizontally are engraved in multiple stages on the inner wall of the cassette. The substrates are stored one by one in the groove, and as a result, a plurality of substrates are stored in the cassette.

基板処理装置は、カセット内の特定の溝から取り出した基板に所定の処理を行い、再び、この基板を特定の溝に収納するために、カセット内の基板の収納状態を予め把握する。この基板の収納状態の把握は、載置部に設けられた検出手段によって行われる。この検出手段は、カセットを前後から挟むように対向配置された投光素子と受光素子とで構成された透過型センサである。この透過型センサは、投光素子と受光素子との間で行われる光の伝送が遮断される否かによって、基板の有無を検出するものである。この透過型センサをカセット内の最上段の溝から最下段の溝にまで上下方向に移動させることで、カセットの各溝内に収納された基板の有無、すなわち、カセット内の基板の収納状態を把握している。   The substrate processing apparatus performs a predetermined process on the substrate taken out from the specific groove in the cassette, and grasps in advance the storage state of the substrate in the cassette in order to store the substrate in the specific groove again. The grasping state of the substrate is performed by detection means provided on the placement unit. This detection means is a transmission type sensor composed of a light projecting element and a light receiving element that are arranged to face each other so as to sandwich the cassette from the front and rear. This transmissive sensor detects the presence or absence of a substrate based on whether or not transmission of light performed between a light projecting element and a light receiving element is interrupted. By moving this transmissive sensor in the vertical direction from the uppermost groove in the cassette to the lowermost groove, the presence / absence of a substrate stored in each groove of the cassette, that is, the storage state of the substrate in the cassette is determined. I know.

しかしながら、近年の基板の大型化に伴って、この基板を収納するカセットについて、新たな規格が取り決められている。この規格に準じたカセットは、FOUP(Front Open Unified Pod)カセットと呼ばれている。このFOUPカセットは、基板の取り出し・収納するための単一の開口だけが設けられていて、この開口に着脱可能な蓋が取付けられた構成となっている。基板の取り出し・収納時に、FOUPカセットは、蓋が外され、開口が開けられた状態で使用されるが、単一の開口だけしか備えていないので、従来のようにカセットを前後から挟む透過型センサによっては、カセットの各溝に収納された基板の有無を検出することができないという問題がある。   However, with the recent increase in the size of substrates, new standards have been agreed on cassettes for storing these substrates. A cassette conforming to this standard is called a FOUP (Front Open Unified Pod) cassette. This FOUP cassette is provided with only a single opening for taking out and storing the substrate, and a detachable lid is attached to this opening. The FOUP cassette is used with the lid removed and the opening opened when the substrate is taken out and stored. However, since the FOUP cassette has only a single opening, it is a transmission type that sandwiches the cassette from the front and the rear as in the past. There is a problem that some sensors cannot detect the presence or absence of a substrate stored in each groove of the cassette.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、基板収納容器内の基板の収納状態を把握することができる基板検出装置を提供することを目的とする。   This invention is made | formed in view of such a situation, Comprising: It aims at providing the board | substrate detection apparatus which can grasp | ascertain the accommodation state of the board | substrate in a board | substrate storage container.

本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項1に記載の発明は、基板を処理する基板処理装置の載置部上に載置された、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する基板検出装置であって、前記載置部は、基板が搬送される通過口と、前記通過口を開閉するシャッターとを備え、前記シャッターは、後退・下降移動して前記通過口を開き、上昇・前進移動して前記通過口を塞ぐように構成された基板検出装置において、前記シャッターに取り付けられ、前記シャッターと一体に昇降する投光素子を備え、前記投光素子は、前記基板収納容器内へ光を投光するようになっており、前記シャッターに取り付けられ、前記シャッターと一体に昇降する受光素子を備え、前記受光素子は、前記投光素子から投光された光を受光するようになっており、前記受光素子は、光を受光するときは電気信号が発生する状態になり、光を受光しないときは電気信号が発生しない状態になり、電気信号が発生するか否かに基づいて、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する検出手段を備えるものである。
In order to achieve such an object, the present invention has the following configuration.
That is, the invention according to claim 1 is a substrate detection apparatus that detects the presence or absence of a substrate stored at each position in a substrate storage container, which is mounted on a mounting portion of a substrate processing apparatus that processes a substrate. The placement unit includes a passage opening through which the substrate is conveyed and a shutter that opens and closes the passage opening. The shutter moves backward and downward to open the passage opening and moves up and forward. The substrate detection apparatus configured to block the passage opening includes a light projecting element that is attached to the shutter and moves up and down integrally with the shutter, and the light projecting element projects light into the substrate storage container. A light receiving element that is attached to the shutter and that moves up and down integrally with the shutter, the light receiving element is configured to receive light projected from the light projecting element; The light receiving element Is in a state in which an electrical signal is generated when receiving light, and in a state in which no electrical signal is generated when no light is received. A detecting means for detecting the presence or absence of the substrate stored in the position is provided.

請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の基板検出装置において、前記検出手段は、前記受光素子の前記電気信号が発生する状態から前記電気信号が発生しない状態へ変化すると基板の位置を検出することを特徴とするものである。   According to a second aspect of the present invention, in the substrate detection apparatus according to the first aspect, the position of the substrate is detected when the detection means changes from a state where the electric signal of the light receiving element is generated to a state where the electric signal is not generated. Is detected.

請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の基板検出装置において、前記検出手段は、前記受光素子の前記電気信号が発生しない状態から前記電気信号が発生する状態へ変化すると基板の位置を検出することを特徴とするものである。   According to a third aspect of the present invention, in the substrate detection apparatus according to the first aspect, when the detecting means changes from a state where the electric signal of the light receiving element is not generated to a state where the electric signal is generated, the position of the substrate is detected. Is detected.

請求項4に記載の発明は、基板を処理する基板処理装置の載置部上に載置された、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する基板検出装置であり、前記載置部は通過口を含み、前記通過口を通じて基板が搬送され、前記通過口を開閉するシャッターは、後退・下降移動して前記通過口を開き、上昇・前進移動して前記通過口を塞ぐように構成された基板検出装置であって、前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降して、前記基板収納容器内へ光を投光する投光素子と、前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降して、前記投光素子から投光された光を受光する受光素子とを備え、前記受光素子は、光を受光するときは電気信号が発生する状態になり、前記受光素子への光を基板が遮断するときは電気信号が発生しない状態になり、電気信号が発生するか否かに基づいて、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する検出手段を備えるものである。   Invention of Claim 4 is the board | substrate detection apparatus which detects the presence or absence of the board | substrate accommodated in each position in the substrate storage container mounted on the mounting part of the substrate processing apparatus which processes a board | substrate, The placement unit includes a passage opening, a substrate is conveyed through the passage opening, and a shutter that opens and closes the passage opening moves backward and downward to open the passage opening and moves upward and forward to move the passage opening. A substrate detection device configured to close, a light-projecting element that is attached to the shutter and that moves up and down integrally with the shutter to project light into the substrate storage container, and is attached to the shutter A light receiving element that moves up and down integrally with the shutter and receives light projected from the light projecting element, and the light receiving element is in a state of generating an electrical signal when receiving light, The substrate blocks light from the device When the ready electric signal is not generated, based on whether an electrical signal is generated, in which comprises a detecting means for detecting the presence of the substrates stored in each position of the substrate storage container.

請求項5に記載の発明は、請求項4に記載の基板検出装置において、前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降する投光部材であり、前記投光部材が前記基板収納容器内へ前進しない場合は退避位置にあり、前記投光部材が前記基板収納容器内へ前進する場合は前記基板収納容器の開口に近接する位置にある前記投光部材と、前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降する受光部材であり、前記受光部材が前記基板収納容器内へ前進しない場合は退避位置にあり、前記受光部材が前記基板収納容器内へ前進する場合は前記基板収納容器の開口に近接する位置にある前記受光部材と、を更に備え、前記投光素子は前記投光部材の先端部に取り付けられ、前記受光素子は前記受光部材の先端部に取り付けられていることを特徴とするものである。   According to a fifth aspect of the present invention, in the substrate detection apparatus according to the fourth aspect, the light projecting member is attached to the shutter and moves up and down integrally with the shutter, and the light projecting member is moved into the substrate storage container. When the light projecting member does not move forward, it is in the retracted position, and when the light projecting member moves forward into the substrate storage container, the light projecting member is positioned close to the opening of the substrate storage container, and the shutter is attached to the shutter. A light receiving member that moves up and down integrally with the light receiving member. When the light receiving member does not advance into the substrate storage container, the light receiving member is in a retracted position, and when the light receiving member advances into the substrate storage container, The light receiving member at a position adjacent thereto, the light projecting element is attached to a front end portion of the light projecting member, and the light receiving element is attached to a front end portion of the light receiving member. And it is characterized in that is.

請求項6に記載の発明は、請求項5に記載の基板検出装置において、前記投光部材及び前記受光部材を前進・後退させる進退駆動機構を備えていることを特徴とするものである。   According to a sixth aspect of the present invention, in the substrate detection apparatus according to the fifth aspect of the present invention, the substrate detecting device includes an advance / retreat drive mechanism for moving the light projecting member and the light receiving member forward and backward.

請求項7に記載の発明は、請求項4に記載の基板検出装置において、前記投光素子及び前記受光素子は、前記シャッターの上部に取り付けられていることを特徴とするものである。   According to a seventh aspect of the present invention, in the substrate detection apparatus according to the fourth aspect, the light projecting element and the light receiving element are attached to an upper part of the shutter.

請求項8に記載の発明は、基板を処理する基板処理装置の載置部上に載置された、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する基板検出装置であり、前記載置部は通過口を含み、前記通過口を通じて基板が搬送され、前記通過口を開閉するシャッターは、後退・下降移動して前記通過口を開き、上昇・前進移動して前記通過口を塞ぐように構成された基板検出装置であって、前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降して、前記基板収納容器内へ光を投光する投光素子と、前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降して、前記投光素子から投光された光が基板の端面で反射されると光を受光する受光素子とを備え、前記受光素子は、光を受光すると電気信号が発生する状態になり、光を受光しないと電気信号が発生しない状態になり、電気信号が発生するか否かに基づいて、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する検出手段を備えるものである。   The invention according to claim 8 is a substrate detection device that detects the presence or absence of a substrate placed at each position in a substrate storage container, which is placed on a placement portion of a substrate processing apparatus for processing a substrate, The placement unit includes a passage opening, a substrate is conveyed through the passage opening, and a shutter that opens and closes the passage opening moves backward and downward to open the passage opening and moves upward and forward to move the passage opening. A substrate detection device configured to close, a light-projecting element that is attached to the shutter and that moves up and down integrally with the shutter to project light into the substrate storage container, and is attached to the shutter A light receiving element that moves up and down integrally with the shutter and receives light when the light projected from the light projecting element is reflected by an end surface of the substrate, and the light receiving element receives an electric signal when receiving the light. To generate light, Ready for electrical signal unless the light is not generated, based on whether an electrical signal is generated, in which comprises a detecting means for detecting the presence of the substrates stored in each position of the substrate storage container.

請求項9に記載の発明は、少なくとも1つの基板を処理する基板処理装置の載置部上に載置された基板収納容器内の前記少なくとも1つの基板に関する情報を検出する基板検出装置であり、前記載置部は通過口を含み、前記通過口を通じて前記少なくとも1つの基板が搬送され、前記通過口を開閉するシャッターは、後退・下降移動して前記通過口を開き、上昇・前進移動して前記通過口を塞ぐように構成された基板検出装置であって、前記シャッターに取り付けられて、前記シャッターと一体に昇降し、前記少なくとも1つの基板に関する情報を検出するセンサと、前記情報を処理する処理部とを備えるものである。   Invention of Claim 9 is a board | substrate detection apparatus which detects the information regarding the said at least 1 board | substrate in the board | substrate storage container mounted on the mounting part of the substrate processing apparatus which processes at least 1 board | substrate, The mounting portion includes a passage opening, and the at least one substrate is transported through the passage opening. A shutter that opens and closes the passage opening moves backward and downward to open the passage opening and moves up and forward. A substrate detection device configured to close the passage opening, the sensor being attached to the shutter and moving up and down integrally with the shutter to detect information on the at least one substrate, and processing the information And a processing unit.

本発明に係る基板検出装置によれば、投光素子及び受光素子は、シャッターに取り付けられているので、シャッターと一体となって昇降することができる。シャッターが昇降するとともに、投光素子から光が投光され、受光素子は投光素子からの光を受光したときは電気信号を発生する状態となり、光を受光しないときは電気信号が発生しない状態となるので、検出手段はこの電気信号の発生するか否かに基づいて、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出することができる。   According to the board | substrate detection apparatus which concerns on this invention, since the light projection element and the light receiving element are attached to the shutter, it can raise / lower integrally with a shutter. When the shutter moves up and down, light is projected from the light projecting element, and when the light receiving element receives light from the light projecting element, it is in an electrical signal generating state, and when it does not receive light, no electrical signal is generated. Therefore, the detection means can detect the presence / absence of the substrate stored at each position in the substrate storage container based on whether or not the electric signal is generated.

また、投光素子が先端部に取り付けられた投光部材と、受光素子が先端部に取り付けられた受光部材とを、基板収納容器の開口に近接する位置に前進移動させるようになっているので、基板収納容器により近い位置で基板を検出することができ、基板収納容器内の基板をより正確に検出することができる。   In addition, the light projecting member with the light projecting element attached to the front end portion and the light receiving member with the light receiving element attached to the front end portion are moved forward to a position close to the opening of the substrate storage container. The substrate can be detected at a position closer to the substrate storage container, and the substrate in the substrate storage container can be detected more accurately.

以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。
図1は本発明の実施例に係る基板処理装置の要部の概略構成を示す平面図である。図2はその側面図である。なお、この実施例の基板処理装置は、FOUP(Front Open Unified Pod)カセットと呼ばれている、基板を取り出し・収納するための開口に蓋が取り付けられているカセットに対応した基板処理装置である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of a main part of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a side view thereof. The substrate processing apparatus of this embodiment is a substrate processing apparatus corresponding to a cassette called a FOUP (Front Open Unified Pod) cassette in which a lid is attached to an opening for taking out and storing a substrate. .

この基板処理装置は、図1に示すように、基板Wをカセット1から取り出して、この基板Wに所定の処理を施す処理部20と、カセット1を載置する載置部3とが隔壁12で隔てられて構成されている。載置部3には、カセット1を載置する複数個(本実施例では4個)のカセットステージ2が設けられている。   As shown in FIG. 1, the substrate processing apparatus includes a partition wall 12 that includes a processing unit 20 that takes out a substrate W from a cassette 1 and performs a predetermined process on the substrate W, and a mounting unit 3 on which the cassette 1 is mounted. It is separated by. The mounting section 3 is provided with a plurality (four in this embodiment) of cassette stages 2 on which the cassette 1 is mounted.

図3に示すように、FOUPカセット1(以下、「カセット1」と呼ぶ)は、基板Wを収納するための容器1aと、この容器1aに備える開口1cに着脱可能に嵌め込まれる蓋1bとで構成されている。容器1aの内壁には、多段の溝1dが対向して設けられている。各溝1dには、基板Wがほぼ水平に保持された状態で収納されている。蓋1bには、容器1aの開口1cに嵌め込まれた際に、蓋1bを容器1aに固定する固定機構1eが埋設されている。この固定機構1eは、基端部にラックが刻設された2本のロック部材1fと、ラックに噛み合う回転自在なピニオン1gとで構成される。後述するシャッター部材5に備えているロック機構6によって、蓋1bの中央付近にあるピニオン1gを回転させることで、ロック部材1fを上昇させて、蓋1bを容器1aの開口1cに固定している。   As shown in FIG. 3, the FOUP cassette 1 (hereinafter referred to as “cassette 1”) includes a container 1a for storing the substrate W and a lid 1b that is detachably fitted into an opening 1c provided in the container 1a. It is configured. A multistage groove 1d is provided on the inner wall of the container 1a so as to face each other. In each groove 1d, the substrate W is stored in a state of being held almost horizontally. The lid 1b is embedded with a fixing mechanism 1e that fixes the lid 1b to the container 1a when fitted into the opening 1c of the container 1a. The fixing mechanism 1e includes two locking members 1f each having a rack carved at a base end portion, and a rotatable pinion 1g that meshes with the rack. A lock mechanism 6 provided in a shutter member 5 described later rotates a pinion 1g near the center of the lid 1b to raise the lock member 1f and fix the lid 1b to the opening 1c of the container 1a. .

カセットステージ2には、カセット1が載置されたことを検出するために、反射センサなどの図示しないカセット検出手段がカセット1の載置面に設けられている。また、カセットステージ2は、その下方に設けられたカセット駆動機構4によって、隔壁12方向(Y方向)に進退移動可能に構成されている。   The cassette stage 2 is provided with cassette detection means (not shown) such as a reflection sensor on the placement surface of the cassette 1 in order to detect that the cassette 1 is placed. The cassette stage 2 is configured to be movable back and forth in the direction of the partition wall 12 (Y direction) by a cassette driving mechanism 4 provided below the cassette stage 2.

カセット駆動機構4は、カセットステージ2の下面に設けられた凸部2aに螺合する螺軸4bを電動モータ4aで駆動する、いわゆる螺子送り機構によって構成されている。カセットステージ2にカセット1が載置されると、電動モータ4aが螺軸4bを正回転させてカセットステージ2を隔壁12に向かって前進させる。なお、カセット1の全ての基板Wの処理が終了すると、電動モータ4aは、螺軸4bを逆回転してカセットステージ2を後退させる。   The cassette driving mechanism 4 is configured by a so-called screw feeding mechanism in which a screw shaft 4b screwed with a convex portion 2a provided on the lower surface of the cassette stage 2 is driven by an electric motor 4a. When the cassette 1 is placed on the cassette stage 2, the electric motor 4 a rotates the screw shaft 4 b in the forward direction to advance the cassette stage 2 toward the partition wall 12. When the processing of all the substrates W in the cassette 1 is completed, the electric motor 4a rotates the screw shaft 4b in the reverse direction to move the cassette stage 2 backward.

隔壁12には、カセット1に対向する位置に、カセット1とほぼ同じ大きさの通過口12aが設けられている。この通過口12aは、カセット1から基板Wの取り出し・収納を行うためのものであり、カセット1が載置されていない場合には、処理部20と載置部3との雰囲気を遮蔽するためにシャッター部材5によって閉じられている。   The partition wall 12 is provided with a passage opening 12 a having the same size as the cassette 1 at a position facing the cassette 1. The passage port 12a is used to take out and store the substrate W from the cassette 1, and when the cassette 1 is not placed, it shields the atmosphere between the processing unit 20 and the placement unit 3. The shutter member 5 is closed.

図4に示すように、シャッター部材5は、隔壁12の通過口12aに嵌め込まれる凸部5aと、この凸部5aが設けられている支持板部5bとで構成される。凸部5aには、図示しない電動モータと、この電動モータの出力軸に連結された連結部材6aとが埋設されている。   As shown in FIG. 4, the shutter member 5 includes a convex portion 5a that is fitted into the passage port 12a of the partition wall 12, and a support plate portion 5b on which the convex portion 5a is provided. An electric motor (not shown) and a connecting member 6a connected to the output shaft of the electric motor are embedded in the convex portion 5a.

上述したカセットステージ2の前進駆動によって、カセット1の蓋1bは、シャッター部材5の凸部5aに近接する位置にまで移動されるので、蓋1bに備えられたロック機構1eのピニオン1gが、連結部材6aに連結接続される。この状態で、シャッター部材5に備えられたロック機構6は、電動モータを回転させて、蓋1bと容器1aとのロックを解除することで、容器1aから蓋1bを離脱可能とする。   By the forward drive of the cassette stage 2 described above, the lid 1b of the cassette 1 is moved to a position close to the convex portion 5a of the shutter member 5, so that the pinion 1g of the lock mechanism 1e provided on the lid 1b is connected. It is connected to the member 6a. In this state, the lock mechanism 6 provided in the shutter member 5 rotates the electric motor to release the lock between the lid 1b and the container 1a, so that the lid 1b can be detached from the container 1a.

また、上述した支持板部5bには、下方へ延びた「L」字型のアーム5cが設けられている(図2参照)。シャッター部材5は、このアーム5cの基端部に取り付けたシャッター駆動機構7によって、進退および昇降駆動とされる。   Further, the above-described support plate portion 5b is provided with an “L” -shaped arm 5c extending downward (see FIG. 2). The shutter member 5 is driven back and forth and up and down by a shutter drive mechanism 7 attached to the base end portion of the arm 5c.

シャッター駆動機構7は、シャッター部材5をZ方向に昇降させる昇降機構7aと、Y方向に進退させる進退機構7bとで構成されている。昇降機構7aは、アーム5cの基端部に螺合する螺軸を電動モータによって駆動する、いわゆる螺子送り機構によって構成されている。また、昇降機構7aの上部には、エンコーダ13aが設けられていて、電動モータの回転量を検出することによって、シャッター部材5のZ方向の位置を検出するようになっている。進退機構7bは、昇降機構7aをY方向に進退させる螺子送り機構で構成されている。昇降機構7aおよび進退機構7bによって、シャッター部材5は、進退および昇降可能となる。以下、図5(a)、(b)を参照してシャッター部材5の動作を具体的に説明する。   The shutter drive mechanism 7 includes an elevating mechanism 7a that elevates and lowers the shutter member 5 in the Z direction and an advance / retreat mechanism 7b that advances and retracts in the Y direction. The elevating mechanism 7a is configured by a so-called screw feed mechanism in which a screw shaft that is screwed to the base end portion of the arm 5c is driven by an electric motor. Further, an encoder 13a is provided above the lifting mechanism 7a, and detects the position of the shutter member 5 in the Z direction by detecting the amount of rotation of the electric motor. The advance / retreat mechanism 7b is constituted by a screw feed mechanism that advances and retracts the elevating mechanism 7a in the Y direction. By the elevating mechanism 7a and the advance / retreat mechanism 7b, the shutter member 5 can advance / retreat and elevate / lower. Hereinafter, the operation of the shutter member 5 will be described in detail with reference to FIGS. 5 (a) and 5 (b).

図5(a)に示すように、カセットステージ2(図2参照)に載置されたカセット1は、カセット駆動機構4(図2参照)によって前進駆動される。このとき、シャッター部材5は、通過口12aを塞いでいる。図5(b)に示すように、カセット1がシャッター部材5に近接する位置にまで移動してくると、シャッター部材5は、ロック機構6(図4参照)によって、カセット1の蓋1bのロックを解除するとともに、この蓋1bを保持する。次に、シャッター部材5は、シャッター駆動機構7によって後退駆動された後、カセット1からの基板Wの取り出し、収納の邪魔にならない退避位置にまで下降駆動される。このカセット1の全ての基板Wの処理が終了するまで退避位置で待機する。カセット1の全ての基板Wの処理が終了すると、シャッター部材5は、上昇駆動された後、前進駆動されて、通過口12aを塞ぐとともに、カセット1に蓋1bを取り付ける。   As shown in FIG. 5A, the cassette 1 placed on the cassette stage 2 (see FIG. 2) is driven forward by a cassette driving mechanism 4 (see FIG. 2). At this time, the shutter member 5 closes the passage opening 12a. As shown in FIG. 5B, when the cassette 1 moves to a position close to the shutter member 5, the shutter member 5 is locked by the lock mechanism 6 (see FIG. 4) to the lid 1b of the cassette 1. Is released and the lid 1b is held. Next, after the shutter member 5 is driven backward by the shutter drive mechanism 7, it is driven downward to a retracted position that does not obstruct the removal and storage of the substrate W from the cassette 1. The process waits at the retreat position until the processing of all the substrates W in the cassette 1 is completed. When the processing of all the substrates W in the cassette 1 is completed, the shutter member 5 is driven to rise and then is driven forward to close the passage port 12a and attach the lid 1b to the cassette 1.

上述したシャッター部材5には、さらに図4に示したように、支持部材5bの上部に投光素子部10aと受光素子部10bとで構成される反射型センサ10が取り付けられている。この投光素子部10aと受光素子部10bとは、シャッター部材5が下降する際に、カセット1の溝1dに収納される基板Wの端面上の点Pに向くように取り付けられている。したがって、この投光素子部10aから投光された光は、カセット1の溝1dに収納された基板Wの端面上の点Pで反射し、この反射光が受光素子部10bで受光され、電気信号に変換される。つまり、受光素子部10bで電気信号が発生するか否かを検出することで、溝1d内に収納される基板Wの有無を知ることができる。   Further, as shown in FIG. 4, the above-described shutter member 5 is provided with a reflection type sensor 10 including a light projecting element portion 10a and a light receiving element portion 10b on an upper portion of a support member 5b. The light projecting element unit 10a and the light receiving element unit 10b are attached to face the point P on the end surface of the substrate W stored in the groove 1d of the cassette 1 when the shutter member 5 is lowered. Therefore, the light projected from the light projecting element portion 10a is reflected at the point P on the end surface of the substrate W accommodated in the groove 1d of the cassette 1, and the reflected light is received by the light receiving element portion 10b. Converted to a signal. That is, the presence or absence of the substrate W accommodated in the groove 1d can be known by detecting whether or not an electric signal is generated in the light receiving element portion 10b.

図6に示すように、反射型センサ10は、データ収集部11に繋がれている。データ収集部11は、反射型センサ10の受光素子部10bで受光された反射光に基づいて光電変換された電気信号を収集する。データ収集部11では、シャッター部材5の下降駆動している間、電気信号の収集を行う。位置検出部13は、シャッター駆動機構7の昇降機構7aに取り付けられたエンコーダ13aから送られる電動モータの回転量信号に基づいて、シャッター部材5に取り付けられた反射型センサ10の位置を検出する。処理部14は、位置検出部13によって検出された反射型センサ10の位置と、データ収集部11に集められた電気信号とからカセット1内の各溝における基板Wの有無を求めるとともに、メモリ15にカセット1の各溝位置における基板Wの有無を記憶する。   As shown in FIG. 6, the reflective sensor 10 is connected to the data collection unit 11. The data collection unit 11 collects electrical signals that have been photoelectrically converted based on the reflected light received by the light receiving element unit 10 b of the reflective sensor 10. The data collection unit 11 collects electrical signals while the shutter member 5 is driven downward. The position detection unit 13 detects the position of the reflective sensor 10 attached to the shutter member 5 based on the rotation amount signal of the electric motor sent from the encoder 13 a attached to the lifting mechanism 7 a of the shutter drive mechanism 7. The processing unit 14 obtains the presence / absence of the substrate W in each groove in the cassette 1 from the position of the reflective sensor 10 detected by the position detection unit 13 and the electrical signal collected by the data collection unit 11, and also stores the memory 15. The presence / absence of the substrate W at each groove position of the cassette 1 is stored.

具体的には、シャッター部材5の下降、すなわち反射型センサ10の下降が始まると、データ収集部11は、反射型センサ10の投光素子部10aから光を投光するとともに、受光素子部10bで発生する電気信号の収集を開始する。まず、反射型センサ10の下降によって、反射型センサ10がカセット1の最上段の溝1dの正面位置に来たときには、この最上段の溝1dに基板Wが収納されている場合、その基板Wの端面上で、投光素子部10aから投光された光が反射する。受光素子部10bでは、受光された反射光が光電変換されて電気信号が発生する。さらに、反射型センサ10は下降するので、次に、反射型センサ10がカセット1内の2段目の溝1dの正面位置に来たときには、2段目の溝1dに基板Wが収納されていない場合、受光素子部10bでは反射光が受光されず、電気信号は発生しない。データ収集部11は、反射型センサの下降が終了するまで、これらの電気信号の収集し続ける。このデータ収集部11で収集される電気信号と時間経過との関係を示す模式図を図7(a)に示す。図中、符号70は、基板Wが検出された場合の各信号を示す。   Specifically, when the shutter member 5 descends, that is, when the reflective sensor 10 begins to descend, the data collection unit 11 projects light from the light projecting element unit 10a of the reflective sensor 10 and the light receiving element unit 10b. Start collecting electrical signals generated in First, when the reflective sensor 10 comes to the front position of the uppermost groove 1d of the cassette 1 due to the lowering of the reflective sensor 10, if the substrate W is stored in the uppermost groove 1d, the substrate W The light projected from the light projecting element unit 10a is reflected on the end surface of the light. In the light receiving element portion 10b, the received reflected light is photoelectrically converted to generate an electrical signal. Further, since the reflective sensor 10 is lowered, next, when the reflective sensor 10 comes to the front position of the second-stage groove 1d in the cassette 1, the substrate W is stored in the second-stage groove 1d. If not, the light receiving element portion 10b does not receive the reflected light and no electrical signal is generated. The data collection unit 11 continues collecting these electric signals until the descent of the reflective sensor is completed. FIG. 7A is a schematic diagram showing the relationship between the electrical signal collected by the data collection unit 11 and the passage of time. In the figure, reference numeral 70 indicates each signal when the substrate W is detected.

一方、位置検出部13は、昇降機構7aに設けられているエンコーダ13aから送られてくる電動モータの回転量に基づいて、反射型センサ10の初期位置および下降量から反射型センサ10の位置を把握することができる。位置検出部13は、反射型センサ10がカセット1の各溝1dに対面する位置を通過している間の時間を検出する。この溝1dに対面する位置を通過する時間を示す模式図を図7(b)に示す。図中、符号71は、カセット1の溝1dに対面する位置を通過している間の時間を示す。符号72は、溝1dの番号を示す。この溝1dは、最初に通過する溝1dを「1」として、その後の溝は順番に「2」、「3」、・・・、「25」となっている。ここで、カセット1は、25枚の基板Wが収納できるので、溝1dの最後の番号は「25」となっている。   On the other hand, the position detection unit 13 determines the position of the reflective sensor 10 from the initial position and the descending amount of the reflective sensor 10 based on the rotation amount of the electric motor sent from the encoder 13a provided in the lifting mechanism 7a. I can grasp it. The position detector 13 detects the time during which the reflective sensor 10 passes through the position facing each groove 1 d of the cassette 1. FIG. 7B is a schematic diagram showing the time for passing through the position facing the groove 1d. In the figure, reference numeral 71 indicates the time during the passage through the position facing the groove 1 d of the cassette 1. Reference numeral 72 indicates the number of the groove 1d. In this groove 1d, the first groove 1d passing through is “1”, and the subsequent grooves are “2”, “3”,. Here, since the cassette 1 can store 25 substrates W, the last number of the groove 1d is “25”.

処理部14は、位置検出部13で検出される、各溝1dに対面する位置を通過する時間と、データ収集部11で集められた時間経過における基板Wの有無の情報とに基づいて、各溝1dの時間ごとに論理演算によって、各溝1dにおける基板Wの有無を求める。処理部14は、この結果をメモリ15に記憶する。このようにして、カセット1内の基板Wの収納状態を把握することができる。   Based on the time detected by the position detection unit 13 and passing through the position facing each groove 1d and the information on the presence or absence of the substrate W collected over time collected by the data collection unit 11, the processing unit 14 The presence / absence of the substrate W in each groove 1d is obtained by logical operation for each time of the groove 1d. The processing unit 14 stores the result in the memory 15. In this way, the storage state of the substrates W in the cassette 1 can be grasped.

このメモリ15に記憶された、各溝1dごとの基板Wの有無の情報は、図示しない基板処理装置を制御するコントローラによって利用される。例えば、コントローラは、このメモリ15の情報に基づいて、後述する基板搬送機構9を動作させて、カセット1の特定の溝から取り出した基板Wの処理が終了した後に、その基板Wを取り出した特定の溝へ返却収納するような場合に利用している。   Information on the presence or absence of the substrate W for each groove 1d stored in the memory 15 is used by a controller that controls a substrate processing apparatus (not shown). For example, the controller operates a substrate transport mechanism 9 to be described later based on the information in the memory 15, and after the processing of the substrate W taken out from the specific groove of the cassette 1 is completed, the controller It is used when returning and storing in the groove.

基板処理装置は、カセット1内の基板Wの収納状態を把握した後、基板搬送機構9によって、カセット1から基板Wの取り出し・収納を開始する。   After grasping the storage state of the substrate W in the cassette 1, the substrate processing apparatus starts taking out and storing the substrate W from the cassette 1 by the substrate transport mechanism 9.

基板搬送機構9は、基板Wを保持するアーム9aを備えている。この保持アーム9aは、図1に示すような「I」の字型の形状となっているが、例えば「U」の字型の形状であってもよい。このアーム9aは、基板Wの下面を点接触で支持する図示しない複数本の支持ピンを備え、搬送中の基板Wの脱落や位置ズレなどを防止するために基板Wの周辺に点接触する部材が設けられている。   The substrate transport mechanism 9 includes an arm 9 a that holds the substrate W. The holding arm 9a has a “I” shape as shown in FIG. 1, but may have a “U” shape, for example. The arm 9a includes a plurality of support pins (not shown) that support the lower surface of the substrate W by point contact, and is a member that makes point contact with the periphery of the substrate W in order to prevent the substrate W from being dropped or displaced. Is provided.

基板搬送機構9は、次のように構成されている。図1、図2に示すように、アーム9aは、アーム支持台9bに配備された螺子送り機構によって、水平面内で進退移動可能に構成されている。次に、アーム支持台9bは、アーム回転台9cに内蔵された電動モータの出力軸に連結支持されている。この電動モータの回転によって、アーム9aは、水平面内で回転可能となる。さらに、アーム回転台9cは、螺子送り機構で構成された昇降機構9dによって、昇降可能に構成されている。また、昇降機構9dは、水平面内のX方向にスライド移動可能なスライド駆動機構9eに搭載されている。   The substrate transport mechanism 9 is configured as follows. As shown in FIGS. 1 and 2, the arm 9a is configured to be movable back and forth in a horizontal plane by a screw feed mechanism provided on the arm support base 9b. Next, the arm support base 9b is connected and supported by the output shaft of the electric motor built in the arm rotary base 9c. The arm 9a can be rotated in a horizontal plane by the rotation of the electric motor. Further, the arm turntable 9c is configured to be movable up and down by an elevating mechanism 9d configured by a screw feeding mechanism. The elevating mechanism 9d is mounted on a slide drive mechanism 9e that is slidable in the X direction in a horizontal plane.

上述した構成によって、アーム9aは、次のように動作する。スライド移動機構9eは、載置部3に載置された所定のカセット1に対向する位置にまでアーム9aをスライド移動させる。カセット1内の最上段の基板Wを取り出すために、アーム9aを上昇させ、さらにアーム9aを基板Wの下面にまで前進移動させ、アーム9aの上に基板Wを保持した後に、アーム9aを後退させて基板Wをカセット1から取り出す。スライド移動機構9eは、アーム9aを装置のほぼ中央付近にまで移動させて、処理部20の図示しない基板搬送ロボットに基板Wを受け渡す。処理部20での基板Wの処理が終了すると、基板搬送機構9は、処理部20の基板搬送ロボットから基板Wを受け取り、再びその基板Wを取り出したカセット1内に収納する。この処理をカセット1の全ての基板Wに対して行う。   With the above-described configuration, the arm 9a operates as follows. The slide moving mechanism 9 e slides the arm 9 a to a position facing the predetermined cassette 1 placed on the placement unit 3. In order to take out the uppermost substrate W in the cassette 1, the arm 9a is raised, the arm 9a is further moved forward to the lower surface of the substrate W, the substrate W is held on the arm 9a, and then the arm 9a is retracted. Then, the substrate W is taken out from the cassette 1. The slide moving mechanism 9e moves the arm 9a to almost the center of the apparatus and delivers the substrate W to a substrate transport robot (not shown) of the processing unit 20. When the processing of the substrate W in the processing unit 20 is completed, the substrate transport mechanism 9 receives the substrate W from the substrate transport robot of the processing unit 20 and stores the substrate W in the cassette 1 that has taken out the substrate W again. This process is performed on all the substrates W in the cassette 1.

カセット1の全ての基板Wの処理が終了し、カセット1に全ての基板Wが収納されると、シャッター部材5は、上昇駆動された後に前進駆動されて、通過口12aを塞ぎ、ロック機構6を動作させて、カセット1の容器1aに蓋1bを固定する。容器1aに蓋1bが固定されると、カセットステージ2は、カセット駆動機構4によって後退移動し、カセット取り上げ位置にまで移動する。   When the processing of all the substrates W in the cassette 1 is completed and all the substrates W are stored in the cassette 1, the shutter member 5 is driven to move upward after being lifted to close the passage port 12a, and the lock mechanism 6 Is operated to fix the lid 1 b to the container 1 a of the cassette 1. When the lid 1b is fixed to the container 1a, the cassette stage 2 is moved backward by the cassette driving mechanism 4 and moved to the cassette picking position.

上述した基板処理装置は、シャッター部材5の上部に検出手段である反射型センサ10を取り付けて、シャッター部材5の下降とともに、カセット1の各溝1dに保持される基板の有無を検出するので、検出手段だけを昇降させるような駆動機構を必要としない。したがって、検出手段を取り付けることによる、装置の製造コストの上昇を最小限に抑えることができる。また、装置に備わっている構成を利用して検出手段を容易に取り付けることができる。   The above-described substrate processing apparatus attaches the reflective sensor 10 as the detection means to the upper part of the shutter member 5 and detects the presence or absence of the substrate held in each groove 1d of the cassette 1 as the shutter member 5 is lowered. A drive mechanism that raises and lowers only the detection means is not required. Therefore, an increase in the manufacturing cost of the apparatus due to the attachment of the detection means can be minimized. Further, the detection means can be easily attached using the configuration provided in the apparatus.

本発明は、以下のように変形実施することも可能である。   The present invention can be modified as follows.

(1)上記実施例では、カセット1内の基板Wの収納状態を把握するために、カセット1の各溝1dに収納された基板Wの有無を検出する検出手段として反射型センサを用いたが、本発明はこれに限定するものではなく、例えば、この反射型センサ10の代わりに、進退駆動機構を備える透過型センサを取り付けることもできる。この透過型センサを取り付けた場合の構成を図8に示す。   (1) In the above embodiment, in order to grasp the storage state of the substrate W in the cassette 1, the reflective sensor is used as a detection means for detecting the presence or absence of the substrate W stored in each groove 1 d of the cassette 1. The present invention is not limited to this. For example, instead of the reflective sensor 10, a transmissive sensor having an advance / retreat drive mechanism can be attached. FIG. 8 shows the configuration when this transmission sensor is attached.

図8に示すように、シャッター部材5の支持板部5bの上部には、進退駆動機構81と、この進退駆動機構81に進退駆動可能に取り付けられた透過型センサ80とが配備されている。進退駆動機構81は、連結部材81cに螺合する螺軸81bを電動モータ81aで駆動する、いわゆる、螺子送り機構によって構成されている。   As shown in FIG. 8, an advance / retreat drive mechanism 81 and a transmissive sensor 80 attached to the advance / retreat drive mechanism 81 so as to be capable of advancing / retreating are disposed on the support plate portion 5 b of the shutter member 5. The advancing / retracting drive mechanism 81 is configured by a so-called screw feed mechanism in which a screw shaft 81b screwed to the connecting member 81c is driven by an electric motor 81a.

透過型センサ80は、先端部に投光素子83aを備える投光部材80aと、先端部に受光素子83bを備える受光部材80bとで構成されていて、これら両部材80a、80bの基端部は、連結部材81cに支持固定されている。さらに、投光部材80aと受光部材80bとは、固定部材82aと固定部材82bとをそれぞれ貫通することによって、摺動自在に案内支持されているとともに、上下に高さをずらして対向配置されている。   The transmissive sensor 80 includes a light projecting member 80a having a light projecting element 83a at a distal end portion and a light receiving member 80b having a light receiving element 83b at a distal end portion, and the base end portions of both the members 80a and 80b are The support member 81c is supported and fixed. Further, the light projecting member 80a and the light receiving member 80b are slidably guided and supported by penetrating the fixing member 82a and the fixing member 82b, respectively, and are disposed so as to face each other with a height shifted vertically. Yes.

以下、この透過型センサ80および進退駆動機構81がシャッター部材5に取り付けられた場合の動作について説明する。シャッター部材5の下降によって、透過型センサ80が、カセット1の上端部の正面位置に来ると、進退駆動機構81は、電動モータ81aを駆動して、連結部材81cを前進させる。この連結部材81cと一体となって、投光部材80aと受光部材80bとがカセット1の側壁の内面と基板Wとの間に向かって前進する。進退駆動機構81は、投光部材80aと受光部材80bとの先端部が所定の位置にまで来ると、電動モータ81aの駆動を止める。この位置は、カセット1の溝1dに基板Wが有る場合に、基板Wによって透過型センサ80の光軸が遮断される位置である。透過型センサ80は、この位置を保持された状態で、シャッター部材5の下降にしたがって、順次カセット1の各溝1d内の基板Wの有無を検出していく。この基板Wの検出のタイミングは、反射型センサを使用した上記実施例の場合と同様である。   Hereinafter, an operation when the transmission type sensor 80 and the advance / retreat driving mechanism 81 are attached to the shutter member 5 will be described. When the transmissive sensor 80 comes to the front position of the upper end of the cassette 1 due to the lowering of the shutter member 5, the advance / retreat drive mechanism 81 drives the electric motor 81a to advance the connecting member 81c. Together with the connecting member 81c, the light projecting member 80a and the light receiving member 80b move forward between the inner surface of the side wall of the cassette 1 and the substrate W. The advance / retreat drive mechanism 81 stops the driving of the electric motor 81a when the leading ends of the light projecting member 80a and the light receiving member 80b reach a predetermined position. This position is a position where the optical axis of the transmissive sensor 80 is blocked by the substrate W when the substrate W is in the groove 1 d of the cassette 1. The transmission type sensor 80 sequentially detects the presence / absence of the substrate W in each groove 1d of the cassette 1 as the shutter member 5 is lowered while the position is held. The timing for detecting the substrate W is the same as that in the above-described embodiment using the reflective sensor.

透過型センサ80が、カセット1の最下部の正面に来ると、進退駆動機構81は、電動モータ81aを逆方向に駆動して、連結部材81cを後退させる。投光部材80aと受光部材80bとの先端部が、固定部材82a、82bにまで後退したら、進退駆動機構81は、電動モータ81aの駆動を止める。投光部材80aと受光部材80bを後退させるのは、シャッター部材5が下降したときに、投光部材80aと受光部材80bとが、載置部3などに引っ掛からないようにするためである。   When the transmissive sensor 80 comes to the lowermost front surface of the cassette 1, the advance / retreat drive mechanism 81 drives the electric motor 81a in the reverse direction to retract the connecting member 81c. When the tip portions of the light projecting member 80a and the light receiving member 80b are retracted to the fixing members 82a and 82b, the advance / retreat drive mechanism 81 stops driving the electric motor 81a. The reason why the light projecting member 80a and the light receiving member 80b are retracted is to prevent the light projecting member 80a and the light receiving member 80b from being caught by the mounting portion 3 or the like when the shutter member 5 is lowered.

上述した進退駆動機構81によって、検出手段である透過型センサ80を基板Wに近づけて基板Wの有無を検出することができるので、検出精度を向上することができる。なお、上述した実施例で説明した反射型センサを、上記の進退駆動機構81によって前後進させ、反射型センサを基板に近接させて基板の有無を検出するようにしてもよい。   The above-described advance / retreat driving mechanism 81 can detect the presence or absence of the substrate W by bringing the transmissive sensor 80 serving as the detection means close to the substrate W, and thus the detection accuracy can be improved. Note that the reflection type sensor described in the above-described embodiment may be moved forward and backward by the above-described advance / retreat driving mechanism 81, and the presence or absence of the substrate may be detected by bringing the reflection type sensor close to the substrate.

(2)カセット1の各溝1dに収納された基板Wの有無を検出する検出手段は、反射型センサや透過型センサに限定するものではなく、例えば、カセット1内を撮像するCCDカメラでもよい。   (2) The detecting means for detecting the presence / absence of the substrate W accommodated in each groove 1d of the cassette 1 is not limited to the reflection type sensor or the transmission type sensor, and may be a CCD camera for imaging the inside of the cassette 1, for example. .

例えば、図9に示すように、シャッター部材5の支持板部5bの上部に、CCDカメラ90を載置する。このCCDカメラ90は、シャッター部材5が下降する間に、カセット1内を連続して撮像する。この撮像によって得られるカセット1の画像データは、データ収集部11に収集される。処理部14は、この画像データに2値化処理を施して、カセット1の基板Wの収納状態を把握する。なお、CCDカメラ90は、本発明における撮像手段に相当する。   For example, as shown in FIG. 9, the CCD camera 90 is placed on the support plate portion 5 b of the shutter member 5. The CCD camera 90 continuously images inside the cassette 1 while the shutter member 5 is lowered. The image data of the cassette 1 obtained by this imaging is collected by the data collection unit 11. The processing unit 14 performs a binarization process on the image data to grasp the storage state of the substrates W in the cassette 1. The CCD camera 90 corresponds to the image pickup means in the present invention.

上述した構成にすれば、カセット1内を画像として捉えることができるので、さらに詳細に基板の状態を把握することができる。   With the configuration described above, the inside of the cassette 1 can be captured as an image, so that the state of the substrate can be grasped in more detail.

(3)上記変形例(2)では、カセット1内の基板Wの収納状態を把握するために、CCDカメラ90を用いたが、例えば、図10に示すように、シャッター部材5の支持板部5bの上部に、光ファイバ95を設置して、この光ファイバ95の終端に接続された図示しないCCDカメラによって、カセット1内を撮像するように構成してもよい。   (3) In the above modification (2), the CCD camera 90 is used to grasp the storage state of the substrate W in the cassette 1, but for example, as shown in FIG. An optical fiber 95 may be installed on the top of 5b, and the inside of the cassette 1 may be imaged by a CCD camera (not shown) connected to the end of the optical fiber 95.

上述した構成にすれば、CCDカメラを装置内の空いた場所に設置することができるので、検出手段を設けることによる装置の拡大を防止することができる。また、光ファイバは、軽いのでシャッター部材5の動作に影響を与えることもない。なお、上述したCCDカメラ90や光ファイバ95を、図8に示したような進退駆動機構81で前後進させ、基板に近接した状態で、カセット内を撮像するようにしてもよい。   With the above-described configuration, the CCD camera can be installed in a vacant place in the apparatus, so that the expansion of the apparatus due to the provision of the detection means can be prevented. Further, since the optical fiber is light, the operation of the shutter member 5 is not affected. Note that the above-described CCD camera 90 and optical fiber 95 may be moved forward and backward by an advancing / retracting drive mechanism 81 as shown in FIG. 8, and the inside of the cassette may be imaged in a state of being close to the substrate.

本発明の実施例に係る基板処理装置の概略構成を示す平面図である。It is a top view which shows schematic structure of the substrate processing apparatus which concerns on the Example of this invention. 実施例に係る装置の概略構成を示す側面図である。It is a side view which shows schematic structure of the apparatus which concerns on an Example. 実施例のFOUPカセットを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the FOUP cassette of an Example. 実施例のシャッター部材とシャッター部材に取り付けられた反射型センサを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the reflection type sensor attached to the shutter member and shutter member of an Example. 実施例のシャッター部材の動作を表す概略側面図である。It is a schematic side view showing operation | movement of the shutter member of an Example. 実施例の要部を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the principal part of an Example. 実施例の基板の検出とカセットの溝位置を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the detection of the board | substrate of an Example, and the groove position of a cassette. 変形例(1)にかかる透過型センサがシャッター部材に取り付けられた状態を示す斜視図である。It is a perspective view showing the state where the transmission type sensor concerning modification (1) was attached to the shutter member. 変形例(2)にかかるCCDカメラがシャッター部材に取り付けられた状態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the state with which the CCD camera concerning a modification (2) was attached to the shutter member. 変形例(3)にかかる光ファイバがシャッター部材に取り付けられた状態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the state in which the optical fiber concerning a modification (3) was attached to the shutter member.

符号の説明Explanation of symbols

1 …カセット
2 …カセットステージ
3 …載置部
4 …カセット駆動機構
5 …シャッター部材
6 …ロック機構
7 …シャッター駆動機構
9 …基板搬送機構
10 …反射型センサ
11 …データ収集部
12 …隔壁
12a…開口部
13 …位置検出部
14 …処理部
15 …メモリ
80 …透過型センサ
81 …進退駆動機構
90 …CCDカメラ
95 …光ファイバ
W …基板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Cassette 2 ... Cassette stage 3 ... Mounting part 4 ... Cassette drive mechanism 5 ... Shutter member 6 ... Locking mechanism 7 ... Shutter drive mechanism 9 ... Substrate conveyance mechanism 10 ... Reflective sensor 11 ... Data collection part 12 ... Partition 12a ... Opening part 13 ... Position detection part 14 ... Processing part 15 ... Memory 80 ... Transmission type sensor 81 ... Advance / retreat drive mechanism 90 ... CCD camera 95 ... Optical fiber W ... Substrate

Claims (9)

基板を処理する基板処理装置の載置部上に載置された、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する基板検出装置であって、前記載置部は、基板が搬送される通過口と、前記通過口を開閉するシャッターとを備え、前記シャッターは、後退・下降移動して前記通過口を開き、上昇・前進移動して前記通過口を塞ぐように構成された基板検出装置において、
前記シャッターに取り付けられ、前記シャッターと一体に昇降する投光素子を備え、
前記投光素子は、前記基板収納容器内へ光を投光するようになっており、
前記シャッターに取り付けられ、前記シャッターと一体に昇降する受光素子を備え、
前記受光素子は、前記投光素子から投光された光を受光するようになっており、
前記受光素子は、光を受光するときは電気信号が発生する状態になり、光を受光しないときは電気信号が発生しない状態になり、
電気信号が発生するか否かに基づいて、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する検出手段を備える基板検出装置。
A substrate detection device for detecting the presence or absence of a substrate stored at each position in a substrate storage container mounted on a mounting portion of a substrate processing apparatus for processing a substrate, wherein the mounting portion includes: It has a passing port to be conveyed and a shutter that opens and closes the passing port, and the shutter is configured to move backward and downward to open the passing port and to move up and forward to close the passing port. In the substrate detection device,
A light projecting element attached to the shutter and moving up and down integrally with the shutter;
The light projecting element is configured to project light into the substrate storage container,
A light receiving element attached to the shutter and moving up and down integrally with the shutter;
The light receiving element is adapted to receive light projected from the light projecting element,
The light receiving element is in a state where an electric signal is generated when receiving light, and is in a state where an electric signal is not generated when not receiving light,
A substrate detection apparatus comprising detection means for detecting the presence or absence of a substrate stored at each position in a substrate storage container based on whether or not an electrical signal is generated.
請求項1に記載の基板検出装置において、
前記検出手段は、前記受光素子の前記電気信号が発生する状態から前記電気信号が発生しない状態へ変化すると基板の位置を検出することを特徴とする基板検出装置。
In the board | substrate detection apparatus of Claim 1,
The substrate detecting apparatus, wherein the detecting means detects the position of the substrate when the light receiving element changes from a state where the electric signal is generated to a state where the electric signal is not generated.
請求項1に記載の基板検出装置において、
前記検出手段は、前記受光素子の前記電気信号が発生しない状態から前記電気信号が発生する状態へ変化すると基板の位置を検出することを特徴とする基板検出装置。
In the board | substrate detection apparatus of Claim 1,
The substrate detecting apparatus, wherein the detecting means detects a position of the substrate when the light receiving element changes from a state where the electric signal is not generated to a state where the electric signal is generated.
基板を処理する基板処理装置の載置部上に載置された、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する基板検出装置であり、前記載置部は通過口を含み、前記通過口を通じて基板が搬送され、前記通過口を開閉するシャッターは、後退・下降移動して前記通過口を開き、上昇・前進移動して前記通過口を塞ぐように構成された基板検出装置であって、
前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降して、前記基板収納容器内へ光を投光する投光素子と、
前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降して、前記投光素子から投光された光を受光する受光素子とを備え、
前記受光素子は、光を受光するときは電気信号が発生する状態になり、前記受光素子への光を基板が遮断するときは電気信号が発生しない状態になり、
電気信号が発生するか否かに基づいて、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する検出手段を備える基板検出装置。
A substrate detection device for detecting the presence or absence of a substrate stored at each position in a substrate storage container placed on a placement portion of a substrate processing apparatus for processing a substrate, wherein the placement portion includes a passage opening. The substrate detection apparatus is configured such that a substrate is transported through the passage opening, and a shutter that opens and closes the passage opening moves backward and downward to open the passage opening, and moves upward and forward to close the passage opening. Because
A light projecting element that is attached to the shutter and moves up and down integrally with the shutter to project light into the substrate storage container;
A light receiving element that is attached to the shutter and moves up and down integrally with the shutter to receive light projected from the light projecting element;
The light receiving element is in a state where an electrical signal is generated when receiving light, and is in a state where no electrical signal is generated when the substrate blocks light to the light receiving element,
A substrate detection apparatus comprising detection means for detecting the presence or absence of a substrate stored at each position in a substrate storage container based on whether or not an electrical signal is generated.
請求項4に記載の基板検出装置において、
前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降する投光部材であり、前記投光部材が前記基板収納容器内へ前進しない場合は退避位置にあり、前記投光部材が前記基板収納容器内へ前進する場合は前記基板収納容器の開口に近接する位置にある前記投光部材と、
前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降する受光部材であり、前記受光部材が前記基板収納容器内へ前進しない場合は退避位置にあり、前記受光部材が前記基板収納容器内へ前進する場合は前記基板収納容器の開口に近接する位置にある前記受光部材と、を更に備え、
前記投光素子は前記投光部材の先端部に取り付けられ、前記受光素子は前記受光部材の先端部に取り付けられていることを特徴とする基板検出装置。
The board | substrate detection apparatus of Claim 4 WHEREIN:
A light projecting member that is attached to the shutter and moves up and down integrally with the shutter; when the light projecting member does not advance into the substrate storage container, the light projecting member is in a retracted position; and the light projecting member enters the substrate storage container In the case of advancing, the light projecting member in a position close to the opening of the substrate storage container,
A light receiving member that is attached to the shutter and moves up and down integrally with the shutter, and is in a retracted position when the light receiving member does not advance into the substrate storage container, and the light reception member advances into the substrate storage container Further comprising the light receiving member at a position close to the opening of the substrate storage container,
The substrate detecting device, wherein the light projecting element is attached to a front end portion of the light projecting member, and the light receiving element is attached to a front end portion of the light receiving member.
請求項5に記載の基板検出装置において、
前記投光部材及び前記受光部材を前進・後退させる進退駆動機構を備えていることを特徴とする基板検出装置。
In the board | substrate detection apparatus of Claim 5,
A substrate detection apparatus comprising an advance / retreat drive mechanism for moving the light projecting member and the light receiving member forward and backward.
請求項4に記載の基板検出装置において、
前記投光素子及び前記受光素子は、前記シャッターの上部に取り付けられていることを特徴とする基板検出装置。
The board | substrate detection apparatus of Claim 4 WHEREIN:
The substrate detecting device, wherein the light projecting element and the light receiving element are attached to an upper part of the shutter.
基板を処理する基板処理装置の載置部上に載置された、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する基板検出装置であり、前記載置部は通過口を含み、前記通過口を通じて基板が搬送され、前記通過口を開閉するシャッターは、後退・下降移動して前記通過口を開き、上昇・前進移動して前記通過口を塞ぐように構成された基板検出装置であって、
前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降して、前記基板収納容器内へ光を投光する投光素子と、
前記シャッターに取り付けられて前記シャッターと一体に昇降して、前記投光素子から投光された光が基板の端面で反射されると光を受光する受光素子とを備え、
前記受光素子は、光を受光すると電気信号が発生する状態になり、光を受光しないと電気信号が発生しない状態になり、
電気信号が発生するか否かに基づいて、基板収納容器内の各位置に収納された基板の有無を検出する検出手段を備える基板検出装置。
A substrate detection device for detecting the presence or absence of a substrate stored at each position in a substrate storage container placed on a placement portion of a substrate processing apparatus for processing a substrate, wherein the placement portion includes a passage opening. The substrate detection apparatus is configured such that a substrate is transported through the passage opening, and a shutter that opens and closes the passage opening moves backward and downward to open the passage opening, and moves upward and forward to close the passage opening. Because
A light projecting element that is attached to the shutter and moves up and down integrally with the shutter to project light into the substrate storage container;
A light receiving element that is attached to the shutter and moves up and down integrally with the shutter, and receives light when the light projected from the light projecting element is reflected by the end face of the substrate;
The light receiving element is in a state where an electric signal is generated when receiving light, and an electric signal is not generated unless receiving light.
A substrate detection apparatus comprising detection means for detecting the presence or absence of a substrate stored at each position in a substrate storage container based on whether or not an electrical signal is generated.
少なくとも1つの基板を処理する基板処理装置の載置部上に載置された基板収納容器内の前記少なくとも1つの基板に関する情報を検出する基板検出装置であり、前記載置部は通過口を含み、前記通過口を通じて前記少なくとも1つの基板が搬送され、前記通過口を開閉するシャッターは、後退・下降移動して前記通過口を開き、上昇・前進移動して前記通過口を塞ぐように構成された基板検出装置であって、
前記シャッターに取り付けられて、前記シャッターと一体に昇降し、前記少なくとも1つの基板に関する情報を検出するセンサと、
前記情報を処理する処理部とを備える基板検出装置。
A substrate detection device for detecting information related to the at least one substrate in a substrate storage container placed on a placement portion of a substrate processing apparatus for processing at least one substrate, wherein the placement portion includes a passage opening. The at least one substrate is transported through the passage opening, and a shutter that opens and closes the passage opening is configured to move backward and downward to open the passage opening and to move upward and forward to close the passage opening. A substrate detection device,
A sensor attached to the shutter and integrally moving up and down with the shutter to detect information on the at least one substrate;
A substrate detection apparatus comprising: a processing unit that processes the information.
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