JP2009063449A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2009063449A5
JP2009063449A5 JP2007231939A JP2007231939A JP2009063449A5 JP 2009063449 A5 JP2009063449 A5 JP 2009063449A5 JP 2007231939 A JP2007231939 A JP 2007231939A JP 2007231939 A JP2007231939 A JP 2007231939A JP 2009063449 A5 JP2009063449 A5 JP 2009063449A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
nozzle
reagent
dispensed
discharge position
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007231939A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2009063449A (ja
JP5075540B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2007231939A priority Critical patent/JP5075540B2/ja
Priority claimed from JP2007231939A external-priority patent/JP5075540B2/ja
Priority to PCT/JP2008/065690 priority patent/WO2009031504A1/ja
Publication of JP2009063449A publication Critical patent/JP2009063449A/ja
Publication of JP2009063449A5 publication Critical patent/JP2009063449A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5075540B2 publication Critical patent/JP5075540B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2007231939A 2007-09-06 2007-09-06 分注方法、自動分析装置の試料分注方法、および自動分析装置 Expired - Fee Related JP5075540B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007231939A JP5075540B2 (ja) 2007-09-06 2007-09-06 分注方法、自動分析装置の試料分注方法、および自動分析装置
PCT/JP2008/065690 WO2009031504A1 (ja) 2007-09-06 2008-09-01 分注方法、自動分析装置の試料分注方法、および自動分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007231939A JP5075540B2 (ja) 2007-09-06 2007-09-06 分注方法、自動分析装置の試料分注方法、および自動分析装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2009063449A JP2009063449A (ja) 2009-03-26
JP2009063449A5 true JP2009063449A5 (enExample) 2010-10-14
JP5075540B2 JP5075540B2 (ja) 2012-11-21

Family

ID=40428820

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007231939A Expired - Fee Related JP5075540B2 (ja) 2007-09-06 2007-09-06 分注方法、自動分析装置の試料分注方法、および自動分析装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP5075540B2 (enExample)
WO (1) WO2009031504A1 (enExample)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5337600B2 (ja) * 2009-07-03 2013-11-06 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及び自動分析装置の制御方法
JP6580869B2 (ja) * 2015-05-29 2019-09-25 シスメックス株式会社 検体分析装置、搬送装置、及び方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3075545B2 (ja) * 1992-05-08 2000-08-14 オリンパス光学工業株式会社 試料移送装置
JPH0743368A (ja) * 1993-07-30 1995-02-14 Olympus Optical Co Ltd 医療用分析機
JPH0875755A (ja) * 1994-09-09 1996-03-22 Toshiba Corp 自動分析装置
JPH11271330A (ja) * 1998-03-26 1999-10-08 Tosoh Corp サンプル間相互汚染回避方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103348251B (zh) 自动分析装置
US8534456B2 (en) Conveyor device for analyzer, analyzer, analyzing system, and connector for conveyor device
TWI523683B (zh) Mixing device and stirring method
JP6517565B2 (ja) 分注ノズル洗浄方法および自動分析装置
JP4508790B2 (ja) 標本作製装置
JPWO2006095737A1 (ja) 染色貼着システム
KR102404442B1 (ko) 기판을 코팅하기 위한 분무 프로세스
US20190018029A1 (en) Automated Analysis Device and Automated Analysis Method
JP2019163991A5 (enExample)
CN112689764B (zh) 自动分析装置
JP2009063449A5 (enExample)
JP5260995B2 (ja) 分析システムおよび分析装置
JP6153759B2 (ja) 自動分析装置
KR101327879B1 (ko) 액체 이송 장치
JP6619928B2 (ja) 把持装置、搬送装置、及び分析装置
JP5489283B2 (ja) 自動分析装置
JP2001153761A (ja) 試料液分注方法及びその装置
RU2763339C2 (ru) Устройство и способ окраски органического материала на микропрепарате
JP2007212399A5 (enExample)
JP2001337279A (ja) サンプル処理装置及びカバーガラス搬送装置
JP2007093521A (ja) ピペット洗浄部材、ピペット洗浄装置及び試料分析装置
JP2011232312A5 (enExample)
JP2001149063A (ja) 検体検査サンプル自動作成装置
JP2019120493A (ja) 検体測定装置および検体測定方法
JP6165432B2 (ja) 自動分析装置