JP6165432B2 - 自動分析装置 - Google Patents
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Description
図1及び図2は、本実施例に係る自動分析装置の外観図及びブロック図である。本実施例に係る自動分析装置は、反応ディスク5、サンプルディスク6、第一試薬庫2、第二試薬庫3、検査容器4、サンプルアーム10、サンプルプローブ16、サンプル容器17、第一試薬アーム8、第一試薬プローブ14、第一試薬容器7、第二試薬アーム9、第二試薬プローブ15、第二試薬容器27、撹拌機構11、測光機構13、洗浄機構12、分析機構制御部21、解析部22、表示部23、操作部24、洗浄ユニット28、恒温槽30を有する。
3・・・第二試薬庫
4・・・検査容器
5・・・反応ディスク
6・・・サンプルディスク
7・・・第一試薬容器
8・・・第一試薬アーム
9・・・第二試薬アーム
10・・・サンプルアーム
11・・・攪拌機構
12・・・洗浄機構
13・・・測光機構
14・・・第一試薬プローブ
15・・・第二試薬プローブ
16・・・サンプルプローブ
17・・・サンプル容器
21・・・分析機構制御部
22・・・解析部
23・・・表示部
24・・・操作部
25・・・検出部
26・・・光源
27・・・第二試薬容器
28・・・洗浄ユニット
28a・・・ノズル
28b・・・外付けノズル
29・・・構造物
30・・・恒温槽
31・・・測光領域
Claims (6)
- サンプルを収容するための検査容器と、
所定の経路に沿って整列した複数の前記検査容器を、前記所定の経路に沿って搬送する搬送手段と、
恒温に保持された液体を収容し、前記恒温に保持された液体中に、前記搬送手段により搬送される検査容器が浸漬される恒温槽と、
光源を有し、前記光源から光を照射して前記サンプルの成分を光学的に測定する測光機構と、
前記液体中に浸漬されて搬送される検査容器の外壁の、前記光源から照射された光が通過する測光領域に対して直接的に、少なくとも前記検査容器の搬送中において洗浄用の液体を、前記検査容器表面の洗浄のために放出する洗浄手段と、
を備え、
前記洗浄手段は、前記所定の経路上の、前記測光機構より前記搬送手段による搬送方向に沿って前の位置であって、前記測定の直前に前記検査容器の外壁を洗浄でき、かつ、前記恒温槽の水流の変化が前記測光機構による測定に与える影響が小さい位置に配置されている自動分析装置。 - 前記洗浄手段は、前記測光領域よりも下方に設けられ、仰角をつけて前記洗浄用の液体を放出する請求項1に記載の自動分析装置。
- 前記洗浄手段は、前記検査容器を搬送中以外の場合において前記洗浄用の液体の放出を中止する請求項1又は2に記載の自動分析装置。
- 前記洗浄手段は、前記検査容器の搬送中以外での前記洗浄用の液体の放出を、前記検査容器の搬送中での前記洗浄用の液体の放出よりも弱くする請求項1又は2に記載の自動分析装置。
- 前記洗浄手段は、前記検査容器が前記サンプルを収容している状態での前記洗浄用の液体の放出を、前記検査容器が前記サンプルを収容していない状態での前記洗浄用の液体の放出よりも弱くする請求項1又は2に記載の自動分析装置。
- 前記所定の経路は環状であり、前記所定の経路の半径方向における幅が前記検査容器より大きい構造物を前記検査容器どうしの間に配置し、
前記構造物は、前記検査容器内に磁場を発生する磁石である請求項1乃至5のうちいずれかひとつに記載の自動分析装置。
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