JP2009063305A - 光照射装置、微粒子解析装置及び光照射方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】流路11に存在する試料Aに指向性光を照射する光照射装置であって、前記指向性光L13を照射する光源13と、前記試料Aに光源12から光照射をして前記流路11内における前記試料Aの位置情報を得て、前記位置情報に基づいて前記指向性光L13の照射を制御する照射制御手段と、を少なくとも備えた光照射装置1とすること。
【選択図】図1
Description
予め流路内における試料の位置情報を得ることで、指向性光をより正確な位置や深さに照射することができる。これにより、連続的あるいは長時間照射せずとも、流路に存在する試料に対して正確に照射できる。また、照射むらや、照射位置やフォーカス位置のずれを解消できる。
次に、本発明は、前記光の照射目標位置は、前記指向性光の照射目標位置よりも前記流路の上流の位置である光照射装置を提供する。また、本発明は、前記位置情報を得る光は、前記流路内の複数箇所に照射される光照射装置を提供する。これにより、より正確な位置情報を得ることができる。
そして、本発明は、前記位置情報を得るための光は、前記指向性光を分割照射することで得られる光である光照射装置を提供する。前記指向性光を分割することで、必要とする光源数を軽減できる。これにより、光照射装置の装置構成を簡易化できる。
また、本発明は、指向性光を照射する光源と、流路内における微粒子に光照射をして、前記流路内における微粒子の位置情報を得て、前記位置情報に基づいて前記指向性光の照射を制御する照射制御手段と、を少なくとも備えた光照射部を備えた微粒子解析装置を提供する。予め流路内における試料の位置情報を得ることで指向性光の照射むらや、照射位置やフォーカス位置のずれを解消できるため、より高精度の解析が可能な微粒子解析装置とすることができる。
更に、本発明は、前記位置情報に基づいて前記流路に存在する微粒子を加工する加工部、前記位置情報に基づいて前記流路に存在する微粒子を処理する処理部、前記位置情報に基づいて前記流路に存在する微粒子を分別する分別部の少なくともいずれかを更に備えた微粒子解析装置を提供する。前記位置情報を光照射部で行う光照射に反映させるだけでなく、加工や処理や分別といった工程についても反映させることができる。これにより、加工や処理や分別といった工程も高い精度で行うことができる。
なお、「加工」とは、試料に対して何らかの手を加えることを意味し、機械的加工のみならず人為的加工に関連する概念も包含する。「処理」とは、試料に対して何らかの処置を行うことを意味する。「分別」とは、少なくとも試料を何らかの基準に基づいて分けることを意味する。
また、本発明は、流路に存在する試料に指向性光を照射するにあたり、前記試料に光を照射して前記流路内における前記試料の位置情報を得て、該位置情報に基づいて前記指向性光を前記試料に照射することを少なくとも行う光照射方法を提供する。
11,21,31,41,51,61 流路
A 試料
Claims (7)
- 流路に存在する試料に指向性光を照射する光照射装置であって、
前記指向性光を照射する光源と、
前記試料に光照射をして前記流路内における前記試料の位置情報を得て、前記位置情報に基づいて前記指向性光の照射を制御する照射制御手段と、
を少なくとも備えた光照射装置。 - 前記位置情報を得る光の照射目標位置は、前記指向性光の照射目標位置よりも前記流路の上流の位置であることを特徴とする請求項1記載の光照射装置。
- 前記位置情報を得る光は、前記流路内の複数箇所に照射されることを特徴とする請求項1記載の光照射装置。
- 前記位置情報を得る光は、前記指向性光を分割照射することで得られる光であることを特徴とする請求項1記載の光照射装置。
- 指向性光を照射する光源と、
流路内における微粒子に光照射をして、前記流路内における微粒子の位置情報を得て、前記位置情報に基づいて前記指向性光の照射を制御する照射制御手段と、
を少なくとも備えた光照射部を備えた微粒子解析装置。 - 前記位置情報に基づいて前記流路に存在する微粒子を加工する加工部、
前記位置情報に基づいて前記流路に存在する微粒子を処理する処理部、
前記位置情報に基づいて前記流路に存在する微粒子を分別する分別部の少なくともいずれかを更に備えたことを特徴とする請求項5記載の微粒子解析装置。 - 流路に存在する試料に指向性光を照射するにあたり、
前記試料に光を照射して前記流路内における前記試料の位置情報を得て、
該位置情報に基づいて前記指向性光を前記試料に照射することを少なくとも行う光照射方法。
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