JP2009058897A - Display device - Google Patents

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Masahiro Tanaka
政博 田中
Toshiyuki Matsuura
利幸 松浦
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an organic EL display device which does not need to form a bank. <P>SOLUTION: A pixel electrode 13 is connected with an SD line 10 via a contact hole part 18 formed on a flattened film 12. The tapered angle θ of the edge part of the pixel electrode 13 is formed to be 40° or less. Accordingly, an organic EL layer 15 does not cause disconnection caused by a step on the edge part of the pixel electrode 13 and, therefore, an upper electrode 19 and the pixel electrode 13 are not short-circuited. At the contact hole part 18, organic EL layers 15, 16, 17 of three colors are formed so as to be superimposed on one another and, as the result, short-circuiting between the upper electrode 19 and the pixel electrode 13 due to the disconnection caused by the step of the organic EL layer 15 can be avoided. Thereby, the formation of the bank can be omitted in the organic EL display device and the manufacturing cost of the organic EL display device can be suppressed. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は表示装置に係り、特に有機EL発光層を備えた有機EL表示装置に関する。   The present invention relates to a display device, and more particularly to an organic EL display device including an organic EL light emitting layer.

有機EL表示装置には、有機EL層から発光した光を、有機EL層等が形成されたガラス基板方向に取り出すボトムエミッション型と、有機EL層等が形成されたガラス基板と逆の方向に取り出すトップエミッション型とがある。トップエミッション型は有機EL層の面積を多く取ることが出来るのでディスプレイの明るさを大きくすることが出来るという利点がある。   In the organic EL display device, light emitted from the organic EL layer is extracted in the direction opposite to the glass substrate on which the organic EL layer is formed, and the bottom emission type in which the light is emitted toward the glass substrate on which the organic EL layer is formed. There is a top emission type. The top emission type has an advantage that the brightness of the display can be increased because a large area of the organic EL layer can be taken.

有機EL表示装置では画素電極(下部電極)と上部電極との間に有機EL層を挟持し、上部電極に一定電圧を印加し、下部電極にデータ信号電圧を印加して有機EL層の発光を制御することによって画像を形成する。下部電極へのデータ信号電圧の供給は薄膜トランジスタ(TFT)を介して行われる。トップエミッション型有機EL表示装置では、このTFT等の上にも有機EL層を形成することが出来るので発光面積を大きくすることが出来る。   In an organic EL display device, an organic EL layer is sandwiched between a pixel electrode (lower electrode) and an upper electrode, a constant voltage is applied to the upper electrode, and a data signal voltage is applied to the lower electrode to emit light from the organic EL layer. An image is formed by controlling. The data signal voltage is supplied to the lower electrode through a thin film transistor (TFT). In the top emission type organic EL display device, since the organic EL layer can be formed on the TFT and the like, the light emission area can be increased.

有機EL層は複数の層から形成されている。複数の層の厚さの合計は、有機EL層の発光する色によって異なるが、100nmから300nmである。このように薄い層を上部電極と下部電極で挟むので、有機EL層の欠陥が存在すると上部電極と下部電極がショートしてしまう。この上部電極と下部電極のショートは下部電極の端部で生じやすい。   The organic EL layer is formed from a plurality of layers. The total thickness of the plurality of layers is 100 nm to 300 nm, although it varies depending on the color emitted by the organic EL layer. Since such a thin layer is sandwiched between the upper electrode and the lower electrode, if there is a defect in the organic EL layer, the upper electrode and the lower electrode are short-circuited. This short-circuit between the upper electrode and the lower electrode tends to occur at the end of the lower electrode.

端部で生ずる上部電極と下部電極のショートを防止するために、各有機EL層の間にバンクを設けて下部電極の端部における有機EL層の段切れを防止している。このバンクはアクリル、ポリイミド等の樹脂で形成される。バンクの形成はホトリソグラフィグラフィで行われるが、このときに、樹脂等のエッチング残り等が生じやすい。エッチング残り等が生ずるとその部分で、有機EL層の欠陥が生ずる。   In order to prevent a short circuit between the upper electrode and the lower electrode that occurs at the end, a bank is provided between each organic EL layer to prevent disconnection of the organic EL layer at the end of the lower electrode. This bank is formed of a resin such as acrylic or polyimide. Banks are formed by photolithography, but at this time, etching residues such as resin are likely to occur. When an etching residue or the like occurs, a defect of the organic EL layer occurs at that portion.

「特許文献1」にはバンクをSiN等の無機膜で形成することによって、樹脂をバンクに用いた場合の問題点を解決する技術が記載されている。   “Patent Document 1” describes a technique for solving the problems when a resin is used for a bank by forming the bank with an inorganic film such as SiN.

特開2000−91082号公報JP 2000-91082 A

「特許文献1」に記載の技術では、バンクに無機材料を用いることによって、バンクに樹脂を用いた場合のエッチング残渣等の問題を対策するものであるが、無機材料にしてもバンクは必要である。バンクの形成はホトリソグラフィ工程を必要とし、このホトリソグラフィ工程は有機EL表示装置の製造コストを押し上げる。   In the technique described in “Patent Document 1”, an inorganic material is used for the bank to solve problems such as etching residue when a resin is used for the bank. is there. The formation of the bank requires a photolithography process, and this photolithography process increases the manufacturing cost of the organic EL display device.

また、バンクが存在すると表面に凹凸が形成されるために、外光の散乱が増加し、コントラストが低下する現象を生ずる。さらに、有機EL層からの発光が導波光となってバンクから放射され、画像にスメアを生ずるという問題もある。   In addition, when a bank is present, irregularities are formed on the surface, so that scattering of external light increases and the contrast is lowered. Furthermore, there is a problem in that light emitted from the organic EL layer becomes guided light and is emitted from the bank, resulting in smearing in the image.

しかしながら、バンクを省略すると、上部電極と下部電極の間のショートが問題となる。本発明の課題は、バンクを省略しても上部電極と下部電極のショートが生じないような構成の有機EL表示装置を獲ることである。   However, if the bank is omitted, a short circuit between the upper electrode and the lower electrode becomes a problem. An object of the present invention is to obtain an organic EL display device having a configuration in which a short circuit between an upper electrode and a lower electrode does not occur even if a bank is omitted.

トップエミッション型の有機EL表示装置には、上部電極にアノードを配置するトップアノード型と上部電極にカソードを配置するトップカソード型タイプとがある。本発明はトップエミッション型有機EL表示装置において、トップアノード型、トップカソード型に限らず、金属の画素電極をもちいることによって画素電極の端部に40度以下のテーパを形成する。ここで、画素電極は有機EL層の下部電極に相当するものである。これによって、端部における有機EL層の段切れによる画素電極の端部における上部電極と下部電極のショートを防止することが出来る。   The top emission type organic EL display device includes a top anode type in which an anode is disposed on an upper electrode and a top cathode type in which a cathode is disposed on an upper electrode. The present invention is not limited to the top anode type and the top cathode type in a top emission type organic EL display device, and a taper of 40 degrees or less is formed at the end of the pixel electrode by using a metal pixel electrode. Here, the pixel electrode corresponds to the lower electrode of the organic EL layer. Accordingly, it is possible to prevent a short circuit between the upper electrode and the lower electrode at the end portion of the pixel electrode due to the disconnection of the organic EL layer at the end portion.

また、本発明は、平坦化膜に形成されたコンタクトホールにおける有機EL層の段切れによる上部電極と下部電極のショートを防止するために、コンタクトホール部においては、3色の有機EL層のうちの2層以上を重畳させる。具体的な構成は次のとおりである。   In addition, in the present invention, in order to prevent the upper electrode and the lower electrode from being short-circuited due to the disconnection of the organic EL layer in the contact hole formed in the planarization film, the contact hole portion includes the three colors of organic EL layers. Two or more layers are superimposed. The specific configuration is as follows.

基板上に少なくとも第1の色、又は第2の色を発光する有機EL層と各有機EL層に対応するTFTがマトリクス状に形成された有機EL表示装置であって、前記有機EL層は、樹脂で形成された平坦化膜上に形成された画素電極を覆う下部透明導電膜と透明電極である上部電極の間に挟持され、前記平坦化膜は、前記TFTと、前記TFTと接続する配線を覆っており、前記画素電極と前記配線は前記平坦化膜に形成されたコンタクトホールを介して接続されており、前記画素電極の端部にはテーパが形成されており、前記コンタクトホールでは、前記第1の色、および前記第2の色の前記有機EL層が重畳して形成されていることを特徴とする有機EL表示装置。   An organic EL display device in which an organic EL layer that emits at least a first color or a second color and TFTs corresponding to each organic EL layer are formed in a matrix on a substrate, and the organic EL layer includes: The flattening film is sandwiched between a lower transparent conductive film that covers a pixel electrode formed on a planarizing film made of resin and an upper electrode that is a transparent electrode, and the flattening film is a wiring that connects the TFT and the TFT The pixel electrode and the wiring are connected via a contact hole formed in the planarizing film, and a taper is formed at an end of the pixel electrode. An organic EL display device, wherein the organic EL layers of the first color and the second color are formed to overlap each other.

(2)前記テーパは40度以下であることを特徴とする(1)に記載の表示装置。   (2) The display device according to (1), wherein the taper is 40 degrees or less.

(3)前記配線はSD配線であることを特徴とする(1)に記載の表示装置。   (3) The display device according to (1), wherein the wiring is an SD wiring.

(4)基板上に赤色、又は緑色、または青色を発光する有機EL層と各有機EL層に対応するTFTがマトリクス状に形成された有機EL表示装置であって、前記有機EL層は、樹脂で形成された平坦化膜上に形成された画素電極を覆う下部透明導電膜と透明電極である上部電極の間に挟持され、前記平坦化膜は、前記TFTと、前記TFTと接続する配線を覆っており、前記画素電極と前記配線は前記平坦化膜に形成されたコンタクトホールを介して接続されており、前記画素電極の端部には40度以下のテーパが形成されており、前記コンタクトホールでは、前記赤色、あるいは前記緑色、あるいは前記青色の前記有機EL層のうちの複数が重畳して形成されていることを特徴とする有機EL表示装置。   (4) An organic EL display device in which organic EL layers emitting red, green, or blue light and TFTs corresponding to each organic EL layer are formed in a matrix on a substrate, and the organic EL layer is made of resin Sandwiched between a lower transparent conductive film covering the pixel electrode formed on the planarizing film formed in step 1 and an upper electrode which is a transparent electrode, and the planarizing film includes the TFT and a wiring connected to the TFT. The pixel electrode and the wiring are connected via a contact hole formed in the planarization film, and a taper of 40 degrees or less is formed at an end portion of the pixel electrode. In the hole, an organic EL display device, wherein a plurality of the organic EL layers of red, green, or blue are overlapped.

(5)前記コンタクトホールでは前記赤色、前記緑色、および前記青色の前記有機EL層が全て重畳されていることを特徴とする(4)に記載の有機EL表示装置。   (5) The organic EL display device according to (4), wherein the red, green, and blue organic EL layers are all superimposed in the contact hole.

(6)前記コンタクトホールでは前記赤色、前記緑色、および前記青色の前記有機EL層が全て重畳されており、前記青色の前記有機EL層が他の色の前記有機EL層に挟持されていることを特徴とする(4)に記載の有機EL表示装置。   (6) The red, green, and blue organic EL layers are all superimposed in the contact hole, and the blue organic EL layer is sandwiched between the organic EL layers of other colors. (4) The organic EL display device according to (4).

(7)前記コンタクトホールでは前記赤色、前記緑色、および前記青色の前記有機EL層のうちの2層が重畳されていることを特徴とする(4)に記載の有機EL表示装置。   (7) The organic EL display device according to (4), wherein two layers of the red, green, and blue organic EL layers are overlapped in the contact hole.

(8)前記下部透明導電膜はIZOで形成されていることを特徴とする(4)に記載の有機EL表示装置。   (8) The organic EL display device according to (4), wherein the lower transparent conductive film is made of IZO.

(9)前記下部透明導電膜は抵抗率が1〜10オーム・cmであり、膜厚が20nm以下であり、基板上の全面に形成されていることを特徴とする(4)に記載の有機EL表示装置。 (9) The lower transparent conductive film has a resistivity of 1 to 10 5 ohm · cm, a film thickness of 20 nm or less, and is formed on the entire surface of the substrate. Organic EL display device.

(10)前記画素電極はAl−Ni合金で形成されていることを特徴とする(4)に記載の有機EL表示装置。   (10) The organic EL display device according to (4), wherein the pixel electrode is made of an Al—Ni alloy.

(11)基板上に少なくとも第1の色、又は第2の色を発光する有機EL層と各有機EL層に対応するTFTがマトリクス状に形成された有機EL表示装置であって、前記有機EL層は、樹脂で形成された平坦化膜上に形成された画素電極と透明電極である上部電極の間に挟持され、前記平坦化膜は、前記TFTと、前記TFTと接続する配線を覆っており、前記画素電極と前記配線は前記平坦化膜に形成されたコンタクトホールを介して接続されており、前記画素電極の端部にはテーパが形成されており、前記コンタクトホールでは、前記第1の色、および前記第2の色の前記有機EL層が重畳して形成されていることを特徴とする有機EL表示装置。   (11) An organic EL display device in which an organic EL layer emitting at least a first color or a second color and TFTs corresponding to each organic EL layer are formed in a matrix on a substrate, and the organic EL display The layer is sandwiched between the pixel electrode formed on the planarizing film made of resin and the upper electrode which is a transparent electrode, and the planarizing film covers the TFT and the wiring connected to the TFT. The pixel electrode and the wiring are connected via a contact hole formed in the planarization film, and an end portion of the pixel electrode is tapered, and in the contact hole, the first electrode The organic EL display device is characterized in that the organic EL layer of the second color and the second color are overlapped.

(12)前記テーパは40度以下であることを特徴とする(11)に記載の表示装置。   (12) The display device according to (11), wherein the taper is 40 degrees or less.

(13)前記配線はSD配線であることを特徴とする(11)に記載の表示装置。   (13) The display device according to (11), wherein the wiring is an SD wiring.

(14)基板上に赤色、又は緑色、または青色を発光する有機EL層と各有機EL層に対応するTFTがマトリクス状に形成された有機EL表示装置であって、前記有機EL層は、樹脂で形成された平坦化膜上に形成された画素電極と透明電極である上部電極の間に挟持され、前記平坦化膜は、前記TFTと、前記TFTと接続する配線を覆っており、前記画素電極と前記SD配線は前記平坦化膜に形成されたコンタクトホールを介して接続されており、前記画素電極の端部には40度以下のテーパが形成されており、前記コンタクトホールでは、前記赤色、あるいは前記緑色、あるいは前記青色の前記有機EL層のうちの複数が重畳して形成されていることを特徴とする有機EL表示装置。   (14) An organic EL display device in which organic EL layers emitting red, green, or blue light and TFTs corresponding to the respective organic EL layers are formed in a matrix on a substrate, and the organic EL layer is made of resin Sandwiched between the pixel electrode formed on the planarizing film formed in step 1 and the upper electrode, which is a transparent electrode, the planarizing film covers the TFT and the wiring connected to the TFT, and the pixel The electrode and the SD wiring are connected via a contact hole formed in the planarization film, and a taper of 40 degrees or less is formed at the end of the pixel electrode. Or an organic EL display device, wherein a plurality of the green or blue organic EL layers are overlapped.

(15)前記コンタクトホールでは前記赤色、前記緑色、および前記青色の前記有機EL層が全て重畳されていることを特徴とする(14)に記載の有機EL表示装置。   (15) The organic EL display device according to (14), wherein the red, green, and blue organic EL layers are all superimposed in the contact hole.

(16)前記コンタクトホールでは前記赤色、前記緑色、および前記青色の前記有機EL層が全て重畳されており、前記青色の前記有機EL層が他の色の前記有機EL層に挟持されていることを特徴とする(14)に記載の有機EL表示装置。   (16) The red, green, and blue organic EL layers are all superimposed in the contact hole, and the blue organic EL layer is sandwiched between the organic EL layers of other colors. (14) The organic EL display device according to (14).

(17)前記コンタクトホールでは前記赤色、前記緑色、および前記青色の前記有機EL層のうちの2層が重畳されていることを特徴とする(14)に記載の有機EL表示装置。   (17) The organic EL display device according to (14), wherein two layers of the red, green, and blue organic EL layers are superimposed in the contact hole.

(18)前記画素電極はAl−Nd合金で形成されていることを特徴とする(14)に記載の有機EL表示装置。   (18) The organic EL display device according to (14), wherein the pixel electrode is made of an Al—Nd alloy.

本発明により、バンクを省略することが出来るので、有機EL表示装置の製造コストを低減することが出来る。また、本発明によれば、バンクを形成しないため、バンクを形成することのプロセスに起因するエッチング残渣の問題による画素欠陥等を防止することが出来る。   According to the present invention, since the bank can be omitted, the manufacturing cost of the organic EL display device can be reduced. In addition, according to the present invention, since a bank is not formed, it is possible to prevent a pixel defect or the like due to an etching residue problem caused by a process of forming a bank.

また、本発明によってバンクを形成しなくとも済むため、有機EL表示装置の表面を平坦にすることが出来る。表面が平坦であれば散乱光が減るため、外光下におけるコントラストを向上することが出来る。さらに、本発明によれば、バンクを無くすことが出来るので、バンク部分からの導波光の出射を防止することが出来、画質を向上させることが出来る。   In addition, since it is not necessary to form a bank according to the present invention, the surface of the organic EL display device can be flattened. If the surface is flat, scattered light is reduced, so that contrast under external light can be improved. Furthermore, according to the present invention, since the bank can be eliminated, emission of the guided light from the bank portion can be prevented, and the image quality can be improved.

実施例にしたがって、本発明の詳細な内容を開示する。   The detailed contents of the present invention will be disclosed according to the embodiments.

図1は本発明によるトップエミッション型の有機EL表示装置の断面図である。図1において、ガラス基板1上にガラスからの不純物をブロックするための下地膜2が形成されている。この下地膜2はSiN膜等が一層形成されている場合もあるが、SiN膜とSiO膜の2層構造となっている場合もある。下地膜2の上にはTFTを構成するための半導体層3が形成され、半導体層3を覆ってゲート絶縁膜4が形成されている。本実施例では、半導体層3はa−Si膜をレーザーアニールによってpoly−Si膜に変換している。ゲート絶縁膜4の上にはゲート配線5の一部であるゲート電極5が形成されている。図1のTFTはトップゲート型のTFTである。 FIG. 1 is a sectional view of a top emission type organic EL display device according to the present invention. In FIG. 1, a base film 2 for blocking impurities from glass is formed on a glass substrate 1. The base film 2 may have a single layer of SiN film or the like, but may have a two-layer structure of a SiN film and a SiO 2 film. A semiconductor layer 3 for forming a TFT is formed on the base film 2, and a gate insulating film 4 is formed so as to cover the semiconductor layer 3. In the present embodiment, the semiconductor layer 3 converts the a-Si film into a poly-Si film by laser annealing. A gate electrode 5 which is a part of the gate wiring 5 is formed on the gate insulating film 4. The TFT in FIG. 1 is a top gate type TFT.

ゲート電極5を覆って層間絶縁膜6が形成され、層間絶縁膜6の上にはソース/ドレイン配線(SD配線10)が形成されている。なお、この明細書で、SD配線とは、TFTのソース領域と接続されるソース配線と、TFTのドレイン領域と接続されるドレイン配線の双方を言う。SD配線10を覆ってTFT全体を保護するためのパッシベーション膜11が形成されている。パッシベーション膜11の上には樹脂による平坦化膜12が形成されている。平坦化膜12は2μm程度と厚く形成される。TFT等が形成された面は凹凸となっている。トップエミッション型有機EL表示装置ではTFT等の上にも有機EL層を形成するが、有機EL層は平坦な膜の上に形成する必要がある。樹脂を厚く形成することにより、有機EL層が形成される面を平坦にしている。   An interlayer insulating film 6 is formed to cover the gate electrode 5, and source / drain wiring (SD wiring 10) is formed on the interlayer insulating film 6. In this specification, SD wiring refers to both a source wiring connected to the source region of the TFT and a drain wiring connected to the drain region of the TFT. A passivation film 11 for covering the SD wiring 10 and protecting the entire TFT is formed. A planarizing film 12 made of resin is formed on the passivation film 11. The planarizing film 12 is formed as thick as about 2 μm. The surface on which the TFT or the like is formed is uneven. In a top emission type organic EL display device, an organic EL layer is also formed on a TFT or the like, but the organic EL layer needs to be formed on a flat film. By forming the resin thick, the surface on which the organic EL layer is formed is flattened.

平坦化膜12の上には画素電極13が形成される。画素電極13は反射率の良いAl―Ni合金が使用される。画素電極13はコンタクトホール18を介してSD配線10と接続する。SD配線10から画素電極13にデータ信号が供給され、データ信号に応じた電圧が有機EL層に印加されることによって画像が形成される。下部電極となる画素電極13の上には、有機EL層とコンタクトするための透明導電膜14であるIZOが被着される。そして、透明導電膜14の上には複数層からなる有機EL層が形成される。有機EL層の上には透明導電膜14であるIZOからなる上部電極19が形成される。上部電極19はIZOによって形成される。   A pixel electrode 13 is formed on the planarizing film 12. The pixel electrode 13 is made of an Al—Ni alloy having good reflectivity. The pixel electrode 13 is connected to the SD wiring 10 through the contact hole 18. A data signal is supplied from the SD wiring 10 to the pixel electrode 13, and a voltage corresponding to the data signal is applied to the organic EL layer, thereby forming an image. On the pixel electrode 13 serving as the lower electrode, IZO, which is a transparent conductive film 14 for contacting the organic EL layer, is deposited. An organic EL layer composed of a plurality of layers is formed on the transparent conductive film 14. An upper electrode 19 made of IZO, which is a transparent conductive film 14, is formed on the organic EL layer. The upper electrode 19 is formed by IZO.

図1の構造は下部電極がアノードで上部電極19がカソードとなるトップカソード構造である。下部電極はホールを注入する必要があるので仕事関数の比較的小さいAl合金のような金属は不適であるので、Al―Niによる画素電極13の上にIZO層を被着して仕事関数を上げることによってアノードとしている。   The structure of FIG. 1 is a top cathode structure in which the lower electrode is an anode and the upper electrode 19 is a cathode. Since it is necessary to inject holes into the lower electrode, a metal such as an Al alloy having a relatively small work function is unsuitable. Therefore, an IZO layer is deposited on the pixel electrode 13 made of Al—Ni to increase the work function. This is the anode.

以上のように、本発明ではバンクは形成されていない。バンクを形成しない場合の問題点は図1におけるE部およびH部である。従来構造のままバンクを形成しない場合のE部の問題点を図2に示す。図2において、平坦化膜12の上に画素電極13が形成されている。画素電極13は当該画素部分のみに形成されるのでホトリソグラフィによって、パターニングされ、エッジ部が形成されている。   As described above, no bank is formed in the present invention. Problems when the bank is not formed are the E portion and the H portion in FIG. FIG. 2 shows a problem of the E portion when the bank is not formed with the conventional structure. In FIG. 2, the pixel electrode 13 is formed on the planarizing film 12. Since the pixel electrode 13 is formed only in the pixel portion, it is patterned by photolithography to form an edge portion.

画素電極13の上に有機EL層が蒸着される。蒸着層は総厚でも100nmから300nmと薄いため、画素電極13の端部において図2に示すような段切れを生じやすい。有機EL層層の上に上部電極19が形成される。図2に示すように、画素電極13に端部において、有機EL層が段切れを生じていると、この段切れ部において上部電極19と下部電極がショートしてしまう。そうすると有機EL層には電圧が印加されないことになり、有機EL層は発光しない。したがって、この画素は欠陥になる。   An organic EL layer is deposited on the pixel electrode 13. Since the total thickness of the deposited layer is as thin as 100 nm to 300 nm, the stepped portion as shown in FIG. An upper electrode 19 is formed on the organic EL layer. As shown in FIG. 2, when the organic EL layer is disconnected at the end of the pixel electrode 13, the upper electrode 19 and the lower electrode are short-circuited at the disconnected portion. Then, no voltage is applied to the organic EL layer, and the organic EL layer does not emit light. Therefore, this pixel becomes defective.

バンクを形成しない場合の他の問題点は、図1のH部である。従来構造のまま、バンク部を形成しない場合の他の問題点を図3に示す。図3はコンタクトホール部18の拡大図である。図3において、SD配線10の上にパッシベーション膜11が形成され、その上に平坦化膜12が形成されている。平坦化膜12に上には画素電極13が形成されている。画素電極13はSD配線10と接続する必要があるので、パッシベーション膜11および平坦化膜12にコンタクトホール18を形成し画素電極13とSD配線10の導通をとっている。   Another problem when the bank is not formed is the H portion of FIG. FIG. 3 shows another problem when the bank portion is not formed with the conventional structure. FIG. 3 is an enlarged view of the contact hole portion 18. In FIG. 3, a passivation film 11 is formed on the SD wiring 10, and a planarization film 12 is formed thereon. A pixel electrode 13 is formed on the planarizing film 12. Since the pixel electrode 13 needs to be connected to the SD wiring 10, a contact hole 18 is formed in the passivation film 11 and the planarizing film 12 to establish electrical connection between the pixel electrode 13 and the SD wiring 10.

画素電極13上に有機EL層が形成され、その上に上部電極19が形成される。ここで問題となるのは、平坦化膜12とパッシベーション膜11に形成されたコンタクトホール18は2μm以上と非常に深いのに対して、有機EL層の厚さは総厚でも100nmから300nm程度と薄いことである。したがって、図3に示すように、コンタクトホール部18において、有機EL層が段切れを起こしやすい。そうすると図3に示すように、画素電極13と上部電極19がコンタクトホール部18においてショートするという現象を生ずる。コンタクトホール部18でショートするとその画素は欠陥となる。   An organic EL layer is formed on the pixel electrode 13, and an upper electrode 19 is formed thereon. The problem here is that the contact hole 18 formed in the planarization film 12 and the passivation film 11 is very deep as 2 μm or more, whereas the total thickness of the organic EL layer is about 100 nm to 300 nm. It is thin. Therefore, as shown in FIG. 3, the organic EL layer easily breaks in the contact hole portion 18. Then, as shown in FIG. 3, a phenomenon occurs in which the pixel electrode 13 and the upper electrode 19 are short-circuited in the contact hole portion 18. When the contact hole 18 is short-circuited, the pixel becomes defective.

図1に示すE部における問題点に対しては、本実施例では図1に示すように、Al−Ni合金である画素電極13の上にIZOを形成している。そして、Al−Ni合金にテーパエッチングをほどこすことによって、有機EL層の端部での段切れを防止している。また、図1のH部における問題点に対しては、本実施例では、有機EL層を単色1層だけでなく、2層あるいは3層をコンタクトホール部18に被着して有機EL層の厚さを大きくすることによって段切れを防止している。   With respect to the problem in the portion E shown in FIG. 1, in this embodiment, as shown in FIG. 1, IZO is formed on the pixel electrode 13 made of an Al—Ni alloy. Then, taper etching is applied to the Al—Ni alloy to prevent disconnection at the end of the organic EL layer. In addition, with respect to the problem in the H portion of FIG. 1, in this embodiment, the organic EL layer is deposited not only on a single monochrome layer but also on two or three layers on the contact hole portion 18 to form the organic EL layer. The step is prevented by increasing the thickness.

図4は図1の画素電極13付近を取り出した拡大模式図である。図1と図4とではコンタクトホール18に対する画素電極13に位置が逆になっている。図4においては、ガラス基板1上にSD電極が形成された形となっているが、これは図を単純にするためであり、実際には、SD電極の下には、層間絶縁膜6、ゲート絶縁膜4、下地膜2等が存在している。   FIG. 4 is an enlarged schematic view showing the vicinity of the pixel electrode 13 of FIG. 1 and 4, the position of the pixel electrode 13 with respect to the contact hole 18 is reversed. In FIG. 4, the SD electrode is formed on the glass substrate 1, but this is for simplifying the drawing. Actually, the interlayer insulating film 6, below the SD electrode, A gate insulating film 4, a base film 2, etc. are present.

図4において、SD配線10を覆ってパッシベーション膜11、平坦化膜12が形成されている。平坦化膜12の上には画素電極13が形成されている。画素電極13はホトリソグラフィによってパターニングされている。画素電極13は平坦化膜12およびパッシベーション膜11に形成されたコンタクトホール18を介してSD電極と導通している。画素電極13の上には透明電極であるIZOが20nm程度の厚さに薄くスパッタリングによって被着されている。本実施例はトップカソードであるので、IZOを画素電極13として使用すれば、金属であるAl−Niは不要であるが、画素電極13の端部をテーパ形状とするために、あえて金属の画素電極13を用いている。   In FIG. 4, a passivation film 11 and a planarizing film 12 are formed so as to cover the SD wiring 10. A pixel electrode 13 is formed on the planarizing film 12. The pixel electrode 13 is patterned by photolithography. The pixel electrode 13 is electrically connected to the SD electrode through a contact hole 18 formed in the planarizing film 12 and the passivation film 11. On the pixel electrode 13, IZO, which is a transparent electrode, is thinly deposited to a thickness of about 20 nm by sputtering. Since the present embodiment is a top cathode, if IZO is used as the pixel electrode 13, Al-Ni which is a metal is not necessary. However, in order to make the end of the pixel electrode 13 into a tapered shape, a metal pixel is intentionally made. The electrode 13 is used.

つまり、IZOでもテーパエッチングを行うことは出来る。しかしながら、IZO等の金属酸化物による透明導電膜14は硬く脆いために、テーパを形成するとそのテーパ部が破壊してしまい、結局、シャープなエッジとなってしまう。本実施例では粘りのあるAl合金を画素電極13に使用することによってテーパエッジを安定して形成することが出来る。そして、画素電極13の上にIZOを薄く形成することによってアノードとしての役割を持たせている。   That is, taper etching can be performed even with IZO. However, since the transparent conductive film 14 made of a metal oxide such as IZO is hard and fragile, if the taper is formed, the taper portion is destroyed and eventually a sharp edge is formed. In this embodiment, the tapered edge can be stably formed by using a sticky Al alloy for the pixel electrode 13. A thin IZO is formed on the pixel electrode 13 to serve as an anode.

IZO膜の上には有機EL層を蒸着によって形成し、その上に上部電極19をIZOによって形成する。コンタクトホール18に対応する上部電極19の上には補助電極20が形成されている。補助電極20は上部電極19の導通を補助する役割とコンタクトホール部18からの導波光の放出を防止する役割をもっている。   An organic EL layer is formed on the IZO film by vapor deposition, and an upper electrode 19 is formed on the IZO film by IZO. An auxiliary electrode 20 is formed on the upper electrode 19 corresponding to the contact hole 18. The auxiliary electrode 20 has a role of assisting conduction of the upper electrode 19 and a role of preventing emission of guided light from the contact hole portion 18.

画素電極13にはAl−Niを使用しているが、これはAi−Niの反射率が高いことのほかにIZO(In−Zn−O)とのコンタクト抵抗が低いという理由からである。画素電極13は次のようにして形成される。すなわち、スパッタリング法によって厚さ120nmを形成し、ホトレジストを用いてパタンを形成し、燐酸、酢酸、硝酸の混酸を用いてエッチングする。   Al-Ni is used for the pixel electrode 13 because the reflectance of Ai-Ni is high and the contact resistance with IZO (In-Zn-O) is low. The pixel electrode 13 is formed as follows. That is, a thickness of 120 nm is formed by sputtering, a pattern is formed using a photoresist, and etching is performed using a mixed acid of phosphoric acid, acetic acid, and nitric acid.

画素電極13の端部の段差を蒸着膜である有機EL層が被覆しきれずに、画素電極13と上部電極19とがショートしてしまうことを防止するために、画素電極13の端部のテーパ角θを40度以下に保った。一般には、ジャストエッチの状態では端部にはテーパがついている。そのテーパを保つためには、エッチング後のリンスをすばやく行う必要がある。大量の水をシャワー状に吹き付けることにより、エッチング液をすばやく除去してテーパ角を保持した。   In order to prevent the pixel electrode 13 and the upper electrode 19 from being short-circuited because the organic EL layer, which is a vapor deposition film, is not completely covered with the step at the end of the pixel electrode 13, the taper at the end of the pixel electrode 13 is prevented. The angle θ was kept below 40 degrees. In general, the end portion is tapered in a just-etched state. In order to maintain the taper, it is necessary to perform rinsing after etching quickly. By spraying a large amount of water in a shower shape, the etching solution was quickly removed to maintain the taper angle.

その上にスパッタリングによって厚さ20nmのIZOの薄膜を形成した。放電ガスはArに対し体積比で2.5%の酸素を導入し、抵抗率が10〜300Ω・cmのIZO膜に調整した。抵抗値のばらつきはかなり大きいが、有機EL層の抵抗はこれよりはるかに大きいので、この範囲であれば問題にならない。   A 20 nm thick IZO thin film was formed thereon by sputtering. The discharge gas was adjusted to an IZO film having a resistivity of 10 to 300 Ω · cm by introducing 2.5% oxygen by volume with respect to Ar. Although the variation of the resistance value is considerably large, the resistance of the organic EL layer is much larger than this, so that there is no problem within this range.

IZOは基板全面に形成し、画素上にも画素間にも、また、端子上にも端子間にも、さらには封止部など、基板表面のあらゆる場所に被着されているが、問題にはならない。図5は端子部の断面図である。図5において、端子配線50はSD配線10あるいはゲート配線5を基板端部に引き出したものである。端子部に流れる電流が多い場合は抵抗の小さいSD配線10が端子配線50として使用される。端子配線50を覆ってパッシベーション膜11、平坦化膜12が被着され、これらの膜に開口を設ける。この開口部に画素電極13と同じAi−Niを被着し、端子の形状にパンターニングする。その後、Ai−Ni膜を大気から保護するためにIZOを薄く被着する。   IZO is formed on the entire surface of the substrate, and is deposited on the substrate surface, between the pixels, on the terminals and between the terminals, and everywhere on the substrate surface, such as a sealing portion. Must not. FIG. 5 is a cross-sectional view of the terminal portion. In FIG. 5, the terminal wiring 50 is obtained by drawing the SD wiring 10 or the gate wiring 5 to the end of the substrate. When the current flowing through the terminal portion is large, the SD wiring 10 having a small resistance is used as the terminal wiring 50. A passivation film 11 and a planarizing film 12 are deposited so as to cover the terminal wiring 50, and openings are provided in these films. The same Ai-Ni as that of the pixel electrode 13 is applied to the opening and is panned to the shape of the terminal. Thereafter, IZO is thinly deposited to protect the Ai-Ni film from the atmosphere.

端子部および端子部間にIZO膜が被着されているが、IZO膜の厚さが10〜20nmであり、抵抗率が1〜10Ω・cmの範囲であれば、端子部における抵抗が高すぎたり、あるいは、端子部間の抵抗が小さくなって絶縁が保てないというような現象は生じない。この理由から本実施例では薄いIZOを基板全面に被着している。 The IZO film is deposited between the terminal portions, and if the thickness of the IZO film is 10 to 20 nm and the resistivity is in the range of 1 to 10 5 Ω · cm, the resistance in the terminal portion is There is no such phenomenon that it is too high or the resistance between the terminal portions becomes small and insulation cannot be maintained. For this reason, thin IZO is applied to the entire surface of the substrate in this embodiment.

図4に戻り、薄く被着したIZOの上に、有機EL層としてホール輸送層、発光層、電子輸送層、電子注入層をマスク蒸着によって形成する。その後上部電極19をIZOによって形成し、補助配線20をコンタクトホール部18をカバーするように形成した。各膜は次のようにして形成する。すなわち、画素電極13となるAl−Ni層は120nm、その上のIZOは20nm、ホール輸送層120nmを各色共通で形成する。その後、青色部分17は発光層を40nm、緑色部分16はホール輸送層を60nmと発光層を40nm、赤色部分15はホール輸送層を130nm、発光層30nmをそれぞれ形成する。したがって、ホール輸送層の厚さは青色部分17では120nm、緑色部分16は180nm、赤色部分15では250nmとなる。その上に各色共通で電子輸送層を10nm、電子注入層を60nm、上部電極19であるIZOを30nm被着した。   Returning to FIG. 4, a hole transport layer, a light emitting layer, an electron transport layer, and an electron injection layer are formed as an organic EL layer on the thinly deposited IZO by mask vapor deposition. Thereafter, the upper electrode 19 was formed by IZO, and the auxiliary wiring 20 was formed so as to cover the contact hole portion 18. Each film is formed as follows. That is, the Al—Ni layer to be the pixel electrode 13 is 120 nm, the IZO layer thereon is 20 nm, and the hole transport layer 120 nm is formed in common for each color. Thereafter, the blue portion 17 forms a light emitting layer of 40 nm, the green portion 16 forms a hole transport layer of 60 nm and a light emitting layer of 40 nm, and the red portion 15 forms a hole transport layer of 130 nm and a light emitting layer of 30 nm. Therefore, the thickness of the hole transport layer is 120 nm for the blue portion 17, 180 nm for the green portion 16, and 250 nm for the red portion 15. On top of that, an electron transport layer of 10 nm, an electron injection layer of 60 nm, and an upper electrode 19 of IZO of 30 nm were deposited in common for each color.

各色毎に別々に形成したホール輸送層と発光層を各色の境界部分で重なりあるように形成し、この有機EL層の重なり部21分にコンタクトホール18を設ける。そうすると、コンタクトホール部18における有機EL層が厚くなり、段切れが防止されて上部電極19と画素電極13の短絡を防ぐことが出来る。赤色、緑色、青色の有機EL層を重ねる場合は、中間に青色の有機EL層をおくと電流が流れにくくなるので、消費電力の増加を防止することが出来る。   A hole transport layer and a light emitting layer formed separately for each color are formed so as to overlap each other at the boundary between the colors, and a contact hole 18 is provided in the overlapping portion 21 of the organic EL layer. As a result, the organic EL layer in the contact hole portion 18 becomes thick, and disconnection is prevented, so that a short circuit between the upper electrode 19 and the pixel electrode 13 can be prevented. When the red, green, and blue organic EL layers are stacked, if the blue organic EL layer is placed in the middle, it becomes difficult for current to flow, and thus an increase in power consumption can be prevented.

有機EL層を重ねた場合の断面模式図を図6に、平面図を図7に示す。図6はコンタクトホール部18において、有機EL層が重なっていることを示している。図6において、有機EL層が青色だけの場合は厚さが100nm程度であり、コンタクトホール18において容易に段切れを起こすが、3色の有機EL層が重なると総厚は600nm程度になり、段切れを生じない。ちなみに、各色の有機EL層の厚さは青色が100nm程度、緑色が200nm程度、赤色が300nm程度である。このように、3色の有機EL層を重ね合わせたことにより、有機EL層の抵抗が大きくなって、コンタクトホール18における電流が流れにくくなり、消費電力の増加を抑えることが出来る。なお、有機EL層は場所によっては3色を重ねることが出来るが、場所によっては2色のみの重なりとなる。この場合でも、1色のみの場合に比較してコンタクトホール18における段切れの危険ははるかに小さくなる。   FIG. 6 is a schematic cross-sectional view when organic EL layers are stacked, and FIG. 7 is a plan view. FIG. 6 shows that the organic EL layers overlap in the contact hole portion 18. In FIG. 6, when the organic EL layer is only blue, the thickness is about 100 nm, and the contact hole 18 easily breaks, but when the three color organic EL layers overlap, the total thickness is about 600 nm. No breakage occurs. Incidentally, the thickness of each color organic EL layer is about 100 nm for blue, about 200 nm for green, and about 300 nm for red. Thus, by superimposing the organic EL layers of the three colors, the resistance of the organic EL layer is increased, the current in the contact hole 18 becomes difficult to flow, and an increase in power consumption can be suppressed. The organic EL layer can overlap three colors depending on the location, but only two colors overlap depending on the location. Even in this case, the risk of disconnection in the contact hole 18 is much smaller than in the case of only one color.

図4にもどり、コンタクトホール部18は有機EL層を重ねても平坦にできるわけではない。コンタクトホール部18は平坦ではないために、発光層からの導波光が出射する。有機EL層からの発光のうち、上部電極19に向かう光は画像の形成に寄与する。しかし、上部電極19と平行方向に向かう光は画像形成に寄与しない。上部電極19と平行方向に向かう光を導波光と称するが、この導波光がコンタクトホール18において、屈折あるいは反射して視認されることになる。導波光は強度が強く、波長も異なるので、画質を劣化させる。この導波光を外部に出さないようにするために、コンタクトホール部18に補助配線20を設置している。   Returning to FIG. 4, the contact hole portion 18 is not flattened even if the organic EL layer is stacked. Since the contact hole portion 18 is not flat, guided light from the light emitting layer is emitted. Of the light emitted from the organic EL layer, the light directed to the upper electrode 19 contributes to image formation. However, light traveling in a direction parallel to the upper electrode 19 does not contribute to image formation. The light traveling in the direction parallel to the upper electrode 19 is referred to as guided light, and this guided light is visually refracted or reflected in the contact hole 18. Since guided light has a strong intensity and a different wavelength, the image quality is deteriorated. In order to prevent the guided light from being emitted to the outside, an auxiliary wiring 20 is provided in the contact hole portion 18.

図7は画素電極13、有機EL層等の配置を示す平面図である。図7において、画素電極13および有機EL層はモザイク状に配置されている。有機EL層は画素電極13よりも大きく形成され、コンタクトホール18が存在する部分では複数の色の有機EL層が重なっている。コンタクトホール183の部分では3色の有機EL層が重なっており、コンタクトホール182の部分では2色の有機EL層が重なっている。コンタクトホール18は金属で形成される補助配線20によって覆われている。   FIG. 7 is a plan view showing the arrangement of the pixel electrode 13, the organic EL layer, and the like. In FIG. 7, the pixel electrodes 13 and the organic EL layers are arranged in a mosaic pattern. The organic EL layer is formed to be larger than the pixel electrode 13, and a plurality of colors of organic EL layers are overlapped in a portion where the contact hole 18 exists. In the contact hole 183 portion, the three color organic EL layers overlap, and in the contact hole 182 portion, the two color organic EL layers overlap. The contact hole 18 is covered with an auxiliary wiring 20 made of metal.

図8は画素部の回路図である。図8において、リセット線RESがHighになるとT1がONになり、T2のゲートがT2のドレインと同じ電位となって初期化される。この状態でデータ線DATAからの画像信号に応じた電荷がコンデンサCにチャージされる。制御線ILUMがHighになると、T3がONし、駆動トランジスタT2によってコンデンサにチャージした電荷に応じた電流が電源線VSSから有機EL層OLEDに流れ、画像が形成される。   FIG. 8 is a circuit diagram of the pixel portion. In FIG. 8, when the reset line RES becomes High, T1 is turned ON, and the gate of T2 is initialized to the same potential as the drain of T2. In this state, the capacitor C is charged with a charge corresponding to the image signal from the data line DATA. When the control line ILUM becomes High, T3 is turned ON, and a current corresponding to the electric charge charged in the capacitor by the driving transistor T2 flows from the power supply line VSS to the organic EL layer OLED to form an image.

図9は図8の画素構造を実現する工程図の例である。図9に示す層構造は図1に示した有機EL表示装置の一般的な層構造とは異なっている。図9(a)において、ガラス基板1上にSD配線SDを形成した。SD配線SDはMoを250nmスパタリングし、ホトリソグラフィによって配線パタンを形成した。SD配線と同層で図8におけるコンデンサの片側の電極を形成した。次に図9(b)に示すように、a−Siを50nmの厚さにCVDによって形成し、レーザーアニールによってpoly−Si膜に変換し、ホトリソグラフィによってパタン形成した。   FIG. 9 is an example of a process diagram for realizing the pixel structure of FIG. The layer structure shown in FIG. 9 is different from the general layer structure of the organic EL display device shown in FIG. In FIG. 9A, SD wiring SD was formed on the glass substrate 1. For the SD wiring SD, Mo was sputtered at 250 nm, and a wiring pattern was formed by photolithography. The electrode on one side of the capacitor in FIG. 8 was formed in the same layer as the SD wiring. Next, as shown in FIG. 9B, a-Si was formed to a thickness of 50 nm by CVD, converted into a poly-Si film by laser annealing, and patterned by photolithography.

その上にCVD法により、SiO膜を100nm成膜し、続いて図9(c)に示すように、Moを150nmスパッタリングしてホトリソグラフィによってゲート配線パタンGを形成した。ゲート配線パンタンGと同層で図8におけるコンデンサの他の電極を形成した。ホウ素をイオンプレーティングにより、ドープし、CVD法により、SiN膜を300nm被着する。その後約500℃で活性化アニールを行い、さらに400℃で水素化アニールを行った。 A SiO 2 film was formed to 100 nm thereon by CVD, and subsequently, as shown in FIG. 9C, Mo was sputtered to 150 nm and a gate wiring pattern G was formed by photolithography. The other electrode of the capacitor in FIG. 8 was formed in the same layer as the gate wiring pantan G. Boron is doped by ion plating, and a SiN film of 300 nm is deposited by CVD. Thereafter, activation annealing was performed at about 500 ° C., and hydrogenation annealing was further performed at 400 ° C.

感光性アクリル樹脂を塗付して平坦化した後、コンタクトホール18のパタンをホトリソグラフィにより形成した。そのまま、CF4+H2プラズマでSiN、ゲート絶縁膜4をエッチングしてコンタクトホール18を下の配線まで貫通した。この状態が図9(d)である。   After the photosensitive acrylic resin was applied and planarized, a pattern of the contact hole 18 was formed by photolithography. As it is, SiN and the gate insulating film 4 were etched by CF4 + H2 plasma to penetrate the contact hole 18 to the lower wiring. This state is shown in FIG.

この上に、図4で説明した画素電極13のAl−Ni合金をスパッタリングし、ホトリソグラフィによって画素パタンを形成した。この上に抵抗率を制御したIZO膜を製膜して完成した。この状態が図9(e)である。ホトリソグラフィ工程は全部で5回である。このようにして形成した画素回路のアノードに正、上部電極19のカソードに負の電圧を印加することによって電流が流れ、有機EL層が発光した。   On top of this, the Al—Ni alloy of the pixel electrode 13 described in FIG. 4 was sputtered, and a pixel pattern was formed by photolithography. An IZO film having a controlled resistivity was formed thereon to complete. This state is shown in FIG. The photolithography process is performed 5 times in total. When a positive voltage was applied to the anode of the pixel circuit thus formed and a negative voltage was applied to the cathode of the upper electrode 19, current flowed, and the organic EL layer emitted light.

有機EL層は複数の層から成っているが、構成は次のとおりである。   The organic EL layer is composed of a plurality of layers, and the configuration is as follows.

電子輸送層としては電子輸送性を示し、アルカリ金属と共蒸着することにより電荷移動錯体化しやすいものであれば特に限定は無く、例えばトリス(8−キノリノラート)アルミニウム、トリス(4-メチル-8-キノリノラート)アルミニウム、ビス(2-メチル−8−キノリノラート)−4−フェニルフェノラート−アルミニウム、ビス[2-[2-ヒドロキシフェニル]ベンゾオキサゾラート]亜鉛などの金属錯体や2−(4−ビフェニリル)−5−(4−tert−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール、1,3−ビス[5−(p−tert−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール−2−イル]ベンゼン等を用いることができる。   The electron transporting layer is not particularly limited as long as it exhibits electron transporting properties and is easily formed into a charge transfer complex by co-evaporation with an alkali metal. For example, tris (8-quinolinolato) aluminum, tris (4-methyl-8- Quinolinolato) aluminum, bis (2-methyl-8-quinolinolato) -4-phenylphenolate-aluminum, bis [2- [2-hydroxyphenyl] benzoxazolate] zinc and other metal complexes and 2- (4-biphenylyl) ) -5- (4-tert-butylphenyl) -1,3,4-oxadiazole, 1,3-bis [5- (p-tert-butylphenyl) -1,3,4-oxadiazole- 2-yl] benzene or the like can be used.

電子注入層は電子輸送層に用いた物質に対して電子供与性を示す材料を共蒸着して形成した、例えば、リチウム、セシウムなどのアルカリ金属、マグネシウム、カルシウムなどのアルカリ土類金属、さらには希土類金属等の金属類、あるいはそれらの酸化物、ハロゲン化物、炭酸化物等から選択して電子供与性を示す物質として用いてもかまわない。   The electron injection layer is formed by co-evaporation of a material having an electron donating property with respect to the substance used for the electron transport layer, for example, an alkali metal such as lithium and cesium, an alkaline earth metal such as magnesium and calcium, and They may be selected from metals such as rare earth metals, or their oxides, halides, carbonates, etc., and used as substances exhibiting electron donating properties.

ホール輸送層は、例えば、テトラアリールベンジシン化合物(トリフェニルジアミン:TPD)、芳香族三級アミン、ヒドラゾン誘導体、カルバゾール誘導体、トリアゾール誘導体、イミダゾール誘導体、アミノ基を有するオキサジアゾール誘導体、ポリチオフェン誘導体、銅フタロシアニン誘導体等を用いることができる。   The hole transport layer includes, for example, a tetraarylbenzidine compound (triphenyldiamine: TPD), an aromatic tertiary amine, a hydrazone derivative, a carbazole derivative, a triazole derivative, an imidazole derivative, an oxadiazole derivative having an amino group, a polythiophene derivative, Copper phthalocyanine derivatives and the like can be used.

発光層材料としては電子、ホールの輸送能力を有するホスト材料に、それらの再結合により蛍光もしくはりん光を発するドーパントを添加したもので共蒸着により発光層として形成できるものであれば特に限定は無く、例えば、ホストとしてはトリス(8−キノリノラト)アルミニウム、ビス(8−キノリノラト)マグネシウム、ビス(ベンゾ{f}−8−キノリノラト)亜鉛、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)アルミニウムオキシド、トリス(8−キノリノラト)インジウム、トリス(5−メチル−8−キノリノラト)アルミニウム、8−キノリノラトリチウム、トリス(5−クロロ−8−キノリノラト)ガリウム、ビス(5−クロロ−8−キノリノラト)カルシウム、5,7−ジクロル−8−キノリノラトアルミニウム、トリス(5,7−ジブロモ−8−ヒドロキシキノリノラト)アルミニウム、ポリ[亜鉛(II)−ビス(8−ヒドロキシ−5−キノリニル)メタン]のような錯体、アントラセン誘導体、カルバゾール誘導体、等であっても良い。   The light emitting layer material is not particularly limited as long as it can be formed as a light emitting layer by co-evaporation by adding a dopant that emits fluorescence or phosphorescence by recombination to a host material having electron and hole transport capability. For example, tris (8-quinolinolato) aluminum, bis (8-quinolinolato) magnesium, bis (benzo {f} -8-quinolinolato) zinc, bis (2-methyl-8-quinolinolato) aluminum oxide, tris ( 8-quinolinolato) indium, tris (5-methyl-8-quinolinolato) aluminum, 8-quinolinolatolithium, tris (5-chloro-8-quinolinolato) gallium, bis (5-chloro-8-quinolinolato) calcium, 5 , 7-dichloro-8-quinolinolato aluminum, tris ( , 7-dibromo-8-hydroxyquinolinolato) aluminum, poly [zinc (II) -bis (8-hydroxy-5-quinolinyl) methane] -like complexes, anthracene derivatives, carbazole derivatives, and the like. .

また、ドーパントとしてはホスト中で電子とホールを捉えて再結合させ発光するものであって、例えば赤ではピラン誘導体、緑ではクマリン誘導体、青ではアントラセン誘導体などの蛍光を発光する物質やもしくはイリジウム錯体、ピリジナート誘導体などりん光を発する物質であっても良い。   In addition, dopants are those that capture electrons and holes in the host and recombine to emit light. For example, a red light emitting substance such as a pyran derivative, a green coumarin derivative, a blue anthracene derivative, or an iridium complex. Further, it may be a phosphorescent substance such as a pyridinate derivative.

最上層は光を取り出すために透明導電膜14であればよく本実施例ではIZOとしたがITOであっても構わない。   The uppermost layer may be a transparent conductive film 14 for extracting light. In this embodiment, IZO is used, but ITO may be used.

図10は本発明の第2の実施例を示す画素部の断面図である。実施例1は画素電極13がアノードで、上部電極19がカソードである、いわゆるトップカソードの場合であるが、本実施例は画素電極13がカソードで、上部電極19がアノードである、いわゆるトップアノードの場合である。   FIG. 10 is a cross-sectional view of a pixel portion showing a second embodiment of the present invention. The first embodiment is a so-called top cathode in which the pixel electrode 13 is an anode and the upper electrode 19 is a cathode, but this embodiment is a so-called top anode in which the pixel electrode 13 is a cathode and the upper electrode 19 is an anode. This is the case.

図10はガラス基板1上に形成されたTFTからコンタクトホール18を通して画素電極13および有機EL層に電流を供給する構成の有機EL表示装置において、コンタクトホール部18から上部電極19までを表したものである。省略されているTFT回路部分は、図9に示したものとほぼ同じであるが、実施例1ではトップカソード構造であったので、TFTはホウ素をドープしたp−MOSとしたが、本実施例のトップアノード構造ではリンをドープしたn−MOSとした。   FIG. 10 shows the contact hole portion 18 to the upper electrode 19 in an organic EL display device configured to supply current from the TFT formed on the glass substrate 1 to the pixel electrode 13 and the organic EL layer through the contact hole 18. It is. The omitted TFT circuit portion is almost the same as that shown in FIG. 9, but since the top cathode structure was used in Example 1, the TFT was a p-MOS doped with boron. In the top anode structure, an n-MOS doped with phosphorus is used.

画素電極13は反射率の高いAl−Nd合金を用いた。スパッタリングによって、厚さ150nmの薄膜を形成し、ホトレジストを用いてパタンを形成し、燐酸、酢酸、硝酸の混酸を用いてエッチングして画素電極13を形成した。実施例1と同様、画素電極13の端部はテーパ形状を40度以下とした。   The pixel electrode 13 is made of an Al—Nd alloy having a high reflectance. A thin film having a thickness of 150 nm was formed by sputtering, a pattern was formed using a photoresist, and etching was performed using a mixed acid of phosphoric acid, acetic acid, and nitric acid to form the pixel electrode 13. As in Example 1, the end of the pixel electrode 13 has a tapered shape of 40 degrees or less.

Alの表面は通常10nm程度の自然酸化膜によって覆われており、有機EL層のカソード電極として用いるには、この酸化膜を除去する必要がある。本実施例では逆スパッタリングによってこの自然酸化膜を除去する。自然酸化膜を除去した後、LiFを0.5nm蒸着し、この上に有機EL層を順に、電子輸送層、発光層、ホール輸送層をマスク蒸着によって被着した。その後アノードである上部電極19としてIZOを形成し、補助配線20をコンタクトホール18をカバーするように形成した。   The surface of Al is usually covered with a natural oxide film of about 10 nm, and this oxide film needs to be removed for use as the cathode electrode of the organic EL layer. In this embodiment, the natural oxide film is removed by reverse sputtering. After removing the natural oxide film, LiF was deposited in a thickness of 0.5 nm, and an organic EL layer was sequentially deposited thereon by mask deposition with an electron transport layer, a light emitting layer, and a hole transport layer. Thereafter, IZO was formed as the upper electrode 19 serving as the anode, and the auxiliary wiring 20 was formed so as to cover the contact hole 18.

最後に端子部の保護を目的としてスパッタリングにより、厚さ20nmのIZO薄膜を被着した。放電ガスはArに対し、体積比で2.5%の酸素を導入し、抵抗率を10〜300Ω・cmに調整した。このようなIZO膜であれば、基板全面に被着しても、端子部の抵抗、端子間の絶縁は問題ない程度に出来ることは実施例1と同様である。   Finally, an IZO thin film having a thickness of 20 nm was deposited by sputtering for the purpose of protecting the terminal portion. The discharge gas was introduced with 2.5% oxygen by volume relative to Ar, and the resistivity was adjusted to 10 to 300 Ω · cm. In the same manner as in the first embodiment, such an IZO film can achieve the resistance of the terminal portion and the insulation between the terminals even if it is deposited on the entire surface of the substrate.

有機EL層の厚さは、青色が電子輸送層20nm、発光層40nm、緑色が電子輸送層25nm、発光層100nm、赤色が電子輸送層20nm、発光層60nmとした。これらの各層はコンタクトホール18上で重なりあうようなマスクを用いて蒸着した。重ねる順番としては、中央に青を置くと、バンド構造上、電流が流れにくくなるので、無駄な消費電力を抑制することが出来る。ホール輸送層は各色共通で60nmとした。   Regarding the thickness of the organic EL layer, the electron transport layer is 20 nm in blue, the light-emitting layer is 40 nm, the green is electron transport layer 25 nm, the light-emitting layer 100 nm, the red is electron transport layer 20 nm, and the light-emitting layer 60 nm. Each of these layers was deposited using a mask that overlapped on the contact hole 18. As for the order of stacking, if blue is placed in the center, it becomes difficult for the current to flow due to the band structure, so that wasteful power consumption can be suppressed. The hole transport layer was 60 nm in common for each color.

このようにして形成した有機EL表示装置の画素電極13であるカソードに負、上部電極19であるアノードに正の電圧を印加することによって電流が流れ、有機EL層が発光した。本実施例で説明した画素の平面配置は実施例1と同様に、各色がモザイク状に配列したものである。   When a negative voltage was applied to the cathode that is the pixel electrode 13 of the organic EL display device thus formed and a positive voltage was applied to the anode that was the upper electrode 19, current flowed, and the organic EL layer emitted light. The planar arrangement of the pixels described in the present embodiment is similar to the first embodiment, in which each color is arranged in a mosaic.

実施例1および実施例2では透明導電膜14としてIZOを用いているが、透明導電膜14はIZOに限る必要はない。透明導電膜14としてITO(In−Tin−Oxide)、あるいはATO(Sb−Tin−Oxide)等を使用することも可能である。また、実施例1および実施例2においては、画素がモザイク状に配列している場合について説明した。しかし、本発明はモザイク状の画素配置のみでなく、他の画素配置の場合にも適用できることはいうまでもない。   In Example 1 and Example 2, IZO is used as the transparent conductive film 14, but the transparent conductive film 14 need not be limited to IZO. It is also possible to use ITO (In-Tin-Oxide), ATO (Sb-Tin-Oxide) or the like as the transparent conductive film 14. In the first and second embodiments, the case where the pixels are arranged in a mosaic shape has been described. However, it goes without saying that the present invention can be applied not only to a mosaic pixel arrangement but also to other pixel arrangements.

図11は各色の画素がストライプ状に形成された場合である。図11においては、画素電極13は画素毎に形成されるが、有機EL層は色毎にストライプ状に蒸着される。有機EL層は画素電極13よりも大きく形成されている。図11において、青のストライプ幅が大きいのは、青の発光効率が他の色よりも小さいために、面積で補償するためである。   FIG. 11 shows a case where pixels of each color are formed in a stripe shape. In FIG. 11, the pixel electrode 13 is formed for each pixel, but the organic EL layer is deposited in stripes for each color. The organic EL layer is formed larger than the pixel electrode 13. In FIG. 11, the reason why the blue stripe width is large is to compensate for the area because the light emission efficiency of blue is smaller than that of other colors.

図11において、2色の有機EL層がサイドにおいて互いに重なって形成されている。図11の配置では3色ではなく、2色が重なる配置となっている。各色有機EL層が重なった部分にコンタクトホール18が形成されている。このコンタクトホール18を覆って補助配線20が縦方向に形成されている。補助配線20は導波光がコンタクトホール部18から出射するのを防止する。   In FIG. 11, two color organic EL layers are formed to overlap each other on the side. In the arrangement of FIG. 11, two colors are overlapped instead of three colors. A contact hole 18 is formed in a portion where each color organic EL layer overlaps. An auxiliary wiring 20 is formed in the vertical direction so as to cover the contact hole 18. The auxiliary wiring 20 prevents the guided light from being emitted from the contact hole portion 18.

図12は各色の画素がストライプ状に形成された場合の他の例である。画素電極13と有機EL層、コンタクトホール18の配置の関係は図11と同様である。図12においては、補助配線20が横方向に延びている。補助配線20が横方向に延びている場合でも、大部分のコンタクトホール18は覆うことが出来るが、一部のコンタクトホール18は覆われていない。一部の覆われていないコンタクトホール18の画質への影響は軽微である。   FIG. 12 shows another example in which pixels of each color are formed in a stripe shape. The arrangement relationship between the pixel electrode 13, the organic EL layer, and the contact hole 18 is the same as in FIG. In FIG. 12, the auxiliary wiring 20 extends in the horizontal direction. Even when the auxiliary wiring 20 extends in the lateral direction, most of the contact holes 18 can be covered, but some of the contact holes 18 are not covered. The influence on the image quality of some uncovered contact holes 18 is negligible.

図11および図12においては、コンタクトホール18における有機EL層は2色分の重なりである。しかし、有機EL層は蒸着で形成するため、コンタクトホール部18のみに3色の有機EL層が重なるように蒸着マスクを設計することは可能である。したがって、ストライプタイプの画素配置であっても3色の有機EL層をコンタクトホール部18で重ねることは出来る。   11 and 12, the organic EL layer in the contact hole 18 is an overlap of two colors. However, since the organic EL layer is formed by vapor deposition, it is possible to design the vapor deposition mask so that the three color organic EL layers overlap only on the contact hole portion 18. Therefore, even in a stripe type pixel arrangement, the organic EL layers of three colors can be overlapped by the contact hole portion 18.

以上にように、本発明によれば、バンクを形成しなくとも、有機EL層の段切れに起因する上部電極19と画素電極13のショートは防止することが出来る。したがって、有機EL表示装置の製造コスト押さえ、かつバンクを形成するプロセスに伴うエッチング残渣の問題、バンクから発生する導波光の問題等を除去することが出来る。   As described above, according to the present invention, it is possible to prevent a short circuit between the upper electrode 19 and the pixel electrode 13 due to the disconnection of the organic EL layer without forming a bank. Therefore, the manufacturing cost of the organic EL display device can be reduced, and the problem of etching residue accompanying the process of forming the bank, the problem of guided light generated from the bank, and the like can be eliminated.

以上の説明では、有機EL層は赤、緑、または青の発光を行なうものとして説明した。しかしながら、有機EL表示装置では、有機EL層を3色分用意せずに、例えば、2色分の有機EL層を用意して、カラーフィルタを用いることによってフルカラーを表示することも出来る。この場合においても、コンタクトホールの部分において、2色分の有機EL層を重畳することによってコンタクトホール部での段切れを防止できる。この場合も金属で形成された下部電極にはテーパを形成することが必要である。   In the above description, the organic EL layer has been described as emitting red, green, or blue light. However, in the organic EL display device, for example, two colors of organic EL layers are prepared without using three organic EL layers, and a full color can be displayed by using a color filter. Even in this case, disconnection at the contact hole portion can be prevented by overlapping the organic EL layers for two colors in the contact hole portion. In this case also, it is necessary to form a taper on the lower electrode made of metal.

本発明の表示装置の断面図である。It is sectional drawing of the display apparatus of this invention. 従来技術でバンクを省略したときの問題を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows a problem when a bank is abbreviate | omitted by a prior art. 従来技術でバンクを省略したときの他の問題を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the other problem when a bank is abbreviate | omitted by a prior art. 実施例1の要部断面図である。1 is a cross-sectional view of a main part of Example 1. FIG. 実施例1の端子部の断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view of a terminal portion according to the first embodiment. 実施例1のコンタクトホール部の断面図である。3 is a cross-sectional view of a contact hole portion of Example 1. FIG. 実施例1における画素の配置図である。FIG. 3 is a pixel arrangement diagram according to the first exemplary embodiment. 画素の駆動回路である。This is a pixel drive circuit. 画素の駆動回路に対応するプロセス図である。It is a process diagram corresponding to the drive circuit of a pixel. 実施例2の断面図である。6 is a cross-sectional view of Example 2. FIG. 画素配置の他の例である。It is another example of pixel arrangement. 画素配置のさらに他の例である。It is a further another example of pixel arrangement.

符号の説明Explanation of symbols

1…ガラス基板、 2…下地膜、 3…半導体層、 4…ゲート絶縁膜、 5…ゲート配線、 6…層間絶縁膜、 10…SD配線、 11…パッシベーション膜、 12…平坦化膜、 13…画素電極、 14…透明導電膜、 15…赤色有機EL層、 16…緑色有機EL層、 17…青色有機EL層、 18…コンタクトホール、 19…上部電極、 20…補助電極、 21…有機EL層の重畳部、 50…端子配線。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Glass substrate, 2 ... Base film, 3 ... Semiconductor layer, 4 ... Gate insulating film, 5 ... Gate wiring, 6 ... Interlayer insulating film, 10 ... SD wiring, 11 ... Passivation film, 12 ... Planarization film, 13 ... Pixel electrode, 14 ... Transparent conductive film, 15 ... Red organic EL layer, 16 ... Green organic EL layer, 17 ... Blue organic EL layer, 18 ... Contact hole, 19 ... Upper electrode, 20 ... Auxiliary electrode, 21 ... Organic EL layer 50, terminal wiring.

Claims (18)

基板上に少なくとも第1の色、又は第2の色を発光する有機EL層と各有機EL層に対応するTFTがマトリクス状に形成された有機EL表示装置であって、
前記有機EL層は、樹脂で形成された平坦化膜上に形成された画素電極を覆う下部透明導電膜と透明電極である上部電極の間に挟持され、
前記平坦化膜は、前記TFTと、前記TFTと接続する配線を覆っており、前記画素電極と前記配線は前記平坦化膜に形成されたコンタクトホールを介して接続されており、
前記画素電極の端部にはテーパが形成されており、前記コンタクトホールでは、前記第1の色、および前記第2の色の前記有機EL層が重畳して形成されていることを特徴とする有機EL表示装置。
An organic EL display device in which an organic EL layer emitting at least a first color or a second color and TFTs corresponding to each organic EL layer are formed in a matrix on a substrate,
The organic EL layer is sandwiched between a lower transparent conductive film that covers a pixel electrode formed on a planarizing film made of a resin and an upper electrode that is a transparent electrode,
The planarization film covers the TFT and a wiring connected to the TFT, and the pixel electrode and the wiring are connected via a contact hole formed in the planarization film,
A taper is formed at an end of the pixel electrode, and the organic EL layer of the first color and the second color is formed to overlap in the contact hole. Organic EL display device.
前記テーパは40度以下であることを特徴とする請求項1に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the taper is 40 degrees or less. 前記配線はSD配線であることを特徴とする請求項1に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the wiring is an SD wiring. 基板上に赤色、又は緑色、または青色を発光する有機EL層と各有機EL層に対応するTFTがマトリクス状に形成された有機EL表示装置であって、
前記有機EL層は、樹脂で形成された平坦化膜上に形成された画素電極を覆う下部透明導電膜と透明電極である上部電極の間に挟持され、
前記平坦化膜は、前記TFTと、前記TFTと接続する配線を覆っており、前記画素電極と前記配線は前記平坦化膜に形成されたコンタクトホールを介して接続されており、
前記画素電極の端部には40度以下のテーパが形成されており、前記コンタクトホールでは、前記赤色、あるいは前記緑色、あるいは前記青色の前記有機EL層のうちの複数が重畳して形成されていることを特徴とする有機EL表示装置。
An organic EL display device in which organic EL layers that emit red, green, or blue on a substrate and TFTs corresponding to each organic EL layer are formed in a matrix,
The organic EL layer is sandwiched between a lower transparent conductive film that covers a pixel electrode formed on a planarizing film made of a resin and an upper electrode that is a transparent electrode,
The planarization film covers the TFT and a wiring connected to the TFT, and the pixel electrode and the wiring are connected via a contact hole formed in the planarization film,
A taper of 40 degrees or less is formed at the end of the pixel electrode, and a plurality of the red, green, or blue organic EL layers are overlapped in the contact hole. An organic EL display device comprising:
前記コンタクトホールでは前記赤色、前記緑色、および前記青色の前記有機EL層が全て重畳されていることを特徴とする請求項4に記載の有機EL表示装置。   5. The organic EL display device according to claim 4, wherein the red, green, and blue organic EL layers are all superimposed in the contact hole. 前記コンタクトホールでは前記赤色、前記緑色、および前記青色の前記有機EL層が全て重畳されており、前記青色の前記有機EL層が他の色の前記有機EL層に挟持されていることを特徴とする請求項4に記載の有機EL表示装置。   In the contact hole, the red, green, and blue organic EL layers are all superimposed, and the blue organic EL layer is sandwiched between the organic EL layers of other colors. The organic EL display device according to claim 4. 前記コンタクトホールでは前記赤色、前記緑色、および前記青色の前記有機EL層のうちの2層が重畳されていることを特徴とする請求項4に記載の有機EL表示装置。   5. The organic EL display device according to claim 4, wherein two layers of the red, green, and blue organic EL layers are overlapped in the contact hole. 前記下部透明導電膜はIZOで形成されていることを特徴とする請求項4に記載の有機EL表示装置。   The organic EL display device according to claim 4, wherein the lower transparent conductive film is formed of IZO. 前記下部透明導電膜は抵抗率が1〜10オーム・cmであり、膜厚が20nm以下であり、基板上の全面に形成されていることを特徴とする請求項4に記載の有機EL表示装置。 5. The organic EL display according to claim 4, wherein the lower transparent conductive film has a resistivity of 1 to 10 5 ohm · cm, a film thickness of 20 nm or less, and is formed on the entire surface of the substrate. apparatus. 前記画素電極はAl−Ni合金で形成されていることを特徴とする請求項4に記載の有機EL表示装置。   The organic EL display device according to claim 4, wherein the pixel electrode is made of an Al—Ni alloy. 基板上に少なくとも第1の色、又は第2の色を発光する有機EL層と各有機EL層に対応するTFTがマトリクス状に形成された有機EL表示装置であって、
前記有機EL層は、樹脂で形成された平坦化膜上に形成された画素電極と透明電極である上部電極の間に挟持され、
前記平坦化膜は、前記TFTと、前記TFTと接続する配線を覆っており、前記画素電極と前記配線は前記平坦化膜に形成されたコンタクトホールを介して接続されており、
前記画素電極の端部にはテーパが形成されており、前記コンタクトホールでは、前記第1の色、および前記第2の色の前記有機EL層が重畳して形成されていることを特徴とする有機EL表示装置。
An organic EL display device in which an organic EL layer emitting at least a first color or a second color and TFTs corresponding to each organic EL layer are formed in a matrix on a substrate,
The organic EL layer is sandwiched between a pixel electrode formed on a planarizing film made of resin and an upper electrode which is a transparent electrode,
The planarization film covers the TFT and a wiring connected to the TFT, and the pixel electrode and the wiring are connected via a contact hole formed in the planarization film,
A taper is formed at an end of the pixel electrode, and the organic EL layer of the first color and the second color is formed to overlap in the contact hole. Organic EL display device.
前記テーパは40度以下であることを特徴とする請求項11に記載の表示装置。   The display device according to claim 11, wherein the taper is 40 degrees or less. 前記配線はSD配線であることを特徴とする請求項11に記載の表示装置。   The display device according to claim 11, wherein the wiring is an SD wiring. 基板上に赤色、又は緑色、または青色を発光する有機EL層と各有機EL層に対応するTFTがマトリクス状に形成された有機EL表示装置であって、
前記有機EL層は、樹脂で形成された平坦化膜上に形成された画素電極と透明電極である上部電極の間に挟持され、
前記平坦化膜は、前記TFTと、前記TFTと接続する配線を覆っており、前記画素電極と前記SD配線は前記平坦化膜に形成されたコンタクトホールを介して接続されており、
前記画素電極の端部には40度以下のテーパが形成されており、前記コンタクトホールでは、前記赤色、あるいは前記緑色、あるいは前記青色の前記有機EL層のうちの複数が重畳して形成されていることを特徴とする有機EL表示装置。
An organic EL display device in which organic EL layers that emit red, green, or blue on a substrate and TFTs corresponding to each organic EL layer are formed in a matrix,
The organic EL layer is sandwiched between a pixel electrode formed on a planarizing film made of resin and an upper electrode which is a transparent electrode,
The planarization film covers the TFT and a wiring connected to the TFT, and the pixel electrode and the SD wiring are connected via a contact hole formed in the planarization film,
A taper of 40 degrees or less is formed at the end of the pixel electrode, and the contact hole is formed by overlapping a plurality of the red, green, or blue organic EL layers. An organic EL display device comprising:
前記コンタクトホールでは前記赤色、前記緑色、および前記青色の前記有機EL層が全て重畳されていることを特徴とする請求項14に記載の有機EL表示装置。   15. The organic EL display device according to claim 14, wherein the red, green, and blue organic EL layers are all superimposed in the contact hole. 前記コンタクトホールでは前記赤色、前記緑色、および前記青色の前記有機EL層が全て重畳されており、前記青色の前記有機EL層が他の色の前記有機EL層に挟持されていることを特徴とする請求項14に記載の有機EL表示装置。   In the contact hole, the red, green, and blue organic EL layers are all superimposed, and the blue organic EL layer is sandwiched between the organic EL layers of other colors. The organic EL display device according to claim 14. 前記コンタクトホールでは前記赤色、前記緑色、および前記青色の前記有機EL層のうちの2層が重畳されていることを特徴とする請求項14に記載の有機EL表示装置。   The organic EL display device according to claim 14, wherein two layers of the red, green, and blue organic EL layers are overlapped in the contact hole. 前記画素電極はAl−Nd合金で形成されていることを特徴とする請求項14に記載の有機EL表示装置。   The organic EL display device according to claim 14, wherein the pixel electrode is made of an Al—Nd alloy.
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