JP2009054826A - 基板処理装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】処理液タンクTB内の処理液は、ポンプP2の動作により配管18,19,23を通して簡易式熱交換器S2に導かれる。簡易式熱交換器S2により冷却された処理液は、配管23,25を通して処理液タンクTBに戻される。処理液の温度が予め定められた規定値N1以下になると、処理液タンクTB内の処理液は、ポンプP2の動作により配管18,19,21を通して処理液タンクTBに戻される。配管21は処理液タンクTA内を通過するので、配管21を流れる処理液は、処理液タンクTA内の処理液によって温調される。
【選択図】図2
Description
図1は、本実施の形態に係る基板処理装置の構成を示す平面図である。図1に示すように、基板処理装置100は、互いに隣接するインデクサIDおよび処理部PRを有する。インデクサIDにおいては、処理部PRの一端に隣接するように、水平方向の第1の軸Saに沿って延びる基板搬送路190が形成されている。基板搬送路190の側辺に沿って、キャリア載置部1Sが設けられている。キャリア載置部1Sには、複数の基板Wを収納する4つのキャリア1が載置される。
次に、基板処理装置100の配管系統について説明する。図2は、基板処理装置100の配管系統を示す模式図である。
次に、簡易式熱交換器S2の具体的な構成について説明する。図3は、簡易式熱交換器S2の具体的な構成の一例を示す断面図である。
図4は、基板処理装置100の制御系の構成を示すブロック図である。図4に示すように、貯留量センサSE1a,SE1bは、処理液タンクTA(図2)内における処理液の貯留量が上限値であることを示す検出信号および下限値であることを示す検出信号を制御部4に与える。同様に、貯留量センサSE2a,SE2bは、処理液タンクTB内における処理液の貯留量が上限値であることを示す検出信号および下限値であることを示す検出信号を制御部4に与える。
次に、制御部4による各バルブの切り替え動作について説明する。図5は、制御部4によるバルブ制御処理のフローチャートである。図6〜図9は、処理液の流れを模式的に示す図である。
本実施の形態では、処理液タンクTAの稼動時に処理液タンクTBに処理液が補充され、処理液タンクTBの稼動時に処理液タンクTAに処理液が補充される。それにより、処理液タンクTA,TB内の処理液の補充時にダウンタイムが発生することが防止される。これにより、スループットの低下が防止される。
上記実施の形態では、過酸化水素水、フッ酸、硫酸および純水からなるHSMを処理液として用いるが、HSMに代えて、王水、SPM(硫酸過水)、SCー1(アンモニア過水)またはSC−2(塩酸過水)等を処理液として用いてもよい。
以下、請求項の各構成要素と実施の形態の各要素との対応の例について説明するが、本発明は下記の例に限定されない。
5a〜5h 洗浄処理ユニット
11〜19,21〜25 配管
41,42 排出管
51〜58 供給管
100 基板処理装置
S1 熱交換器
S2 簡易式熱交換器
V11〜V14,V31〜V38 バルブ
Claims (7)
- 所定の温度調整手段によって所定温度に維持されるとともに第1貯留槽に貯留された処理液を用いて基板に処理を行う基板処理装置であって、
前記第1貯留槽とは別に予備の処理液を貯留する第2貯留槽と、
前記第2貯留槽から処理液を導出するための第2貯留槽用導出経路と、
前記第2貯留槽用導出経路の端部に接続され、前記第2貯留槽用導出経路からの処理液を前記第2貯留槽に戻す第2貯留槽用冷却経路と、
前記第2貯留槽用冷却経路の途中部に介装され、前記第2貯留槽用冷却経路を流れる処理液を冷却するための第2貯留槽用冷却手段と、
前記第2貯留槽用導出経路と前記第2貯留槽用冷却経路との接続部に接続され、前記第1貯留槽内を通過するように処理液を導くとともに、前記第1貯留槽内を通過した処理液を第2貯留槽に戻す第2貯留槽用保温経路と、
前記第2貯留槽用導出経路、前記第2貯留槽用冷却経路、および前記第2貯留槽用保温経路の接続部に設けられ、前記第2貯留槽用導出経路を流れる処理液を前記第2貯留槽用冷却経路および前記第2貯留槽用保温経路のいずれか一方に選択的に導く第2貯留槽用切替手段とを備えることを特徴とする基板処理装置。 - 前記第2貯留槽用導出経路または前記第2貯留槽用冷却経路の途中部に介装され、前記第2貯留槽用導出経路または前記第2貯留槽用冷却経路を流れる処理液の温度を計測する温度計測手段と、
前記温度計測手段により計測された処理液の温度に基づいて前記第2貯留槽用切替手段を制御する制御部とをさらに備え、
前記制御部は、前記温度計測手段により計測された処理液の温度が前記所定温度よりも高い場合に、前記第2貯留槽用導出経路を流れる処理液を前記第2貯留槽用冷却経路に導くように前記第2貯留槽用切替手段を制御し、前記温度計測手段により計測された処理液の温度が前記所定温度以下の場合に、前記第2貯留槽用導出経路を流れる処理液を前記第2貯留槽用保温経路に導くように前記第2貯留槽用切替手段を制御することを特徴とする請求項1に記載の基板処理装置。 - 前記第1貯留槽から処理液を導出するための第1貯留槽用導出経路と、
前記第1貯留槽用導出経路の端部に接続され、前記第1貯留槽用導出経路からの処理液を前記第1貯留槽に戻す第1貯留槽用冷却経路と、
前記第1貯留槽用冷却経路の途中部に介装され、前記第1貯留槽用冷却経路を流れる処理液を冷却するための第1貯留槽用冷却手段と、
前記第1貯留槽用導出経路と前記第1貯留槽用冷却経路との接続部に接続され、前記第2貯留槽内を通過するように処理液を導くとともに、前記第2貯留槽内を通過した処理液を前記第1貯留槽に戻す第1貯留槽用保温経路と、
前記第1貯留槽用導出経路、前記第1貯留槽用冷却経路、および前記第1貯留槽用保温経路の接続部に設けられ、前記第1貯留槽用導出経路を流れる処理液を前記第1貯留槽用冷却経路および前記第1貯留槽用保温経路のいずれか一方に選択的に導く第1貯留槽用切替手段と、
前記第1貯留槽に貯留された処理液が前記温度調整手段によって所定の温度に維持されるとともに基板に処理に用いられる第1の状態と、前記第2貯留槽に貯留された処理液が前記温度調整手段によって所定の温度に維持されるとともに基板に処理に用いられる第2の状態とを切り替える制御部とをさらに備えることを特徴とする請求項1記載の基板処理装置。 - 前記第2貯留槽用導出経路および前記第2貯留槽用冷却経路のうち少なくとも前記第2貯留槽用冷却経路の一部と前記第1貯留槽用導出経路および前記第1貯留槽用冷却経路のうち少なくとも前記第1貯留槽用冷却経路の一部とは共通経路により構成され、
前記第2貯留槽用冷却手段および前記第1貯留槽用冷却手段は、前記共通経路の途中部に介装された共通の冷却手段により構成され、
前記共通経路の途中部に介装され、前記共通経路を流れる処理液の温度を計測する温度計測手段をさらに備え、
前記制御部は、
前記第1の状態において、前記温度計測手段により計測された処理液の温度が前記所定温度よりも高い場合に、前記第2貯留槽用導出経路を流れる処理液を前記第2貯留槽用冷却経路に導くように前記第2貯留槽用切替手段を制御し、前記温度計測手段により計測された処理液の温度が前記所定温度以下の場合に、前記第2貯留槽用導出経路を流れる処理液を前記第2貯留槽用保温経路に導くように前記第2貯留槽用切替手段を制御し、
前記第2の状態において、前記温度計測手段により計測された処理液の温度が前記所定温度よりも高い場合に、前記第1貯留槽用導出経路を流れる処理液を前記第1貯留槽用冷却経路に導くように前記第1貯留槽用切替手段を制御し、前記温度計測手段により計測された処理液の温度が前記所定温度以下の場合に、前記第1貯留槽用導出経路を流れる処理液を前記第1貯留槽用保温経路に導くように前記第1貯留槽用切替手段を制御することを特徴とする請求項3記載の基板処理装置。 - 前記第1貯留槽に貯留された処理液を基板に導く第1貯留槽用処理経路と、
前記第1貯留槽に貯留された処理液を前記第1貯留槽用導出経路および前記第1貯留槽用処理経路の一方に選択的に導く第1貯留槽用処理切替手段と、
前記第2貯留槽に貯留された処理液を基板に導く第2貯留槽用処理経路と、
前記第2貯留槽に貯留された処理液を前記第2貯留槽用導出経路および前記第2貯留槽用処理経路の一方に選択的に導く第2貯留槽用処理切替手段とをさらに備え、
前記制御部は、前記第1貯留槽用処理切替手段および前記第2貯留槽用処理切替手段を制御することによって前記第1の状態と前記第2の状態とを切り替えることを特徴とする請求項4記載の基板処理装置。 - 第1貯留槽における処理液の貯留量が第1の値以下になったことを検出する第1貯留槽用検出手段と、
第2貯留槽における処理液の貯留量が第2の値以下になったことを検出する第2貯留槽用検出手段とをさらに備え、
前記制御部は、前記第1貯留槽用検出手段の検出に応答して前記第1の状態を前記第2の状態に切り替え、前記第2貯留槽用検出手段の検出に応答して前記第2の状態を前記第1の状態に切り替えるように、前記第1貯留槽用処理切替手段および前記第2貯留槽用処理切替手段を制御することを特徴とする請求項5記載の基板処理装置。 - 前記第1貯留槽用検出手段の検出に応答して前記第1貯留槽内の処理液を排出する第1貯留槽用排出手段と、
前記第1貯留槽内の処理液の排出後に前記第1貯留槽に処理液を供給する第1貯留槽用供給手段と、
前記第2貯留量検出手段の検出に応答して前記第2貯留槽内の処理液を排出する第2貯留槽用排出手段と、
前記第2貯留槽内の処理液の排出後に前記第2貯留槽に処理液を供給する第2貯留槽用供給手段とをさらに備えたことを特徴する請求項6記載の基板処理装置。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1050654A (ja) * | 1996-08-01 | 1998-02-20 | Nec Corp | ウェーハ処理装置 |
JP2002075946A (ja) * | 2000-08-30 | 2002-03-15 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
JP2002210422A (ja) * | 2001-01-16 | 2002-07-30 | Sony Corp | 被処理基板の洗浄処理装置と洗浄方法 |
JP2002367944A (ja) * | 2001-06-04 | 2002-12-20 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
JP2005256096A (ja) * | 2004-03-12 | 2005-09-22 | Citizen Watch Co Ltd | 電着液の温度管理装置及びその方法 |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1050654A (ja) * | 1996-08-01 | 1998-02-20 | Nec Corp | ウェーハ処理装置 |
JP2002075946A (ja) * | 2000-08-30 | 2002-03-15 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
JP2002210422A (ja) * | 2001-01-16 | 2002-07-30 | Sony Corp | 被処理基板の洗浄処理装置と洗浄方法 |
JP2002367944A (ja) * | 2001-06-04 | 2002-12-20 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
JP2005256096A (ja) * | 2004-03-12 | 2005-09-22 | Citizen Watch Co Ltd | 電着液の温度管理装置及びその方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110114858A (zh) * | 2017-01-31 | 2019-08-09 | 株式会社斯库林集团 | 处理液供给装置、基板处理装置以及处理液供给方法 |
CN110114858B (zh) * | 2017-01-31 | 2023-08-08 | 株式会社斯库林集团 | 处理液供给装置、基板处理装置以及处理液供给方法 |
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