JP2009036582A - 平面表示パネルの検査方法、検査装置及び検査プログラム - Google Patents
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Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009239596A (ja) * | 2008-03-27 | 2009-10-15 | Seiko Epson Corp | クロストーク測定方法、画像処理装置及びクロストーク測定システム |
| WO2013118304A1 (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-15 | シャープ株式会社 | 検査装置、検査方法、および記録媒体 |
| KR20140062993A (ko) * | 2012-11-15 | 2014-05-27 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치의 얼룩 검출 장치 및 방법 |
| DE102013011359A1 (de) * | 2013-07-08 | 2015-01-08 | Display-Messtechnik & Systeme GmbH & Co. KG | Messgerät für Bildstörungen an Bildschirmen |
| JP2018124639A (ja) * | 2017-01-30 | 2018-08-09 | 日本電気株式会社 | データ分析システム、データ分析方法およびプログラム |
| CN112394069A (zh) * | 2020-12-04 | 2021-02-23 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 显示面板的异常检测方法及装置 |
| JP2021173545A (ja) * | 2020-04-20 | 2021-11-01 | 大日本印刷株式会社 | 光学測定装置および光学測定方法 |
Citations (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05273139A (ja) * | 1991-09-10 | 1993-10-22 | Photon Dynamics Inc | 液晶ディスプレイ基板の検査方法 |
| JPH06161378A (ja) * | 1992-11-26 | 1994-06-07 | Sharp Corp | 液晶表示装置検査装置 |
| JPH10509531A (ja) * | 1995-06-13 | 1998-09-14 | フォトン・ダイナミクス・インコーポレーテッド | Mura検出装置および方法 |
| JPH11224892A (ja) * | 1998-02-05 | 1999-08-17 | Nippon Inter Connection Systems Kk | テープキャリアの欠陥検出装置および欠陥検出方法 |
| JPH11233021A (ja) * | 1998-02-10 | 1999-08-27 | Dainippon Printing Co Ltd | プラズマディスプレイパネル用基板の検査、修正方法 |
| JP2000180375A (ja) * | 1998-12-16 | 2000-06-30 | Advantest Corp | フラットパネル表示器検査方法及び装置 |
| JP2002257679A (ja) * | 2001-02-23 | 2002-09-11 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 輝度情報取得方法、画質評価方法、表示装置の輝度情報取得装置および表示装置の画質評価装置 |
| JP2003066398A (ja) * | 2001-08-27 | 2003-03-05 | Japan Science & Technology Corp | 液晶ディスプレイパネルムラの分類処理方法、その装置及びプログラム |
| JP3386818B2 (ja) * | 1997-04-07 | 2003-03-17 | フォートン ダイナミクス,インコーポレイテッド | ムラ欠陥検出方法および検出装置 |
| JP2005043174A (ja) * | 2003-07-28 | 2005-02-17 | Nidec Tosok Corp | 色むら検査装置 |
| JP2008064629A (ja) * | 2006-09-07 | 2008-03-21 | Toshiba Corp | ムラ検査方法、表示パネルの製造方法及びムラ検査装置 |
-
2007
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Patent Citations (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05273139A (ja) * | 1991-09-10 | 1993-10-22 | Photon Dynamics Inc | 液晶ディスプレイ基板の検査方法 |
| JPH06161378A (ja) * | 1992-11-26 | 1994-06-07 | Sharp Corp | 液晶表示装置検査装置 |
| JPH10509531A (ja) * | 1995-06-13 | 1998-09-14 | フォトン・ダイナミクス・インコーポレーテッド | Mura検出装置および方法 |
| JP3386818B2 (ja) * | 1997-04-07 | 2003-03-17 | フォートン ダイナミクス,インコーポレイテッド | ムラ欠陥検出方法および検出装置 |
| JPH11224892A (ja) * | 1998-02-05 | 1999-08-17 | Nippon Inter Connection Systems Kk | テープキャリアの欠陥検出装置および欠陥検出方法 |
| JPH11233021A (ja) * | 1998-02-10 | 1999-08-27 | Dainippon Printing Co Ltd | プラズマディスプレイパネル用基板の検査、修正方法 |
| JP2000180375A (ja) * | 1998-12-16 | 2000-06-30 | Advantest Corp | フラットパネル表示器検査方法及び装置 |
| JP2002257679A (ja) * | 2001-02-23 | 2002-09-11 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 輝度情報取得方法、画質評価方法、表示装置の輝度情報取得装置および表示装置の画質評価装置 |
| JP2003066398A (ja) * | 2001-08-27 | 2003-03-05 | Japan Science & Technology Corp | 液晶ディスプレイパネルムラの分類処理方法、その装置及びプログラム |
| JP2005043174A (ja) * | 2003-07-28 | 2005-02-17 | Nidec Tosok Corp | 色むら検査装置 |
| JP2008064629A (ja) * | 2006-09-07 | 2008-03-21 | Toshiba Corp | ムラ検査方法、表示パネルの製造方法及びムラ検査装置 |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009239596A (ja) * | 2008-03-27 | 2009-10-15 | Seiko Epson Corp | クロストーク測定方法、画像処理装置及びクロストーク測定システム |
| WO2013118304A1 (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-15 | シャープ株式会社 | 検査装置、検査方法、および記録媒体 |
| KR20140062993A (ko) * | 2012-11-15 | 2014-05-27 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치의 얼룩 검출 장치 및 방법 |
| KR101977647B1 (ko) * | 2012-11-15 | 2019-05-14 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치의 얼룩 검출 장치 및 방법 |
| DE102013011359A1 (de) * | 2013-07-08 | 2015-01-08 | Display-Messtechnik & Systeme GmbH & Co. KG | Messgerät für Bildstörungen an Bildschirmen |
| DE102013011359B4 (de) * | 2013-07-08 | 2015-06-18 | Display-Messtechnik & Systeme GmbH & Co. KG | Messgerät für Bildstörungen an Bildschirmen |
| JP2018124639A (ja) * | 2017-01-30 | 2018-08-09 | 日本電気株式会社 | データ分析システム、データ分析方法およびプログラム |
| JP2021173545A (ja) * | 2020-04-20 | 2021-11-01 | 大日本印刷株式会社 | 光学測定装置および光学測定方法 |
| JP7413907B2 (ja) | 2020-04-20 | 2024-01-16 | 大日本印刷株式会社 | 光学測定装置および光学測定方法 |
| CN112394069A (zh) * | 2020-12-04 | 2021-02-23 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 显示面板的异常检测方法及装置 |
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