JP2009014980A - 蛍光画像の撮影支援装置 - Google Patents
蛍光画像の撮影支援装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009014980A JP2009014980A JP2007176251A JP2007176251A JP2009014980A JP 2009014980 A JP2009014980 A JP 2009014980A JP 2007176251 A JP2007176251 A JP 2007176251A JP 2007176251 A JP2007176251 A JP 2007176251A JP 2009014980 A JP2009014980 A JP 2009014980A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- time
- fluorescence
- support device
- intensity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Abstract
【課題】
本発明は、励起光のいくつかの強度に対する測定可能時間を短時間で算出し、行いたい測定に最適な励起光の強度を判定する蛍光画像撮影支援装置を提供する。
【解決手段】
励起光のある強度における任意の時刻における蛍光の光強度を測定し、蛍光の減衰曲線を求めることで、蛍光の光強度が検出限界強度Imin以下になるまでの時間、測定可能時間Teを算出する。
【選択図】 図3
本発明は、励起光のいくつかの強度に対する測定可能時間を短時間で算出し、行いたい測定に最適な励起光の強度を判定する蛍光画像撮影支援装置を提供する。
【解決手段】
励起光のある強度における任意の時刻における蛍光の光強度を測定し、蛍光の減衰曲線を求めることで、蛍光の光強度が検出限界強度Imin以下になるまでの時間、測定可能時間Teを算出する。
【選択図】 図3
Description
本発明は、励起光によって励起される蛍光物質からの蛍光を検出し、蛍光画像の撮影を行う撮影装置を支援する蛍光画像撮影のための支援装置に関するものである。
蛍光物質を導入した細胞に、励起光を照射し放射された蛍光を利用して、細胞の動態を解析する実験が広く行われている。細胞に励起光を照射し、蛍光物質を観察する場合、試料からの微弱な蛍光を検出することが必要である。また、励起光により蛍光物質が劣化し、時間経過とともに蛍光の光強度が弱くなることから、シグナル/ノイズ比がよく観察するには、できるだけ試料に強い励起光を照射する必要がある。
しかし、強度が強い励起光を試料に照射すると、試料からの蛍光の光強度が検出系の検出限界強度(検出系がノイズの影響がなく検出することができる最低強度)を下回る時間になるのが早まることが起きる。例えば、タイムラプス蛍光画像撮影などの測定時間が長時間要する測定は行うことができない。そのため、測定を行う際、予め、励起光のいくつかの強度と、蛍光の光強度が検出系の検出限界強度を下回るまでの時間(測定が可能な時間)の関係を求めておき、励起光のどの強度が、行おうとしている測定に適しているのかを明らかにしておくことが重要である。
特許文献1には、試料に照射する励起光を発する励起光源と、励起光源が照射する励起光の照射時間を計時する計時部と、計時部で計時された計時時間が、所定の基準値を超えたかどうかを判定するための判定部と、判定部に制御されて、励起光源から試料に照射される励起光を遮断するなどの警告動作を行う警告部とを備える蛍光顕微鏡が開示されている。
特許文献1においては、計時部で計時された照射時間の連続照射時間や累積照射時間が所定の基準値を超えた場合、警告動作を行っている。このときの基準値は、蛍光色素の強度やpH濃度等の観察条件に依存することから、予め観察条件を指定し、指定された条件にしたがって、基準値を設定している。
しかし、蛍光の光強度は微弱であるため、光学配置(特にレンズ系)の微差の変位、励起光の僅かな強度変化、などの僅かな条件変化においても、試料からの蛍光の光強度は敏感に応答する。そのため、測定が可能な時間は、予め指定された観察条件から、おおよその時間を予測し、基準値などを設定することができるが、試料からの蛍光の光強度は必ずしも基準値通りと言う訳には行かない場合が考えられる。つまり、今から行おうとしている測定に適している、励起光の強度およびその強度での測定可能時間を求めるためには、実際に、いくつかの励起光強度と、その励起光強度での測定可能時間を求める測定を行い、励起光のどの強度が適しているのかを選択する必要がある。
しかし、励起光のある強度において、実際に蛍光の光強度が検出系の検出限界強度を下回るまでの時間(測定可能時間)を求めるために、予め、蛍光の光強度が検出限界以下になるまで測定を行うのでは、時間がかかってしまう。
本発明は、励起光のいくつかの強度に対する測定可能時間を短時間で算出し、行いたい測定に最適な励起光の強度を判定する蛍光画像の撮影支援装置を提供することを目的とする。
本発明は、試料中の蛍光物質に励起光を照射し、試料の蛍光画像を取得して測定を行う蛍光測定装置に接続され、当該蛍光測定装置を用いて行われる前記試料の撮影の準備を支援する蛍光画像の撮影支援装置であって、
前記蛍光測定装置の本測定に必要な撮影パラメータの入力を受付ける第1の入力受付手段と、
前記蛍光測定装置のプレ測定に必要なプレ測定パラメータの入力を受付ける第2の入力受付手段と、
前記第1の入力受付手段から受付けた前記撮影パラメータに基づいて、前記蛍光画像の測定に必要な測定時間を算出する第1算出手段と、
前記第2の入力受付手段で受け付けた前記プレ測定パラメータに基づいて前記プレ測定を実行するプレ測定実行手段と、
前記プレ測定実行手段で実行された前記試料の蛍光の光強度と、前記プレ測定パラメータとを用いて、前記蛍光測定装置が蛍光画像を取得し、測定可能な時間を算出する第2算出手段と、
前記第1算出手段が算出した測定必要時間と、前記第2算出手段が算出した測定可能時間と、を比較し、測定の可否を判定する撮影許可決定手段と、を有することを特徴とする。
前記蛍光測定装置の本測定に必要な撮影パラメータの入力を受付ける第1の入力受付手段と、
前記蛍光測定装置のプレ測定に必要なプレ測定パラメータの入力を受付ける第2の入力受付手段と、
前記第1の入力受付手段から受付けた前記撮影パラメータに基づいて、前記蛍光画像の測定に必要な測定時間を算出する第1算出手段と、
前記第2の入力受付手段で受け付けた前記プレ測定パラメータに基づいて前記プレ測定を実行するプレ測定実行手段と、
前記プレ測定実行手段で実行された前記試料の蛍光の光強度と、前記プレ測定パラメータとを用いて、前記蛍光測定装置が蛍光画像を取得し、測定可能な時間を算出する第2算出手段と、
前記第1算出手段が算出した測定必要時間と、前記第2算出手段が算出した測定可能時間と、を比較し、測定の可否を判定する撮影許可決定手段と、を有することを特徴とする。
本発明によれば、励起光のいくつかの強度に対する測定可能時間を短時間で算出することができ、行いたい測定に最適な励起光の強度を判定することができる。
以下、実施形態について、図面を参照に説明する。ただし、各図面が示す部材の大きさや位置関係は、説明を明確にするために変形している。
(原理について)
本発明では、任意の時刻(例えば、T1、T2、T3)における蛍光の光強度(例えば、I1、I2、I3)を測定し、蛍光の減衰曲線を求めることで、蛍光の光強度が検出限界強度Imin以下になるまでの時間(測定可能時間Ta)を算出している。
(原理について)
本発明では、任意の時刻(例えば、T1、T2、T3)における蛍光の光強度(例えば、I1、I2、I3)を測定し、蛍光の減衰曲線を求めることで、蛍光の光強度が検出限界強度Imin以下になるまでの時間(測定可能時間Ta)を算出している。
まず、図1を用いて、測定可能時間Taの算出原理を説明する。図1は励起光の強度がSおよびUの場合(S>U)の蛍光の光強度Iと時間Tの関係を示す図である。ここで、(a)が励起光の強度がSの場合を示し、(b)が励起光の強度がUの場合を示す。図1の横軸は時間T、縦軸は蛍光の光強度Iを示す。ただし、この蛍光の光強度Iは、画像の輝度の平均値を示す。
図1(a)のI1、I2、I3は、励起光の強度がSの場合の、時刻T1、T2、T3における蛍光の光強度を示している。
Andrew J.Berglund:Jounal of Chemical Physics,Vol.121(7)(2004) p.2899−2903.によると、蛍光の光強度の減衰特性は、指数関数の式または指数関数の重ね合わせた式で表せる、つまり、以下の(1)式で表せる。
I=A+B×exp(−C×T)・・・(2)
(2)式の中のA、B、Cは定数である。この定数A、B、Cは、時刻T1、T2、T3における蛍光の光強度I1、I2、I3を(2)式に代入することで求まり、励起光の強度がSの場合の蛍光の減衰曲線Lsを導出することができる。
(2)式の中のA、B、Cは定数である。この定数A、B、Cは、時刻T1、T2、T3における蛍光の光強度I1、I2、I3を(2)式に代入することで求まり、励起光の強度がSの場合の蛍光の減衰曲線Lsを導出することができる。
なお、(1)式おいて、5つの場合を含んだ場合の式は、
I=A+B×exp(−CT)+D×exp(−ET)・・・(3)
のようになる。よって、減衰曲線の(1)式の定数の数は、3、5、7、・・・、nの3以上の奇数である。
I=A+B×exp(−CT)+D×exp(−ET)・・・(3)
のようになる。よって、減衰曲線の(1)式の定数の数は、3、5、7、・・・、nの3以上の奇数である。
次に、この蛍光の減衰曲線Lsと、以下の式の交点Aを求める。
I=Imin・・・(4)
Iminは検出限界強度である。(4)式は、図1の強度閾値直線L0に相当する。
蛍光の減衰曲線Lsと、強度閾値直線L0と、の交点Aは、(4)の式を(2)の式に代入することで求まり、交点Aにおける時間座標値が、測定可能時間Taである。
Iminは検出限界強度である。(4)式は、図1の強度閾値直線L0に相当する。
蛍光の減衰曲線Lsと、強度閾値直線L0と、の交点Aは、(4)の式を(2)の式に代入することで求まり、交点Aにおける時間座標値が、測定可能時間Taである。
ここで、後述する画像撮影パラメータから算出された測定で必要な時間を、測定必要時間Teとすると、Te<Taの場合、時刻Teでの蛍光の光強度Ieは、Iminより強いため、測定が十分可能と考えることができる。
一方、Te>Taの場合、時間Teでの蛍光の光強度Ieは、Iminより弱くなる。この励起光の強度がSの場合では、測定できないと考えることができる。
そのような条件の場合には、まず、例えば励起光の強度をU(U<S)に変え、励起光の強度を弱くする(図1(b))。
次に、改めて時刻T4、T5、T6における蛍光の光強度I4、I5、I6を測定し、(2)式より、励起光の強度がUの場合の蛍光の減衰曲線LUを導出する。そして、強度閾値直線L0との交点Aを求め、改めて測定可能時間Taを算出する。
測定可能時間Taの算出は、励起光の強度が強い場合から始め、Te<Taの条件を満たすまで続ける。そのため、タイムラプス蛍光画像撮影のような、できるだけ強い光強度で長い時間測定を行いたい場合、最適な励起光の強度で測定を行うことができる。
(蛍光画像の撮影支援装置について)
図2に、第一実施形態に係る蛍光画像の撮影支援装置のブロック図を示す。
図2に示す蛍光画像の撮影支援装置10は、蛍光顕微鏡100と、情報処理装置200と、表示装置300Aと、入力装置300Bと、を備える。
(蛍光画像の撮影支援装置について)
図2に、第一実施形態に係る蛍光画像の撮影支援装置のブロック図を示す。
図2に示す蛍光画像の撮影支援装置10は、蛍光顕微鏡100と、情報処理装置200と、表示装置300Aと、入力装置300Bと、を備える。
蛍光顕微鏡100は、励起光源110と、光学系130と、フィルタホルダー120と、検出系140と、フィルタ制御部150と、インタフェースI/F部160と、を備える。
励起光源110としては、ランプ光やレーザ光などが用いられ、試料中の蛍光物質を励起する励起光を出力する。励起光源110から出力された励起光は、フィルタホルダー120と、レンズなどで構成される光学系130を介して、試料S(図示しない)に照射される。試料中の蛍光物質は、励起光によって励起され、蛍光を発する。試料Sからの蛍光は、CCDカメラなどで構成される検出系140で、蛍光の光強度を2次元画像として検出される。検出系140で検出した画像は、インタフェースI/F部160を介して、情報処理装置200に送られる。
フィルタホルダー120には、様々な減衰率をもつ減衰フィルタ121が納められている。フィルタ制御部150から供給される制御信号に応じて、選択された減衰フィルタ121が光路中に配置され、励起光源110からの励起光を減衰する。
フィルタ制御部150は、後述する情報処理装置200からインタフェースI/F部160を介してフィルタ制御信号を受け取り、その信号に基づいて、フィルタホルダー120に制御信号を送信する。
図3に情報処理装置200の機能構成図を示す。情報処理装置200は、インタフェースI/F部210と、制御部220と、を備えている。
インタフェースI/F部210は、蛍光顕微鏡装置100および表示装置300Aと、入力装置300Bと、の信号の入出力を制御する。
制御部220は、入力受付部221と、顕微鏡制御部222と、測定必要時間Te算出部223と、測定可能時間Ta算出部224と、撮影許可決定部225と、フィルタ選択受付部226と、を有する。
入力受付部221は、第1入力受付部221Aと、第2入力受付部と、を有する。
第1入力受付部221Aは、蛍光画像撮影に必要なパラメータの入力を受け付けるために、表示装置300Aに画像撮影パラメータの設定画面400を表示し、入力装置300Bを介して入力を受け付ける。図4に画像撮影パラメータの設定画面400の一例を示す。画像撮影パラメータの設定画面400は、測定試料の数の入力領域410と、1試料中の撮影回数の入力領域420と、撮影1回当たりの測定時間の入力領域430と、測定必要時間Teの算出結果を表示する表示領域440と、を有する。第1入力受付部221Aは、画像撮影パラメータの設定画面400に対応して、画像撮影パラメータとして、測定試料の数と、1試料中の撮影回数と、撮影1回当たりの測定時間と、の入力を入力装置300Bを介して受け付ける。
また、第2入力受付部221Bは、後述するプレ測定に必要なプレ測定パラメータの入力を受け付けるために、表示装置300Aにプレ測定パラメータの設定画面500(図5)を表示し、入力装置300Bを介して入力を受け付ける。
測定必要時間Te算出部223は、画像撮影パラメータの設定画面400に対応して受け付けた画像撮影パラメータに基づいて、測定必要時間Teを算出する。例えば、測定試料の数が5個、1試料中の撮影回数が10回、撮影1回当たりの測定時間が10分の場合、測定必要時間Teは(5個×10回×10分=500分)となる。測定必要時間Te算出部223は、測定必要時間Teを算出後、算出結果を画像撮影パラメータの設定画面400中の測定必要時間Teの算出結果を表示する表示領域440に表示し(図4)、また、測定必要時間Teの算出結果を撮影許可決定部225において参照可能となる。
測定可能時間Ta算出部224は、励起光のある強度(例えば、励起光の強度がSの場合)で蛍光物質を励起した場合の測定可能時間Taを算出する。測定可能時間Taを導出するためには、上で述べたように、まず、ある時刻T1、T2、T3における蛍光の光強度I1、I2、I3の測定するための、プレ測定を行う。プレ測定を行うためのパラメータは、プレ測定パラメータの設定画面500(図5)を表示装置300Aに表示し、入力装置300Bを介して入力を受け付ける。図5にプレ測定パラメータの設定画面500の一例を示す。プレ測定パラメータの設定画面500は、測定ポイント数の入力領域510と、1ポイント目の測定開始時間の入力領域520と、ポイント間隔時間の入力領域530と、1ポイント当たりの測定時間の入力領域540と、検出限界強度Iminの入力領域550と、を有する。
測定ポイント数の入力領域510には、プレ測定を行うポイント数を入力する。ここで、蛍光の減衰曲線を(2)式と予測する場合には、プレ測定を行うポイント数は3点でよく、3と入力する。蛍光の減衰曲線を3つ以上の定数を含む式、例えば、5つの定数を含む式((3)式)と予測した場合は、プレ測定で必要なポイント数は5点であり、5と入力する。
1ポイント目の測定開始時間の入力領域520に入力する値は、例えば、図1(a)のT1の時刻、または図1(b)のT4の時刻に相当する。
ポイント間隔時間の入力領域530に入力する値は、例えば、図1(a)のT1とT2の時間差に相当する。
1ポイント当たりの測定時間の入力領域540に入力される値は、例えば、図1(a)のT1における測定時間である。
検出限界強度Iminの入力領域550に入力される値は、検出系140がノイズの影響がなく検出することができる最低強度である。検出限界強度Iminの入力領域550への入力は、予め、検出系の検出限界強度Iminがわかっている場合には、固定値にしてもよい。また、測定試料によって、検出限界強度Iminを変更したい場合には、入力を行ってもよい。
測定可能時間Ta算出部224は、プレ測定パラメータの設定画面500に対応して受け付けたプレ測定を行うためのパラメータに基づいて、顕微鏡制御部222に、プレ測定を行う指示を送る。
顕微鏡制御部222は、インタフェースI/F部210、160を介して、蛍光顕微鏡100中の検出系140に測定ポイント数と、1ポイント目の測定開始時間と、ポイント間隔時間と、1ポイント当たりの測定時間と、を含む測定信号を送り、検出系140はプレ測定を行う。また、顕微鏡制御部222は、検出系140で検出した蛍光の光強度信号を受信し、測定可能時間Ta算出部224に送信する。
測定可能時間Ta算出部224は、例えば、プレ測定のポイント数が3点の場合、(2)式から、励起光の強度がSの場合の、蛍光の減衰曲線LSを求める。そして、強度閾値直線L0との交点Aを求め、交点Aにおける時間座標値Taを算出する。測定可能時間算出部225は、測定可能時間Taを算出した後、算出結果を撮影許可決定部225において参照可能とする。
撮影許可決定部225は、測定必要時間Te算出部223が算出した測定必要時間Te算出結果と、測定可能時間Ta算出部224が算出した測定可能時間Ta算出結果と、を比較し、Te>Taの場合と、Te<Taの場合と、に応じて、測定時間算出結果の表示画面600を表示装置300Aに表示させる。
図6に、測定時間算出結果の表示画面600の一例を示す。測定時間算出結果の表示画面600には、撮影開始ボタン610Aと、測定可能時間Ta再算出ボタン610Bと、測定必要時間Te修正ボタン610Cと、測定必要時間Te算出結果表示領域620と、測定可能時間Ta算出結果表示領域630と、測定時間差(Te−Ta)表示領域640と、例えば、励起光の強度がSの場合の蛍光の減衰曲線Lsおよび強度閾値直線L0を含むグラフの表示領域650と、減衰フィルタ選択入力領域660を示す画像が表示される。
ここで、撮影開始ボタン610Aは、撮影開始指示操作を受け付けるための撮影開始指示受付領域を示す。また、測定可能時間Ta再算出ボタン610Bは、測定可能時間再算出指示操作を受け付けるための測定可能時間Ta再算出指示受付領域を示す。そして、測定必要時間Te修正ボタン610Cは、測定必要時間修正指示操作を受け付けるための測定必要時間Te修正指示受付領域を示す。
撮影許可決定部225は、Te<Taと判断した場合には、撮影開始ボタン610Aが選択できる状態である測定時間算出結果の表示画面600Aを表示する(図6)。
一方、Te>Taと判断した場合には、測定可能時間Ta再算出ボタン610Bと、測定必要時間Te修正ボタン610Cと、を選択できる状態である測定時間算出結果の表示画面600Bを表示する(図7)。つまり、撮影開始ボタン610Aを選択できない状態で、表示する。
これにより、撮影開始ボタン610Aが選択できる状態(Te<Taの場合)にあるときには、時刻Teにおける蛍光の光強度Ieが、検出限界強度Iminより大きい状態にあることを簡単に知ることができる。この場合、励起光の強度の変更をすることなく、画像撮影を行うことができる。すぐに画像撮影を行う場合、撮影開始ボタン610Aを選択する操作を、入力装置300Bを介して受け、撮影を開始する。撮影開始ボタン610Aが選択されると、撮影許可決定部225は顕微鏡制御部222に撮影開始信号を送る。顕微鏡制御部222は撮影開始信号を受け、画像撮影パラメータの設定画面400で受け付けた条件で撮影を行うため、検出部140に検出開始を指示する信号を送る。
一方、撮影開始ボタン610Aが選択できない状態(Te>Taの場合)にあるときには、時刻Teにおける蛍光の光強度Ieが、検出限界強度Iminより小さい状態にあることを簡単に知ることができる。この場合、画像撮影を行っている途中から、蛍光の光強度が検出限界強度Iminより下回り、蛍光画像撮影ができなくなる。その場合は、励起光の強度を減衰させて、測定可能時間Taを再算出するか、測定必要時間Teを修正するか、のどちらかを行う必要がある。
測定時間差(Te−Ta)表示領域640から、測定時間差(Te−Ta)を知ることができる。それにより、測定時間差(Te−Ta)が、ごく僅かなとき(例えば1分)には、測定必要時間Te、つまり画像撮影パラメータを微修正することで、Te<Taの条件を満たすようにすることができ、撮影が可能となる。その場合、測定必要時間Te修正ボタン610Cを選択する操作を、入力装置300Bを介して受ける。
撮影開始ボタン610Cが選択されると、撮影許可決定部225は、入力受付部221に、画像撮影パラメータの設定画面400を表示装置300Bに表示させるよう指示する。入力受付部221は、画像撮影パラメータの設定画面400を表示装置300Bに表示させ、画像撮影パラメータの修正入力を、入力装置300Bを介して受け付ける。
なお、画像撮影パラメータの設定画面400には、測定必要時間Teの算出結果を表示する表示領域440を有しているため、測定必要時間Teを測定時間差(Te−Ta)分だけ短くしたいとき、測定必要時間Teの調整を行いやすくなっている。
一方、測定時間差(Te−Ta)が、大きいときには、励起光の強度を減衰させて測定可能時間Taの再算出が必要である。その場合、減衰フィルタ選択入力領域660に表示されている減衰フィルタの減衰率を選択する操作を入力装置300Bを介して受け付ける。そして、測定可能時間Ta再算出ボタン610Bを選択する操作を入力装置300Bを介して受け付ける。
測定可能時間Ta再算出ボタン610Bを選択されると、撮影許可決定部225は、減衰フィルタ選択入力領域660で選択されたフィルタ情報(減衰率)をフィルタ選択受付部226において参照可能とする。
フィルタ選択受付部226は、フィルタ情報(減衰率)に基づいた減衰フィルタ121で励起光の強度を減衰させるため、フィルタ制御部150に減衰フィルタを光路中に挿入するよう指示する。
また、Te<Taの場合に撮影許可決定部225によって表示される測定時間算出結果の表示画面600Aにおいて、測定必要時間Te修正ボタン610Cが、選択できるようにしてもよい。Te<Taの場合においても、測定必要時間Te修正ボタン610Cが選択可能であれば、時間差(Te−Ta)が大きいとき、つまり、測定可能時間に余裕があるときは、測定時間を長くする変更を行うこともできる。
以上のように説明した機能構成を備える情報処理装置200は、コンピュータシステムにより構成することができる。例えば、中央処理ユニット(CPU)と、メモリ、インタフェース回路等を有するコンピュータシステムに、ソフトウェアをインストールして、ソフトウェアとハードウェアにより、前述した各機能、入力受付部221と、顕微鏡制御部222と、測定必要時間Te算出部223と、測定可能時間Ta算出部224と、撮影許可決定部225と、フィルタ選択受付部226と、を実現する具体的手段を構築することにより、実現することができる。また、前述した複数の機能のうち全部または一部について、ハードウェアロジック回路により構成することも可能である。
(処理手順)
次に、情報処理装置200が行う処理の手順について、図8と図9を用いて説明する。
(処理手順)
次に、情報処理装置200が行う処理の手順について、図8と図9を用いて説明する。
まず、蛍光画像撮影を行うためのパラメータを受付けるために、第1入力受付部221Aは、画像撮影パラメータの設定画面400を表示装置300Aに表示させる。また、入力装置300Bから入力された画像撮影パラメータを受付ける(S1)。そして、画像撮影パラメータを測定必要時間Te算出部223において参照可能とする。
測定必要時間Te算出部223は、第1入力受付部221Aで受付けた画像撮影パラメータから、測定必要時間Teを算出し(S2)、測定必要時間Teの算出結果を、表示装置300Aに表示する(S3)。また、算出結果を撮影許可決定部225において参照可能とする。
次に、測定可能時間Ta算出部224は、測定可能時間Taを算出する(S4)。測定可能時間Taの算出の手順の詳細を図9に示す。
まず、第2入力受付部221Bは、プレ測定パラメータの設定画面500を、表示装置300Aに表示させ(S41)、入力装置300Bからプレ測定パラメータを受付ける(S42)。そして、プレ測定パラメータを測定可能時間Ta算出部224において参照可能とする。
測定可能時間Ta算出部224は、プレ測定パラメータの設定画面500に対応して受け付けたプレ測定を行うためのパラメータに基づいて、顕微鏡制御部222に、プレ測定を行う指示を送る。顕微鏡制御部222は、インタフェースI/F部210、160を介して、蛍光顕微鏡100中の検出系140に測定ポイント数と、1ポイント目の測定開始時間と、ポイント間隔時間と、1ポイント当たりの測定時間と、を含む測定信号を送り、検出系140はプレ測定を行う。また、顕微鏡制御部222は、検出系140で検出した蛍光の光強度信号を受信し、測定可能時間Ta算出部224に送信する。そして、測定可能時間Ta算出部224は、プレ測定結果を受け取る(S43)。
次に、測定可能時間Ta算出部224は、プレ測定結果から、蛍光減衰曲線Lsを求める(S44)。そして、強度閾値直線L0との交点Aを求め、交点Aにおける時間座標値Taを算出する(S45)。測定可能時間Te算出部224は、測定可能時間Taを算出した後、算出結果を撮影許可決定部225において参照可能とする。
撮影許可決定部225は、測定必要時間Te算出部223が算出した測定必要時間Te算出結果と、測定可能時間Ta算出部224が算出した測定可能時間Ta算出結果と、を比較し(S5)、Te>Taの場合と、Te<Taの場合と、に応じて、測定時間算出結果の表示画面600を表示装置300Aに表示させる(S6)。Te<Taの場合、撮影開始ボタン610Aが選択可能な状態で測定時間算出結果の表示画面600Aが表示され、Te>Taの場合、撮影開始ボタン610Aが選択できない状態で測定時間算出結果の表示画面600Bが表示される。
撮影開始ボタン610Aが選択可能な状態(Te<Taの場合)であり、そのまま画像撮影ボタンを選択する操作を受け付けたとき(S7のYESのとき)、撮影許可決定部225は顕微鏡制御部222に撮影開始を指示する。顕微鏡制御部222は撮影開始指示を受け、画像撮影パラメータの設定画面400で受け付けた条件で撮影を行うため、検出部140に検出開始を指示する信号を送る(S11)。
一方、撮影開始ボタン610Aが選択できない状態で測定時間算出結果の表示画面600Bが表示されている場合(S7のNOのとき)は、S8に進む。
S8において、励起光の強度を減衰させるための減衰フィルタの減衰率を選択する操作と、測定可能時間Ta再算出ボタン610Bを選択する操作とを、入力装置300Bを介して受け付けた場合はS9に進む。一方、S8において、測定必要時間Te修正ボタン610Cを選択する操作を入力装置300Bを介して受け付けた場合には、S10に進む。
S9では、撮影許可決定部225は、選択されたフィルタ情報(減衰率)をフィルタ選択受付部226において参照可能とする。フィルタ選択受付部226はフィルタ制御部150にフィルタ情報を送る。そして、撮影許可決定部225は、第2入力受付部221Bにプレ測定パラメータの設定画面500を表示装置300Aに表示させるよう指示し、S4に戻る。
S10では、撮影許可決定部225は、第1入力受付部221Aに、画像撮影パラメータの設定画面400を表示装置300Aに表示させるよう指示する。第1入力受付部221Aは、画像撮影パラメータの設定画面400を表示装置300Aに表示させ、画像撮影パラメータの修正入力を入力装置300Bを介して受け付ける。そして、撮影許可決定部225は、顕微鏡制御部222に撮影開始信号を送り、顕微鏡制御部222は画像撮影パラメータの設定画面400で対応して修正入力を受け付けた条件で撮影を行うため、検出部140に検出開始を指示する信号を送る(S11)。
以上の手順による支援によって、蛍光測定、例えば、蛍光顕微鏡における画像撮影が円滑に行うことができる。
100:蛍光顕微鏡、110:励起光源、120:フィルタホルダー、130:光学系、
140:検出系、150:フィルタ制御部、160:インタフェースI/F部、200:情報処理装置、210:インタフェースI/F部、220:制御部、221A:第1入力受付部、221B:第2入力受付部、222:顕微鏡制御部、223:測定必要時間Te算出部、224:測定可能時間Ta算出部、225:撮影許可決定部、226:フィルタ選択受付部、300A:表示装置、300B:入力装置、400:画像撮影パラメータの設定画面、500プレ測定パラメータの設定画面、600:測定時間算出結果の表示画面、610A:撮影開始ボタン、610B:測定可能時間Ta再算出ボタン、610C:測定必要時間Te修正ボタン、620:測定必要時間Te算出結果表示領域、630:測定可能時間Ta算出結果表示領域、640:測定時間差(Te−Ta)表示領域、650:グラフ表示領域、660:減衰フィルタ選択入力領域、Te測定必要時間、Ta:測定可能時間、Ls:励起光の強度がSの場合の蛍光の減衰曲線、Imin:検出限界強度、L0:強度閾値直線
140:検出系、150:フィルタ制御部、160:インタフェースI/F部、200:情報処理装置、210:インタフェースI/F部、220:制御部、221A:第1入力受付部、221B:第2入力受付部、222:顕微鏡制御部、223:測定必要時間Te算出部、224:測定可能時間Ta算出部、225:撮影許可決定部、226:フィルタ選択受付部、300A:表示装置、300B:入力装置、400:画像撮影パラメータの設定画面、500プレ測定パラメータの設定画面、600:測定時間算出結果の表示画面、610A:撮影開始ボタン、610B:測定可能時間Ta再算出ボタン、610C:測定必要時間Te修正ボタン、620:測定必要時間Te算出結果表示領域、630:測定可能時間Ta算出結果表示領域、640:測定時間差(Te−Ta)表示領域、650:グラフ表示領域、660:減衰フィルタ選択入力領域、Te測定必要時間、Ta:測定可能時間、Ls:励起光の強度がSの場合の蛍光の減衰曲線、Imin:検出限界強度、L0:強度閾値直線
Claims (9)
- 試料中の蛍光物質に励起光を照射し、試料の蛍光画像を取得して測定を行う蛍光測定装置に接続され、当該蛍光測定装置を用いて行われる前記試料の撮影の準備を支援する蛍光画像の撮影支援装置であって、
前記蛍光測定装置の本測定に必要な撮影パラメータの入力を受付ける第1の入力受付手段と、
前記蛍光測定装置のプレ測定に必要なプレ測定パラメータの入力を受付ける第2の入力受付手段と、
前記第1の入力受付手段から受付けた前記撮影パラメータに基づいて、前記蛍光画像の測定に必要な測定時間を算出する第1算出手段と、
前記第2の入力受付手段で受け付けた前記プレ測定パラメータに基づいて前記プレ測定を実行するプレ測定実行手段と、
前記プレ測定実行手段で実行された前記試料の蛍光の光強度と、前記プレ測定パラメータとを用いて、前記蛍光測定装置が蛍光画像を取得し、測定可能な時間を算出する第2算出手段と、
前記第1算出手段が算出した測定必要時間と、前記第2算出手段が算出した測定可能時間と、を比較し、測定の可否を判定する撮影許可決定手段と、を有することを特徴とする蛍光画像の撮影支援装置。 - 請求項2に記載の蛍光画像の撮影支援装置であって、
前記n点は、3以上の奇数である
ことを特徴とする蛍光画像の撮影支援装置。 - 請求項1〜3のいずれか1項に記載の蛍光画像の撮影支援装置であって、
前記撮影許可決定手段は、表示装置に接続され、算出結果として、測定必要時間と、測定可能時間と、両者の時間差と、を前記表示装置の画面に表示させる
ことを特徴とする蛍光画像の撮影支援装置。 - 請求項4記載の蛍光画像の撮影支援装置であって、
前記撮影許可決定手段は、測定可能時間が測定必要時間より超えるとき、撮影開始指示操作を受け付けるための受付領域を、前記表示装置に表示させる
ことを特徴とする蛍光画像の撮影支援装置。 - 請求項5記載の蛍光画像の撮影支援装置であって、
前記撮影許可決定手段は、測定可能時間が測定必要時間より超えるとき、さらに、測定必要時間の修正指示操作を受け付けるための受付領域を、前記表示装置に表示させる
ことを特徴とする蛍光画像の撮影支援装置。 - 請求項4記載の蛍光画像の撮影支援装置であって、
前記撮影許可決定手段は、測定可能時間が測定必要時間以下とき、測定可能時間の再算出を指示する操作を受け付けるための受付領域を、前記表示装置に表示させる
ことを特徴とする蛍光画像の撮影支援装置。 - 請求項7記載の蛍光画像の撮影支援装置であって、
前記撮影許可決定手段は、測定可能時間が測定必要時間以下のとき、さらに、測定必要時間の修正指示操作を受け付けるための受付領域を、前記表示装置に表示される
ことを特徴とする蛍光画像の撮影支援装置。 - 請求項1〜8のいずれか1項に記載の蛍光画像の撮影支援装置であって、
前記蛍光測定装置は、蛍光顕微鏡である
ことを特徴とする蛍光画像の撮影支援装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007176251A JP2009014980A (ja) | 2007-07-04 | 2007-07-04 | 蛍光画像の撮影支援装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007176251A JP2009014980A (ja) | 2007-07-04 | 2007-07-04 | 蛍光画像の撮影支援装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009014980A true JP2009014980A (ja) | 2009-01-22 |
Family
ID=40355950
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007176251A Pending JP2009014980A (ja) | 2007-07-04 | 2007-07-04 | 蛍光画像の撮影支援装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2009014980A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012078827A (ja) * | 2010-09-30 | 2012-04-19 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | 顕微鏡システム、顕微鏡法、及び記憶媒体 |
EP4092466A1 (en) * | 2021-05-21 | 2022-11-23 | Leica Microsystems CMS GmbH | Method for obtaining an operating value of an illumination parameter for examining a fluorescent sample, method for examining a fluorescent sample, microscope system and computer program |
-
2007
- 2007-07-04 JP JP2007176251A patent/JP2009014980A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012078827A (ja) * | 2010-09-30 | 2012-04-19 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | 顕微鏡システム、顕微鏡法、及び記憶媒体 |
EP4092466A1 (en) * | 2021-05-21 | 2022-11-23 | Leica Microsystems CMS GmbH | Method for obtaining an operating value of an illumination parameter for examining a fluorescent sample, method for examining a fluorescent sample, microscope system and computer program |
WO2022243562A1 (en) * | 2021-05-21 | 2022-11-24 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Method for examining a fluorescent sample, microscope system and computer program |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4864519B2 (ja) | 光測定装置、光測定方法、及び光測定プログラム | |
EP3076658A1 (en) | Imaging device and imaging method | |
US20160157736A1 (en) | System and Methods for Assessment of Relative Fluid Flow Using Laser Speckle Imaging | |
JPWO2009104719A1 (ja) | レーザ走査顕微鏡 | |
US9304085B2 (en) | Laser scanning microscope system and method of setting laser-light intensity value | |
US11156820B2 (en) | Method for fluorescence intensity normalization | |
US9029754B2 (en) | Light detection apparatus to include an exposure time period determination unit configured to determine a noise level base on first dark current and second dark current | |
EP3062147B1 (en) | Photographing device and method | |
JP2009014980A (ja) | 蛍光画像の撮影支援装置 | |
JPWO2013084905A1 (ja) | X線分析装置 | |
JP2006275756A (ja) | 電子励起によるx線分析装置 | |
JP2009002795A (ja) | 蛍光x線分析装置 | |
JP4854873B2 (ja) | 顕微鏡制御装置、顕微鏡制御方法、及び顕微鏡制御プログラム | |
JP2003029151A (ja) | 共焦点レーザ走査型顕微鏡装置および制御プログラム | |
EP2988490B1 (en) | Photographing apparatus and method | |
JP5248759B2 (ja) | 粒子線分析装置 | |
JP4065249B2 (ja) | 蛍光寿命測定装置 | |
KR102553072B1 (ko) | 단면 가공 관찰 장치, 단면 가공 관찰 방법 및 프로그램 | |
US20150264242A1 (en) | Imaging system and imaging method | |
JP2004163135A (ja) | X線分析装置 | |
JP2007024801A (ja) | 顕微鏡制御装置及びプログラム | |
US10755398B2 (en) | Image display apparatus, image display method, and image processing method | |
JP2522224B2 (ja) | 蛍光x線分析方法 | |
US20220118272A1 (en) | Treatment support device | |
CN110933827B (zh) | X射线摄影装置及x射线源的消耗度推断方法 |