JP2009003219A - 手ぶれ防止装置、手ぶれ防止方法、及び撮像機器 - Google Patents
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Abstract
【課題】露光の期間での前記手ぶれ量の予測を高精度に行うことができなかった。
【解決手段】撮像のためのシャッターと、半押し後の第1の期間での手ぶれの量である第1の手ぶれ量を検出する第1の手ぶれ検出回路と、全押し後の第2の期間での手ぶれの量である第2の手ぶれ量を検出する第2の手ぶれ検出回路と、前記シャッターの速度を決定すべく、前記第1の手ぶれ量及び前記第2の手ぶれ量に基づき、露光期間での手ぶれの量である第3の手ぶれ量を予測する手ぶれ予測回路と、を含む。
【選択図】図2
【解決手段】撮像のためのシャッターと、半押し後の第1の期間での手ぶれの量である第1の手ぶれ量を検出する第1の手ぶれ検出回路と、全押し後の第2の期間での手ぶれの量である第2の手ぶれ量を検出する第2の手ぶれ検出回路と、前記シャッターの速度を決定すべく、前記第1の手ぶれ量及び前記第2の手ぶれ量に基づき、露光期間での手ぶれの量である第3の手ぶれ量を予測する手ぶれ予測回路と、を含む。
【選択図】図2
Description
本発明は、デジタルカメラ及びカメラ付き携帯電話のような撮像機器を用いて撮像するときに生じる手ぶれの影響を事前に抑制する機能を備える手ぶれ防止装置、当該手ぶれ防止装置に用いられる手ぶれ防止方法、及び前記手ぶれ防止装置を備える撮像機器に関する。
従来の手ぶれ防止装置では、下記の特許文献1及び特許文献2に記載された、当該特許文献1、2の発明が解決しようとする課題「手ぶれの防止」と同様な課題を解決すべく、まず、シャッターを押した後(いわゆる「全押し」の後)の一定期間に、手ぶれ量(正確には、手ぶれの周波数、角速度)を表す手ぶれ量信号から当該手ぶれ量を抽出する。次に、当該抽出された手ぶれ量に基づき、前記全押しに引き続き行う露光の期間における手ぶれ量を予測する。最後に、当該予測された手ぶれ量に対応するように、前記露光の期間の長さ、即ち、前記シャッターの速度(シャッタースピード)を決定する。
しかしながら、上記した従来の手ぶれ防止装置では、前記露光の期間における前記手ぶれ量を、前記全押し後の一定期間に測定された前記手ぶれ量のみに基づき予測していたことから、当該予測を高精度に行うことができないという問題があった。
本発明に係る手ぶれ防止装置及び手ぶれ防止方法は、以下の適用例として実現することが可能となる。
[適用例1]
適用例1の手ぶれ防止装置は、
撮像のためのシャッターと、
半押し後の第1の期間での手ぶれの量である第1の手ぶれ量を検出する第1の手ぶれ検出回路と、
全押し後の第2の期間での手ぶれの量である第2の手ぶれ量を検出する第2の手ぶれ検出回路と、
前記シャッターの速度を決定すべく、前記第1の手ぶれ量及び前記第2の手ぶれ量に基づき、露光期間での手ぶれの量である第3の手ぶれ量を予測する予測回路と、を含む。
適用例1の手ぶれ防止装置は、
撮像のためのシャッターと、
半押し後の第1の期間での手ぶれの量である第1の手ぶれ量を検出する第1の手ぶれ検出回路と、
全押し後の第2の期間での手ぶれの量である第2の手ぶれ量を検出する第2の手ぶれ検出回路と、
前記シャッターの速度を決定すべく、前記第1の手ぶれ量及び前記第2の手ぶれ量に基づき、露光期間での手ぶれの量である第3の手ぶれ量を予測する予測回路と、を含む。
上記の手ぶれ防止装置によれば、予測回路は、第1の手ぶれ検出回路により検出された前記第1の期間での第1の手ぶれ量、及び、前記第2の手ぶれ量検出回路により検出された前記第2の期間での第2の手ぶれ量に基づき、前記露光期間での第3の手ぶれ量を予測することから、全押し後の一定期間での手ぶれ量のみに基づき前記露光期間での手ぶれ量を予測していた従来に比して、前記露光期間での第3の手ぶれ量の予測を精度高く行うことが可能となる。
[適用例2]
適用例2の撮像機器は、
上記記載の手ぶれ防止装置と、
当該手ぶれ防止装置により予測された前記第3の手ぶれ量により規定される前記シャッターの速度により前記撮像を行う撮像装置と、を有する。
適用例2の撮像機器は、
上記記載の手ぶれ防止装置と、
当該手ぶれ防止装置により予測された前記第3の手ぶれ量により規定される前記シャッターの速度により前記撮像を行う撮像装置と、を有する。
[適用例3]
適用例3の手ぶれ防止方法は、
半押し後の第1の期間での手ぶれの量である第1の手ぶれ量を検出する第1の手ぶれ検出工程と、
全押し後の第2の期間での手ぶれの量である第2の手ぶれ量を検出する第2の手ぶれ検出工程と、
前記第1の手ぶれ量及び前記第2の手ぶれ量に基づき、露光期間での手ぶれの量である第3の手ぶれ量を予測する予測工程と、を含む。
適用例3の手ぶれ防止方法は、
半押し後の第1の期間での手ぶれの量である第1の手ぶれ量を検出する第1の手ぶれ検出工程と、
全押し後の第2の期間での手ぶれの量である第2の手ぶれ量を検出する第2の手ぶれ検出工程と、
前記第1の手ぶれ量及び前記第2の手ぶれ量に基づき、露光期間での手ぶれの量である第3の手ぶれ量を予測する予測工程と、を含む。
《実施例》
手ぶれ防止装置の実施例について図面を参照して説明する。
手ぶれ防止装置の実施例について図面を参照して説明する。
〈構成〉
図1は、手ぶれ防止装置を含む撮像機器の実施例の外部構成を示し、また、図2は、実施例の撮像機器の内部構成を示す。
図1は、手ぶれ防止装置を含む撮像機器の実施例の外部構成を示し、また、図2は、実施例の撮像機器の内部構成を示す。
実施例の撮像機器DCは、図1に示されるように、デジタルカメラであり、外部構成として、カメラ本体Bと、ファインダーFと、レンズLと、レリーズRと、シャッターSとを含む。これらのカメラ本体B、ファインダーF、レンズL、レリーズR、及びシャッターSは、それぞれ、従来知られたと同様な構造及び機能を有し、例えば、レリーズRは、いわゆる「半押し」の機能を備え、また、シャッターSは、いわゆる「全押し」の機能を備える。
実施例の撮像機器DCは、また、図2に示されるように、内部構成として、撮影のときに生じる手ぶれ量tb(手ぶれ量tb1(1)、tb1(2)、...、tb3(1)、tb3(2)、...(図5に図示。))が当該撮影した画像に悪影響を及ぼすことを低減すべく、手ぶれ防止装置1と、前記撮影を行う撮像装置2とを含み、さらに、手ぶれ防止装置1は、制御回路10と、記憶回路20と、第1の手ぶれ検出回路30と、第1のサンプリング回路40と、第1の代表値算出回路50と、第2の手ぶれ検出回路60と、第2のサンプリング回路70と、第2の代表値算出回路80と、手ぶれ予測回路90と、を含む。
ここで、「撮像」とは、露光すること、即ち、シャッターSを開閉することにより被写体を撮影するという狭義の意味だけを有するのではなく、被写体をファインダーFでモニターしながらレリーズRを操作(「半押し」)することにより当該被写体のピント合わせを行うことから始まり、シャッターSを操作(「全押し」)することを経て、前記被写体を撮像することに至るまでの広義の意味を有する。
手ぶれ防止装置1では、制御回路10は、例えば、CPUからなり、ROM及びRAM等からなる記憶回路20に記憶されたプログラム(図示せず。)に従って、撮像機器DCの全体的な動作を制御し、また、その全体的な動作を監視する。制御回路10は、更に、後述されるような、手ぶれ予測回路90により予測された露光期間T5(図5に図示。)での手ぶれ量の代表値tb5(typ)(図5に図示。)に基づき、記憶回路20に記憶されているテーブルT(図4に図示。)を参照することにより、露光期間T5でのシャッターSの速度を決定する。
記憶回路20は、上記したような、制御回路10が実行するプログラムを記憶しており、加えて、上記したテーブルTを記憶している。テーブルTは、図4に示されるように、手ぶれ量tb(正確には、露光期間T5における予測された手ぶれ量の代表値tb5(typ))とシャッターSの速度との対応関係を規定しており、例えば、代表値tb5(typ)が「10Hz」であるとき、シャッターSの速度を「SV1」にすべきであり、また、手ぶれ量tbが「15Hz」であるとき、シャッターSの速度を「SV2」にすべきである旨を規定している。
図2に戻り、第1の手ぶれ検出回路30及び第2の手ぶれ検出回路60は、例えば、2軸ジャイロセンサ又は3軸ジャイロセンサである。より具体的には、第1の手ぶれ検出回路30は、図5に示されるように、半押しH後のサンプリング期間T1における、手ぶれ量信号Stbの波形W1を検出し、また、第2の手ぶれ検出回路60は、全押しA後のサンプリング期間T2における、手ぶれ量信号Stbの波形W3を検出する。
第1のサンプリング回路40及び第2のサンプリング回路70は、手ぶれ量信号Stbをサンプリングする。より詳しくは、第1のサンプリング回路40は、サンプリング期間T1における手ぶれ量信号Stb、即ち、波形W1をサンプリングすることにより、手ぶれ量tb1(t)、tb1(2)、...を抽出し、他方で、第2のサンプリング回路70は、サンプリング期間T3における手ぶれ量信号Stb、即ち、W3をサンプリングすることにより、手ぶれ量tb3(1)、tb3(2)、...を抽出する。
第1の代表値算出回路50及び第2の代表値算出回路80は、演算機能を有する。より具体的には、第1の代表値算出回路50は、サンプリング期間T1での手ぶれ量信号Stbの代表値tb1(typ)として、手ぶれ量tb1(1)、tb1(2)、...の平均値、最大値、最小値、最頻値、中央値等を算出する。同様にして、第2の代表値算出回路80は、サンプリング期間T2での手ぶれ量tb3(1)、tb3(2)、...の代表値tb3(typ)として、手ぶれ量tb3(1)、tb3(2)、...の平均値、最大値、最小値、最頻値、中央値等を算出する。
手ぶれ予測回路90は、前記半押しH後のサンプリング期間T1での代表値tb1(typ)と、前記全押しA後のサンプリング期間T3での代表値tb3(typ)とから、露光期間T5での手ぶれ量信号Stb、即ち、波形W5の代表値tb5(typ)を予測する。
撮像装置2は、撮像の機能を有し、具体的には、手ぶれ防止装置1内の制御回路10が決定したシャッターSの速度(例えば、「SV1」、「SV2」(図4に図示。))に従って、被写体を撮影する。
〈動作〉
実施例の撮像機器DCの動作について図3を参照して説明する。
実施例の撮像機器DCの動作について図3を参照して説明する。
ステップS1:ユーザが、被写体を撮影すべく、その準備として、図5に示されるように、レリーズRの操作(半押しH)を行う。
ステップS2:前記半押しHがなされると、第1の手ぶれ検出回路30は、前記半押しHの後のサンプリング期間T1で、手ぶれ量信号Stb、即ち波形W1を検出する。
ステップS3:第1のサンプリング回路40は、前記サンプリング期間T1で、波形W1をサンプリングすることにより、手ぶれ量tb1(1)、tb1(2)、...、tb1(8)を抽出する。
ステップS4:第1の代表値算出回路50は、前記抽出された手ぶれ量tb1(1)、tb1(2)、...、tb1(8)を用いて、波形W1の代表値tb1(typ)を算出し、例えば、代表値tb1(typ)として、手ぶれ量tb1(1)、tb(2)、...、tb1(8)の「平均値」を算出する。
ステップS5:ユーザは、前記半押しHに引き続き、図5に示されるように、シャッターSの操作(全押しA)を行う。
ステップS6:前記全押しAがなされると、第2の手ぶれ検出回路60は、前記全押しAの後のサンプリング期間T3で、手ぶれ量信号Stb、即ち波形W3を検出する。
ステップS7:第2のサンプリング回路70は、前記サンプリング期間T3で、波形W3をサンプリングすることにより、手ぶれ量tb3(1)、tb3(2)、...、tb3(8)を抽出する。
ステップS8:第2の代表値算出回路80は、前記抽出された手ぶれ量tb3(1)、tb3(2)、...、tb3(8)に基づき、波形W3の代表値tb3(typ)を算出し、例えば、代表値tb3(typ)として、手ぶれ量tb3(1)、tb3(2)、...、tb3(8)の「平均値」を算出する。
ステップS9:手ぶれ予測回路90は、前記波形W1の代表値tb1(typ)及び前記波形W3の代表値tb3(typ)に基づき、露光期間T5での手ぶれ量信号Stb、即ち、波形W5の代表値tb5(typ)を予測する。
手ぶれ予測回路90は、例えば、(1)代表値tb1(typ)と、代表値tb3(typ)とが「同一」であるときには、代表値tb5(typ)が、両代表値tb1(typ)及びtb3(typ)と「同一」であろうと予測し、また、(2)代表値tb3(typ)が代表値tb1(typ)より「大きい」ときには、代表値tb5(typ)を代表値tb3(typ)より「大きい」であろうと予測し、さらに、(3)代表値tb3(typ)が代表値tb1(typ)より「小さい」ときには、代表値tb5(typ)を代表値tb3(typ)より「小さい」であろうと予測する。
ステップS10:制御回路10は、前記予測された代表値tb5(typ)に基づき、記憶回路20に記憶されているテーブルTを参照することにより、例えば、代表値tb5(typ)が「20Hz」であるとき、シャッターSの速度を「SV3」に決定する。
ステップS11:撮像装置2は、露光期間T5で、前記決定されたシャッターSの速度に従って露光を行い、これにより、前記被写体の撮影が完了する。
〈効果〉
上述したように、実施例の撮像機器DCでは、手ぶれ予測回路90は、第1の手ぶれ検出回路30、第1のサンプリング回路40、及び第1の代表値算出回路50の協働により得られた、サンプリング期間T1での手ぶれ量信号Stbの波形W1の代表値tb1(typ)と、第2の手ぶれ検出回路60、第2のサンプリング回路70、及び第2の代表値算出回路80の協働により得られた、サンプリング期間T3での手ぶれ量信号Stbの波形W3の代表値tb3(typ)とに基づき、露光期間T5での手ぶれ量信号Stbの波形W5の代表値tb5(typ)を予測する。これにより、全押し後の一定期間のみで得られらた手ぶれ量のみに基づいて露光期間での手ぶれ量を予測していた従来に比して、露光期間T5での手ぶれ量、即ち、代表値tb5(typ)の予測を精度高く行うことができ、これにより、露光期間T5でのシャッターSの速度をより従来よりも高精度に決定することが可能となる。
上述したように、実施例の撮像機器DCでは、手ぶれ予測回路90は、第1の手ぶれ検出回路30、第1のサンプリング回路40、及び第1の代表値算出回路50の協働により得られた、サンプリング期間T1での手ぶれ量信号Stbの波形W1の代表値tb1(typ)と、第2の手ぶれ検出回路60、第2のサンプリング回路70、及び第2の代表値算出回路80の協働により得られた、サンプリング期間T3での手ぶれ量信号Stbの波形W3の代表値tb3(typ)とに基づき、露光期間T5での手ぶれ量信号Stbの波形W5の代表値tb5(typ)を予測する。これにより、全押し後の一定期間のみで得られらた手ぶれ量のみに基づいて露光期間での手ぶれ量を予測していた従来に比して、露光期間T5での手ぶれ量、即ち、代表値tb5(typ)の予測を精度高く行うことができ、これにより、露光期間T5でのシャッターSの速度をより従来よりも高精度に決定することが可能となる。
DC…撮像機器、1…手ぶれ防止装置、2…撮像装置、10…制御回路、20…記憶回路、30…第1の手ぶれ検出回路、40…第1のサンプリング回路、50…第1の代表値算出回路、60…第2の手ぶれ検出回路、70…第2のサンプリング回路、80…第2の代表値算出回路、90…手ぶれ予測回路、T…テーブル。
Claims (3)
- 撮像のためのシャッターと、
半押し後の第1の期間での手ぶれの量である第1の手ぶれ量を検出する第1の手ぶれ検出回路と、
全押し後の第2の期間での手ぶれの量である第2の手ぶれ量を検出する第2の手ぶれ検出回路と、
前記シャッターの速度を決定すべく、前記第1の手ぶれ量及び前記第2の手ぶれ量に基づき、露光期間での手ぶれの量である第3の手ぶれ量を予測する予測回路と、を含むことを特徴とする手ぶれ防止装置。 - 請求項1記載の手ぶれ防止装置と、
当該手ぶれ防止装置により予測された前記第3の手ぶれ量により規定される前記シャッターの速度により前記撮像を行う撮像装置と、を有することを特徴とする撮像機器。 - 半押し後の第1の期間での手ぶれの量である第1の手ぶれ量を検出する第1の手ぶれ検出工程と、
全押し後の第2の期間での手ぶれの量である第2の手ぶれ量を検出する第2の手ぶれ検出工程と、
前記第1の手ぶれ量及び前記第2の手ぶれ量に基づき、露光期間での手ぶれの量である第3の手ぶれ量を予測する予測工程と、を含むことを特徴とする手ぶれ防止方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007164693A JP2009003219A (ja) | 2007-06-22 | 2007-06-22 | 手ぶれ防止装置、手ぶれ防止方法、及び撮像機器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
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JP2009003219A true JP2009003219A (ja) | 2009-01-08 |
Family
ID=40319664
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2007164693A Withdrawn JP2009003219A (ja) | 2007-06-22 | 2007-06-22 | 手ぶれ防止装置、手ぶれ防止方法、及び撮像機器 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2009003219A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101968596A (zh) * | 2009-07-27 | 2011-02-09 | 松下电器产业株式会社 | 摄像装置 |
-
2007
- 2007-06-22 JP JP2007164693A patent/JP2009003219A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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