JP2008546147A - 質量分析計 - Google Patents
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Abstract
Description
質量分析の方法であって、
1つ以上の第1の電極を備えるイオンガイド又はイオントラップを準備し、前記第1の電極の下流に1つ以上の出口電極を準備するステップと、
動作モードにおいてイオンを前記イオンガイド又はイオントラップ内にトラップするステップと、
複数サイクルの動作を行うステップであって、各サイクルの動作は、(i)少なくともいくつかのイオンが第1の期間Teの間に前記イオンガイド又はイオントラップから出射できるようにするステップと、(ii)その後にイオンが第2の期間Tcの間、前記イオンガイド又はイオントラップから出射することを実質的に防止するステップとを含む、ステップと
を含み、
前記方法は、
その後の動作サイクルにおいて前記第1の期間Teの長さ又は幅を変化させるステップ
をさらに含む、方法が提供される。
1つ以上の第1の電極を備えるイオンガイド又はイオントラップと、
前記第1の電極の下流に配置される1つ以上の出口電極と、
動作モードにおいてイオンを前記イオンガイド又はイオントラップ内にトラップし、複数サイクルの動作を行うように構成される制御手段であって、各サイクルの動作において、少なくともいくつかのイオンが第1の期間Teの間に前記イオンガイド又はイオントラップから出射できるようにされ、その後にイオンが第2の期間Tcの間、前記イオンガイド又はイオントラップから出射することが実質的に防止される、制御手段と
を備える装置であって、
前記制御手段は、その後の動作サイクルにおいて前記第1の期間Teの長さ又は幅を変化させるように構成される、
装置が提供される。
イオンを繰り返しパルス化してイオントラップから出射させるか又は前記イオントラップから出射されることを可能とするステップと、
イオンが前記イオントラップから出射する時間ウィンドウの幅を漸次増加させるステップと
を含む、方法が提供される。
Claims (112)
- 質量分析の方法であって、
1つ以上の第1の電極を備えるイオンガイド又はイオントラップを準備し、前記第1の電極の下流に1つ以上の出口電極を準備するステップと、
動作モードにおいてイオンを前記イオンガイド又はイオントラップ内にトラップするステップと、
複数サイクルの動作を行うステップであって、各サイクルの動作は、(i)少なくともいくつかのイオンが第1の期間Teの間に前記イオンガイド又はイオントラップから出射できるようにするステップと、(ii)その後にイオンが第2の期間Tcの間、前記イオンガイド又はイオントラップから出射することを実質的に防止するステップとを含む、ステップと
を含み、
前記方法は、
その後の動作サイクルにおいて前記第1の期間Teの長さ又は幅を変化させるステップ
をさらに含む、方法。 - 前記第1の電極は、使用時にイオンが移送される開口を有する複数の電極を備える、請求項1に記載の方法。
- 前記第1の電極のうちの少なくとも10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%又は100%は、実質的に同じ大きさ又は実質的に同じ面積の開口を有する、請求項2に記載の方法。
- 前記電極のうちの少なくとも10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%又は100%は、前記イオンガイド又はイオントラップの軸に沿った方向に大きさ又は面積が漸次より大きくなるか及び/又はより小さくなる開口を有する、請求項2に記載の方法。
- 前記第1の電極のうちの少なくとも10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%又は100%は、(i)≦1.0mm、(ii)≦2.0mm、(iii)≦3.0mm、(iv)≦4.0mm、(v)≦5.0mm、(vi)≦6.0mm、(vii)≦7.0mm、(viii)≦8.0mm、(ix)≦9.0mm、(x)≦10.0mm及び(xi)>10.0mmからなる群から選択される内径又は寸法の開口を有する、請求項2、3又は4に記載の方法。
- 前記イオンガイド又はイオントラップは、多重極ロッドセットイオンガイド又はイオントラップを備える、請求項1に記載の方法。
- 前記イオンガイド又はイオントラップは、四重極、六重極、八重極又はより高次の多重極ロッドセットを備える、請求項6に記載の方法。
- 前記イオンガイド又はイオントラップは、およそもしくは実質的に円形状の断面、およそもしくは実質的な双曲面、又はアーチ形もしくは一部円形状の断面を有する複数の電極を備える、請求項6又は7に記載の方法。
- 前記イオンガイド又はイオントラップは、x個の軸方向セグメントを備え、xは、(i)1〜10、(ii)11〜20、(iii)21〜30、(iv)31〜40、(v)41〜50、(vi)51〜60、(vii)61〜70、(viii)71〜80、(ix)81〜90、(x)91〜100及び(xi)>100からなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 各軸方向セグメントは、1個、2個、3個、4個、5個、6個、7個、8個、9個、10個、11個、12個、13個、14個、15個、16個、17個、18個、19個、20個又は>20個の電極を備える、請求項9に記載の方法。
- 前記軸方向セグメントのうちの少なくとも10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%又は100%の軸方向長さは、(i)<1mm、(ii)1〜2mm、(iii)2〜3mm、(iv)3〜4mm、(v)4〜5mm、(vi)5〜6mm、(vii)6〜7mm、(viii)7〜8mm、(ix)8〜9mm、(x)9〜10mm及び(xi)>10mmからなる群から選択される、請求項9又は10に記載の方法。
- 前記軸方向セグメントのうちの少なくとも10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%又は100%の間隔は、(i)<1mm、(ii)1〜2mm、(iii)2〜3mm、(iv)3〜4mm、(v)4〜5mm、(vi)5〜6mm、(vii)6〜7mm、(viii)7〜8mm、(ix)8〜9mm、(x)9〜10mm及び(xi)>10mmからなる群から選択される、請求項9、10又は11に記載の方法。
- 前記イオンガイド又はイオントラップは、1個、2個、3個、4個、5個、6個、7個、8個又は9個の電極を備える、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記イオンガイド又はイオントラップは、少なくとも(i)10〜20個の電極、(ii)20〜30個の電極、(iii)30〜40個の電極、(iv)40〜50個の電極、(v)50〜60個の電極、(vi)60〜70個の電極、(vii)70〜80個の電極、(viii)80〜90個の電極、(ix)90〜100個の電極、(x)100〜110個の電極、(xi)110〜120個の電極、(xii)120〜130個の電極、(xiii)130〜140個の電極、(xiv)140〜150個の電極又は(xv)>150個の電極を備える、請求項1〜12のいずれかに記載の方法。
- 前記イオンガイド又はイオントラップは、(i)<20mm、(ii)20〜40mm、(iii)40〜60mm、(iv)60〜80mm、(v)80〜100mm、(vi)100〜120mm、(vii)120〜140mm、(viii)140〜160mm、(ix)160〜180mm、(x)180〜200mm及び(xi)>200mmからなる群から選択される長さを有する、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 第1のAC又はRF電圧を前記第1の電極のうちの少なくとも10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%又は100%に印加するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記第1のAC又はRF電圧は、(i)<50Vピーク・ツー・ピーク、(ii)50〜100Vピーク・ツー・ピーク、(iii)100〜150Vピーク・ツー・ピーク、(iv)150〜200Vピーク・ツー・ピーク、(v)200〜250Vピーク・ツー・ピーク、(vi)250〜300Vピーク・ツー・ピーク、(vii)300〜350Vピーク・ツー・ピーク、(viii)350〜400Vピーク・ツー・ピーク、(ix)400〜450Vピーク・ツー・ピーク、(x)450〜500Vピーク・ツー・ピーク及び(xi)>500Vピーク・ツー・ピークからなる群から選択される振幅を有する、請求項16に記載の方法。
- 前記第1のAC又はRF電圧は、(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz及び(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される周波数を有する、請求項に16又は17に記載の方法。
- 前記複数サイクルの動作を行うステップは、少なくとも2サイクル、5サイクル、10サイクル、20サイクル、30サイクル、40サイクル、50サイクル、60サイクル、70サイクル、80サイクル、90サイクル、100サイクル、110サイクル、120サイクル、130サイクル、140サイクル、150サイクル、160サイクル、170サイクル、180サイクル、190サイクル、200サイクル、250サイクル、300サイクル、350サイクル、400サイクル、450サイクル、500サイクル、600サイクル、700サイクル、800サイクル、900又は1000サイクル、1000〜1500サイクル、1500〜2000サイクル、2000〜2500サイクル、2500〜3000サイクル、3000〜3500サイクル、3500〜4000サイクル、4000〜4500サイクル、4500〜5000サイクル、5000〜5500サイクル、5500〜6000サイクル、6000〜6500サイクル、6500〜7000サイクル、7000〜7500サイクル、7500〜8000サイクル、8000〜8500サイクル、8500〜9000サイクル、9000〜9500サイクル、9500〜10000サイクル、10000〜15000サイクル、15000〜20000サイクル、20000〜25000サイクル、25000〜30000サイクル、30000〜35000サイクル、35000〜40000サイクル、40000〜45000サイクル、45000〜50000サイクル、50000〜55000サイクル、55000〜60000サイクル、60000〜65000サイクル、65000〜70000サイクル、70000〜75000サイクル、75000〜80000サイクル、80000〜85000サイクル、85000〜90000サイクル、90000〜95000サイクル、95000〜100000サイクル又は>100000サイクルの動作を行うステップを含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記複数サイクルの動作を行うステップは、前記複数サイクルの動作の間に、少なくとも2個、5個、10個、20個、30個、40個、50個、60個、70個、80個、90個、100個、110個、120個、130個、140個、150個、160個、170個、180個、190個、200個、250個、300個、350個、400個、450個、500個、600個、700個、800個、900個、1000個、1000〜1500個、1500〜2000個、2000〜2500個、2500〜3000個、3000〜3500個、3500〜4000個、4000〜4500個、4500〜5000個、5000〜5500個、5500〜6000個、6000〜6500個、6500〜7000個、7000〜7500個、7500〜8000個、8000〜8500個、8500〜9000個、9000〜9500個、9500〜10000個、10000〜15000個、15000〜20000個、20000〜25000個、25000〜30000個、30000〜35000個、35000〜40000個、40000〜45000個、45000〜50000個、50000〜55000個、55000〜60000個、60000〜65000個、65000〜70000個、70000〜75000個、75000〜80000個、80000〜85000個、85000〜90000個、90000〜95000個、95000〜100000個又は>100000個の異なる第1の期間Teを設定するステップを含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記第1の期間Teは、前記複数サイクルの動作のうちの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%又は100%において異なるか又は一意の値を有する、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記第1の期間Teは、前記複数サイクルの動作のうちの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%又は100%について少なくともn回目の連続的な動作サイクルごとに変化させられ、nは、(i)1、(ii)2、(iii)3、(iv)4、(v)5、(vi)6、(vii)7、(viii)8、(ix)9、(x)10、(xi)11、(xii)12、(xiii)13、(xiv)14、(xv)15、(xvi)16、(xvii)17、(xviii)18、(xix)19、(xx)20及び(xxi)>20からなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記複数サイクルの動作が行われている間、イオンが前記イオンガイド又はイオントラップに入ることを実質的に防止するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記複数サイクルの動作を行った後、さらなるイオンを前記イオンガイド又はイオントラップに入れるステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記第1の期間Teのうちの少なくともいくつかの間に、前記1つ以上の第1の電極の少なくともいくつかに対して前記1つ以上の出口電極の電位を低減するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記第1の期間Teのうちの少なくともいくつかの間に、前記1つ以上の出口電極に対して前記1つ以上の第1の電極の電位を上昇させるステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記1つ以上の出口電極の電位が周期的に前記第1の電極の平均DC電位よりも下へ降下するように、第2のAC又はRF電圧を前記1つ以上の出口電極に印加するステップさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記第2のAC又はRF電圧は、(i)0〜10kHz、(ii)10〜20kHz、(iii)20〜30kHz、(iv)30〜40kHz、(v)40〜50kHz、(vi)50〜60kHz、(vii)60〜70kHz、(viii)70〜80kHz、(ix)80〜90kHz、(x)90〜100kHz、(xi)100〜110kHz、(xii)110〜120kHz、(xiii)120〜130kHz、(xiv)130〜140kHz、(xv)140〜150kHz、(xvi)150〜160kHz、(xvii)160〜170kHz、(xviii)170〜180kHz、(xix)180〜190kHz、(xx)190〜200kHz、(xxi)200〜250kHz、(xxii)250〜300kHz、(xxiii)300〜350kHz、(xxiv)350〜400kHz、(xxv)400〜450kHz、(xxvi)450〜500kHz及び(xxvii)>500kHzからなる群から選択される周波数を有する、請求項27に記載の方法。
- 前記第2のAC又はRF電圧の振幅は、(i)<1V、(ii)1〜2V、(iii)2〜3V、(iv)3〜4V、(v)4〜5V、(vi)5〜6V、(vii)6〜7V、(viii)7〜8V、(ix)8〜9V、(x)9〜10V、(xi)10〜15V、(xii)15〜20V、(xiii)20〜25V、(xiv)25〜30V、(xv)30〜35V、(xvi)35〜40V、(xvii)40〜45V、(xviii)45〜50V及び(xix)>50Vからなる群から選択される、請求項27又は28に記載の方法。
- 前記その後の動作サイクルにおいて前記第1の期間Teの長さ又は幅を変化させるステップは、前記第2のAC又はRF電圧の周波数を漸次低減させるか、増加させるか、変化させるか又はスキャンするステップを含む、請求項27、28又は29のいずれかに記載の方法。
- 前記その後の動作サイクルにおいて前記第1の期間Teの長さ又は幅を変化させるステップは、前記第2のAC又はRF電圧の振幅を漸次低減させるか、増加させるか、変化させるか又はスキャンするステップを含む、請求項27〜30のいずれかに記載の方法。
- 前記複数サイクルの動作のうちの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%又は100%に対して、前記第1の期間Teは、(i)<0.1μs、(ii)0.1〜0.5μs、(iii)0.5〜1.0μs、(iv)1.0〜1.5μs、(v)1.5〜2.0μs、(vi)2.0〜2.5μs、(vii)2.5〜3.0μs、(viii)3.0〜3.5μs、(ix)3.5〜4.0μs、(x)4.0〜4.5μs、(xi)4.5〜5.0μs、(x)5.0〜5.5μs、(xi)5.5〜6.0μs、(xii)6.0〜6.5μs、(xiii)6.5〜7.0μs、(xiv)7.0〜7.5μs、(xv)7.5〜8.0μs、(xvi)8.0〜8.5μs、(xvii)8.5〜9.0μs、(xviii)9.0〜9.5μs、(xix)9.5〜10.0μs、(xx)10〜20μs、(xxi)20〜30μs、(xxii)30〜40μs、(xxiii)40〜50μs、(xxiv)50〜60μs、(xxv)60〜70μs、(xxvi)70〜80μs、(xxvii)80〜90μs、(xxviii)90〜100μs及び(xxix)>100μsからなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記複数サイクルの動作のうちの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%又は100%に対して、前記第2の期間Tcは、(i)<0.1μs、(ii)0.1〜0.5μs、(iii)0.5〜1.0μs、(iv)1.0〜1.5μs、(v)1.5〜2.0μs、(vi)2.0〜2.5μs、(vii)2.5〜3.0μs、(viii)3.0〜3.5μs、(ix)3.5〜4.0μs、(x)4.0〜4.5μs、(xi)4.5〜5.0μs、(x)5.0〜5.5μs、(xi)5.5〜6.0μs、(xii)6.0〜6.5μs、(xiii)6.5〜7.0μs、(xiv)7.0〜7.5μs、(xv)7.5〜8.0μs、(xvi)8.0〜8.5μs、(xvii)8.5〜9.0μs、(xviii)9.0〜9.5μs、(xix)9.5〜10.0μs、(xx)10〜20μs、(xxi)20〜30μs、(xxii)30〜40μs、(xxiii)40〜50μs、(xxiv)50〜60μs、(xxv)60〜70μs、(xxvi)70〜80μs、(xxvii)80〜90μs、(xxviii)90〜100μs及び(xxix)>100μsからなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記その後の動作サイクルにおいて前記第1の期間Teの長さ又は幅を変化させるステップは、前記第1の期間Teを漸次増加させるか、漸次低減させるか、漸次変化させるか、スキャンするか、直線的に増加させるか、直線的に低減させるか、段階的、漸次もしくは他のやり方で増加させるか又は段階的、漸次もしくは他のやり方で低減させるステップを含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記第1の期間Teは、2回、5回、10回、20回、30回、40回、50回、60回、70回、80回、90回、100回、110回、120回、130回、140回、150回、160回、170回、180回、190回、200回、250回、300回、350回、400回、450回、500回、600回、700回、800回、900回、1000回、1000〜1500回、1500〜2000回、2000〜2500回、2500〜3000回、3000〜3500回、3500〜4000回、4000〜4500回、4500〜5000回、5000〜5500回、5500〜6000回、6000〜6500回、6500〜7000回、7000〜7500回、7500〜8000回、8000〜8500回、8500〜9000回、9000〜9500回、9500〜10000回、10000〜15000回、15000〜20000回、20000〜25000回、25000〜30000回、30000〜35000回、35000〜40000回、40000〜45000回、45000〜50000回、50000〜55000回、55000〜60000回、60000〜65000回、65000〜70000回、70000〜75000回、75000〜80000回、80000〜85000回、85000〜90000回、90000〜95000回、95000〜100000回又は>100000回の連続的な動作サイクルにわたって少なくともy%増加させられるか、変化させられるか又は低減させられ、yは、(i)<0.001、(ii)<0.01、(iii)<0.1、(iv)<1、(v)1〜2、(vi)2〜3、(vii)3〜4、(viii)4〜5、(ix)5〜10、(x)10〜15、(xi)15〜20、(xii)20〜25、(xiii)25〜30、(xiv)30〜35、(xv)35〜40、(xvi)40〜45、(xvii)45〜50、(xviii)50〜55、(xix)55〜60、(xx)60〜65、(xxi)65〜70、(xxii)70〜75、(xxiii)75〜80、(xxiv)80〜85、(xxv)85〜90、(xxvi)90〜95及び(xxvii)95〜100からなる群から選択される、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記1つ以上の出口電極は、使用時にイオンが移送される1つ以上の開口を備える、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記第1の期間Teの間に、前記イオンガイド又はイオントラップ内の少なくともいくつかのイオンは、前記イオンガイド又はイオントラップから自由に出射し、前記1つ以上の出口電極における前記1つ以上の開口を通過する、請求項36に記載の方法。
- 前記第1の期間Teの間に、イオンは、前記イオンガイド又はイオントラップから共鳴によらずに排出される、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記第1の期間Teの間に、少なくともいくつかのイオンは、自らの運動によって前記イオンガイド又はイオントラップから出射する、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 少なくともいくつかのイオンを加速して前記イオンガイド又はイオントラップから出射させるために、前記第1の期間Teの間に、前記イオンガイド又はイオントラップの長さの少なくとも一部に沿って抽出電界を印加するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記第1の電極の上流に1つ以上の入口電極を準備するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 動作モードにおいて、前記イオンガイド又はイオントラップ内にトラップされたイオンが前記1つ以上の入口電極を介して前記イオンガイド又はイオントラップから出射できないような電位に前記1つ以上の入口電極を維持するステップをさらに含む、請求項41に記載の方法。
- 前記第1の電極の上流に1つ以上のゲート電極を準備するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 動作モードにおいて、イオンが前記イオンガイド又はイオントラップ中へ入れられるか又はパルス化されるように前記1つ以上のゲート電極の電位を制御するステップをさらに含む、請求項43に記載の方法。
- 前記イオンガイド又はイオントラップの上流にさらなるイオントラップを準備するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記イオンガイド又はイオントラップの下流に質量フィルタ/分析器を準備するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記質量フィルタ/分析器は、スキャン四重極ロッドセット質量フィルタ/分析器を備える、請求項46に記載の方法。
- 前記イオンガイド又はイオントラップの下流に第2のイオンガイド又はイオントラップを準備するステップであって、前記第2のイオンガイド又はイオントラップが複数の電極を備える、ステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 1つ以上の過渡DC電圧もしくは電位又は1つ以上の過渡DC電圧もしくは電位波形を前記第2のイオンガイド又はイオントラップを構成する前記複数の電極に印加するステップをさらに含む、請求項48に記載の方法。
- 前記1つ以上の過渡DC電圧は、(i)電位の山又は障壁、(ii)電位井戸、(iii)複数の電位の山又は障壁、(iv)複数の電位井戸、(v)電位の山又は障壁と電位井戸との組み合わせ、あるいは、(vi)複数の電位の山又は障壁と複数の電位井戸との組み合わせを生成する、請求項49に記載の方法。
- 前記1つ以上の過渡DC電圧又は電位波形は、繰り返し波形又は方形波を備える、請求項49又は50に記載の方法。
- 複数の軸方向電位井戸を前記第2のイオンガイド又はイオントラップの長さに沿って平行移動するステップをさらに含む、請求項49、50又は51に記載の方法。
- 動作モードにおいて、前記イオンガイド又はイオントラップを、(i)<1.0×10-1mbar、(ii)<1.0×10-2mbar、(iii)<1.0×10-3mbar及び(iv)<1.0×10-4mbarからなる群から選択される圧力に維持するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 動作モードにおいて、前記イオンガイド又はイオントラップを、(i)>1.0×10-3mbar、(ii)>1.0×10-2mbar、(iii)>1.0×10-1mbar、(iv)>1mbar、(v)>10mbar、(vi)>100mbar、(vii)>5.0×10-3mbar、(viii)>5.0×10-2mbar、(ix)10-4〜10-3mbar、(x)10-3〜10-2mbar及び(xi)10-2〜10-1mbarからなる群から選択される圧力に維持するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記動作モードにおいて、イオンは、前記イオンガイド又はイオントラップ内においてトラップされるが実質的にフラグメンテーションされない、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- イオンを前記イオンガイド又はイオントラップ内において衝突冷却又は実質的に熱化するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- さらなる動作モードにおいて、イオンを前記イオンガイド又はイオントラップ内において実質的にフラグメンテーションするステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- さらなる動作モードにおいて、イオンを前記イオンガイド又はイオントラップから共鳴により及び/又は質量選択的に排出するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 質量フィルタ又は質量分析器として作用するように前記イオンガイド又はイオントラップを構成するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 動作モードにおいて、1つ以上の過渡DC電圧もしくは電位又は1つ以上の過渡DC電圧もしくは電位波形を前記第1の電極に印加するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記1つ以上の過渡DC電圧は、(i)電位の山又は障壁、(ii)電位井戸、(iii)複数の電位の山又は障壁、(iv)複数の電位井戸、(v)電位の山又は障壁と電位井戸との組み合わせ、あるいは、(vi)複数の電位の山又は障壁と複数の電位井戸との組み合わせを生成する、請求項60に記載の方法。
- 前記1つ以上の過渡DC電圧又は電位波形は、繰り返し波形又は方形波を備える、請求項60又は61に記載の方法。
- (i)エレクトロスプレーイオン化(「ESI」)イオン源、(ii)大気圧光イオン化(「APPI」)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(「APCI」)イオン源、(iv)マトリックス支援レーザ脱離イオン化(「MALDI」)イオン源、(v)レーザ脱離イオン化(「LDI」)イオン源、(vi)大気圧イオン化(「API」)イオン源、(vii)シリコンを用いた脱離イオン化(「DIOS」)イオン源、(viii)電子衝突(「EI」)イオン源、(ix)化学イオン化(「CI」)イオン源、(x)電界イオン化(「FI」)イオン源、(xi)電界脱離(「FD」)イオン源、(xii)誘導結合プラズマ(「ICP」)イオン源、(xiii)高速原子衝撃(「FAB」)イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析(「LSIMS」)イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレーイオン化(「DESI」)イオン源及び(xvi)ニッケル−63放射性イオン源からなる群から選択されるイオン源を用いてイオンをイオン化するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 連続又はパルス化イオン源を準備するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 動作モードにおいて、イオンを前記イオンガイド又はイオントラップ内へ導入するか、軸方向に注入もしくは排出するか、半径方向に注入もしくは排出するか、移送するか又はパルス化するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 質量分析器を用いてイオンを質量分析するステップをさらに含む、先行する請求項のいずれかに記載の方法。
- 前記質量分析器は、(i)フーリエ変換(「FT」)質量分析器、(ii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(「FTICR」)質量分析器、(iii)飛行時間(「TOF」)質量分析器、(iv)直交加速式飛行時間(「oaTOF」)質量分析器、(v)軸方向加速式飛行時間質量分析器、(vi)磁場型質量分析計、(vii)ポール又は三次元四重極質量分析器、(viii)二次元又は線形四重極質量分析器、(ix)ペニングトラップ質量分析器、(x)イオントラップ質量分析器、(xi)フーリエ変換オービトラップ、(xii)静電イオンサイクロトロン共鳴質量分析計及び(xiii)静電フーリエ変換質量分析計からなる群から選択される、請求項66に記載の方法。
- 1つ以上の第1の電極を備えるイオンガイド又はイオントラップと、
前記第1の電極の下流に配置される1つ以上の出口電極と、
動作モードにおいてイオンを前記イオンガイド又はイオントラップ内にトラップし、複数サイクルの動作を行うように構成される制御手段であって、各サイクルの動作において、少なくともいくつかのイオンが第1の期間Teの間に前記イオンガイド又はイオントラップから出射できるようにされ、その後にイオンが第2の期間Tcの間、前記イオンガイド又はイオントラップから出射することが実質的に防止される、制御手段と
を備える装置であって、
前記制御手段は、その後の動作サイクルにおいて前記第1の期間Teの長さ又は幅を変化させるように構成される、
装置。 - 前記第1の電極は、使用時にイオンが移送される開口を有する複数の電極を備える、請求項68に記載の装置。
- 前記イオンガイド又はイオントラップは、少なくとも(i)10〜20個の電極、(ii)20〜30個の電極、(iii)30〜40個の電極、(iv)40〜50個の電極、(v)50〜60個の電極、(vi)60〜70個の電極、(vii)70〜80個の電極、(viii)80〜90個の電極、(ix)90〜100個の電極、(x)100〜110個の電極、(xi)110〜120個の電極、(xii)120〜130個の電極、(xiii)130〜140個の電極、(xiv)140〜150個の電極又は(xv)>150個の電極を備える、請求項68又は69に記載の装置。
- 前記イオンガイド又はイオントラップは、多重極ロッドセットイオンガイド又はイオントラップを備える、請求項68に記載の装置。
- 第1のAC又はRF電圧を前記第1の電極のうちの少なくとも10%、20%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%、95%又は100%に印加する手段をさらに備える、請求項68〜71のいずれかに記載の装置。
- 前記第1のAC又はRF電圧は、(i)<50Vピーク・ツー・ピーク、(ii)50〜100Vピーク・ツー・ピーク、(iii)100〜150Vピーク・ツー・ピーク、(iv)150〜200Vピーク・ツー・ピーク、(v)200〜250Vピーク・ツー・ピーク、(vi)250〜300Vピーク・ツー・ピーク、(vii)300〜350Vピーク・ツー・ピーク、(viii)350〜400Vピーク・ツー・ピーク、(ix)400〜450Vピーク・ツー・ピーク、(x)450〜500Vピーク・ツー・ピーク及び(xi)>500Vピーク・ツー・ピークからなる群から選択される振幅を有する、請求項72に記載の装置。
- 前記第1のAC又はRF電圧は、(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz及び(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される周波数を有する、請求項に72又は73に記載の装置。
- 前記制御手段は、少なくとも2サイクル、5サイクル、10サイクル、20サイクル、30サイクル、40サイクル、50サイクル、60サイクル、70サイクル、80サイクル、90サイクル、100サイクル、110サイクル、120サイクル、130サイクル、140サイクル、150サイクル、160サイクル、170サイクル、180サイクル、190サイクル、200サイクル、250サイクル、300サイクル、350サイクル、400サイクル、450サイクル、500サイクル、600サイクル、700サイクル、800サイクル、900サイクル、1000サイクル、1000〜1500サイクル、1500〜2000サイクル、2000〜2500サイクル、2500〜3000サイクル、3000〜3500サイクル、3500〜4000サイクル、4000〜4500サイクル、4500〜5000サイクル、5000〜5500サイクル、5500〜6000サイクル、6000〜6500サイクル、6500〜7000サイクル、7000〜7500サイクル、7500〜8000サイクル、8000〜8500サイクル、8500〜9000サイクル、9000〜9500サイクル、9500〜10000サイクル、10000〜15000サイクル、15000〜20000サイクル、20000〜25000サイクル、25000〜30000サイクル、30000〜35000サイクル、35000〜40000サイクル、40000〜45000サイクル、45000〜50000サイクル、50000〜55000サイクル、55000〜60000サイクル、60000〜65000サイクル、65000〜70000サイクル、70000〜75000サイクル、75000〜80000サイクル、80000〜85000サイクル、85000〜90000サイクル、90000〜95000サイクル、95000〜100000サイクル又は>100000サイクルの動作を行うように構成される、請求項68〜74のいずれかに記載の装置。
- 前記制御手段は、前記複数サイクルの動作の間に、少なくとも2個、5個、10個、20個、30個、40個、50個、60個、70個、80個、90個、100個、110個、120個、130個、140個、150個、160個、170個、180個、190個、200個、250個、300個、350個、400個、450個、500個、600個、700個、800個、900個、1000個、1000〜1500個、1500〜2000個、2000〜2500個、2500〜3000個、3000〜3500個、3500〜4000個、4000〜4500個、4500〜5000個、5000〜5500個、5500〜6000個、6000〜6500個、6500〜7000個、7000〜7500個、7500〜8000個、8000〜8500個、8500〜9000個、9000〜9500個、9500〜10000個、10000〜15000個、15000〜20000個、20000〜25000個、25000〜30000個、30000〜35000個、35000〜40000個、40000〜45000個、45000〜50000個、50000〜55000個、55000〜60000個、60000〜65000個、65000〜70000個、70000〜75000個、75000〜80000個、80000〜85000個、85000〜90000個、90000〜95000個、95000〜100000個又は>100000個の異なる第1の期間Teを設定するように構成される、請求項68〜75のいずれかに記載の装置。
- 前記制御手段は、前記第1の期間Teが前記複数サイクルの動作のうちの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%又は100%において異なるか又は一意の値を有することを確実にするように構成される、請求項68〜76のいずれかに記載の装置。
- 前記制御手段は、前記第1の期間Teを前記複数サイクルの動作のうちの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%又は100%について少なくともn回目の連続的な動作サイクルごとに変化させるように構成され、nは、(i)1、(ii)2、(iii)3、(iv)4、(v)5、(vi)6、(vii)7、(viii)8、(ix)9、(x)10、(xi)11、(xii)12、(xiii)13、(xiv)14、(xv)15、(xvi)16、(xvii)17、(xviii)18、(xix)19、(xx)20及び(xxi)>20からなる群から選択される、請求項68〜77のいずれかに記載の装置。
- 前記制御手段は、前記第1の期間Teのうちの少なくともいくつかの間に前記1つ以上の第1の電極の少なくともいくつかに対して前記1つ以上の出口電極の電位を低減するように構成される、請求項68〜78のいずれかに記載の装置。
- 前記制御手段は、前記第1の期間Teのうちの少なくともいくつかの間に、前記1つ以上の出口電極に対して前記1つ以上の第1の電極の電位を上昇させるように構成される、請求項68〜79のいずれかに記載の装置。
- 前記1つ以上の出口電極の電位が周期的に前記第1の電極の平均DC電位よりも下へ降下するように、第2のAC又はRF電圧を前記1つ以上の出口電極に印加するように構成及び適合される手段をさらに備える、請求項68〜80のいずれかに記載の装置。
- 前記第2のAC又はRF電圧は、(i)0〜10kHz、(ii)10〜20kHz、(iii)20〜30kHz、(iv)30〜40kHz、(v)40〜50kHz、(vi)50〜60kHz、(vii)60〜70kHz、(viii)70〜80kHz、(ix)80〜90kHz、(x)90〜100kHz、(xi)100〜110kHz、(xii)110〜120kHz、(xiii)120〜130kHz、(xiv)130〜140kHz、(xv)140〜150kHz、(xvi)150〜160kHz、(xvii)160〜170kHz、(xviii)170〜180kHz、(xix)180〜190kHz、(xx)190〜200kHz、(xxi)200〜250kHz、(xxii)250〜300kHz、(xxiii)300〜350kHz、(xxiv)350〜400kHz、(xxv)400〜450kHz、(xxvi)450〜500kHz及び(xxvii)>500kHzからなる群から選択される周波数を有する、請求項81に記載の装置。
- 前記第2のAC又はRF電圧の振幅は、(i)<1V、(ii)1〜2V、(iii)2〜3V、(iv)3〜4V、(v)4〜5V、(vi)5〜6V、(vii)6〜7V、(viii)7〜8V、(ix)8〜9V、(x)9〜10V、(xi)10〜15V、(xii)15〜20V、(xiii)20〜25V、(xiv)25〜30V、(xv)30〜35V、(xvi)35〜40V、(xvii)40〜45V、(xviii)45〜50V及び(xix)>50Vからなる群から選択される、請求項81又は82に記載の装置。
- 前記第2のAC又はRF電圧を印加するように構成及び適合される手段は、前記第2のAC又はRF電圧の周波数を漸次低減させるか、増加させるか、変化させるか又はスキャンするように構成及び適合される、請求項81、82又は83のいずれかに記載の装置。
- 前記第2のAC又はRF電圧を印加するように構成及び適合される手段は、前記第2のAC又はRF電圧の振幅を漸次低減させるか、増加させるか、変化させるか又はスキャンするように構成及び適合される、請求項81〜84のいずれかに記載の装置。
- 前記複数サイクルの動作のうちの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%又は100%に対して、前記第1の期間Teは、(i)<0.1μs、(ii)0.1〜0.5μs、(iii)0.5〜1.0μs、(iv)1.0〜1.5μs、(v)1.5〜2.0μs、(vi)2.0〜2.5μs、(vii)2.5〜3.0μs、(viii)3.0〜3.5μs、(ix)3.5〜4.0μs、(x)4.0〜4.5μs、(xi)4.5〜5.0μs、(x)5.0〜5.5μs、(xi)5.5〜6.0μs、(xii)6.0〜6.5μs、(xiii)6.5〜7.0μs、(xiv)7.0〜7.5μs、(xv)7.5〜8.0μs、(xvi)8.0〜8.5μs、(xvii)8.5〜9.0μs、(xviii)9.0〜9.5μs、(xix)9.5〜10.0μs、(xx)10〜20μs、(xxi)20〜30μs、(xxii)30〜40μs、(xxiii)40〜50μs、(xxiv)50〜60μs、(xxv)60〜70μs、(xxvi)70〜80μs、(xxvii)80〜90μs、(xxviii)90〜100μs及び(xxix)>100μsからなる群から選択される、請求項68〜85のいずれかに記載の装置。
- 前記複数サイクルの動作のうちの少なくとも5%、10%、15%、20%、25%、30%、35%、40%、45%、50%、55%、60%、65%、70%、75%、80%、85%、90%、95%又は100%に対して、前記第2の期間Tcは、(i)<0.1μs、(ii)0.1〜0.5μs、(iii)0.5〜1.0μs、(iv)1.0〜1.5μs、(v)1.5〜2.0μs、(vi)2.0〜2.5μs、(vii)2.5〜3.0μs、(viii)3.0〜3.5μs、(ix)3.5〜4.0μs、(x)4.0〜4.5μs、(xi)4.5〜5.0μs、(x)5.0〜5.5μs、(xi)5.5〜6.0μs、(xii)6.0〜6.5μs、(xiii)6.5〜7.0μs、(xiv)7.0〜7.5μs、(xv)7.5〜8.0μs、(xvi)8.0〜8.5μs、(xvii)8.5〜9.0μs、(xviii)9.0〜9.5μs、(xix)9.5〜10.0μs、(xx)10〜20μs、(xxi)20〜30μs、(xxii)30〜40μs、(xxiii)40〜50μs、(xxiv)50〜60μs、(xxv)60〜70μs、(xxvi)70〜80μs、(xxvii)80〜90μs、(xxviii)90〜100μs及び(xxix)>100μsからなる群から選択される、請求項68〜86のいずれかに記載の装置。
- 前記制御手段は、前記第1の期間Teを漸次増加させるか、漸次低減させるか、漸次変化させるか、スキャンするか、直線的に増加させるか、直線的に低減させるか、段階的、漸次もしくは他のやり方で増加させるか又は段階的、漸次もしくは他のやり方で低減させるように構成及び適合される、請求項68〜87のいずれかに記載の装置。
- 前記制御手段は、前記第1の期間Teを、2回、5回、10回、20回、30回、40回、50回、60回、70回、80回、90回、100回、110回、120回、130回、140回、150回、160回、170回、180回、190回、200回、250回、300回、350回、400回、450回、500回、600回、700回、800回、900回、1000回、1000〜1500回、1500〜2000回、2000〜2500回、2500〜3000回、3000〜3500回、3500〜4000回、4000〜4500回、4500〜5000回、5000〜5500回、5500〜6000回、6000〜6500回、6500〜7000回、7000〜7500回、7500〜8000回、8000〜8500回、8500〜9000回、9000〜9500回、9500〜10000回、10000〜15000回、15000〜20000回、20000〜25000回、25000〜30000回、30000〜35000回、35000〜40000回、40000〜45000回、45000〜50000回、50000〜55000回、55000〜60000回、60000〜65000回、65000〜70000回、70000〜75000回、75000〜80000回、80000〜85000回、85000〜90000回、90000〜95000回、95000〜100000回又は>100000回の連続的な動作サイクルにわたって少なくともy%増加させるか、変化させるか又は低減させるように構成及び適合され、yは、(i)<0.001、(ii)<0.01、(iii)<0.1、(iv)<1、(v)1〜2、(vi)2〜3、(vii)3〜4、(viii)4〜5、(ix)5〜10、(x)10〜15、(xi)15〜20、(xii)20〜25、(xiii)25〜30、(xiv)30〜35、(xv)35〜40、(xvi)40〜45、(xvii)45〜50、(xviii)50〜55、(xix)55〜60、(xx)60〜65、(xxi)65〜70、(xxii)70〜75、(xxiii)75〜80、(xxiv)80〜85、(xxv)85〜90、(xxvi)90〜95及び(xxvii)95〜100からなる群から選択される、請求項68〜88のいずれかに記載の装置。
- 前記1つ以上の出口電極は、使用時にイオンが移送される1つ以上の開口を備える、請求項68〜89のいずれかに記載の装置。
- 前記第1の期間Teの間に、前記イオンガイド又はイオントラップ内の少なくともいくつかのイオンは、前記イオンガイド又はイオントラップから自由に出射し、前記1つ以上の出口電極における前記1つ以上の開口を通過する、請求項90に記載の装置。
- 少なくともいくつかのイオンを加速して前記イオンガイド又はイオントラップから出射させるために、前記第1の期間Teの間に、前記イオンガイド又はイオントラップの長さの少なくとも一部に沿って抽出電界を印加するように構成及び適合される手段をさらに備える、請求項68〜91のいずれかに記載の装置。
- 前記第1の電極の上流に1つ以上の入口電極をさらに備える、請求項68〜92のいずれかに記載の装置。
- 前記第1の電極の上流に1つ以上のゲート電極をさらに備える、請求項68〜93のいずれかに記載の装置。
- 前記イオンガイド又はイオントラップの上流にさらなるイオントラップをさらに備える、請求項68〜94のいずれかに記載の装置。
- 前記イオンガイド又はイオントラップの下流に質量フィルタ/分析器をさらに備える、請求項68〜95のいずれかに記載の装置。
- 前記質量フィルタ/分析器は、スキャン四重極ロッドセット質量フィルタ/分析器を備える、請求項96に記載の装置。
- 前記イオンガイド又はイオントラップの下流に第2のイオンガイド又はイオントラップをさらに備え、前記第2のイオンガイド又はイオントラップが複数の電極を備える、請求項68〜97のいずれかに記載の装置。
- 1つ以上の過渡DC電圧もしくは電位又は1つ以上の過渡DC電圧もしくは電位波形を前記第2のイオンガイド又はイオントラップを構成する前記複数の電極に印加するように構成及び適合される手段をさらに備える、請求項98に記載の装置。
- 前記1つ以上の過渡DC電圧は、(i)電位の山又は障壁、(ii)電位井戸、(iii)複数の電位の山又は障壁、(iv)複数の電位井戸、(v)電位の山又は障壁と電位井戸との組み合わせ、あるいは、(vi)複数の電位の山又は障壁と複数の電位井戸との組み合わせを生成する、請求項99に記載の装置。
- 前記1つ以上の過渡DC電圧又は電位波形は、繰り返し波形又は方形波を備える、請求項99又は100に記載の装置。
- 複数の軸方向電位井戸が、使用時に、前記第2のイオンガイド又はイオントラップの長さに沿って平行移動されるように構成される、請求項99、100又は101に記載の装置。
- 動作モードにおいて、前記イオンガイド又はイオントラップは、(i)<1.0×10-1mbar、(ii)<1.0×10-2mbar、(iii)<1.0×10-3mbar及び(iv)<1.0×10-4mbarからなる群から選択される圧力に維持されるように構成される、請求項68〜102のいずれかに記載の装置。
- 動作モードにおいて、前記イオンガイド又はイオントラップは、(i)>1.0×10-3mbar、(ii)>1.0×10-2mbar、(iii)>1.0×10-1mbar、(iv)>1mbar、(v)>10mbar、(vi)>100mbar、(vii)>5.0×10-3mbar、(viii)>5.0×10-2mbar、(ix)10-4〜10-3mbar、(x)10-3〜10-2mbar及び(xi)10-2〜10-1mbarからなる群から選択される圧力に維持されるように構成される、請求項68〜103のいずれかに記載の装置。
- (i)エレクトロスプレーイオン化(「ESI」)イオン源、(ii)大気圧光イオン化(「APPI」)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(「APCI」)イオン源、(iv)マトリックス支援レーザ脱離イオン化(「MALDI」)イオン源、(v)レーザ脱離イオン化(「LDI」)イオン源、(vi)大気圧イオン化(「API」)イオン源、(vii)シリコンを用いた脱離イオン化(「DIOS」)イオン源、(viii)電子衝突(「EI」)イオン源、(ix)化学イオン化(「CI」)イオン源、(x)電界イオン化(「FI」)イオン源、(xi)電界脱離(「FD」)イオン源、(xii)誘導結合プラズマ(「ICP」)イオン源、(xiii)高速原子衝撃(「FAB」)イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析(「LSIMS」)イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレーイオン化(「DESI」)イオン源及び(xvi)ニッケル−63放射性イオン源からなる群から選択されるイオン源をさらに備える、請求項68〜104のいずれかに記載の装置。
- 連続又はパルス化イオン源をさらに備える、請求項68〜105のいずれかに記載の装置。
- 動作モードにおいて、イオンを前記イオンガイド又はイオントラップ内へ導入するか、軸方向に注入もしくは排出するか、半径方向に注入もしくは排出するか、移送するか又はパルス化するように構成及び適合される手段をさらに備える、請求項68〜106のいずれかに記載の装置。
- 質量分析器をさらに備える、請求項68〜107のいずれかに記載の装置。
- 前記質量分析器は、(i)フーリエ変換(「FT」)質量分析器、(ii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(「FTICR」)質量分析器、(iii)飛行時間(「TOF」)質量分析器、(iv)直交加速式飛行時間(「oaTOF」)質量分析器、(v)軸方向加速式飛行時間質量分析器、(vi)磁場型質量分析計、(vii)ポール又は三次元四重極質量分析器、(viii)二次元又は線形四重極質量分析器、(ix)ペニングトラップ質量分析器、(x)イオントラップ質量分析器、(xi)フーリエ変換オービトラップ、(xii)静電イオンサイクロトロン共鳴質量分析計及び(xiii)静電フーリエ変換質量分析計からなる群から選択される、請求項108に記載の装置。
- 請求項68〜109のいずれかに記載の装置を備える質量分析計。
- イオントラップであって、イオンは、使用時に、繰り返しパルス化されて前記イオントラップから出射するか又は前記イオントラップから出射されることが可能とされ、かつ、イオンが前記イオントラップから出射する時間ウィンドウの幅が漸次増加される、イオントラップ。
- イオンを繰り返しパルス化してイオントラップから出射させるか又は前記イオントラップから出射されることを可能とするステップと、
イオンが前記イオントラップから出射する時間ウィンドウの幅を漸次増加させるステップと
を含む、方法。
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