JP2008541621A - ライブ測定により基準が初期化される遅延ロックループ - Google Patents
ライブ測定により基準が初期化される遅延ロックループ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008541621A JP2008541621A JP2008511245A JP2008511245A JP2008541621A JP 2008541621 A JP2008541621 A JP 2008541621A JP 2008511245 A JP2008511245 A JP 2008511245A JP 2008511245 A JP2008511245 A JP 2008511245A JP 2008541621 A JP2008541621 A JP 2008541621A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- lock point
- delay line
- signal
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 18
- 230000004044 response Effects 0.000 claims abstract description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 19
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 14
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 4
- 150000002009 diols Chemical class 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
- G11C7/222—Clock generating, synchronizing or distributing circuits within memory device
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1072—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/081—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
- H03L7/0812—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
- H03L7/0814—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the phase shifting device being digitally controlled
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/081—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
- H03L7/0812—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
- H03L7/0816—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the controlled phase shifter and the frequency- or phase-detection arrangement being connected to a common input
Landscapes
- Dram (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Dc-Dc Converters (AREA)
- Feedback Control In General (AREA)
Abstract
【選択図】図3
Description
D1+[N*tCK−(d1'+d2')]+d2=N*tCK
である。クロックツーストローブ時間[(B)から(A)]は、図1に示す従来技術の回路の場合と同様に、N*tCKと等しい。
Claims (21)
- 遅延ロックループを動作させる方法であって、
第1ロックポイントに応答して第1出力信号を生成する工程と、
前記第1出力信号を生成し続ける間に、新しいロックポイントを特定する特定工程と、
を含むことを特徴とする方法。 - 前記第1出力信号を生成し続ける間に、前記新しいロックポイントを複数のレジスタにロードするロード工程を更に含む、請求項1に記載の方法。
- 前記ロード工程は、前記複数のレジスタに第1ストローブ信号を入力して、前記複数のレジスタが第1ロックポイントを得ることを可能とする工程を含む、請求項2に記載の方法。
- 前記第1ロックポイントに基づいた信号が、前記遅延ロックループの少なくとも一部を通過可能である間、前記新しいロックポイントを前記複数のレジスタに保持する工程を更に含む、請求項2又は請求項3に記載の方法。
- 前記複数のレジスタに第2ストローブ信号を入力して、前記複数のレジスタの少なくとも1つの出力に、前記新しいロックポイントを移動させる工程を更に含む、請求項2乃至4の何れかに記載の方法。
- 前記第2ストローブ信号は、制御信号、タイマ、又は環境状態信号の中の1つに応答して入力される、請求項5に記載の方法。
- 特定工程は、測定工程又は計算工程を含む、請求項1乃至6の何れかに記載の方法。
- 前記新しいロックポイントに応答して前記第1出力信号を生成するように、前記第1ロックポイントから前記新しいロックポイントに切り換える切換工程を更に含む、請求項1に記載の方法。
- 前記切換工程は、制御信号、タイマ、又は環境状態信号の中の1つに応答して行われる、請求項8に記載の方法。
- 入力クロックを受信して、同期した出力クロックを生成するフォワード遅延ライン(60)と、前記出力クロックに応答する入力/出力モデル(66)と、前記入力/出力モデル(66)及び前記入力クロックに応答する位相検出器(68)とを備えている遅延ロックループであって、
前記入力/出力モデル(66)に応答する基準遅延ライン(70)と、前記基準遅延ライン(70)、前記位相検出器(68)及び複数のストローブ信号に応答して、前記フォワード遅延ライン(60)に入力されるロックポイント制御信号を生成するシフトレジスタ(72)とを備えることを特徴とする遅延ロックループ。 - 第1ストローブ信号は、前記シフトレジスタをイネーブルにして新しいロックポイントデータを受信することを可能とし、第2ストローブ信号は、前記シフトレジスタが、前記新しいロックポイントに基づいて新しいロックポイント制御信号を出力するようにする、請求項10に記載の遅延ライン。
- 新しいロックポイント制御信号は、制御信号、タイマ、又は環境状態信号の中の1つに応答して出力される、請求項10又は請求項11に記載の遅延ライン。
- 前記フォワード遅延ライン(60)の出力から前記基準遅延ライン(70)までの遅延は、tCKの倍数である、請求項10乃至12の何れかに記載の遅延ライン。
- メモリセルのアレイ(42)と、前記メモリセルのアレイ(42)にデータを入出力するための複数の周辺デバイス(44, 46, 48)とを備えており、前記複数の周辺デバイス(44, 46, 48)は、入力クロックを受信して、同期した出力クロックを生成するフォワード遅延ライン(60)と、前記出力クロックに応答する入力/出力モデル(66)と、前記入力/出力モデル(66)及び前記入力クロックに応答する位相検出器(68)とを備えているメモリデバイス(30)であって、
前記入力/出力モデル(66)に応答する基準遅延ライン(70)と、前記基準遅延ライン(70)、前記位相検出器(68)及び複数のストローブ信号に応答して、前記フォワード遅延ライン(60)に入力されるロックポイント制御信号を生成するシフトレジスタ(72)とを備えることを特徴とするメモリデバイス。 - 第1ストローブ信号は、前記シフトレジスタ(72)をイネーブルにして新しいロックポイントデータを受信することを可能とし、第2ストローブ信号は、前記シフトレジスタ(72)が、前記新しいロックポイントに基づいて新しいロックポイント制御信号を出力するようにする、請求項14に記載のメモリデバイス。
- 新しいロックポイント制御信号は、制御信号、タイマ、又は環境状態信号の中の1つに応答して出力される、請求項14又は請求項15に記載のメモリデバイス。
- 前記フォワード遅延ライン(60)の出力から前記基準遅延ライン(70)までの遅延は、tCKの倍数である、請求項14乃至16の何れかに記載のメモリデバイス。
- プロセッサ(104)と、少なくとも1つのメモリデバイス(30)と、前記メモリデバイス(30)及び前記プロセッサ(104)に接続するバス(106)とを備えており、前記メモリデバイス(30)は、メモリセルのアレイ(42)と、前記メモリセルのアレイ(42)にデータを入出力するための複数の周辺デバイス(44, 46, 48)とを備えており、前記複数の周辺デバイス(44, 46, 48)は、入力クロックを受信して、同期した出力クロックを生成するフォワード遅延ライン(60)と、前記出力クロックに応答する入力/出力モデル(66)と、前記入力/出力モデル(66)及び前記入力クロックに応答する位相検出器(68)とを備えているシステムであって、
前記入力/出力モデル(66)に応答する基準遅延ライン(70)と、前記基準遅延ライン(70)、前記位相検出器(68)及び複数のストローブ信号に応答して、前記フォワード遅延ライン(60)に入力されるロックポイント制御信号を生成するシフトレジスタ(72)とを備えることを特徴とするシステム。 - 第1ストローブ信号は、前記シフトレジスタ(72)をイネーブルにして新しいロックポイントデータを受信することを可能とし、第2ストローブ信号は、前記シフトレジスタ(72)が、前記新しいロックポイントに基づいて新しいロックポイント制御信号を出力するようにする、請求項18に記載のシステム。
- 新しいロックポイント制御信号は、制御信号、タイマ、又は環境状態信号の中の1つに応答して出力される、請求項18又は請求項19に記載のシステム。
- 前記フォワード遅延ライン(60)の出力から前記基準遅延ライン(70)までの遅延は、tCKの倍数である、請求項18乃至20の何れかに記載のシステム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/127,456 | 2005-05-12 | ||
US11/127,456 US7212053B2 (en) | 2005-05-12 | 2005-05-12 | Measure-initialized delay locked loop with live measurement |
PCT/US2006/017779 WO2006124376A1 (en) | 2005-05-12 | 2006-05-05 | Measure-initialized delay locked loop with live measurement |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008541621A true JP2008541621A (ja) | 2008-11-20 |
JP2008541621A5 JP2008541621A5 (ja) | 2012-02-16 |
JP5011460B2 JP5011460B2 (ja) | 2012-08-29 |
Family
ID=36698799
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008511245A Expired - Fee Related JP5011460B2 (ja) | 2005-05-12 | 2006-05-05 | ライブ測定により測定が初期化される遅延ロックループ |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7212053B2 (ja) |
EP (1) | EP1889367A1 (ja) |
JP (1) | JP5011460B2 (ja) |
KR (1) | KR20080005294A (ja) |
CN (1) | CN101213751A (ja) |
TW (1) | TW200644433A (ja) |
WO (1) | WO2006124376A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7443216B2 (en) * | 2007-02-20 | 2008-10-28 | Micron Technology, Inc. | Trimmable delay locked loop circuitry with improved initialization characteristics |
US7495487B2 (en) * | 2007-04-09 | 2009-02-24 | Micron Technology, Inc. | Delay-locked loop (DLL) system for determining forward clock path delay |
US7862232B2 (en) * | 2007-09-27 | 2011-01-04 | Micron Technology, Inc. | Temperature sensor, device and system including same, and method of operation |
WO2010014109A1 (en) | 2008-08-01 | 2010-02-04 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Verifying firmware |
US7864625B2 (en) * | 2008-10-02 | 2011-01-04 | International Business Machines Corporation | Optimizing SRAM performance over extended voltage or process range using self-timed calibration of local clock generator |
CN105280220B (zh) * | 2015-11-16 | 2019-03-15 | 西安紫光国芯半导体有限公司 | 改善dram存储器自刷新退出的dll锁定过程电路和锁定方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20030227305A1 (en) * | 2002-06-11 | 2003-12-11 | Vladimir Mikhalev | Method and apparatus for enabling a timing synchronization circuit |
JP2004364252A (ja) * | 2003-05-31 | 2004-12-24 | Hynix Semiconductor Inc | デジタル遅延固定ループ |
US20050041486A1 (en) * | 2002-06-06 | 2005-02-24 | Micron Technology, Inc. | Delay locked loop circuit |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5822387A (en) * | 1996-03-25 | 1998-10-13 | Cypress Semiconductor Corporation | Apparatus for fast phase-locked loop (PLL) frequency slewing during power on |
KR100269316B1 (ko) * | 1997-12-02 | 2000-10-16 | 윤종용 | 동기지연회로가결합된지연동기루프(dll)및위상동기루프(pll) |
US6476652B1 (en) * | 1999-11-01 | 2002-11-05 | Hynix Semiconductor Inc. | Delay locked loop for use in synchronous dynamic random access memory |
KR100527402B1 (ko) * | 2000-05-31 | 2005-11-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 디디알 동기식메모리의 지연고정루프 장치 |
US6452431B1 (en) * | 2000-08-28 | 2002-09-17 | Micron Technology, Inc. | Scheme for delay locked loop reset protection |
JP2002124873A (ja) * | 2000-10-18 | 2002-04-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
KR100422572B1 (ko) * | 2001-06-30 | 2004-03-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 레지스터 제어 지연고정루프 및 그를 구비한 반도체 소자 |
US6618283B2 (en) * | 2001-08-29 | 2003-09-09 | Micron Technology, Inc. | System and method for skew compensating a clock signal and for capturing a digital signal using the skew compensated clock signal |
KR100507877B1 (ko) * | 2002-03-28 | 2005-08-18 | 주식회사 하이닉스반도체 | 면적 축소용 알디엘엘 회로 |
US6930525B2 (en) * | 2002-06-12 | 2005-08-16 | Micron Technology, Inc. | Methods and apparatus for delay circuit |
US7076012B2 (en) * | 2002-08-29 | 2006-07-11 | Micron Technology, Inc. | Measure-controlled delay circuit with reduced playback error |
KR100510063B1 (ko) * | 2002-12-24 | 2005-08-26 | 주식회사 하이닉스반도체 | 레지스터 제어 지연고정루프 |
-
2005
- 2005-05-12 US US11/127,456 patent/US7212053B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-04-28 TW TW095115164A patent/TW200644433A/zh unknown
- 2006-05-05 WO PCT/US2006/017779 patent/WO2006124376A1/en active Application Filing
- 2006-05-05 KR KR1020077027566A patent/KR20080005294A/ko not_active Application Discontinuation
- 2006-05-05 JP JP2008511245A patent/JP5011460B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2006-05-05 EP EP06759348A patent/EP1889367A1/en not_active Withdrawn
- 2006-05-05 CN CNA2006800243399A patent/CN101213751A/zh active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20050041486A1 (en) * | 2002-06-06 | 2005-02-24 | Micron Technology, Inc. | Delay locked loop circuit |
US20030227305A1 (en) * | 2002-06-11 | 2003-12-11 | Vladimir Mikhalev | Method and apparatus for enabling a timing synchronization circuit |
JP2004364252A (ja) * | 2003-05-31 | 2004-12-24 | Hynix Semiconductor Inc | デジタル遅延固定ループ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2006124376A1 (en) | 2006-11-23 |
KR20080005294A (ko) | 2008-01-10 |
US20060255843A1 (en) | 2006-11-16 |
JP5011460B2 (ja) | 2012-08-29 |
CN101213751A (zh) | 2008-07-02 |
TW200644433A (en) | 2006-12-16 |
US7212053B2 (en) | 2007-05-01 |
EP1889367A1 (en) | 2008-02-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10658019B2 (en) | Circuit, system and method for controlling read latency | |
KR100592648B1 (ko) | 다중 모드형 동기식 메모리 소자 및 그 동작 및 검사 방법 | |
US6812799B2 (en) | Synchronous mirror delay (SMD) circuit and method including a ring oscillator for timing coarse and fine delay intervals | |
JP4984129B2 (ja) | データストローブ同期回路およびダブルデータレート・マルチビットでの書き込み用の方法 | |
US7423456B2 (en) | Fast response time, low power phase detector circuits, devices and systems incorporating the same, and associated methods | |
US7573778B2 (en) | Semiconductor memory device | |
US7102361B2 (en) | Delay lock circuit having self-calibrating loop | |
US10623004B2 (en) | Electronic device with a timing adjustment mechanism | |
US7898900B2 (en) | Latency counter, semiconductor memory device including the same, and data processing system | |
US8611176B2 (en) | Counter circuit, latency counter, semiconductor memory device including the same, and data processing system | |
JP2007532080A (ja) | 遅延線同期装置および方法 | |
JP5011460B2 (ja) | ライブ測定により測定が初期化される遅延ロックループ | |
TWI749849B (zh) | 延遲鎖定迴路、記憶體元件以及該延遲迴路的操作方法 | |
US20160314824A1 (en) | Apparatuses and methods for providing active and inactive clock signals to a command path circuit | |
KR100924017B1 (ko) | 오토 프리차지 회로 및 오토 프리차지 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090130 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110627 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110712 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20111011 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20111018 |
|
A524 | Written submission of copy of amendment under article 19 pct |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524 Effective date: 20111220 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120214 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20120309 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120309 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20120309 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120511 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150615 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |