JP2008514545A - 機能が向上された厚膜超伝導フィルム - Google Patents
機能が向上された厚膜超伝導フィルム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008514545A JP2008514545A JP2007534868A JP2007534868A JP2008514545A JP 2008514545 A JP2008514545 A JP 2008514545A JP 2007534868 A JP2007534868 A JP 2007534868A JP 2007534868 A JP2007534868 A JP 2007534868A JP 2008514545 A JP2008514545 A JP 2008514545A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- metal
- precursor
- precursor solution
- alkaline earth
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims abstract description 248
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 claims abstract description 109
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 77
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 75
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 68
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 claims abstract description 67
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 claims abstract description 58
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims abstract description 41
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 41
- -1 alkaline earth metal salt Chemical class 0.000 claims abstract description 35
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 29
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 claims abstract description 25
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims abstract description 24
- 229910000314 transition metal oxide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 20
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 12
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims abstract description 12
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims abstract description 12
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 claims abstract description 11
- 239000012702 metal oxide precursor Substances 0.000 claims abstract description 5
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 165
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 104
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 100
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 100
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 94
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 94
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 claims description 65
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 61
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 34
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 30
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 26
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 25
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 24
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 23
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 19
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims description 19
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 18
- 239000000654 additive Substances 0.000 claims description 17
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 claims description 17
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 claims description 14
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000012691 Cu precursor Substances 0.000 claims description 13
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 13
- 229910001233 yttria-stabilized zirconia Inorganic materials 0.000 claims description 13
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 claims description 11
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 10
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 9
- GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce] GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 8
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 claims description 8
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 230000001172 regenerating effect Effects 0.000 claims description 8
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 7
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 claims description 5
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 claims description 5
- YCHAVMRDEZYILG-UHFFFAOYSA-N gadolinium(3+) neodymium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[O--].[O--].[Nd+3].[Gd+3] YCHAVMRDEZYILG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- KJXBRHIPHIVJCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)lanthanum Chemical compound O=[Al]O[La]=O KJXBRHIPHIVJCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N strontium titanate Chemical compound [Sr+2].[O-][Ti]([O-])=O VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- UOROWBGGYAMZCK-UHFFFAOYSA-N lanthanum(3+) manganese(2+) oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[La+3].[Mn+2] UOROWBGGYAMZCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 203
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 177
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 155
- 229910021521 yttrium barium copper oxide Inorganic materials 0.000 description 75
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 69
- 239000000543 intermediate Substances 0.000 description 60
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical group [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 47
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 44
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 38
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 38
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 38
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 38
- 235000002639 sodium chloride Nutrition 0.000 description 28
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 23
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 23
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 21
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 21
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 21
- XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-N dimethylselenoniopropionate Natural products CCC(O)=O XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 13
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 11
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 235000019260 propionic acid Nutrition 0.000 description 10
- IUVKMZGDUIUOCP-BTNSXGMBSA-N quinbolone Chemical compound O([C@H]1CC[C@H]2[C@H]3[C@@H]([C@]4(C=CC(=O)C=C4CC3)C)CC[C@@]21C)C1=CCCC1 IUVKMZGDUIUOCP-BTNSXGMBSA-N 0.000 description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 9
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 8
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M Fluoride anion Chemical compound [F-] KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 7
- DTQVDTLACAAQTR-UHFFFAOYSA-M Trifluoroacetate Chemical compound [O-]C(=O)C(F)(F)F DTQVDTLACAAQTR-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 7
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 7
- OYLGJCQECKOTOL-UHFFFAOYSA-L barium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ba+2] OYLGJCQECKOTOL-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 6
- 229910001632 barium fluoride Inorganic materials 0.000 description 6
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 6
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 6
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 6
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 6
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 6
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 6
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 6
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 6
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 6
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000002585 base Substances 0.000 description 5
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 5
- 238000007735 ion beam assisted deposition Methods 0.000 description 5
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 5
- 229910001404 rare earth metal oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 5
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 5
- GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N vanadium Chemical compound [V]#[V] GPPXJZIENCGNKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical compound [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052692 Dysprosium Inorganic materials 0.000 description 4
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000004703 alkoxides Chemical class 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 238000007607 die coating method Methods 0.000 description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 4
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 4
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 4
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000005751 Copper oxide Substances 0.000 description 3
- 229910052691 Erbium Inorganic materials 0.000 description 3
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052693 Europium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052689 Holmium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 3
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical group [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052775 Thulium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052769 Ytterbium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 3
- 150000001879 copper Chemical class 0.000 description 3
- 229910000431 copper oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 3
- KBQHZAAAGSGFKK-UHFFFAOYSA-N dysprosium atom Chemical compound [Dy] KBQHZAAAGSGFKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 3
- 150000002736 metal compounds Chemical group 0.000 description 3
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 3
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 3
- 238000005001 rutherford backscattering spectroscopy Methods 0.000 description 3
- 239000012266 salt solution Substances 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 3
- 229910016036 BaF 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- 241000954177 Bangana ariza Species 0.000 description 2
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000943 NiAl Inorganic materials 0.000 description 2
- NPXOKRUENSOPAO-UHFFFAOYSA-N Raney nickel Chemical compound [Al].[Ni] NPXOKRUENSOPAO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 2
- DRSUUOIDIPGYDG-UHFFFAOYSA-N [O-2].[La+3].[Mg+2] Chemical compound [O-2].[La+3].[Mg+2] DRSUUOIDIPGYDG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 2
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 2
- 230000003466 anti-cipated effect Effects 0.000 description 2
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 229910002056 binary alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 2
- UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N erbium Chemical compound [Er] UYAHIZSMUZPPFV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N europium atom Chemical compound [Eu] OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N gadolinium atom Chemical compound [Gd] UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 2
- KJZYNXUDTRRSPN-UHFFFAOYSA-N holmium atom Chemical compound [Ho] KJZYNXUDTRRSPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000004679 hydroxides Chemical class 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N neodymium atom Chemical compound [Nd] QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 description 2
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 2
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 2
- KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N samarium atom Chemical compound [Sm] KZUNJOHGWZRPMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 2
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000010301 surface-oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N terbium atom Chemical compound [Tb] GZCRRIHWUXGPOV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 229910021561 transition metal fluoride Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N ytterbium Chemical compound [Yb] NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M Acetate Chemical compound CC([O-])=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 241001289141 Babr Species 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical group F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052765 Lutetium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002651 NO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N Nitrate Chemical compound [O-][N+]([O-])=O NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L Sulfate Chemical compound [O-]S([O-])(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910052776 Thorium Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001242 acetic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910001618 alkaline earth metal fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000287 alkaline earth metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003064 anti-oxidating effect Effects 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003963 antioxidant agent Substances 0.000 description 1
- 230000003078 antioxidant effect Effects 0.000 description 1
- 229910001422 barium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 150000007942 carboxylates Chemical class 0.000 description 1
- 150000004770 chalcogenides Chemical class 0.000 description 1
- 239000013626 chemical specie Substances 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002860 competitive effect Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- LZJJVTQGPPWQFS-UHFFFAOYSA-L copper;propanoate Chemical compound [Cu+2].CCC([O-])=O.CCC([O-])=O LZJJVTQGPPWQFS-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000003618 dip coating Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- VFRSADQPWYCXDG-LEUCUCNGSA-N ethyl (2s,5s)-5-methylpyrrolidine-2-carboxylate;2,2,2-trifluoroacetic acid Chemical compound OC(=O)C(F)(F)F.CCOC(=O)[C@@H]1CC[C@H](C)N1 VFRSADQPWYCXDG-LEUCUCNGSA-N 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007737 ion beam deposition Methods 0.000 description 1
- 235000015110 jellies Nutrition 0.000 description 1
- 239000008274 jelly Substances 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 229910001512 metal fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002823 nitrates Chemical class 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 1
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 238000004549 pulsed laser deposition Methods 0.000 description 1
- 239000002096 quantum dot Substances 0.000 description 1
- 229910002059 quaternary alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 229910052706 scandium Inorganic materials 0.000 description 1
- SIXSYDAISGFNSX-UHFFFAOYSA-N scandium atom Chemical compound [Sc] SIXSYDAISGFNSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 239000012703 sol-gel precursor Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 230000007847 structural defect Effects 0.000 description 1
- 150000003467 sulfuric acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 229910000601 superalloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- WROMPOXWARCANT-UHFFFAOYSA-N tfa trifluoroacetic acid Chemical compound OC(=O)C(F)(F)F.OC(=O)C(F)(F)F WROMPOXWARCANT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 1
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
- 150000003623 transition metal compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 150000003746 yttrium Chemical class 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y30/00—Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites
Abstract
Description
この出願は、米国特許法第35巻第119条(e)に基づいて、2004年10月1日の米国仮特許出願60/615289号、および2005年7月29日の米国仮特許出願60/703836号(共に発明の名称は「機能が向上された厚膜超伝導フィルム」)に基づく優先権を主張し、それらの開示は、参考として本明細書中に援用される。
本発明は超伝導物質の臨界電流密度を増進することに関する。また、超伝導体の構造に係わり、希土類−アルカリ土類−遷移金属酸化物フィルムの超伝導特性を改良する方法に関する。
Y:Ba:Cu=1:2:3の化学量論比を有するYBCO前駆体溶液を以下の手順によって準備した。約0.83gのY(CF3CO2)3、約1.6gのBa(CF3CO2)2、約1.28gのCu(C2H5CO2)2を約4.85mlのメタノール(CH3OH)と約0.15mlのプロピオン酸(C2H6CO2)の溶媒に溶解した。これにメタノールを調整して約5.0mlの最終溶液とした。
Y:Ba:Cu=1:2:3.34の化学量論比を有するYBCO前駆体溶液を以下の手順によって準備した。約0.83gのY(CF3CO2)3、約1.6gのBa(CF3CO2)2、約1.54gのCu(C2H5CO2)2を約4.85mlのメタノール(CH3OH)と約0.15mlのプロピオン酸(C2H6CO2)の溶媒に溶解した。これにメタノールを調整して約5.0mlの最終溶液とした。
Y:Ba:Cu=1:1.6:3.6の化学量論比を有するYBCO前駆体溶液を以下の手順によって準備した。約0.83gのY(CF3CO2)3、約1.28gのBa(CF3CO2)2、約2.3gのCu(C2H5CO2)2を約4.85mlのメタノール(CH3OH)と約0.15mlのプロピオン酸(C2H6CO2)の溶媒に溶解した。これにメタノールを調整して約5.0mlの最終溶液とした。
Y:Ba:Cu=1:2:3の化学量論比を有するYBCO前駆体溶液を以下の手順によって準備した。約0.83gのY(CF3CO2)3、約1.60gのBa(CF3CO2)2、約1.28gのCu(C2H5CO2)2を約4.85mlのメタノール(CH3OH)と約0.15mlのプロピオン酸(C2H6CO2)の溶媒に溶解した。これにメタノールを調整して約5.0mlの最終溶液とした。
Y:Ba:Cu=1:2:3の化学量論比を有するYBCO前駆体溶液を以下の手順によって準備した。約0.83gのY(CF3CO2)3、約1.60gのBa(CF3CO2)2、約1.28gのCu(C2H5CO2)2を約4.85mlのメタノール(CH3OH)と約0.15mlのプロピオン酸(C2H6CO2)の溶媒に溶解した。これにメタノールを調整して約5.0mlの最終溶液とした
Y:Ba:Cu=1:2:3.6の化学量論比を有する第二YBCO前駆体溶液を以下の手順によって準備した。約0.83gのY(CF3CO2)3、約1.60gのBa(CF3CO2)2、約1.54gのCu(C2H5CO2)2を約4.85mlのメタノール(CH3OH)と約0.15mlのプロピオン酸(C2H6CO2)の溶媒に溶解した。これにメタノールを調整して約5.0mlの最終溶液とした。
約0.83gのY(CF3CO2)3、約0.336gのDy(CH3CO2)3、約1.6gのBa(CF3CO2)2、約1.47gのCu(C2H5CO2)2を約4.85mlのメタノール(CH3OH)と約0.15mlのプロピオン酸(C2H6CO2)の溶媒に溶解した。これにメタノールを調整して約5.0mlの最終溶液とした。
Y:Ba:Cu=1:2:3.23の化学量論比を有するベースラインYBCO前駆体溶液を以下の手順によって準備した。約0.85gのY(CF3CO2)3、約1.45gのBa(CF3CO2)2、約1.35gのCu(C2H5CO2)2を約4.85mlのメタノール(CH3OH)と約0.15mlのプロピオン酸(C2H6CO2)の溶媒に溶解した。これにメタノールを調整して約5.0mlの最終溶液とした。
Y:Ba:Cu=1:2:3.23の化学量論比を有するベースラインYBCO前駆体溶液を以下の手順によって準備した。約0.85gのY(CF3CO2)3、約1.45gのBa(CF3CO2)2、約1.35gのCu(C2H5CO2)2を約4.85mlのメタノール(CH3OH)と約0.15mlのプロピオン酸(C2H6CO2)の溶媒に溶解した。これにメタノールを調整して約5.0mlの最終溶液とした。
Claims (56)
- 基材の上に前駆体フィルムを形成するために第一前駆体溶液を堆積させる工程(前記第一前駆体溶液が、1種以上の溶媒に希土類元素の塩、アルカリ土類金属の塩、遷移金属の塩を含む希土類−アルカリ土類金属−遷移金属酸化物の前駆体成分を含有する溶液であって、前記塩の少なくとも1種がフッ素含有塩であり、遷移金属のアルカリ土類金属に対する比率が1.5より大きい)と、
希土類−アルカリ土類金属−遷移金属酸化物超伝導体を形成するために前記前駆体フィルムを処理する工程(前駆体フィルム内の遷移金属のアルカリ土類金属に対する全体的比率が1.5より大きく、酸化物超伝導体の全体的厚みが約0.8μmより厚い)と、
を含む酸化物超伝導体フィルムの製造方法。 - 前記前駆体フィルムの処理工程が、
第一前駆体溶液の希土類、アルカリ土類金属、遷移金属を含む中間体金属酸化フッ化物フィルム形成のために前駆体フィルムを処理する工程;
希土類−アルカリ土類金属−遷移金属酸化物超伝導体を形成するために前記中間体金属酸化フッ化物フィルムを加熱する工程;
を含む請求項1記載の製造方法。 - 前記金属酸化フッ化物フィルムが、イットリウム、バリウム、銅を含み、基材と金属酸化フッ化物との界面近傍においてバリウム:銅が約2:3の比率である請求項2記載の製造方法。
- 前記遷移金属のアルカリ土類金属に対する比率が約1.6より大きい請求項1記載の製造方法。
- 前記遷移金属のアルカリ土類金属に対する比率が約1.5〜約1.8である請求項1記載の製造方法。
- 前記遷移金属が銅を含有し、アルカリ土類金属がバリウムを含有する請求項1記載の製造方法。
- 前記第一前駆体溶液が少なくとも約5モル%の銅を過剰に含有する請求項6記載の製造方法。
- 前記第一前駆体溶液が少なくとも約20モル%の銅を過剰に含有する請求項6記載の製造方法。
- 前記第一前駆体溶液が少なくとも5モル%のバリウムが不足する請求項6記載の製造方法。
- 前記第一前駆体溶液が少なくとも20モル%のバリウムが不足する請求項6記載の製造方法。
- 前記第一前駆体溶液が約1.0μmより厚い厚みで堆積される請求項1記載の製造方法。
- 前記酸化物超伝導体が約1.0μmより厚い全体的厚みを有する請求項1記載の製造方法。
- 前記第一前駆体溶液が2以上の堆積工程により堆積される請求項1記載の製造方法。
- 前記前駆体フィルムの堆積工程が、さらに
第二前駆体溶液を堆積させる工程(前記第二前駆体溶液が、1種以上の溶媒に希土類元素の塩、アルカリ土類金属の塩、遷移金属の塩を含む希土類−アルカリ土類金属−遷移金属酸化物の前駆体成分を含有する溶液であって、前記塩の少なくとも1種がフッ素含有塩であり、遷移金属のアルカリ土類金属に対する比率が少なくとも1.5であり、前記第二前駆体の組成が前記第一前駆体の組成とは異なる)、
を含む請求項1記載の製造方法。 - 前記第二前駆体溶液が、超伝導体フィルム内に磁束ピニングサイト形成のため選択された添加成分またはドープ成分を一つ以上含む請求項14記載の製造方法。
- 前記添加成分が、前駆体フィルム処理の条件下で第2相ナノ粒子を形成する可溶性成分を含む請求項15記載の製造方法。
- 前記可溶性成分が、希土類、アルカリ土類金属、遷移金属、セリウム、ジルコニウム、銀、アルミニウム、マグネシウムからなる群より選択される、請求項16記載の製造方法。
- 前記ドープ成分が、酸化物超伝導体の希土類、アルカリ土類金属、又は遷移金属の一部を置換できる金属である請求項15記載の製造方法。
- 前記第二前駆体溶液が第一前駆体溶液より先に堆積される請求項14記載の製造方法。
- 前記第二前駆体溶液が第一前駆体溶液より後に堆積される請求項14記載の製造方法。
- 前記第二前駆体溶液が、約0.8μmより小さい全体的厚みを有する酸化物超伝導体を形成するように堆積される請求項14記載の製造方法。
- 前記基材が2軸延伸されており;
前記酸化物超伝導体が2軸延伸され、幅方向に実質的に一定のc軸配向を有し、酸化物超伝導体の前記c軸配向が基材表面に対して実質的に垂直である、請求項1記載の製造方法。 - 前記第一前駆体溶液が、超伝導体フィルム内に磁束ピニングサイト形成のため選択された添加成分またはドープ成分を一つ以上含む請求項14記載の製造方法。
- 前記添加成分が、前駆体フィルム処理の条件下で第2相ナノ粒子を形成する可溶性成分を含む請求項24記載の製造方法。
- 前記可溶性成分が、希土類、アルカリ土類金属、遷移金属、セリウム、ジルコニウム、銀、アルミニウム、マグネシウムからなる群より選択される、請求項25記載の製造方法。
- 前記ドープ成分が、酸化物超伝導体の希土類、アルカリ土類金属、または遷移金属の一部を置換できる金属である請求項24記載の製造方法。
- (i)以下の溶液により任意の順に、基材上に前駆体フィルムを形成する工程と;
1種以上の溶媒と遷移金属の塩からなる第一前駆体溶液;
1種以上の溶媒に希土類元素の塩、アルカリ土類金属の塩、遷移金属の塩を含む希土類−アルカリ土類金属−遷移金属酸化物の前駆体成分を含有する溶液であって、前記塩の少なくとも1種がフッ素含有塩であり、遷移金属のアルカリ土類金属に対する比率が少なくとも1.5の第二前駆体溶液、
(ii)希土類−アルカリ土類金属−遷移金属酸化物超伝導体を形成するために前記前駆体フィルムを処理する工程と;
前駆体フィルム内の遷移金属のアルカリ土類金属に対する全体的比率が1.5より大きく、酸化物超伝導体の全体的厚みが0.8μmより厚い、
前記工程を含む、超伝導体フィルムの製造方法。 - 前記前駆体フィルムを処理する工程が;
前記第一前駆体溶液および第二前駆体溶液の希土類、アルカリ土類金属、および遷移金属を含む中間体フィルムを形成するために前駆体フィルムを処理する工程;と
希土類−アルカリ土類金属−遷移金属酸化物超伝導体を形成するために前記中間体フィルムを加熱処理する工程;
を含む請求項27記載の製造方法。 - 前記前駆体フィルムが前駆体溶液の金属成分を含む中間体フィルムを形成するために前駆体溶液の堆積後に加熱される請求項28記載の製造方法。
- 前記遷移金属のアルカリ土類金属に対する全体的比率が約1.6より大きい請求項27記載の製造方法。
- 前記遷移金属のアルカリ土類金属に対する全体的比率が約1.5〜約1.8の範囲である請求項27記載の製造方法。
- 前記第一前駆体溶液が基本的に銅からなる請求項27記載の製造方法。
- 前記第一前駆体溶液が、第二前駆体溶液より先に堆積される請求項27記載の製造方法。
- 前記第二前駆体溶液のバリウム対銅の比率が約1.5である請求項27記載の製造方法。
- 前記第二前駆体溶液が、ピニング中心形成のため選択された添加成分またはドープ成分を一つ以上含む請求項34記載の製造方法。
- 前記第二前駆体溶液のバリウム対銅の比率が約1.5より大きい請求項27記載の製造方法。
- 前記第二前駆体溶液が、ピニング中心形成のため選択された添加成分またはドープ成分を一つ以上含む請求項36記載の製造方法。
- 前記超伝導体フィルムの全体的厚みが約1.0μmより厚い請求項27記載の製造方法。
- 銅前駆体層形成のために基材の上に銅溶液を堆積させ;
前記銅前駆体層の上に、イットリウム、バリウム、銅を含み、バリウム対銅の比率が少なくとも1.5である第二前駆体溶液を堆積させる、
前記請求項27記載の製造方法。 - 前記基材が2軸延伸されており;
前記酸化物超伝導体が2軸延伸され、幅方向に実質的に一定のc軸配向を有し、酸化物超伝導体の前記c軸配向が基材表面に対して実質的に垂直である、請求項27記載の製造方法。 - 超伝導体層を有する2軸延伸基材を含む物品であって、前記超伝導体層が希土類バリウム銅酸化物超伝導体を含み;
前記超伝導体層が0.8μmより厚い厚みを有し;
前記超伝導体層のバリウム対銅の比率が1.5より大きく;
前記超伝導体層がフッ素を含有する;
物品。 - 前記基材が、酸化セリウム、酸化ランタンアルミニウム、酸化ランタンマンガン、酸化ストロンチウムチタン、酸化マグネシウム、酸化ネオジムガドリウム、酸化セリウム/イットリア安定化ジルコニアからなる群より選択される素材を含むバッファ層を有する基材である請求項41記載の物品。
- バリウム対銅の比率が約1.6より大きい請求項41記載の物品。
- 前記酸化物超伝導体の厚みが約1.0μmより厚い請求項41記載の物品。
- 超伝導体層が、温度77Kにおいて、少なくとも200Amps/cmWの臨界電流密度を有する請求項41記載の物品。
- 基材上の金属酸化フッ化物フィルムが、1以上の希土類元素、1以上のアルカリ土類金属、1以上の遷移金属を含み;
フィルムの厚みが0.8μmより厚く、遷移金属のアルカリ土類金属に対する比率が1.5より大きく、基材と金属酸化フッ化物の界面近傍においてバリウム:銅の比率が約2:3のフィルムである、
金属酸化フッ化物フィルム。 - 前記基材が、酸化セリウム、酸化ランタンアルミニウム、酸化ランタンマンガン、酸化ストロンチウムチタン、酸化マグネシウム、酸化ネオジムガドリウム、酸化セリウム/イットリア安定化ジルコニアからなる群より選択される素材を含むバッファ層を有する基材である請求項46記載の金属酸化フッ化物フィルム。
- バリウム対銅の比率が1.6より大きい請求項46記載の金属酸化フッ化物フィルム。
- フィルムの厚みが1.0μmより厚い請求項46記載の金属酸化フッ化物フィルム。
- 次の工程を含むプロセスにより製造された酸化物超伝導体。
前駆体溶液内の遷移金属のアルカリ土類金属に対する比率が1.5より大きくなるように調製する工程;
前駆体フィルムを基材上に形成するために前記前駆体溶液を堆積させる工程;
前駆体フィルムと基材との界面近傍における遷移金属のアルカリ土類金属に対する比率が約1.5になるように前駆体フィルムを分解再生する工程であって、
酸化物超伝導体内の遷移金属のアルカリ土類金属に対する全体的比率が1.5より大きく、酸化物超伝導体の全体的厚みが0.8μmより厚くなるように前記分解再生する工程。 - 前記遷移金属のアルカリ土類金属に対する比率を調製する工程において、前駆体溶液内の遷移金属濃度を増量させる工程を含む請求項50に記載のプロセスにより製造された酸化物超伝導体。
- 前駆体溶液内の遷移金属濃度を少なくとも5%増量させる請求項50に記載のプロセスにより製造された酸化物超伝導体。
- 前駆体溶液内の遷移金属濃度を少なくとも20%増量させる請求項50に記載のプロセスにより製造された酸化物超伝導体。
- 前記遷移金属のアルカリ土類金属に対する比率を調製する工程において、前駆体溶液内のアルカリ土類金属濃度を減量させる工程を含む請求項50に記載のプロセスにより製造された酸化物超伝導体。
- 前駆体溶液内のアルカリ土類金属濃度を少なくとも5%減量させる請求項54に記載のプロセスにより製造された酸化物超伝導体。
- 前駆体溶液内のアルカリ土類金属濃度を少なくとも20%減量させる請求項54に記載のプロセスにより製造された酸化物超伝導体。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US61528904P | 2004-10-01 | 2004-10-01 | |
US60/615,289 | 2004-10-01 | ||
US70383605P | 2005-07-29 | 2005-07-29 | |
US60/703,836 | 2005-07-29 | ||
PCT/US2005/035521 WO2006137898A2 (en) | 2004-10-01 | 2005-09-30 | Thick superconductor films with improved performance |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008514545A true JP2008514545A (ja) | 2008-05-08 |
JP2008514545A5 JP2008514545A5 (ja) | 2013-08-22 |
JP5415696B2 JP5415696B2 (ja) | 2014-02-12 |
Family
ID=38687498
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007534868A Active JP5415696B2 (ja) | 2004-10-01 | 2005-09-30 | 機能が向上された厚膜超伝導フィルム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5415696B2 (ja) |
KR (1) | KR100910601B1 (ja) |
CN (1) | CN101258618B (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011113665A (ja) * | 2009-11-24 | 2011-06-09 | International Superconductivity Technology Center | 希土類系酸化物超電導線材の製造方法 |
JP2011121804A (ja) * | 2009-12-09 | 2011-06-23 | National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology | 超電導膜の製造方法 |
KR20180048802A (ko) * | 2015-08-26 | 2018-05-10 | 아메리칸 수퍼컨덕터 코포레이션 | 균일한 이온 주입식 피닝 마이크로구조를 갖는 긴 길이의 고온 초전도 와이어 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5445982B2 (ja) * | 2009-12-09 | 2014-03-19 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 希土類超電導膜形成用溶液およびその製造方法 |
CN102568694A (zh) * | 2010-12-23 | 2012-07-11 | 吴仕驹 | 高温超导体及其制备方法 |
CN102255041B (zh) * | 2011-07-13 | 2013-07-03 | 中国科学院电工研究所 | 一种ybco超导薄膜的制备方法 |
CN102584204A (zh) * | 2012-02-12 | 2012-07-18 | 中国科学院电工研究所 | 一种ybco超导复合薄膜的制备方法 |
KR20160006829A (ko) | 2014-07-09 | 2016-01-20 | 서울대학교산학협력단 | 초전도체, 초전도 선재, 및 초전도체 형성방법 |
KR101719266B1 (ko) * | 2016-06-27 | 2017-04-06 | 서울대학교산학협력단 | 초전도체, 초전도 선재, 및 초전도체 형성방법 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01160857A (ja) * | 1987-12-18 | 1989-06-23 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | 超伝導セラミックスおよびその製造法 |
JPH01219019A (ja) * | 1988-02-29 | 1989-09-01 | Nec Corp | 酸化物超伝導体膜の製造方法 |
US5231074A (en) * | 1990-04-17 | 1993-07-27 | Massachusetts Institute Of Technology | Preparation of highly textured oxide superconducting films from mod precursor solutions |
JP2002284525A (ja) * | 2001-03-27 | 2002-10-03 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 特定の金属種に特定の配位子を配位させた金属錯体を含む溶液組成物、希土類超電導膜製造用溶液組成物、特定金属錯体の非結晶固形物、特定の金属種に特定の配位子を配位させた金属錯体を含む溶液の製造方法、希土類超電導膜製造用溶液の製造方法、及び超電導薄膜の形成方法。 |
JP2003505888A (ja) * | 1999-07-23 | 2003-02-12 | アメリカン スーパーコンダクター コーポレイション | 多層体を作製するための方法及び組成物 |
JP2003505887A (ja) * | 1999-07-23 | 2003-02-12 | アメリカン スーパーコンダクター コーポレイション | 接合高温超伝導性被覆テープ |
JP2003124534A (ja) * | 2001-10-12 | 2003-04-25 | Fujitsu Ltd | 高温超伝導体膜及びその形成方法並びに超伝導素子 |
JP2003327496A (ja) * | 2002-05-10 | 2003-11-19 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 超電導体の製造方法 |
JP2004155618A (ja) * | 2002-11-07 | 2004-06-03 | Hitachi Ltd | 酸化物系超伝導部材とその製造方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU751092B2 (en) * | 1997-06-18 | 2002-08-08 | Massachusetts Institute Of Technology | Controlled conversion of metal oxyfluorides into superconducting oxides |
CN1364322A (zh) * | 1999-07-23 | 2002-08-14 | 美国超导公司 | 涂布的导体的厚膜前体 |
US6332967B1 (en) | 1999-11-23 | 2001-12-25 | Midwest Research Institute | Electro-deposition of superconductor oxide films |
-
2005
- 2005-09-30 JP JP2007534868A patent/JP5415696B2/ja active Active
- 2005-09-30 CN CN2005800389076A patent/CN101258618B/zh active Active
- 2005-09-30 KR KR1020077009908A patent/KR100910601B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01160857A (ja) * | 1987-12-18 | 1989-06-23 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | 超伝導セラミックスおよびその製造法 |
JPH01219019A (ja) * | 1988-02-29 | 1989-09-01 | Nec Corp | 酸化物超伝導体膜の製造方法 |
US5231074A (en) * | 1990-04-17 | 1993-07-27 | Massachusetts Institute Of Technology | Preparation of highly textured oxide superconducting films from mod precursor solutions |
JP2003505888A (ja) * | 1999-07-23 | 2003-02-12 | アメリカン スーパーコンダクター コーポレイション | 多層体を作製するための方法及び組成物 |
JP2003505887A (ja) * | 1999-07-23 | 2003-02-12 | アメリカン スーパーコンダクター コーポレイション | 接合高温超伝導性被覆テープ |
JP2002284525A (ja) * | 2001-03-27 | 2002-10-03 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 特定の金属種に特定の配位子を配位させた金属錯体を含む溶液組成物、希土類超電導膜製造用溶液組成物、特定金属錯体の非結晶固形物、特定の金属種に特定の配位子を配位させた金属錯体を含む溶液の製造方法、希土類超電導膜製造用溶液の製造方法、及び超電導薄膜の形成方法。 |
JP2003124534A (ja) * | 2001-10-12 | 2003-04-25 | Fujitsu Ltd | 高温超伝導体膜及びその形成方法並びに超伝導素子 |
JP2003327496A (ja) * | 2002-05-10 | 2003-11-19 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 超電導体の製造方法 |
JP2004155618A (ja) * | 2002-11-07 | 2004-06-03 | Hitachi Ltd | 酸化物系超伝導部材とその製造方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011113665A (ja) * | 2009-11-24 | 2011-06-09 | International Superconductivity Technology Center | 希土類系酸化物超電導線材の製造方法 |
JP2011121804A (ja) * | 2009-12-09 | 2011-06-23 | National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology | 超電導膜の製造方法 |
KR20180048802A (ko) * | 2015-08-26 | 2018-05-10 | 아메리칸 수퍼컨덕터 코포레이션 | 균일한 이온 주입식 피닝 마이크로구조를 갖는 긴 길이의 고온 초전도 와이어 |
KR102019615B1 (ko) * | 2015-08-26 | 2019-09-06 | 아메리칸 수퍼컨덕터 코포레이션 | 균일한 이온 주입식 피닝 마이크로구조를 갖는 긴 길이의 고온 초전도 와이어 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5415696B2 (ja) | 2014-02-12 |
KR20070093050A (ko) | 2007-09-17 |
CN101258618A (zh) | 2008-09-03 |
CN101258618B (zh) | 2010-04-14 |
KR100910601B1 (ko) | 2009-08-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7622424B2 (en) | Thick superconductor films with improved performance | |
JP5057784B2 (ja) | ナノドットフラックス・ピン止めセンターを有する酸化物膜 | |
JP5415696B2 (ja) | 機能が向上された厚膜超伝導フィルム | |
AU2006346993B8 (en) | High temperature superconducting wires and coils | |
US7902120B2 (en) | High temperature superconductors having planar magnetic flux pinning centers and methods for making the same | |
US6399154B1 (en) | Laminate article | |
US6440211B1 (en) | Method of depositing buffer layers on biaxially textured metal substrates | |
US6730410B1 (en) | Surface control alloy substrates and methods of manufacture therefor | |
US6226858B1 (en) | Method of manufacturing an oxide superconductor wire | |
JP2008514545A5 (ja) | ||
US20060199741A1 (en) | Superconductor layer and method of manufacturing the same | |
JP2003526905A (ja) | 多層体及びその製造方法 | |
JP5799081B2 (ja) | 単層コーティングによる酸化物厚膜 | |
JP2009295579A (ja) | 被覆された導体のための、形状を変化させた基板の製造方法及び上記基板を使用する被覆された導体 | |
Beauquis et al. | Scaling-up of High-T C tapes by MOCVD, spray pyrolysis and MOD processes |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080930 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080930 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20080930 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20080930 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120104 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20120403 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20120410 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120412 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120911 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20121210 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121217 |
|
A524 | Written submission of copy of amendment under article 19 pct |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524 Effective date: 20121217 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20121217 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20121217 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130423 |
|
A524 | Written submission of copy of amendment under article 19 pct |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524 Effective date: 20130624 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20130624 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20131022 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20131114 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5415696 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |