JP2008512823A - テストストリップ用電気コネクター - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (18)
- コネクターと一致させるための少なくとも1つのコンタクトパッドを持つテストストリップに適用される体液中の重要な検体を測定するために適合される検査装置に使用されるコネクターであって、該コネクターは、
テストストリップが、挿入方向に移動されるときに、テストストリップを受け取るためのスロットを、そこに持っているハウジングと、
該スロットに隣接して配置された少なくとも1つのコンタクトワイヤとからなり、
該コンタクトは、最近接部および最近接部とスロットのあいだに配置されたコンタクト部を持ち、該コンタクトワイヤは、挿入位置でのテストストリップの挿入により、テストストリップが、コンタクト部に触れることもなくコンタクト部に隣接して通過しかつコンタクトワイヤとのテストストリップの最初の関与が、最近接部に起こるようにスロットに関して配置され、
そこでは、挿入方向でのスロット中への該テストストリップの挿入により、テストストリップが、最近接部をテストストリップから遠くに押しやり、またテストストリップのさらなる挿入により、コンタクトワイヤが、ハウジングと連動しかつそこからゆがめられ、それにより、コンタクト部をテストストリップに向けて押し込みまた少なくとも1つのパッドに関与するように押し込むことを特徴とするコネクター。 - 該ハウジングは、トップ部と底部を有し、また少なくとも1つのコンタクトワイヤの各々は、第1部分、第2部分および第3部分からなることを特徴とし、少なくとも1つのコンタクトワイヤの各々に対して、該テストストリップが、スロットを経由して挿入されると、テストストリップは、第1部分とハウジングの底部分のあいだを通りまた第1部分には触らなくて、
第1部分を通過した後、テストストリップは、コンタクトワイヤの第3部分とハウジングの底部分のあいだを通り、両者に触れて、コンタクトワイヤの第3部分は、ハウジングの底部分から移動しそしてテストストリップをハウジングの底部分に対して歪めて、
コンタクトワイヤが、ハウジングの底部分から移動するのに対応し、コンタクトワイヤの第2部分が、ハウジングのトップ部分に力を加え、そして
コンタクトワイヤが、ハウジングのトップ部分に力を加えるのに対応して、コンタクトワイヤの第1部分が、少なくとも1つのコンタクトパッドの各々をテストストリップ上に接触させるように、コンタクトワイヤが、変形されることを特徴とする請求項1記載のコネクター。 - コンタクトワイヤの接触部分は、テストストリップの挿入方向に対して実質的に法線方向に、力をハウジングに対して加えることを特徴とする請求項1記載のコネクター。
- 少なくとも1つのコンタクトワイヤが、2つ以上のコンタクトワイヤからなっていることを特徴とする請求項1または2記載のコネクター。
- 少なくとも1つのコンタクトワイヤが、6以上のコンタクトワイヤからなっていることを特徴とする請求項1または2記載のコネクター。
- 各コンタクトワイヤの接触部分は、銅および鉄からなる群からの合金の1つから作られていることを特徴とする請求項1または2記載のコネクター。
- 各コンタクトワイヤの接触部分が、ニッケル、NiPd、NiCo、Pd、PdCo、Sn、SnPb、Ag、Cu、AuおよびGeAgからなる群からの金属の1つでメッキされていることを特徴とする請求項1または2記載のコネクター。
- コンタクトワイヤの第2部分は、テストストリップの挿入方向に対して実質的に法線方向に、ハウジングトップ部分に対して力を加えることを特徴とする請求項2記載のコネクター。
- 各コンタクトワイヤの第1部分が、Ni上にAuでメッキされていることを特徴とする請求項2記載のコネクター。
- コネクターと一致させるための少なくとも1つのコンタクトパッドを持つテストストリップに適用される体液中の重要な検体を測定するために適合される検査装置に使用されるコネクターであって、該コネクターは、
ハウジング遠位端とハウジング最近接端を有するハウジングと、
テストストリップが、挿入方向でハウジング内に挿入されるときに、該テストストリップを受け取るためのハウジング遠位端中に形成されるスロットと、
ハウジング内に定められかつ該スロットに通じているワイヤキャビテイと、
テストストリップが、ハウジング内に挿入されるときに、少なくとも1つのコンタクトパッドの各1つと電気的接触を確立するために、該ワイヤキャビテイ内に配置されている少なくとも1つのコンタクトワイヤと、ワイヤキャビテイ内に配置されかつコンタクトワイヤ遠位端とコンタクトワイヤ最近接端を有している各少なくとも1つのコンタクトワイヤと、コンタクトワイヤ遠位端とコンタクトワイヤ最近接端のあいだに配置されたコンタクトワイヤ湾曲部とからなり、
該ワイヤキャビテイは、テストストリップが、ワイヤキャビテイ内に含まれるときに、テストストリップに対して実質的に垂直な方向で測定される最大高さHを持っていることを特徴とし、
静隠状態にある各少なくとも1つのコンタクトワイヤは、コンタクトワイヤ湾曲部とコンタクトワイヤ遠位端のあいだに、最大全コンタクトワイヤ高さCを持っていることを特徴とし、
該テストストリップは、該ワイヤキャビテイ内のテストストリップ最大高さTを持ち、H<C+Tであることを特徴とするコネクター。 - ハウジングと、
ハウジング中に配置されているコネクターと、
該コネクター中に挿入するために適合されるテストストリップであって、該テストストリップは、その上に少なくとも1つのコンタクトパッドを有し、
該コネクター中に挿入されるテストストリップの少なくとも1つのコンタクトパッドを経由して、電気的応答に基づく出力信号を生じるために適合される電子回路とからなる検査システムであって、
該コネクターは、少なくとも1つのコンタクトワイヤからなり、テストストリップが、コネクター中に挿入されるときに、該テストストリップが、該コンタクトワイヤに対して力を発揮し、該力は、該ハウジングに対してコンタクトワイヤを変形させ、該テストストリップ上のコンタクトパッドとコンタクトワイヤを電気的に通じさせるように、各コンタクトワイヤが、形成されていることを特徴とする検査システム。 - 該出力信号が、テストストリップに接触している体液サンプル中の検体の存在または濃度に対応していることを特徴とする請求項11記載の検査システム。
- 該コンタクトワイヤの接触部分は、ダイテストストリップの挿入方向に対して実質的に法線方向に、該ハウジングに力を加えることを特徴とする請求項11記載の検査システム。
- 該少なくとも1つのコンタクトワイヤが、2つ以上のコンタクトワイヤからなることを特徴とする請求項11記載の検査システム。
- 該少なくとも1つのコンタクトワイヤは、6以上のコンタクトワイヤからなることを特徴とする請求項11記載の検査システム。
- 各コンタクトワイヤの接触部分は、銅および鉄からなる群からの合金の1つから作られていることを特徴とする請求項11記載の検査システム。
- 各コンタクトワイヤの該接触部分が、ニッケル、NiPd、NiCo、Pd、PdCo、Sn、SnPb、Ag、Cu、AuおよびGeAgからなる群からの金属の1つでメッキされていることを特徴とする請求項11記載の検査システム。
- 検査装置内に配置されたコネクターと一致させるための少なくとも1つのコンタクトパッドを持つテストストリップに適用される体液中の重要な検体を測定するために適合される検査装置からなる検査システムであって、該コネクターは、
ハウジング遠位端とハウジング最近接端を有するハウジングと、
テストストリップが、挿入方向でハウジング内に挿入されるときに、該テストストリップを受け取るためのハウジング遠位端中に形成されるスロットと、
ハウジング内に定められかつ該スロットに通じているワイヤキャビテイと、
テストストリップが、ハウジング内に挿入されるときに、少なくとも1つのコンタクトパッドの各1つと電気的接触を確立するために、該ワイヤキャビテイ内に配置されている少なくとも1つのコンタクトワイヤと、ワイヤキャビテイ内に配置されかつコンタクトワイヤ遠位端とコンタクトワイヤ最近接端を有している各少なくとも1つのコンタクトワイヤと、コンタクトワイヤ遠位端とコンタクトワイヤ最近接端のあいだに配置されたコンタクトワイヤ湾曲部とからなり、
該ワイヤキャビテイは、テストストリップが、ワイヤキャビテイ内に含まれるときに、テストストリップに対して実質的に垂直な方向で測定される最大高さHを持っており、
静隠状態にあるが、各少なくとも1つのコンタクトワイヤは、コンタクトワイヤ湾曲部とコンタクトワイヤ遠位端のあいだに、最大全コンタクトワイヤ高さCを持っており、
該テストストリップは、該ワイヤキャビテイ内のテストストリップ最大高さTを持ち、またH<C+Tであることを特徴とする検査システム。
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US20080020452A1 (en) * | 2006-07-18 | 2008-01-24 | Natasha Popovich | Diagnostic strip coding system with conductive layers |
US8821799B2 (en) * | 2007-01-26 | 2014-09-02 | Palo Alto Research Center Incorporated | Method and system implementing spatially modulated excitation or emission for particle characterization with enhanced sensitivity |
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CN101772702A (zh) * | 2007-03-28 | 2010-07-07 | 爱科来株式会社 | 分析装置 |
CN101815941A (zh) * | 2007-07-31 | 2010-08-25 | 拜尔健康护理有限责任公司 | 检测传感器和使用侧装式测量计接触件的方法 |
US8373860B2 (en) * | 2008-02-01 | 2013-02-12 | Palo Alto Research Center Incorporated | Transmitting/reflecting emanating light with time variation |
US8629981B2 (en) * | 2008-02-01 | 2014-01-14 | Palo Alto Research Center Incorporated | Analyzers with time variation based on color-coded spatial modulation |
DE102008002267B3 (de) * | 2008-06-06 | 2009-11-26 | Friz Biochem Gesellschaft Für Bioanalytik Mbh | Elektrisches Subtrat zum Einsatz als Träger von Biomolekülen |
DE102008050755A1 (de) * | 2008-10-07 | 2010-04-08 | Siemens Aktiengesellschaft | Elektrisches Gerät mit einem elektrischen Anschluss |
US8723140B2 (en) | 2011-08-09 | 2014-05-13 | Palo Alto Research Center Incorporated | Particle analyzer with spatial modulation and long lifetime bioprobes |
US9029800B2 (en) | 2011-08-09 | 2015-05-12 | Palo Alto Research Center Incorporated | Compact analyzer with spatial modulation and multiple intensity modulated excitation sources |
US9933409B2 (en) | 2011-11-15 | 2018-04-03 | Roche Diabetes Care, Inc. | Strip connector with reliable insertion and ejection |
CN103311694B (zh) * | 2012-03-08 | 2016-03-09 | 立讯精密工业股份有限公司 | 连接器 |
EP2927319A1 (en) | 2014-03-31 | 2015-10-07 | Roche Diagnostics GmbH | High load enzyme immobilization by crosslinking |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05249068A (ja) * | 1991-07-15 | 1993-09-28 | Boehringer Mannheim Gmbh | 電気化学的分析装置 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB622922A (en) | 1944-09-28 | 1949-05-10 | Rowe & Co Proprietary Ltd H | Improvements in electrical connecting means of the plug and socket type |
US2802188A (en) | 1955-11-21 | 1957-08-06 | Bell Telephone Labor Inc | Electrical socket connector for printed circuit boards |
US3899234A (en) | 1974-03-20 | 1975-08-12 | Amp Inc | Low insertion force cam actuated printed circuit board connector |
US4129351A (en) | 1974-06-20 | 1978-12-12 | Matsushita Electric Industrial Company, Limited | Connector assembly for printed circuit board |
US3980376A (en) | 1975-07-24 | 1976-09-14 | Sanders Associates, Inc. | Zero insertion/retraction force connector |
FR2395676A1 (fr) | 1977-06-23 | 1979-01-19 | Doloise Metallurgique | Connecteur pour carte imprimee |
US4327955A (en) | 1979-09-24 | 1982-05-04 | Minter Jerry B | Reduced insertion force connector |
US4303294A (en) | 1980-03-17 | 1981-12-01 | Amp Incorporated | Compound spring contact |
FR2570550B1 (fr) | 1984-09-18 | 1986-12-05 | Bonhomme F R | Perfectionnements aux dispositifs de connexion pour cartes de circuits imprimes |
NL8500587A (nl) | 1985-03-01 | 1986-10-01 | Du Pont Nederland | Kaartleeshouder. |
US4713020A (en) | 1987-01-29 | 1987-12-15 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Connector unit |
US4887974A (en) | 1988-02-03 | 1989-12-19 | Japan Aviation Electronics Industry, Limited | Connector |
US4894022A (en) | 1988-07-28 | 1990-01-16 | Hewlett-Packard Company | Solderless surface mount card edge connector |
US4904197A (en) | 1989-01-13 | 1990-02-27 | Itt Corporation | High density zif edge card connector |
JP3141548B2 (ja) * | 1992-07-30 | 2001-03-05 | アイシン精機株式会社 | ドア閉鎖装置 |
FR2710413B1 (fr) | 1993-09-21 | 1995-11-03 | Asulab Sa | Dispositif de mesure pour capteurs amovibles. |
US5427533A (en) | 1993-11-02 | 1995-06-27 | Northrop Grumman Corporation | Zero insertion force connector |
GB9508690D0 (en) | 1995-04-28 | 1995-06-14 | Amp Gmbh | Zero insertion force connector with wiping action |
US5722845A (en) | 1996-09-19 | 1998-03-03 | Northern Telecom Limited | Electrical connectors |
US6015311A (en) | 1996-12-17 | 2000-01-18 | The Whitaker Corporation | Contact configuration for smart card reader |
JP3346239B2 (ja) | 1997-09-19 | 2002-11-18 | 株式会社村田製作所 | 電子部品の製造方法 |
US5913699A (en) | 1997-11-03 | 1999-06-22 | Molex Incorporated | Laminated spring structure and flexible circuitry connector incorporating same |
FR2793353B1 (fr) | 1999-05-07 | 2001-06-01 | Itt Mfg Enterprises Inc | Connecteur electrique monobloc pour le raccordement d'une carte a circuit(s) integre(s) |
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Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05249068A (ja) * | 1991-07-15 | 1993-09-28 | Boehringer Mannheim Gmbh | 電気化学的分析装置 |
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