JP2008304358A - Device for inspecting leakage of enclosed component and its inspection method - Google Patents

Device for inspecting leakage of enclosed component and its inspection method Download PDF

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JP2008304358A JP2007152647A JP2007152647A JP2008304358A JP 2008304358 A JP2008304358 A JP 2008304358A JP 2007152647 A JP2007152647 A JP 2007152647A JP 2007152647 A JP2007152647 A JP 2007152647A JP 2008304358 A JP2008304358 A JP 2008304358A
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Yasuko Kato
泰子 加藤
Takayuki Shibuya
孝幸 澁谷
Atsushi Otani
篤史 大谷
Koichi Kitagishi
浩一 北岸
Shigeru Kawamura
成 川村
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a leakage inspection device for enclosed components which can inspect leakage of an enclosed component in the same environment as that where the enclosed component is actually used, specify a plurality of leaking spots in the enclosed component, reduces cost, and perform inspection of the enclosed component nondestructively through the use of an electromagnetic wave. <P>SOLUTION: This leakage inspection device 10 for enclosed components is employed to inspect whether a predetermined leakage substance leaks from a sealed space 23 of the enclosed component 20 having the sealed space 23, and includes: an irradiation part 11 for emitting an electromagnetic wave L having a wavelength which passes through a forming material of the enclosed component 20 and is absorbed by a leakage substance, to the enclosed component 20; a detection part 15 for detecting an electromagnetic wave L having passed through the enclosed component 20 or being a reflection from the surface of the enclosed component 20, and converting it into an electric signal; a calculation part 16 for calculating a leakage amount of the leakage substance from the electric signal; and a determination part 17 for determining by using the leakage amount whether the leakage of the enclosed component 20 is conforming. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、密閉部品の漏れ検査装置およびその検査方法に関し、特に電磁波を用いて密閉部品の漏れを検査する検査装置およびその検査方法に関する。   The present invention relates to a leakage inspection apparatus for a sealed part and an inspection method thereof, and more particularly to an inspection apparatus and an inspection method for inspecting leakage of a sealed part using electromagnetic waves.

従来、密閉空間を有する密閉部品が広く用いられている。この種の密閉部品の密閉空間には、例えばセンサなどの電子部品が封入されている。このような密閉部品は、車などに搭載されて用いられており、車の使用状況に応じてさまざまな環境にさらされる。そのため、密閉部品が漏れを有していると、使用環境によっては、水などの漏れ物質が内部の密閉空間に侵入し、内部に封入されている電子部品が故障する原因となり得る。   Conventionally, a sealed part having a sealed space has been widely used. An electronic part such as a sensor is enclosed in a sealed space of this type of sealed part. Such a sealed part is used by being mounted on a car or the like, and is exposed to various environments depending on the use condition of the car. For this reason, if the sealed component has a leak, depending on the usage environment, a leaking substance such as water may enter the sealed space inside and cause a failure of the electronic component sealed inside.

そこで、密閉部品の漏れを検査する検査装置またはその検査方法が提案されている。
例えば、JIS Z 2331附属書8には、密閉部品の漏れ検査方法として、図13および図14に示す装置を用いた浸せき法(ボンビング法)が開示されている。図13は、密閉部品にヘリウムガスを注入する装置400を示している。また、図14は、密閉容器から漏れ出したヘリウムガスを検出する装置500を示している。この検査方法では、図13に示すように、密閉空間101を有する密閉部品100をボンビングタンク401に入れ、排気装置403によりボンビングタンク401内を減圧することにより、密閉部品100を減圧下におく。そして、密閉部品100が漏れを有する場合には、密閉空間101も減圧される。次にヘリウムガスタンク402からボンビングタンク401にヘリウムガスを注入する。密閉部品100が漏れを有する場合には、その密閉空間101にヘリウムが侵入する。次ぎに、この密閉部品100を、図14に示す真空容器504に入れ、排気装置503により真空容器504内を減圧する。漏れのある密閉部品100の密閉空間101に侵入していたヘリウムガスは、密閉空間101から外側の真空容器504内に放出され、この漏れをヘリウム漏れ検出器501で測定することにより漏れの有無および漏れ量を測定する。
Therefore, an inspection apparatus or an inspection method for inspecting leakage of sealed parts has been proposed.
For example, JIS Z 2331 Annex 8 discloses a dipping method (bombing method) using the apparatus shown in FIG. 13 and FIG. 14 as a leakage inspection method for sealed parts. FIG. 13 shows an apparatus 400 for injecting helium gas into a sealed part. FIG. 14 shows an apparatus 500 for detecting helium gas leaking from the sealed container. In this inspection method, as shown in FIG. 13, the sealed component 100 having the sealed space 101 is placed in a bombing tank 401, and the inside of the bombing tank 401 is decompressed by the exhaust device 403, whereby the sealed component 100 is reduced in pressure. deep. When the sealed component 100 has a leak, the sealed space 101 is also decompressed. Next, helium gas is injected from the helium gas tank 402 into the bombing tank 401. If the sealed component 100 has a leak, helium enters the sealed space 101. Next, this sealed component 100 is put into a vacuum container 504 shown in FIG. 14, and the inside of the vacuum container 504 is decompressed by the exhaust device 503. The helium gas that has entered the sealed space 101 of the leaking sealed component 100 is released from the sealed space 101 into the outer vacuum vessel 504, and by measuring this leak with the helium leak detector 501, the presence or absence of the leak and Measure the leak rate.

また、密閉部品の漏れている部位を特定する方法として、JIS Z 2331附属書4に示される吸い込み法(スニッファー法)が開示されている。図15は、密閉容器から漏れ出したヘリウムガスを検出する装置600を示している。この方法では、上述したように密閉空間内にヘリウムガスが封入された密閉部品100を、図15に示すように、真空容器602に入れ、排気装置603により真空容器602内を減圧する。この減圧下において、密閉部品100の表面を、スニッファープローブ601を用いてなぞりながら、密閉部品100の漏れている部位の検出を行う。   Further, as a method for identifying the leaking part of the sealed part, a suction method (sniffer method) disclosed in JIS Z 2331 Annex 4 is disclosed. FIG. 15 shows an apparatus 600 for detecting helium gas leaking from the sealed container. In this method, as described above, the sealed component 100 in which helium gas is sealed in the sealed space is placed in the vacuum container 602 as shown in FIG. 15, and the inside of the vacuum container 602 is decompressed by the exhaust device 603. Under this reduced pressure, the leakage part of the sealed part 100 is detected while tracing the surface of the sealed part 100 using the sniffer probe 601.

また、特許文献1には、密閉空間を有する密閉部品の製造時に、あらかじめ密閉空間内にヘリウムガスなどを封入しておき、図13に示すボンビング操作を不要とする密閉部品の漏れ検査装置が開示されている。   Further, Patent Document 1 discloses a leakage inspection apparatus for a sealed part in which helium gas or the like is enclosed in the sealed space in advance when manufacturing a sealed part having a sealed space, and the bombing operation shown in FIG. 13 is unnecessary. Has been.

しかし、上述した密閉部品の漏れ検査装置またはその検査方法では、漏れ物質として、ヘリウムガスなどの特定の物質を用いる必要があり、密閉部品が実際に使用される環境で密閉空間内に侵入する漏れ物質を用いて漏れ検査を行うことができない。また、上述した漏れ検査において、密閉空間に漏れ物質が侵入する時の圧力を、密閉部品が実際に使用される環境で密閉空間内に漏れ物質が圧入される圧力にすることが難しい場合がある。   However, in the above-described leakage inspection apparatus for sealed parts or the inspection method thereof, it is necessary to use a specific substance such as helium gas as a leakage substance, and leakage that enters the sealed space in an environment where the sealed part is actually used. The substance cannot be used for leak inspection. In the above-described leak inspection, it may be difficult to set the pressure when the leaking substance enters the sealed space to a pressure at which the leaking substance is pressed into the sealed space in an environment where the sealed part is actually used. .

また、スニッファープローブを用いる方法は、1つの密閉部品における2か所以上の部位で漏れが生じている場合には、スニッファープローブが、漏れたヘリウムガスを吸引してしまうので、漏れている部位を正確に特定することが難しい。そこで、複数個所の漏れを測定できるように、漏れを判定する検出濃度のしきい値を高く設定した場合には、漏れ自体を正確に検出できないという問題点が生じる。また、これらの問題点を解決するために、スニッファープローブを、密閉部品に接近させて検査する方法もあるが、この方法では、スニッファープローブの機械的な走査が必要となるので、検査時間が長くなること、また複雑な形状を有する密閉部品の検査を行えないという新たな問題点が生じる。
また、多数の密閉部品を検査するために、値段の高いヘリウムガスを用いることは、密閉部品の製造コストを増加させる。
Further, in the method using the sniffer probe, when leakage occurs at two or more sites in one sealed part, the sniffer probe sucks out the leaked helium gas, and thus leaks. It is difficult to specify the site accurately. Therefore, when the threshold value of the detection concentration for determining leakage is set high so that leakage at a plurality of locations can be measured, there arises a problem that the leakage itself cannot be detected accurately. In addition, in order to solve these problems, there is a method of inspecting the sniffer probe close to the sealed part. However, this method requires mechanical scanning of the sniffer probe, so that the inspection time is reduced. As a result, a new problem arises in that a sealed part having a complicated shape cannot be inspected.
Also, using expensive helium gas to inspect a large number of sealed parts increases the manufacturing cost of the sealed parts.

さらに、密閉部品の漏れは、漏れ物質が、外部から内部に向かって侵入する場合と、内部から外部に向かって放出される場合とでは、一般に、漏れ物質の挙動が可逆ではないことが知られている。このため、外部から内部に向かって侵入させたヘリウムガスを、内部から外部に向かって放出させる従来の検査方法では、100%の漏れ量を検出できないという根本的な問題点がある。   Furthermore, it is known that leakage of sealed parts is generally not reversible when the leaking substance enters from the outside to the inside and when the leaking substance is released from the inside to the outside. ing. For this reason, the conventional inspection method in which helium gas that has entered from the outside toward the inside discharges from the inside toward the outside has a fundamental problem in that 100% leakage cannot be detected.

また、特許文献2から特許文献4には、電磁波を用いて非破壊で物質の内部を検査する検査装置およびその検査方法が開示されている。   Patent Documents 2 to 4 disclose an inspection apparatus and an inspection method for inspecting the inside of a substance nondestructively using electromagnetic waves.

特開2002−134164号公報JP 2002-134164 A 特開2006−170718号公報JP 2006-170718 A 特開2006−17418号公報JP 2006-17418 A 特開2006−105646号公報JP 2006-105646 A

本発明は、上記問題点を解決することを課題とし、密閉部品が実際に使用される環境で、密閉部品の外部から内部に向かって侵入するか、または、密閉部品の内部から外部に向かって放出される物質を漏れ物質として用いることができ、密閉部品が実際に使用される環境で、漏れ物質が、密閉部品の外部から内部に向かって侵入するか、または、密閉部品の内部から外部に向かって放出される圧力を用いることができ、密閉部品に生じている複数の漏れ箇所を特定でき、コストが低く、電磁波を用いて非破壊で検査可能な、密閉部品の漏れ検査装置およびその検査方法を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to solve the above-described problems, and in an environment where the sealed part is actually used, the sealed part enters from the outside to the inside or from the inside of the sealed part to the outside. The released substance can be used as a leaking substance, and in an environment where the sealed part is actually used, the leaking substance enters from the outside to the inside of the sealed part, or from the inside of the sealed part to the outside. Leakage inspection device for sealed parts and its inspection, which can use the pressure released toward it, can identify a plurality of leakage points occurring in sealed parts, is low in cost and can be inspected non-destructively using electromagnetic waves It aims to provide a method.

上記課題を解決するため、請求項1に記載の密閉部品の漏れ検査装置は、密閉空間(23)を有する密閉部品(20)の該密閉空間(23)が、所定の物質に対して漏れを有するのかを検査する装置であって、上記密閉部品(20)の形成材料を透過し且つ上記物質に吸収される波長を有する電磁波(L)を、上記密閉部品(20)に照射する照射部(11)と、上記密閉部品(20)を透過したか、または、該密閉部品(20)の表面から反射した上記電磁波(L)を検出して電気信号に変換する検出部(15)と、上記電気信号から上記物質の漏れ量を演算する演算部(16)と、上記漏れ量を用いて、上記密閉部品(20)の漏れの良否を判定する判定部(17)と、を備えていることを特徴とする。   In order to solve the above-mentioned problem, the leak inspection apparatus for a sealed part according to claim 1 is characterized in that the sealed space (23) of the sealed part (20) having the sealed space (23) leaks against a predetermined substance. An irradiation unit that irradiates the sealing component (20) with an electromagnetic wave (L) having a wavelength that is transmitted through the forming material of the sealing component (20) and absorbed by the substance. 11), a detection unit (15) that detects the electromagnetic wave (L) that has passed through the sealing component (20) or reflected from the surface of the sealing component (20), and converts the electromagnetic wave (L) into an electrical signal; A calculation unit (16) that calculates the leakage amount of the substance from the electrical signal; and a determination unit (17) that determines whether the sealing component (20) is leaking using the leakage amount. It is characterized by.

これにより、密閉部品(20)が実際に使用される環境で、該密閉部品(20)の外部から内部に向かって侵入するか、または、密閉部品(20)の内部から外部に向かって放出される物質を漏れ物質として用いることができ、また密閉部品(20)が実際に使用される環境で、漏れ物質が、密閉部品の外部から内部に向かって侵入するか、または、密閉部品(20)の内部から外部に向かって放出される圧力を用いることができ、さらに密閉部品(20)に生じている複数の漏れ箇所を特定でき、さらにまたコストが低く、電磁波を用いた非破壊の密閉部品の漏れ検査が可能となる。   Thereby, in the environment where the sealing part (20) is actually used, the sealing part (20) enters from the outside to the inside or is released from the inside of the sealing part (20) to the outside. In the environment where the sealing part (20) is actually used, the leaking substance enters from the outside to the inside of the sealing part, or the sealing part (20). The pressure released from the inside to the outside can be used, moreover, a plurality of leaking parts occurring in the sealed part (20) can be specified, and the cost is low, and the non-destructive sealed part using electromagnetic waves It is possible to check for leaks.

また、請求項1に記載の発明は、請求項2に記載の発明のように、上記密閉部品(20)が、上記密閉空間(23)に上記物質が封入されたものである密閉部品の漏れ検査装置に適用されることが好ましい。また、請求項1に記載の発明は、請求項3に記載の発明のように、上記密閉部品(20)が、上記物質の圧入処理がなされたものである密閉部品の漏れ検査装置に適用されることが好ましい。   Further, according to the invention described in claim 1, as in the invention described in claim 2, the sealed part (20) is a leak of sealed parts in which the substance is enclosed in the sealed space (23). It is preferably applied to an inspection apparatus. Further, the invention according to claim 1 is applied to a leakage inspection device for a sealed part in which the sealed part (20) is subjected to the press-in treatment of the substance as in the invention according to claim 3. It is preferable.

請求項4に記載の発明は、上記電磁波(L)が、テラヘルツ波であることを特徴とする。   The invention according to claim 4 is characterized in that the electromagnetic wave (L) is a terahertz wave.

これにより、電磁波(L)の制御を、光学素子を用いて容易に行うことができると共に、密閉部品(20)内部に存在する漏れ物質の検査を安全に行える。   Accordingly, the electromagnetic wave (L) can be easily controlled using the optical element, and the leakage substance existing inside the sealed component (20) can be safely inspected.

請求項5に記載の発明は、上記密閉空間(23)内の上記物質を、加熱または冷却する加熱冷却部(19)を有していることを特徴とする。   The invention according to claim 5 has a heating / cooling section (19) for heating or cooling the substance in the sealed space (23).

これにより、密閉空間(23)内の漏れ物質を相変化させられるので、例えば、液体を気体に相変化させることにより、密閉空間内に存在しているすべての漏れ物質を気体として検査できるため、漏れ物質の検出能力を向上できる。   Thereby, since the phase of the leaking substance in the sealed space (23) can be changed, for example, by changing the phase of the liquid into a gas, all the leaking substances present in the sealed space can be inspected as a gas. The ability to detect leaking substances can be improved.

請求項6に記載の発明は、上記密閉部品(20)に照射する上記電磁波(L)の照射方向を制御する照射方向制御部(12)を有していることを特徴とする。   The invention described in claim 6 is characterized by having an irradiation direction control section (12) for controlling the irradiation direction of the electromagnetic wave (L) irradiated to the sealed component (20).

これにより、検出信号のS/N比を向上させて、漏れ物質の検出能力を向上できる。   Thereby, the S / N ratio of the detection signal can be improved and the detection capability of the leaking substance can be improved.

請求項7に記載の発明は、上記密閉部品(20)に上記電磁波(L)を照射する照射範囲を調節する絞り部(13)を有していることを特徴とする。   The invention described in claim 7 is characterized in that the sealing part (20) has a diaphragm (13) for adjusting an irradiation range in which the electromagnetic wave (L) is irradiated.

これにより、電磁波(L)を照射したい密閉部品(20)の部位のみに電磁波(L)を照射でき、且つ、不要な電磁波(L)が検出器に入射することを防止できるので、検出信号のS/N比を向上させて、漏れ物質の検出能力を向上できる。   As a result, the electromagnetic wave (L) can be irradiated only on the part of the sealed component (20) to be irradiated with the electromagnetic wave (L), and unnecessary electromagnetic waves (L) can be prevented from entering the detector. By improving the S / N ratio, it is possible to improve the ability to detect leaking substances.

請求項8に記載の発明は、上記密閉部品(20)を固定する部品固定部(18)を有しており、該部品固定部(18)は、上記密閉部品(20)を回転移動または平行移動をさせることを特徴とする。   The invention according to claim 8 has a component fixing portion (18) for fixing the sealing component (20), and the component fixing portion (18) rotates or moves the sealing component (20) in parallel. It is made to move.

これにより、密閉部品(L)を固定して、電磁波(L)を照射したい密閉部品の部位のみに電磁波を照射することができる。また、密閉部品(20)を移動させて電磁波(L)による走査および照射を行い、密閉空間(23)内に存在する漏れ物質の位置に関する2次元情報を得ることができる。   Thereby, the sealed component (L) can be fixed, and the electromagnetic wave can be irradiated only to the site of the sealed component to be irradiated with the electromagnetic wave (L). Further, the sealed component (20) is moved to perform scanning and irradiation with the electromagnetic wave (L), and two-dimensional information regarding the position of the leaking substance existing in the sealed space (23) can be obtained.

請求項9に記載の発明は、上記物質が、上記密閉部品(20)が実際に使用される状況で、該密閉部品(20)の外部から内部に向かってか、または、内部から外部に向かって漏れる物質と、同じであることを特徴とする。   According to the ninth aspect of the present invention, the substance is directed from the outside to the inside of the sealing part (20) or from the inside to the outside in a situation where the sealing part (20) is actually used. It is the same as the material that leaks.

これにより、密閉部品(20)が実際に使用される状況で、密閉部品(20)に侵入するか、または、密閉部品(20)から放出される漏れ物質を用いて検査できるので、漏れ検査の精度を高められる。   As a result, in a situation where the sealing part (20) is actually used, it is possible to inspect the leakage part released from the sealing part (20) or to enter the sealing part (20). Increases accuracy.

請求項10に記載の発明は、密閉空間(23)を有する密閉部品(20)の該密閉空間(23)が、所定の物質に対して漏れを有するのかを検査する密閉部品の漏れ検査方法であって、上記密閉部品(20)の形成材料を透過し且つ上記物質に吸収される波長を有する電磁波(L)を、上記密閉部品(20)に照射し、上記密閉部品(20)を透過したか、または、該密閉部品(20)の表面から反射した上記電磁波(L)を検出して電気信号に変換し、上記電気信号から上記物質の漏れ量を演算し、上記漏れ量を用いて、上記密閉部品(20)の漏れの良否を判定することを特徴とする。   The invention according to claim 10 is a leakage inspection method for a sealed part for inspecting whether the sealed space (23) of the sealed part (20) having the sealed space (23) has a leak with respect to a predetermined substance. The electromagnetic wave (L) having a wavelength that is transmitted through the forming material of the sealed part (20) and absorbed by the substance is applied to the sealed part (20) and transmitted through the sealed part (20). Or detecting the electromagnetic wave (L) reflected from the surface of the hermetic component (20) and converting it to an electrical signal, calculating the leakage amount of the substance from the electrical signal, and using the leakage amount, It is characterized by determining the quality of the leakage of the sealed part (20).

これにより、請求項1と同様の効果が奏される。   Thus, the same effect as in the first aspect is obtained.

また、請求項10に記載の発明は、請求項11に記載の発明のように、上記密閉部品(20)が、上記密閉空間(23)に上記物質を封入したものである密閉部品の漏れ検査方法に適用されることが好ましい。また、請求項10に記載の発明は、請求項12に記載の発明のように、上記密閉部品(20)が、上記物質の圧入処理をしたものである密閉部品の漏れ検査方法に適用されることが好ましい。   According to a tenth aspect of the present invention, as in the eleventh aspect of the present invention, the sealed component (20) is a leak test of a sealed component in which the substance is enclosed in the sealed space (23). It is preferably applied to the method. The invention according to claim 10 is applied to a leakage inspection method for a sealed part in which the sealed part (20) is obtained by press-fitting the substance as in the invention according to claim 12. It is preferable.

請求項13に記載の発明は、上記電磁波(L)が、テラヘルツ波であることを特徴とする。   The invention according to claim 13 is characterized in that the electromagnetic wave (L) is a terahertz wave.

これにより、請求項4と同様の効果が奏される。   Thus, the same effect as in the fourth aspect is achieved.

請求項14に記載の発明は、上記密閉空間(23)内の上記物質を、加熱または冷却して、上記電磁波(L)を照射することを特徴とする。   The invention described in claim 14 is characterized by irradiating the electromagnetic wave (L) by heating or cooling the substance in the sealed space (23).

これにより、請求項5と同様の効果が奏される。   Thereby, the same effect as that of claim 5 is obtained.

請求項15に記載の発明は、上記電磁波(L)の照射範囲を調節した後に、該電磁波(L)を上記密閉部品に照射することを特徴とする。   The invention according to claim 15 is characterized in that after the irradiation range of the electromagnetic wave (L) is adjusted, the sealed component is irradiated with the electromagnetic wave (L).

これにより、請求項7と同様の効果が奏される。   Thus, the same effect as in the seventh aspect is obtained.

なお、上記各手段に付した括弧内の符号は、後述する実施形態または実施態様に記載の具体的手段との対応関係を示す一例である。   In addition, the code | symbol in the parenthesis attached | subjected to each said means is an example which shows a corresponding relationship with the specific means as described in embodiment mentioned later or an embodiment.

以下、本発明のネジ部品の検査装置をその好ましい一実施形態に基づいて、図1〜図8を参照しながら説明する。   DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A screw component inspection apparatus according to the present invention will be described below with reference to FIGS.

図1は、本発明の第1実施形態の密閉部品の漏れ検査装置10(以下、単に本装置10ともいう)の構成図である。本装置10は、密閉空間23を有する密閉部品20の該密閉空間(23)が、所定の漏れ物質に対して漏れを有するのかを検査する装置である。
上記漏れ物質としては、密閉部品20が実際に使用される状況において、密閉部品20の外部から内部に向かって侵入するか、または、内部から外部に向かって放出される物質を用いることが好ましい。
FIG. 1 is a configuration diagram of a leak inspection apparatus 10 for a sealed part (hereinafter also simply referred to as the apparatus 10) according to a first embodiment of the present invention. This apparatus 10 is an apparatus for inspecting whether the sealed space (23) of the sealed part 20 having the sealed space 23 has a leak with respect to a predetermined leaking substance.
As the leaking substance, it is preferable to use a substance that enters from the outside to the inside of the sealing part 20 or is released from the inside to the outside in a situation where the sealing part 20 is actually used.

本装置10は、図1に示すように、密閉部品20の形成材料を透過し且つ上記漏れ物質に吸収される波長を有する電磁波Lを、密閉部品20に照射する照射部11と、密閉部品20を透過した電磁波Lを検出して電気信号に変換する検出部15と、この電気信号から漏れ物質の漏れ量を演算する演算部16と、該漏れ量を用いて、密閉部品20の漏れの良否を判定する判定部17と、を備えている。   As shown in FIG. 1, the apparatus 10 includes an irradiation unit 11 that irradiates the sealed component 20 with an electromagnetic wave L having a wavelength that passes through the forming material of the sealed component 20 and is absorbed by the leaking substance, and the sealed component 20. The detection unit 15 that detects the electromagnetic wave L that has passed through and converts it into an electric signal, the calculation unit 16 that calculates the amount of leakage of the leaking substance from the electric signal, and the leakage amount of the sealed component 20 using the leakage amount And a determination unit 17 for determining whether or not.

また、本装置10は、図1に示すように、密閉空間23内の漏れ物質を、加熱または冷却する加熱冷却部19と、密閉部品20に照射する電磁波Lの照射方向を制御する照射方向制御部12と、密閉部品20に電磁波Lを照射する照射範囲を調節する絞り部13と、密閉部品を固定する部品固定部18とを有している。   In addition, as shown in FIG. 1, the apparatus 10 controls the irradiation direction of the electromagnetic wave L applied to the heating / cooling unit 19 that heats or cools the leaking substance in the sealed space 23 and the sealed component 20. It has the part 12, the aperture | diaphragm | squeeze part 13 which adjusts the irradiation range which irradiates the electromagnetic wave L to the sealing component 20, and the component fixing | fixed part 18 which fixes a sealing component.

また、本装置10は、湿度および温度が一定の雰囲気の下で、密閉部品20の漏れ検査を行うことが、電磁波Lに対する外乱の影響を低減して、安定した測定を行う上で好ましい。   In addition, it is preferable that the apparatus 10 performs a leak inspection of the sealed component 20 in an atmosphere having a constant humidity and temperature in order to reduce the influence of disturbance on the electromagnetic wave L and perform stable measurement.

本装置10は、電磁波Lとして、テラヘルツ波を用いる。テラヘルツ波は、電波と光の両方の性質を有し、樹脂などの密閉部品20を形成する材料に対する透過性を有すると共に、光学レンズなどの光学素子により屈折させることが可能なため、電磁波経路の制御が容易である。また、テラヘルツ波は、水などの漏れ物質に吸収されるため、密閉部品20内部の漏れ物質の測定を非破壊で行うことが可能である。さらに、テラヘルツ波は、X線とは異なり、人体に与える影響が少ないので、安全な電磁波といえる。   The apparatus 10 uses a terahertz wave as the electromagnetic wave L. The terahertz wave has both radio wave and light properties, has transparency to the material forming the sealed component 20 such as a resin, and can be refracted by an optical element such as an optical lens. Easy to control. Further, since the terahertz wave is absorbed by a leaking substance such as water, the leaking substance inside the sealed component 20 can be measured in a non-destructive manner. Further, unlike X-rays, terahertz waves have little influence on the human body and can be said to be safe electromagnetic waves.

図2に示す密閉部品20は、樹脂を主体として形成されており、この樹脂は、テラヘルツ波を透過する。本明細書でテラヘルツ波が物質を透過するとは、透過される物質にテラヘルツ波が全く吸収されない場合と、透過される物質にテラヘルツ波が吸収されるが、検出部15が検出可能な程度に電磁波を透過する場合とを意味する。   The sealed component 20 shown in FIG. 2 is formed mainly of a resin, and this resin transmits a terahertz wave. In this specification, a terahertz wave is transmitted through a substance when the terahertz wave is not absorbed at all by the transmitted substance and when the terahertz wave is absorbed by the transmitted substance. Means to pass through.

一般的に、テラヘルツ波は、その波長が3μm〜3mmの範囲となる0.1THz〜10THzの電磁波をいう。本明細書では、テラヘルツ波は、樹脂を主体として形成される密閉部品20を透過可能であり、漏れ物質に吸収される波長であれば、ミリ波から赤外線の一部を含む範囲であってもよい。
特に、漏れ物質として水を用いる場合には、水への吸収係数が大きい1THz付近を含む周波数帯を用いることが好ましく、具体的には、テラヘルツ波の周波数として、0.03〜10THzを用いることが好ましい。
In general, a terahertz wave refers to an electromagnetic wave of 0.1 THz to 10 THz whose wavelength is in a range of 3 μm to 3 mm. In the present specification, the terahertz wave can pass through the sealed component 20 formed mainly of a resin and can be absorbed by a leaking substance, even if it is in a range including a part of infrared rays from millimeter waves. Good.
In particular, when water is used as a leaking substance, it is preferable to use a frequency band that includes a vicinity of 1 THz, which has a large absorption coefficient in water, and specifically, 0.03 to 10 THz is used as the frequency of the terahertz wave. Is preferred.

本装置1は、例えば、図2(a)および図2(b)に示すような、密閉空間23を有する密閉部品20の漏れを検査することができる。密閉空間23には、センサである電子部品24が配置されている。この密閉部品20は、車に搭載される部品である。   The apparatus 1 can inspect for leakage of a sealed part 20 having a sealed space 23 as shown in FIGS. 2A and 2B, for example. An electronic component 24 that is a sensor is disposed in the sealed space 23. This sealing component 20 is a component mounted on a vehicle.

密閉部品20は、段差を有した円筒形状であり、部品上部21と部品下部22とから構成されている。部品上部21は、径が小さくなる段差部を有しており、この段差部の端部に位置する接合部25により、部品下部22と接合されている。   The sealed component 20 has a cylindrical shape with a step, and includes a component upper portion 21 and a component lower portion 22. The component upper portion 21 has a step portion with a reduced diameter, and is joined to the component lower portion 22 by a joint portion 25 located at the end of the step portion.

部品上部21の内部には、密閉空間23が設けられている。この密閉空間23内には、電子部品24が収められており、この電子部品24は、部品下部22に固定されている。
部品上部21は、樹脂から構成されており、この樹脂は、テラヘルツ波が透過可能である。
A sealed space 23 is provided inside the upper part 21. An electronic component 24 is accommodated in the sealed space 23, and the electronic component 24 is fixed to the component lower portion 22.
The upper part 21 is made of resin, and this resin can transmit terahertz waves.

密閉部品20は、車に搭載されて使用されるので、車の使用状況に応じてさまざまな環境にさらされる。そのため、密閉部品20が漏れを有していると、使用環境によっては、雨水または海水などの漏れ物質が内部の密閉空間に侵入し、内部に配置されている電子部品が故障する原因となり得る。密閉部品20の漏れは、接合部25で生じる可能性が特に高い。   Since the sealing component 20 is mounted and used in a vehicle, it is exposed to various environments depending on the usage state of the vehicle. Therefore, if the sealed component 20 has a leak, depending on the usage environment, a leaking substance such as rainwater or seawater may enter the sealed space inside and cause a failure of the electronic component disposed inside. The possibility of leakage of the sealed component 20 is particularly high at the joint portion 25.

次に、本装置10について以下に詳細に説明する。   Next, the apparatus 10 will be described in detail below.

照射部11は、電磁波を密閉部品20に向けて照射する。照射部11は、電磁波を発信する電磁波発信器と、発信した電磁波を密閉部品20に向けて照射する共振用アンテナ部とから構成されている。この共振用アンテナ部としては、例えばホーンアンテナを用いることができる。また、本装置10では、電磁波発信器は、単波長の電磁波を発信する。   The irradiation unit 11 irradiates the sealed component 20 with electromagnetic waves. The irradiation unit 11 includes an electromagnetic wave transmitter that transmits an electromagnetic wave and a resonance antenna unit that irradiates the transmitted electromagnetic wave toward the sealed component 20. As this resonance antenna section, for example, a horn antenna can be used. Moreover, in this apparatus 10, an electromagnetic wave transmitter transmits the electromagnetic wave of a single wavelength.

検出部15は、密閉部品20を透過した電磁波を受信し、その受信した電磁波を検出する。そして、検出部15は、検出した電磁波を電気信号に変換し、その電気信号を演算部16に出力する。本装置10では、電気信号を電圧値として、演算部16に出力する。   The detection unit 15 receives the electromagnetic wave transmitted through the sealed component 20 and detects the received electromagnetic wave. Then, the detection unit 15 converts the detected electromagnetic wave into an electric signal, and outputs the electric signal to the calculation unit 16. In the apparatus 10, the electric signal is output to the calculation unit 16 as a voltage value.

検出部15は、受信した電磁波を集光する受信用アンテナ部と、このアンテナ部で集光した電磁波を電気信号に変換するパワー素子などからなる電磁波ー電気信号変換器とから構成されている。この受信用アンテナ部としては、ホーンアンテナを用いることができる。また、検出部15を、多数の電磁波ー電気信号変換器を2次元状に配置した構成とすれば、照射部11による一度の電磁波の照射により、密閉部品20の密閉空間23内に存在する漏れ物質の位置についての2次元情報を得ることができる。この2次元情報は、画像化してもよい。   The detection unit 15 includes a reception antenna unit that collects the received electromagnetic wave, and an electromagnetic wave-electric signal converter including a power element that converts the electromagnetic wave collected by the antenna unit into an electrical signal. As this receiving antenna section, a horn antenna can be used. Further, if the detection unit 15 has a configuration in which a large number of electromagnetic wave-electric signal converters are two-dimensionally arranged, leakage existing in the sealed space 23 of the sealed component 20 due to the irradiation of the electromagnetic wave by the irradiation unit 11 once. Two-dimensional information about the position of the substance can be obtained. This two-dimensional information may be imaged.

また、本装置10では、照射部11および検出部15が、図示しない照射部駆動装置および検出部駆動装置を有しており、これらの装置が、連動して駆動することにより、照射部11および検出部15の位置を変更することができる。   Moreover, in this apparatus 10, the irradiation part 11 and the detection part 15 have the irradiation part drive device and detection part drive device which are not shown in figure, and when these apparatuses drive in conjunction, the irradiation part 11 and The position of the detection unit 15 can be changed.

例えば、照射部11により密閉部品20に電磁波を照射し、検出部15により透過した電磁波Lを受信しながら、電磁波Lの進行方向と直交する2次元面上を、照射部11および検出部15それぞれを連動させながら移動させて、密閉部品20を走査することが可能である。その結果、密閉部品20の密閉空間23内に存在する漏れ物質の位置について、2次元情報を得ることができる。この2次元情報もまた画像化してもよい。   For example, the irradiation unit 11 irradiates the sealed component 20 with an electromagnetic wave, and receives the electromagnetic wave L transmitted by the detection unit 15, while the irradiation unit 11 and the detection unit 15 each have a two-dimensional plane orthogonal to the traveling direction of the electromagnetic wave L. It is possible to scan the sealed component 20 by moving the components in conjunction with each other. As a result, two-dimensional information can be obtained regarding the position of the leaking substance present in the sealed space 23 of the sealed component 20. This two-dimensional information may also be imaged.

演算部16は、検出部15から電気信号が入力されると、この電気信号から電磁波の透過量を求め、この透過量と、あらかじめ作成しておいた校正曲線とを用いて、漏れ物質の漏れ量を演算により求める。   When an electric signal is input from the detection unit 15, the calculation unit 16 obtains the transmission amount of the electromagnetic wave from the electric signal, and uses this transmission amount and a calibration curve prepared in advance to leak the leakage substance. The quantity is calculated.

本装置1では、上記校正曲線を用いて、電磁波の透過量から漏れ物質の漏れ量を求めることにより、密閉部品20の寸法、透過厚さなどの変動要因を除去し、漏れ量の検出精度を高めている。   In the present apparatus 1, by using the above calibration curve, the leakage amount of the leaking substance is obtained from the transmission amount of the electromagnetic wave, thereby removing the fluctuation factors such as the dimension of the sealed component 20 and the transmission thickness, and increasing the detection accuracy of the leakage amount. It is increasing.

また、本装置10では、検出部15により受信する電磁波のS/N比を高めるために、照射部11から密閉部品20への照射を、所定の回数行って、電磁波の透過量を、演算部16による平均化処理により求めることができる。この平均化処理を行うために、電磁波を照射する回数は、密閉部品20および密閉空間23の寸法または形状などによって適宜設定することが好ましい。   Further, in the present apparatus 10, in order to increase the S / N ratio of the electromagnetic wave received by the detection unit 15, the irradiation unit 11 is irradiated a predetermined number of times to calculate the amount of transmission of the electromagnetic wave. 16 by the averaging process. In order to perform this averaging process, the number of times of irradiation with electromagnetic waves is preferably set as appropriate depending on the dimensions or shapes of the sealed part 20 and the sealed space 23.

判定部17は、演算部16が求めた漏れ物質の漏れ量と所定のしきい値とを比較して、密閉部品20の漏れの良否に対する判定処理を行う。判定部17は、密閉部品20が漏れを有さないか、または、漏れ量が上記しきい値以下の場合には、密閉部品20を良品と判定し、一方、漏れ量が上記しきい値よりも高い場合には、密閉部品20を不良品と判定する。   The determination unit 17 compares the leakage amount of the leaked substance obtained by the calculation unit 16 with a predetermined threshold value, and performs a determination process on whether or not the sealed component 20 is leaking. The determination unit 17 determines that the sealed component 20 is a non-defective product when the sealed component 20 has no leakage or the leakage amount is equal to or less than the above threshold value. If it is too high, it is determined that the sealed component 20 is defective.

また、検出部15が、密閉部品20の密閉空間23内に存在する漏れ物質の位置を2次元情報として出力する場合には、判定部17は、その判定処理と共に、漏れ物質の位置情報を、画像化して出力してもよい。   When the detection unit 15 outputs the position of the leaking substance existing in the sealed space 23 of the sealed part 20 as the two-dimensional information, the determination unit 17 includes the position information of the leaking substance along with the determination process. It may be output as an image.

判定部17および上述した演算部16のハードウェアは、例えば中央演算装置(CPU)、数値演算プロセッサ、ROMまたはRAMなどの半導体メモリ、磁気記録媒体または光記録媒体、入出力インターフェースなどから構成することができる。そして、演算部16が行う演算処理プログラムまたは判定部17が行う判定処理プログラムは、上記磁気記録媒体または光記録媒体に記録することができる。   The hardware of the determination unit 17 and the arithmetic unit 16 described above is composed of, for example, a central processing unit (CPU), a numerical arithmetic processor, a semiconductor memory such as ROM or RAM, a magnetic recording medium or an optical recording medium, an input / output interface, and the like. Can do. The arithmetic processing program performed by the arithmetic unit 16 or the determination processing program performed by the determination unit 17 can be recorded on the magnetic recording medium or the optical recording medium.

また、本装置1は、図1に示すように、照射部11と密閉部品20との間、および、密閉部品20と検出部15との間、それぞれに、照射方向制御部12を有しており、照射部11が照射した電磁波Lの照射方向を、例えば平行化、集光化、拡大化することにより、制御する。照射方向制御部12としては、例えば光学レンズを用いることができる。そして、用いる光学レンズの形状を適宜選択することにより、電磁波Lを平行化、集光化、拡大化することが可能である。   Moreover, this apparatus 1 has the irradiation direction control part 12 between the irradiation part 11 and the sealing component 20, and between the sealing part 20 and the detection part 15, respectively, as shown in FIG. The irradiation direction of the electromagnetic wave L irradiated by the irradiation unit 11 is controlled by, for example, parallelizing, condensing, and enlarging. As the irradiation direction control unit 12, for example, an optical lens can be used. Then, by appropriately selecting the shape of the optical lens to be used, the electromagnetic wave L can be collimated, condensed, and enlarged.

さらに、照射方向制御部12の働きについて以下に説明する。
電磁波Lを照射方向制御部12により集光化して、密閉部品20に照射することにより、電磁波Lの照射エネルギー密度を増加させ、検出信号のS/N比を高められる。また、漏れ物質の位置情報について、測定分解能を高められる。
Further, the operation of the irradiation direction control unit 12 will be described below.
By condensing the electromagnetic wave L by the irradiation direction control unit 12 and irradiating the sealed component 20, the irradiation energy density of the electromagnetic wave L can be increased and the S / N ratio of the detection signal can be increased. Moreover, the measurement resolution can be increased for the position information of the leaking substance.

また、電磁波Lを照射方向制御部12により拡大化して、密閉部品20に照射することにより、測定したい密閉部品20の部分全面に電磁波を照射して、透過量の局部的な変動を除去し、平均化した透過量の測定を行うことにより、密閉部品20などが持つ誤差要因を低減できる。   Further, by magnifying the electromagnetic wave L by the irradiation direction control unit 12 and irradiating the sealed component 20, the electromagnetic wave is irradiated to the entire surface of the sealed component 20 to be measured, and the local fluctuation of the transmission amount is removed, By measuring the averaged transmission amount, it is possible to reduce the error factor of the sealed component 20 or the like.

さらに、電磁波Lを照射方向制御部12により平行化して、密閉部品20に照射することにより、密閉部品20の表面における電磁波Lの散乱を減少させ、検出部15に入射する電磁波を多くして、検出信号のS/N比を高められる。   Further, by collimating the electromagnetic wave L with the irradiation direction control unit 12 and irradiating the sealed component 20, the scattering of the electromagnetic wave L on the surface of the sealed component 20 is reduced, and the electromagnetic wave incident on the detection unit 15 is increased. The S / N ratio of the detection signal can be increased.

本装置1では、一対の照射方向制御部12として、一対の光学レンズを用いている。図1に示す例では、照射部11から照射された電磁波Lは、一方の照射方向制御部12により平行化され、平行化された電磁波Lは、密閉部品20に照射され、密閉部品20を透過した電磁波Lの一部は、他方の照射方向制御部12により集光されて、検出部15に受信される。   In the present apparatus 1, a pair of optical lenses is used as the pair of irradiation direction control units 12. In the example shown in FIG. 1, the electromagnetic wave L irradiated from the irradiation unit 11 is collimated by one irradiation direction control unit 12, and the parallelized electromagnetic wave L is irradiated to the sealed component 20 and transmitted through the sealed component 20. A part of the electromagnetic wave L is condensed by the other irradiation direction control unit 12 and received by the detection unit 15.

また、本装置1は、図1に示すように、照射方向制御部12と密閉部品20との間に、絞り部13を有しており、照射部11が照射した電磁波Lの照射範囲を調節することができる。   Further, as shown in FIG. 1, the present apparatus 1 has a diaphragm 13 between the irradiation direction control unit 12 and the sealing component 20, and adjusts the irradiation range of the electromagnetic wave L irradiated by the irradiation unit 11. can do.

絞り部13は、電磁波Lが密閉部品20を照射する範囲、または、密閉部品20を照射する電磁波Lの量を調節することができる。また、絞り部13は、電磁波Lを吸収する材料から形成されていることが、反射または散乱などにより、密閉部品20を透過した電磁波以外の電磁波が検出部15に受信されることを防止する上で好ましい。   The diaphragm 13 can adjust the range in which the electromagnetic wave L irradiates the sealed component 20 or the amount of the electromagnetic wave L radiated to the sealed component 20. In addition, the diaphragm 13 is formed of a material that absorbs the electromagnetic wave L. In order to prevent the detection unit 15 from receiving an electromagnetic wave other than the electromagnetic wave transmitted through the sealed component 20 due to reflection or scattering. Is preferable.

照射部11から照射された電磁波Lは、密閉部品20を透過する部分以外にも、密閉部品20の表面で反射・散乱する部分もある。また、密閉部品20の密閉空間23の形状によっては、この密閉空間23により反射または散乱される電磁波の部分もある。さらに、密閉空間23内に電子部品などが配置されている場合には、この電子部品などにより反射または散乱される電磁波の部分がある。   The electromagnetic wave L irradiated from the irradiation part 11 has a part reflected and scattered on the surface of the sealing component 20 besides the part which permeate | transmits the sealing component 20. FIG. In addition, depending on the shape of the sealed space 23 of the sealed component 20, there is a portion of electromagnetic waves reflected or scattered by the sealed space 23. Furthermore, when an electronic component or the like is disposed in the sealed space 23, there is an electromagnetic wave portion that is reflected or scattered by the electronic component or the like.

そこで、本装置10では、照射部11から照射されて、密閉部品20を透過した電磁波Lの部分以外の電磁波が、検出部15に受信されることを防止するために、絞り部13を設けて、バックグランウンドノイズを低減して、検出信号のS/N比を高めている。
絞り部13の開口部13aの形状および寸法は、必要に応じて適宜調節することが好ましい。
Therefore, in the present apparatus 10, in order to prevent the detection unit 15 from receiving the electromagnetic waves other than the electromagnetic wave L irradiated from the irradiation unit 11 and transmitted through the sealing component 20, the diaphragm unit 13 is provided. The background noise is reduced and the S / N ratio of the detection signal is increased.
It is preferable that the shape and dimensions of the opening 13a of the aperture 13 are appropriately adjusted as necessary.

絞り部13は、例えば、図3(a)に示すように、縦長の矩形形状の開口部13aを有するように構成することができる。密閉部品20に照射される電磁波Lは、この絞り部13の開口部13aを通過する部分のみである。このように、絞り部13によって、電磁波Lが密閉部品20を照射する範囲および電磁波Lの量が調節される。   For example, as shown in FIG. 3A, the aperture 13 can be configured to have a vertically long rectangular opening 13a. The electromagnetic wave L applied to the sealed component 20 is only the portion that passes through the opening 13 a of the aperture 13. As described above, the range in which the electromagnetic wave L irradiates the sealed component 20 and the amount of the electromagnetic wave L are adjusted by the diaphragm 13.

図3(a)に示す例では、平面視が矩形形状の照射方向制御部12を用いているので、絞り部13も、この照射方向制御部12と対応させて外形形状が矩形形状のものを用いている。このように、絞り部13は、照射方向制御部12と協働して用いることが、照射部11が照射した電磁波Lの照射範囲を調節する上で効果的である。   In the example shown in FIG. 3A, since the irradiation direction control unit 12 having a rectangular shape in plan view is used, the diaphragm unit 13 also has a rectangular outer shape corresponding to the irradiation direction control unit 12. Used. Thus, using the diaphragm 13 in cooperation with the irradiation direction control unit 12 is effective in adjusting the irradiation range of the electromagnetic wave L irradiated by the irradiation unit 11.

また、図3(b)には、密閉部品20の中心部のみに電磁波Lを照射する場合の例を示している。絞り部13は、その中央部に円形状の開口部13aを有している。密閉部品20に照射される電磁波Lは、この開口部13aを通過する部分のみである。また、図3(b)に示す例では、平面視が円形状の照射方向制御部12を用いているので、絞り部13も、この照射方向制御部12と対応させて外形形状が円形状のものを用いている。
また、開口部13aの寸法をさらに小さくして、密閉部品20に照射する電磁波Lの範囲を狭くすることにより、漏れ物質の測定分解能を高めることができる。
FIG. 3B shows an example in which the electromagnetic wave L is irradiated only on the central part of the sealed component 20. The aperture 13 has a circular opening 13a at the center. The electromagnetic wave L applied to the sealed component 20 is only a portion that passes through the opening 13a. In the example shown in FIG. 3B, since the irradiation direction control unit 12 having a circular shape in plan view is used, the diaphragm unit 13 also has a circular outer shape corresponding to the irradiation direction control unit 12. Something is used.
Moreover, the measurement resolution of the leaking substance can be enhanced by further reducing the size of the opening 13a and narrowing the range of the electromagnetic wave L irradiated to the sealed component 20.

また、本装置10は、図1に示すように、密閉部品20を加熱または冷却することにより、密閉空間23内の漏れ物質を加熱または冷却する加熱冷却部19を有している。加熱冷却部19は、密閉部品20の全体を加熱または冷却できると共に、局所的にも加熱または冷却できることが好ましい。
漏れ物質を加熱する方法としては、熱風を送ったり、赤外線を放射するなど公知の方法を用いることができる。また、漏れ物質を冷却する方法としては、冷風を送るなどの公知の方法を用いることができる。
Further, as shown in FIG. 1, the apparatus 10 includes a heating / cooling unit 19 that heats or cools a leaking substance in the sealed space 23 by heating or cooling the sealed component 20. It is preferable that the heating / cooling unit 19 can heat or cool the entirety of the sealed component 20 and can also heat or cool locally.
As a method for heating the leaking substance, a known method such as sending hot air or emitting infrared rays can be used. As a method for cooling the leaking substance, a known method such as sending cold air can be used.

本装置1は、この加熱冷却部19を用いることにより、密閉空間23内の漏れ物質を、気体から液体へ、液体から気体へ、または、液体から固体へ相変化させることができる。
例えば、電磁波Lを集光化などにより、密閉部品20に照射する電磁波Lの範囲を小さくスポット化している場合には、電磁波Lが照射されない部分に漏れ物質として液体の水が存在していても、電磁波Lが照射されないと、水の存在が検出されないので、密閉部品20の漏れが検出できない。しかし、加熱冷却部19により、密閉部品20内の漏れ物質を加熱することにより、すべての水を水蒸気に相変化させた状態で電磁波Lを照射すれば、密閉空間23内に存在する水の存在を確実に検出することができる。このようにして、本装置10では、漏れの検出性能の向上と、漏れの見逃し防止を図っている。
The apparatus 1 can change the phase of the leaking substance in the sealed space 23 from gas to liquid, from liquid to gas, or from liquid to solid by using the heating and cooling unit 19.
For example, in the case where the range of the electromagnetic wave L applied to the sealed component 20 is made a small spot by condensing the electromagnetic wave L or the like, even if liquid water exists as a leakage substance in a portion where the electromagnetic wave L is not irradiated If the electromagnetic wave L is not irradiated, the presence of water is not detected, and thus leakage of the sealed component 20 cannot be detected. However, if the electromagnetic wave L is irradiated in a state where all the water is changed into water vapor by heating the leaking substance in the sealed part 20 by the heating / cooling unit 19, the presence of water present in the sealed space 23 Can be reliably detected. In this way, the apparatus 10 improves the leakage detection performance and prevents the leakage from being overlooked.

また、例えば、同様に漏れ物質が水である場合に、加熱冷却部19により、密閉部品20内の漏れ物質を冷却することにより、水を氷に相変化させた状態で、密閉部品20の接合部25に電磁波Lを走査および照射すれば、水が浸入した経路に沿って、侵入した水が氷となって存在するので、漏れの発生経路を特定することも可能である。   Further, for example, when the leaking substance is water as well, the heating / cooling unit 19 cools the leaking substance in the sealed part 20, thereby joining the sealed part 20 in a state where the phase of water is changed to ice. If the electromagnetic wave L is scanned and irradiated to the part 25, the intruding water exists as ice along the path in which the water has infiltrated, so that it is also possible to specify the leakage generation path.

また、本装置10は、図1に示すように、密閉部品20を固定する部品固定部18を有しており、該部品固定部18は、密閉部品18を回転移動または平行移動をさせることができる。部品固定部18は、密閉部品20を2次元方向と共に、3次元方向にも平行移動させられることが好ましい。また、部品固定部18は、密閉部品20を固定した状態で、平行移動と回転移動とを組み合わせた移動を行えることが好ましい。   Further, as shown in FIG. 1, the apparatus 10 includes a component fixing unit 18 that fixes the sealed component 20, and the component fixing unit 18 can rotate or translate the sealed component 18. it can. The component fixing unit 18 is preferably capable of translating the sealed component 20 in the three-dimensional direction as well as in the two-dimensional direction. Moreover, it is preferable that the component fixing | fixed part 18 can perform the movement which combined the parallel movement and the rotational movement in the state which fixed the sealing component 20. FIG.

照射部11および検出部15の位置を固定した状態で、部品固定部18を用いて、密閉部品20を2次元方向に移動することにより、密閉部品20を走査した電磁波の照射を行うことができる。その結果、密閉部品20の密閉空間23内に存在する漏れ物質の位置についての2次元情報を得ることができる。この2次元情報は、画像化してもよい。   In a state where the positions of the irradiation unit 11 and the detection unit 15 are fixed, the component fixing unit 18 is used to move the sealed component 20 in a two-dimensional direction, thereby performing irradiation of electromagnetic waves obtained by scanning the sealed component 20. . As a result, two-dimensional information about the position of the leaking substance existing in the sealed space 23 of the sealed component 20 can be obtained. This two-dimensional information may be imaged.

本装置10では、密閉部品20の漏れを検査する際には、密閉部品20の実際の使用条件と同じ条件にて、漏れ物質を、該密閉部品20の内部に侵入させるか、該密閉部品20の外部に放出させることが、密閉部品20の漏れを精度よく検査する上で好ましい。すなわち、密閉部品20の検査に用いる漏れ物質は、密閉部品20が実際に使用される状況で、該密閉部品20の外部から内部に向かってか、または、内部から外部に向かって漏れる物質と、同じであることが好ましい。また、密閉部品20が実際に使用される状況と同じ圧力で、漏れ物質を、密閉部品20の外部から内部に向かって侵入させるか、または、内部から外部に向かって放出させることが好ましい。
また、密閉部品20の漏れを検査する際には、密閉部品20に要求される耐圧条件にて、漏れ物質を、該密閉部品20の内部に侵入させてもよい。
In the present apparatus 10, when inspecting the leakage of the sealed component 20, a leaking substance is allowed to enter the sealed component 20 under the same conditions as the actual usage conditions of the sealed component 20, or the sealed component 20. It is preferable that the leakage of the sealed part 20 is accurately inspected. That is, the leaking substance used for the inspection of the sealing part 20 is a substance that leaks from the outside to the inside of the sealing part 20 or from the inside to the outside in a situation where the sealing part 20 is actually used. Preferably they are the same. Further, it is preferable that the leaking substance is allowed to enter from the outside to the inside of the sealing part 20 or to be discharged from the inside to the outside at the same pressure as the situation in which the sealing part 20 is actually used.
Further, when inspecting the leakage of the sealed component 20, a leaking substance may be allowed to enter the sealed component 20 under pressure resistance conditions required for the sealed component 20.

本装置1の検査対象である密閉部品20は、上述したとおり、車に搭載されて使用されるものであり、密閉部品20に漏れが有ると、密閉部品20の実際の使用時に、雨水または海水などが、密閉部品20の外部から内部に向かって浸入する可能性がある。   As described above, the sealing component 20 to be inspected by the apparatus 1 is mounted on a vehicle and used. If there is a leak in the sealing component 20, rainwater or seawater is used when the sealing component 20 is actually used. Or the like may enter from the outside to the inside of the sealed part 20.

本装置10は、例えば、JIS Z 2331付属書8の浸漬法を用いて、密閉部品20の外部から内部に向かって水または海水を侵入させることができる。密閉部品20の密閉空間23に水を侵入させる加圧装置の例を図4に示す。
図4は、加圧装置40を示している。密閉空間23に水Wを侵入させる際には、まず、密閉部品20を、内部に水Wを満たした圧力容器42に入れ、この圧力容器42を密閉した状態で、圧力発生装置41により内部を加圧して、漏れを有する密閉部品20に水Wを侵入させることができる。この加圧する圧力値としては、上述したように、密閉部品20が実際に使用される状況と同じ圧力、または、密閉部品20に要求される耐圧を用いることができる。
This apparatus 10 can make water or seawater penetrate | invade toward the inside from the exterior of the sealing component 20, for example using the immersion method of JIS Z 2331 appendix 8. FIG. 4 shows an example of a pressurizing device that allows water to enter the sealed space 23 of the sealed component 20.
FIG. 4 shows the pressure device 40. When water W enters the sealed space 23, first, the sealed component 20 is placed in a pressure vessel 42 filled with water W, and the inside of the pressure vessel 42 is sealed by the pressure generator 41. The water W can be infiltrated into the sealed component 20 having leakage by applying pressure. As the pressure value to be pressurized, as described above, the same pressure as the situation in which the sealed component 20 is actually used or the pressure resistance required for the sealed component 20 can be used.

次に、上述した演算部16で用いる校正曲線について、以下に詳述する。
校正曲線は、演算部16において、検出部15から入力された電磁波の透過量を示す電圧値から、漏れ物質の漏れ量を求める際に用いられる。本装置10では、漏れ物質に応じた校正曲線を用いる。また、同じ漏れ物質であっても、漏れを検査する際の漏れ物質の状態に対応させて、各相における校正曲線を用いる。これは、電磁波の吸収係数が、漏れ物質によって異なるためであり、また、電磁波の吸収係数が、漏れ物質の相によっても異なるからである。
Next, the calibration curve used in the arithmetic unit 16 described above will be described in detail below.
The calibration curve is used when the calculation unit 16 obtains the leakage amount of the leaking substance from the voltage value indicating the transmission amount of the electromagnetic wave input from the detection unit 15. In the present apparatus 10, a calibration curve corresponding to the leaking substance is used. In addition, even for the same leaking substance, a calibration curve for each phase is used corresponding to the state of the leaking substance when the leak is inspected. This is because the absorption coefficient of electromagnetic waves varies depending on the leaking substance, and the absorption coefficient of electromagnetic waves also varies depending on the phase of the leaking substance.

本装置10では、漏れ検査を行う前に、密閉部品20の密閉空間23に存在する漏れ物質の状態に対応させた校正曲線をあらかじめ作成する。以下に、校正曲線の作成方法を説明する。   In the present apparatus 10, a calibration curve corresponding to the state of the leaking substance existing in the sealed space 23 of the sealed part 20 is created in advance before performing a leak test. A method for creating a calibration curve will be described below.

校正曲線は、密閉空間23内に、既知の量の漏れ物質を封入し、照射部11から密閉部品20に電磁波を照射して、その時の電磁波の透過量を電圧値として測定する。そして、密閉空間23に封入する漏れ物質の量をふらして、複数の水準における電磁波の透過量を測定し、横軸に漏れ量として、密閉空間23内に封入した漏れ物質の量をとり、縦軸に電磁波の透過量として、検出部15からの出力された電圧値をとり、測定した各データをプロットして、各プロット間を結ぶことにより得られる。この際に、密閉空間23内に漏れ物質を封入しない状態、つまり、漏れ物質の量がゼロであり、漏れが無い状態も測定しておくことが好ましい。
そして、密閉部品20の漏れを検査する際には、電磁波の密閉部品20への照射方法を、校正曲線を作成する際に密閉部品20に電磁波を照射した方法と同様に行う。
In the calibration curve, a known amount of a leaking substance is sealed in the sealed space 23, the electromagnetic wave is irradiated from the irradiation unit 11 to the sealed component 20, and the amount of transmission of the electromagnetic wave at that time is measured as a voltage value. Then, the amount of leaking substance enclosed in the sealed space 23 is increased, the amount of electromagnetic waves transmitted at a plurality of levels is measured, the amount of leaking substance enclosed in the sealed space 23 is taken as the amount of leakage on the horizontal axis, It is obtained by taking the voltage value output from the detection unit 15 as the amount of electromagnetic wave transmission on the axis, plotting each measured data, and connecting the plots. At this time, it is preferable to measure a state in which the leaking substance is not enclosed in the sealed space 23, that is, a state in which the amount of the leaking substance is zero and there is no leakage.
And when inspecting the leakage of the sealed component 20, the method of irradiating the sealed component 20 with electromagnetic waves is performed in the same manner as the method of irradiating the sealed component 20 with electromagnetic waves when creating the calibration curve.

図5に、校正曲線の一例を示す。電磁波の透過率は、漏れ量が増加して密閉空間23内に存在する漏れ物質が増加するに従って、減少する。また、図5には、判定部17が、判定処理の基準とする判定しきい値を示している。漏れ量が、このしきい値以下であれば、密閉部品20は良品であり、漏れ量が、このしきい値よりも大きければ、密閉部品20は不良品と判定される。図5に示す例では、横軸の漏れ量の単位として、cmを用いている。 FIG. 5 shows an example of a calibration curve. The transmittance of electromagnetic waves decreases as the amount of leakage increases and the amount of leaking substances present in the sealed space 23 increases. In FIG. 5, the determination unit 17 shows a determination threshold value used as a reference for the determination process. If the leakage amount is less than or equal to this threshold value, the sealed component 20 is a non-defective product, and if the leakage amount is greater than this threshold value, the sealed component 20 is determined as a defective product. In the example shown in FIG. 5, cm 3 is used as a unit of the leakage amount on the horizontal axis.

次に、密閉部品20において、漏れ物質として液体である水を用いる場合の校正曲線を作成する手順について、具体的に、図6(a)を参照しながら説明する。
まず、密閉空間23内に所定量の水W1を封入し、部品上部21と部品下部22とを、接合部25により接合する。そして、密閉部品20を部品固定部18に固定し、部品固定部18を用いて、部品上部21を下方にした状態にして、封入した水W1が電子部品24と重ならないようにする。なお、密閉空間23内には、空気が入っている。
次に、電磁波Lが照射される範囲に、密閉空間23内に封入されたすべての水W1が含まれるように、照射部11、検出部15、一対の照射方向制御部12および絞り部13を設定する。
次に、照射部11から電磁波Lを密閉部品20に照射して、密閉部品20を透過した電磁波Lの透過量を測定する。
次に、密閉空間23内に封入する水W1の量を、複数の水準に変更しながら、上述した手順を繰り返して測定する。
然る後、測定したデータから、校正曲線を作成する。
Next, a procedure for creating a calibration curve in the case of using water, which is a liquid as a leaking substance, in the sealed component 20 will be specifically described with reference to FIG.
First, a predetermined amount of water W <b> 1 is sealed in the sealed space 23, and the component upper portion 21 and the component lower portion 22 are joined by the joining portion 25. Then, the sealed component 20 is fixed to the component fixing portion 18, and the component fixing portion 18 is used to place the component upper portion 21 downward so that the enclosed water W <b> 1 does not overlap the electronic component 24. Air is contained in the sealed space 23.
Next, the irradiation unit 11, the detection unit 15, the pair of irradiation direction control unit 12, and the aperture unit 13 are set so that the range irradiated with the electromagnetic wave L includes all the water W <b> 1 enclosed in the sealed space 23. Set.
Next, the sealed part 20 is irradiated with the electromagnetic wave L from the irradiation unit 11, and the amount of transmission of the electromagnetic wave L that has passed through the sealed part 20 is measured.
Next, the above procedure is repeated and measured while changing the amount of water W1 sealed in the sealed space 23 to a plurality of levels.
Thereafter, a calibration curve is created from the measured data.

次に、密閉部品20において、漏れ物質として液体としての水を用いる場合の校正曲線を作成する手順について、水が少量の場合の例を、図7(a)を参照しながら説明する。密閉空間23内に存在する水が少量の場合には、例えば数滴の水の場合には、この水滴が電子部品24に隠れた位置に付着していると、電磁波Lの照射によっても、水滴がうまく測定されないおそれがある。このような場合には後述するように、加熱冷却部19を用いて漏れ検査を行うので、この漏れ検査に対応した校正曲線の作成をあらかじめ行う。   Next, a procedure for creating a calibration curve in the case of using water as a liquid as a leaking substance in the sealed component 20 will be described with reference to FIG. When a small amount of water is present in the sealed space 23, for example, in the case of several drops of water, if the water drops are attached to a position hidden behind the electronic component 24, May not be measured well. In such a case, as will be described later, since the leak inspection is performed using the heating and cooling unit 19, a calibration curve corresponding to the leak inspection is created in advance.

密閉空間23内に封入される水W2が少量の場合には、まず、密閉空間23内に存在する水W2を確実に測定するために、加熱冷却部19を用いて、密閉空間23内の水W2を加熱して、すべて水蒸気にする。その後、電磁波Lが照射される密閉部品20の部分を、加熱冷却部19を用いて冷却して、水蒸気を液体に相変化させる。図7(a)に示す例では、部品上部21の先端側の部分を、加熱冷却部19により冷却する。そして、水蒸気は、図7(a)に示すように、温度が低い部品上部21の内壁に水滴状に付着する。
後は、図6(a)を用いて説明したのと同様にして、電磁波を密閉部品20に照射する。また、密閉空間23内に封入する水W2の量は、水を封入しない場合も含めて、複数の水準の測定をして、校正曲線を得る。
When the amount of water W2 sealed in the sealed space 23 is small, first, in order to reliably measure the water W2 present in the sealed space 23, the water in the sealed space 23 is used by using the heating / cooling unit 19. Heat W2 to make it all steam. Thereafter, the portion of the sealed component 20 to which the electromagnetic wave L is irradiated is cooled using the heating and cooling unit 19 to change the water vapor into a liquid. In the example shown in FIG. 7A, the part on the tip side of the upper part 21 is cooled by the heating / cooling unit 19. Then, as shown in FIG. 7A, the water vapor adheres in the form of water droplets to the inner wall of the upper part 21 having a low temperature.
Thereafter, the electromagnetic wave is irradiated to the sealed component 20 in the same manner as described with reference to FIG. Further, the amount of the water W2 sealed in the sealed space 23 is measured at a plurality of levels including the case where water is not sealed to obtain a calibration curve.

そして、実際に密閉部品20の漏れを検査する際には、電磁波の密閉部品20への照射方法を、上述した校正曲線を作成する際と同様にして行う。つまり、加熱冷却部19を用いて、密閉空間23内部の水を一度水蒸気にした後に冷却して、水滴にした状態で、密閉部品20に電磁波を照射して検査する。   And when actually inspecting the leakage of the sealed component 20, the method of irradiating the sealed component 20 with electromagnetic waves is performed in the same manner as when creating the calibration curve described above. That is, using the heating and cooling unit 19, the water inside the sealed space 23 is once converted into water vapor and then cooled to form water droplets.

このように、本装置10では、加熱冷却部19を用いて密閉部品20を加熱すれば、密閉空間23内の電子部品24に隠れた位置に凝集した水を水蒸気として密閉空間23内に充満させるので、液体の状態ではうまく測定できない場合でも、漏れの検査が可能となる。   As described above, in the present apparatus 10, when the sealed component 20 is heated using the heating / cooling unit 19, the condensed space 23 is filled as water vapor with water condensed in a position hidden in the electronic component 24 in the sealed space 23. Therefore, even if the liquid state cannot be measured well, it is possible to inspect for leakage.

次に、密閉部品20において、漏れ物質として気体としての水を用いる場合の校正曲線を作成する手順について、図8を参照しながら説明する。
まず、加熱冷却部19を用いて、密閉空間23内の水を加熱して、すべての水を水蒸気W3にする。次に、密閉空間23内の水が水蒸気W3である状態を維持するように、加熱冷却部19により密閉空間23の温度を維持した状態で、図6(a)を用いて説明したのと同様にして、電磁波を密閉部品20に照射する。また、密閉空間23内に封入する水の量は、水を封入しない場合も含めて、複数の水準の測定を行い校正曲線を得る。ここで、密閉部品20は、図8に示すように、部品上部21を上側にしておいてよい。
Next, a procedure for creating a calibration curve when water as a gas is used as the leaking substance in the sealed component 20 will be described with reference to FIG.
First, the water in the sealed space 23 is heated using the heating / cooling unit 19 to convert all the water into water vapor W3. Next, in the state where the temperature of the sealed space 23 is maintained by the heating and cooling unit 19 so that the water in the sealed space 23 is the water vapor W3, the same as described with reference to FIG. Thus, the sealed component 20 is irradiated with electromagnetic waves. The amount of water sealed in the sealed space 23 is measured at a plurality of levels including the case where water is not sealed to obtain a calibration curve. Here, as shown in FIG. 8, the sealing component 20 may have the upper part 21 facing upward.

上述した説明は、漏れ物質として、気体としての水を用いる場合について説明したが、常温で気体である漏れ物質を用いる場合には、加熱冷却部19を用いないことを除いては、上述したのと同様にして、校正曲線を作成することができる。   In the above description, the case where water as a gas is used as the leaking substance has been described. However, when the leaking substance that is a gas at normal temperature is used, the heating and cooling unit 19 is not used. A calibration curve can be created in the same manner as described above.

次に、本装置10において、電磁波Lを密閉部品20に照射した時に、電磁波Lが漏れ物質を透過する様子を、上述した図6および図7を用いて、以下に説明する。   Next, how the electromagnetic wave L is transmitted through the leaking substance when the sealed component 20 is irradiated with the electromagnetic wave L in the apparatus 10 will be described below with reference to FIGS. 6 and 7 described above.

図6(a)には、絞り部13の開口部13aを通過する電磁波が、密閉空間23内を透過した透過量を密閉空間23の長手方向に沿って示してある。ここで、密閉空間23の長手方向は、電磁波の進行方向と直交する方向である。
密閉空間23内に水を封入していない場合には、図6(c)に示すように、密閉空間23の長手方向において、電磁波の透過量は一定である。一方、密閉空間23内に水を封入した場合には、図6(b)に示すように、水が存在する部分では、電磁波が水に吸収されて、水が存在しない部分と比べて、透過量が減少している。
In FIG. 6A, the amount of transmission of electromagnetic waves passing through the opening 13 a of the diaphragm 13 through the sealed space 23 is shown along the longitudinal direction of the sealed space 23. Here, the longitudinal direction of the sealed space 23 is a direction orthogonal to the traveling direction of the electromagnetic wave.
When water is not sealed in the sealed space 23, the amount of transmitted electromagnetic waves is constant in the longitudinal direction of the sealed space 23 as shown in FIG. On the other hand, when water is sealed in the sealed space 23, as shown in FIG. 6 (b), the electromagnetic wave is absorbed by the water in the portion where the water is present, and the transmission is made as compared with the portion where the water is not present. The amount is decreasing.

このように、本装置1では、部品固定部18を用いて、密閉空間23内の水が、電子部品24に隠れた場所に位置しないように、密閉部品20の向きを調節して、漏れ検査を行うことができる。   As described above, in the present apparatus 1, the component fixing unit 18 is used to adjust the direction of the sealed component 20 so that the water in the sealed space 23 is not located in a place hidden behind the electronic component 24, thereby performing a leak test. It can be performed.

図6(a)に示す例では、絞り部13の開口部13a全体から電磁波Lが密閉部品20に照射されているので、検出部15が受信する電磁波Lは、水W1を透過した部分と、水W1を透過しない部分とを併せた量となる。
一方、照射方向制御部12または絞り部13により、電磁波Lが密閉部品20を照射する範囲をスポット状に小さくして、密閉部品20を走査および照射すれば、密閉空間23内に存在する水W1の位置について、2次元情報を得ることができる。
In the example shown in FIG. 6A, since the electromagnetic wave L is applied to the sealed component 20 from the entire opening 13a of the diaphragm 13, the electromagnetic wave L received by the detection unit 15 is transmitted through the water W1. It becomes the quantity which combined the part which does not permeate | transmit water W1.
On the other hand, if the irradiation direction control unit 12 or the diaphragm unit 13 reduces the range in which the electromagnetic wave L irradiates the sealed component 20 in a spot shape and scans and irradiates the sealed component 20, the water W1 existing in the sealed space 23 is obtained. Two-dimensional information can be obtained for the position of.

図7(a)には、絞り部13の開口部13aを通過する電磁波が、密閉空間23内を透過した透過量を密閉空間23の長手方向に沿って示してある。密閉空間23内に水を封入していない場合には、図7(c)に示すように、密閉空間23の長手方向において、電磁波の透過量は一定である。一方、密閉空間23内に水滴W2を封入した場合には、図7(b)に示すように、電磁波が水滴W2に吸収されて透過量が減少している。密閉空間23の内壁には、水滴W2が、密閉空間23の長手方向全体に亘って付着しているので、密閉空間23の長手方向において、電磁波Lの透過量は一定となっている。   In FIG. 7A, the amount of transmission of electromagnetic waves passing through the opening 13 a of the aperture 13 through the sealed space 23 is shown along the longitudinal direction of the sealed space 23. When water is not sealed in the sealed space 23, the amount of transmitted electromagnetic waves is constant in the longitudinal direction of the sealed space 23 as shown in FIG. On the other hand, when the water droplet W2 is enclosed in the sealed space 23, as shown in FIG. 7B, the electromagnetic wave is absorbed by the water droplet W2 and the transmission amount is reduced. Since the water droplets W <b> 2 are attached to the inner wall of the sealed space 23 over the entire longitudinal direction of the sealed space 23, the transmission amount of the electromagnetic wave L is constant in the longitudinal direction of the sealed space 23.

このように、本装置10では、漏れ物質である水が少量の場合には、加熱冷却部19および部品固定部18を用いて、電磁波Lが照射される密閉空間23の部分に水を位置させて、密閉部品20の漏れ検査を行うことができる。   As described above, in the apparatus 10, when the amount of water that is a leaking substance is small, the heating / cooling unit 19 and the component fixing unit 18 are used to position the water in the sealed space 23 where the electromagnetic wave L is irradiated. Thus, the leakage inspection of the sealed component 20 can be performed.

本装置1では、上述した校正曲線を、電磁波の透過量を用いて作成している。一方、密閉部品20の形成材料によっては、電磁波の吸収率が高い場合もあるので、このような場合には、密閉空間23内に封入する漏れ物質の量を変えても、電磁波の透過量に差がでにくい場合もある。しかし、密閉部品20の形成材料の電磁波の透過率が微小であっても、漏れ媒質の電磁波の吸収係数が大きく、漏れ有りと漏れ無しとの間で、または、漏れ量が大と漏れ量が小との間で、電磁波の透過量の差が大きければ、漏れの検出が可能である。   In the present apparatus 1, the calibration curve described above is created using the amount of electromagnetic wave transmitted. On the other hand, depending on the forming material of the sealed part 20, the electromagnetic wave absorption rate may be high. In such a case, even if the amount of the leaking substance sealed in the sealed space 23 is changed, the transmission amount of the electromagnetic wave is increased. The difference may be difficult. However, even if the electromagnetic wave transmittance of the forming material of the sealed part 20 is very small, the absorption coefficient of the electromagnetic wave of the leakage medium is large, and between the presence and absence of leakage or the leakage amount is large and the leakage amount is large. If there is a large difference in the amount of electromagnetic wave transmitted between the small and small, leakage can be detected.

上述した本装置10によれば、密閉部品20が実際に使用される環境で、該密閉部品20の外部から内部に向かって侵入するか、または、密閉部品20の内部から外部に向かって放出される物質を漏れ物質として用いて、電磁波による非破壊の密閉部品の漏れ検査が可能であり、その検査精度が高い。また密閉部品20が実際に使用される環境で、漏れ物質が、密閉部品の外部から内部に向かって侵入するか、または、密閉部品の内部から外部に向かって放出される圧力を用いることができるので、検査精度が更に高められる。   According to the apparatus 10 described above, in an environment where the sealed part 20 is actually used, the sealed part 20 enters from the outside to the inside of the sealed part 20 or is released from the inside of the sealed part 20 to the outside. It is possible to inspect non-destructive sealed parts using electromagnetic waves as leaking substances, and the inspection accuracy is high. Further, in an environment where the sealing part 20 is actually used, a pressure can be used in which a leaking substance enters from the outside of the sealing part toward the inside or is released from the inside of the sealing part toward the outside. Therefore, the inspection accuracy is further increased.

また、電磁波Lを集光化して、密閉部品20を走査および照射して検査することにより、密閉部品に生じている複数の漏れ箇所を特定できる。   Further, by condensing the electromagnetic wave L and scanning and irradiating the sealed part 20 for inspection, it is possible to specify a plurality of leaking points occurring in the sealed part.

また、漏れ物質として、水などを用いることにより、検査コストを低減できる。   Further, the inspection cost can be reduced by using water or the like as the leaking substance.

さらに、本装置10によれば、密閉部品20が、2重構造を有しており、内側の密閉空間のみに、漏れ物質が封入されている場合にも、この密閉部品20の漏れ検査を行うことができる。   Further, according to the present apparatus 10, even when the sealed component 20 has a double structure and a leaking substance is sealed only in the inner sealed space, the leak test of the sealed component 20 is performed. be able to.

次に、本発明の第2実施形態の密閉部品の漏れ検査装置を、図9を参照しながら以下に説明する。第2実施形態について特に説明しない点については、上述の第1実施形態に関して詳述した説明が適宜適用される。また、図9において、図1〜図8と同じ構成要素に同じ符号を付してある。   Next, a leakage inspection apparatus for sealed parts according to a second embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. For points that are not particularly described in the second embodiment, the description in detail regarding the first embodiment is applied as appropriate. Moreover, in FIG. 9, the same code | symbol is attached | subjected to the same component as FIGS.

第2実施形態の漏れ検査装置10(以下、単に本装置10ともいう)は、図9に示すように、密閉部品20の形成材料を透過し且つ漏れ物質に吸収される波長を有する電磁波Lを、密閉部品20に照射する照射部11と、密閉部品20の表面から反射した電磁波Lを検出して電気信号に変換する検出部15とを有している。   As shown in FIG. 9, the leak inspection apparatus 10 (hereinafter also simply referred to as the present apparatus 10) of the second embodiment transmits an electromagnetic wave L having a wavelength that is transmitted through the forming material of the sealed component 20 and absorbed by the leaking substance. The irradiation unit 11 that irradiates the sealing component 20 and the detection unit 15 that detects the electromagnetic wave L reflected from the surface of the sealing component 20 and converts it into an electrical signal.

図9に示す例では、照射部11は、照射部駆動装置により駆動されて斜め下方を向いており、電磁波Lを密閉部品20に照射している。一方、検出部15は、検出部駆動装置により駆動されて斜め下方を向いており、密閉部品20の表面から反射した電磁波Lを受信している。照射部11および検出部15は、密閉部品20の垂直線Cに対して同じ角度の傾きを有するように照射方向または受信方向が設定されている。   In the example illustrated in FIG. 9, the irradiation unit 11 is driven by the irradiation unit driving device and faces obliquely downward, and irradiates the sealed component 20 with the electromagnetic wave L. On the other hand, the detection unit 15 is driven by the detection unit driving device and faces obliquely downward, and receives the electromagnetic wave L reflected from the surface of the sealed component 20. The irradiation direction or the reception direction is set so that the irradiation unit 11 and the detection unit 15 have the same inclination with respect to the vertical line C of the sealed component 20.

また、本装置10では、照射部11から照射された電磁波Lが、一方の照射方向制御部12により、密閉部品20の表面上に集光されている。そして、密閉部品20の表面から反射された電磁波Lは、他方の照射方向制御部12によって、検出部15に集光されている。   Further, in the present apparatus 10, the electromagnetic wave L emitted from the irradiation unit 11 is collected on the surface of the sealed component 20 by one irradiation direction control unit 12. Then, the electromagnetic wave L reflected from the surface of the sealed component 20 is condensed on the detection unit 15 by the other irradiation direction control unit 12.

本装置10では、電磁波Lが密閉部品20を透過しないので、検出部15で受信する電磁波Lのエネルギー密度が高いため、検出信号のS/N比を高められる。特に、照射する電磁波Lを集光化して、密閉部品20に照射することが、測定分解能を向上し、検出信号のS/N比をさらに高める上で好ましい。   In the present apparatus 10, since the electromagnetic wave L does not pass through the sealed component 20, the energy density of the electromagnetic wave L received by the detection unit 15 is high, so that the S / N ratio of the detection signal can be increased. In particular, it is preferable to collect the electromagnetic wave L to be irradiated and irradiate the sealed component 20 in order to improve the measurement resolution and further increase the S / N ratio of the detection signal.

本装置10は、例えば、密閉部品20の表面における漏れ発生箇所を特定する場合に用いることができる。集光化した電磁波Lを、照射部駆動装置および検出部駆動装置、または、部品固定部18を用いて、密閉部品20に走査および照射することにより、密閉部品20の表面に存在する漏れ物質の位置情報を得ることができる。   This apparatus 10 can be used, for example, when specifying the leak occurrence location on the surface of the sealed component 20. By scanning and irradiating the condensed electromagnetic wave L to the sealed component 20 using the irradiation unit driving device and the detection unit driving device or the component fixing unit 18, leakage substances present on the surface of the sealed component 20 are detected. Location information can be obtained.

ここで、電磁波Lは、密閉部品20の表面で反射する部分と、表面から透過して、表面近傍の内部から反射する部分とがある。そのため、密閉部品20から反射した電磁波Lは、密閉部品20の表面に存在する漏れ物質を検出すると共に、該表面近傍の内部に存在する漏れ物質を検出することができる。   Here, the electromagnetic wave L includes a part that reflects from the surface of the sealed component 20 and a part that transmits from the surface and reflects from the inside of the vicinity of the surface. Therefore, the electromagnetic wave L reflected from the sealed component 20 can detect a leaking substance present on the surface of the sealed part 20 and a leaking substance present in the vicinity of the surface.

密閉部品20の漏れ発生箇所としては、特に、接合部25で生じる場合が多い。しかし、接合部25に対して斜めの方向から電磁波Lを照射すると、電磁波Lが透過しにくいので、密閉部品20の接合部25を透過して出てくる電磁波Lを測定するよりも、密閉部品20の表面で反射した電磁波Lを測定することの方が、検出部15で測定する電磁波Lの強度が大きいため、漏れ物質の測定を行いやすい。   In particular, there are many cases where the leakage of the sealed component 20 occurs at the joint 25. However, when the electromagnetic wave L is irradiated to the joint portion 25 from an oblique direction, the electromagnetic wave L is difficult to transmit. Therefore, the sealed component is more effective than the measurement of the electromagnetic wave L transmitted through the joint portion 25 of the sealed component 20. Measuring the electromagnetic wave L reflected by the surface of 20 is easier to measure the leaking substance because the intensity of the electromagnetic wave L measured by the detection unit 15 is larger.

本装置10の演算部16で用いる校正曲線の作成方法について、以下に説明する。
校正曲線は、密閉部品20の表面上に、例えば密閉部品20の段差部分に、液体または固体の漏れ物質を少量、例えば1cm、置いて、そこに電磁波Lを照射して、電磁波Lの反射量を測定する。そして、漏れ物質の量を複数の水準に変更して、上述した手順を繰り返すことにより、校正曲線を作成できる。
A method for creating a calibration curve used in the calculation unit 16 of the apparatus 10 will be described below.
The calibration curve is obtained by placing a small amount of liquid or solid leaking material, for example, 1 cm 3 , on the stepped portion of the sealed component 20, for example, 1 cm 3 , and irradiating the electromagnetic wave L there. Measure the amount. Then, the calibration curve can be created by changing the amount of the leaking substance to a plurality of levels and repeating the above-described procedure.

上述した本装置10の漏れ検査装置によれば、電磁波Lが透過しにくい密閉部品20の漏れ発生箇所の測定を行うことができる。また、反射する電磁波Lの反射量が多いので、検出信号のS/N比が高い。
また、漏れが発生する可能性が高い密閉部品20の接合部25の漏れ検査に適している。
According to the above-described leakage inspection apparatus of the apparatus 10, it is possible to measure the location where the leakage of the sealed component 20 is difficult to transmit the electromagnetic wave L. Moreover, since the reflected amount of the reflected electromagnetic wave L is large, the S / N ratio of the detection signal is high.
Moreover, it is suitable for the leak inspection of the joint portion 25 of the sealed component 20 where the possibility of leakage is high.

以下、本発明の密閉部品の漏れ検査方法の例を、上述した第1実施形態の装置10を用いた好ましい第1実施態様に基づいて、図10を参照しながら説明する。   Hereinafter, an example of the leakage inspection method for sealed parts of the present invention will be described with reference to FIG. 10 based on a preferred first embodiment using the apparatus 10 of the first embodiment described above.

まず、密閉部品20の外側から内側に向かって漏れ物質が侵入する場合の漏れ検査方法について、以下に説明する。本実施態様では、密閉部品20の外側から内側に向かって漏れ物質を侵入させる前処理を行った後、電磁波を密閉部品20に照射して密閉部品20の漏れの有無を検査する。   First, a leak inspection method when a leaking substance enters from the outside to the inside of the sealed part 20 will be described below. In this embodiment, after performing the pre-process which makes a leakage substance penetrate | invade toward the inner side from the outer side of the sealing component 20, the electromagnetic wave is irradiated to the sealing component 20 and the presence or absence of the leak of the sealing component 20 is test | inspected.

図10は、本実施態様の漏れ検査方法の手順の一例を示すフローチャートである。
本実施態様は、密閉空間23を有する密閉部品20の該密閉空間23が、所定の物質に対して漏れを有するのかを検査する密閉部品の漏れ検査方法であって、密閉部品20の形成材料を透過し且つ漏れ物質に吸収される波長を有する電磁波Lを、密閉部品20に照射し、密閉部品20を透過した電磁波Lを検出して電気信号に変換し、該電気信号から漏れ物質の漏れ量を演算し、該漏れ量を用いて、密閉部品20の漏れの良否を判定する。
また、本実施態様は、電磁波Lとして、テラヘルツ波を照射する。
FIG. 10 is a flowchart showing an example of the procedure of the leakage inspection method of the present embodiment.
The present embodiment is a leakage inspection method for a sealed part for inspecting whether the sealed space 23 of the sealed part 20 having the sealed space 23 has a leak with respect to a predetermined substance. An electromagnetic wave L having a wavelength that is transmitted and absorbed by the leaking substance is irradiated onto the sealed component 20, and the electromagnetic wave L that has passed through the sealed part 20 is detected and converted into an electrical signal. And the quality of leakage of the sealed component 20 is determined using the leakage amount.
Moreover, this embodiment irradiates a terahertz wave as the electromagnetic wave L.

以下に、本実施態様について、さらに説明する。
まず、ステップS10において、密閉部品20に漏れ物質を加圧して封入する。漏れ物質は、密閉部品20が実際に使用される環境で、該密閉部品20の外部から内部に向かって侵入する物質である水を用いる。水を圧入処理する圧力としては、密閉部品20が実際に使用される環境で、漏れ物質が、密閉部品の外部から内部に向かって侵入する圧力、または、密閉部品20の耐圧を用いる。密閉部品20に水を圧入する装置としては、例えば図4に示す装置を用いることができる。
Hereinafter, this embodiment will be further described.
First, in step S10, a leaking substance is pressurized and sealed in the sealed component 20. As the leaking substance, water that is a substance that enters from the outside to the inside of the sealed part 20 in an environment where the sealed part 20 is actually used is used. As the pressure for press-fitting water, the pressure at which a leaking substance enters from the outside to the inside of the sealed part in the environment where the sealed part 20 is actually used or the pressure resistance of the sealed part 20 is used. For example, the apparatus shown in FIG. 4 can be used as an apparatus for press-fitting water into the sealed component 20.

次に、ステップS11において、密閉部品20の外面に付着した漏れ物質である水を乾燥させる。乾燥しても、漏れ物質が密閉部品20の外面から除去できないような物質である場合には、密閉部品20の外面を洗浄して、漏れ物質を除去する。   Next, in step S <b> 11, water that is a leaking substance attached to the outer surface of the sealed component 20 is dried. If the leaking substance cannot be removed from the outer surface of the sealed part 20 even after drying, the outer surface of the sealed part 20 is washed to remove the leaked substance.

次に、ステップS12において、照射部11が、密閉部品20の形成材料である樹脂を透過し、且つ、漏れ物質である水に吸収される波長を有する電磁波Lであるテラヘルツ波を、密閉部品20に照射する。   Next, in step S <b> 12, the irradiation unit 11 transmits the terahertz wave, which is the electromagnetic wave L having a wavelength that is transmitted through the resin that is a forming material of the sealed part 20 and is absorbed by water that is a leaking substance, to the sealed part 20. Irradiate.

次に、ステップS13において、検出部15が、密閉部品20を透過した電磁波Lを検出して電気信号である電圧値に変換し、この電圧値を演算部16に出力する。   Next, in step S <b> 13, the detection unit 15 detects the electromagnetic wave L that has passed through the sealed component 20, converts it to a voltage value that is an electrical signal, and outputs this voltage value to the calculation unit 16.

次に、ステップS14において、演算部16が、電圧値から漏れ物質の漏れ量を演算して求める。演算部16は、例えば図5に示す校正曲線を用いて、漏れ量を求める。演算部16は、検出部15から電磁波Lの透過量を電圧値として入力されるので、この電圧値に対応する横軸の値を漏れ量として求める。もし、検査した密閉部品20に漏れが無ければ、漏れ量はゼロとなる。   Next, in step S <b> 14, the calculation unit 16 calculates and determines the leakage amount of the leakage substance from the voltage value. The calculating part 16 calculates | requires leak amount, for example using the calibration curve shown in FIG. Since the calculation unit 16 receives the transmission amount of the electromagnetic wave L from the detection unit 15 as a voltage value, the calculation unit 16 obtains the value on the horizontal axis corresponding to the voltage value as the leakage amount. If there is no leak in the inspected sealed part 20, the amount of leak is zero.

然る後、ステップS15において、判定部17は、漏れ量を用いて、所定のしきい値と比較して、密閉部品20の漏れの良否を判定処理し、密閉部品20が良品であるか、または、不良品であるのかを判断する。   Thereafter, in step S15, the determination unit 17 uses the leakage amount to compare the predetermined threshold value to determine whether the sealed component 20 is good or not, and whether the sealed component 20 is a good product. Or it is judged whether it is inferior goods.

なお、密閉部品20の製造時に、密閉空間23内に漏れ物質を封入している場合には、S10およびS11は省略してもよい。   In addition, S10 and S11 may be abbreviate | omitted when the leaking substance is enclosed in the sealed space 23 at the time of manufacture of the sealed component 20. FIG.

次に、密閉部品20の内側から外側に向かって漏れ物質が放出される場合である漏れ検査方法の第2実施態様について、以下に説明する。   Next, a second embodiment of the leakage inspection method, which is a case where a leakage substance is released from the inside to the outside of the sealed component 20, will be described below.

図11は、本実施態様の漏れ検査方法の手順の一例を示すフローチャートである。
まず、上述したS10からS14と同様にして、ステップS20からステップS24において、密閉空間23に漏れ物質としての水を圧入した密閉部品20に電磁波Lの照射1を行って、密閉部品20を透過した電磁波Lの透過量Aを演算部16により求める。
FIG. 11 is a flowchart showing an example of the procedure of the leakage inspection method of the present embodiment.
First, in the same manner as S10 to S14 described above, in steps S20 to S24, the sealed component 20 in which water as a leaking substance was press-fitted into the sealed space 23 was irradiated 1 with the electromagnetic wave L and transmitted through the sealed component 20. The calculation unit 16 obtains the transmission amount A of the electromagnetic wave L.

次に、ステップS25において、密閉部品20の減圧処理を行う。密閉部品20を、例えば、図15に示す真空容器601に入れて、排気装置603により真空容器602内を減圧する。もし、密閉部品20が漏れを有していれば、この減圧下において、密閉空間23内の水が、密閉部品20の内側から外側に向かって放出されるので、密閉空間23内の水の量が減少する。その後、密閉部品20の外面を乾燥または洗浄してもよい。   Next, in step S25, the decompression process of the sealed component 20 is performed. For example, the sealed component 20 is put in a vacuum container 601 shown in FIG. 15, and the inside of the vacuum container 602 is depressurized by the exhaust device 603. If the sealed part 20 has a leak, the water in the sealed space 23 is discharged from the inside to the outside of the sealed part 20 under this reduced pressure. Decrease. Thereafter, the outer surface of the sealing part 20 may be dried or washed.

次に、ステップS26からステップS28において、上述したS22からS24と同様にして、減圧処理後の密閉部品20に電磁波Lの照射2を行って、密閉部品20を透過した電磁波Lの透過量Bを演算部16により求める。   Next, in step S26 to step S28, similarly to S22 to S24 described above, the sealed component 20 after the decompression process is irradiated 2 with the electromagnetic wave L, and the transmission amount B of the electromagnetic wave L transmitted through the sealed component 20 is set. Obtained by the calculation unit 16.

次に、ステップS29において、演算部16が、電磁波Lの透過量Aから透過量Bを減算処理して、密閉部品20の減圧処理前後の透過量の差を求める。   Next, in step S <b> 29, the calculation unit 16 subtracts the transmission amount B from the transmission amount A of the electromagnetic wave L to obtain a difference in transmission amount before and after the pressure reducing process of the sealed component 20.

次に、ステップS30において、演算部16が、この透過量の差から、密閉部品20の内側から外側に向かって放出された漏れ物質の漏れ量を求める。   Next, in step S <b> 30, the calculation unit 16 obtains the leakage amount of the leakage substance released from the inside to the outside of the sealed component 20 from the difference in the transmission amount.

ここで、校正曲線として、例えば、図12に示すものを用いることができる。図12に示す校正曲線は、その縦軸が、透過量の差であり、横軸は、この透過量の差に対応する漏れ量である。図12に示す校正曲線は、例えば図5に示す校正曲線を用いて作成することができる。具体的には、図5の縦軸の2つの異なる透過量の値と、それぞれに対応する横軸の漏れ量を読み取り、透過量の差と漏れ量の差とからなる1組のデータを得る。同様の手順を繰り返して、透過量の差と漏れ量の差とからなる複数の組のデータを得た後、これらのデータを、グラフにプロットして、各プロット間を結べば、図12に示すような校正曲線が得られる。   Here, for example, the calibration curve shown in FIG. 12 can be used. In the calibration curve shown in FIG. 12, the vertical axis represents the difference in transmission amount, and the horizontal axis represents the leakage amount corresponding to the difference in transmission amount. The calibration curve shown in FIG. 12 can be created using, for example, the calibration curve shown in FIG. Specifically, two different transmission amount values on the vertical axis in FIG. 5 and the corresponding leakage amount on the horizontal axis are read to obtain a set of data consisting of the difference in transmission amount and the difference in leakage amount. . The same procedure is repeated to obtain a plurality of sets of data consisting of a difference in transmission amount and a difference in leakage amount. Then, these data are plotted on a graph and the plots are connected to each other as shown in FIG. A calibration curve as shown is obtained.

然る後、ステップ31において、判定部17が、透過量の差から密閉部品20の漏れの良否を判定する。判定部17は、図12に示すように、密閉部品20が漏れを有さないか、または、漏れ量が所定のしきい値以下の場合には、密閉部品20を良品と判定し、漏れ量が上記しきい値よりも高い場合には、密閉部品20を不良品と判定する。   Then, in step 31, the determination part 17 determines the quality of the leak of the sealing component 20 from the difference in permeation amount. As shown in FIG. 12, the determination unit 17 determines that the sealed component 20 is a non-defective product when the sealed component 20 does not have a leak or the leak amount is equal to or less than a predetermined threshold value. Is higher than the threshold value, it is determined that the sealed component 20 is defective.

なお、本実施態様では、S20において、密閉部品20に漏れ物質の水を封入する際に、加圧装置を用いずに、大気圧で漏れ物質を封入していてもよい。大気圧で漏れ物質を封入していても、密閉部品20をS25において減圧処理するので、密閉部品20が漏れを有していれば、密閉空間23内の漏れ物質は、密閉部品20の内側から外側に向かって放出される。   In this embodiment, when the leaking substance water is sealed in the sealed part 20 in S20, the leaking substance may be sealed at atmospheric pressure without using the pressurizing device. Even if the leaking substance is sealed at atmospheric pressure, the sealed part 20 is decompressed in S25. Therefore, if the sealed part 20 has a leak, the leaked substance in the sealed space 23 is released from the inside of the sealed part 20. Released outward.

また、上述した実施態様において、密閉空間内の漏れ物質を、必要に応じて、加熱または冷却した後、電磁波Lを密閉部品20に照射してもよい。また、電磁波Lの照射範囲を適宜調節した後に、該電磁波Lを密閉部品20に照射することが好ましい。   In the above-described embodiment, the sealed component 20 may be irradiated with the electromagnetic wave L after the leaking substance in the sealed space is heated or cooled as necessary. Moreover, it is preferable to irradiate the sealed component 20 with the electromagnetic wave L after appropriately adjusting the irradiation range of the electromagnetic wave L.

本発明の密閉部品の漏れ検査装置およびその検査方法は、上述した実施形態または実施態様に制限されることなく、本発明の趣旨を逸脱しない限り適宜変更が可能である。
例えば、本発明の上記実施形態で測定対象とした密閉部品20は、車に搭載される部品であったが、本装置10の測定対象となる密閉部品は、電磁波が透過可能な材料から形成されており、漏れ物質が電磁波を吸収可能であれば、密閉部品20の形成材料または漏れ物質は、他のものであってもよい。
The leak inspection apparatus and the inspection method for a sealed part of the present invention are not limited to the above-described embodiment or embodiment, and can be appropriately changed without departing from the gist of the present invention.
For example, the sealed part 20 to be measured in the above-described embodiment of the present invention is a part mounted on a car. However, the sealed part to be measured by the apparatus 10 is formed of a material that can transmit electromagnetic waves. If the leaking substance can absorb electromagnetic waves, the material for forming the sealed part 20 or the leaking substance may be other.

また、上述した第2実施態様では、密閉部品20のみを減圧処理していたが、本装置10全体を、減圧室内に配置して、室内の圧力を減圧しながら、密閉部品20に電磁波Lを照射して、密閉部品20の漏れを検査してもよい。   In the second embodiment described above, only the sealed component 20 is decompressed. However, the entire apparatus 10 is disposed in the decompression chamber, and the electromagnetic wave L is applied to the sealed component 20 while reducing the pressure in the chamber. Irradiation may be performed to check for leakage of the sealed part 20.

上述した一の実施形態また実施態様における要件は、適宜、実施形態間または実施態様で相互に置換可能である。   The requirements in one embodiment or embodiment described above can be interchanged between the embodiments or between the embodiments as appropriate.

図1は、本発明の第1実施形態の漏れ検査装置を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a leak inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention. 図2(a)は、図1の密閉部品の斜視図であり、図2(b)は、図2(a)の断面図である。2A is a perspective view of the hermetic component of FIG. 1, and FIG. 2B is a cross-sectional view of FIG. 図3(a)および(b)は、絞り部の他の形態を示す図である。FIGS. 3A and 3B are diagrams showing other forms of the throttle portion. 図4は、密閉容器に水を加圧注入する加圧装置を示す図である。FIG. 4 is a view showing a pressurizing device that pressurizes and injects water into a sealed container. 図5は、校正曲線の一例である。FIG. 5 is an example of a calibration curve. 図6は、密閉空間内の水を測定する様子を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a state in which water in the sealed space is measured. 図7は、密閉容器内の少量の水を測定する様子を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating a state in which a small amount of water in the sealed container is measured. 図8は、密閉容器内の水蒸気を測定する様子を示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating a state in which water vapor in the sealed container is measured. 図9は、本発明の第2実施形態の漏れ検査装置を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a leak inspection apparatus according to the second embodiment of the present invention. 図10は、本発明の第1実施態様の漏れ検査方法を示すフローチャートである。FIG. 10 is a flowchart showing a leakage inspection method according to the first embodiment of the present invention. 図11は、本発明の第2実施態様の漏れ検査方法を示すフローチャートである。FIG. 11 is a flowchart showing a leakage inspection method according to the second embodiment of the present invention. 図12は、校正曲線の他の例である。FIG. 12 is another example of the calibration curve. 図13は、従来例による漏れ検査装置を示す図であり、密閉部品にヘリウムガスを注入する装置を示している。FIG. 13 is a view showing a leak inspection apparatus according to a conventional example, and shows an apparatus for injecting helium gas into a sealed part. 図14は、従来例による漏れ検査装置を示す図であり、密閉容器から漏れ出したヘリウムガスを検出する装置を示している。FIG. 14 is a view showing a leak inspection apparatus according to a conventional example, and shows an apparatus for detecting helium gas leaking from a sealed container. 図15は、従来例による、密閉容器から漏れ出したヘリウムガスを検出する他の装置である。FIG. 15 shows another apparatus for detecting helium gas leaking from a sealed container according to a conventional example.

符号の説明Explanation of symbols

10 密閉部品の漏れ検査装置
11 照射部
12 照射方向制御部
13 絞り部
15 検出部
16 演算部
17 判定部
18 部品固定部
19 加熱冷却部
20 密閉部品
21 部品上部
22 部品下部
23 密閉空間
24 電子部品
25 接合部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Sealed component leak inspection apparatus 11 Irradiation part 12 Irradiation direction control part 13 Aperture part 15 Detection part 16 Calculation part 17 Judgment part 18 Component fixing part 19 Heating / cooling part 20 Sealed part 21 Upper part 22 Parts lower part 23 Sealed space 24 Electronic parts 25 joints

Claims (15)

密閉空間(23)を有する密閉部品(20)の該密閉空間(23)が、所定の物質に対して漏れを有するのかを検査する密閉部品の漏れ検査装置であって、
前記密閉部品(20)の形成材料を透過し且つ前記物質に吸収される波長を有する電磁波(L)を、前記密閉部品(20)に照射する照射部(11)と、
前記密閉部品(20)を透過したか、または、該密閉部品(20)の表面から反射した前記電磁波(L)を検出して電気信号に変換する検出部(15)と、
前記電気信号から前記物質の漏れ量を演算する演算部(16)と、
前記漏れ量を用いて、前記密閉部品(20)の漏れの良否を判定する判定部(17)と、
を備えていることを特徴とする密閉部品の漏れ検査装置。
A sealed part leak testing apparatus for testing whether the sealed space (23) of the sealed part (20) having the sealed space (23) has a leak with respect to a predetermined substance,
An irradiation part (11) for irradiating the sealing part (20) with an electromagnetic wave (L) having a wavelength that passes through the forming material of the sealing part (20) and is absorbed by the substance;
A detection unit (15) that detects the electromagnetic wave (L) that has passed through the sealing component (20) or reflected from the surface of the sealing component (20) and converts it into an electrical signal;
A calculation unit (16) for calculating a leakage amount of the substance from the electrical signal;
A determination unit (17) that determines the quality of leakage of the sealed component (20) using the leakage amount;
A leakage inspection device for sealed parts, comprising:
前記密閉部品(20)は、前記密閉空間(23)に前記物質が封入されたものであることを特徴とする請求項1に記載の密閉部品の漏れ検査装置。   The leak test apparatus for a sealed part according to claim 1, wherein the sealed part (20) is the sealed part (20) in which the substance is sealed. 前記密閉部品(20)は、前記物質の圧入処理がなされたものであることを特徴とする請求項1に記載の密閉部品の漏れ検査装置。   2. The leak inspection device for a sealed part according to claim 1, wherein the sealed part (20) has been subjected to a press-fitting treatment of the substance. 3. 前記電磁波(L)が、テラヘルツ波であることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の密閉部品の漏れ検査装置。   The said electromagnetic wave (L) is a terahertz wave, The leak test | inspection apparatus of the sealed components as described in any one of Claim 1 to 3 characterized by the above-mentioned. 前記密閉空間(23)内の前記物質を、加熱または冷却する加熱冷却部(19)を有していることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の密閉部品の漏れ検査装置。   5. The leak inspection of sealed parts according to claim 1, further comprising a heating / cooling unit (19) for heating or cooling the substance in the sealed space (23). apparatus. 前記密閉部品(20)に照射する前記電磁波(L)の照射方向を制御する照射方向制御部(12)を有していることを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の密閉部品の漏れ検査装置。   It has an irradiation direction control part (12) which controls the irradiation direction of the electromagnetic wave (L) irradiated to the sealing part (20), The statement according to any one of claims 1 to 5 characterized by things. Seal inspection device for sealed parts. 前記密閉部品(20)に前記電磁波(L)を照射する照射範囲を調節する絞り部(13)を有していることを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の密閉部品の漏れ検査装置。   The sealed component according to any one of claims 1 to 6, further comprising a diaphragm (13) for adjusting an irradiation range in which the electromagnetic wave (L) is irradiated to the sealed component (20). Leak inspection device. 前記密閉部品(20)を固定する部品固定部(18)を有しており、該部品固定部(18)は、前記密閉部品(20)を回転移動または平行移動をさせることを特徴とする請求項1から7のいずれか一項に記載の密閉部品の漏れ検査装置。   A component fixing portion (18) for fixing the sealing component (20) is provided, and the component fixing portion (18) rotates or translates the sealing component (20). Item 9. The leak inspection device for sealed parts according to any one of Items 1 to 7. 前記物質は、前記密閉部品(20)が実際に使用される状況で、該密閉部品(20)の外部から内部に向かってか、または、内部から外部に向かって漏れる物質と、同じであることを特徴とする請求項1から8のいずれか一項に記載の密閉部品の漏れ検査装置。   The substance is the same as the substance that leaks from the outside to the inside of the sealing part (20) or from the inside to the outside in a situation where the sealing part (20) is actually used. The leak inspection apparatus for hermetic parts according to any one of claims 1 to 8, wherein: 密閉空間(23)を有する密閉部品(20)の該密閉空間(23)が、所定の物質に対して漏れを有するのかを検査する密閉部品の漏れ検査方法であって、
前記密閉部品(20)の形成材料を透過し且つ前記物質に吸収される波長を有する電磁波(L)を、前記密閉部品(20)に照射し、
前記密閉部品(20)を透過したか、または、該密閉部品(20)の表面から反射した前記電磁波(L)を検出して電気信号に変換し、
前記電気信号から前記物質の漏れ量を演算し、
前記漏れ量を用いて、前記密閉部品(20)の漏れの良否を判定する、
ことを特徴とする密閉部品の漏れ検査方法。
A method for inspecting a leakage of a sealed part for inspecting whether the sealed space (23) of the sealed part (20) having the sealed space (23) has a leak with respect to a predetermined substance,
Irradiating the sealing component (20) with an electromagnetic wave (L) having a wavelength that passes through the forming material of the sealing component (20) and is absorbed by the substance,
The electromagnetic wave (L) transmitted through the sealing component (20) or reflected from the surface of the sealing component (20) is detected and converted into an electrical signal,
Calculate the amount of leakage of the substance from the electrical signal,
Using the leakage amount, the quality of leakage of the sealed part (20) is determined.
A method for inspecting leaks of sealed parts characterized by the above.
前記密閉部品(20)は、前記密閉空間(23)に前記物質を封入したものであることを特徴とする請求項10に記載の密閉部品の漏れ検査方法。   The method of inspecting leakage of a sealed part according to claim 10, wherein the sealed part (20) is the sealed space (23) in which the substance is sealed. 前記密閉部品(20)は、前記物質の圧入処理をしたものであることを特徴とする請求項10に記載の密閉部品の漏れ検査方法。   11. The method for inspecting leakage of a sealed part according to claim 10, wherein the sealed part (20) is subjected to a press-fitting treatment of the substance. 前記電磁波(L)が、テラヘルツ波であることを特徴とする請求項10から12のいずれか一項に記載の密閉部品の漏れ検査方法。   The leak test method for sealed parts according to any one of claims 10 to 12, wherein the electromagnetic wave (L) is a terahertz wave. 前記密閉空間(23)内の前記物質を、加熱または冷却して、前記電磁波(L)を照射することを特徴とする請求項10から13のいずれか一項に記載の密閉部品の漏れ検査方法。   The method for inspecting leakage of a sealed part according to any one of claims 10 to 13, wherein the substance in the sealed space (23) is heated or cooled to irradiate the electromagnetic wave (L). . 前記電磁波(L)の照射範囲を調節した後に、該電磁波(L)を前記密閉部品(20)に照射することを特徴とする請求項10から14のいずれか一項に記載の密閉部品の漏れ検査方法。   The leakage of the sealed part according to any one of claims 10 to 14, wherein the sealed part (20) is irradiated with the electromagnetic wave (L) after adjusting an irradiation range of the electromagnetic wave (L). Inspection method.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2013007706A (en) * 2011-06-27 2013-01-10 Nyuma System Co Ltd Plastic sheet discrimination device
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