JP2008300526A - Mounting line, apparatus and method of inspecting mounting substrate - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、ハンダが塗布されて部品が搭載された後、ハンダがリフローされる実装基板に対して実装状態を検査する実装ライン、実装基板の検査装置および検査方法に関する。 The present invention relates to a mounting line, a mounting board inspection apparatus, and an inspection method for inspecting a mounting state with respect to a mounting board to which solder is reflowed after solder is applied and components are mounted.
印刷機によってハンダを印刷(塗布)した基板に対し、実装機によって部品を搭載するようにした実装ラインが周知である。 A mounting line in which components are mounted by a mounting machine on a board on which solder is printed (applied) by a printing machine is well known.
このような実装ラインにおいて実装基板の実装状態を検査する方法としては特許文献1,2に示す方法が周知である。
As methods for inspecting the mounting state of the mounting substrate in such a mounting line, methods disclosed in
特許文献1,2の検査方法は、ハンダを印刷した後、部品を実装する前に、ハンダの印刷状態を検査するとともに、実装機により部品を実装した後、部品の実装状態を検査するようにしている。
上記特許文献1,2に示す従来の実装基板の検査方法は、ハンダの印刷位置や部品の搭載位置を検査するものであるが、これらの位置データからは、不良原因を正確に特定することは困難であった。
The conventional mounting board inspection methods shown in
この発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、不良原因を正確に特定することができる実装ライン、実装基板の検査装置および検査方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a mounting line, a mounting board inspection apparatus, and an inspection method capable of accurately identifying the cause of the failure.
本発明は下記の手段を提供する。 The present invention provides the following means.
[1] ハンダが塗布されて部品が搭載された後、ハンダがリフローされる実装基板に対して実装状態を検査する実装基板の検査装置であって、
部品を搭載した後、ハンダをリフローする前に、部品とハンダとの接合状態を3次元形状で認識してその認識画像データを取得する認識画像データ取得手段と、
部品とハンダとの接合状態が不良の実装基板に対し、認識画像データに基づいて、不良原因を特定する不良原因特定手段と、を備えたことを特徴とする実装基板の検査装置。
[1] A mounting board inspection apparatus for inspecting a mounting state with respect to a mounting board to which solder is reflowed after solder is applied and a component is mounted.
Recognition image data acquisition means for recognizing the joint state between the component and the solder in a three-dimensional shape and acquiring the recognition image data after mounting the component and before reflowing the solder;
A mounting board inspection apparatus comprising: a failure cause specifying means for specifying a cause of a failure based on recognition image data for a mounting board in which a bonding state between a component and solder is defective.
[2] 不良原因特定手段によって特定された不良原因に応じて、ハンダ塗布用のハンダ塗布機における塗布条件あるいは部品搭載用の実装機における実装条件の内少なくとも一方の条件を補正するための補正値を算出する補正値算出手段を備えた前項1に記載の実装基板の検査装置。
[2] A correction value for correcting at least one of a coating condition in a solder coating machine for solder coating and a mounting condition in a mounting machine for mounting components according to the cause of the fault specified by the fault cause specifying means. 2. The mounting board inspection apparatus according to
[3] 基板にハンダを塗布するハンダ塗布機と、ハンダが塗布された基板に部品を搭載する実装機と、部品が搭載された基板のハンダをリフローするリフロー炉と、を備えた実装ラインであって、
実装機とリフロー炉との間に検査装置が設けられ、
前記検査装置は、部品とハンダとの接合状態を3次元形状で認識してその認識画像データを取得する認識画像データ取得手段と、部品とハンダとの接合状態が不良の実装基板に対し、認識画像データに基づいて、不良原因を特定する不良原因特定手段と、を備えたことを特徴とする実装ライン。
[3] In a mounting line comprising a solder coater for applying solder to a substrate, a mounting machine for mounting components on the solder-coated substrate, and a reflow furnace for reflowing solder on the substrate on which the components are mounted. There,
An inspection device is installed between the mounting machine and the reflow furnace,
The inspection apparatus recognizes a bonding state between a component and solder in a three-dimensional shape and acquires recognition image data, and recognizes a mounting substrate in which the bonding state between the component and solder is defective. A mounting line comprising: a failure cause specifying means for specifying a cause of failure based on image data.
[4] 不良原因特定手段によって特定された不良原因に応じて、ハンダ塗布機の塗布条件および実装機の実装条件を補正するようにした前項3に記載の実装ライン。
[4] The mounting line according to
[5] ハンダを塗布して部品を搭載した後、ハンダをリフローする実装基板に対して実装状態を検査する実装基板の検査方法であって、
部品を搭載した後、ハンダをリフローする前に、部品とハンダとの接合状態を3次元形状で認識してその認識画像データを取得し、
部品とハンダとの接合状態が不良の実装基板に対し、認識画像データに基づいて、不良原因を特定するようにした実装基板の検査方法。
[5] A mounting board inspection method for inspecting a mounting state with respect to a mounting board to which solder is reflowed after applying solder and mounting components.
After mounting the part and before reflowing the solder, the joint state between the part and the solder is recognized in a three-dimensional shape, and the recognition image data is acquired.
A mounting board inspection method in which a cause of a failure is specified based on recognition image data for a mounting board in which a bonding state between a component and solder is defective.
上記発明[1]にかかる実装基板の検査装置によると、ハンダをリフローする前に、部品とハンダとの接合状態を3次元の認識画像データに基づいて検査できるため、不良原因の特定を正確に行うことができる。 According to the mounting board inspection apparatus according to the invention [1], the bonding state between the component and the solder can be inspected based on the three-dimensional recognition image data before the solder is reflowed. It can be carried out.
上記発明[2]にかかる実装基板の検査装置によると、不良品が発生するのを有効に防止することができる。 According to the mounting board inspection apparatus of the invention [2], it is possible to effectively prevent the occurrence of defective products.
上記発明[3]にかかる実装ラインによると、上記と同様に、不良原因の特定を正確に行うことができる。 According to the mounting line according to the invention [3], the cause of the defect can be accurately identified as described above.
上記発明[4]にかかる実装ラインによると、上記と同様に、不良品が発生するのを有効に防止することができる。 According to the mounting line according to the invention [4], it is possible to effectively prevent the occurrence of defective products as described above.
上記発明[5]にかかる実装基板の検査方法によると、上記と同様に、不良原因の特定を正確に行うことができる。 According to the mounting substrate inspection method of the invention [5], the cause of the defect can be accurately identified as described above.
図1はこの発明の一実施形態にかかる実装ラインを示す概略正面図である。同図に示すように、この実装ラインは、上流側から下流側にかけて、基板搬入機1、印刷機2、複数台の実装機10…、検査装置3、リフロー炉4および基板搬出機5等の設備が並んで配置されている。
FIG. 1 is a schematic front view showing a mounting line according to an embodiment of the present invention. As shown in the figure, this mounting line includes, from the upstream side to the downstream side, a substrate carry-in
基板搬入機1は、未実装状態の多数の基板が収容されており、その基板を印刷機2に順次搬入する。
The substrate carry-in
印刷機2は、搬入された基板に、ステンシル(マスク)を重装し、ステンシル上に供給したクリームハンダをスキージによって拡張することにより、ステンシルに形成された開口部(パターン孔)を介して基板の所定領域にクリームハンダを印刷(塗布)する。
The
実装機10…は、部品をピックアップ自在なヘッドを有し、そのヘッドにより部品供給部に供給される電子部品をピックアップした後、そのヘッドを、搬入された基板位置まで移動させて、部品を基板の所定位置に搭載する。
The
検査装置3は、後に詳述するように、搬入された基板における実装状態を検査して、良否を判断したり、不良原因を特定する。
As will be described in detail later, the
リフロー炉4は、クリームハンダをリフローさせて成形した後、硬化させて、そのハンダによって部品の端子と基板の電極とを接続する。 The reflow furnace 4 is formed by reflowing cream solder and then curing, and the terminal of the component and the electrode of the substrate are connected by the solder.
基板搬出機5は、リフロー炉4から搬出された実装済の基板を順次収容していく。
The
本実施形態において、実装ラインを構成する各設備は、コントローラとしてパーソナルコンピュータ等によって構成される制御装置6…をそれぞれ備え、各制御装置6…によって各設備の動作が制御されるようになっている。
In this embodiment, each facility constituting the mounting line includes a
さらに各制御装置6…は、ネットワーク回線等の通信手段を介して互いに接続されており、各制御装置6…間において、信号の送受信が行われることにより、実装ライン全体として統括的な動作が行われる。
Further, the
また各設備の制御装置6…には、動作状況などを表示する液晶ディスプレイ、CRTディスプレイ等の表示ユニット62…がそれぞれ設けられている。さらに各制御装置6…には、各種の情報を入力するためのキーボードやマウス等の入力ユニット(図示省略)が接続されている。
In addition, the
本実施形態の実装ラインにおいては、基板搬入機1から搬入される基板W、つまりハンダが印刷される前の基板Wには図3(a)に示すように、パッド(電極)Pが形成されている。
In the mounting line of this embodiment, as shown in FIG. 3A, pads (electrodes) P are formed on the substrate W carried from the substrate carry-in
そしてこの基板Wが印刷機2に搬入されて印刷処理が施されると図3(b)に示すように、パッドP上に所定の形状で所定の大きさ(量)でクリームハンダSが印刷される。
When the substrate W is carried into the
ハンダSが印刷された後、基板Wが実装機10に搬入されて部品Eが搭載されると図3(c)に示すように、部品Eはその端子TがハンダSに押し込まれてパッドPに接触あるいは近接した状態で基板W上に配置される。
After the solder S is printed, when the substrate W is carried into the
部品Eが搭載された後、基板Wがリフロー炉4に搬入されてハンダSがリフローされて硬化されると図3(d)に示すように、ハンダSが部品Eの端子表面からパッド表面を覆うように配置される。 After the component E is mounted, when the substrate W is carried into the reflow furnace 4 and the solder S is reflowed and cured, the solder S moves from the terminal surface of the component E to the pad surface as shown in FIG. Arranged to cover.
こうしてハンダSが硬化された後、基板Wが基板搬出機5に搬入される。このような動作が順次繰り返されることにより、部品Eが実装された基板Wが順次生産される。
After the solder S is thus cured, the substrate W is carried into the
ここで本実施形態の実装ラインにおいて、印刷機2に起因する印刷不良、実装機10に起因する搭載不良、リフロー炉4に起因するリフロー不良について説明する。
Here, in the mounting line of the present embodiment, a printing failure caused by the
図4(a)に示す正常な基板Wに対して、印刷機2による不良を生じさせる不良原因としては、図4(b−1)に示すようにハンダSの量が少ないハンダ量不足、図4(b−2)に示すようにハンダSの印刷位置がパッドPに対し位置ずれするハンダ位置ずれ、図4(b−3)に示すようにハンダSの形状が異形となるハンダ形状異常(ハンダ不均衡)等が例示される。
As a cause of the failure that causes the
ハンダ量不足の不良原因がある場合に、図4(c−1)に示すように実装機10およびリフロー炉4によって、正常に搭載処理およびリフロー硬化処理が行われると、ハンダSがパッドPおよび端子Tに十分に接合されない状態、すなわち図4(d−1)に示すようにハンダぬれ不足不良が発生する。
When there is a defect cause of insufficient solder amount, when the mounting process and the reflow curing process are normally performed by the
ハンダ位置ずれの不良原因がある場合に、図4(c−2)に示すように正常に搭載処理およびリフロー処理が行われると、端子Tが浮き上がって、端子TとハンダSが未接続の状態、すなわち図4(d−2)に示すように端子浮き上がり不良が発生する。 When there is a defect cause of the solder misalignment, when the mounting process and the reflow process are normally performed as shown in FIG. 4C-2, the terminal T is lifted and the terminal T and the solder S are not connected. That is, as shown in FIG. 4 (d-2), a terminal floating failure occurs.
またハンダ形状異常の不良原因がある場合に、図4(c−2)に示すように正常に搭載処理およびリフロー処理が行われると、ハンダ位置ずれの場合とほぼ同様に、図4(d−3)に示すように端子浮き上がり不良が発生する。 Further, when there is a cause of the defect of the solder shape abnormality, when the mounting process and the reflow process are normally performed as shown in FIG. 4C-2, as shown in FIG. As shown in 3), the terminal floating failure occurs.
また図5(a)(b)に示すように正常な基板Wに、ハンダSが正常に印刷された際に、その基板Wに対して、実装機10による不良を生じさせる不良原因としては、図5(c−1)に示すようにヘッドが部品Eを基板Wに移載する際におけるヘッドの下降量の不足(下降量不足、斜め搭載)、図5(c−2)に示すようにヘッドが部品Eを基板Wに移載する際においてヘッドが下降状態で維持される時間の不足(タイマー不足、基板未達)や搭載圧力不足、図5(c−3)に示すように部品EのハンダS(パッドP)に対し位置ずれする搭載位置ずれ等が例示される。
Further, as shown in FIGS. 5A and 5B, when the solder S is normally printed on the normal substrate W, the cause of the failure caused by the
下降量不足の不良原因がある場合に、正常にリフロー処理が行われると図5(d−1)に示すように、ハンダぬれ不足不良が発生する。 If there is a cause for the deficiency of the descent amount and the reflow process is performed normally, a deficiency in damp soldering occurs as shown in FIG.
タイマー不足の不良原因がある場合に、正常にリフロー処理が行われると図5(d−2)に示すように、ハンダぬれ不足不良が発生する。 When there is a cause of a shortage of timers and the reflow process is performed normally, as shown in FIG. 5D-2, a shortage of solder wettability occurs.
搭載位置ずれの不良原因がある場合に、正常にリフロー処理が行われると図5(d−3)に示すように端子浮き上がり不良が発生する。 If there is a cause of the mounting position error, if the reflow process is performed normally, a terminal lifting error occurs as shown in FIG.
また図6(a)〜(c)に示すように、正常な基板Wに印刷機2による印刷処理および実装機10による搭載処理が正常に行われた際に、その基板Wに対して、リフロー炉4による不良を生じさせる不良原因としては、図6(d−1)に示すようにリフロー処理時の熱量が不足する熱量不足、図6(d−2)に示すようにリフロー温度にバラツキがあるリフロー温度不均衡等が例示される。
Further, as shown in FIGS. 6A to 6C, when the printing process by the
熱量不足の不良原因があると、ハンダ硬化後には、上記したハンダぬれ不足不良が発生するとともに、リフロー温度不均衡の不良原因があると、上記した端子浮き上がり不良が発生する。 If there is a defect cause of insufficient heat quantity, after the solder is cured, the above-described insufficient solder wettability occurs, and if there is a cause of the reflow temperature imbalance, the above-described terminal lifting defect occurs.
このようにハンダ硬化後に判明する不良にはそれぞれ不良原因があるが、ハンダ硬化後の不良状態から必ずしも、不良原因を特定することはできなない。例えば不良原因が印刷機2による印刷位置ずれの場合には(図4(b−2)参照)、ハンダ硬化後においては端子浮き上がり不良が発生し(図4(d−2)参照)、さらに不良原因が実装機10による実装位置ずれの場合(図5(c−3)参照)や、リフロー炉4によるリフロー温度不均衡の場合であっても、ハンダ硬化後においては上記と同様に、端子浮き上がり不良が発生する(図5(d−3),図6(d−2)参照)。 As described above, each of the defects found after the solder curing has a cause of the defect. However, the cause of the defect cannot always be identified from the defect state after the solder curing. For example, when the cause of the defect is a printing position shift by the printing press 2 (see FIG. 4 (b-2)), a terminal floating defect occurs after the solder is cured (see FIG. 4 (d-2)). Even if the cause is a mounting position shift by the mounting machine 10 (see FIG. 5 (c-3)) or a reflow temperature imbalance by the reflow furnace 4, the terminal floats up after the solder hardening as described above. A defect occurs (see FIGS. 5 (d-3) and 6 (d-2)).
従ってハンダ硬化後に端子浮き上がり不良が判明したとしても、その不良原因が、印刷機2の印刷位置ずれによるものか、実装機10の搭載位置ずれによるものか、あるいはリフロー炉4のリフロー温度不均衡によるものか、を簡単に判断することは困難であった。
Therefore, even if the terminal floating failure is found after the solder is cured, the cause of the failure is due to the printing position deviation of the
これに対し、実装機10による部品搭載後、リフロー炉4によるリフロー前の状態において、不良原因が印刷位置ずれの場合には図4(c−1)に示すように、パッドPに対してハンダSが位置ずれしているのを明確に認識でき、不良原因が印刷位置ずれであると正確に判断することができる。
On the other hand, in the state after the component mounting by the mounting
さらに、印刷に関しては不良原因がハンダ不足やハンダ形状異常であるかも正確に判断することができる。 Furthermore, regarding printing, it is possible to accurately determine whether the cause of failure is insufficient solder or abnormal solder shape.
同様に、不良原因が搭載位置ずれである場合には図5(c−3)に示すように部品Eの端子Tが、ハンダS(パッドP)に対して位置ずれしているのを明確に認識でき、不良原因が搭載位置ずれであると正確に判断することができる。 Similarly, when the cause of the defect is a mounting position shift, it is clear that the terminal T of the component E is shifted from the solder S (pad P) as shown in FIG. It can be recognized and it can be accurately determined that the cause of the defect is a mounting position shift.
同様に、不良原因がその他の搭載不良であるかも正確に判断することができる。 Similarly, it can be accurately determined whether the cause of failure is other mounting failure.
このように部品搭載後、リフロー前においては、部品に対して部品の外周に露出しているハンダの状況、あるいはさらに部品の端子と接続されるべき基板のパッド(電極)に対するハンダの状況に基づいて、不良がある場合の不良原因を正確に特定することができる。そこで本実施形態(本発明)においては、この点に留意して、後に詳述するように不良原因の特定を正確に行うようにしている。 As described above, after mounting the component and before reflowing, it is based on the state of the solder exposed to the outer periphery of the component with respect to the component or the state of the solder with respect to the pad (electrode) of the board to be connected to the terminal of the component. Thus, it is possible to accurately identify the cause of the failure when there is a failure. Therefore, in the present embodiment (the present invention), attention is paid to this point, and the cause of the defect is accurately identified as will be described in detail later.
一方、本実施形態において、検査装置3は、ハンダS上に部品Eの端子Tが搭載された状態で、部品の外形形状、部品外周に露出しているハンダの3次元形状、及びハンダ外周に露出している基板のパッド(電極)形状を認識可能な撮像手段を備えており、その撮像手段によって認識された3次元画像データを取得できるようになっている。
On the other hand, in the present embodiment, the
3次元画像データを取得する方法としては、従来より周知の方法を採用することができる。例えば撮像方向の異なる複数の箇所から撮像した複数の撮像データを画像処理して3次元画像データを取得する方法、X線による透視画像に基づいて3次元画像データを取得する方法、レーザや赤外線による反射ビームに基づいて3次元画像データを取得する方法、さらにこれらを組み合わせた方法等を採用することができる。 As a method for acquiring three-dimensional image data, a conventionally known method can be employed. For example, a method for obtaining three-dimensional image data by performing image processing on a plurality of pieces of imaging data taken from a plurality of locations having different imaging directions, a method for obtaining three-dimensional image data based on a fluoroscopic image by X-rays, a laser or infrared ray A method of acquiring three-dimensional image data based on the reflected beam, a method combining these, and the like can be employed.
図2は検査装置3の制御系を示すブロック図である。同図に示すように、検査装置3には、上記したように制御装置6が設けられており、制御装置6によって、検査装置3の各駆動部の駆動が制御されて、後述する実装基板の検査が自動的に行われる。
FIG. 2 is a block diagram showing a control system of the
この制御装置6は、演算処理部60、データ記憶部63、良否判定部64、不良原因特定部65、補正値算出部66および画像処理部67を備えている。
The
演算処理部60は、検査装置3の各種動作を統括的に管理する。
The arithmetic processing unit 60 comprehensively manages various operations of the
データ記憶部63は、検査装置3の検査に必要な各種のデータを一時的に記憶保持する。
The
良否判定部64は、実装基板における部品に対するハンダの接合状態、あるいはさらに基板のパッド(電極)に対するハンダの接合状態の良否を判定する。
The pass /
不良原因特定部65は、不良の実装基板の不良原因を特定するためのプログラムを含み、このプログラムに従って、各種情報を処理することによって、後述するように不良原因を特定する。
The defect
補正値算出部66は、印刷条件および実装条件を補正する際の補正値を算出するプログラムを含み、このプログラムに従って、各種情報を処理することによって、後述するように補正値を算出する。
The correction
画像処理部67は、上記した3次元形状撮像手段によって撮像された画像データを処理して、ハンダ表面を3次元座標で表した複数点P1(x1,y1,z1)〜Pn(xn,yn,zn)として把握するとともに、検査に適した画像データ、例えば後述する基準画像データや不良画像データと対比し易い複数の横断面画像等の画像データ(認識画像データ)を作成する。これらの画像データではハンダ部分に加え部品、及びパッド部が画素の明るさが異なる形で付加されている。
The
さらに検査装置7は、上記したように、各種の情報を表示するためのCRTディスプレイ、液晶ディスプレイ等の表示ユニット62が接続されるとともに、各種の情報を入力するためのキーボードやマウス等の入力ユニット(図示省略)が接続されている。
Further, as described above, the inspection apparatus 7 is connected to a
また検査装置3の制御装置6は、サンプル画像データが多数蓄積されたデータベース71に接続されている。
The
このデータベース71には、実装機10により実装された後、リフロー炉4によってリフロー硬化される前の状態において理想とされる、部品に対して部品の外周に露出しているハンダの3次元形状を、複数箇所のハンダ横断面の集合として構成したサンプル画像データ(基準の画像データ)が蓄積されている。具体的には図3(c)に示すもののハンダ部分を複数箇所で切断したとして得られる複数の横断面が、部品、及びパッド部が付加された形で基準の画像データとして蓄積されている。
In this
さらにデータベース71には、実装後、リフロー前の状態において、不良とされる、部品に対して部品の外周に露出しているハンダの3次元形状を、複数箇所のハンダ横断面(部品、及びパッド部が付加された形のもの)の集合として構成した不良のサンプル画像データ(不良の画像データ)が、不良原因と関連付けされて、テーブルデータ等として多数蓄積されている。具体的には、図4(c−1)〜(c−3)の欄および図5(c−1)〜(c−3)の欄に示すもののハンダ部分を複数箇所で切断したとして得られる複数の横断面が、部品、及びパッド部が付加された形の不良の画像データが、不良原因と関連付けされてテーブルデータとして蓄積されている。なお図4,5においては、不良の画像データがそれぞれ3種類のみ示されているが、実際には多数の不良画像データが蓄積されている。
Further, in the
従って、制御装置6は、検査装置3において取得した部品Eとハンダ、および部品とパッドを含むハンダ回りの画像データ(認識画像データ)を、図3(c)に示す基準の画像データに照合させることにより、基準の画像に対する実際の画像の位置、角度姿勢のずれ量から、不良であるか否か(良否)の判断を行うことができる。
Therefore, the
さらに制御装置6は、認識画像データと、上記不良の画像データとが順次照合させて、その不良画像データの中に、認識画像データに類似する不良画像データが存在する場合には、当該不良画像データに関連付けされた不良原因が、認識画像データ(検査対象部品)の不良原因であると推定できて、検査対象部品の不良原因を特定することができる。
Further, the
なお不良画像データや基準画像データは、実際の基板の実装状態を撮像して得られる撮像データを利用して作成したり、部品メーカが作成する電子カタログ等に含まれる画像データを利用して作成したり、あるいは実装プログラム作成時に用いられた数値データを含む人工の画像データを利用して作成することができる。 In addition, defective image data and reference image data are created using image data obtained by imaging the actual mounting state of the board, or image data included in an electronic catalog created by a component manufacturer. Or can be created using artificial image data including numerical data used when creating the mounting program.
またデータベース71には、不良原因の種類毎に、どの設備のどの動作を修正すれば当該不良原因を取り除くことができるかの情報、つまり不良原因と、その原因に関連する印刷機2および実装機10の動作(設備動作)とが関連付けされた情報(不良原因と設備動作との関連情報)が保持されている。
Further, in the
例えば印刷機2によるハンダ量不足の不良原因に対しては、状況に応じて印刷機2の印刷クリーニングやスキージ速度変更を行うという情報、印刷機2によるハンダ位置ずれの不良原因に対しては、印刷機2のステンシル位置(固定)に対する基板位置の補正を行うという情報、印刷機2によるハンダ形状異常の不良原因に対しては、状況に応じて印刷機2の版離れ動作変更やスキージ速度変更を行うという情報、実装機10による下降量不足(斜め搭載)の不良原因に対しては、実装機10の下降速度調整や下降量調整を行うという情報、実装機10によるタイマー不足(基板未達)の不良原因に対しては、実装機10の下降量調整や下降時間調整を行うという情報、実装機10による搭載位置ずれの不良原因に対しては、実装機10の搭載位置調整を行うという情報が保持されている。
For example, for the cause of the shortage of the solder amount by the
従って検査装置3の制御装置6は、この不良原因と設備動作との関連情報を参照することによって、上記したように特定された不良原因に基づいて、その不良原因を解消するために、どの動作を補正するかの情報を取得することができる。
Therefore, the
なおこの不良原因と設備動作との関連情報は、過去の生産データや実験データ等に基づいて適宜取得することができる。 The related information between the cause of failure and the equipment operation can be appropriately acquired based on past production data, experimental data, and the like.
次に検査装置3による検査動作について説明する。
Next, the inspection operation by the
まず印刷機2による印刷処理および実装機10…による搭載処理が施された基板Wが検査装置3に搬入されると、図7に示すように、基板W上の所定の部品(未検査の部品)に対してハンダ接合状態の検査が行われる(ステップS1でYES)。
First, when the substrate W subjected to the printing process by the
すなわち検査装置3における撮像手段(図示省略)によって当該部品の部品EとハンダSとの接合状態が3次元で撮像されて認識され(ステップS2)、その撮像画像データが制御装置6に取得される。
That is, the joining state between the part E and the solder S of the part is imaged and recognized three-dimensionally by the imaging means (not shown) in the inspection apparatus 3 (step S2), and the captured image data is acquired by the
次に取得した部品EとハンダSとの接合状態の画像データが画像処理部67によって処理されて、検査に適した横断面画像等の画像データ(認識画像データ)に加工される。
Next, the acquired image data of the joining state of the part E and the solder S is processed by the
なお本実施形態においては、所定のプログラムに従って認識画像データを作成する検査装置3の制御装置6が、認識画像データ取得手段として機能する。
In the present embodiment, the
制御装置6に取得された認識画像データは、データベース71に保持された部品EとハンダSとの接合状態における基準の画像データと比較照合される(ステップS3)。
The recognized image data acquired by the
そして認識画像データにおける各部位の位置、角度姿勢のずれ等が、基準の画像データに対して所定の公差の範囲内に存在する場合には、良品であると判断される。 If the position of each part in the recognition image data, the deviation of the angular orientation, and the like are within a predetermined tolerance range with respect to the reference image data, it is determined to be a non-defective product.
良品である(不良でない)場合には(ステップS4でNO)、当該部品に対する検査が終了する(ステップS10)。 If it is a non-defective product (not defective) (NO in step S4), the inspection for the part is finished (step S10).
また認識画像データが不良の場合には(ステップS4でYES)、認識画像データが、データベース71に保持された部品EとハンダSとの接合状態における不良の画像データと順次比較照合されて、不良画像データの中から、認識画像データに類似した不良画像データが検索される(ステップS5)。
If the recognized image data is defective (YES in step S4), the recognized image data is sequentially compared and collated with the defective image data in the joining state of the component E and the solder S held in the
なお認識画像データが不良画像データに対し類似か非類似かの判断方法は、認識画像データにおける各部位の位置、角度姿勢のずれ等が、照合される不良画像データに対し所定の範囲内に存在する場合には、類似であると判断し、所定の範囲を逸脱する場合には、非類似と判断する方法を採用することができる。 The method of determining whether the recognized image data is similar or dissimilar to the defective image data is such that the position of each part in the recognized image data, the deviation of the angular orientation, etc. are within a predetermined range with respect to the defective image data to be verified. In this case, it is possible to adopt a method in which it is determined that they are similar and when they deviate from a predetermined range, they are determined to be dissimilar.
また多数の不良画像データの中から認識画像データに類似した不良画像データを検索方法としては、多数の不良画像データを1番目から順に1つずつ、認識画像データに照合していく方法の他に、認識画像データを、不良原因に応じて分類していき、最終的に分類された中の不良画像データを順次、認識画像データに照合していく階層式の検索方法を採用することもできる。 Further, as a method for searching for defective image data similar to the recognized image data from a large number of defective image data, in addition to a method of checking a large number of defective image data one by one in order from the first, the recognized image data. It is also possible to employ a hierarchical search method in which the recognized image data is classified according to the cause of the defect, and the finally classified defective image data is sequentially checked against the recognized image data.
検索の結果、認識画像データに類似した不良画像データが存在する場合には(ステップS6でYES)、その不良画像データに関連付けされた不良原因情報から、検査対象の部品に関わるハンダ印刷や実装おける不良原因が特定される。 If there is defective image data similar to the recognized image data as a result of the search (YES in step S6), solder printing or mounting related to the component to be inspected can be performed from the defect cause information associated with the defective image data. The cause of the failure is identified.
特定された不良原因が印刷機2に起因する場合には(ステップS7で「印刷機」)、後に詳述するように印刷条件が補正される(ステップS8)。 If the specified cause of failure is caused by the printing press 2 (“printing press” in step S7), the printing conditions are corrected as described in detail later (step S8).
また特定された不良原因が実装機10に起因する場合には(ステップS7で「実装機」)、後に詳述するように実装条件が補正される(ステップS9)。 If the specified cause of failure is caused by the mounting machine 10 ("mounting machine" in step S7), the mounting conditions are corrected as described in detail later (step S9).
印刷条件および実装条件が補正されると、当該部品に対する検査が終了し(ステップS10)、次の部品に対して(ステップS1でNO)、上記と同様の検査が行われる。 When the printing conditions and the mounting conditions are corrected, the inspection for the part is finished (step S10), the next part is checked (NO in step S1), and the same inspection as described above is performed.
こうして基板上の全ての部品に対して検査されて、基板上に未検査の部品が無くなると(ステップSでNO)、1つの基板に対する検査装置の動作が終了して、検査済の基板が次の設備、つまりリフロー炉4へと搬送される。 When all the components on the board are inspected and there are no uninspected parts on the board (NO in step S), the operation of the inspecting apparatus for one board is completed, and the inspected board is the next. To the reflow furnace 4.
なお本実施形態においては、所定のプログラムに従って不良原因を特定する検査装置3の制御装置6が、不良原因特定手段として機能する。
In the present embodiment, the
一方、検査装置3の動作中において、不良の実装状態であるにもかかわらず(ステップSでYES)、不良画像データの中に、認識画像データに類似した不良画像データが見当たらない場合には(ステップS6でNO)、不良原因を特定できず、不良原因特定不可エラーとなり、エラー警告されて検査装置3の動作が終了する。なお、エラー警告としては、表示ユニット62におけるディスプレイ画面への表示や、ブザー音、警告灯等が用いられる。
On the other hand, if the defective image data similar to the recognized image data is not found in the defective image data even when the
次に、印刷機2に不良原因がある場合における塗布条件の補正動作(図7のステップS8)について説明する。
Next, the application condition correction operation (step S8 in FIG. 7) when the
図8に示すように、認識画像データに類似した不良画像データから、不良原因が特定される(ステップS801)。 As shown in FIG. 8, the cause of the defect is specified from the defect image data similar to the recognized image data (step S801).
不良原因がハンダ量不足(図4(c−1)参照)である場合(ステップS802)、ハンダ量が全体的に不足しているか否かが判断される(ステップS803)。この判断方法としては、認識画像データにおけるハンダ部分の面積(体積)および形状に基づいて判断する方法を用いることができる。 If the cause of the defect is insufficient solder amount (see FIG. 4C-1) (step S802), it is determined whether or not the amount of solder is totally insufficient (step S803). As this determination method, a method of determining based on the area (volume) and shape of the solder portion in the recognition image data can be used.
ハンダ量が部分的に不足してハンダ量にバラツキがある場合には(ステップS803でNO)、その不良原因に関する情報が、検査装置3から印刷機2に送信される。そしてその情報を受信した印刷機3は、クリーニング処理を実行する(ステップS804)。すなわち印刷機2に設けられたクリーナーによって、ステンシル(マスク)が自動的にクリーニングされる。
If the solder amount is partially insufficient and the solder amount varies (NO in step S803), information on the cause of the failure is transmitted from the
なおハンダ量バラツキの不良原因に対して、クリーニングを選択しているが、この選択は、上記したようにデータベース71に保持された不良原因と設備動作とが関連付けられた不良原因と設備動作との関連情報に基づいて行われる。
Cleaning is selected for the cause of the solder amount variation, but this selection is performed between the cause of failure and the equipment operation in which the cause of failure held in the
ハンダ量が全体的に不足している場合には(ステップS803でYES)、不足量が算出されて、不良原因および不足量(補正値)に関する情報が、検査装置3から印刷機2に送信される。そしてその情報を受信した印刷機2は、不良原因および補正値に応じて、印刷機2におけるスキージの移動速度、基板に対する角度(アタック角)、あるいは印圧荷重等を変更(修正)する(ステップS805)。
If the amount of solder is generally insufficient (YES in step S803), the amount of deficiency is calculated, and information regarding the cause of the defect and the deficiency (correction value) is transmitted from the
なおハンダ量全体不足の不良原因に対して、スキージの速度変更が選択されているが、この選択は、上記したデータベース71の不良原因と設備動作との関連情報に基づいて行われるとともに、速度(パラメータ)は、算出された補正値に対応して調整される。以下同様にして、設備動作の選択や、パラメータの調整が行われる。
The speed change of the squeegee is selected for the cause of the failure of the entire amount of solder, and this selection is made based on the information related to the cause of the failure of the
またハンダ不足量の算出方法としては、認識画像データのハンダ部分と、予め設定された基準となる理想の画像データのハンダ部分との面積(体積)差に基づいて、ハンダ不足量を算出する方法等を採用できる。 Also, as a method for calculating the solder shortage amount, a method for calculating the solder shortage amount based on an area (volume) difference between the solder portion of the recognized image data and the solder portion of the ideal image data serving as a preset reference. Etc. can be adopted.
不良原因がハンダ位置ずれ(図4(c−2)参照)である場合には(ステップS806)、位置ずれ量(補正値)が算出されて、不良原因および補正値の情報が印刷機2に送信される。そしてその情報を受信した印刷機2は、不良原因および補正値に応じて、ステンシル(マスク)に位置合わせする基板の位置を修正する(ステップS807)。
If the cause of the defect is a solder misalignment (see FIG. 4C-2) (step S806), the misalignment amount (correction value) is calculated, and information on the cause of the defect and the correction value is sent to the
ハンダの位置ずれ量(補正値)の算出は、認識画像データと基準画像データとを比較することによって行うことができる。なお以下において補正値を算出する場合には、上記と同様に、認識画像データと基準画像データとを比較することによって算出される。 The calculation of the solder misregistration amount (correction value) can be performed by comparing the recognized image data with the reference image data. In the following, when the correction value is calculated, it is calculated by comparing the recognized image data and the reference image data in the same manner as described above.
不良原因がハンダ形状異常(図4(c−3)参照)である場合には(ステップS808)、さらに不良部分が詳細に分析される(ステップS809)。その結果、ハンダ部分におけるエッジが正しく形成されていない場合には(エッジ立ち不良:ステップS810)、不良の度合(補正値)が算出されて、不良原因および補正値の情報が印刷機2に送信される。そしてその情報を受信した印刷機2は、不良原因および補正値に応じて、印刷機2におけるステンシルに対する基板の離脱動作(版離れ動作)を修正する(ステップS811)。
When the cause of the defect is a solder shape abnormality (see FIG. 4C-3) (step S808), the defective part is further analyzed in detail (step S809). As a result, when the edge in the solder portion is not formed correctly (edge standing failure: step S810), the degree of failure (correction value) is calculated, and information on the cause of the failure and the correction value is transmitted to the
またハンダ部分においてエッジまで十分にハンダが行き渡っていない場合(エッジ不足:ステップS812)、エッジにおけるハンダの不足量(補正値)が算出されて、不良原因および補正値の情報が印刷機2に送信される。そして印刷機2は、不良原因および補正値に応じて、印刷機2におけるスキージの速度を修正する(ステップS813)。
If the solder does not reach the edge sufficiently at the edge (edge shortage: step S812), the amount of solder shortage (correction value) at the edge is calculated, and information on the cause of the defect and the correction value is transmitted to the
このように特定された不良原因から、不良の度合(補正値)が求められて、不良原因および補正値が印刷機2にフィードバックされ、不良原因および補正値に応じて、印刷機2の制御パラメータ(印刷条件)が修正される。
The degree of defect (correction value) is obtained from the defect cause thus identified, the defect cause and the correction value are fed back to the
次に、実装機10に不良原因がある場合における搭載条件(実装条件)の補正動作(図7のステップS9)について説明する。
Next, the mounting condition (mounting condition) correcting operation (step S9 in FIG. 7) when the mounting
図9に示すように、認識画像データに類似した不良画像データから、不良原因が特定される(ステップS901)。 As shown in FIG. 9, the cause of the defect is specified from the defective image data similar to the recognized image data (step S901).
不良原因が斜め搭載(図5(c−1)参照)である場合(ステップS902)、部品姿勢の不良の度合(補正値)が算出されて、不良原因および補正値の情報が、対応する実装機10に送信される。そしてその情報を受信した実装機10は、不良原因および補正値に応じて、部品搭載時におけるヘッドの基板に対する下降速度や下降量を調整(修正)する(ステップS903,S905)。
When the cause of failure is oblique mounting (see FIG. 5C-1) (step S902), the degree of component orientation failure (correction value) is calculated, and information on the cause of failure and the correction value corresponds to the corresponding mounting. Sent to the
不良原因が基板未達(図5(c−2)参照)である場合(ステップS904)、基板(パッドP)までの距離等の不良の度合(補正値)が算出されて、不良原因および補正値の情報が、対応する実装機10に送信される。そしてその情報を受信した実装機10は、不良原因および補正値に応じて、ヘッドの下降量を調整するとともに(ステップS905)、ヘッドが下降状態で維持される時間(下降時間)を調整する(ステップS906)。
When the cause of the failure is not reaching the substrate (see FIG. 5C-2) (step S904), the degree of failure (correction value) such as the distance to the substrate (pad P) is calculated, and the cause and correction of the failure are calculated. Information on the value is transmitted to the corresponding mounting
不良原因が搭載位置ずれ(図5(c−3)参照)である場合(ステップS907)、位置ずれ量(補正値)が算出されて、不良原因および補正値の情報が、対応する実装機10に送信される。そしてその情報を受信した実装機10は、不良原因および補正値に応じて、ヘッドによる搭載位置を修正する(ステップS908)。
If the cause of the defect is a mounting position shift (see FIG. 5C-3) (step S907), the amount of position shift (correction value) is calculated, and the information on the cause of the defect and the correction value is the corresponding mounting
このように不良の部品に対して、不良の度合(補正値)が求められるとともに、不良原因および補正値の情報が、実装機10にフィードバックされ、不良原因および補正値に応じて、実装機2の制御パラメータ(実装条件)が修正される。
As described above, the degree of the defect (correction value) is obtained for the defective part, and information on the cause of the defect and the correction value is fed back to the mounting
印刷条件や実装条件は、補正値を求める毎に補正(修正)するようにしても良いし、所定の時間毎や、所定の生産数毎にまとめて補正するようにしても良い。まとめて補正する場合には、補正値として、複数の補正値の平均値等を用いるようにすれば良い。 The printing conditions and the mounting conditions may be corrected (corrected) every time a correction value is obtained, or may be corrected collectively every predetermined time or every predetermined number of productions. When correcting collectively, an average value of a plurality of correction values or the like may be used as the correction value.
本実施形態においては、所定のプログラムに従って位置ずれ量やハンダ不足量等の補正値を算出する検査装置3の制御装置6が、不良原因特定手段として機能する。
In the present embodiment, the
以上のように、本実施形態における実装基板の検査装置3によれば、実装機10により部品を搭載した後、リフロー炉4によりハンダをリフローする前に、部品EとハンダSとの接合状態を3次元形状で認識して検査するようにしているため、部品端子が押し付けらて変形した状態のハンダ形状を検査することができる。このようにハンダを部品に関連させた状態で検査できるため、部品を搭載する前にハンダ状態のみを検査する場合等と比較して、より明確に良否の判定を行えるとともに、不良の場合における不良原因の特定を正確に行うことができる。すなわち、検査精度を一層向上させることができる。
As described above, according to the mounting
しかも本実施形態では、ハンダをリフローする前に、ハンダの形状を認識して、その認識結果に基づいて不良原因を特定しているため、リフロー後に不良原因を特定する場合と異なり、リフローによってハンダが変形して不良原因の特定が困難になる等の不具合を確実に防止でき、不良原因を一層正確に特定することができる。 In addition, in this embodiment, the solder shape is recognized before reflowing the solder, and the cause of the failure is specified based on the recognition result. Unlike the case where the cause of the failure is specified after the reflow, the soldering is performed by reflow. Therefore, it is possible to reliably prevent a defect such as a problem that it is difficult to identify the cause of the defect and to identify the cause of the defect more accurately.
さらに本実施形態においては、上記したように不良原因を正確に特定できるため、その不良原因に対し、的確に対処することができ、不良の発生を未然に有効に防止でき、歩留まりおよび生産性を一層向上させることができる。 Furthermore, in the present embodiment, as described above, since the cause of the failure can be accurately identified, the cause of the failure can be dealt with accurately, the occurrence of the failure can be effectively prevented, and the yield and productivity can be improved. This can be further improved.
なお、リフロー炉4の下流側に検査機を配置し、ハンダ硬化処理が終了した基板の検査を行うことで、ハンダ付けの不良箇所を発見することができても、本実施形態が可能な不良原因の特定は困難である。 In addition, even if it can discover the defective part of soldering by arrange | positioning an inspection machine in the downstream of the reflow furnace 4 and inspecting the board | substrate which the solder hardening process was complete | finished, the defect which this embodiment is possible The cause is difficult to identify.
さらに本実施形態においては、ハンダ硬化処理が終了した基板の検査と組み合わせることで、不良原因がリフロー炉4にある場合であっても、不良原因を確実に特定することができる。すなわち本実施形態の検査装置3によって、部品搭載後、リフロー硬化前に検査を行って、良好と判定された場合、その良好な基板がリフロー炉4によってリフロー硬化された後、不良が発生したとすると、その不良原因は、リフロー硬化処理によるものと断定することができる。
Furthermore, in the present embodiment, by combining with the inspection of the substrate that has been subjected to the solder curing process, the cause of the failure can be reliably identified even when the cause of the failure is in the reflow furnace 4. That is, when the
具体的には、図6(a)〜(c)に示すように、正常な基板Wに正常に印刷処理および実装処理が行われた際に、その基板Wにおいてリフロー炉4によるリフロー硬化後に、図6(d−1)に示すようにハンダぬれ不足不良が発生した場合には、その不良原因はリフロー炉4による熱量不足であると特定することができる。さらにリフロー硬化後に、図6(d−2)に示すように端子浮き上がり不良が発生した場合には、その不良原因はリフロー炉4による温度不均衡であると特定することができる。 Specifically, as shown in FIGS. 6A to 6C, when the normal substrate W is normally subjected to the printing process and the mounting process, the substrate W is subjected to reflow curing by the reflow furnace 4, As shown in FIG. 6 (d-1), when the solder deficiency defect occurs, it can be specified that the cause of the defect is a lack of heat in the reflow furnace 4. Further, after the reflow hardening, when a terminal floating failure occurs as shown in FIG. 6D-2, the cause of the failure can be specified as a temperature imbalance caused by the reflow furnace 4.
このように不良原因がリフロー炉4にある場合であっても、不良原因の種類を絞り込むことができ、不良対策を確実に行えて、歩留まりおよび生産性をより一層確実に向上させることができる。 Thus, even when the cause of failure is in the reflow furnace 4, the types of failure causes can be narrowed down, countermeasures for failures can be performed reliably, and yield and productivity can be improved more reliably.
なお上記実施形態においては、位置ずれ量やハンダ不足量等の補正値の算出を、検査装置3の制御装置6によって行うようにしているが、それだけに限られず、本実施形態においては、補正値の算出を、検査装置以外の制御装置等のコンピュータによって行うようにしても良い。例えば印刷に関する補正値の算出を、印刷機の制御装置(コンピュータ)によって行ったり、実装に関する補正値の算出を、実装機の印刷装置(コンピュータ)によって行うようにしても良い。さらに実装ラインの各設備の制御装置(コンピュータ)を統括する上位のホストコンピュータを設けるような場合には、そのホストコンピュータによって、補正値の算出を行うようにしても良い。
In the above-described embodiment, correction values such as misregistration amounts and solder shortage amounts are calculated by the
さらに上記実施形態においては、検査装置によって、実装基板における部品とハンダとの接合状態の良否を判断するようにしているが、それだけに限られず、本発明の検査装置においては、良否判断は行わずに、不良原因の特定のみを行うようにしても良い。例えば本発明の検査装置を、実装ラインに対し並列的に配置しておき、基板生産とは別に、検査装置によって不良原因の特定を行うようにしても良い。この場合には、良否判断用の装置を実装ラインに配置しておいて、その装置によって不良と判断された基板のみを検査装置に移載するようにするのが良い。 Further, in the above-described embodiment, the inspection device determines whether or not the bonding state between the component and the solder on the mounting substrate is good, but the present invention is not limited thereto, and the inspection device of the present invention does not make a good / bad determination. Alternatively, only the cause of the defect may be specified. For example, the inspection apparatus of the present invention may be arranged in parallel to the mounting line, and the cause of the defect may be specified by the inspection apparatus separately from the board production. In this case, it is preferable that a device for determining pass / fail is disposed on the mounting line, and only the substrate determined to be defective by the device is transferred to the inspection device.
また上記実施形態においては、印刷機の下流側に隣接させるように実装機を配置しているが、それだけに限られず、本発明においては、印刷機と実装機との間に、ハンダ状態を2次元あるいは3次元で検査する検査装置を配置するようにしても良い。この場合には、実装前のハンダ状態も検出できるため、より一層検査精度を向上させることができる。 In the above embodiment, the mounting machine is disposed adjacent to the downstream side of the printing machine. However, the present invention is not limited to this, and in the present invention, the solder state is two-dimensionally arranged between the printing machine and the mounting machine. Or you may make it arrange | position the inspection apparatus which test | inspects in three dimensions. In this case, since the solder state before mounting can also be detected, the inspection accuracy can be further improved.
2 印刷機
3 検査装置
4 リフロー炉
10 実装機
E 部品
S ハンダ
W 基板
2 Printing
Claims (5)
部品を搭載した後、ハンダをリフローする前に、部品およびハンダの接合状態を3次元形状で認識してその認識画像データを取得する認識画像データ取得手段と、
部品とハンダとの接合状態が不良の実装基板に対し、認識画像データに基づいて、不良原因を特定する不良原因特定手段と、を備えたことを特徴とする実装基板の検査装置。 A mounting board inspection device that inspects the mounting state of a mounting board on which solder is applied and components are mounted and solder is reflowed.
Recognition image data acquisition means for recognizing the joining state of the component and the solder with a three-dimensional shape after mounting the component and before reflowing the solder;
A mounting board inspection apparatus comprising: a failure cause specifying means for specifying a cause of a failure based on recognition image data for a mounting board in which a bonding state between a component and solder is defective.
実装機とリフロー炉との間に検査装置が設けられ、
前記検査装置は、部品とハンダとの接合状態を3次元形状で認識してその認識画像データを取得する認識画像データ取得手段と、部品とハンダとの接合状態が不良の実装基板に対し、認識画像データに基づいて、不良原因を特定する不良原因特定手段と、を備えたことを特徴とする実装ライン。 A mounting line comprising: a solder application machine that applies solder to a substrate; a mounting machine that mounts components on the substrate on which solder is applied; and a reflow furnace that reflows solder on the substrate on which the components are mounted.
An inspection device is installed between the mounting machine and the reflow furnace,
The inspection apparatus recognizes a bonding state between a component and solder in a three-dimensional shape and acquires recognition image data, and recognizes a mounting substrate in which the bonding state between the component and solder is defective. A mounting line comprising: a failure cause specifying means for specifying a cause of failure based on image data.
部品を搭載した後、ハンダをリフローする前に、部品とハンダとの接合状態を3次元形状で認識してその認識画像データを取得し、
部品とハンダとの接合状態が不良の実装基板に対し、認識画像データに基づいて、不良原因を特定するようにした実装基板の検査方法。 A mounting board inspection method for inspecting a mounting state with respect to a mounting board to which solder is reflowed after applying solder and mounting components,
After mounting the part and before reflowing the solder, the joint state between the part and the solder is recognized in a three-dimensional shape, and the recognition image data is acquired.
A mounting board inspection method in which a cause of a failure is specified based on recognition image data for a mounting board in which a bonding state between a component and solder is defective.
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---|---|
JP (1) | JP4700653B2 (en) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011077095A (en) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Nec Corp | System, method and program for monitoring facility |
JP2011129350A (en) * | 2009-12-17 | 2011-06-30 | Tyco Electronics Japan Kk | Connector mounting substrate and manufacturing method of connector mounting substrate |
JP2013097414A (en) * | 2011-10-28 | 2013-05-20 | Sony Corp | Inspection device, processor, information processor, object manufacturing device and manufacturing method thereof |
WO2014041713A1 (en) * | 2012-09-14 | 2014-03-20 | パナソニック株式会社 | Component mounting method and component mounting system |
JP2014082530A (en) * | 2014-02-14 | 2014-05-08 | Nec Corp | Facility monitoring system, facility monitoring method, and facility monitoring program |
WO2014080525A1 (en) * | 2012-11-26 | 2014-05-30 | 富士機械製造株式会社 | Method for discerning cause of mounting displacement and device for mounting electronic circuit components |
WO2017064777A1 (en) * | 2015-10-14 | 2017-04-20 | ヤマハ発動機株式会社 | Component mounter |
JP2018082096A (en) * | 2016-11-17 | 2018-05-24 | ハンファテクウィン株式会社Hanwha Techwin Co.,Ltd. | Electronic component mounting system and electronic component mounting method |
JP2018082097A (en) * | 2016-11-17 | 2018-05-24 | ハンファテクウィン株式会社Hanwha Techwin Co.,Ltd. | Electronic component mounting system and electronic component mounting method |
JP2019118936A (en) * | 2018-01-05 | 2019-07-22 | 株式会社弘輝テック | Soldering inspection result feedback system |
JPWO2018105014A1 (en) * | 2016-12-05 | 2019-10-24 | ヤマハ発動機株式会社 | Board work system |
JP2020113587A (en) * | 2019-01-09 | 2020-07-27 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Component mounting system and manufacturing method of mounting board |
JP2020113586A (en) * | 2019-01-09 | 2020-07-27 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Component mounting system and manufacturing method of mounting board |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006324424A (en) * | 2005-05-18 | 2006-11-30 | Omron Corp | Main cause of failure analyzing system |
JP2007058690A (en) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Omron Corp | Information processor, information processing method, program and computer-readable storage medium with the program stored |
JP2007081080A (en) * | 2005-09-14 | 2007-03-29 | Omron Corp | Substrate inspection system |
-
2007
- 2007-05-30 JP JP2007143510A patent/JP4700653B2/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006324424A (en) * | 2005-05-18 | 2006-11-30 | Omron Corp | Main cause of failure analyzing system |
JP2007058690A (en) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Omron Corp | Information processor, information processing method, program and computer-readable storage medium with the program stored |
JP2007081080A (en) * | 2005-09-14 | 2007-03-29 | Omron Corp | Substrate inspection system |
Cited By (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011077095A (en) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Nec Corp | System, method and program for monitoring facility |
JP2011129350A (en) * | 2009-12-17 | 2011-06-30 | Tyco Electronics Japan Kk | Connector mounting substrate and manufacturing method of connector mounting substrate |
JP2013097414A (en) * | 2011-10-28 | 2013-05-20 | Sony Corp | Inspection device, processor, information processor, object manufacturing device and manufacturing method thereof |
WO2014041713A1 (en) * | 2012-09-14 | 2014-03-20 | パナソニック株式会社 | Component mounting method and component mounting system |
JP2014057032A (en) * | 2012-09-14 | 2014-03-27 | Panasonic Corp | Component mounting method and component mounting system |
WO2014080525A1 (en) * | 2012-11-26 | 2014-05-30 | 富士機械製造株式会社 | Method for discerning cause of mounting displacement and device for mounting electronic circuit components |
JPWO2014080525A1 (en) * | 2012-11-26 | 2017-01-05 | 富士機械製造株式会社 | Mounting position shift cause investigation method and electronic circuit component mounting apparatus |
JP2014082530A (en) * | 2014-02-14 | 2014-05-08 | Nec Corp | Facility monitoring system, facility monitoring method, and facility monitoring program |
US11134597B2 (en) | 2015-10-14 | 2021-09-28 | Yamaha Hatsudoki Kabushiki Kaisha | Component mounting device |
JPWO2017064777A1 (en) * | 2015-10-14 | 2018-03-29 | ヤマハ発動機株式会社 | Component mounting equipment |
CN108029240A (en) * | 2015-10-14 | 2018-05-11 | 雅马哈发动机株式会社 | Element fixing apparatus |
WO2017064777A1 (en) * | 2015-10-14 | 2017-04-20 | ヤマハ発動機株式会社 | Component mounter |
CN108029240B (en) * | 2015-10-14 | 2021-04-02 | 雅马哈发动机株式会社 | Component mounting apparatus |
KR20180055674A (en) * | 2016-11-17 | 2018-05-25 | 한화에어로스페이스 주식회사 | An electronic device mounting system and method for mounting electronic device |
JP7046483B2 (en) | 2016-11-17 | 2022-04-04 | ハンファ精密機械株式会社 | Electronic component mounting system and electronic component mounting method |
CN109152326A (en) * | 2016-11-17 | 2019-01-04 | 韩华泰科株式会社 | Electronic component mounting system and electronic component attaching method |
KR102402523B1 (en) * | 2016-11-17 | 2022-05-26 | 한화정밀기계 주식회사 | An electronic device mounting system and method for mounting electronic device |
KR20180055675A (en) * | 2016-11-17 | 2018-05-25 | 한화에어로스페이스 주식회사 | An electronic device mounting system and method for mounting electronic device |
KR102350923B1 (en) * | 2016-11-17 | 2022-01-13 | 한화정밀기계 주식회사 | An electronic device mounting system and method for mounting electronic device |
JP2018082096A (en) * | 2016-11-17 | 2018-05-24 | ハンファテクウィン株式会社Hanwha Techwin Co.,Ltd. | Electronic component mounting system and electronic component mounting method |
JP2018082097A (en) * | 2016-11-17 | 2018-05-24 | ハンファテクウィン株式会社Hanwha Techwin Co.,Ltd. | Electronic component mounting system and electronic component mounting method |
JPWO2018105014A1 (en) * | 2016-12-05 | 2019-10-24 | ヤマハ発動機株式会社 | Board work system |
JP7073111B2 (en) | 2018-01-05 | 2022-05-23 | 株式会社弘輝テック | Soldering inspection result feedback system |
JP2019118936A (en) * | 2018-01-05 | 2019-07-22 | 株式会社弘輝テック | Soldering inspection result feedback system |
JP2020113586A (en) * | 2019-01-09 | 2020-07-27 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Component mounting system and manufacturing method of mounting board |
JP2020113587A (en) * | 2019-01-09 | 2020-07-27 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Component mounting system and manufacturing method of mounting board |
JP7194881B2 (en) | 2019-01-09 | 2022-12-23 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | COMPONENT MOUNTING SYSTEM AND MOUNTING BOARD MANUFACTURING METHOD |
JP7245971B2 (en) | 2019-01-09 | 2023-03-27 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | COMPONENT MOUNTING SYSTEM AND MOUNTING BOARD MANUFACTURING METHOD |
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Publication number | Publication date |
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