JP2008298428A - 走査形プローブ顕微鏡 - Google Patents

走査形プローブ顕微鏡 Download PDF

Info

Publication number
JP2008298428A
JP2008298428A JP2007141277A JP2007141277A JP2008298428A JP 2008298428 A JP2008298428 A JP 2008298428A JP 2007141277 A JP2007141277 A JP 2007141277A JP 2007141277 A JP2007141277 A JP 2007141277A JP 2008298428 A JP2008298428 A JP 2008298428A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cantilever
vibration
base
frequency
piezoelectric element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007141277A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4891838B2 (ja
Inventor
Shinichi Kitamura
村 真 一 北
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP2007141277A priority Critical patent/JP4891838B2/ja
Publication of JP2008298428A publication Critical patent/JP2008298428A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4891838B2 publication Critical patent/JP4891838B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

【課題】 カンチレバをその共振周波数で加振して試料観察を行うことができる走査形プローブ顕微鏡を提供する。
【解決手段】 加振用圧電素子22で発生した振動は、ワイヤ固定台19を介して振動伝達ワイヤ18に伝えられる。振動伝達ワイヤ18はカンチレバ7の第2の面S2(探針8側の面)に当接しているので、振動伝達ワイヤ18に伝えられた前記振動は、カンチレバ7の第2の面S2側からカンチレバ7に伝えられる。
【選択図】 図2

Description

本発明は、液中での試料観察などに用いられる走査形プローブ顕微鏡に関する。
走査形プローブ顕微鏡(SPM:Scanning Probe Microscope)の一つであるダイナミックモードAFMは、カンチレバの固有振動数またはその付近の周波数でカンチレバを加振し、カンチレバの振幅あるいは周波数が一定に保たれるように探針と試料間の距離を制御して試料表面形状を観察する装置である。また、ダイナミックモードAFMに含まれるNC−AFM(Noncontact Atomic Force Microscope)においても、同様な制御が行われる。
このようにダイナミックモードAFMでは、カンチレバはその固有振動数またはその付近の周波数で加振される。このため、ダイナミックモードAFMでは、カンチレバの固有振動数を試料観察前に正確に見つけ、その見つけた固有振動数に基づいてカンチレバ加振周波数を設定する必要がある。なお、カンチレバの固有振動数(共振周波数)の検出は、共振カーブ測定を行うことによって行われる。すなわち、カンチレバの固有振動数の検出は、カンチレバ加振周波数をスイープさせながらカンチレバの振幅を検出し、振幅のピーク(共振ピーク)が得られたときの加振周波数を求めることによって行われる。
ダイナミックモードAFMは、真空中、大気圧中での試料観察はもちろん、液中での試料観察も可能である。この液中観察も行えるダイナミックモードAFMについては、たとえば特開2003−329565号公報(特許文献1)に開示されている。特許文献1のダイナミックモードAFMにおいては、カンチレバホルダに加振用圧電素子(10)が組み込まれており、その加振用圧電素子(10)の振動がカンチレバ載せ台(8)を介してカンチレバ(5)に与えられるように構成されている。
特開2003−329565号公報
液中においては、カンチレバのQ値は非常に小さくなる。すなわち、カンチレバが液中で共振しても、その振幅は大気中や真空中よりかなり小さくなる。このため、特許文献1において液中観察する場合には、加振用圧電素子(10)を大気中観察時や真空中観察時よりも大きな振幅で振動させる必要がある。
さらに特許文献1では、加振用圧電素子(10)で発生した振動は、その加振用圧電素子(10)とカンチレバ(5)との間に介在するカンチレバ載せ台(8)でダンピング(吸収)されてしまう。このように特許文献1では、加振用圧電素子(10)の振動がカンチレバ(5)へ伝達されにくい。
これらの理由から、特許文献1において液中観察する場合には、加振用圧電素子(10)をかなり大きな振幅で振動させる必要がある。
ところが、このように加振用圧電素子(10)を大きな振幅で振動させると、加振用圧電素子(10)に接続されたカンチレバ載せ台(8)も大きく振動し、さらにはカンチレバホルダのその他の部分も振動してしまう。すると、その振動がカンチレバ以外のもの(カンチレバホルダの構成部品)の共振を励起し、上述した共振カーブ測定において、カンチレバ以外の共振ピークが増大してしまう。このように共振カーブ測定において共振ピークが増大すると、カンチレバの共振周波数ではない周波数に加振周波数を誤設定してしまい、安定した液中SPM観察ができなくなる。
また、上述したようにカンチレバ以外のもの(カンチレバホルダの構成部品)が振動したり共振すると、その振動の影響を受けて次の問題が発生する。すなわち、上述した共振カーブ測定において、カンチレバの共振ピークが、正しい周波数位置(カンチレバの共振周波数位置)から少しずれた位置に現れてしまう。この場合にも、カンチレバの共振周波数ではない周波数に加振周波数を誤設定してしまう。
本発明はこのような点に鑑みて成されたもので、その目的は、カンチレバをその共振周波数で加振して試料観察を行うことができる走査形プローブ顕微鏡を提供することにある。
上記目的を達成する請求項1に係る走査形プローブ顕微鏡は、カンチレバ載せ台を有するカンチレバホルダベースと、前記カンチレバ載せ台に載置されるカンチレバと、前記カンチレバの前記カンチレバ載せ台との接触面を第1の面、その第1の面の裏面をカンチレバの第2の面とするとき、前記第2の面に当接するように前記カンチレバホルダベース上に設けられた振動伝達部材と、前記振動伝達部材に取り付けられた加振用振動子を備えたことを特徴とする。
本発明によれば、カンチレバをその共振周波数で加振して試料観察を行うことができる。
以下、図面を用いて本発明の実施の形態について説明する。
図1は、本発明の走査形プローブ顕微鏡の一例を示したものであり、液中観察に適した本発明のダイナミックモードAFMの一例を示したものである。なお、図2は、図1におけるカンチレバホルダ6を斜め前方から見た図である。
図1において、1は本体ベースであり、本体ベース1上にxyz移動機構2が配置されている。そして、試料3を保持した試料ホルダ4がxyz移動機構2に着脱可能に取り付けられており、xyz移動機構2によって試料3はxyz方向に移動可能である。
5はガラスカバーであり、ガラスカバー5は前記本体ベース1に取り付けられている。6はカンチレバホルダであり、カンチレバホルダ6は前記本体ベース1に着脱可能に取り付けられている。このカンチレバホルダ6にカンチレバ7が保持されており、カンチレバ先端の探針8は前記試料3に対向している。また、カンチレバ7は、試料3上に滴下された溶液9中に浸されており、その溶液9の液面は表面張力により前記ガラスカバー5に密着している。
10はレーザ光源である。レーザ光源10からのレーザ光はガラスカバー5を通ってカンチレバ7に照射され、カンチレバ7からの反射光はガラスカバー5を通って分割タイプPD(フォトダイオード)11で検出されるように構成されており、光てこの原理によりカンチレバ7の変位(たわみ)が検出される。
以上、図1の装置構造の概略を説明した。以下、本発明の特徴部分である前記カンチレバホルダ6の構造について、図1および図2を用いて詳しく説明する。
12はカンチレバホルダベースであり、カンチレバホルダベース12は前記本体ベース1に着脱可能に取り付けられている。そして、カンチレバホルダベース12はカンチレバ載せ台13を有しており、カンチレバ載せ台13はカンチレバホルダベース12の一部分である(図2参照)。前記カンチレバ7は、固定金具14で押え付けられてカンチレバ載せ台13に固定されており、その固定金具14は固定ビス15によりカンチレバ載せ台13に固定されている。なお、以後の説明において、前記カンチレバ7のカンチレバ載せ台13との接触面を第1の面S1と呼び、その裏面(探針8側の面)を第2の面S2と呼ぶ。従って、カンチレバ7の第2の面S2が前記固定金具14で押え付けられていることになる。
また、カンチレバホルダベース12には、その上面12aから下面12bにかけて貫通する2つの孔16,17(図2参照)が開けられており、その孔16,17に1本の振動伝達ワイヤ(振動伝達部材)18が通されている。振動伝達ワイヤ18は孔16,17の側面に接触しておらず、従って、振動伝達ワイヤ18はカンチレバホルダベース12に接触していない。そして、振動伝達ワイヤ18の一端は、カンチレバホルダベース12の上面12a側においてワイヤ固定台(振動伝達部材)19の下面に固定されており、一方、振動伝達ワイヤ18の他端は、同様にワイヤ固定台19の下面に固定されている。振動伝達ワイヤ18は、振動が伝わりやすい硬い金属で作られている。
また、コイルバネ20,21が、前記ワイヤ固定台19の下面とカンチレバホルダベース12の上面12a間にそれぞれ配置されており、前記振動伝達ワイヤ18の一端は、コイルバネ20の内側を通って前記ワイヤ固定台19の下面に固定されている。一方、前記振動伝達ワイヤ18の他端は、コイルバネ21の内側を通ってワイヤ固定台19の下面に固定されている。コイルバネ20,21は、振動が伝わりにくいやわらかい金属で作られている。
そして、振動伝達ワイヤ18は、図1および図2に示すように、カンチレバ7の第2の面S2(探針8側の面)に当接している。この状態ではコイルバネ20,21は圧縮状態にあり、また、そのように圧縮状態となるように振動伝達ワイヤ18の長さが予め調整されている。このため、カンチレバ7の第2の面S2は、コイルバネ20,21の力を受けた振動伝達ワイヤ18で押え付けられている。この例では、振動伝達ワイヤ18はカンチレバ7の左右側面には当接しておらず、カンチレバ7の第2の面S2のみに当接している。なお、固定ビス15を緩めてカンチレバ7をカンチレバ載せ台13から取り外す作業は、ワイヤ固定台19を押し下げ(−z方向に押し下げる)、振動伝達ワイヤ18をカンチレバ7の第2の面S2から離しながら行われる。
また、図中22は加振用圧電素子(加振用振動子)であり、加振用圧電素子22は前記ワイヤ固定台19の上面に接着されている。23は加振用電源である。
このような構成において、カンチレバ7を加振するときは、加振用電源23から加振用圧電素子22に電圧が印加される。その際、カンチレバを加振したい周波数に対応して、加振用電源23から加振用圧電素子22に所定の電圧が印加される。
この電圧印加により、加振用圧電素子22は指定された周波数で振動し、その振動はワイヤ固定台19を介して振動伝達ワイヤ18に伝えられる。この振動伝達ワイヤ18はカンチレバ7の第2の面S2(探針8側の面)に当接しているので、振動伝達ワイヤ18に伝えられた前記振動は、カンチレバ7の第2の面S2側からカンチレバ7に伝えられる。
このように本発明のカンチレバホルダにおいては、加振用圧電素子22で発生した振動は、振動が伝わりやすい振動伝達ワイヤ18を介して、カンチレバ7の第2の面S2(探針8側の面)に伝えられる。その振動伝達の際、振動伝達ワイヤ18はカンチレバホルダベース12に接触しないので、加振用圧電素子22で発生した振動がカンチレバホルダベース12に伝わることは殆どない。このため、本発明のカンチレバホルダにおいては、加振用圧電素子22の振動が効率よくカンチレバ7へ伝達され、カンチレバ7を効率よく加振することができる。
さらに、本発明のカンチレバホルダにおいては、上述したように、加振用圧電素子22の振動がカンチレバホルダベース12に殆ど伝わらないので、従来発生していたカンチレバ以外の構造物の共振を抑えることができる。このため、本発明における前記共振カーブ測定においては、カンチレバ以外の共振ピークの発生を抑えることができると共に、カンチレバの共振ピークの周波数位置ずれを防止することができる。このような共振カーブが得られる本発明においては、カンチレバ加振周波数をカンチレバ7の共振周波数に正しく合わせることができ、カンチレバ7をその共振周波数で加振することができる。このため、高感度な液中SPM観察を行うことができる。
図3は、本発明の図1の装置において測定された共振カーブ(実線)と、従来方式において測定された共振カーブ(破線)を比較表示したものである。
従来方式では、カンチレバの共振ではないピークAが最大となっている。また、カンチレバの共振周波数位置fから少しずれたfにピークBが出てしまっている。すなわち、カンチレバの共振ピークの周波数位置ずれが発生している。このようなピークAやBの周波数にカンチレバ加振周波数を合わせたのでは、高感度な液中SPM観察は行えない。
一方、本発明では、カンチレバの共振周波数位置fにカンチレバの共振ピークPが明確に計測されており、そのピークPが最大となっている。このように本発明では、カンチレバ7の第2の面S2(探針8側の面)からの加振により、スプリアスの少ない共振カーブが得られる。そして、ピークPの周波数にカンチレバ加振周波数を合わせることで、スロープ検出方式においてもマイカの原子像が得られる程、高感度な液中SPM観察が行える。
以上、本発明の一例を説明した。
次に、本発明の他の例を、図4を用いて説明する。なお、図4において、図1の構成要素と同じものに対しては図1と同じ番号を付け、その説明を省略する。
図4において、24はカンチレバホルダであり、25はそのカンチレバホルダベースである。カンチレバホルダベース25は前記本体ベース1に着脱可能に取り付けられている。カンチレバホルダベース25はカンチレバ載せ台26を有しており、このカンチレバ載せ台26はカンチレバホルダベース25の一部分である。
なお、カンチレバホルダベース25の形状は、前記図1におけるカンチレバホルダベース12の形状とほぼ同じである。すなわち、前記孔16,17を有していない点を除けば、カンチレバホルダベース25の形状は前記カンチレバホルダベース12の形状と同じである。
前記カンチレバ7は、その第2の面(探針8側の面)S2が固定金具27で押え付けられてカンチレバ載せ台26に固定されており、固定金具27は前記固定ビス15によりカンチレバ載せ台26に固定されている。固定金具27は、振動が伝わりやすい硬い金属で作られている。
そして、加振用圧電素子(加振用振動子)28が固定金具27の表面に接着されている。29は加振用電源である。
このような構成において、カンチレバ7を加振するときは、加振用電源29から加振用圧電素子28に電圧が印加される。その際、カンチレバを加振したい周波数に対応して、加振用電源29から加振用圧電素子28に所定の電圧が印加される。
この電圧印加により、加振用圧電素子28は指定された周波数で振動し、その振動は、振動伝達部材である固定金具27に伝えられる。この固定金具27はカンチレバ7の第2の面S2(探針8側の面)に当接しているので、固定金具27に伝えられた前記振動は、カンチレバ7の第2の面S2側からカンチレバ7に伝えられる。
このような本発明においても、カンチレバ7の第2の面S2(探針8側の面)からの加振により、図1の例と同様なスプリアスの少ない共振カーブが得られる。このため、カンチレバ加振周波数をカンチレバ7の共振周波数に正しく合わせることができ、カンチレバ7をその共振周波数で加振することができる。
なお、本発明は上記例に限定されるものではない。たとえば、上述したカンチレバホルダは、液中観察だけでなく、大気中や真空中での試料観察にも利用することができる。
本発明の一例を示した図である。 図1のカンチレバホルダの斜視図である。 本発明と従来方式の共振カーブ測定結果を示した図である。 本発明の他の例を示した図である。
符号の説明
1…本体ベース、2…xyz移動機構、3…試料、4…試料ホルダ、5…ガラスカバー、6…カンチレバホルダ、7…カンチレバ、8…探針、9…溶液、10…レーザ光源、11…フォトダイオード、12…カンチレバホルダベース、13…カンチレバ載せ台、14…固定金具、15…固定ビス、16,17…孔、18…振動伝達ワイヤ、19…ワイヤ固定台、20,21…コイルバネ、22…加振用圧電素子、23…加振用電源、24…カンチレバホルダ、25…カンチレバホルダベース、26…カンチレバ載せ台、27…固定金具、28…加振用圧電素子、29…加振用電源、S1…第1の面、S2…第2の面

Claims (3)

  1. カンチレバ載せ台を有するカンチレバホルダベースと、
    前記カンチレバ載せ台に載置されるカンチレバと、
    前記カンチレバの前記カンチレバ載せ台との接触面を第1の面、その第1の面の裏面をカンチレバの第2の面とするとき、前記第2の面に当接するように前記カンチレバホルダベース上に設けられた振動伝達部材と、
    前記振動伝達部材に取り付けられた加振用振動子
    を備えたことを特徴とする走査形プローブ顕微鏡。
  2. 前記振動伝達部材はワイヤーで形成されていることを特徴とする請求項1記載の走査形プローブ顕微鏡。
  3. 前記振動伝達部材は前記カンチレバ載せ台に取り付けられた固定金具であり、前記カンチレバは前記固定金具によって前記カンチレバ載せ台に固定されることを特徴とする請求項1記載の走査形プローブ顕微鏡。
JP2007141277A 2007-05-29 2007-05-29 走査形プローブ顕微鏡 Expired - Fee Related JP4891838B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007141277A JP4891838B2 (ja) 2007-05-29 2007-05-29 走査形プローブ顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007141277A JP4891838B2 (ja) 2007-05-29 2007-05-29 走査形プローブ顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008298428A true JP2008298428A (ja) 2008-12-11
JP4891838B2 JP4891838B2 (ja) 2012-03-07

Family

ID=40172098

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007141277A Expired - Fee Related JP4891838B2 (ja) 2007-05-29 2007-05-29 走査形プローブ顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4891838B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011180126A (ja) * 2010-02-08 2011-09-15 Sii Nanotechnology Inc カンチレバーホルダ及びそれを備えた走査型プローブ顕微鏡

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07311208A (ja) * 1994-05-18 1995-11-28 Nikon Corp 表面形状測定装置
JPH0921816A (ja) * 1995-07-05 1997-01-21 Nikon Corp 原子間力顕微鏡
JP2000258330A (ja) * 1999-03-04 2000-09-22 Seiko Instruments Inc 走査型プローブ顕微鏡
JP2003329565A (ja) * 2002-05-08 2003-11-19 Jeol Ltd 走査プローブ顕微鏡
JP2006184079A (ja) * 2004-12-27 2006-07-13 Tohoku Univ 原子間力顕微鏡

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07311208A (ja) * 1994-05-18 1995-11-28 Nikon Corp 表面形状測定装置
JPH0921816A (ja) * 1995-07-05 1997-01-21 Nikon Corp 原子間力顕微鏡
JP2000258330A (ja) * 1999-03-04 2000-09-22 Seiko Instruments Inc 走査型プローブ顕微鏡
JP2003329565A (ja) * 2002-05-08 2003-11-19 Jeol Ltd 走査プローブ顕微鏡
JP2006184079A (ja) * 2004-12-27 2006-07-13 Tohoku Univ 原子間力顕微鏡

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011180126A (ja) * 2010-02-08 2011-09-15 Sii Nanotechnology Inc カンチレバーホルダ及びそれを備えた走査型プローブ顕微鏡

Also Published As

Publication number Publication date
JP4891838B2 (ja) 2012-03-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2730673B2 (ja) 超音波を導入するカンチレバーを用いた物性の計測方法および装置
US7302833B2 (en) Torsional harmonic cantilevers for detection of high frequency force components in atomic force microscopy
US8037762B2 (en) Whispering gallery mode ultrasonically coupled scanning probe microscopy
Lübbe et al. Achieving high effective Q-factors in ultra-high vacuum dynamic force microscopy
CN1835128B (zh) 悬臂固定器及扫描探测显微镜
JP4688643B2 (ja) 加振型カンチレバーホルダ及び走査型プローブ顕微鏡
US6912893B2 (en) Apparatus and method for improving tuning of a probe-based instrument
JP2005526227A (ja) 非接触静電検出器用のセンサ
JP2009300116A (ja) カンチレバー、カンチレバーシステム、走査型プローブ顕微鏡、質量センサ装置、弾性計測装置及びマニピュレーション装置並びにカンチレバーの変位測定方法、カンチレバーの加振方法及びカンチレバーの変形方法
JP4616759B2 (ja) 原子間力顕微鏡及び原子間力顕微鏡を用いたエネルギー散逸像の形成方法
JP2009128139A (ja) 走査プローブ顕微鏡及び走査プローブ顕微鏡用探針ユニット
KR100793122B1 (ko) 투명 기판을 이용한 프로브 현미경용의 프로브, 그 제조방법 및 프로브 현미경 장치
JP2004198427A (ja) プローブ装置
JP2005501260A (ja) 非接触静電検出器用のセンサ
JP4891838B2 (ja) 走査形プローブ顕微鏡
JP4680196B2 (ja) 原子間力顕微鏡の、片側が固定されたばねカンチレバー中にねじれ振動を非接触に励起する方法および装置
JP2006153574A (ja) 原子間力顕微鏡
JP2000258330A (ja) 走査型プローブ顕微鏡
JP4895379B2 (ja) レバー加振機構及び走査型プローブ顕微鏡
JP2007121316A (ja) 走査型近視野顕微鏡
JP2005037361A (ja) マイクロ・ナノ材料用疲労試験装置
JP2003344034A (ja) 表面性状測定装置及び表面性状センサ
JP5632131B2 (ja) 走査型プローブ顕微鏡用のカンチレバーの加振方法ならびにその方法による走査型プローブ顕微鏡
JP2009537840A (ja) 制御される原子間力顕微鏡
JP2004020221A (ja) カンチレバーホルダ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20091113

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110818

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110913

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110922

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111129

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111216

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141222

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees