JP2008275538A - 三次元形状測定器及び試料画像構築装置 - Google Patents

三次元形状測定器及び試料画像構築装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2008275538A
JP2008275538A JP2007121645A JP2007121645A JP2008275538A JP 2008275538 A JP2008275538 A JP 2008275538A JP 2007121645 A JP2007121645 A JP 2007121645A JP 2007121645 A JP2007121645 A JP 2007121645A JP 2008275538 A JP2008275538 A JP 2008275538A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
luminance
sample
information
inclination
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007121645A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2008275538A5 (enExample
Inventor
Shinsuke Kaneki
伸介 金木
Akihiro Kitahara
章広 北原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Priority to JP2007121645A priority Critical patent/JP2008275538A/ja
Publication of JP2008275538A publication Critical patent/JP2008275538A/ja
Publication of JP2008275538A5 publication Critical patent/JP2008275538A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
JP2007121645A 2007-05-02 2007-05-02 三次元形状測定器及び試料画像構築装置 Pending JP2008275538A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007121645A JP2008275538A (ja) 2007-05-02 2007-05-02 三次元形状測定器及び試料画像構築装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007121645A JP2008275538A (ja) 2007-05-02 2007-05-02 三次元形状測定器及び試料画像構築装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008275538A true JP2008275538A (ja) 2008-11-13
JP2008275538A5 JP2008275538A5 (enExample) 2009-08-13

Family

ID=40053653

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007121645A Pending JP2008275538A (ja) 2007-05-02 2007-05-02 三次元形状測定器及び試料画像構築装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008275538A (enExample)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010127726A (ja) * 2008-11-27 2010-06-10 Nano Photon Kk 光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法
JP2012013696A (ja) * 2010-06-29 2012-01-19 Chroma Ate Inc 撮影装置とその撮影方法
JP2023125131A (ja) * 2022-02-28 2023-09-07 国立大学法人 東京大学 高さ画像生成装置、学習装置、三次元測定システム、高さ画像の生成方法、学習方法、及びプログラム

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04256185A (ja) * 1991-02-08 1992-09-10 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 画像認識システムのサンプル画像収集方法
JPH06111028A (ja) * 1992-09-30 1994-04-22 Toppan Printing Co Ltd 画像生成装置
JPH07134001A (ja) * 1993-11-11 1995-05-23 Toshimitsu Musha 磁場による立体形状の計測及び表示装置
JPH10206440A (ja) * 1997-01-22 1998-08-07 Hitachi Constr Mach Co Ltd 走査型プローブ顕微鏡
JPH11134520A (ja) * 1997-11-04 1999-05-21 Minolta Co Ltd ３次元形状データ処理装置
JP2000235589A (ja) * 1999-02-15 2000-08-29 Toray Ind Inc 物品の表示方法および表示装置
JP2001174249A (ja) * 1999-12-15 2001-06-29 Sony Corp 面形状測定装置および面形状測定方法
JP2002228424A (ja) * 2001-01-31 2002-08-14 Tochigi Prefecture 照明条件の最適化による画像測定機のオフラインティーチング方法
JP2005122330A (ja) * 2003-10-15 2005-05-12 Hitachi Eng Co Ltd 三次元計測データ処理装置および三次元形状データ処理装置
JP2005266897A (ja) * 2004-03-16 2005-09-29 Nec Corp 画像処理装置
JP2006208187A (ja) * 2005-01-27 2006-08-10 Nagoya Electric Works Co Ltd 形状良否判定装置および形状良否判定方法
JP2006253970A (ja) * 2005-03-09 2006-09-21 Ricoh Co Ltd 撮像装置、シェーディング補正データ作成方法およびプログラム
JP2006277488A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Namco Bandai Games Inc プログラム、情報記憶媒体及び画像生成システム

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04256185A (ja) * 1991-02-08 1992-09-10 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 画像認識システムのサンプル画像収集方法
JPH06111028A (ja) * 1992-09-30 1994-04-22 Toppan Printing Co Ltd 画像生成装置
JPH07134001A (ja) * 1993-11-11 1995-05-23 Toshimitsu Musha 磁場による立体形状の計測及び表示装置
JPH10206440A (ja) * 1997-01-22 1998-08-07 Hitachi Constr Mach Co Ltd 走査型プローブ顕微鏡
JPH11134520A (ja) * 1997-11-04 1999-05-21 Minolta Co Ltd ３次元形状データ処理装置
JP2000235589A (ja) * 1999-02-15 2000-08-29 Toray Ind Inc 物品の表示方法および表示装置
JP2001174249A (ja) * 1999-12-15 2001-06-29 Sony Corp 面形状測定装置および面形状測定方法
JP2002228424A (ja) * 2001-01-31 2002-08-14 Tochigi Prefecture 照明条件の最適化による画像測定機のオフラインティーチング方法
JP2005122330A (ja) * 2003-10-15 2005-05-12 Hitachi Eng Co Ltd 三次元計測データ処理装置および三次元形状データ処理装置
JP2005266897A (ja) * 2004-03-16 2005-09-29 Nec Corp 画像処理装置
JP2006208187A (ja) * 2005-01-27 2006-08-10 Nagoya Electric Works Co Ltd 形状良否判定装置および形状良否判定方法
JP2006253970A (ja) * 2005-03-09 2006-09-21 Ricoh Co Ltd 撮像装置、シェーディング補正データ作成方法およびプログラム
JP2006277488A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Namco Bandai Games Inc プログラム、情報記憶媒体及び画像生成システム

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010127726A (ja) * 2008-11-27 2010-06-10 Nano Photon Kk 光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法
JP2012013696A (ja) * 2010-06-29 2012-01-19 Chroma Ate Inc 撮影装置とその撮影方法
TWI500963B (zh) * 2010-06-29 2015-09-21 Chroma Ate Inc An image capturing device and method
JP2023125131A (ja) * 2022-02-28 2023-09-07 国立大学法人 東京大学 高さ画像生成装置、学習装置、三次元測定システム、高さ画像の生成方法、学習方法、及びプログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6661221B2 (ja) ３ｄ輪郭データ収集及びう蝕検出のシステム、方法、並びにコンピュータプログラム
TWI467127B (zh) Means, observation means and an image processing method for measuring the shape of
JP4831072B2 (ja) 顕微鏡装置
JP4855150B2 (ja) 眼底観察装置、眼科画像処理装置及び眼科画像処理プログラム
KR102048793B1 (ko) 표면 컬러를 이용한 표면 토포그래피 간섭측정계
JP5448617B2 (ja) 距離推定装置、距離推定方法、プログラム、集積回路およびカメラ
JP4865930B2 (ja) 構造化された照射および均一な照射の両方を用いて光学的に切片化された画像を生成するためのシステムおよび方法
JP6137921B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム
JP4845607B2 (ja) ３次元形状測定方法及び装置
CN105263437A (zh) 记录颜色的聚焦扫描装置
JPWO2014112611A1 (ja) 画像処理装置、画像処理方法、画像処理プログラム及びそのプログラムを格納した記録媒体
JP6363477B2 (ja) ３次元形状測定装置
JP2009025189A (ja) 計測器
JP2006023476A (ja) 共焦点走査型顕微鏡
TWI500963B (zh) An image capturing device and method
JP2008275538A (ja) 三次元形状測定器及び試料画像構築装置
JP2007033217A (ja) 干渉計測装置及び干渉計測方法
JP2018173338A (ja) 走査型白色干渉顕微鏡を用いた三次元形状計測方法
JP4197898B2 (ja) 顕微鏡、三次元画像生成方法、三次元画像を生成する制御をコンピュータに行わせるプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体
JP2009151163A (ja) シェーディング補正装置及びシェーディング補正方法
JP2010054465A (ja) 観察装置
JP2021040849A (ja) 眼科装置、及びその制御方法
JP2009300589A (ja) 顕微鏡装置
JP2007278849A (ja) 光学測定装置及び光学測定方法
JP2010164635A (ja) 共焦点顕微鏡

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090629

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090629

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110621

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110628

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110822

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120522

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20120925