JP2008274374A - 成膜装置および成膜方法 - Google Patents

成膜装置および成膜方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008274374A
JP2008274374A JP2007121516A JP2007121516A JP2008274374A JP 2008274374 A JP2008274374 A JP 2008274374A JP 2007121516 A JP2007121516 A JP 2007121516A JP 2007121516 A JP2007121516 A JP 2007121516A JP 2008274374 A JP2008274374 A JP 2008274374A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tubular body
film
processing gas
gas
film forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007121516A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Kijima
健 木島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2007121516A priority Critical patent/JP2008274374A/ja
Priority to US12/151,111 priority patent/US20080299313A1/en
Publication of JP2008274374A publication Critical patent/JP2008274374A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/04Coating on selected surface areas, e.g. using masks
    • C23C16/045Coating cavities or hollow spaces, e.g. interior of tubes; Infiltration of porous substrates
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/001General methods for coating; Devices therefor
    • C03C17/003General methods for coating; Devices therefor for hollow ware, e.g. containers
    • C03C17/004Coating the inside
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/22Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with other inorganic material
    • C03C17/225Nitrides
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/22Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with other inorganic material
    • C03C17/23Oxides
    • C03C17/245Oxides by deposition from the vapour phase
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/46Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for heating the substrate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2217/00Coatings on glass
    • C03C2217/20Materials for coating a single layer on glass
    • C03C2217/21Oxides
    • C03C2217/216ZnO
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2217/00Coatings on glass
    • C03C2217/20Materials for coating a single layer on glass
    • C03C2217/21Oxides
    • C03C2217/228Other specific oxides
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2217/00Coatings on glass
    • C03C2217/20Materials for coating a single layer on glass
    • C03C2217/28Other inorganic materials
    • C03C2217/281Nitrides
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2218/00Methods for coating glass
    • C03C2218/10Deposition methods
    • C03C2218/15Deposition methods from the vapour phase
    • C03C2218/152Deposition methods from the vapour phase by cvd

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)
  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
  • Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)

Abstract

【課題】ガラス管などの管状体の内壁に膜を形成するための成膜装置および成膜方法を提供することにある。
【解決手段】本発明にかかる成膜装置1000は、化学的気相成長法によって管状体100の内壁に膜を形成する成膜装置であって、原料収容部10と、前記原料収容部10から供給された原料を含む処理ガスを形成する処理ガス生成部20と、前記管状体100の内壁に膜を形成する成膜部30と、前記管状体100と接続され、前記処理ガス生成部20から前記管状体100内に処理ガスを供給する処理ガス供給管46と、前記管状体100と接続され、前記管状体100を通過した処理ガスを排出する処理ガス排出管48と、を含み、前記成膜部30は、前記管状体100を保持する保持部32を有する。
【選択図】図1

Description

本発明は、化学的気相成長法(CVD:chemical vapor deposition)を用いた成膜方法および成膜装置に関する。
従来、プロジェクターなどに用いられる光源ランプの発光管としては、石英ガラス管が用いられている(例えば特開2005−309372号公報参照)。石英ガラスは、高温に曝されると、ガラス状態(非晶質)からクリストバライト(結晶質)に転移することにより、透明なガラスが白く変色する、失透現象が生じる。石英ガラスでは、通常、1150℃以上で失透現象が起こるが、例えば、熱蒸発した電極材料などが不純物として石英ガラス管の内面に付着し、失透現象の起こる温度(以下「失透温度」という)の低下が生じ、1000℃以下で失透現象が起こる場合がある。この失透温度の低下がランプ寿命を短くする場合がある。
本願発明者は、かかる問題を解決するために、石英ガラス管の内壁にセラミックス膜を形成する技術に関して既に特許出願を行っている(特願2005−374504号)。
特開2005−309372号公報
本発明の目的は、ガラス管などの管状体の内壁に膜を形成するための成膜装置および成膜方法を提供することにある。
本発明にかかる成膜装置は、
化学的気相成長法によって管状体の内壁に膜を形成する成膜装置であって、
原料収容部と、
前記原料収容部から供給された原料を含む処理ガスを形成する処理ガス生成部と、
前記管状体の内壁に膜を形成する成膜部と、
前記管状体と接続され、前記処理ガス生成部から前記管状体内に処理ガスを供給する処理ガス供給管と、
前記管状体と接続され、前記管状体を通過した処理ガスを排出する処理ガス排出管と、
を含み、
前記成膜部は、
前記管状体を保持する保持部を有する。
本発明にかかる成膜装置によれば、被処理体である管状体内で直接的に化学的気相成長法によって成膜する。そのため、当該管状体が一般的なCVD装置のチャンバに比べて体積が小さく、管状体内での断熱膨張による処理ガス温度の低下を格段に小さくできることから、温度制御が容易で、しかも加熱に要するエネルギーが少ない状態で良好な膜を形成することができる。
本発明の成膜装置において、前記成膜部は、さらに、前記管状体を加熱する加熱部を有することができる。
本発明の成膜装置において、
前記処理ガス生成部は、
間隔を空けて配置された複数のガス室部と、
前記複数のガス室部のそれぞれを連結する複数の連通管と、
前記複数のガス室部および前記複数の連通管を加熱する加熱部と、
を有することができる。
本発明の成膜装置において、前記ガス室部に対して、上下に隣り合う前記複数の連通管は、平面視において、重なっていないことができる。
本発明の成膜装置において、前記管状体は、ランプ用ガラス管であることができる。
本発明の成膜装置において、前記処理ガス供給管は、複数の供給分岐管を有し、前記処理ガス排出管は、複数の排出分岐管を有し、前記保持部は、複数の前記管状体を保持することができ、前記管状体は、それぞれ前記供給分岐管および前記排出分岐管と接続できる。
本発明にかかる成膜方法は、
化学的気相成長法によって管状体の内壁に膜を形成する成膜方法であって、
前記管状体を成膜装置の保持部にセットし、前記管状体を処理ガス供給管および処理ガス排出管に接続する工程と、
少なくとも原料を処理ガス生成部に供給する工程と、
前記処理ガス生成部から処理ガスを前記処理ガス供給管によって前記管状体内に供給する工程と、
前記処理ガスを用いた化学的気相成長法によって、前記管状体の内壁に膜を形成する工程と、
前記管状体を通過した処理ガスを前記処理ガス排出管から排出する工程と、
を含む。
本発明の成膜方法において、さらに、前記管状体を加熱部によって加熱し、かつ成膜温度に保持する工程を有することができる。
本発明の成膜方法において、前記処理ガスは、原料ガスと酸化性ガスとを含むことができる。
本発明の成膜方法において、前記処理ガス生成部は、複数のガス室部を有し、隣り合うガス室部は複数の連通管によって連結され、前記原料のガスは、前記ガス室部および前記連通管を経ることにより、圧縮と衝突を繰り返した状態で混合されることができる。
本発明の成膜方法において、前記膜は、セラミックス膜であることができる。
本発明の成膜方法において、前記セラミックス膜は、酸化亜鉛、酸化マグネシウム、酸化イットリウム、窒化ボロンと窒化シリコンの複合体、および酸窒化ボロンと酸窒化シリコンの複合体から選択される少なくとも一種を含むことができる。
以下、本発明に好適な実施形態について、図面を参照しながら説明する。
1.成膜装置
まず、本実施形態に係る管状体の成膜装置の一例について、図1および図2を参照しながら説明する。図1は、本実施形態にかかる成膜装置1000の概略図であり、図2は、処理ガス生成部を示す概略図である。
本実施形態にかかる成膜装置1000は、CVD法によって管状体100の内壁に膜を形成する成膜装置である。成膜装置1000は、原料収容部10と、原料収容部10から供給された原料を含む処理ガスを形成する処理ガス生成部20と、管状体100の内壁に膜を形成する成膜部30と、処理ガス供給管46と、処理ガス排出管48とを有する。処理ガス供給管46は、管状体100と接続され、処理ガス生成部20から管状体100内に処理ガスを供給する。処理ガス排出管48は、管状体100と接続され、管状体100を通過した処理ガスを排出する。
本実施形態では、管状体100としてランプ用ガラス管を用いている。ランプ用ガラス管については、後に詳述する。また、本実施形態では、管状体100の内壁にセラミックス膜を形成する例について述べる。
原料収容部10には、成膜される膜によって各種の原料が収容される。例えば、セラミックス膜をMOCVDによって形成する場合には、原料収容部10にはセラミックス膜の前駆体材料として有機金属化合物の溶液が収容される。
原料収容部10には、窒素、アルゴンなどのキャリアガスを供給するためのキャリアガス供給管40が接続されている。原料収容部10と処理ガス生成部20とは、原料を処理ガス生成部20に供給するための原料供給管42によって接続されている。また、処理ガス生成部20には、酸化性ガス、例えば酸素、オゾンなどを供給するための酸化性ガス供給管44が接続されている。図示の例では、酸化性ガス供給管44は、処理ガス生成部20に接続されているが、処理ガス供給管46に接続されていてもよい。
処理ガス生成部20で形成された処理ガスは、処理ガス供給管46によって成膜部30に供給される。本実施形態では、処理ガス供給管46は、下流側で複数の供給分岐管46aを有する。
成膜部30は、複数の管状体100を保持する保持部32と、管状体100を加熱する加熱部34とを有する。保持部32は、複数の管状体100を保持することができれば、構造は特に限定されない。図示の例の場合、保持部32は、加熱部34からの熱によって複数の管状体100を加熱できるように密閉され、内部に熱伝導が可能な熱媒体を含むことができる。あるいは、保持部32は、熱伝導性の高い金属などによって構成されることができる。
なお、図1に示す例では、加熱部34は、保持部32の外側に配置されているが、例えば、図5に示すように、加熱部34は、保持部32内に配置されることができる。この場合、加熱部34は、管状体100の所望の領域を加熱することができる。例えば、加熱部34は、管状体100において膜を形成する領域のみを主に加熱することができる。
また、例えば、図6に示すように、管状体100の所望の領域の周囲に電磁誘導コイル35を巻き、ECR(electron cyclotron resonance)プラズマCVD法により、所望の領域の管状体100の内壁に膜を形成することができる。
処理ガス排出管48は、上流側において、複数の排出分岐管48aを有する。そして、複数の管状体100は、それぞれ、コネクタ36によって供給分岐管46aと接続される。同様に、複数の管状体100は、それぞれ、コネクタ38によって排出分岐管48aと接続される。
本実施形態では、図2に示す処理ガス生成部20を用いることができる。
処理ガス生成部20は、複数のガス室部24と、複数の連通管25と、導入部26と、加熱部28と、を有する。
複数のガス室部24は、図2に示す例では、7段に形成されているが、この数は特に限定されず、必要に応じて増減可能である。複数の連通管25は、これら複数のガス室部24のそれぞれを連結している。各段に配置される連通管25の数は、特に限定されず、必要に応じて増減可能である。図3に示すように、ガス室部24に対して、上下に隣り合う複数の連通管25は、平面視において、重なっていないことができる。また、ガス室部24に対して、上下に隣り合う複数の連通管25は、平面視において、位置をずらして配置されていることができる。図示の例では、平面視において、ガス室部24の中心に対して、45度ずらして配置されている。なお、図3は、処理ガス生成部20の要部を模式的に示す斜視図であり、便宜上、部材の数、サイズなどを簡略化して示している。ガス室部24は、図示のように、例えば、平たい円柱管であることができる。また、連通管25は、図示のように、例えば、細長い円柱管であることができる。ガス室部24の平面視における径は、図示のように、連通管25の平面視における径よりも大きい。なお、ガス室部24および連通管25の形状や大きさなどは、図示の例に限定されるわけではなく、必要に応じて変更可能である。
導入部26には、原料および酸素ガスなどの処理ガスに必要なガスが導入される。導入部26は、図示のように、例えば、円柱管であることができる。加熱部28は、複数のガス室部24および複数の連通管25を加熱することができる。
なお、ガス室部24および連通管25は、例えば、図4に示すような形状および配置とすることもできる。図4は、処理ガス生成部20の要部の変形例を模式的に示す斜視図であり、便宜上、部材の数、サイズなどを簡略化して示している。ガス室部24は、図示のように、例えば、環状管であることができる。ガス室部24の平面視における外径は、図示のように、連通管25の平面視における径よりも大きい。図示の例では、ガス室部24に対して、上下に隣り合う複数の連通管25は、平面視において、ガス室部24の中心に対して、45度ずらして配置されている。最上段のガス室部24は、複数(図示の例では6つ)の接続管37によって、導入部26と連結されている。導入部26は、図示のように、例えば、下側が閉じている円柱管であることができる。接続管27は、平面視において、導入部26を中心として放射状に配置されている。なお、この変形例は一例であって、これに限定されるわけではない。
このような処理ガス生成部20においては、原料ガスと酸化性ガスとが導入部26に供給される。原料ガスは、キャリアガス供給管40から供給されるキャリアガスによって、原料収容部10から原料供給管42を介して供給される。酸化性ガスは、酸化性ガス供給管44を介して供給される。導入部26内のガスは、最上段に配置されたガス室部24に供給される。この際、導入部26から噴射されたガスは、ガス室部24の底面に衝突して拡散する。そして、ガスは、最上段のガス室部24に連結された複数の連通管25を介して、圧縮された状態でその下段に配置されたガス室部24に供給される。この際にも、複数の連通管25から噴射されたガスは、ガス室部24の底面に衝突して拡散する。このようにして、導入部26に導入されたガスは、最上段のガス室部24から最下段のガス室部24まで、ガス室部24の底面での衝突と連通管25での圧縮を繰り返して流れていくことができる。
ガス室部24および連通管25は、加熱部28によって加熱されており、内部を流れるガスも加熱される。最上段のガス室部24から最下段のガス室部24まで流れたガスは、活性な酸化性および反応性を有する処理ガスとして、処理ガス供給管46に供給される。
本実施形態にかかる成膜装置によれば、以下の特徴を有する。
成膜に用いられる処理ガスは、処理ガス生成部20から被処理体である管状体100内に直接供給され、当該管状体100の内壁にCVD法によって膜が形成される。管状体100は、一般的なCVD装置におけるチャンバに比べて体積が小さく、断熱膨張による処理ガス温度の低下を格段に少なくできることから、温度制御が容易で、しかも加熱に要するエネルギーが少ない状態で良好な膜、例えばセラミックス膜を形成することができる。
成膜部30では、管状体100において膜の形成が必要な箇所のみを加熱したり、あるいは当該箇所に電磁誘導コイルを巻くことにより、管状体100の内壁に部分的に膜を形成することができ、設計の自由度が高くなる。
成膜部30において、被処理体である管状体100を複数配置し、各管状体100に処理ガスを供給することにより、複数の管状体100を同時に処理できる。
さらに、処理ガス生成部20として、上述した複数のガス室部24と連通管25とを有する装置を用いた場合には、活性な反応性を有する処理ガスを得ることができるので、通常のCVD法を用いた場合に比べてより低温で良質の膜、例えばセラミックス膜を得ることができる。
本実施形態では、管状体100として、ランプ用ガラス管に限定されず、管状の被処理体であれば適用することができる。
2.成膜方法
成膜装置1000を用いて、以下のように管状体100の内壁に膜、例えばセラミックス膜が形成される。
(A) 複数の管状体100を成膜部30の保持部32にセットする。そして、各管状体100を処理ガス供給管46の供給分岐管46aとコネクタ36を介して接続するとともに、各管状体100をコネクタ38によって排出分岐管48aと接続する。このように各管状体100を供給分岐管46aと排出分岐管48aと接続することにより、処理ガス生成部20から供給される処理ガスは、被処理体である管状体100内を通過することになる。
(B) 原料収容部10から、上述したように、原料供給管42を介して、キャリアガスによって原料、例えば有機金属化合物を処理ガス生成部20に供給するとともに、酸化性ガス供給管44を介して酸化性ガスを処理ガス生成部20に供給する。処理ガス生成部20によって、原料ガスと酸化性ガスを含む処理ガスが形成される。上述した図2に示す処理ガス生成部20を用いることにより、処理ガスは活性な酸化性および反応性を有する。
(C) 処理ガス生成部20から処理ガス供給管46および供給分岐管46aを経て、処理ガスを被処理体である管状体100内にのみ供給する。このとき、一般的なCVD装置のように被処理体より体積が大きいチャンバ内に処理ガスが供給される場合に比べて、処理ガスは無駄なく管状体100に供給され、しかも断熱膨張による処理ガス温度の低下を格段に少なくできる。
(D) 管状体100内において、処理ガスを用いたCVD法によって、管状体100の内壁にセラミックス膜を形成する。この場合、管状体100がCVD法による成膜においてチャンバとしても機能するため、処理ガスを無駄なく成膜に用いることができる。さらに、上述したように、管状体100は、一般的なCVD装置におけるチャンバに比べて体積が小さく、断熱膨張による処理ガス温度の低下を格段に少なくできることから、温度制御が容易で、しかも加熱に要するエネルギーが少ない状態で良好な膜、例えばセラミックス膜を形成することができる。CVD法は、例えば、熱CVD法、プラズマCVD法(高密度プラズマCVD法を含む)などであることができる。
保持部32は、加熱部34によって加熱されており、管状体100も加熱されている。本実施形態では、処理ガス(反応ガス)が加熱された管状体100内を流れることによって、熱CVD法によって、管状体100の内面を覆うようにセラミックス膜が形成される。
(E) 各管状体100を通過した処理ガスは、排出分岐管48aおよび処理ガス排出管48から排出される。
以上のようにして、内壁に膜(セラミックス膜)が形成された管状体100を得ることができる。
本実施形態の成膜方法によっても、上述した成膜装置の場合と同様な特徴を有する。
3.適用例
本実施形態の管状体100をランプ用のガラス管に適用した場合について説明する。図7は、ランプ用のガラス管100Aを模式的に示す断面図であり、図8は、ガラス管100Aの内壁にセラミックス膜が形成された状態を示す断面図である。
ランプ用のガラス管100Aは、両端が開放された管状である。ガラス管100Aの中央部(以下、「第1領域」ともいう)120におけるガラス管100Aの径は、他の領域(以下「第2領域」ともいう)122におけるガラス管100Aの径よりも大きい。すなわち、第1領域120は、ガラス管100Aの長手方向の中央に位置している。第2領域122は、ガラス管100Aの長手方向において、第1領域120の両側に位置している。第1領域120におけるガラス管100Aは、例えば、円球状、楕円球状などである。第2領域122におけるガラス管122は、第1領域120におけるガラス管100Aの両側に一対形成されており、第1領域120におけるガラス管100Aから連続している。第2領域122におけるガラス管100Aは、例えば、円柱管、角柱管などである。ガラス管100Aは、例えば石英ガラスなどからなることができる。
図8に示すように、セラミックス膜112は、第1領域120におけるガラス管100Aの内面のうちの少なくとも一部を覆っている。例えば、図示のように、セラミックス膜112は、第1領域120および第2領域122におけるガラス管100Aの内面のすべてを覆っていることができる。第1領域120および第2領域122におけるセラミックス膜112の膜厚は、例えば図示のように、第1領域120および第2領域122におけるガラス管100Aの膜厚よりも薄い。また、図示はしないが、セラミックス膜は、主に第1領域120にのみ形成されていてもよい。
セラミックス膜112は、例えば、酸化亜鉛(ZnO)、酸化マグネシウム(MgO)、酸化イットリウム(Y)、窒化ボロンと窒化シリコンの複合体(以下「BN−SiN」ともいう)、酸窒化ボロンと酸窒化シリコンの複合体(以下「BON−SiON」ともいう)などから選択できる。例えば、ZnO、MgO、Y、BN−SiNおよびBON−SiONの失透温度は、1500℃以上である。BN−SiNは、例えば、一般式(BN)(Si1−xで表されることができる。ここで、0<x<1である。SiON−BNは、例えば、一般式(SiO1−y(BO1−z1−xで表されることができる。ここで、0<x<1、0<y<1、0<z<1である。
セラミックス膜112は、例えば、BN−SiN、BON−SiON、ZnO、MgO、Yなどのうちの一種からなる一層構造であることができる。また、セラミックス膜112は、例えば、BN−SiN、BON−SiON、ZnO、MgO、Yなどからなる層を複数積層した複数層構造であることができる。
これらのセラミックス膜の原料ガスとしては、BON−SiONからなるセラミックス膜を形成する場合には、例えば、トリス(トリメチルシロキシ)ボレートなどを用いることができる。原料ガスとしては、ZnOからなるセラミックス膜を形成する場合には、例えば、ビス(6-エチル−2,2−ジメチル−3,5−デカンジオナート)亜鉛などを用いることができる。原料ガスとしては、MgOからなるセラミックス膜を形成する場合には、例えば、ビス(6−エチル−2,2−ジメチル−3,5−デカノジオナート)マグネシウム(Mg(EDMDD))などを用いることができる。原料ガスとしては、Yからなるセラミックス膜を形成する場合には、例えば、トリス(sec−ブチルシクロペンタジエニル)イットリウム(Y(sBuCp))などを用いることができる。
図9は、本実施形態にかかる成膜装置を用いて形成されたランプ200を模式的に示す斜視図であり、部分的に断面が示されている。図9に示すように、ランプ200は、例えば高圧水銀ランプなどである。ランプ200は、ランプ用ガラス管150と、第1電極130と、第2電極131と、第1端子132と、第2端子133と、内部空間134と、を有する。第1領域120におけるセラミックス膜112の内側には、内部空間34が存在する。内部空間134には、例えば、水銀、希ガス、およびハロゲンなどが封入されている。内部空間134内には、第1電極130および第2電極131が配置されている。第1電極130および第2電極131は、放電用の電極である。第1電極130および第2電極131は、例えば、タングステンなどからなることができる。第1電極130は、例えば、第2領域122におけるセラミックス膜112の内側に密封された金属箔(図示せず)などにより、第1端子132と電気的に接続されている。同様にして、第2電極131は、第2端子133と電気的に接続されている。第1端子132および第2端子133は、電力供給用の端子であり、ランプ用ガラス管150の両端から引き出されている。
ランプ200は、例えば、ランプ用ガラス管150内のプラズマ輻射により放出される光を用いるデバイス(例えばプロジェクターランプや蛍光管等)などに適用されることができる。また、ランプ200は、高圧水銀ランプに限定されず、例えば、メタルハライドランプ、キセノンランプなどでも良い。
本実施形態の成膜装置および成膜方法を例えば図9に示すランプ200に適用した場合には、以下の特徴を有する。
第1領域120におけるガラス管100Aの内壁の全てあるいは少なくとも発光部がセラミックス膜112によってコーティングされている。これにより、ガラス管100Aの内面への不純物の付着を防ぐことができ、ガラス管100Aの失透温度が低下するのを防ぐことができる。従って、ランプ200の長寿命化を図ることができる。なお、セラミックス膜112が第1領域120におけるガラス管100Aの内面のうちの少なくとも一部を覆うことで、ランプ200の長寿命化を図ることが可能である。
また、薄膜のセラミックス膜112でガラス管100Aの内壁の特定か所を覆うことができる。例えば、少なくとも第1領域120におけるセラミックス膜112の膜厚を、第1領域120におけるガラス管100Aの膜厚よりも薄くするか、ほとんどセラミックス膜を形成しないことができる。従って、例えば、光の透過率がガラス管100Aよりも、同じ膜厚のセラミックス膜112の方が低い場合に、ランプ用ガラス管150の第1領域120における光の透過率の低下を抑制しつつ、上述したようにランプ200の長寿命化を図ることができる。
4.実施例
以下、本発明の実施例について述べるが、本発明はこれに限定されるものではない。
4.1.実施例1
原料としての反応化学種として、トリス(sec−ブチルシクロペンタジエニル)イットリウム(Y(sBuCp))を用いた。この原料を窒素ガスおよび酸素ガスとともに図2に示す処理ガス生成部へ供給して処理ガスを得た。この処理ガスを成膜部(反応室)へ供給して、ランプ用ガラス管の内壁に膜を形成した。
反応室での原料ガスの流量は0.3ccm、窒素ガスの流量は1.5slm、酸素ガスの流量は0.5slmであった。反応室での条件は、圧力が400Pa、温度が600℃、および処理時間が30分間であった。処理ガス生成部に関する条件は、原料の配管温度(原料の温度)は220℃、酸素ガスの温度は400℃であった。また、ランプ用ガラス管としては、石英製のプロジェクターランプ用ガラス管を用いた。当該ガラス管としては、長さが300mm、発光部(図8における第1領域120)の長さが10mm、外径が5mm、発光部の外径が7mm、内径が1mm、発光部の内径が3mmのものを用いた。
成膜後のガラス管の内壁には、全体に干渉色が認められ、膜厚がほぼ均一で透明な膜が形成されていることが確認された。
4.2.実施例2
4.1.の実施例1と同様の条件で、平板状の石英製基板の表面に成膜を行った。得られた膜について、光透過性とXRD特性を求めた。その結果を図10および図11に示す。図10(A)は、石英製基板単体の透過率を示し、図10(B)は、石英製基板上に膜を形成したサンプルの透過率を示す。
図10(A)と図10(B)とを比較すると、膜が形成されたサンプルと、膜が形成されていない基板とでは、光の透過率にほとんど差が無いことが分かる。したがって、本実施例で得られた膜は、高い光透過率を有し、透明であることが確認された。また、図11から、本実施例で得られた膜は、酸化イットリウムの結晶膜であることが確認された。
以上のことから、本発明の実施例では、管状体の内壁に高い結晶性を有する膜を成膜できることが確認された。
上記のように、本発明の実施形態について詳細に説明したが、本発明の新規事項および効果から実体的に逸脱しない多くの変形が可能であることは当業者には容易に理解できよう。従って、このような変形例はすべて本発明の範囲に含まれるものとする。
本発明の実施形態にかかる成膜装置を模式的に示す図。 本実施形態で用いられる処理ガス生成部を模式的に示す図。 図2に示す処理ガス生成部の要部を模式的に示す図。 図2に示す処理ガス生成部の要部の変形例を模式的に示す図。 本実施形態で用いられる成膜部を模式的に示す図。 本実施形態で用いられる成膜部の変形例を模式的に示す図。 本実施形態で用いられる管状体(ランプ用ガラス管)を模式的に示す図。 本実施形態で用いられる管状体の内壁にセラミックス膜を形成した状態を模式的に示す図。 本実施形態の成膜方法を適用して形成されたランプを模式的に示す図。 (A)は、実施例に用いられた石英製基板の光透過率を示すグラフであり、(B)は、実施例のサンプルの光透過率を示すグラフ。 実施例の膜のXRD特性を示す図。
符号の説明
10 原料収容部、20 処理ガス生成部、24 ガス室部、25 連通管、30 成膜部、32 保持部、34 加熱部、40 キャリアガス供給管、42 原料供給管、44 酸化性ガス供給管、46 処理ガス供給管、46a 供給分岐管、48 処理ガス排出管、48a 排出分岐管、100 管状体(ランプ用ガラス管)、1000 成膜装置

Claims (12)

  1. 化学的気相成長法によって管状体の内壁に膜を形成する成膜装置であって、
    原料収容部と、
    前記原料収容部から供給された原料を含む処理ガスを形成する処理ガス生成部と、
    前記管状体の内壁に膜を形成する成膜部と、
    前記管状体と接続され、前記処理ガス生成部から前記管状体内に処理ガスを供給する処理ガス供給管と、
    前記管状体と接続され、前記管状体を通過した処理ガスを排出する処理ガス排出管と、
    を含み、
    前記成膜部は、
    前記管状体を保持する保持部を有する、成膜装置。
  2. 請求項1において、
    前記成膜部は、さらに、前記管状体を加熱する加熱部を有する、成膜装置。
  3. 請求項1または2において、
    前記処理ガス生成部は、
    間隔を空けて配置された複数のガス室部と、
    前記複数のガス室部のそれぞれを連結する複数の連通管と、
    前記複数のガス室部および前記複数の連通管を加熱する加熱部と、
    を有する、成膜装置。
  4. 請求項3において、
    前記ガス室部に対して、上下に隣り合う前記複数の連通管は、平面視において、重なっていない、成膜装置。
  5. 請求項1ないし4のいずれかにおいて、
    前記管状体は、ランプ用ガラス管である、成膜装置。
  6. 請求項1ないし5のいずれかにおいて、
    前記処理ガス供給管は、複数の供給分岐管を有し、前記処理ガス排出管は、複数の排出分岐管を有し、前記保持部は、複数の前記管状体を保持することができ、前記管状体は、それぞれ前記供給分岐管および前記排出分岐管と接続できる、成膜装置。
  7. 化学的気相成長法によって管状体の内壁に膜を形成する成膜方法であって、
    前記管状体を成膜装置の保持部にセットし、前記管状体を処理ガス供給管および処理ガス排出管に接続する工程と、
    少なくとも原料を処理ガス生成部に供給する工程と、
    前記処理ガス生成部から処理ガスを前記処理ガス供給管によって前記管状体内に供給する工程と、
    前記処理ガスを用いた化学的気相成長法によって、前記管状体の内壁に膜を形成する工程と、
    前記管状体を通過した処理ガスを前記処理ガス排出管から排出する工程と、
    を含む、成膜方法。
  8. 請求項7において、
    さらに、前記管状体を加熱部によって加熱し、かつ成膜温度に保持する工程を有する成膜方法。
  9. 請求項7または8において、
    前記処理ガスは、原料ガスと酸化性ガスとを含む、成膜方法。
  10. 請求項7ないし9のいずれかにおいて、
    前記処理ガス生成部は、複数のガス室部を有し、隣り合うガス室部は複数の連通管によって連結され、前記原料のガスは、前記ガス室部および前記連通管を経ることにより、圧縮と衝突を繰り返した状態で混合される、成膜方法。
  11. 請求項7ないし10のいずれかにおいて、
    前記膜は、セラミックス膜である、成膜方法。
  12. 請求項11において、
    前記セラミックス膜は、酸化亜鉛、酸化マグネシウム、酸化イットリウム、窒化ボロンと窒化シリコンの複合体、および酸窒化ボロンと酸窒化シリコンの複合体から選択される少なくとも一種を含む、成膜方法。
JP2007121516A 2007-05-02 2007-05-02 成膜装置および成膜方法 Pending JP2008274374A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007121516A JP2008274374A (ja) 2007-05-02 2007-05-02 成膜装置および成膜方法
US12/151,111 US20080299313A1 (en) 2007-05-02 2008-05-02 Film forming apparatus and film forming method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007121516A JP2008274374A (ja) 2007-05-02 2007-05-02 成膜装置および成膜方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008274374A true JP2008274374A (ja) 2008-11-13

Family

ID=40052706

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007121516A Pending JP2008274374A (ja) 2007-05-02 2007-05-02 成膜装置および成膜方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20080299313A1 (ja)
JP (1) JP2008274374A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010163663A (ja) * 2009-01-16 2010-07-29 Nihon Ceratec Co Ltd 大気開放型cvd装置および金属酸化物膜の製造方法
JP2016216331A (ja) * 2015-05-26 2016-12-22 株式会社Flosfia 酸化イットリウム膜
WO2018179924A1 (ja) 2017-03-29 2018-10-04 株式会社Adeka 原子層堆積法による酸化イットリウム含有薄膜の製造方法
WO2021065646A1 (ja) 2019-10-04 2021-04-08 株式会社Adeka 酸化イットリウム含有膜の製造方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101864561B (zh) * 2010-06-04 2011-11-16 山东力诺新材料有限公司 罩玻璃管内壁减反射涂层的成形工艺
DE102016222945A1 (de) * 2016-11-21 2018-05-24 Volkswagen Aktiengesellschaft Anordnung von zylinderförmigen Bauteilen in einer Beschichtungskammer zur Beschichtung der Innenflächen der zylinderförmigen Bauteile mittels Gasphasenabscheidung und Verfahren zur Beschichtung der Innenflächen von zylinderförmigen Bauteilen

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010163663A (ja) * 2009-01-16 2010-07-29 Nihon Ceratec Co Ltd 大気開放型cvd装置および金属酸化物膜の製造方法
JP2016216331A (ja) * 2015-05-26 2016-12-22 株式会社Flosfia 酸化イットリウム膜
WO2018179924A1 (ja) 2017-03-29 2018-10-04 株式会社Adeka 原子層堆積法による酸化イットリウム含有薄膜の製造方法
KR20190128062A (ko) 2017-03-29 2019-11-14 가부시키가이샤 아데카 원자층 퇴적법에 의한 산화이트륨 함유 박막의 제조 방법
US11335896B2 (en) 2017-03-29 2022-05-17 Adeka Corporation Method for producing yttrium oxide-containing thin film by atomic layer deposition
KR20230074306A (ko) 2017-03-29 2023-05-26 가부시키가이샤 아데카 원자층 퇴적법에 의한 산화이트륨 함유 박막의 제조 방법
WO2021065646A1 (ja) 2019-10-04 2021-04-08 株式会社Adeka 酸化イットリウム含有膜の製造方法
KR20220078608A (ko) 2019-10-04 2022-06-10 가부시키가이샤 아데카 산화이트륨 함유막의 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
US20080299313A1 (en) 2008-12-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7374617B2 (en) Atomic layer deposition methods and chemical vapor deposition methods
US7569501B2 (en) ALD metal oxide deposition process using direct oxidation
JP6386519B2 (ja) Cvd装置、及び、cvd膜の製造方法
US7629267B2 (en) High stress nitride film and method for formation thereof
JP6086942B2 (ja) 半導体装置の製造方法、基板処理装置およびプログラム
JP2008274374A (ja) 成膜装置および成膜方法
US8453600B2 (en) Substrate processing apparatus
US20160376699A1 (en) Substrate processing apparatus, and storage medium
JPS6290924A (ja) 堆積膜形成法及びこれに用いる装置
US20040152254A1 (en) Method of forming a Ta2O5 comprising layer
TW201001620A (en) Method and apparatus for UV curing with water vapor
TW200307998A (en) Treatment device of substrate
JP2020182001A (ja) 基板処理装置、半導体装置の製造方法、プログラムおよび処理容器
JP6095172B2 (ja) 半導体装置の製造方法、基板処理方法及び基板処理装置
JP2017168788A (ja) 半導体装置の製造方法、基板処理装置およびプログラム
JP2013125761A (ja) 半導体製造装置及び半導体製造方法
WO2021100560A1 (ja) 基板処理方法及び基板処理装置
KR101884555B1 (ko) 플라즈마 강화 원자층 증착을 이용한 금속 산화물막 증착 방법
US20070210714A1 (en) Glass tubes for lamps, method for manufacturing the same, and lamps
JP2008270074A (ja) ランプおよびその製造装置ならびに製造方法
JP6453727B2 (ja) 基板処理装置およびそれを用いた半導体装置の製造方法
JP2005339828A (ja) 有機エレクトロルミネッセンス素子およびその製造方法
JP3467988B2 (ja) 半導体の製造方法及び半導体の製造装置
JP2004039795A (ja) 基板処理装置
TW200901814A (en) Electronic device, its manufacturing method, structural body of sealing film, manufacturing device for manufacturing electronic device, and plasma processing device

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090722

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090729

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090925

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100519

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100716

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20101124