JP2008251074A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】光ディスクの最適記録ストラテジデータが記憶されていなかったり、記録特性が変わってしまった場合でも、良好な記録品質が得られる光ディスク装置を提供する。
【解決手段】標準記録ストラテジデータ及びディスク製造業者ごとの最適記録ストラテジデータをメモリ１８に記憶させ、光ディスク１０に記録された製造業者名がメモリに存在するとき対応する最適記録ストラテジデータのストラテジを設定し、存在しないとき標準記録ストラテジデータのストラテジを設定し、設定されたストラテジに基づくテストデータの記録と、光ディスクの推奨記録ストラテジデータに基づくテストデータの記録とを行い、２つのテストデータを再生して、再生品質がより優れた一方の再生データに対応するストラテジを選択するとともに、そのストラテジデータを光ディスクに記録する。
【選択図】図４

Description

本発明は、光ディスクのデータエリアへのユーザデータの記録開始前にストラテジ（記録パルスパターン）を設定する光ディスク装置に関する。

従来、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどの記録型光ディスクにおいて、ストラテジを設定する場合、ディスク製造業者ごとにあらかじめ決定された最適記録ストラテジデータと、どのような光ディスクにも対応できる標準記録ストラテジデータを光ディスク装置の不揮発性メモリにテーブルデータとして記憶させておき、光ディスクにユーザデータの記録を行う際、ディスク読み込み時に認識したディスク製造業者名が、不揮発性メモリに最適記録ストラテジデータが記憶されたディスク製造業者名と一致すれば該当する最適記録ストラテジデータを読み出してストラテジ設定する一方、不揮発性メモリに最適記録ストラテジデータが記憶されていないディスク製造業者であれば標準記録ストラテジデータを読み出してストラテジを設定する方法があった（例えば、下記の特許文献１参照）。

また、光ディスク上に用意されたテストエリア（試し書き領域）にストラテジを変化させてテストデータを記録し、その再生信号の品質を評価してストラテジを最適化する技術も知られている（下記の特許文献２参照）。
特開２００２−５６５３１号公報（段落００３２〜００３９） 特許第３８１５３２６号公報（第４頁第１１行〜第２６行）

しかしながら、上述した特許文献１に示されたストラテジの設定方法では、あらかじめ最適記録ストラテジデータが光ディスク装置の不揮発性メモリに記憶されていないディスク製造業者の光ディスクに対して標準記録ストラテジデータのストラテジが設定されるが、この標準記録ストラテジデータのストラテジでは記録品質が劣る場合があるという問題があった。

また、上述した特許文献２に示された試し書き方法では、最適化の処理を光ディスク装置の起動処理中や記録開始前などに毎回行うと処理時間が増大してしまうという問題があり、さらに、テストエリアは範囲が限られているため、ＤＶＤ−Ｒなどの消去不可能な光ディスクの場合には、最適化処理の実行回数に制限があるという問題があった。

本発明は上記の問題点を解決するためになされたもので、その目的は、最適記録ストラテジデータが光ディスク装置内の記憶手段に記憶されていないディスク製造業者の光ディスクでも、良好な記録品質が得られるストラテジを設定することが可能な光ディスク装置を提供することにある。
本発明の他の目的は、最適記録ストラテジデータが不揮発性メモリに記憶されているディスク製造業者の光ディスクが、製造手段の改良などにより記録特性が変わってしまった場合でも、良好な記録品質が得られる記録ストラテジデータを設定することが可能な光ディスク装置を提供することにある。
本発明のもう一つ他の目的は、テストエリアにテストデータを記録してその記録品質を比較する比較処理が１回で済み、これによって処理時間の増加とテストエリアの消費を最低限で済ませることが可能な光ディスク装置を提供することにある。

上記の目的を達成するために、本発明は、リードインエリア、テストエリア及びデータエリアを有し、前記リードインエリアにディスク製造業者名及びディスク製造業者が推奨する推奨記録ストラテジデータが記録された光ディスクが装着され、前記データエリアへのユーザデータの記録開始前に、前記リードインエリアの情報を読み出し、得られた情報に基づいてユーザデータの記録を開始する光ディスク装置であって、
標準記録ストラテジデータ及びディスク製造業者名に対応付けられた最適記録ストラテジデータを記憶する記憶手段と、
前記光ディスクのリードインエリアから読み出されたディスク製造業者名が前記記憶手段に存在するか否かを判定し、存在するとき対応する前記最適記録ストラテジデータのストラテジを設定し、存在しないとき前記標準記録ストラテジデータのストラテジを設定する設定手段と、
前記設定手段で設定されたストラテジに基づく前記テストエリアへのテストデータの記録と、前記光ディスクのリードインエリアの前記推奨記録ストラテジデータに基づく前記テストエリアへのテストデータの記録とを行うテストデータ記録手段と、
前記テストエリアに記録された２つの前記テストデータを再生して、再生品質を比較し、再生品質がより優れた一方の再生データに対応するストラテジを、前記ユーザデータを記録するストラテジとして選択するストラテジ選択手段と、
前記選択手段によって選択されたストラテジのデータを前記リードインエリアに記録するストラテジ記録手段とを、
備える。

本発明によれば、光ディスクに対する初回の記録時には、この光ディスクに記載されている製造業者が推奨する推奨記録ストラテジデータのストラテジと、光ディスク装置の記憶手段（不揮発性メモリ）に記憶されている製造業者ごとの最適記録ストラテジデータ又は標準記録ストラテジデータのストラテジとの記録品質の比較が行われ、結果が良好な１つのストラテジを選択することができるので、いずれか１つの記録ストラテジデータのストラテジに固定する場合よりも良好な記録品質が得られ、さらに、製造手段の改良などにより記録特性が変わってしまった場合でも、良好な記録品質が得られる。

また、ストラテジ選択結果を光ディスクのリードインエリアに記憶しておき、次回の光ディスク装置の起動時にその情報を読み出してストラテジを設定するため、テストエリアに記録してその記録品質を比較する比較処理は１回で済み、処理時間の増加とテストエリアの消費を最低限で済ますことが可能になるという効果も得られる。

以下、本発明を図面に示す好適な実施の形態に基づいて詳細に説明する。図１は本発明に係る光ディスク装置の一実施の形態の構成を示すブロック図である。本実施の形態に装着される光ディスク１０としては、例えば、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどの記録型光ディスクが考えられる。ただし、他の種類の光ディスクに対応した記録装置にも本発明を適用することができる。

レーザ変調回路／パワー制御回路１９で所定の発光パワーに制御された光ピックアップ１１内のレーザダイオードから出射されたレーザ光は、光ピックアップ１１内の対物レンズ１１ａから光ディスク１０の情報面に出射される。また、光ディスク１０は図示を省略したスピンドルモータにより回転され、その回転は光ピックアップ１１から光ディスク１０に照射される上記レーザ光により光ディスク１０上に形成される光スポットとの相対速度が一定になるようにサーボ回路２０により制御される。

光ピックアップ１１の全体の位置はスレッド機構２１で制御され、光ピックアップ１１内の対物レンズ１１ａの位置はサーボ回路２０で制御され、レーザ光は光ディスク１０の所定のトラックに集光される。光ディスク１０に照射されたレーザ光は、光ディスク１０で反射され、その反射光が光ピックアップ１１内の対物レンズ１１ａを逆進して光ピックアップ１１内の複数の分割受光素子で構成される公知の光受光部（図示せず）により光電変換され、各分割受光素子の受光信号を公知の方法で演算処理することにより、光ディスク１０の記録済みのデータであるＲＦ信号と、アドレス信号と、光ピックアップ１１を制御するためのフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号からなるサーボ誤差信号とがそれぞれ得られる。

光ディスク１０がＤＶＤ−ＲやＤＶＤ−ＲＷの場合には、光ディスク１０は内面に螺旋状に形成された断面凸状又は凹状のグルーブにユーザデータがＲＦ信号の形態とされて記録マークの断続として記録されており、また、グルーブとグルーブの間のランドには、所定の周期でアドレス情報やディスクＩＤ及び記憶速度に対応する記録ストラテジデータを含むランドプリピットがあらかじめ記録されている。よく知られているように、光ディスク１０上に照射されて収束する光ビームスポットは、１本のグルーブトラックとその両側のランドの一部にも同時に照射されるので、上記のランドプリピットからアドレス信号などが再生される。また、グルーブの側壁（これはランドの側壁でもある）は、一定の周波数又は所定の情報が微小に蛇行して形成されている。

再生信号は再生信号検出回路１３に入力されてＲＦ信号が検出され、アドレス情報を含むＲＦ信号及び上記微小に蛇行している情報を再生したウォブル信号とランドプリピット信号はアドレス信号検出回路１２に入力され、サーボ誤差信号はサーボ用信号検出回路１４に入力される。アドレス信号検出回路１２では、ウォブル信号とランドプリピット信号やＲＦ信号とからディスクＩＤも読み取る。サーボ回路２０はサーボ用信号検出回路１４から得られたサーボ誤差信号を装置制御部１７からの指令に従って、光ピックアップ１１を制御し、光ディスク１０の所定のグルーブトラックに追従走査させ、かつ、レーザ光を集光させる。

ジッタ検出回路１６は再生信号検出回路１３のＰＬＬ回路にて生成される同期クロックでＲＦ信号の振幅レベル、あるいは位相を検出することによって、記録ピット長のエッジシフトあるいはジッタを検出する。

データ記録時は、装置制御部１７からの指令によりサーボ回路２０で光ピックアップ１１を制御し、光ディスク１０の所定のトラックにレーザ光を集光させる。そして、記録データは装置制御部１７からレーザ変調回路／パワー制御回路１９に送られ、光ディスク１０に記録するのに適したストラテジに変換された後、光ピックアップ１１内のレーザダイオードに供給され、レーザ発光強度を変化させてレーザダイオードから出射されるレーザ光により、光ディスク１０に記録される。

ここで、ユーザデータの光ディスク１０のデータエリアへの記録を開始する前に、ＯＰＣ検出回路１５を使用してＯＰＣ（Optimum Power Control：最適記録レーザパワーの判別動作）が実行される。ＯＰＣ検出回路１５は記録パワーを可変しながら試し書きを行っているときと、試し書きを行ったエリアを再生するときの光ディスク１０からの反射光を検出して電気信号に変換する回路である。

例えば、光ディスク１０がＤＶＤ−Ｒの場合、このＯＰＣ検出回路１５は再生時には記録時におけるマークとスペースからの反射光を電気信号に変換し、その直流分を除いた信号のマークレベルをＡ２、スペースレベルをＡ１とすると、次式で定義されるβ値を得る。 β＝（｜Ａ１｜−｜Ａ２｜）／（｜Ａ１｜＋｜Ａ２｜） …（１）

不揮発性のメモリ１８は、既知の最適記録ストラテジデータをディスクＩＤ（ディスク製造業者コード：ＭＩＤ）と対応付けて記憶しており、また、ディスクＩＤが未登録のディスク製造業者用の標準記録ストラテジデータを記憶している。

図２は図１のジッタ検出回路１６によるジッタ検出方法を説明するための波形図であり、図２（ａ）は図１の光ピックアップ１１から出力されるＲＦ信号、図２（ｂ）は再生信号検出回路１３に含まれる二値化信号生成回路（図示せず）で上記ＲＦ信号から生成された二値化信号、図２（ｃ）は再生信号検出回路１３で生成されるクロック、図２（ｄ）は二値化信号とウォブルクロックの位相差信号をそれぞれ示している。このうち、図２（ｄ）に示した位相差信号は、ジッタ検出回路１６において生成され、記録されたマーク及びスペースのエッジにジッタが少ないときはパルス幅が狭く、ジッタが大きいときは位相差が進み遅れの両方で増してパルス幅は広くなる。

ジッタ検出回路１６は、さらに、この位相信号を積分することにより、ジッタ値を得る。選択したストラテジで記録した箇所を再生してジッタ値を比較検出することにより、記録特性の良否を判定できることになる。なお、上記の位相差信号の位相差は、クロックと二値化信号との間のエッジシフト量を表している。

次に、本実施の形態の動作について、装置制御部１７を中心にして実行される具体的な処理手順を示すフローチャートに従って説明する。図３は光ディスクが装着されて光ディスク装置が起動されるディスク起動処理のフローチャートである。ここで、最初のステップＳ１１で光ディスク１０（以下、単に光ディスクと称する）内のリードインエリアに記録された記録情報を読み出す。次に、ステップＳ１２で現光ディスク装置の製造業者名、モデル名、シリアル番号を検索し、次のステップＳ１３では現光ディスク装置と同じ情報が光ディスクのリードインエリアにあるか否かを判定する。ステップＳ１３で現光ディスク装置と同じ情報が光ディスクのリードインエリアにあると判定された場合には、現光ディスク装置で以前にユーザデータを記録した光ディスクであると判定して、ステップＳ１４で光ディスクのリードインエリアに記録されている記録ストラテジデータ（詳細を後述する）を読み出し、次のステップＳ１５で読み出した記録ストラテジデータに従ってストラテジを設定してディスク起動処理を終了する。

一方、ステップＳ１３で現光ディスク装置と同じ情報が光ディスクのリードインエリアに無いと判定された場合には、ステップＳ１６でストラテジ学習要求をセットし、ステップＳ１７で光ディスクの製造業者名を読み出す。次に、ステップＳ１８では光ディスク装置の記録情報領域内、すなわちメモリ１８（図１参照：以下、単にメモリとも言う）に、ステップＳ１７で読み出された製造業者名があるか否を判定し、製造業者名が有ればステップＳ１９でメモリ内のディスク製造業者ごとの最適記録ストラテジデータのストラテジを設定して起動処理を終了し、ステップＳ１７で読み出された製造業者名が無ければステップＳ２０で標準記録ストラテジデータのストラテジを設定して起動処理を終了する。

図４はディスク起動処理を終了した後に実行される記録開始処理のフローチャートである。ここで、最初のステップＳ２１でストラテジ学習要求がセットされているか否かを判定し、セットされている場合にはステップＳ２２以下の処理を実行し、セットされていない場合にはステップＳ３２の処理を実行する。ストラテジ学習要求がセットされている場合に実行されるステップＳ２２では、前述のステップＳ１９で設定された製造業者ごとの最適記録ストラテジのストラテジ又は前述のステップＳ２０で設定された標準記録ストラテジのストラテジにてデータ記録による最適記録パワーの決定（ＯＰＣ）を行い、続いて、ステップＳ２３では決定された最適パワーで光ディスクのテストエリアに特定データパターンのテストデータ記録を行う。

次に、ステップＳ２４で光ディスクのリードインエリアに記録されている製造業者の推奨記録ストラテジデータのストラテジを設定し、続いて、ステップＳ２５では設定された推奨記録ストラテジのストラテジにてデータ記録による最適記録パワーの決定（ＯＰＣ）を行い、続いて、ステップＳ２６では決定された最適パワーで光ディスクのテストエリアに特定データパターンのテストデータ記録を行う。

次に、ステップＳ２７ではテストエリアに記録された信号を読み出し、前述のステップＳ２３で記録されたテストエリアの再生信号の品質とステップＳ２６で記録されたテストエリアの再生信号の品質とを、ジッタ検出回路１６（図１参照）で測定したジッタによる比較で評価し、次のステップＳ２８では推奨記録ストラテジデータのストラテジに従って記録した場合の記録品質が、製造業者ごとの最適記録ストラテジデータ又は標準記録ストラテジデータのストラテジに従って記録した場合の記録品質よりも良好であるか否かを判定する。ステップＳ２８で推奨記録ストラテジデータのストラテジに従って記録した場合の記録品質が良好であると判定した場合には、設定済みの記録ストラテジ及び記録パワーをそのままとしてステップＳ３０以下の処理を実行する。反対に、推奨記録ストラテジデータのストラテジに従って記録した場合の記録品質が前述の製造業者ごとの最適記録ストラテジデータ又は標準記録ストラテジデータのストラテジに従って記録した場合の記録品質よりも良好でないと判定した場合には、すなわち、製造業者ごとの最適記録ストラテジデータ又は標準記録ストラテジデータのストラテジに従って記録した場合の記録品質が良好と判定した場合には、ステップＳ２９で製造業者ごとの最適記録ストラテジデータ又は標準記録ストラテジデータのストラテジとその最適記録パワーの設定状態に戻す。

次に、ステップＳ３０では光ディスクのリードインエリアに現光ディスク装置の製造業者名、モデル名、シリアル番号を記憶させ、続いて、ステップＳ３１で比較により選択決定された方の記録ストラテジデータを光ディスク装置の製造業者名、モデル名、シリアル番号と併せて光ディスク１０のリードインエリアに書き込んで記録を開始する。

一方、ステップＳ２１でストラテジ学習要求がセットされていないと判定されたときに実行されるステップＳ３２においては、テストエリアを用いて行うストラテジ選択処理を行わずに、設定済みの光ディスクのリードインエリアに記録されていた記録ストラテジデータのストラテジにて、テストデータ記録による最適パワーの決定のみを行ってから記録を開始する。

この図４のフローチャートに示した処理によれば、光ディスクに対する初回の記録時には、この光ディスクに記載されている製造業者が推奨する推奨記録ストラテジデータのストラテジと、光ディスク装置のメモリに記憶されている製造業者ごとの最適記録ストラテジデータ又は標準記録ストラテジデータのストラテジとの記録品質の比較が行われ、結果が良好な１つのストラテジを選択することができるので、記録品質を向上させることができ、さらに、ディスク製造品質の変化にも対応することができる。

また、ストラテジの選択結果を光ディスクのリードインエリアに記憶しておき、次回の光ディスク装置の起動時からは、図３のフローチャートのステップＳ１１〜Ｓ１５に示したように、リードインエリアに記憶した情報があればその情報を読み出してストラテジを設定するため、テストエリアに記録して行う記録品質の比較処理は１回で済み、処理時間の増加とテストエリアの消費を最低限で済ますことが可能である。

本発明によれば、推奨記録ストラテジデータ、製造業者ごとの最適記録ストラテジデータ、標準記録ストラテジデータのいずれか１つのストラテジに固定する場合よりも良好な記録品質が得られ、また、製造手段の改良などにより記録特性が変わってしまった場合でも良好な記録品質が得られ、さらに、テストエリアに記録してその記録品質を比較する比較処理は１回で済み、処理時間の増加とテストエリアの消費を最低限で済ますことが可能になるので、記録型光ディスクにユーザデータを記録する光ディスク装置に有用である。

本発明の一実施の形態の構成を示すブロック図である。 本発明の一実施の形態を構成するジッタ検出回路によるジッタ検出方法を説明するための波形図である。 本発明の一実施の形態の動作を説明するために、ディスク起動処理の具体的な処理手順を示したフローチャートである。 本発明の一実施の形態の動作を説明するために、記録開始処理の具体的な処理手順を示したフローチャートである。

符号の説明

１０ 光ディスク
１１ 光ピックアップ
１２ アドレス信号検出回路
１３ 再生信号検出回路
１４ サーボ用信号検出回路
１５ ＯＰＣ検出回路
１６ ジッタ検出回路
１７ 装置制御部
１８ メモリ（記憶手段）
１９ レーザ変調回路／パワー制御回路
２０ サーボ回路
２１ スレッド機構

Claims (1)

1. リードインエリア、テストエリア及びデータエリアを有し、前記リードインエリアにディスク製造業者名及びディスク製造業者が推奨する推奨記録ストラテジデータが記録された光ディスクが装着され、前記データエリアへのユーザデータの記録開始前に、前記リードインエリアの情報を読み出し、得られた情報に基づいてユーザデータの記録を開始する光ディスク装置であって、
   標準記録ストラテジデータ及びディスク製造業者名に対応付けられた最適記録ストラテジデータを記憶する記憶手段と、
   前記光ディスクのリードインエリアから読み出されたディスク製造業者名が前記記憶手段に存在するか否かを判定し、存在するとき対応する前記最適記録ストラテジデータのストラテジを設定し、存在しないとき前記標準記録ストラテジデータのストラテジを設定する設定手段と、
   前記設定手段で設定されたストラテジに基づく前記テストエリアへのテストデータの記録と、前記光ディスクのリードインエリアの前記推奨記録ストラテジデータに基づく前記テストエリアへのテストデータの記録とを行うテストデータ記録手段と、
   前記テストエリアに記録された２つの前記テストデータを再生して、再生品質を比較し、再生品質がより優れた一方の再生データに対応するストラテジを、前記ユーザデータを記録するストラテジとして選択するストラテジ選択手段と、
   前記選択手段によって選択されたストラテジのデータを前記リードインエリアに記録するストラテジ記録手段とを、
   備えた光ディスク装置。

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