JP2008235516A - 固体撮像装置およびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】レンズ形成時のAlCu配線露出を防止して、Cu汚染を抑制することにより、固体撮像装置の画質品質の低下を招くことなく、撮像特性を大幅に改善する。
【解決手段】受光部に入射した光信号を信号電荷に変換・転送する撮像領域と、撮像領域を駆動する電圧を供給するために撮像領域の周辺に設けられる駆動配線の領域とを同一半導体基板上に有する固体撮像装置において、受光部上に形成された転送電極の間の凹部に層間膜と層間膜よりも屈折率の高い層内レンズ材とからなるレンズと層間膜上に設けられる駆動配線とからなるメタル配線構造を、絶縁膜とメタル配線の材料との多層構造で構成する。
【選択図】図1
【解決手段】受光部に入射した光信号を信号電荷に変換・転送する撮像領域と、撮像領域を駆動する電圧を供給するために撮像領域の周辺に設けられる駆動配線の領域とを同一半導体基板上に有する固体撮像装置において、受光部上に形成された転送電極の間の凹部に層間膜と層間膜よりも屈折率の高い層内レンズ材とからなるレンズと層間膜上に設けられる駆動配線とからなるメタル配線構造を、絶縁膜とメタル配線の材料との多層構造で構成する。
【選択図】図1
Description
本発明は固体撮像装置およびその製造方法に関するものであり、特に、出力画像の画質を改善した固体撮像装置およびその製造方法に関するものである。
近年、固体撮像装置は、高集積化に伴い総画素数が増加し、配線層面積比の増加や受光面積の縮小化が余儀無くされている。このため、素子の受光部への光量は、減少して固体撮像装置の感度が低下するという問題があった。そこで、このような感度の低下を防止する手段として、各素子の光量を増すため固体撮像装置の受光部上に近い位置とオンチップ上に集光レンズを形成する方法が考えられている。
そこで、図4を用いて特許文献1に示された従来技術の固体撮像装置について説明する。
図4に示された固体撮像装置の集光レンズの製造方法としては、先ず、シリコン基板40にフォトダイオードである受光部41を形成した後、シリコン酸化膜(又はSiN膜)42をCVD法で形成する。
次に、シリコン酸化膜42上にガラス層43を形成し、受光部41上でガラス層43に開孔44を開設する。なお、この開孔44の内壁は、所定の傾斜をもたせて形成されている。
さらに、このように形成された開孔44及びガラス層42の上に、例えば、層間絶縁膜であるSOG(塗布ガラス)45を塗布する。この際、開孔44内のSOG45は表面張力により中央が最も窪んだ凹形状となる。
次いで、アニールを行い、SOG45を固化させる。そして、この絶縁膜の上面に垂直転送レジスタの駆動電圧供給用配線膜(例えばアルミ配線膜等、図示せず)を形成する。
次に、このように形成されたSOG45の上にSOGより高屈折率な例えばSiN(窒化シリコン)膜46をCVD法により形成する。
最後に、SiN膜46の平坦化を行って、下凸型のレンズ部を形成する(図4(d))。そして、この上面に平坦化膜を設け、この平坦化膜の上面に色分解フィルタ及びオンチップレンズを設ける。
特開平2−65171号公報
しかしながら、従来技術に示された固体撮像装置は、アルミ配線形成後にSiNなどの高屈折膜を成膜し、エッチバック法などの平坦化により受光部41上のガラス層43の開孔44内にレンズを形成すると、平坦化エッチバック中にAl配線が露出してエッチされたAlCuが画素表面部に飛散し、Cuが受光部まで拡散することにより、界面準位を形成して、白キズ不良を発生するという課題がある。
なお、この課題を解決するために、SiN平坦化のよるレンズ形成をおこなってからAl配線を形成することも考えられる。
しかし、この場合は、画素領域と配線領域が近接しているため、Al配線形成後にカラーフィルタ形成を行う場合に平坦化が十分でないと、配線領域に近い画素領域のカラーフィルタ−膜厚が不均一になり画質不良が発生する場合がある(第1の課題の対策に付随する課題1)。さらに、Al配線段差を埋めるために平坦化膜を厚くする必要があるため、オンチップレンズと受光部との間の距離が拡大して、受光部への入射光広がりにより、感度やスミアの低下を招くという新たな課題が発生する場合もあり、SiN平坦化のよるレンズ形成を行ってからAl配線を形成する手法は好ましくはない。
前記課題に鑑み、本発明は、配線形成時におけるCuなどの誘起欠陥発生を抑制することができ、かつ、感度、スミアの低下をまねくことのない固体撮像装置およびその製造方法を提供することを課題とする。
上記課題を解決するために、請求項1の固体撮像装置の発明は、受光部に入射した光信号を信号電荷に変換・転送する撮像領域と、該撮像領域を駆動する電圧を供給するために前記撮像領域の周辺に設けられる駆動配線の領域とを同一半導体基板上に有する固体撮像装置において、前記受光部上に形成された転送電極の間の凹部に層間膜と該層間膜よりも屈折率の高い層内レンズ材とからなるレンズと前記層間膜上に設けられる前記駆動配線とからなるメタル配線構造を、絶縁膜とメタル配線の材料との多層構造で構成したことにあり、また、請求項2の固体撮像装置の発明は、請求項1の発明において、前記メタル配線をエッチングするマスク材料をシリコン酸化膜としたことにある。
請求項3の固体撮像装置の製造方法の発明は、受光部に入射した光信号を信号電荷に変換・転送する撮像領域と、該撮像領域を駆動する電圧を供給するために前記撮像領域の周辺に設けられる駆動配線の領域とを同一半導体基板上に有する固体撮像装置の製造方法において、前記受光部上に形成された転送電極の間の凹部に層間膜を形成して該層間膜の表面を前記受光部側に凹ませた上、前記層間膜を熱処理して固化させる工程と、前記駆動配線となるメタル配線を前記層間膜の上に絶縁膜マスクを用いてドライエッチングにより形成する工程と、前記層間膜の上に該層間膜よりも屈折率の高い膜を積層させて、前記層間膜を凹ませた部分に前記屈折率の高い膜によりレンズを形成した上、前記層間膜の表面をエッチングバックにより平坦化する工程とからなることにあり、また、請求項4の固体撮像装置の製造方法の発明は、請求項3の発明において、メタル配線材料をAlCuとしたことにある。
また、請求項1および2の固体撮像装置と請求項3および4の固体撮像装置の製造方法とによれば、レンズ形成時のAlCu配線露出を防止することでCu汚染による受光部への界面準位発生が抑制されるため、白キズ不良が低減されて固体撮像装置の画質品質の低下が抑制されるので、撮像特性が大幅に改善される。
請求項1および2の固体撮像装置と請求項3および4の固体撮像装置の製造方法とによれば、オンチップレンズと受光部との間の距離が縮小して感度やスミアの低下を起こすことがなくなる。
図面を参照しながら、本発明の実施形態に係る固体撮像装置について説明する。
まず、図1に基づいて本形態における固体撮像装置の素子配置構造について説明する。
この固体撮像装置を構成する方形状の半導体チップ100の中央には、有効撮像領域100Aが設けられ、その周辺に非撮像領域100Bが設けられている。有効撮像領域100Aには、マトリクス状に複数のフォトセンサ部(図1では省略)が配列され、これらフォトセンサ部から信号電荷を読み出し、その信号電荷を垂直方向に転送する複数の垂直転送レジスタ(図1では省略)が設けられている。そして、図1に示すように、この有効撮像領域100Aには、各垂直転送レジスタに対応して2種類の垂直転送電極112A、112Bが形成され、4相駆動(φ1〜4)で信号電荷を垂直方向に転送する。
この固体撮像装置を構成する方形状の半導体チップ100の中央には、有効撮像領域100Aが設けられ、その周辺に非撮像領域100Bが設けられている。有効撮像領域100Aには、マトリクス状に複数のフォトセンサ部(図1では省略)が配列され、これらフォトセンサ部から信号電荷を読み出し、その信号電荷を垂直方向に転送する複数の垂直転送レジスタ(図1では省略)が設けられている。そして、図1に示すように、この有効撮像領域100Aには、各垂直転送レジスタに対応して2種類の垂直転送電極112A、112Bが形成され、4相駆動(φ1〜4)で信号電荷を垂直方向に転送する。
また、非撮像領域100Bの1つの辺には、各垂直転送レジスタによって転送された信号電荷を出力回路102へ転送する水平転送レジスタ(図示せず)が設けられており、その上面に水平転送電極124が設けられている。そして、この水平転送電極124の上層に、水平転送レジスタへの光の入射を遮るための幅広線状の遮光膜125が設けられている。この遮光膜125は、例えばWのCVD膜より形成されている。
また、非撮像領域100Bの3つの辺には、垂直転送電極112A、112Bの駆動電圧を供給するための4本の折れ線状に形成された配線膜123A、123B、123C、123Dが設けられており、これらの配線膜123A、123B、123C、123Dは、例えばアルミ蒸着膜より形成され、垂直転送電極112A、112Bに選択的に接続され、上述した4相の駆動電圧を供給するようになっている。なお、非撮像領域100Bには、その他に複数の電極パッド104等が設けられている。
次に、図2は本発明の実施形態に係る固体撮像装置の断面図で、図2(a)は有効撮像領域内の画素部であり、図2(b)は非撮像領域の垂直CCDを駆動する配線構造である。
図2より、受光部1の一方の側にはチャネルストップ3を介して電荷転送部5が形成され、他方の側には読み出しゲート4を介して別の電荷転送部5が形成されている。そして、このような構成により受光部1で光電変換されて得られた信号電荷は、読み出しゲート4を介して電荷転送部5に読み出され、さらに電荷転送部5にて転送されるようになっている。
また、シリコン基板2の表面部には、熱酸化法やCVD法等によって形成されたSiO2からなる絶縁膜6が設けられている。なお、この絶縁膜6はSiO2からなる単層膜でなく、SiO2膜―SiN膜―SiO2膜の三層からなるいわゆるONO構造の積層膜としてもよい。
また、絶縁膜6の上には、電荷転送部5の略直上位置に第1ポリシリコンからなる転送電極7が形成され、さらに転送電極7と一部が重なり合う状態で、第2ポリシリコンからなる別の転送電極(図示略)が形成されている。これらの転送電極7の表面上、すなわちその上面および側面には、これらの転送電極7を覆い、さらに転送電極7,7間に臨む受光部1上の絶縁膜6を覆うSiO2からなる層間絶縁膜8が形成されている。
その後、例えばLP−CVD法によりSiH2CL2とNH3の気相反応でSiNからなる低反射膜を成膜する。フォトリソグラフィ法により受光部上に下反射防止膜9となるフォトレジストパターンを形成し、ウエットエッチングにより受光部1上に下反射防止膜9を形成する。
次に例えばCVD法により遮光膜10を全面的に形成し、フォトリソグラフィにより受光窓となるレジストパターンを形成後、遮光膜10をドライエッチングにより選択的にエッチングすることにより各受光部1上に受光窓を形成する。
また、この遮光膜10は、後述するようにこの遮光膜10の形成後、層内レンズの形成に先立って熱処理によるリフロー処理がなされることから、このリフロー処理の際に悪影響を受けないように高融点金属から形成されており、本例ではタングステン(W)からなっている。
また、この遮光膜10の上は層間絶縁膜11で覆われ、層間絶縁膜11の上にはBPSG(屈折率;1.45)からなる層間膜12が形成されている。この層間膜12は、リフロー膜として機能するもので、転送電極7等を覆って転送電極7,7間の受光部1の上に凹部を形成した上、リフロー処理すると、凹部の層間膜12は層内レンズ形成のための所定の曲率に調整加工される。
そして、この層間膜12の上面には、垂直転送レジストと電気的に導通するためのコンタクトホール22を介して配線となるシリコン酸化膜20とAlCu膜19の2層膜からなる駆動電圧供給用配線膜(例えばシリコン酸化膜とアルミ配線の2層構造等)が形成される。
また、この層間膜12の上に層間膜12の凹部を埋め込むようにしてSiNからなる層内レンズ材13が成膜されると、層間膜12の凹部の層内レンズ材13によって層内レンズが形成される。
層内レンズ材13は、本例ではバイアス高密度プラズマCVD法による窒化ケイ素(P―SiN)からなっており、層間膜12の凹部の層内レンズ材13は層間膜12との間の屈折率差により、層内レンズ材13と層間膜12との界面において入射光を受光部1の側に屈折させる層内レンズとして機能する。なお、層内レンズ材13は、その表面が公知のレジストエッチバック法、あるいはCMP法(化学機械研磨法)によって平坦化される。
また、平坦化された層内レンズ材13の上には、SiONからなる上反射防止膜14が形成されている。この上反射防止膜14は、パッシベーション膜としても機能するもので、その膜厚がパッシベーション膜としての機能を十分発揮するような厚さに設定されている。
また、この上反射防止膜14の上にはアクリル樹脂からなる平坦化膜21上にカラーフィルタ層23が形成され、カラーフィルタ層23の上にはアクリル樹脂からなる平坦化膜26が、また平坦化膜26の上には凸状の透明樹脂等からなるオンチップレンズ27が形成されている。
次に、図3を用いて本発明の実施形態に係る固体撮像装置の製造方法について説明する。
まず、図3(a)より、従来技術と同様の手法により転送電極7までを形成し、さらに転送電極7を覆う層間絶縁膜8を形成した後、遮光膜10を形成する。次いで、BPSGからなる層間膜12をCVD法等によって遮光膜10等を覆うように堆積させた上、予め設定した条件でリフロー処理(熱処理)することにより、層間膜12の凹部の曲率を所望の層内レンズの形状となるように形成する。
なお、このようなリフロー処理の条件を設定するにあたっては、予めシミュレーション等によって最適な層内レンズの形状を決定しておき、さらにこの最適な層内レンズ形状を得るための条件を実験やシミュレーション等によって求めるようにする。層内レンズの最適な形状については、オンチップレンズによって層内レンズに入射した光を遮光膜10の開口部に導くように、入射光をその位置や入射角に応じて適宜に屈折させる形状とする。
次に、図3(b)に示すように、層間膜12を形成した後に、垂直転送レジストと電気的に導通させるためのコンタクトホール22を層間膜12の上面にフォトリソグラフィおよびドライエッチングにより形成した上、Wエッチバック法によりバリアメタルおよびブランケットW成長膜を堆積させてコンタクトホール22をW膜で埋め込む。そして、配線となるAlCu膜19(600NM)とシリコン酸化膜20(400NM)とを堆積させて、フォトリソグラフィにより配線パターンを形成した上、酸化膜ドライエッチにより配線材料のAlCu膜19上のシリコン酸化膜20をドライエッチして、AlエッチャーによりAlCu膜19をドライエッチすることで、AlCu膜19とシリコン酸化膜20の2層膜からなる駆動電圧供給用配線膜(例えばシリコン酸化膜とアルミ配線の2層構造等)を形成する。
本発明の実施例では、AlCu膜19からなる配線上の絶縁膜としてシリコン酸化膜20を用いたが、配線材料となるAlCu膜19とのエッチング選択比およびレンズ材料となるSiN膜とのエッチバック時の選択比がとれる材料であれば、TiN,TI,Wなどの金属材料やSi,SiONなどの半導体材料を用いることもできる。
このようにして層間膜12上に駆動電圧供給用配線膜を形成したら、層間膜12の凹部を埋め込むように層内レンズ材13を堆積・成膜させて、その表面をレジストエッチバック法あるいはCMP法(化学機械研磨法)により平坦化することにより、層内レンズを形成する。このエッチバック時に層内レンズ材13のP−SiNとAlCu膜19上のシリコン酸化膜20とのエッチレート比は2倍あるので、層内レンズ材13を400NMエッチングしてもAlCu膜19のシリコン酸化膜20は200NM残るためにAlCu膜19がエッチング中に露出することはない。その結果、エッチバック時にAL膜が露出することがないため配線材料としてAlCuを用いた場合などにCuが受光部1に飛散しなくなることにより、Cu汚染による界面準位も発生しなくなって、白キズ不良が発生しない。
次いで、この平坦化した層内レンズ材13の上に、プラズマCVD法によって窒化ケイ素(P―SiON)をその屈折率が1.7〜1.9程度、好ましくは1.8程度となるように堆積させて、上反射防止膜14を形成する。なお、屈折率の調整については、前述した下反射防止膜9の場合と同様に、原料ガスの流量比を適宜に選択することによって行う。
次いで、染色法やカラーレジスト塗布によってカラーフィルタ23を形成した後、オンチップレンズ27を形成する。ここで、オンチップレンズ27の形成については、熱溶融性透明樹脂や常温無加熱でCVD可能な高密度SiNを堆積させて、その上部にレジストを設けた後、このレジストを熱リフロー処理して所望の曲率を有する凸レンズ形状にした上、これをマスクにして高密度SiNの堆積層をエッチングし、レジストを除去してオンチップレンズ27を得るといったエッチバック転写等が用いられる。
このようにして得られた固体撮像装置にあっては、オンチップレンズ27で集光されて、カラーフィルタ23、上反射防止膜14を透過し、層内レンズに入射する。すると、層内レンズで再度集光(屈折)された光が遮光膜10の開口部内に入射して、層間膜12、層間絶縁膜8を透過した上、受光部1に到り、ここで光電変換がなされる。
なお、本発明の実施例では、受光部1上の転送電極7,7間の凹部のレンズを形成する面はBPSGのアニールにより形成したが、BPSGの代わりにSOGのスピンコートによってもよい。
以上のように、本発明によれば、絶縁膜と配線材料の2層構造を用いてエッチバック平坦化により受光部に近い位置にレンズを形成することにより、固体撮像装置(CCD)の感度出力は、光学レンズの絞りをF1.4と開放にした状態で、斜め入射光成分を含ませる条件下でも、従来法(受光部1上のレンズ形状が上凸)に比べて、+10〜+15%の感度増加が認められた上、画像上好ましくない迷光成分(スミア)も約30%の減少が認められた。
以上説明したように、図1および図2を用いて説明した本発明の実施形態に係る固体撮像装置は、転送電極を駆動するメタル配線を絶縁膜とAlCu膜の2層構造とすることにより、AlCu配線形成後に行う平坦化による層内レンズ形成工程で、AlCu配線が露出することを防ぐことができる。
また、図3を用いて説明した本発明の実施形態に係る固体撮像装置の製造方法は、転送電極を駆動するメタル配線を絶縁膜ハードマスクとするドライエッチによりAlCu配線を形成することによって、AlCu膜とシリコン酸化膜の2層構造を形成し、AlCu配線形成後に行う層内レンズとなるSiNエッチバック平坦化時に層内レンズ材としてのSiNとシリコン酸化膜との選択比が高くなることにより、AlCu配線が露出することを防ぐことができる。
この結果、本発明の実施形態に係る固体撮像装置およびその製造方法によれば、転送電極を駆動するAlCu膜のメタル配線上にシリコン酸化膜の絶縁膜を形成することにより、層内レンズを形成する平坦化工程で配線を保護することができるので、平坦化中におけるAlCu膜の露出に伴う汚染による界面準位の発生を防ぐことができる。
また、本発明の実施形態に係る固体撮像装置およびその製造方法によれば、その層内下凸レンズ形成工程が転送電極形成工程後に形成できるので、有効画素部と周辺パターン間の段差が小さくなって、配線領域に近い有効画素上に形成するカラーフィルタの膜厚の均一性を向上させることができる。
さらに、本発明の実施形態に係る固体撮像装置およびその製造方法は、その層内下凸レンズ形成工程が転送電極形成工程の後に形成されるので、有効画素周辺の配線を平坦化するための平坦化膜を薄くできて、有効画素上の平坦化膜上に形成したオンチップレンズと受光部間の距離が短くなるため、感度特性を向上させることができる。
本発明に係る固体撮像装置およびその製造方法は、出力画像の画質や感度が要求されるカラーカメラ等に適用することが可能である。
1 受光部
2 Si基板
3 チャネルストップ
4 読み出しゲート
5 電荷転送部
6 絶縁膜
7 転送電極
8 層間絶縁膜
9 反射防止膜
10 遮光膜
11 絶縁膜
12 層間膜
13 層内レンズ材
14 上反射防止膜
16 W膜
19 AlCu膜
20 シリコン酸化膜
21 平坦化膜
22 コンタクトホール
23 カラーフィルタ
26 平坦化膜
27 オンチップレンズ
2 Si基板
3 チャネルストップ
4 読み出しゲート
5 電荷転送部
6 絶縁膜
7 転送電極
8 層間絶縁膜
9 反射防止膜
10 遮光膜
11 絶縁膜
12 層間膜
13 層内レンズ材
14 上反射防止膜
16 W膜
19 AlCu膜
20 シリコン酸化膜
21 平坦化膜
22 コンタクトホール
23 カラーフィルタ
26 平坦化膜
27 オンチップレンズ
Claims (4)
- 受光部に入射した光信号を信号電荷に変換・転送する撮像領域と、該撮像領域を駆動する電圧を供給するために前記撮像領域の周辺に設けられる駆動配線の領域とを同一半導体基板上に有する固体撮像装置において、前記受光部上に形成された転送電極の間の凹部に層間膜と該層間膜よりも屈折率の高い層内レンズ材とからなるレンズと前記層間膜上に設けられる前記駆動配線とからなるメタル配線構造が、絶縁膜とメタル配線の材料との多層構造で構成されていることを特徴とする固体撮像装置。
- 前記メタル配線をエッチングするマスク材料がシリコン酸化膜であることを特徴とする請求項1記載の固体撮像装置。
- 受光部に入射した光信号を信号電荷に変換・転送する撮像領域と、該撮像領域を駆動する電圧を供給するために前記撮像領域の周辺に設けられる駆動配線の領域とを同一半導体基板上に有する固体撮像装置の製造方法において、前記受光部上に形成された転送電極の間の凹部に層間膜を形成して該層間膜の表面を前記受光部側に凹ませた上、前記層間膜を熱処理して固化させる工程と、前記駆動配線となるメタル配線を前記層間膜の上に絶縁膜マスクを用いてドライエッチングにより形成する工程と、前記層間膜の上に該層間膜よりも屈折率の高い膜を積層させて、前記層間膜を凹ませた部分に前記屈折率の高い膜によりレンズを形成した上、前記層間膜の表面をエッチングバックにより平坦化する工程とからなることを特徴とする固体撮像装置の製造方法。
- 前記メタル配線の材料がAlCuであることを特徴とする固体撮像装置の製造方法。
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US8444278B2 (en) | 2009-03-26 | 2013-05-21 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Projection display apparatus |
WO2023228624A1 (ja) * | 2022-05-23 | 2023-11-30 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 撮像装置及びその製造方法 |
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