JP2008233049A - 光検出素子及び光検出方法、撮像素子及び撮像方法 - Google Patents

光検出素子及び光検出方法、撮像素子及び撮像方法 Download PDF

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Abstract

【課題】光量のS/Nの悪化を抑制しつつ、多画素化が可能な光検出素子及び光検出方法、撮像素子及び撮像方法を実現することを目的とする。
【解決手段】 幾何学的構造に応じた位置により異なる共鳴波長域をもつ微小光共鳴器からなる分光要素と、前記分光要素による共鳴波長域が異なる場所に配置され、入射光強度を検出する光電変換要素とを有する。
【選択図】図3

Description

本発明は、受光及び撮像に用いられる光検出装置に関する。
2次元の撮像素子として、CCD、CMOSイメージセンサが用いられている。
近年、撮像素子の多画素化が進行し、これらの撮像素子の単位画素サイズは2μm程度、画素の受光開口のサイズは1μm程度にまで微細化している。
画素の微細化によってフォトダイオードのS/Nの悪化が問題視されているが、現在のイメージセンサの色分解方法の主流であるベイヤー配列による方法は、光の利用効率が悪く、S/Nの点では不利である。
また、光の利用効率を高めるために、RGB3色の光を受光する層を積層した特許文献1(米国特許第6632701号)が提案されている。
特許文献1に開示される発明では、Siの光波長による吸収係数の違いを用いて色分解を行っているために、色分解の精度が悪く、色再現性が悪い、言い換えると色のS/Nが悪い。
また、配線が複雑なために画素の微細化に問題がある、感度と色分離がトレードオフの関係にある、などの短所が指摘されている。
米国特許第6632701号 Journal of Luminescence 122−123 (2007) 230−233
2次元イメージセンサの多画素化が著しい。多画素化によって単位画素の大きさは2μm程度に、受光部分に相当する遮光膜上の開口サイズは1μm程度まで微細化が進行している。
撮像素子の多画素化の是非についてさまざまな意見があるが、多画素化の短所として捉えられている主な点は、画素の微細化による感度の低下であり、それ以外には長所がある。
そのため、イメージセンサの開発においては、いかに光量のS/Nの悪化を抑制するかが課題となっている。
さらに、フォトダイオード上の遮光膜に形成された開口によって単位画素の受光領域を規定する従来の方法では、画素(開口)サイズが光の波長程度になると、回折限界によって開口を透過する光量が急激に減少し、光量のS/Nが悪化してしまう。
現在2次元イメージセンサの色分解の方式として広く用いられているベイヤー配列は、2次元に配列したフォトダイオードからなる画素の前に、R、G、Bいずれかの色のフィルタを配置することで色分解を行っている。
そのために、1つの画素はR、G、Bのいずれか1つの光のみを受光する。それ以外の光はフィルタによって吸収されてしまうために、光の利用効率が悪かった。
上記のように、2次元イメージセンサは多画素化によって画素サイズの微細化が進行しているが、光の利用効率の低さや、画素のフォトダイオードの領域の微細化はいずれも光量のS/Nを悪化させる。さらに、光の回折限界のために、画素を区切る遮光膜の開口サイズを光の波長サイズ程度以下にすると、透過光強度の減少のために、光量のS/Nが極端に悪化するという問題があった。
本発明は上述したような従来の技術が有する問題点に鑑みてなされたものであって、光量のS/Nの悪化を抑制しつつ、多画素化が可能な光検出素子及び光検出方法、撮像素子及び撮像方法を実現することを目的とする。
本発明の光検出素子は、幾何学的構造に応じた位置により異なる共鳴波長域をもつ微小光共鳴器からなる分光要素と、
前記分光要素による共鳴波長域が異なる場所に配置され、入射光強度を検出する光電変換要素とを有することを特徴とする。
この場合、前記検出の対象が電磁的応答であるとしてもよい。
また、前記検出の対象が、熱的応答であるとしてもよい。
また、前記検出の対象が、化学的応答であるとしてもよい。
また、前記微小光共鳴器が、金属からなるとしてもよい。
また、前記微小光共鳴器が、半導体からなるとしてもよい。
また、前記微小光共鳴器が、誘電体からなるとしてもよい。
また、前記微小光共鳴器が、単結晶体であるとしてもよい。
また、前記微小光共鳴器が、多結晶体であるとしてもよい。
また、前記微小光共鳴器が、非晶質体(アモルファス)であるとしてもよい。
また、前記微小光共振器が、プラズモン共鳴体からなるとしてもよい。
また、前記微小光共鳴器が、ウィスパリングギャラリーモード共鳴体からなるとしてもよい。
また、前記光電変換要素が、光起電材料であるとしてもよい。
また、前記光電変換要素が、光導電材料であるとしてもよい。
また、前記光電変換要素が、入射する伝播光の波長帯域よりも高いエネルギーの光のみに応答する材料からなるとしてもよい。
本発明の撮像素子は、上記のいずれの微小光共鳴器が、平面または曲面に2次元配列している構造を有することを特徴とする。
本発明の光検出方法は、幾何学的構造に応じた位置により異なる共鳴波長域をもつ微小光共鳴器からなる分光要素に光を入射させる工程と、
前記分光要素による共鳴によって生じた光電磁界分布の空間的な偏りを空間的に異なる場所に配置された光電変換要素によって波長域ごとの光強度として検出する工程と、
検出した光強度を信号として出力する工程とを有することを特徴とする。
この場合、前記光の共鳴によって生じた空間的な偏りを検出する工程が、非断熱的過程であるとしてもよい。
また、前記検出信号出力から入射光の色味を再合成する工程と、色味を信号出力する工程とを有するとしてもよい。
また、前記微小光共鳴器が、平面または曲面に2次元配列しており、該2次元配列に基づく光強度信号出力の2次元分布を画像として検出するとしてもよい。
本発明は、複数の共鳴波長帯域をもつ微小光共鳴器からなる光検出素子であり、共振器によって共鳴する光のエネルギーを空間的に局在させるものであり、フィルタを設けることなく分光可能であり、遮光膜の開口に依ることなく画素の分離が可能なものである。
開口が不要となることで、開口を備えた画素構造のイメージセンサよりも光量のS/Nを悪化させることなく光の波長以下で画素を配列させることが可能となった。
本発明のマルチモード微小共鳴器型光検出素子を用いることで、以下が実現される。
開口の回折限界による光量のS/Nの悪化の影響を受けず、波長サイズ以下の多画素化が可能であり、1つの画素でR、G、B3色の光を受光できるために光の利用効率が高く、厚さが薄い2次元イメージセンサが実現できる。
本発明のマルチモード微小共鳴器型光検出素子の構造と動作を説明する。Si、Geなどの光起電材料または、SeやZnOなどの光導電材料からなる光電変換要素近傍にマルチモード微小光共鳴器が形成されている。
微小光共鳴器の例として、プラズモン共鳴体またはウィスパリングギャラリーモード共鳴体などが挙げられ、その幾何学的構造に応じて共鳴波長を持っている。
この共鳴波長は共鳴体の幾何学的構造を設計することにより、変化させることが可能である。複数の共鳴波長(ex.350nm,500nm,650nm)をもつ共鳴器として設計することも可能であり、さまざまな構造でこれを実現できる。
微小光共鳴器の共鳴波長は、基本的には、共鳴体のもつ構造のうち、光の波長程度の空間周波数成分によって大きく影響を受けるため、該空間周波数成分を調整することで共鳴波長を制御できる。
微小共鳴器の材料は、金属、半導体、誘電体のいずれの物性も、また、単結晶、多結晶、非晶質(アモルファス)のいずれの状態であっても光との相互作用を生じる構造とすることで実現が可能である。
複数の共鳴波長を持つプラズモン共鳴体またはウィスパリングギャラリーモード共鳴体は、異なる共鳴周波数をもつ複数の電気双極子または磁気双極子の重ね合わさった複合体だとみなすことができる。
この複合体のそれぞれの双極子に対応した入射光強度を、空間的に分離して形成された光検出器によって分離して検出する。
入射光のさまざまな波長の成分がそれぞれの双極子にどのように配分されるのかが分かっていれば、求めたい波長帯域の強度を得ることができる。
本発明の多モード微小光共鳴器型光検出素子を用いることで、光量のS/Nの悪化を抑制しつつ、多画素化が可能となった。
次に、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
まず、波長による共鳴が空間的に異なる部位で生じることを、プラズモン共鳴体を用いて具体的に説明する。
金属微粒子に光が入射すると、表面プラズモン共鳴が励起される。表面プラズモンは金属微粒子とその外部との界面において、金属中の電子と光が結合することで励起される。
励起された表面プラズモンは金属微粒子構造における入射光偏光方向の曲率不連続点で散乱を受け、散乱されたプラズモン同士が干渉することで定在波が生じ、局在表面プラズモンの一つのモードを形成する。
ここで、定在波を規定するものは金属微粒子構造界面の曲率不連続点間の分布、すなわちプラズモン共鳴体の3次元構造と表面プラズモン(波)の波長である。
図1に示すような不等辺三角形の板状のプラズモン共鳴体101においては、形状異方性のために、複数の最低次モードをもつ。
これらのモードは、空間的に異なる部位で共鳴を生じており、電場の集中しやすい頂点に注目してみれば、3つの頂点A,B,Cごとに電場増強に寄与する複数のモードの重なり程度に差違がある。この差違を利用してRGB3色の強度比を検出する。
プラズモン共鳴体の特徴として、共鳴体の構造よりも長い(大きな)波長の光と共鳴できることが挙げられる。
これは、光の波長以下の大きさの微小金属共鳴体に光が入射した場合、微小金属共鳴体によって散乱を受けた結果、高次の回折成分が生じることによって、さまざまな波数をもつ光が生じることによる。
一般に伝搬光と金属中の電子波は位相整合できず表面プラズモン波は励起されないが、この散乱効果によって位相整合条件が満たされ、光と電子の運動が結合して表面プラズモンが生じる。
この光と電子波の結合体である表面プラズモンは、結合する前の光よりも短い波長をもっている。そのために、光としては共鳴できない大きさの構造であっても、表面プラズモンとなることで共鳴を生じる。
言い換えれば、プラズモン共鳴体は自身の大きさよりも大きな波長の光と共鳴して局在させることができ、光検出器として配列させる場合に、狭い配列ピッチで配列させることができる。
本発明による光検出器では、プラズモン共鳴体やウィスパリングギャラリーモード共鳴体の性質を利用して、開口を使用せずに波長以下のサイズで画素を配列し、かつRGB3色が一つの画素で得られる構造となっているために、多画素化が可能となる。
開口を用いずに画素を形成した場合、共鳴と関係のない伝播光成分がノイズとなる可能性も考えられる。
しかしながら、構造によって生じた光の局在が強いものであるほど、相対的に伝播光の寄与は小さくなり、問題とならなくなる。
また、非特許文献1(Journal of Luminescence 122−123 (2007) 230−233)に提唱されている、非断熱的近接場相互作用は、以下を可能とする。
近接場領域での急峻な電場の勾配によって、電子の励起だけでなくフォノンも同時に励起することで、低いエネルギーの入射光で光電変換が可能になる。
そのために、入射させた伝播光の波長では感度をもたない光電変換要素に対しても共鳴体近傍の近接場光に対しては感度を持たせることができる。
この性質を利用することで、開口を用いることなく、入射した伝播光から検出対象の光強度を分離することが可能になる。
また、赤外線は可視光線に比べてエネルギーが低いため、光電変換できる材料が限られていたが、この非断熱的近接場相互作用を利用すれば、光電変換材料として広く用いられているSiによって光電変換することが可能になる。
具体的に入射光の色みを検出する方法を不等辺三角形のプラズモン共鳴体101を例として以下に述べる。
不等辺三角形のプラズモン共鳴体101に光が入射すると、頂点では電子の動きが制限され、電場が集中するので、プラズモン共鳴の状態をセンシングしやすい。そこで、角の3点(A,B,C点)近傍に光強度を測定するフォトダイオードを形成する。
まず、RGBとして得たい分光感度スペクトルを予め設定し、その分光感度スペクトルをfj(λ)(j=r,g,b)と表す。該分光感度スペクトルfj(λ)の光の入射強度をCj(j=r,g,b)とする。
求めたい値はこのCjである。RGBの分光感度スペクトルfj(λ)の設定の制限としては、可視域の全ての光の波長を弁別できること、入射光の強度Cjも同時に知りえることである。
以上の条件を考慮すると、となり合うfj(λ)が重なりを持つことが望ましく、となり合うfj(λ)がピークの半値程度で重なり合う形状がさらに望ましい。
3角形の頂点ABCに生じる電場強度Ii(i=a,b,c)は入射光に含まれるそれぞれの波長の光の寄与の足し合わせなので、
(i=a,b,c)
つまり
(i=a,b,c)
と書ける。ただし、Ri(λ)は波長λの光の強度がi=a,b,cに分配される割合である。
jはλによらないので、
(i=a,b,c)
と書くことができ、まとめて行列で表すと、
ただし、
である。
i(λ)(i=a,b,c)の値は、電磁界解析もしくは実験によって、該プラズモン共鳴体に単一波長の光を波長を変化させて照射しながら各頂点での電場強度を測定することで得られる。
また、fj(λ)(j=r,g,b)は分光感度スペクトルであり、上記の制限内で設定できる。
したがって、Sijは該プラズモン共鳴体の構造と設定した分光感度によって一意に決まる行列である。
R,G,Bの強度比Cj
として得られる。
人間が可視光線を見たときに、その光のスペクトル特性に依った色味を知覚するが、全ての色味は3色の光の混合によって再現することができる。
つまり、入射した光のR,G,Bの成分の強度比が分かれば、人間がその光を見てどのような色味を知覚するのかが分かる。2次元に配列した共鳴器からの強度比(色味)を並べることで、2次元カラー画像を構成することができる。
本発明による光検出器は、プラズモン共鳴体101やウィスパリングギャラリーモード共鳴体の特性により、プラズモン共鳴体101の大きさよりも大きい(長い)波長の光と相互作用することができる。
図2は、プラズモン共鳴体101の角Bを起点とし、検出波長と、プラズモン共鳴体101の配置関係を示す図である。
図2に示すように、光の波長以下の間隔で画素を配列させることが可能となり、従来のイメージセンサでは不可能な短いサンプリング周期での画素配置が実現し、多画素化が可能になる。
また、単一の共振器が複数の共鳴ピーク波長を持ち、それぞれの強度を得ることが可能であるので、R,G,Bに対応した光検出器をモザイク状に配列させた場合に比べても、実効的な多画素化が可能となる。
通常のイメージセンサでは、R,G,Bの色に対応する波長帯域の光に対して、光電変換材料であるSiの吸収係数が異なる。
このために、Rの光に最適化して作製するとBの光に対しては広すぎる、Bの光に合わせて作製するとRの光に対して狭すぎるという問題があり、フォトダイオード領域の大きさの最適化が難しい。
プラズモン共鳴やウィスパリングギャラリーモード共鳴では、共鳴している波長の光は分光要素の近傍に局在しており、フォトダイオード領域を小さくしても、R,G,Bの光に対して充分な光量を受光できる。
一般にイメージセンサは2次元平面上に光検出器を配列させるが、2次元曲面上に配列させることで、光学系と組み合わせた場合により良い特性を得ることも可能である。
なお、本発明による微小共振器型光検出素子による撮像素子は、受光、分光方法に対するものであり、信号の転送、読出方法は制限を受けない。CCD、CMOSなどさまざまな方法が適用できる。
本発明による光検出素子の例を図3に示す。
微小共振器301はSiからなる基板302上に、例えば厚さ5nmのSiO2からなる絶縁膜303を挟んで形成されている。
微小共振器301および絶縁膜303は、三辺の長さが、例えばAB=210nm、BC=180nm、AC=150nm、厚さ50nmのAg金属ナノドットから成っているとする。絶縁膜303の厚さは、電気的接続が断絶されていれば、薄いほど好ましい。
金属ナノドットの平面形状は被検出対象の分光感度内での色のS/Nが良いこと、言い換えると、求める分光範囲内において最も入射光のスペクトル変化に鋭敏に反応するような構造が望ましい。
光検出素子に入射した光は、微小共振器301に衝突して局在表面プラズモン共鳴を起こす。プラズモン共鳴の結果、金属ナノドットの3つの頂点A,B,Cで電場増強が生じ、強い近接場光が生じる。
この金属ナノドットの頂点A,B,Cの部分近傍にはフォトダイオード領域304が形成されており、3つの頂点A,B,Cそれぞれの近傍の光強度を独立に受光する。
フォトダイオード領域304は電場強度の強さを電荷の量として出力し、この電荷が蓄積された後に増幅トランジスタ305で増幅され、さらに行選択トランジスタ306によって位置情報を持って出力される。
2次元面内での位置情報をもった、R,G,Bの色みに対応する光強度情報の集合が得られるので、これらを再構成することで2次元イメージを形成する。
次に、微小共振器である不等辺三角ドットの頂点の光強度を受光することで、回折限界の影響を受けることなく多画素化が可能になる理由を説明する。
微小共振器301に光が入射するとプラズモン共鳴が生じるが、そのプラズモン共鳴に寄与する部位は微小共振器301の構造や入射した光の波長に依存する。
プラズモン共鳴体は、金属表面に励起される局在表面プラズモンの性質として、自身の大きさよりも大きな構造の波長の光と相互作用することができる。
全ての色味の光は、RGB3色の光の成分の混合だとみなせる。ある色味の光が不等辺三角形である微小共振器301に入射した場合を考える。
入射した光のうち、Rの成分の光は微小共振器301の頂点A,B,CにRの光に固有の比率で増強場を生じる。G、Bの成分についても、それぞれ固有の比率で3つの頂点A,B,Cに増強場を生じる。
この増強場の近傍を光電変換要素としてのフォトダイオード領域304とし、その強度を直接受光する。
実際に測定できるのはA,B,Cそれぞれの場所での光強度であるが、A点に生じる光強度は、Rの光がA点につくる光強度とGの光がA点につくる光強度と、Bの光がA点につくる光強度の和となっている。B,C点についても同様である。
RGBのそれぞれの光がどのようにA,B,Cに配分される割合を電磁界解析や実験により事前に知っておけば、A,B,Cの光強度をフォトダイオードで検出することで、RGBそれぞれの光強度を逆算することが可能になる。
この内容は先に数学的に表現している内容である。
上記のように、波長以下の大きさの共鳴体近傍でRGB全ての光が受光できるので、開口を用いた光検出器、特にモザイク配列のカラーフィルターと開口を用いたイメージセンサと比べて、S/Nを悪化させることなく大幅な多画素化が可能になる。
本実施例では、異なる波長帯域の共鳴を電磁的応答としてフォトダイオードで検出した。
上記の方法以外にも、ゼーベック効果によって熱的応答を熱電変換して検出する方法や、光によって生じる酸化還元反応の電位の変化を検出するような、電気化学的手法によって検出する方法も選択できる。
本発明による光検出素子の他の実施例を図4に示す。
微小共振器401は、Siからなる基板上に、例えば厚さ5nmの絶縁膜403を挟んで、正三角形によるフラクタルに準じた階層構造を備えた構造であり、例えば、厚さ50nmのAgドットから成っている。
絶縁膜403は電気的絶縁を保つ範囲内において薄い方が好ましい。
金属ドットのフラクタル構造は被検出対象の分光感度内での色のS/Nが良いこと、言い換えると、求める分光範囲内において最も入射光のスペクトル変化に鋭敏に反応するような構造が望ましい。
光検出素子に入射した光は、微小共振器401に衝突して局在表面プラズモン共鳴を起こす。プラズモン共鳴の結果、金属ナノドットの構造によって特定の部位で電場増強が生じ、強い近接場光が生じる。
上記のプラズモン共鳴によって強く近接場光が生じている部位の近傍にフォトダイオード領域404が形成されており、それぞれの共鳴の強度を独立に検出する。
フォトダイオード領域404が設けられる箇所は、微小共振器401に発生するプラズモン共鳴の強度の波長依存性が、それぞれ異なる3箇所に対応する位置であればいずれでもよい。
フォトダイオード領域404は電場強度の強さを電荷の量として出力し、この電荷が蓄積された後に増幅トランジスタ305で増幅され、さらに行選択トランジスタ306によって位置情報を持って出力される。
2次元面内での位置情報をもった、R,G,Bの色みに対応する光強度情報の集合が得られるので、これらを再構成することで2次元イメージを形成する。
RGB3色の光を受光できる理由は上記の実施例1と同様に、光の波長によって微小共振器内での共鳴の分布の相違を利用して行う。
複数の共鳴長さをもつ金属ナノドットまたは金属ナノホールからなる微小共鳴器の例を図5に示す。
図5(a)に示す微小共振器501は、径が異なる環状の金属ナノドット5011、5012、5013が同心的に配置されている。
フォトダイオード領域が設けられる箇所としては、微小共振器501に発生するプラズモン共鳴の大きさがそれぞれ異なる3箇所に対応する位置であればいずれでもよく、例えば、各金属ナノドット5011、5012、5013の直下に形成してもよい。
図5(b)に示す微小共振器502は、長さが異なる矩形の金属ナノドット5021、5022、5023が組み合わされて配置されている。
フォトダイオード領域が設けられる箇所としては、微小共振器502に発生するプラズモン共鳴の大きさがそれぞれ異なる3箇所に対応する位置であればいずれでもよく、例えば、各金属ナノドット5021、5022、5023の直下や矩形の両端部に形成してもよい。
図5(c)に示す微小共振器503は、径が異なる円形の金属ナノドット5031、5032、5033が接続点からの長さがそれぞれ異なる接続具5034により組み合わされて配置されている。
フォトダイオード領域が設けられる箇所としては、微小共振器503に発生するプラズモン共鳴の大きさがそれぞれ異なる3箇所に対応する位置であればいずれでもよく、例えば、各金属ナノドット5031、5032、5033の直下に形成してもよい。
図5(d)に示す微小共振器504は、不等辺三角形が形成される溝5041を導電性の基板5042に形成したものである。
フォトダイオード領域が設けられる箇所としては、微小共振器503に発生するプラズモン共鳴の大きさがそれぞれ異なる3箇所に対応する位置であればいずれでもよく、例えば、溝5041により形成される不等辺三角形のそれぞれの辺の直下に形成してもよい。
また、溝5041は単なる空間としてもよく、また、絶縁体を充填するとしてもよい。
前述のように、光の波長の程度で複数の空間周波数成分が空間的に不均一に分布している構造であればよい。
これらの構造においても上記実施例1と同様の方法によって、空間的に偏った電場強度を検出することで、RGBに対応する光強度を得ることができる。
本発明による光検出素子の他の実施例について説明する。本実施例の微小共鳴体は、ウィスパリングギャラリーモード共鳴体などの誘電体マイクロキャビティからなっている。
ウィスパリングギャラリーモードとは、微小円形ディスク内部を周回するように共鳴するモードのことである。光検出素子に入射した光は、微小円形ディスク共振器に衝突してウィスパリングギャラリーモード共鳴を起こす。
ここで、例として、微小円形ディスクの材料として、例えばSiO2(n=1.46)を選び、直径を175nmとする。このときの、800nm(R)、540nm(G)、400nm(B)に対応する光の電場振幅分布を図6(a)〜(c)に示す。
図6(a)〜(c)に示されるように、微小共振器中で異なる部分を電場強度の腹(電場振幅の最大となる位置)として共鳴する。
上記の3つの共鳴モードは異なる電場の腹と節を持ち、腹の部分では電場増強によって、強い近接場光が生じる。その部位近傍で光を受光すれば、S/Nのよい信号を得ることができる。
図7はこの円盤の円周方向を横軸として電場の強度分布を示したものである。円周の一部に異方的形状を入れることで、節の部分を固定できる。
受光部位1、2、3でのRGBの混合比を電磁界解析や実験等により、事前に知っておけば、実施例1の場合と同様の方法によって入射した光のR,G,Bに対応する光の強度を知ることができる。
ウィスパリングギャラリーモード共鳴体の屈折率が大きいほど、ある波長に対応する共鳴体の大きさを小さくでき、共鳴体を高密度で配列させることができる。
具体例を図8に示す。微小共鳴体801は誘電体ウィスパリングギャラリーモード共鳴体であり、基板802上に形成されている。共鳴体に入射した光は、位相制限構造803によって電場の節の位置を規定されながらウィスパリングギャラリーモード共鳴を起こす。
部位RGBの光の強度がS/Nよく検出される部分である検出部位R804,G805,B806の近傍にはフォトダイオード領域807が形成されている。
これらの光検出強度から、実施例1と同様の方法によって、入射光のRGBの色に対応する成分の光強度を検出する。
フォトダイオード領域807は電場強度の強さを電荷の量として出力し、この電荷が蓄積された後に増幅トランジスタ808で増幅され、さらに行選択トランジスタ809によって位置情報を持って出力される。
2次元面内での位置情報をもった、R,G,Bの色みに対応する光強度情報の集合が得られるので、これらを再構成することで2次元イメージを形成する。
本発明の微小共鳴体の形態である不等辺三角形を示した説明図である。 本発明の微小共鳴体の配列を示した説明図である。 本発明の不等辺三角形共鳴体からなる光検出素子の構造を示した説明図である。 本発明の準フラクタル構造の微小共鳴体からなる光検出素子の構造を示した説明図である。 (a)〜(d)は複数の共鳴長さをもつ構造の例を挙げた図である。 (a)〜(c)はウィスパリングギャラリーモード共鳴体において、波長によって電場の腹と節の部位が異なることを示した説明図である。 ウィスパリングギャラリーモード共鳴体において、波長ごとの電場の腹と節の部位を円周方向に展開して表示した説明図である。 本発明のウィスパリングモード共鳴体からなる光検出素子の構造を示した説明図である。
符号の説明
101 プラズモン共鳴体
301 微小共鳴体
302 基板
303 絶縁膜
304 フォトダイオード領域
305 増幅トランジスタ
306 行選択トランジスタ
401 微小共鳴体
402 基板
403 絶縁膜
404 フォトダイオード領域
405 増幅トランジスタ
406 行選択トランジスタ
501 微小共鳴体
502 微小共鳴体
503 微小共鳴体
504 微小共鳴体
801 微小共鳴体
802 基板
803 位相制限構造
804 検出部位R
805 検出部位G
806 検出部位B
807 フォトダイオード領域
808 増幅トランジスタ
809 行選択トランジスタ

Claims (20)

  1. 幾何学的構造に応じた位置により異なる共鳴波長域をもつ微小光共鳴器からなる分光要素と、
    前記分光要素による共鳴波長域が異なる場所に配置され、入射光強度を検出する光電変換要素とを有することを特徴とする光検出素子。
  2. 前記検出の対象が電磁的応答であることを特徴とする、請求項1記載の光検出素子。
  3. 前記検出の対象が、熱的応答であることを特徴とする、請求項1記載の光検出素子。
  4. 前記検出の対象が、化学的応答であることを特徴とする、請求項1記載の光検出素子。
  5. 前記微小光共鳴器が、金属からなることを特徴とする請求項1記載の光検出素子。
  6. 前記微小光共鳴器が、半導体からなることを特徴とする請求項1記載の光検出素子。
  7. 前記微小光共鳴器が、誘電体からなることを特徴とする請求項1記載の光検出素子。
  8. 前記微小光共鳴器が、単結晶体であることを特徴とする請求項1記載の光検出素子。
  9. 前記微小光共鳴器が、多結晶体であることを特徴とする請求項1記載の光検出素子。
  10. 前記微小光共鳴器が、非晶質体であることを特徴とする請求項1記載の光検出素子。
  11. 前記微小光共鳴器が、プラズモン共鳴体からなることを特徴とする請求項1記載の光検出素子。
  12. 前記微小光共鳴器が、ウィスパリングギャラリーモード共鳴体からなることを特徴とする請求項1記載の光検出素子。
  13. 前記光電変換要素が、光起電材料であることを特徴とする請求項1記載の光検出素子。
  14. 前記光電変換要素が、光導電材料であることを特徴とする請求項1記載の光検出素子。
  15. 前記光電変換要素が、入射する伝播光の波長帯域よりも高いエネルギーの光のみに応答する材料からなることを特徴とする請求項13または請求項14記載の光検出素子。
  16. 請求項1から15に記載の微小光共鳴器が、平面または曲面に2次元配列している構造を有することを特徴とする撮像素子。
  17. 幾何学的構造に応じた位置により異なる共鳴波長域をもつ微小光共鳴器からなる分光要素に光を入射させる工程と、
    前記分光要素による共鳴によって生じた光電磁界分布の空間的な偏りを空間的に異なる場所に配置された光電変換要素によって波長域ごとの光強度を検出する工程と、
    検出した光強度を信号として出力する工程とを有することを特徴とする光検出方法。
  18. 前記光の共鳴によって生じた空間的な偏りを検出する工程が、非断熱的過程であることを特徴とする請求項17記載の光検出方法。
  19. 前記検出信号出力から入射光の色味を再合成する工程と、色味を信号出力する工程とを有することを特徴とする請求項17に記載の光検出方法。
  20. 前記微小光共鳴器が、平面または曲面に2次元配列しており、該2次元配列に基づく光強度信号出力の2次元分布を画像として検出することを特徴とする請求項19記載の撮像方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010021189A (ja) * 2008-07-08 2010-01-28 Omron Corp 光電デバイス
JP2011082324A (ja) * 2009-10-07 2011-04-21 Canon Inc 固体撮像素子
WO2012037115A2 (en) * 2010-09-13 2012-03-22 California Institute Of Technology Whispering gallery solar cells
JP2013534718A (ja) * 2010-06-08 2013-09-05 パシフィック インテグレイテッド エナジー, インコーポレイテッド 強化された電場および電子放出を有する光学アンテナ
CN114354514A (zh) * 2021-12-24 2022-04-15 南昌大学 一种非接触式多模态材料感知与识别装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0908027D0 (en) * 2009-05-08 2009-06-24 Zinir Ltd Spetrophotometer with no moving parts
JP2010271049A (ja) 2009-05-19 2010-12-02 Sony Corp 2次元固体撮像装置
JP2011138950A (ja) * 2009-12-28 2011-07-14 Sony Corp 半導体装置及び電子機器
JP6806494B2 (ja) 2016-08-24 2021-01-06 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像システム、移動体及び撮像装置の駆動方法
JP6904772B2 (ja) 2017-04-26 2021-07-21 キヤノン株式会社 固体撮像装置及びその駆動方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002502120A (ja) * 1998-02-02 2002-01-22 ユニアックス コーポレイション 有機半導体製画像センサ
US20030103150A1 (en) * 2001-11-30 2003-06-05 Catrysse Peter B. Integrated color pixel ( ICP )
JP2003534650A (ja) * 2000-05-20 2003-11-18 キネティック リミテッド 水平アクセス半導体フォトダイオード
US20050161589A1 (en) * 2003-12-05 2005-07-28 University Of Pittsburgh Metallic nano-optic lenses and beam shaping devices
JP2006100515A (ja) * 2004-09-29 2006-04-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 固体撮像装置
JP2007303927A (ja) * 2006-05-10 2007-11-22 Hamamatsu Photonics Kk 光検出器
JP2010524012A (ja) * 2007-03-22 2010-07-15 ユニベルシテ・ドウ・ストラスブール 電磁エネルギーを選別して集めるデバイス、及び、そのようなデバイスを少なくとも1つ備える装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6727521B2 (en) * 2000-09-25 2004-04-27 Foveon, Inc. Vertical color filter detector group and array
JP2008177191A (ja) * 2007-01-16 2008-07-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd 固体撮像装置およびそれを用いたカメラ

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002502120A (ja) * 1998-02-02 2002-01-22 ユニアックス コーポレイション 有機半導体製画像センサ
JP2003534650A (ja) * 2000-05-20 2003-11-18 キネティック リミテッド 水平アクセス半導体フォトダイオード
US20030103150A1 (en) * 2001-11-30 2003-06-05 Catrysse Peter B. Integrated color pixel ( ICP )
US20050161589A1 (en) * 2003-12-05 2005-07-28 University Of Pittsburgh Metallic nano-optic lenses and beam shaping devices
JP2006100515A (ja) * 2004-09-29 2006-04-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 固体撮像装置
JP2007303927A (ja) * 2006-05-10 2007-11-22 Hamamatsu Photonics Kk 光検出器
JP2010524012A (ja) * 2007-03-22 2010-07-15 ユニベルシテ・ドウ・ストラスブール 電磁エネルギーを選別して集めるデバイス、及び、そのようなデバイスを少なくとも1つ備える装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN6012046289; Hiroki Yonemitsu,他: '"Nonadiabatic photochemical reaction and application to photolithography"' Journal of Luminescence Vol122-123, 200701, pp.230-233 *

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010021189A (ja) * 2008-07-08 2010-01-28 Omron Corp 光電デバイス
JP2011082324A (ja) * 2009-10-07 2011-04-21 Canon Inc 固体撮像素子
JP2013534718A (ja) * 2010-06-08 2013-09-05 パシフィック インテグレイテッド エナジー, インコーポレイテッド 強化された電場および電子放出を有する光学アンテナ
US9348078B2 (en) 2010-06-08 2016-05-24 Pacific Integrated Energy, Inc. Optical antennas with enhanced fields and electron emission
WO2012037115A2 (en) * 2010-09-13 2012-03-22 California Institute Of Technology Whispering gallery solar cells
WO2012037115A3 (en) * 2010-09-13 2012-05-31 California Institute Of Technology Whispering gallery solar cells
CN114354514A (zh) * 2021-12-24 2022-04-15 南昌大学 一种非接触式多模态材料感知与识别装置
CN114354514B (zh) * 2021-12-24 2024-02-09 南昌大学 一种非接触式多模态材料感知与识别装置

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