JP2008210202A - 情報読取装置および不正加工検出方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】情報読取装置1は、内部温度センサ部2、比較判定部4、および異常通知部5を有している。内部温度センサ部2は、情報読取装置1の内部に配置しており、情報読取装置1の内部温度を一定時間間隔で測定する。比較判定部4は、内部温度センサ部2で測定される内部温度に基づいて不正加工の有無を判断する。そして、異常通知部5は、比較判定部4で不正加工がなされたと判断すると、その旨を通知する。
【選択図】図1
Description
記録媒体に記録された情報を読み取る情報読取装置であって、
前記情報読取装置の内部に配置しており、前記情報読取装置の内部の温度を一定の時間間隔で測定する内部温度センサ部と、
前記内部温度センサ部で測定される内部温度の変化に基づいて不正の有無を判断する比較判定部と、
前記比較判定部で不正がなされたと判断すると、その旨を通知する異常通知部と、を有している。
2,3 温度センサ部
4 比較判定回路
5 異常通知部
6 記憶部
100〜108 ステップ
Claims (14)
- 記録媒体に記録された情報を読み取る情報読取装置であって、
前記情報読取装置の内部に配置しており、前記情報読取装置の内部温度を一定の時間間隔で測定する内部温度センサ部と、
前記内部温度センサ部で測定される内部温度の変化に基づいて不正加工の有無を判断する比較判定部と、
前記比較判定部で不正加工がなされたと判断すると、その旨を通知する異常通知部と、を有する情報読取装置。 - 前記内部温度センサ部は密封されており、開封されたとき、外部温度と内部温度の温度差によって前記内部温度センサ部で測定される温度が変化する、請求1に記載の情報読取装置。
- 前記比較判定部は、前記内部温度センサ部で前回測定された内部温度と前記内部温度センサ部で今回測定された内部温度との変化量を算出しており、前回算出した変化量と今回算出した変化量とを比較し、前記前回算出した変化量と前記今回算出した変化量の差が所定値以上であれば、不正加工があったと判断する、請求項1または2に記載の情報読取装置。
- 前記比較判定部は、前記内部温度センサ部で前回測定された内部温度と前記内部温度センサ部で今回測定された内部温度とを比較し、前記前回測定された内部温度と前記今回測定された内部温度の差が所定値以上であれば、不正加工があったと判断する、請求項1または2に記載の情報読取装置。
- 前記情報読取装置は、
前記情報読取装置の外部温度を一定の時間間隔で測定する外部温度センサ部と、前記内部温度と前記変化量を記憶する記憶部と、を更に有しており、
前記比較判定部は、前記内部温度センサ部で測定された内部温度を前記記憶部に記録し、前記記憶部に記録した内部温度と前記内部温度センサで今回測定された内部温度との変化量を算出すると、算出した該変化量を前記記憶部に記録しており、前回前記記憶部に記録した変化量と今回記憶部に記録した変化量との差が所定値以上であり、かつ前記今回測定された内部温度と今回測定された外部温度とが一致していれば、その旨を前記異常通知部に通知するとともに情報の読取を不可能にする、請求項3に記載の情報読取装置。 - 前記情報読取装置は、
前記情報読取装置の外部温度を一定の時間間隔で測定する外部温度センサ部と、前記内部温度を記憶する記憶部と、を更に有しており、
前記比較判定部は、前記内部温度センサ部で測定された内部温度を前記記憶部に記録しており、前記記憶部に記録した内部温度と前記内部温度センサで今回測定された内部温度との差が所定値以上であり、かつ前記今回測定された内部温度と今回測定された外部温度とが一致していれば、その旨を前記異常通知部に通知するとともに情報の読取を不可能にする、請求項4に記載の情報読取装置。 - 前記情報読取装置は、決済端末装置である、請求項1から6のいずれか1項に記載の情報読取装置。
- 記録媒体に記録された情報を読み取る情報読取装置に対する不正加工を検出するための不正加工検出方法であって、
前記情報読取装置の内部温度を一定の時間間隔で測定し、
測定した前記内部温度の変化に基づいて不正加工の有無を判断する、不正加工検出方法。 - 前記情報読取装置は密封されており、開封されたとき、外部温度と内部温度の温度差によって測定する温度が変化する、請求項8に記載の不正加工検出方法。
- 前回測定された内部温度と今回測定された内部温度との変化量を算出しており、前回算出した変化量と今回算出した変化量とを比較し、
前記前回算出した変化量と前記今回算出した変化量の差が所定値以上であれば、不正加工があったと判断する、請求項8または9に記載の不正加工検出方法。 - 前回測定した内部温度と今回測定した内部温度とを比較し、
前記前回測定した内部温度と前記今回測定した内部温度の差が所定値以上であれば、不正加工があったと判断する、請求項8または9に記載の不正加工検出方法。 - 外部温度を一定の時間間隔で測定しており、
前回測定した内部温度と今回測定した内部温度との変化量を算出しており、前回算出した変化量と今回算出した変化量とを比較するとともに、前記今回測定した内部温度と今回測定した外部温度を比較し、
前記前回算出した変化量と前記今回算出した変化量の差が所定値以上であり、かつ今前記回測定した外部温度と前記今回測定した内部温度が一致すれば、不正加工があったと判断する、請求項10に記載の不正加工検出方法。 - 外部温度を一定の時間間隔で測定しており、
前回測定した内部温度と今回測定した内部温度とを比較するとともに、前記内部温度と前記外部温度とを比較し、
前記前回測定した内部温度と前記今回測定した内部温度の差が所定値以上であり、かつ前記今回測定した外部温度と前記今回測定した内部温度が一致すれば、不正があったと判断する、請求項11に記載の不正加工検出方法。 - 前記情報読取装置は、決済端末装置である、請求項8から13のいずれか1項に記載の不正加工検出方法。
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---|---|---|---|---|
JP2011003107A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-01-06 | Nec Infrontia Corp | 半導体装置、情報不正取得防止方法、情報不正取得防止プログラムおよびプログラム記録媒体 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05120516A (ja) * | 1991-10-28 | 1993-05-18 | I M V Kk | 自動現金支払機の防犯装置及び防犯システム |
JP2004047039A (ja) * | 2002-07-16 | 2004-02-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 不正コピー防止データ蓄積システムおよび不正コピー防止方法 |
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