JP2008209265A - 双方向光モジュールおよび光パルス試験器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の双方向光モジュール100は、光ファイバ73に光を出射し、光ファイバ73から戻り光が入射されるモジュールであって、光ファイバ73に入射する光を発する発光素子110、130と、光ファイバ73から出射された光を受光する受光素子190と、光ファイバ73から出射された光を受光素子190に導く合分岐素子160と、を備える。そして、受光素子190は、光が入射する境界面191aと光を受光する受光部197との間に高屈折率媒体である基板191が介在されていることを特徴とする。これにより、基板191を進行した戻り光が結合する位置と迷光が結合する位置との距離d’は真空中を進行した場合の距離dと比較して大きくなり、受光部197に結合する迷光を低減することができる。
【選択図】図1
Description
まず、図1および図2に基づいて、本発明の第1の実施形態にかかる双方向光モジュール100の構成について説明する。なお、図1は、本実施形態にかかる双方向光モジュール100の構成を示す構成概略図である。図2は、本実施形態にかかる受光素子190の構成を示す断面図である。
本実施形態にかかる光双方向モジュール100は、例えば図7に示す光パルス試験器1に用いることができる。上述したように、光パルス試験器1は、信号によりデータ通信等を行う光通信システムにおいて、被測定光ファイバに対してパルス光を繰り返し入力し、被測定光ファイバからの反射光および後方散乱光のレベルと受光時間とを測定することで、被測定光ファイバの断線や損失等の状態を測定する機器である。かかる光パルス試験器1に、本実施形態にかかる双方向光モジュール100を備えることにより、光パルス試験器1による測定精度を高めることができ、従来の光ファイバカプラ型の双方向光モジュール10を用いた場合と比べて機器を小型化することができる。以下、本実施形態にかかる双方向光モジュール100の構成と、これを用いた光パルス試験器の動作について詳細に説明する。
本実施形態にかかる光パルス試験器は、まず、光パルス試験器1の信号処理部40により、LD駆動部20に対してあらかじめパルス光のパルス幅を設定する。次いで、信号処理部40内のタイミング発生手段(図示せず。)により、所定の間隔でタイミング信号をLD駆動部20に送信する。タイミング信号を受信したLD駆動部20は、タイミング信号に同期するように、双方向光モジュール100の発光素子110または発光素子130にパルス光を出力させる。
次に、図5および図6に基づいて、本発明の第2の実施形態にかかる双方向光モジュール200の構成について説明する。本実施形態にかかる双方向光モジュールは、第1の実施形態にかかる双方向光モジュール100と比較して、迷光遮蔽部材185およびレンズ188を備えた点で相違する。以下、主に第1の実施形態との相違点について説明し、同一部分については詳細な説明を省略する。なお、図5は、本実施形態にかかる双方向光モジュール200の構成を示す構成概略図である。図6は、本実施形態にかかる受光素子190の受光状態を説明するための説明図である。
110、130 発光素子
120,140 レンズ
150 合分波素子
160 合分岐素子
170、180、188 レンズ
185 迷光遮蔽部材
190 受光素子
191 基板
191a 境界面
191b 傾斜面
197 受光部
197a 第1の受光エリア
197b 第2の受光エリア
197c 受光領域
199 溝
Claims (7)
- 光ファイバに光を出射し、前記光ファイバから戻り光が入射される双方向光モジュールであって、
光ファイバに入射する光を発する発光素子と、
前記光ファイバから出射された光を受光する受光素子と、
前記光ファイバから出射された光を前記受光素子に導く合分岐素子と、
を備え、
前記受光素子は、光が入射する境界面と光を受光する受光部との間に高屈折率媒体が介在されていることを特徴とする、双方向光モジュール。 - 前記受光素子の前記境界面は、前記受光部に対して略垂直に形成されていることを特徴とする、請求項1に記載の双方向光モジュール。
- 前記受光素子は、該受光素子の境界面から入射した光を前記受光部に向けて反射する反射面を備えることを特徴とする、請求項2に記載の双方向光モジュール。
- 前記受光素子の境界面に対して略垂直な前記高屈折率媒体の端面にはV字形状の溝が形成され、
前記受光素子の反射面は、前記溝を構成する一の面であることを特徴とする、請求項3に記載の双方向光モジュール。 - 前記受光素子は、端面入射型アバランシェフォトダイオードであることを特徴とする、請求項1〜4のいずれかに記載の双方向光モジュール。
- 前記合分岐素子と前記受光素子との間に、前記受光素子に入射させる光が通過する開口部が形成された迷光遮蔽部材をさらに備えることを特徴とする、請求項1〜5のいずれかに記載の双方向光モジュール。
- 光ファイバの損失特性を試験する光パルス試験器であって、
前記光ファイバに光を出射し、前記光ファイバから戻り光が入射される双方向光モジュールと、
光を所定のタイミングで発生させるように前記双方向光モジュールを駆動する双方向光モジュール駆動部と、
前記双方向光モジュールに入射した光を電気信号に変換する電気信号変換部と、
前記電気信号変換部にて変換された電気信号に基づいて、前記光ファイバの損失特性を算出する信号処理部と、
を備え、
前記双方向光モジュールは、
前記光ファイバに入射される光を発する発光素子と、
前記光ファイバから出射された光を受光する受光素子と、
前記光ファイバから出射された光を前記受光素子に導く合分岐素子と、
を備え、
前記受光素子は、光が入射する境界面と光を受光する受光部との間に高屈折率媒体が介在されていることを特徴とする、光パルス試験器。
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JP2007046731A JP2008209265A (ja) | 2007-02-27 | 2007-02-27 | 双方向光モジュールおよび光パルス試験器 |
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2007
- 2007-02-27 JP JP2007046731A patent/JP2008209265A/ja active Pending
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