JP2008197873A - スペクトル分布および統計分布解析方法、スペクトル分布および統計分布解析装置、スペクトル分布および統計分布解析プログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】事前にモデルの設定を行うことなく、分布関数の数や形を決定する。
【解決手段】光学測定等によるスペクトル強度分布や統計データによる統計分布の離散データを入力して有限長の区間に分割し、予測係数算出部12により、各区間毎の離散データを用いて、予測係数ak,nを算出し、物理量算出部13により、所定の関係式を満たすK個の複素数wk,nを算出し、表示部14により、複素数wk,nのうち虚部が0でないものの実部をプロットする。これにより、入力された離散データに含まれる分布の形や数および分布関数のパラメータを推定することができる。
【選択図】図1
【解決手段】光学測定等によるスペクトル強度分布や統計データによる統計分布の離散データを入力して有限長の区間に分割し、予測係数算出部12により、各区間毎の離散データを用いて、予測係数ak,nを算出し、物理量算出部13により、所定の関係式を満たすK個の複素数wk,nを算出し、表示部14により、複素数wk,nのうち虚部が0でないものの実部をプロットする。これにより、入力された離散データに含まれる分布の形や数および分布関数のパラメータを推定することができる。
【選択図】図1
Description
本発明は、スペクトル強度分布や統計データなどを解析する技術に関する。
スペクトルの解析方法は、あらかじめ分布関数(ガウス分布、ガンマ分布、ラプラス分布など)の一次結合を仮定し、未定係数を含む数式の形で分布関数を与え、分布関数に含まれる未定係数の値をMAP推定やEMアルゴリズム等の方法を用いて決定する(非特許文献1、非特許文献2参照)。
特許第3836847号公報
井阪岳彦、三関公生、"Laplace分布型確率密度関数と非線形SNR補正に基づく改良型MMSEノイズプレッサ"、信学技報、2005年1月、SP2004−146、p.7-12
亀岡弘和、外2名、"確定的アニーリングEMアルゴリズムによる調波時間構造化クラスタリングを用いた多重音解析"、[online]、2005年、[平成19年2月7日検索]、インターネット〈URL:http://hil.t.u-tokyo.ac.jp/~lab/publications/2005/Kameoka2005MA08.pdf〉
しかしながら、事前に数式の形で与える分布関数のモデルが合わない場合、うまくフィッティングを行うことができず、さまざまなモデルを立て、フィッティングを繰り返し、試行錯誤する必要があるという問題がある。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、その課題とするところは、事前にモデルの設定を行うことなく、分布関数の数や形を決定することにある。
第1の本発明に係るスペクトル分布および統計分布解析方法は、入力手段が、データ間隔をΔxとする離散データを入力し、有限長の区間に分割して記憶手段に記憶させるステップと、予測係数算出手段が、各区間毎に離散データを読み出し、予測次数をKとする線形予測法を用いて予測係数ak,nを算出して記憶手段に記憶させるステップと、物理量算出手段が、各区間毎に予測係数ak,nを記憶手段から読み出し、関係式
を満たすK個の複素数wk,nを算出し、複素数wk,nのうち虚部が0でないものの実部を物理量として記憶手段に記憶させるステップと、表示手段が、各区間毎に物理量を記憶手段から読み出して表示するステップと、を有することを特徴とする。
本発明にあっては、光学測定等によるスペクトル強度分布や統計データによる統計分布の離散データを有限長の区間に分割し、予測係数算出手段により、予測次数をKとする線形予測法を用いて予測係数ak,nを算出し、上記関係式を満たす複素数wk,nを算出して、複素数wk,nのうち虚部が0でないものの実部を物理量として表示することにより、入力された離散データに含まれる分布の形や数および分布関数のパラメータの推定を可能とする。
第2の本発明に係るスペクトル分布および統計分布解析方法は、入力手段が、データ間隔をΔxとする離散データを入力し、有限長の区間に分割して記憶手段に記憶させるステップと、勾配算出手段が、各区間毎に離散データを読み出し、離散データ毎に対数をとって傾きを求めて物理量として記憶手段に記憶させるステップと、表示手段が、各区間毎に物理量を記憶手段から読み出して表示するステップと、を有することを特徴とする。
本発明にあっては、光学測定等によるスペクトル強度分布や統計データによる統計分布の離散データを有限長の区間に分割し、勾配算出手段により、各区間毎の離散データ毎に対数をとり、各区間における傾きを求めて、その傾きを物理量として表示することにより、入力された離散データに含まれる分布の形や数および分布関数のパラメータの推定を可能とする。
上記スペクトル分布および統計分布解析方法において、隣接する区間において重複する部分を有することを特徴とする。
本発明にあっては、入力された離散データを隣接する区間において重複する部分を含むように各区間を分割することにより、より細かい解析結果を得ることができる。
第3の本発明に係るスペクトル分布および統計分布解析装置は、データ間隔をΔxとする離散データを入力し、有限長の区間に分割して記憶手段に記憶させる入力手段と、各区間毎に離散データを読み出し、予測次数をKとする線形予測法を用いて予測係数ak,nを算出して記憶手段に記憶させる予測係数算出手段と、各区間毎に予測係数ak,nを記憶手段から読み出し、関係式
を満たすK個の複素数wk,nを算出し、複素数wk,nのうち虚部が0でないものの実部を物理量として記憶手段に記憶させる物理量算出手段と、各区間毎に物理量を記憶手段から読み出して表示する表示手段と、を有することを特徴とする。
第4の本発明に係るスペクトル分布および統計分布解析装置は、データ間隔をΔxとする離散データを入力し、有限長の区間に分割して記憶手段に記憶させる入力手段と、各区間毎に離散データを読み出し、離散データ毎に対数をとって傾きを求めて物理量として記憶手段に記憶させる勾配算出手段と、各区間毎に物理量を記憶手段から読み出して表示する表示手段と、を有することを特徴とする。
上記スペクトル分布および統計分布解析装置において、隣接する区間において重複する部分を有することを特徴とする。
第5の本発明に係るスペクトル分布および統計分布解析プログラムは、データ間隔をΔxとする離散データを入力し、有限長の区間に分割して記憶手段に記憶させる処理と、各区間毎に離散データを読み出し、予測次数をKとする線形予測法を用いて予測係数ak,nを算出して記憶手段に記憶させる処理と、各区間毎に予測係数ak,nを記憶手段から読み出し、関係式
を満たすK個の複素数wk,nを算出し、複素数wk,nのうち虚部が0でないものの実部を物理量として記憶手段に記憶させる処理と、各区間毎に物理量を記憶手段から読み出して表示する処理と、をコンピュータに実行させることを特徴とする。
第6の本発明に係るスペクトル分布および統計分布解析プログラムは、データ間隔をΔxとする離散データを入力し、有限長の区間に分割して記憶手段に記憶させる処理と、各区間毎に離散データを読み出し、離散データ毎に対数をとって傾きを求めて物理量として記憶手段に記憶させる処理と、各区間毎に物理量を記憶手段から読み出して表示する処理と、をコンピュータに実行させることを特徴とする。
上記スペクトル分布および統計分布解析プログラムにおいて、隣接する区間において重複する部分を有することを特徴とする。
本発明によれば、事前にモデルの設定を行うことなく、分布関数の数や形を決定することができる。
以下、本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。
[第1の実施の形態]
図1は、第1の実施の形態におけるスペクトル分布および統計分布解析装置の構成を示すブロック図である。同図に示すスペクトル分布および統計分布解析装置は、入力部11と、予測係数算出部12と、物理量算出部13と、表示部14とを有する構成である。本解析装置は、専用のハードウエアによって構成するものとしてもよいし、演算処理装置、記憶装置、メモリ等を備えたコンピュータにより構成し、各部の処理をプログラムによって実行されるものとしてもよい。このプログラムはスペクトル分布および統計分布解析装置が備えた記憶装置などに記憶されており、記録媒体に記録することも、ネットワークを通して提供することも可能である。
図1は、第1の実施の形態におけるスペクトル分布および統計分布解析装置の構成を示すブロック図である。同図に示すスペクトル分布および統計分布解析装置は、入力部11と、予測係数算出部12と、物理量算出部13と、表示部14とを有する構成である。本解析装置は、専用のハードウエアによって構成するものとしてもよいし、演算処理装置、記憶装置、メモリ等を備えたコンピュータにより構成し、各部の処理をプログラムによって実行されるものとしてもよい。このプログラムはスペクトル分布および統計分布解析装置が備えた記憶装置などに記憶されており、記録媒体に記録することも、ネットワークを通して提供することも可能である。
本解析装置は、その特徴として、光学測定等によるスペクトル強度分布や統計データによる統計分布である分布Z(x)が離散データとして与えられているときに、これを分配関数とみなして次式で示される物理量U(x)をZ(x)またはlnZ(x)を時系列とみなして区分化し、各区間において線形予測法などを用いて算出することで、分布Z(x)に含まれる分布関数の形や数、パラメータを推定することができる。
なお、分布Z(x)がスペクトル強度分布であればxは周波数であり、Z(x)が統計分布であればxは独立変数である。以下、各部での処理について詳細に説明する。
入力部11は、データ間隔をΔxとする光学測定等によるスペクトル強度分布や統計データによる統計分布の離散データを入力し、区間
のデータ列に分割して本解析装置が備えた記憶装置に記憶させる。ここで、Lは区間あたりのデータ数、xmはm番目のデータ、nは区間の番号である。
予測係数算出部12は、記憶装置から区間毎のデータ列を読み出し、予測次数をKとする線形予測法を用いて予測係数ak,nを算出して記憶装置に記憶させる。
物理量算出部13は、記憶装置から予測係数ak,nを読み出し、予測係数ak,nを係数とする次式を
z-1について因数分解した関係式
を満たすK個の複素数wk,nを算出し、複素数wk,nのうち虚部が0でないものの実部を物理量Uk,n=Re(wk,n)として記憶装置に記憶させる。
表示部14は、各区間毎に物理量Uk,nを記憶装置から読み出してプロットする。
以下、分布Z(x)に対応する離散データが入力されたときの解析結果について説明する。図2は、解析対象となる分布Z(x)の離散データを示す図である。図3は、予測次数K=5として区間毎に物理量を算出し、表示部14によりプロットした解析結果を示す図である。
図2に示す分布Z(x)は、10exp(−(x−2)2)とexp(−4(x−4)2)との一次結合による分布Z(x)=10exp(−(x−2)2)+exp(−4(x−4)2)である。
図3に示すドット列が表示部14によりプロットされた物理量を示しており、ドットの1つが区間毎に算出された物理量の1つを示している。なお、図3中の符号31,32で示す実線は、解析結果の説明のために記載したものである。
予測係数算出部12および物理量算出部13における解析により、分布Z(x)は、指数関数ck,nexp(wk,nx)の一次結合の形で記述されることになる。分布Z(x)の指数はxの二次式になっていることから、これを一次式で近似した形の値がwk,nとして求まることになる。つまり、指数部の微分値(勾配)が、各区間におけるwk,nとして得られる。
一般論としては、ck,nexp(fk,n(x)) の形の分布関数が与えられているとき、これが次式
として算出される。つまり、
となる。Z(x)=exp(f(x)) とするとき、物理量U(x)は、
となる。
図2で示した分布Z(x)=10exp(−(x−2)2)+exp(−4(x−4)2)において、分布Z(x)の指数部がxについての二次式になっていることから、wk,nをプロットした場合、aとbをパラメータとする二次関数−a(x−b)2の微分である−2a(x−b)なる直線となる。プロットされた直線の傾きとゼロクロス点とにより、分布関数のパラメータを推定することができる。
図4は、ローレンツ分布Z(x)=c/(1/a+(x−b)2)において、a=1,b=0,c=1とした離散データを解析した結果をプロットした図である。ローレンツ分布の場合、解析結果の物理量U(x)は、次式
となる。図4に示すように、ゼロクロス点であるx=bの周囲では、近似的にU(x)=−2a(x−b)となり、正規分布Z(x)=cexp(−a(x−b)2)を解析して得られる直線と同じ直線になるが、ゼロクロス点から離れた位置では、直線から大きく外れている。
このように、分布の種類ごとにそれぞれ固有の曲線がプロットされるので、この曲線の形を参照することにより、与えられた離散データに含まれる分布の種類を推定することができる。また、プロットされた曲線を最小二乗法などを用いて直線でフィッティングすることにより、正規分布からのずれをフィッティングの残差として評価することができる。
以上説明したように、本実施の形態によれば、入力された離散データを有限長の区間に分割し、予測係数算出部12により、各区間毎の離散データを用いて、予測係数ak,nを算出し、物理量算出部13により、関係式
を満たすK個の複素数wk,nを算出し、表示部14により、複素数wk,nのうち虚部が0でないものの実部をプロットすることで、入力された離散データに含まれる分布の形や数および分布関数のパラメータを推定することができる。
なお、離散データに分割する際に、JをJ≦Lなる正の整数として、隣接する区間で重複する離散データを含むように区間
のデータ列に分割することで、算出する区間の数が増え、より細かくプロットされた結果を得ることができる。
また、K個の複素数wk,nを算出する方法として、特許文献1記載の方法を用いてもよい。
[第2の実施の形態]
図5は、第2の実施の形態におけるスペクトル分布および統計分布解析装置の構成を示すブロック図である。同図に示すスペクトル分布および統計分布解析装置は、入力部51と、勾配算出部52と、物理量算出部53と、表示部54とを有する構成である。
図5は、第2の実施の形態におけるスペクトル分布および統計分布解析装置の構成を示すブロック図である。同図に示すスペクトル分布および統計分布解析装置は、入力部51と、勾配算出部52と、物理量算出部53と、表示部54とを有する構成である。
入力部51は、データ間隔をΔxとする光学測定等によるスペクトル強度分布や統計データによる統計分布の離散データを入力し、区間
のデータ列に分割して本解析装置が備えた記憶装置に記憶させる。ここで、Lは区間あたりのデータ数、xmはm番目のデータ、nは区間の番号である。
勾配算出部52は、記憶装置から区間毎のデータ列を読み出し、各データの対数をとって最小二乗法を用いることにより、次式を満たす未知パラメータwnとunを算出する。
具体的な計算については、次の連立方程式
をwnとunについて解けばよい。
物理量算出部53は、lnZ(x)の傾きであるwnを物理量Unとして記憶手段に記憶させる。
表示部54は、各区間毎に物理量Unを記憶装置から読み出してプロットする。
プロットされた結果は、入力された離散データが正規分布であれば直線となる。その直線の傾きとゼロクロス点とにより、分布関数のパラメータを推定することができる。なお、直線のフィッティングは、プロットされたドット列に対して最小二乗法を用いるとよい。
したがって、本実施の形態によれば、入力された離散データを有限長の区間に分割し、勾配算出部52により、各区間毎の離散データの対数を取って各区間における傾きを算出し、表示部14により、その傾きをプロットすることで、入力された離散データに含まれる分布の形や数および分布関数のパラメータを推定することができる。
11,51…入力部
12…予測係数算出部
13,53…物理量算出部
14,54…表示部
52…勾配算出部
12…予測係数算出部
13,53…物理量算出部
14,54…表示部
52…勾配算出部
Claims (9)
- 入力手段が、データ間隔をΔxとする離散データを入力し、有限長の区間に分割して記憶手段に記憶させるステップと、
予測係数算出手段が、各区間毎に前記離散データを読み出し、予測次数をKとする線形予測法を用いて予測係数ak,nを算出して記憶手段に記憶させるステップと、
物理量算出手段が、各区間毎に予測係数ak,nを前記記憶手段から読み出し、関係式
表示手段が、各区間毎に前記物理量を前記記憶手段から読み出して表示するステップと、
を有することを特徴とするスペクトル分布および統計分布解析方法。 - 入力手段が、データ間隔をΔxとする離散データを入力し、有限長の区間に分割して記憶手段に記憶させるステップと、
勾配算出手段が、各区間毎に前記離散データを読み出し、前記離散データ毎に対数をとって傾きを求めて物理量として記憶手段に記憶させるステップと、
表示手段が、各区間毎に前記物理量を前記記憶手段から読み出して表示するステップと、
を有することを特徴とするスペクトル分布および統計分布解析方法。 - 隣接する前記区間において重複する部分を有することを特徴とする請求項1又は2記載のスペクトル分布および統計分布解析方法。
- データ間隔をΔxとする離散データを入力し、有限長の区間に分割して記憶手段に記憶させる入力手段と、
各区間毎に前記離散データを読み出し、前記離散データ毎に対数をとって傾きを求めて物理量として記憶手段に記憶させる勾配算出手段と、
各区間毎に前記物理量を前記記憶手段から読み出して表示する表示手段と、
を有することを特徴とするスペクトル分布および統計分布解析装置。 - 隣接する前記区間において重複する部分を有することを特徴とする請求項4又は5記載のスペクトル分布および統計分布解析装置。
- データ間隔をΔxとする離散データを入力し、有限長の区間に分割して記憶手段に記憶させる処理と、
各区間毎に前記離散データを読み出し、前記離散データ毎に対数をとって傾きを求めて物理量として記憶手段に記憶させる処理と、
各区間毎に前記物理量を前記記憶手段から読み出して表示する処理と、
をコンピュータに実行させることを特徴とするスペクトル分布および統計分布解析プログラム。 - 隣接する前記区間において重複する部分を有することを特徴とする請求項7又は8記載のスペクトル分布および統計分布解析プログラム。
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