JP2008186252A - テストベンチ生成機能を有する動作合成装置と方法及びプログラム - Google Patents
テストベンチ生成機能を有する動作合成装置と方法及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008186252A JP2008186252A JP2007019451A JP2007019451A JP2008186252A JP 2008186252 A JP2008186252 A JP 2008186252A JP 2007019451 A JP2007019451 A JP 2007019451A JP 2007019451 A JP2007019451 A JP 2007019451A JP 2008186252 A JP2008186252 A JP 2008186252A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- input
- signal
- circuit
- timing signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/32—Circuit design at the digital level
- G06F30/327—Logic synthesis; Behaviour synthesis, e.g. mapping logic, HDL to netlist, high-level language to RTL or netlist
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/32—Circuit design at the digital level
- G06F30/33—Design verification, e.g. functional simulation or model checking
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/32—Circuit design at the digital level
- G06F30/33—Design verification, e.g. functional simulation or model checking
- G06F30/3308—Design verification, e.g. functional simulation or model checking using simulation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Geometry (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
【解決手段】入力印加のタイミング及び出力観測のタイミングを表す信号、及び前記入力印加タイミング信号と前記出力観測タイミング信号のための論理回路を生成する入力印加・出力信号観測タイミング信号生成手段104と、当該信号を観測して入力印加、及び、出力観測をおこなうテストベンチを作成するテストベンチ生成手段106と、を有する。
【選択図】図1
Description
図1を参照すると、本発明の第1の実施の形態に係る動作合成システム(装置)は、プログラム制御により動作するコンピュータ(中央処理装置;プロセッサ;データ処理装置)100と、データ記憶手段(データ記憶装置)110とを備えている。
動作記述中の演算を演算器に、
動作記述中の入力端子をRTLの入力端子に、
動作記述中の出力端子をRTLの出力端子に、
動作記述中の配列をRTLのメモリ又はレジスタファイル
に割り当てる。
動作記述中の演算を演算器に、
入力を入力端子に、
出力を出力端子に、
配列をメモリ又はレジスタファイル
に割り当てる(図3のステップA2)。
次に、本発明の第2の実施の形態について説明する。図11は、本発明の第2の実施の形態の構成を示す図である。図12は、本発明の第2の実施の形態の動作を説明する流れ図である。図11を参照すると、本発明の第2の実施の形態は、プログラム制御により動作するコンピュータ(中央処理装置;プロセッサ;データ処理装置)100が、図1に示した前記第1の実施の形態における入力印加・出力観測タイミング信号生成手段104を削除し、テストベンチ生成手段106の代わりに、別のテストベンチ生成手段107を備えている。図12を参照すると、図3の流れ図からステップA4、A6が削除され、ステップA7があらたに追加されている。
図14を参照すると、本発明の第3の実施の形態は、プログラム制御により動作するコンピュータ(中央処理装置;プロセッサ;データ処理装置)100が、図1に示された第一の実施の形態における、入力印加・出力観測タイミング信号生成手段104の代わりに、入力印加・出力タイミング記録手段108を備え、テストベンチ生成手段106の代わりに、テストベンチ生成手段109を備える点で異なる。
次に、本発明の第4の実施の形態について説明する。本発明の第4の実施の形態は、プログラム制御により動作するコンピュータ(中央処理装置;プロセッサ;データ処理装置)100が、図1に示された第1の実施の形態における、テストベンチ生成手段106が、以下の機能を備える点で異なる。
次に、本発明の第5の実施の形態について説明する。本発明の第5の実施形態は、プログラム制御により動作するコンピュータ(中央処理装置;プロセッサ;データ処理装置)100が、図1に示された第1の実施の形態における、テストベンチ生成手段106が、以下の機能を備える点で異なる。テストベンチ生成手段106は、概略以下のように動作する。
まず、本発明の第1の実施例を説明する。本発明の第1の実施例は、前記した本発明の第1の実施の形態に対応するものである。図4を参照すると、動作記述が例示されている。図4の動作記述はC言語で表現されている。
入力cの値が0のときは、入力すべて(a、b、c、d)の総和であり、
入力cの値が0以外のときは、入力a、bの和となる。動作記述は、記憶装置110の動作記述記憶部111に予め記憶されている。
5行目に、入力a、b及び加算+、
6行目に入力cと条件判定==、
7行目に入力c、dと加算+、
9行目に加算+と出力o
が指定されている。
5行目の入力a、b及び加算+が、状態STATE1に、
6行目の入力cと条件判定==及び、7行目の入力c、dと加算+がそれぞれ状態STATE2に、
9行目の加算+と出力oが、状態STATE3
に割り当てられていることを示している。
動作記述中の演算を演算器に、
動作記述の入力端子をRTLの入力端子に、
動作記述の出力端子をRTLの出力端子に、
動作記述の配列を、RTLのメモリ又はレジスタファイル
に割り当てる。
図7(A)の5行目の入力b、及び7行目の入力dが入力端子iport2(図7(C))に、
図7(A)の10行目の出力oが出力端子oport1(図7(F))に、
それぞれ割り当てられていることを示している。
次に本発明の第2の実施例を説明する。本実施例は、図11及び図12を参照して説明した前記第2の実施の形態に対応するものである。図13を参照すると、動作記述の一例が示されている。図13の動作記述は、図4の動作記述と比較して、出力信号a_e、b_e、c_e、d_e、o_eを備え、16行目、17行目、20行目、23行目に、出力信号a_e、b_e、出力信号c_e、出力信号d_e、出力信号o_eへの出力動作が指定されていることが異なる。
次に、本発明の第3の実施例を説明する。本発明の第3の実施例は、図14を参照して説明した前記第3の実施の形態に対応するものである。図15を参照すると、動作記述の一例が示されている。図15において、関数func()の入力はint型の変数a、b、c、dであり、出力はint型の変数o1、o2である。関数func()の出力o1は入力a、bの和であり、出力o2は入力a、b、c、dの総和である。
11行目に入力a、b及び加算+、
12行目に入力b、c及び加算+、
13行目には出力o1、
14行目には加算+、
15行目には出力o2
が指定されている。
次に本発明の第4の実施例を説明する。本発明の第4の実施例は、前記第4の実施の形態に対応するものである。図20を参照すると、本発明の第4の実施の形態のテストベンチ生成手段106が作成したテストベンチの例が示されている。
次に本発明の第5の実施例を説明する。本発明の第5の実施例は、前記第5の実施の形態に対応するものである。図22を参照すると、動作記述の一例が示されている。この動作記述は、概略次のような動作を指定している。
101 スケジューリング手段
102 バインディング手段
103 FSM生成手段
104 入力印加・出力観測タイミング信号生成手段
105 RTL生成手段
106 テストベンチ生成手段
107 テストベンチ生成手段
108 入力印加・出力観測タイミング記録手段
109 テストベンチ生成手段
110 記憶装置
111 動作記述記憶部
112 RTL記憶部
113 テストベンチ記憶部
500 記録媒体
Claims (21)
- 回路の入力と出力に関して、入力印加タイミング信号と出力観測タイミング信号とを作成するとともに、前記入力印加タイミング信号と前記出力観測タイミング信号のための論理回路を作成する入力印加・出力観測タイミング信号生成手段と、
前記入力印加タイミング信号と前記出力観測タイミング信号の値に従って、前記回路への入力の印加と、前記回路の出力の観測をそれぞれ行うテストベンチを生成するテストベンチ生成手段と、
を備えたことを特徴とする動作合成装置。 - 回路の動作記述から、入力印加タイミング信号と出力観測タイミング信号を認識し、
前記入力印加タイミング信号と前記出力観測タイミング信号の値に従って、前記回路への入力の印加と、前記回路の出力の観測をそれぞれ行うテストベンチを生成するテストベンチ生成手段を備えたことを特徴とする動作合成装置。 - 回路に対するリセット解除からのクロック数を計測し、前記クロック数が所定の値と一致したときに、前記回路への入力の印加と、前記回路の出力の観測をそれぞれ行うテストベンチを生成するテストベンチ生成手段を備えたことを特徴とする動作合成装置。
- 前記テストベンチ生成手段は、前記回路に入力される、リセット信号が有効である間、又は、ストール信号が有効である間は、前記回路への入力の印加と前記回路の出力の観測を行わないようなテストベンチを生成する、ことを特徴とする請求項1記載の動作合成装置。
- 前記テストベンチ生成手段は、RTL(レジスタトランスファレベル)に、ブラックボックスとして出力されたハードウェアリソースのためのシミュレーションモデルを備えたテストベンチを生成する、ことを特徴とする請求項1記載の動作合成装置。
- 前記入力印加・出力観測タイミング信号生成手段は、前記回路の入力端子及び出力端子のそれぞれに対してそれぞれに対応する新たな信号を作成して、前記入力印加タイミング信号及び前記出力観測タイミング信号とし、
対応する入力信号、出力信号に値がそれぞれ入力、出力される状態及び条件において、生成した前記入力印加タイミング信号と前記出力観測タイミング信号にそれぞれアクティブ値が出力されるように論理回路を作成し、
前記テストベンチ生成手段は、前記入力印加タイミング信号及び前記出力観測タイミング信号を観測し、
前記入力印加タイミング信号にアクティブ値が出力されたときに、入力を印加し、
前記出力観測タイミング信号にアクティブ値が出力されたときに出力を観測し期待値と照合するような、論理の前記テストベンチを作成し、記憶装置に格納する、
ことを特徴とする請求項1記載の動作合成装置。 - 回路の動作記述を状態へ割り当てるスケジューリング手段と、
前記動作記述をハードウェアリソースに割り当てるバインディング手段と、
状態の遷移を制御する有限状態機械(FSM)とハードウェアリソースを制御する制御論理回路を作成する有限状態機械生成手段と、
前記有限状態機械生成手段で作成した有限状態機械(FSM)と制御論理回路、及び、前記入力印加・出力観測タイミング信号生成手段で作成した論理回路、及び、ハードウェアリソースをハードウェア記述言語(HDL)に変換し記憶装置に格納するRTL(レジスタトランスファレベル)生成手段と、
を備えたことを特徴とする請求項6記載の動作合成装置。 - 前記テストベンチ生成手段は、前記回路の前記動作記述中の信号を、前記入力印加タイミング信号及び前記出力観測タイミング信号として認識し、前記入力印加タイミング信号及び前記出力観測タイミング信号を観測し、アクティブ値が出力されたときに入力を印加、又は出力を観測し期待値と照合するような論理のテストベンチを作成して記憶装置に格納する、ことを特徴とする請求項2記載の動作合成装置。
- コントロールデータフローグラフを参照して、リセットが解除されてから、入力値を印加するまでのクロック数と、一度入力を印加してから次の入力を印加するまでの周期からなるタイミング情報を入力信号のそれぞれについて記録し、
リセットが解除されてから出力値が有効になるまでのクロック数と、出力値が一度有効になってから次の出力値が有効になるまでの周期を、出力信号のそれぞれについて記録する入力印加・出力観測タイミング記録手段を備え、
前記テストベンチ生成手段は、
前記入力印加・出力タイミング記録手段によって記録された、入力と出力の前記タイミング情報を読み込み、
前記回路に入力されるリセット信号が解除されてからのクロック数を計測し、前記クロック数が、入力を印加するクロック数と一致したとき、又は、入力を印加する周期と一致したときに、入力を印加し、
前記リセット信号が解除されてからのクロック数と、出力が有効になるまでのクロック数が一致したとき、又は、出力が有効になるまでの周期が一致したときに、出力を観測し期待値と照合するような、
テストベンチを作成して、記憶装置に格納する、
ことを特徴とする請求項3記載の動作合成装置。 - 入力印加タイミングを指定する信号、出力観測タイミングを指定する信号であることの情報が、前記動作記述の宣言部の入力信号、出力信号の注釈にプラグマとして指定されており、
前記テストベンチ生成手段は、入力信号、出力信号と、プラグマから、入力印加タイミング信号と出力観測タイミング信号を認識する、ことを特徴とする請求項3記載の動作合成装置。 - 入力信号と出力信号に関して、リセットが解除されてから入力値、出力値がそれぞれ有効になるまでのクロック数と、入力印加、出力観測の周期をそれぞれ示すタイミング情報が、前記動作記述の宣言部の入力信号と出力信号の注釈欄にそれぞれ付加され、
前記テストベンチ生成手段は、リセット解除からのクロック数を計測し、前記クロック数が、前記入力信号と前記出力信号のタイミング情報と一致したときに、前記回路への入力の印加と、前記回路の出力の観測をそれぞれ行うテストベンチを生成する、ことを特徴とする請求項3記載の動作合成装置。 - 回路の入力と出力に関して、入力印加タイミング信号と出力観測タイミング信号とを作成するとともに、前記入力印加タイミング信号と前記出力観測タイミング信号のための論理回路を作成し、
前記入力印加タイミング信号と前記出力観測タイミング信号の値に従って、前記回路への入力の印加と、前記回路の出力の観測をそれぞれ行うテストベンチを作成する、
上記工程を含む、ことを特徴とする動作合成方法。 - 回路の動作記述から、入力印加タイミング信号と出力観測タイミング信号を認識し、
前記入力印加タイミング信号と前記出力観測タイミング信号の値に従って、前記回路への入力の印加と、前記回路の出力の観測をそれぞれ行うテストベンチを生成する、
上記工程を含む、ことを特徴とする動作合成方法。 - 回路に対するリセットの解除からのクロック数を計測し、
前記クロック数が所定の値と一致したときに、前記回路への入力の印加と前記回路の出力の観測を行うテストベンチを作成する、
上記工程を含む、ことを特徴とする動作合成方法。 - リセット信号が有効である間、もしくはストール信号が有効である間は、前記回路への入力の印加と前記回路の出力の観測を行わないようなテストベンチを作成する、ことを特徴とする請求項12記載の動作合成方法。
- RTLにブラックボックスとして出力されたハードウェアリソースのためのシミュレーションモデルを備えたテストベンチを作成する、ことを特徴とする請求項12記載の動作合成方法。
- 回路の入力と出力に関して、入力印加タイミング信号と出力観測タイミング信号とを作成するとともに、前記入力印加タイミング信号と前記出力観測タイミング信号のための論理回路を作成する入力印加・出力観測タイミング信号生成処理と、
前記入力印加タイミング信号と前記出力観測タイミング信号の値に従って、前記回路への入力の印加と、前記回路の出力の観測を行うテストベンチを生成するテストベンチ生成処理と、
をコンピュータに実行させるプログラム。 - 回路の動作記述中の入力印加タイミング信号と出力観測タイミング信号を認識し、
前記入力印加タイミング信号と前記出力観測タイミング信号を観測して、前記回路への入力印加と、前記回路の出力の観測を行うテストベンチを作成するテストベンチ生成処理を、
コンピュータに実行させるプログラム。 - 回路に対するリセット解除からのクロック数を計測し、前記クロック数が所定の値と一致したときに、前記回路への入力の印加と前記回路の出力の観測を行うテストベンチを作成するテストベンチ生成処理を、
コンピュータに実行させるプログラム。 - 前記テストベンチ生成処理として、リセット信号が有効である間、又はストール信号が有効である間は、前記回路への入力の印加と、前記回路の出力の観測を行わないようなテストベンチを作成する処理を、
前記コンピュータに実行させる請求項17記載のプログラム。 - 前記テストベンチ生成処理として、RTLにブラックボックスとして出力されたハードウェアリソースのためのシミュレーションモデルを備えたテストベンチを作成する処理を前記コンピュータに実行させる請求項17記載のプログラム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007019451A JP4853312B2 (ja) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | テストベンチ生成機能を有する動作合成装置と方法及びプログラム |
US12/022,573 US8091051B2 (en) | 2007-01-30 | 2008-01-30 | Behavioral synthesis apparatus, method, and program having test bench generation function |
US13/336,328 US8386973B2 (en) | 2007-01-30 | 2011-12-23 | Behavioral synthesis apparatus, method, and program having test bench generation function |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007019451A JP4853312B2 (ja) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | テストベンチ生成機能を有する動作合成装置と方法及びプログラム |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011192362A Division JP5287955B2 (ja) | 2011-09-05 | 2011-09-05 | テストベンチ生成機能を有する動作合成装置と方法及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008186252A true JP2008186252A (ja) | 2008-08-14 |
JP4853312B2 JP4853312B2 (ja) | 2012-01-11 |
Family
ID=39669394
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007019451A Active JP4853312B2 (ja) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | テストベンチ生成機能を有する動作合成装置と方法及びプログラム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8091051B2 (ja) |
JP (1) | JP4853312B2 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7825684B2 (en) | 2005-03-15 | 2010-11-02 | Tabula, Inc. | Variable width management for a memory of a configurable IC |
US7930666B1 (en) * | 2006-12-12 | 2011-04-19 | Tabula, Inc. | System and method of providing a memory hierarchy |
US8527911B1 (en) | 2009-06-09 | 2013-09-03 | Jasper Design Automation, Inc. | Comprehending a circuit design |
US8572527B1 (en) * | 2011-09-13 | 2013-10-29 | Jasper Design Automation, Inc. | Generating properties for circuit designs |
US8516421B1 (en) | 2012-01-10 | 2013-08-20 | Jasper Design Automation, Inc. | Generating circuit design properties from signal traces |
US8739092B1 (en) | 2012-04-25 | 2014-05-27 | Jasper Design Automation, Inc. | Functional property ranking |
JP6342065B2 (ja) * | 2015-04-08 | 2018-06-13 | 三菱電機株式会社 | 回路設計支援装置及び回路設計支援方法及び回路設計支援プログラム |
US11550980B1 (en) * | 2021-06-14 | 2023-01-10 | Cadence Design Systems, Inc. | System and method for generating power-aware electronics |
US11790143B2 (en) * | 2021-06-15 | 2023-10-17 | International Business Machines Corporation | Collateral correlated regression in version control repository |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000242684A (ja) * | 1999-02-23 | 2000-09-08 | Nec Corp | 機能合成方法,機能合成装置およびその記録媒体 |
JP2005078402A (ja) * | 2003-09-01 | 2005-03-24 | Nec Engineering Ltd | 電子回路の動作合成方法 |
Family Cites Families (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5177440A (en) * | 1989-12-27 | 1993-01-05 | Lsi Logic Corporation | Testing of integrated circuits using clock bursts |
US5598344A (en) * | 1990-04-06 | 1997-01-28 | Lsi Logic Corporation | Method and system for creating, validating, and scaling structural description of electronic device |
US5710711A (en) * | 1992-10-21 | 1998-01-20 | Lucent Technologies Inc. | Method and integrated circuit adapted for partial scan testability |
US5768567A (en) * | 1996-05-14 | 1998-06-16 | Mentor Graphics Corporation | Optimizing hardware and software co-simulator |
US5920490A (en) * | 1996-12-26 | 1999-07-06 | Adaptec, Inc. | Integrated circuit test stimulus verification and vector extraction system |
JP2000310667A (ja) * | 1999-04-27 | 2000-11-07 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
US6810373B1 (en) * | 1999-08-13 | 2004-10-26 | Synopsis, Inc. | Method and apparatus for modeling using a hardware-software co-verification environment |
JP2001060210A (ja) | 1999-08-20 | 2001-03-06 | Nec Corp | Lsi検証方法、lsi検証装置および記録媒体 |
US6985840B1 (en) * | 2000-07-31 | 2006-01-10 | Novas Software, Inc. | Circuit property verification system |
US6957403B2 (en) * | 2001-03-30 | 2005-10-18 | Syntest Technologies, Inc. | Computer-aided design system to automate scan synthesis at register-transfer level |
US7158925B2 (en) * | 2002-04-18 | 2007-01-02 | International Business Machines Corporation | Facilitating simulation of a model within a distributed environment |
US6845341B2 (en) | 2002-05-14 | 2005-01-18 | Cadence Design Systems, Inc. | Method and mechanism for improved performance analysis in transaction level models |
JP2004145670A (ja) | 2002-10-24 | 2004-05-20 | Osaka Industrial Promotion Organization | テストベンチ生成方法、テストベンチ生成装置、及びコンピュータプログラム |
JP2004145712A (ja) | 2002-10-25 | 2004-05-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体設計における動作記述の等価性検証方法 |
US7366652B2 (en) * | 2003-06-16 | 2008-04-29 | Springsoft, Inc. | Method of programming a co-verification system |
US7137087B1 (en) * | 2003-08-20 | 2006-11-14 | Adaptec, Inc. | Integrated circuit verification scheme |
GB0327959D0 (en) * | 2003-12-03 | 2004-01-07 | Symgenis Ltd | System and method for architecture verification |
US20080092092A1 (en) * | 2004-10-04 | 2008-04-17 | Damian Jude Dalton | Method and Processor for Power Analysis in Digital Circuits |
US7367001B2 (en) * | 2004-12-02 | 2008-04-29 | International Business Machines Corporation | Method, system and computer program product for verification of digital designs using case-splitting via constrained internal signals |
JP4789039B2 (ja) | 2005-06-10 | 2011-10-05 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | ナノインプリント装置 |
US7616036B1 (en) * | 2005-09-12 | 2009-11-10 | Virage Logic Corporation | Programmable strobe and clock generator |
US7571086B2 (en) * | 2005-11-04 | 2009-08-04 | Springsoft Usa, Inc. | Incremental circuit re-simulation system |
US7711536B2 (en) * | 2005-12-30 | 2010-05-04 | Cadence Design Systems, Inc. | System and method for verification aware synthesis |
US7523425B2 (en) * | 2006-04-21 | 2009-04-21 | Alcatel-Lucent Usa Inc. | Test case generation algorithm for a model checker |
US8479132B2 (en) * | 2006-06-16 | 2013-07-02 | Synopsys, Inc. | Active trace assertion based verification system |
-
2007
- 2007-01-30 JP JP2007019451A patent/JP4853312B2/ja active Active
-
2008
- 2008-01-30 US US12/022,573 patent/US8091051B2/en active Active
-
2011
- 2011-12-23 US US13/336,328 patent/US8386973B2/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000242684A (ja) * | 1999-02-23 | 2000-09-08 | Nec Corp | 機能合成方法,機能合成装置およびその記録媒体 |
JP2005078402A (ja) * | 2003-09-01 | 2005-03-24 | Nec Engineering Ltd | 電子回路の動作合成方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20080184180A1 (en) | 2008-07-31 |
US8091051B2 (en) | 2012-01-03 |
JP4853312B2 (ja) | 2012-01-11 |
US8386973B2 (en) | 2013-02-26 |
US20120096418A1 (en) | 2012-04-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4853312B2 (ja) | テストベンチ生成機能を有する動作合成装置と方法及びプログラム | |
JP4994393B2 (ja) | 単一のマスターモデルから異なる抽象化レベルの複数のモデルを生成するシステムと方法 | |
US7743352B2 (en) | Computer implemented method of high-level synthesis for the efficient verification of computer software | |
US20060130029A1 (en) | Programming language model generating apparatus for hardware verification, programming language model generating method for hardware verification, computer system, hardware simulation method, control program and computer-readable storage medium | |
US8589837B1 (en) | Constructing inductive counterexamples in a multi-algorithm verification framework | |
JP5065113B2 (ja) | 等価性検証方法、等価性検証プログラム及び等価性検証プログラムの生成方法 | |
WO2016073520A1 (en) | Hardware/software partitioning performance estimation | |
JP2006285333A (ja) | 動作合成装置及び方法 | |
JP2010238054A (ja) | 半導体設計支援装置、高位合成方法及び半導体設計支援プログラム | |
JP4654203B2 (ja) | デジタルシステムのhdl記述ファイルを作成する方法、および得られるシステム | |
JP5233355B2 (ja) | プロパティ生成システムおよびプロパティ検証システム | |
JP5830955B2 (ja) | 検証装置、検証方法及び検証プログラム | |
US20080300806A1 (en) | Power consumption calculating method | |
US20170270228A1 (en) | Method and system for emulation of multiple electronic designs in a single testbench environment | |
Huggi et al. | Design and verification of memory elements using python | |
JP5287955B2 (ja) | テストベンチ生成機能を有する動作合成装置と方法及びプログラム | |
US9733941B2 (en) | Technique for translating dependent instructions | |
US7246053B2 (en) | Method for transforming behavioral architectural and verification specifications into cycle-based compliant specifications | |
Stotland et al. | Standalone functional verification of multicore microprocessor memory subsystem units based on application of memory subsystem models | |
Datta et al. | Formal verification of a public-domain DDR2 controller design | |
US9047428B2 (en) | Determining method, computer product, and determining apparatus | |
US8813005B1 (en) | Debugging using tagged flip-flops | |
JP5233354B2 (ja) | プロパティ検証システム、プロパティ検証方法、及びプログラム | |
JP5262678B2 (ja) | 動作合成システム、動作合成方法、及び動作合成用プログラム | |
Hu et al. | A Hybrid Method for Equivalence Checking Between System Level and RTL |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091214 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110609 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110705 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110905 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110927 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111010 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141104 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4853312 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |