JP2008185918A - 光走査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光走査装置100は、2つのレーザ照射装置50a,50bと、レーザ照射装置50a,50bから出射された光束を走査するポリゴンミラー53と、レーザ照射装置50a,50bとポリゴンミラー53との間の各光路中に設けられ、レーザ照射装置50a,50bから出射された光束を電圧印加により副走査方向に偏向する電気光学結晶構造体60a,60bと、レーザ照射装置50a,50bの相対的な位置を検知するMEMS加速度センサ51a,51b及びMEMS加速度センサ51g,51fと、MEMS加速度センサ51a,51b,51g,51fの検知結果に基づいて、レーザ照射装置50a,50bの相対的な照射位置変化を演算する演算回路70cと、演算回路70cで演算された照射位置変化に応じて電気光学結晶構造体60a,60bに印加される電圧を制御する制御回路75とを備える。
【選択図】図2
Description
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しながら詳述する。
図2は、図1における光走査装置100の構成を概略的に示すブロック図であり、(a)は平面図であり、(b)は断面図である。図3は、図1における光走査装置100の構成を概略的に示すブロック図である。
演算回路70aは、加速度センサ51a,51bの検知結果に基づいてレーザ照射装置50aから照射される光束の照射位置を演算する。演算回路70bは、加速度センサ51f,51gの検知結果に基づいてレーザ照射装置50bから照射される光束の照射位置を演算する。演算回路70cは、演算回路70a,70bの各演算結果及びデータテーブル73のデータに基づいて2つの光束の照射位置間隔dの変動を演算する。
[レーザ照射装置:図4]
図4は、図2におけるレーザ照射装置50aの構成を示す断面図である。尚、レーザ照射装置50bは、その構成がレーザ照射装置50aと基本的に同じであるのでその説明を省略する。
図5は、図2における各MEMS加速度センサにより検出される加速度波形を示す図であり、(a)は、MEMS加速度センサ51eにより検出される波形を示し、(b)は、MEMS加速度センサ51dにより検出される波形を示し、(c)は、MEMS加速度センサ51cにより検出される波形を示す。
[MEMS加速度センサの構成:図7]
図7は、MEMS加速度センサ51の構成を概略的に示す図であり、(a)は平面図であり、(b)は図7(a)の線分J−Jに沿う断面図であり、(c)はMEMS加速度センサ51の製造方法を説明する図である。
図8は、レーザ光の照射位置を補正する照射位置補正処理を示すフローチャートである。
50a,50bレーザ照射装置
53 ポリゴンミラー
54 第1のfθレンズ
55 第2のfθレンズ
60a,60b 電気光学結晶構造体
51a〜51h MEMS加速度センサ
71 変動予測回路
70a,70b,70c,70d 演算回路
72 補正量決定回路
75 制御回路
Claims (10)
- 複数の光源と、前記複数の光源から出射された光束を走査する光偏向手段と、前記複数の光源と前記光偏向手段との間の各光路中に設けられ、前記複数の光源から出射された光束を電圧印加により偏向する複数の電気光学結晶構造体と、前記複数の光源の相対的な位置を検知する第1の位置検知手段と、前記第1の位置検知手段の検知結果に基づいて、前記複数の光源の相対的な照射位置変化を演算する演算手段と、前記演算手段で演算された照射位置変化に応じて前記複数の電気光学結晶構造体に印加される電圧を制御する制御手段とを備えることを特徴とする光走査装置。
- 前記第1の位置検知手段は、前記複数の光源に取り付けられた複数の加速度センサであり、前記演算手段は、前記複数の加速度センサの検知値を解析して、前記複数の光源の相対的な照射位置変化を演算することを特徴とする請求項1記載の光走査装置。
- 前記加速度センサは、加速度を検知する検知部と、前記検知部の出力信号を外部に伝達する出力電極とを備え、半導体製造工程により形成された複数の検知部と複数の出力電極からなる加速度センサ群を個々に切断することにより形成されることを特徴とする請求項2記載の光走査装置。
- 前記電気光学結晶構造体は、電圧印加により屈折率が変化する特性を有する電気光学結晶と、前記電気光学結晶に印加される電圧を制御する電圧制御部とを備えることを特徴とする請求項1記載の光走査装置。
- 前記電圧制御部は、前記電気光学結晶に取り付けられた一対の電極部を有し、
前記一対の電極部は、前記電気光学結晶の内部に、前記電気光学結晶内を通過する光束の進路に対して垂直方向の電界を形成することを特徴とする請求項4記載の光走査装置。 - 前記電気光学結晶は、カリウム、タンタル、ニオブおよび酸素から成ることを特徴とする請求項4又は5記載の光走査装置。
- 複数の光源と、前記複数の光源から出射された光束を走査する光偏向手段と、前記複数の光源と前記光偏向手段との間の各光路中に設けられ、前記複数の光源から出射された光束を電圧印加により偏向する複数の電気光学結晶構造体と、光走査装置本体と感光体の相対的な位置変動を検知する第2の位置検知手段と、前記感光体表面の周速変化を検知する周速変化検知手段と、前記第2の位置検知手段及び前記周速変化検知手段の検知結果に基づいて、前記複数の光源の照射位置のずれを演算する演算手段と、前記演算手段で演算された照射位置のずれに応じて前記複数の電気光学結晶構造体に印加される電圧を制御する制御手段とを備えることを特徴とする光走査装置。
- 前記第2の位置検知手段は、前記光走査装置本体と前記感光体の支持部材とに取り付けられた複数の加速度センサであり、前記演算手段は、前記複数の加速度センサの検知値を解析して、前記複数の光源の照射位置のずれを演算することを特徴とする請求項7記載の光走査装置。
- 前記周速検知手段は、前記感光体に取り付けられた加速度センサであり、前記加速度センサの検知値の変化から前記感光体表面の周速変化を求めることを特徴とする請求項7記載の光走査装置。
- 前記加速度センサは、加速度を検知する検知部と、前記検知部の出力信号を外部に伝達する出力電極とを備え、半導体製造工程により形成された複数の検知部と複数の出力電極とで構成される加速度センサ群を個々に切断することにより作製されることを特徴とする請求項8又は9記載の光走査装置。
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